JPH02152045A - ディスク状記録媒体の検査方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明はディスク状記録媒体の検査方法に関するもので
ある。

〔従来の技術〕

光ディスクはトラックピッチ１．６μｍ、ビット間隔１
μｍ程度と記録密度が高いため微小なゴミやピンホール
等によっても記録・再生の不可能な欠陥部分が発生する
。

このような欠陥の内、比較的小さいもの、例えば単一ト
ラック内の微小欠陥については再生装置が備えている誤
り訂正機能によって訂正が行われる。また、多数のトラ
ックに跨がるような大きな欠陥については、前述した誤
り訂正機構では処理しきれないため、その欠陥が存在し
ている領域のセクタアドレス、さらにはトラックアドレ
スを３亥光ディスクの付加トラックに記録しておき、記
録・再生時にはそのセクタ、トラックは使用せず、代わ
りに予め予備として設けられている交替セクタ、交替ト
ラックに対して記録・再生を行う。

かかる交替処理を行うためには、ディスクの出荷検査時
において、前記誤り訂正不可能なセクタである欠陥セク
タを検出し、そのアドレスをディスクの所定の領域に記
憶しておく必要がある。

このための方法としては特開昭５９−２２２４１号公報
記載の光ディスクの記録検査方式がある。

この方式では検査データ書き込み機能、検査データ読み
出し機能、検査データ消去機能、欠陥部のアドレスデー
タ書き込み機能等、検査処理用の複数の機能を複合化し
た単一の検査ステーションを利用し、検査対象となる光
ディスクをこの検査ステーションで集中的に処理してい
る。

〔発明が解決しようとする課題〕 ところが、上記した従来の検査方式では、種々の機能を
複合化した特別の検査ステーションが不可欠で、この検
査ステーション自体、高価格なものになってしまう。そ
して、１枚の光ディスクについて全ての処理が完了する
までは、次の光ディスクの検査処理を開始することがで
きないため、多数の光ディスクを検査処理するには上記
の検査ステージシンを複数台用いなくてはならず、検査
コストの点で不利である。

さらに、前述の検査ステーションを複数用いる場合には
、検査基準を一定にするために各々の検査ステーション
について調整が必要になるが、現実には検査データの読
み出し特性を正確に合わせ込むことは困難で、検査基準
を一律に維持する上でも問題が多い。

〔発明の目的〕

本発明は上記のような問題点を解決するためになされた
もので、検査処理コストを低く抑え、しかも検査基準に
バラツキが出ないようにしたディスク状記録媒体の検査
方法を提供することを目的とする。

〔課題を解決するための手段〕

上記目的を達成するために、本発明は、ディスク回転機
構、書き込みヘッドを備えた検査データ書き込みステー
ションで、検査対象となるディスク状の記録媒体に検査
データを書き込む第１工程を行い、第１工程を経た記録
媒体を読み出しステーションにセットして欠陥部のアド
レスデータを取り込む第２工程を行い、第２工程を経た
記録媒体を消去ステーションにセットして第３工程を行
い、この第３工程を経た記録媒体を欠陥データ書き込み
ステーションにセットして前記アドレスデータを記録媒
体の所要部に書き込む第４工程を行うことにより記録媒
体の検査方法を構成しである。

〔作用〕

上記によれば、第１〜第４の各工程を並行して行うこと
ができるから、検査データ書き込みステーションの稼働
中に読み出しステーション、消去ステーション、及び欠
陥データ書き込みステーションを稼働することができ稼
働効率を高めることができる。これにより、各ステーシ
ョンの数を１／４に減少しても従来方法と同等の検査量
をこなすことができる。さらに、検査基準を一定化する
ための合わせ込みを行うステーションの数を減少するこ
とにより、合わせ込みが容易化できる。

以下、本発明の実施例について図面を参照しながら説明
する。

〔実施例〕

第１図は、本発明方法を実施するための検査処理システ
ムの概略を示している。この検査処理システムは、検査
データ書き込みステーション１と、検査データ読み込み
ステーション２と、消去ステーション３と、欠陥部デー
タ書き込みステーション４とから構成されている。

検査データ書き込みステーション１は、検査処理対象と
なる光ディスク６ａを一定角速度で回転させるターンテ
ーブル７を備えている。このターンテーブル７は、ドラ
イバ８を介してサーボモータ９によって駆動される。タ
ーンテーブル７によって回転される光ディスク６ａの記
録面には書き込みヘッド１０がアクセスするようになっ
ている。

この書き込みヘッド１０は、周知のように記録用のレー
ザ光源と、このレーザ光源からの光ビームを光ディスク
６ａの記録面に収斂させる光学系とからなり、記録用光
源が点灯すると該記録面にはビットが形成される。書き
込みヘッド１０は、ヘッド送り機構１１によりトラック
送り、すなわち光ディスク６ａの半径方向に移動される
ようになっている。

ＣＰＵ１２は、前記ドライバ８．書き込みヘッド１０．
ヘッ、ド送り機構１１のそれぞれの作動を制御する。Ｃ
ＰＵ１２には検査データメモリ１３が接続されている。

この検査データメモリ１３には、光ディスク６ａの記録
面に一定パターンでビットを形成するための検査用の書
き込みデータが格納されている。そして、検査データ書
き込みステーション１を作動させることによって、検査
処理対象となっている光ディスク６ａの記録面には、検
査データメモリ１３によって予め定められた一定パター
ンで検査用のビットが形成される。

検査データ読み出しステーション２は、前述の検査デー
タ書き込みステーション１と同様のターンテーブル１５
．サーボモータ１６．ドライバ１７を備えるとともに、
読み出しヘッド１日が設けられており、ヘッド送り機構
１９によってトラック送りされるようになっている。こ
の読み出しヘッド１日は、検査データ書き込みステーシ
ョン１で処理済みとなった光ディスク６ｂの記録面から
ビットの有無を検出するためのもので、周知のように、
読み取り用の光ビームを放出するレーザ光源、ビームス
プリッタ、１７４波長板、読み取り光学系、信号光検出
用のＰＩＮフォトダイオード等から構成されている。読
み出しヘッド１８からの出力信号はＡ／Ｄ変換器４２に
よってＡＤ変換される。また、上記ドライバ１７やヘッ
ド送り機構１９の作動はＣＰＵ２０によって管制され、
読み出しヘッド１８からの出力信号はＣＰｔＪ２０に供
給される。

前記ＣＰＵ２０にはデータ比較回路２１が接続されてい
る。このデータ比較回路２１は、このシステム全体の作
動を制御するシステムコントローラ２２からの信号によ
り作動し、検査データメモリ１３から送出されてくる検
査データと、読み出しヘッド１日で検出されＣＰＵ２０
を介して送出されてくる読み出しデータとを比較する。

もちろん、これらのデータ比較はトラック位置及びセク
タ位置に対応づけられたアドレスデータを参照しながら
実行される。そして、この比較を行った結果、それぞれ
のデータが全て一致していなかった場合には、その不一
致箇所のトラック位置、セクタ位置を表すアドレスデー
タを欠陥部アドレス記憶用バッファメモリ２３に書き込
む。

消去ステーション３は、前述の各ステーションと同様の
機能を行うターンテーブル２５．サーボモータ２６．ド
ライバ２７．ヘッド送り機構２８を備えている他、消去
ヘッド２９を備えている。

消去ヘッド２９は、レーザ光源、レーザ光源からの光ビ
ームの集光光学系を有している。そして、ＣＰＵ３０か
らの指令によってこの消去ステーション３が作動したと
きには、消去ヘッド２９から連続して放出された光ビー
ムによって、検査データ読み出し処理後の光ディスク６
Ｃのビットが消去される。

欠陥部データ書き込みステーション４は、同様にターン
テーブル３３．サーボモータ３４．ドライバ３５．ヘッ
ド送り機構３６を備えるとともに、書き込みヘッド３７
を有する。この書き込みヘッド３７は、ＣＰＵ３８を介
して欠陥部アドレス記憶用バッファメモリ２３から供給
されるアドレスデータをビット消去後の光ディスク６ｄ
の付加トラック４０に書き込む。この付加トラック４０
は、ユーザによってデータの書き込みが行われる通常の
記録トラックとは異なり、光ディスクの管理用に利用さ
れるインデックスデータ記録用の専用トラックである。

上記検査システムは、第２図に示したフローチャートに
したがって処理を実行するが、以下その作用について説
明する。

検査対象となる未処理の光ディスク６ａは、まず検査デ
ータ書き込みステーション１で検査データの書き込み処
理が行われる。システムコントローラ２２からの指令に
よりＣＰＵ１２が起動されると、検査データメモリ１３
に格納された検査データが光ディスク６ａに書き込まれ
る。この検査データとしては、例えば光ディスク６ａの
記録トラックの全てに一定ピッチでピットを形成するよ
うなものとなっている。

この検査データ書き込み処理の終了は、ＣＰＵ１２ある
いはシステムコントローラ２２に接続された表示装置（
図示省略）で報知される。検査データの書き込み処理が
終わった光ディスク６ｂは、次に検査データ読み出しス
テーション２にセットされる。この検査データ読み出し
ステーション２では、読み出しヘッド１８．ヘッド送り
機構１９の作動により、光ディスク６ｂの全ての記録ト
ラックからピットの読み出しが行われる。読み出しヘッ
ド１８から得られた光電信号は、Ａ／Ｄ変換器４２を介
して読み出しデータとなり、ＣＰＵ２０に供給される。

光ディスク６ａに欠陥部がなく、したがって光ディスク
６ｂのピットが検査データに対応して正しく形成され、
さらにこれが読み出しデータとして正しく検出された場
合には、読み出しデータは検査データと完全に一致する
。データ比較回路２■はこれらのデータの比較を行い、
それぞれのデータが完全に、一致しているときには、デ
ータ比較回路２１からは欠陥部アドレスデータは出力さ
れることがない。

一方、光ディスク６ａに欠陥部が存在している場合には
、検査データ書き込みステーション１で検査データの書
き込みを行ったときに、その欠陥部分ではピットが正し
く形成されない。また、仮にピットが検査データにした
がって形成されたとしても、検査データ読み出しステー
ション２で正しくこれを読み出すことができない。した
がってこのような場合には、検査データメモリ１３から
取り込んだ検査データと、ＣＰＵ２０から供給されてく
る読み出しデータとが部分的に不一致となる。この不一
致がデータ比較回路２１で検出されると、データ比較回
路２１からは欠陥部アドレスデータが出力される。この
欠陥部アドレスデータは、前記両データ間に不一致が認
められたトラック位置、セクタ位置を表すものになって
いる。こうして得られた欠陥部アドレスデータは、欠陥
部アドレスデータ記憶用バッファメモリ２３に格納され
る。

検査データと読み出しデータとの照合を終えた光ディス
ク６Ｃは消去ステーション３にセットされる。この消去
ステーション３では、消去ヘッド２９によって光ディス
ク６Ｃに形成されている全てのピットを完全に消去する
。この消去処理が完了した時点で、欠陥部が存在しなか
った光ディスクについては初期の状態に復元されること
になり、そのままで良品として扱うことができる。

一方、欠陥部が発見された光ディスク６ｄについ才は、
次に欠陥部データ書き込みステーション４にセットされ
る。この欠陥部データ書き込みステーション４では、欠
陥部アドレスデータ記憶用バッファメモリ２３に格納さ
れた欠陥部アドレスデータを光ディスク６ｄの付加トラ
ック４０に書き込む。また、この欠陥部アドレスデータ
の書き込み処理に引続き、付加トラック４０には、代替
記録領域として用いられるトラック位置、セクタ位置を
表すアドレスデータの書き込みが行われる。

代替記録領域には、各トランクごとに予め設けられてい
る予備セクタ、あるいは予備トラックが割当てられるか
ら、これらのアドレスデータも予め分かっており、これ
らの代替記録領域に欠陥部がなかったことをｂ”ｆｌ　
Ｌ’２のうえ、そのアドレスデータが記録される。

このように欠陥部データ書き込み処理を行った光ディス
ク６ｄは、部分的に欠陥部が存在しているとは言え、代
替記録領域が確保されているため、良品として使用する
ことができる。すなわち、ユーザーが通常の記録面にデ
ータの書き込みを行う場合には、書き込み用のデツキに
この光ディスクをセットしたときに、最初に光デイスク
管理用のインデックスデータが書き込まれている付加ト
ラック４０からデータの読み出しが行われるから、この
ときに代替記録部としての予備トラック、予備セクタが
使用されるようになる。もちろん、データ読み出し時に
も同様の処理が行われることになる。なお、欠陥部が多
くて代替記録部の容量が不足した場合には、その光ディ
スクは不良品として判定される。

上述のような検査システムを稼働する際には、検査デー
タ書き込みステーション１．検査データ読み出しステー
ション２．消去ステーション３゜欠陥部データ書き込み
ステーション４の各々に光ディスクをセットして並行処
理することが可能である。もちろんこの場合には、欠陥
部アドレス記憶用バッファメモリ２３には、光デイスク
３枚についての欠陥部アドレスデータを格納するメモリ
容量が必要となり、これらのデータを検査データ読み出
しステーション２．消去ステーション３゜欠陥部データ
書き込みステーション４の各処理にしたがって順次に読
み出すようにする。また、上記の検査処理を遂行するに
あたり、光ディスクを次の処理ステーションに自動的に
搬送させてゆくことも可能であり、こうすることによっ
て検査処理は完全に自動化される。

なお、さらに大量処理が要求される場合には、上記検査
処理システムを複数ユニント用意すればよく、この場合
でも各検査処理システム相互間で検査基準を精密に合わ
せる必要がない。またこの検査処理システムは、線速度
一定で回転させるコンパクトディスク等の他、フロッピ
ーディスクのように磁気的にデータ記録／読み出しを行
う記録媒体についても同様に適用することができる。

〔発明の効果〕

以上説明したように、本発明の検査方法では、対象とな
るディスク状の記録媒体に検査データを占き込む工程、
書き込まれたデータを読み出す工程、データを消去する
工程、欠陥部のアドレスを所定の記録位置に書き込む工
程を各々独立させた上で、これらを１つのシステムとし
て統合している。したがって、検査対象となる記録媒体
を上記各工程で並行処理することが可能となり、効率的
な検査処理を行うことができるようになる。また、各工
程はそれぞれデータ書き込み、データ読み出し等の単機
能処理で済み、処理装置としてもローコストのものでよ
い。さらに、検査精度も安定に維持することが容易であ
り、確実、かつ迅速な検査処理ができるようになる。

４、

【図面の簡単な説明】

第１図は、本発明の光ディスクの検査方法を適用した検
査システムの概略説明図である。 第２図は、第１図の検査システムの作用を示すシーケン
スプログラムである。 ■　・　・ ２　・　・ ３　・　・ ４　・　・ ７　・　・ １０゜ １１゜ １２゜ １３　・ ｌ　８　・ ２　ｌ　・ ２２　・ ２３　・ ・検査データ書き込みステーション ・検査データ読み出しステーション ・消去ステーション ・欠陥部データ書き込みステーション ターンテーブル ３７・・書き込みヘッド １９．２８．３６・　・ヘッド送り機構２０．３０．３
８・　・ＣＰＵ ・検査データメモリ ・読み出しヘッド ・データ比較回路 ・システムコントローラ ・欠陥部アドレス記憶用パンツアメモリ。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. （１）ディスク回転機構、書き込みヘッドを備えた検査
   データ書き込みステーションで、検査対象となるディス
   ク状記録媒体に検査データを書き込む第１工程と、第１
   工程を経たディスク状記録媒体をディスク回転機構、読
   み出しヘッド、読み出しデータ記憶用のメモリを備えた
   読み出しステーションにセットして前記検査データの読
   み出しを行い、読み出されたデータに基づいてディスク
   状記録媒体の記録面に存在する欠陥部のアドレスデータ
   を取り込む第２工程と、第２工程を経たディスク状記録
   媒体をディスク回転機構及び消去ヘッドを備えた消去ス
   テーションにセットして書き込まれた検査データを消去
   する第３工程と、第３工程を経たディスク状記録媒体を
   ディスク回転機構及び書き込みヘッドを備えた欠陥デー
   タ書き込みステーションにセットし、前記第２工程で取
   り込まれたアドレスデータをディスク状記録媒体の所要
   部に書き込む第４工程とからなることを特徴とするディ
   スク状記録媒体の検査方法。