JPH0215896B2 - - Google Patents

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JPH0215896B2
JPH0215896B2 JP57040851A JP4085182A JPH0215896B2 JP H0215896 B2 JPH0215896 B2 JP H0215896B2 JP 57040851 A JP57040851 A JP 57040851A JP 4085182 A JP4085182 A JP 4085182A JP H0215896 B2 JPH0215896 B2 JP H0215896B2
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signal
axis base
axis
output
pitch
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JP57040851A
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Takeshi Yamaguchi
Yasuhiko Kanetani
Akira Yokoyama
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Hitachi Seiko Ltd
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    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F3/00Input arrangements for transferring data to be processed into a form capable of being handled by the computer; Output arrangements for transferring data from processing unit to output unit, e.g. interface arrangements
    • G06F3/01Input arrangements or combined input and output arrangements for interaction between user and computer
    • G06F3/03Arrangements for converting the position or the displacement of a member into a coded form
    • G06F3/041Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means
    • G06F3/046Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means by electromagnetic means

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  • Human Computer Interaction (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Transmission And Conversion Of Sensor Element Output (AREA)
  • Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
本発明はペン、カーソル等の座標指示装置に装
備されたコイル等の励磁装置から交流磁界信号を
発生させて、この信号を平行に配列された電気導
体線を有するタブレツトに印加し、タブレツトに
装備されたマトリクス状の電気導体線に誘起され
る交流信号を検出して励磁装置の指示座標位置を
検出する装置(以下座標検出装置と総称する)に
関するものである。 従来、座標検出装置について、電気絶縁材料よ
り成るシート部材の表裏に2本の電気導体線を相
互に電気角で90゜の位相をずらして平行に配置し
たX軸用ベース又はY軸用ベースと、格子状に形
成された座標域検出用ベース(X、Y軸に夫々1
つ)を用いたタブレツト及び座標検出装置が特公
昭53−34855号公報により知られている。更に米
国特許3647963号公報には座標域検出用ベースを
使用しない座標検出装置が紹介されている。 前者は後者のX軸、Y軸ベースに座標域検出用
ベースを付加したものである。座標検出装置はタ
ブレツトに埋め込まれた電気導体線と励磁装置と
の間及びX軸ベースとY軸ベースと、X、Y座標
域検出用ベースとの間に夫々絶縁シート部材が挿
入されている。そのため励磁装置から発生する交
流信号が減衰され、そしてS/N比が悪化する。
更に、格子間をスキヤニングする必要があり装置
が複雑である。また、後者は、励磁装置をタブレ
ツト上面から離さずに移動させないと検出信号が
途切れてしまい座標を検出することができない、
即ち電気導体線の1ピツチ内の相対座標が判明す
るのみであるということがあつた。 本発明は上記従来の欠点を除去したもので、座
標域検出用ベースを使用せずに、したがつて格子
間スキヤニングする複雑な装置を不要とし、簡単
な構成で絶対座標を検出することのできる座標検
出装置を提供することを目的とする。 上記目的を達成するために本発明においては、
等間隔(P/2)で配置された平行部分を有する電 気導体線であり、隣接した電気導体線に電流が互
いに反対方向に流れるような蛇行形状を為す第1
の電気導体線及びこの第1の電気導体線の半分の
間隔ずれて配置された第2の電気導体線を有する
第1のX軸ベースと、この第1のX軸ベースと異
なる間隔(q/2)で配置された平行部分を有する 電気導体線であり隣接した電気導体線に電流が互
いに反対方向に流れるような蛇行形状を為す第3
の電気導体線及びこの第3の電気導体線の半分の
間隔ずれて配置された第4の電気導体線を有する
第2のX軸ベースとを有することを特徴とし、更
にこの第1及び第2のX軸ベースと同様の構成か
ら成る第1及び第2のY軸ベースをX軸ベースと
直交配置したタブレツトを有する。更にこのタブ
レツトを使用してタブレツト面上に交番磁界信号
による指示されたカーソルの位置を検出するため
に、第1の電気導体線からの出力信号と第2の電
気導体線からの出力信号とを加算する第1の加算
器と、第3の電気導体線からの出力信号と第4の
電気導体線からの出力信号とを加算する第2の加
算器と、第1の加算器の出力とカーソルの励磁信
号との位相を比較する第1の比較器と、第2の加
算器の出力と励磁信号との位相を比較する第2の
比較器と、第1の比較器及び第2の比較器の出力
信号を比較し両者の差を予め決められた演算手順
により演算するか、または両者の差を予め決めら
れたデータと比較した結果をもとに、所定の基準
とする電気導体線の位置を判別し、その基準線か
らカーソルまでの位置を加算することによりカー
ソルの位置を検出する処理装置を有する。 以下本発明の一実施例を図面を用いて詳細に説
明する。第1図は本発明に係る座標検出装置に使
用するX軸(又はY軸)用ベースでA及びBに示
される如く2組の平行の配置された4種類の電気
導体線1,2及び3,4(以下導線1,2,3,
4,という)から構成される。実線で描かれた導
線1と破線で描かれた導線2とは、夫々等間隔で
配列される。隣接した導線5,6,7に互いに反
対方向に電流が流れるように、導線5,6,7の
両端を交互に接続部8,9により接続し、1本の
蛇行形状を為す導線1を形成する。この導線1の
平行部分の間隔は一定(p/2)である。導線2は 導線1に比べて間隔の半分だけ(p/4)ずれて配 置されていて、導線1と同様に平行部分の両端が
交互に接続されている。2つの導線1及び2が互
いに電気的に電気絶縁された状態でシート状に重
ね合わされている時、このシート上にコイル等の
励磁装置10が置かれ、この励磁装置10が所定
の周波数の交流信号により励磁された場合、導体
1及び2の出力端子11,12に表われる信号
は、第2図に示される如く、励磁装置10が置か
れた導線に直交する方向の位置により決められ
る。励磁装置10が8KHzの交流信号で励磁され
ているならば、励磁装置10のコイルの中心(以
下励磁装置10の中心と総称する)が導線1の真
上に置いてある時は、導線1には出力電圧が零で
ある。励磁装置10の中心が導線5と6との中央
部分に置いてある時及び導線6と7との中央部分
に置いてある時には端子11,11′間には最大
の出力電圧が得られるが、その極性が互いに逆に
なる。端子11と端子11′との間に得られる出
力電圧とは、例えば8KHzの交流信号を搬送信号
とした振幅変調出力であり、励磁装置10の置か
れた位置に応じて変調出力は正弦波形状又は余弦
波形状に変化する。即ち、導線1は電気角のπ/2 毎にならべられている。以下、電気角でπに相当
する導線2本の間隔Pを1ピツチと称して説明す
る。(導線2においても同様である。)この現象は
特公昭53−34855号公報又は米国特許3647963号に
より明らかであるからここでは詳細な説明を省略
する。第1図Bに示す如く、導線3及び4は、第
1及び第2の導線1及び2の間隔(P/2)と異つ た間隔(q/2)で等間隔に平行して配列され、且 つその両端部が夫々接続されることにより蛇行す
る形状に形成されることは導線1及び2の場合と
同じである。導線3と導線4とは互いに間隔の半
分(q/4)だけずれて配置されている。このこと が導線1と導線2との関係と同じに出力信号の電
気角にすればπ/4の位相差を持つことになる。 実線で描いた導線1と導線3とを比較すると、
全長lを夫々5ピツチと4ピツチに等分割する。
即ち、l=5P=4qという関係である。一般に、
導体のピツチ数をnとするとl=np=(n―1)
pの関係にある。励磁装置10に励磁信号E1
A1cos wtを印加すると導線1の出力端子11,
11′間及び導線2の出力端子12,12′間に
は、第2図Aに示す如く、夫々E11=A2cos(2π・
r/P)・cos wt,E12=A2sin(2π・r/P)・cos w
tな る出力信号が発生する。ここにrは導線5のピツ
チ数を数える基準位置Rから励磁装置10までの
長さである。信号E11を時間tで積分した信号を
E11′とするとE11′=∫E11・dt=A2cos(2π・r/P
)・ sin wtとなる。 E11′と信号E12とを加算した信号をE10とすると
E10はE10=E11′+E12=A2sin(wt+2πr/P)とな る。従つて、基準位置Rから励磁装置10までの
移動長さrに比例する位相変調信号が信号E10
より与えられる。すなわち、励磁信号E1と変調
信号E10との位相(1)を比較することにより、
両者の位相差(2π・r/P)から励磁装置10の基 準位置Rからの変位量(r=P1/2π)を検出する ことが可能となる。 また、励磁装置10に励磁信号E1を印加する
と導線3の出力端子13,13′間及び導線4の
出力端子14,14′には、第2図Bに示す如く、
夫々E13=A2cos(2π・s/q)・cos wt、E14=A2sin (2π・s/q)・cos wtなる信号が発生する。ここに sは導線3のピツチ数を数える基準位置Sから励
磁装置10までの長さである。信号13を時間積
分した信号E13′(E13′=A2cos(2π・s/p)・sin
wt) 信号E14とを加算した信号E15(E15=E′13+E14
A2sin(wt+2π・s/P)を得ることができる。 従つて、基準位置Sから励磁装置10までの移
動長さsに比例する位相変調信号が信号E15によ
り与えられるから、励磁信号E1と変調信号E15
の位相(2)とを比較することにより、両者の
位相差(2π・s/P)から変位量(s=q・2/2π
) を検出することができる。 ここで、前述の如く導線を平行に並べた方向の
全長lはl=np=(n―1)qの関係に置かれて
いるから、ピツチqはq=l/n−1である。2種 類の長さpとqとの差はq―p=l/n−1−l/n= l/n(n−1)となるから、第1図に示したように 導線1の2番目のピツチ範囲内におけるqとpと
の差はl/n・(n−1)、m番目のピツチ内では (m−1)・l/n・(n−1)となる。従つて、長さ
pとqとを 検出して、比較することにより励磁装置10が導
線1の何番目のピツチに存在するかを判別するこ
とができる。すなわち、励磁装置10が導線1の
基準線Uから距離Xだけ離れたVの位置(m番目
のピツチの範囲内)に置かれていたとすれば、X
=(m−1)p+qが励磁装置10の位置を示す。
これまでの説明はX座標の検出についてのみ述べ
たが、Y座標についても同様の原理で座標値を検
出することができる。Y座標を検出するための導
線の配置はX座標検出用導線1,2,3,4とは
直交させる必要がある。15及び16は第1のX
軸ベース及び第2のX軸ベースで、夫々絶縁物か
ら成る基板上に導線1,2及び3,4が配線され
ている。導線は基板の表面に又は内在させること
ができ、例えば、プリント配線技術により形成さ
れること及び基板の中に理設されることができ
る。更にこのベースは、第1のベースと第2のベ
ースを接着し一体に形成することが1枚の基板の
片面又は両面に積層することによつても作成する
ことができる。第4図は本発明の回路構成を示す
ブロツク図で、第1図乃至第3図と同一符号は同
一部分を示す。同図において、17は高い周波数
のクロツク発信器、18はカウンタでクロツク信
号を所定の周波数に分周する。カウンタ18の出
力はフイルタ19を介して励磁装置10に印加さ
れると同時に比較器20に供給される。21は第
1のX軸ベース15、第2のX軸ベース16、及
び第1のY軸ベース、第2のY軸ベースを重ね合
わせて構成するタブレツトでX軸出力端子21
a、Y軸出力端子21bを有し、出力端子21
a,21bは共に切替回路22に接続される。2
2は所定の周期で入力を選択し、後述の増幅器2
3又は24との接続関係を切換える時分割切換回
路である。23及び24は増幅器、25は増幅器
23に接続された積分器である。26は増幅器2
4と積分器25の出力を加算する加算器である。
27は加算器26の出力(正弦波)を矩形波に変
換する変換器で、矩形波信号はカウンタ18の出
力と共に比較器20に印加される。比較器20で
はカウンタ18からの基準信号(矩形波)と変換
器27からの信号との位相を比較し、その位相差
に対応する検出信号が出力される。検出信号は位
相差がパルス幅、電圧値、パルス数、又は数値信
号等の信号形態で表わされる。28はデータ処理
装置で、比較器20からの位相差信号データを取
り込んで、タブレツト21上に置かれた励磁装置
10の座標値を演算する。第5図には具体的回路
構成を示す。同図において第4図と同一符号は同
一部分を示す。切換回路22は2個の時分割切換
回路29及び30から成りその出力信号は変圧器
31及び32を介して演算増幅器33,34へ印
加される。25は積分用コンデンサである。3
5,36は演算増幅器、37,38はコンデン
サ、39,40,41,42及び43は抵抗器で
ある。44は波形変換器27を構成する演算増幅
器36の一方側入力端子に接続された可変抵抗器
で直流電源45の出力電圧を調節する。46はフ
リツプフロツプでカウンタ18からの矩形波信号
によりセツトされ、波形変換器27からの信号に
よりリセツトされる。47はカウンタでフリツプ
フロツプ46の出力、すなわち基準矩形波信号と
波形変換器27からの信号との位相差に応じた時
間を、クロツク信号発生器17からの高い周波数
のクロツク信号により内挿する(計数する)。 なお、比較器20はDフリツプフロツプ等で構
成するラツチ回路でもよく、波形変換器27の出
力によりカウンタ18の出力をラツチするように
しても両信号の位相差を検出することもできる。
この検出方法はカウンタ18の出力の位相と励磁
装置10の励磁電流の位相とが一定の関係にある
ことが必要である。2つの信号の位相差を検出す
る回路構成はすでに多数知られているので、これ
らのうちの使用可能なものを選択することが適当
である。データ処理装置28においては演算式を
用いて励磁装置10の位置を演算する方法と、あ
らかじめ用意したデータテーブルを用いて検索に
より励磁装置10の位置を求める方法とのどちら
でも採用することができる。以下具体的な下記数
値例に基づいてデータ演算装置28の動作を説明
する。
【表】 本実施例の説明をわかり易くするために、カウ
ンタ18を1000進カウンタとした。X軸ベース、
X軸ベース共に同一作用のためX軸ベースについ
て説明する。第1の導線上及び第2の導線上にお
いて、クロツクパルス数の1000パルスを、夫々ピ
ツチp及びqに対応させるとピツチp,qとカウ
ンタ18の内容は第6図のようになる。分解能は
第1の導線(ベース)上では1パルス当り0.02
mm、第2の導線(ベース)上では1パルス当り
0.025mmである。丸印は第1の導線の配置(間隔
20mm)で、白ヌキと黒ヌリは隣接した導体(電流
の向きが逆)を示す。同様に三角印は第3の導線
の配置(間隔25mm)で、白ヌキと黒ヌリは隣接し
た導体を示す。励磁装置10がa点に置かれる
と、クロツク信号は1000進カウンタ18で1/1000
に分周されその出力はフイルタ19を通つて励磁
信号となる。励磁装置10から放出された励磁信
号は、タブレツト21のX軸のベースに励磁信号
と同じ周波数の交番信号(以下搬送信号と総称す
る)を誘起する。 この搬送信号は、励磁装置10の置かれた位置
により振幅変調される。振幅変調のされ方は第2
図において説明したとおりで、X軸ベースからの
出力端子21aからは、この変調された信号が得
られる。切換回路22では導線1からの出力E11
を、増幅器23を介して積分器25で積分して加
算器26に入力し、次に導線2からの出力E12
増幅器24を介して加算器26に入力する。加算
器26で加算された信号E10は搬送信号の振幅変
調を他の搬送信号の位相変調に変換したもので、
この信号E10は波形変換器27で波形変換された
後比較器20に印加される。信号E10はカウンタ
18からの基準矩形波信号と位相を比較された位
相差に応じたパルス数F1のデータ信号E20に変換
される。このデータ信号E20のパルス数Fは第1
図、2図、3図及び第6図の位置aに励磁装置1
0が置かれた場合の変位量rに対応する。同様
に、次のタイミングで切換回路22は、導線3か
らの出力E13を増幅器23を介して積分器25で
積分して加算器26に入力し、次に導線4からの
出力E14を増幅器24を介して加算器26に入力
する。加算器26で加算された信号15は波形変
換器27で波形変換された後比較器20に印加さ
れる。信号E15はカウンタ18からの基準矩形波
信号と位相を比較され、位相差に応じたパルス数
F2のデータ信号E30に変換される。このパルス数
F2は第1図aに示した変位量sに対応する。デ
ータ演算装置28においては、時分割により入力
されるデータ信号E20、E30及びピツチ数mとの関
係から励磁装置10の位置Xを演算する。比較器
20からのデータ信号E20のパルス数F1は、位置
Xの変化(第6図0−J1−J2−J3−J4−J5)に従
い、パルス数0〜999の間で周期性を有し、基準
となる導線1のところで最大パルス数から最小パ
ルス数に不連続点を有する。この不連続点の近辺
でパルス数F1が所定の数(F/2=500パルス)よ り大きいか又は小さいかを判断すれば、励磁装置
10が導線1の何番目のピツチ内に置かれている
かが判別できる。すなわち、F1>F2ならば△F
=F1−F2、F1<F2ならば△F=F+F1−F2とな
る△Fを演算により定義する。第6図に示すよう
に、データ信号E30は位置の変化(0−K1−K2
K3−K4)によりパルス数0〜999の間で周期性を
有する。このデータ信号E20とE30とのパルス数の
差を△Fとすると、△Fによつて表わされる位相
差データは第7図のようにパルス数0〜999の間
で変化する。このデータ△Fのパルス数により、
励磁装置10の置かれているピツチ数mを判別す
る。 ピツチ数mを判別するためのデータの構成を第
1表に示す。
【表】 すなわち、第1表によれば、第6図の点aに励
磁装置10が置かれていれば、データ△Fが350
であり且つF1が750であるから500≦F1<1000に
該当し、従つてピツチ数mは1である。この時の
励磁装置10の置かれているX座標はX=(m×
F+△F)・G=(1×1000+350)・G=1350・G
である。ここにGは定数で、パルス数を所望の単
位距離に換算するためのものである。第1表にお
いて、0≦F1<500のときのデータ△Fの値を0
〜100,200〜300……、としたが、ノイズ等によ
りデータに±100パルスの範囲で誤差の存在する
可能性が有る場合には、このデータを第2表のよ
うに拡張することもできる。 尚、データ処理装置28におけるピツチ数mの
判別は数値演算によること、データテーブル
【表】 により引出すこと等によつてもできることはいう
までもない。 以上述べた如く本発明は、等間隔に配置された
平行部分を有する導線であり、且つ隣接した導線
に電流が互いに反対方向に流れるような蛇行形状
を為す第1の導線及びこの第1の導線の半分の間
隔ずれて配置された第2の導線を有する第1のX
軸ベースと、この第1のX軸ベースの導線と異な
る間隔で配置された平行部分を有する導線であり
且つ隣接した導線に電流が互いに反対方向に流れ
るような蛇行形状を為す第3の導線及びこの第3
の導線の半分の間隔ずれて配置された第4の導線
を有する第2のX軸ベースとを有することを特徴
とし、更にこの第1及び第2のX軸ベースと同様
の構成から成る第1及び第2のY軸ベースをX軸
ベースと直交して配置したタブレツトを有する座
標検出装置である。更に本発明は、このタブレツ
トを使用してタブレツト面上に交番励磁信号を発
生する励磁装置の置かれた位置を検出するため
に、第1の導線と第2の導線からの信号の一方の
信号を積分し、他方の信号に加算した信号を第1
の加算信号とし、次に第3の導線と第4の導線か
らの信号を積分し、他方の信号に加算した信号を
第2の加算信号とし、上記の第1の加算信号と第
2の加算信号とを基準信号と比較し、その位相差
に対応する位相差信号を基に上記励磁装置の位置
を演算するデータ処理装置とから成る座標検出装
置である。この本発明によれば、従来の座標検出
装置のように座標域検出用ベースを使用せずに座
標域を判別できるので、格子間をスキヤニングす
ることが無く構成が簡単で且つ検出時間を短縮す
ることができるという効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図A及びBは本発明に係る座標検出装置に
使用するX軸(又はY軸)用ベースを示す導体の
配置図である。第2図A及びBは第1図の導体に
より検出される信号の変化を示す特性図である。
第3図はX軸用ベースの一部断面図である。第4
図は、本発明の回路構成を示すブロツク図であ
る。第5図は第4図の具体的回路図である。第6
図及び第7図は位相差△Fの変化を示す特性図で
ある。 1乃至9……電気導体線、10……励磁装置、
11乃至14……端子、p,q……ピツチ、R,
S……基準位置、15……第1のX軸ベース、1
6……第2のX軸ベース、17……クロツク発振
器、18……カウンタ、19……フイルタ、20
……比較器、21……タブレツト、22……切換
回路、23,24……増幅器、25……積分器、
26……加算器、27……波形変換器、28……
データ処理装置。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 発振回路と、この発振回路により励磁される
    励磁装置と、この励磁装置の位置を連続した電気
    角でX座標及びY座標を検出する第1のピツチp
    で配列された第1の電気導体線を有する第1のX
    軸ベース及び第1のY軸ベースと、前記第1の電
    気導体線と異る第2のピツチqで配列された第2
    の電気導体線を有する第2のX軸ベース及び第2
    のY軸ベースと、上記第1のX軸ベース及び第2
    のX軸ベースから検出される信号により励磁装置
    のX軸座標を演算し、且つ上記第1のY軸ベース
    及び第2のY軸ベースから検出される信号により
    励磁装置のY軸座標を演算する検出装置とを備え
    たことを特徴とする座標検出装置。 2 第1のX軸ベース及び第1のY軸ベースを構
    成する第1(第3)の電気導体線のピツチpと、
    第2のX軸ベース及び第2のY軸ベースを構成す
    る第2(第4)の電気導体線のピツチqと、第1
    (第3)の電気導体線のピツチ数nと、第2、(第
    4)の電気導体線のピツチ数(n―1)との関係
    がnp=(n―1)・qであることを特徴とする特
    許請求の範囲第1項記載の座標検出装置。 3 検出装置はタブレツトの出力端子に接続され
    た切換回路と、この切換回路により順次切換えて
    出力される第1(第3)の電気導体線からの信号
    と第2(第4)の電気導体線からの信号の一方の
    信号を積分する積分器と、この積分器からの出力
    と上記他方の信号とを加算する加算器と、この加
    算器の出力を基準信号と比較しその位相差に対応
    する信号を出力する比較器と、この比較器からの
    位相差信号を取り込んで励磁装置の位置を演算す
    るデータ処理装置とから成ることを特徴とする特
    許請求の範囲第1項及び第2項記載の座標検出装
    置。
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