JPH07121993A - 光学情報記録再生装置 - Google Patents
光学情報記録再生装置Info
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- JPH07121993A JPH07121993A JP26354593A JP26354593A JPH07121993A JP H07121993 A JPH07121993 A JP H07121993A JP 26354593 A JP26354593 A JP 26354593A JP 26354593 A JP26354593 A JP 26354593A JP H07121993 A JPH07121993 A JP H07121993A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 光磁気ディスクのＰＤＬ，ＳＤＬ等の欠陥情
報を記録する位置に初期欠陥があっても、そのデータの
保存の信頼性を確保できるようにする。 【構成】 ホストコントローラ１４の指示に基づいて、
ドライブ回路系６内の各制御系を制御し、光磁気ディス
ク１のフォーマット時、光ピックアップ３からディスク
面へレーザ光Ｌを照射することによってそのディスク面
のＤＭＡ領域内を欠陥検査し、欠陥セクタが検出された
ときにはその欠陥セクタを避けて欠陥リストの記録位置
を設定して、複数の欠陥セクタが検出されたとき、その
各欠陥セクタ情報を設定された欠陥リストの記録位置に
連続して記録する。
報を記録する位置に初期欠陥があっても、そのデータの
保存の信頼性を確保できるようにする。 【構成】 ホストコントローラ１４の指示に基づいて、
ドライブ回路系６内の各制御系を制御し、光磁気ディス
ク１のフォーマット時、光ピックアップ３からディスク
面へレーザ光Ｌを照射することによってそのディスク面
のＤＭＡ領域内を欠陥検査し、欠陥セクタが検出された
ときにはその欠陥セクタを避けて欠陥リストの記録位置
を設定して、複数の欠陥セクタが検出されたとき、その
各欠陥セクタ情報を設定された欠陥リストの記録位置に
連続して記録する。
Description
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、光磁気ディスク等の
ディスク状の光学情報記録媒体に半導体レーザを用いて
各種のデータを記録し、そのデータを読み出して再生す
る光学情報記録再生装置に関する。
ディスク状の光学情報記録媒体に半導体レーザを用いて
各種のデータを記録し、そのデータを読み出して再生す
る光学情報記録再生装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】近年、ディスク状の光学情報記録媒体
（以下「ディスク記録媒体」と称する）に半導体レーザ
を用いてデータを記録し、そのデータを読み出して再生
する光磁気ディスク装置等の光学情報記録再生装置が多
用されており、このような光学情報記録再生装置に用い
る３．５インチ光磁気ディスク等のディスク記録媒体に
関しては国際標準化機構（ＩＳＯ）によってディスク標
準が制定されている。
（以下「ディスク記録媒体」と称する）に半導体レーザ
を用いてデータを記録し、そのデータを読み出して再生
する光磁気ディスク装置等の光学情報記録再生装置が多
用されており、このような光学情報記録再生装置に用い
る３．５インチ光磁気ディスク等のディスク記録媒体に
関しては国際標準化機構（ＩＳＯ）によってディスク標
準が制定されている。
【０００３】図１２は９０ミリ国際標準化機構（ＩＳ
Ｏ）の標準メディアで定義されているディスク記録媒体
の各記録領域のゾーン位置を示す図である。同図の
（ａ）は全面書換形のフォーマット、（ｂ）は部分エン
ボス形のフォーマット、（ｃ）は全面エンボス形のフォ
ーマットをそれぞれ示している。
Ｏ）の標準メディアで定義されているディスク記録媒体
の各記録領域のゾーン位置を示す図である。同図の
（ａ）は全面書換形のフォーマット、（ｂ）は部分エン
ボス形のフォーマット、（ｃ）は全面エンボス形のフォ
ーマットをそれぞれ示している。
【０００４】ＩＳＯ標準によれば、光学情報記録再生装
置に使用されるディスク記録媒体の記録領域には、内周
制御ゾーンと欠陥管理領域（Defect Management Areas
：以下「ＤＭＡ領域」と略称する）ゾーンと外周制御
ゾーンが形成されている。そのＤＭＡ領域には、中間の
書換ゾーン（又は、書換ゾーン＋エンボスゾーン，エン
ボスゾーン）を挟んで内周側の２つのＤＭＡ領域１，２
と、外周側の２つのＤＭＡ領域３，４の合計４つのＤＭ
Ａ領域が形成されている。
置に使用されるディスク記録媒体の記録領域には、内周
制御ゾーンと欠陥管理領域（Defect Management Areas
：以下「ＤＭＡ領域」と略称する）ゾーンと外周制御
ゾーンが形成されている。そのＤＭＡ領域には、中間の
書換ゾーン（又は、書換ゾーン＋エンボスゾーン，エン
ボスゾーン）を挟んで内周側の２つのＤＭＡ領域１，２
と、外周側の２つのＤＭＡ領域３，４の合計４つのＤＭ
Ａ領域が形成されている。
【０００５】各ＤＭＡ領域１〜４には、ディスク定義構
造（Disk Definition Structure ：以下「ＤＤＳ」と略
称する）、第１欠陥リスト（Primary Defect List ：以
下「ＰＤＬ」と略称する）、第２欠陥リスト（Secondar
y Defect List ：以下「ＳＤＬ」と略称する）等のデー
タがそれぞれ記録される。そのＤＤＳは、ディスク記録
媒体の記録領域のユーザ領域と交替領域とのグループ分
けの情報と、ＰＤＬ及びＳＤＬの配置の位置情報であ
り、表１にその内容の一例を示す。
造（Disk Definition Structure ：以下「ＤＤＳ」と略
称する）、第１欠陥リスト（Primary Defect List ：以
下「ＰＤＬ」と略称する）、第２欠陥リスト（Secondar
y Defect List ：以下「ＳＤＬ」と略称する）等のデー
タがそれぞれ記録される。そのＤＤＳは、ディスク記録
媒体の記録領域のユーザ領域と交替領域とのグループ分
けの情報と、ＰＤＬ及びＳＤＬの配置の位置情報であ
り、表１にその内容の一例を示す。
【０００６】また、ＰＤＬは、ディスク記録媒体のディ
スクフォーマット時に、記録エリアの最内周のＤＭＡか
らユーザ領域，最外周のＤＭＡまでこの順にデータの消
去及び書き込み（イレース／ライト）を行なう全面欠陥
検査（全面サーティファイ）を実施し、その検査内容を
ベリファイ（Verify）してエラーと検出されたセクタの
位置情報であり、表２にその内容の一例を示す。
スクフォーマット時に、記録エリアの最内周のＤＭＡか
らユーザ領域，最外周のＤＭＡまでこの順にデータの消
去及び書き込み（イレース／ライト）を行なう全面欠陥
検査（全面サーティファイ）を実施し、その検査内容を
ベリファイ（Verify）してエラーと検出されたセクタの
位置情報であり、表２にその内容の一例を示す。
【０００７】さらに、ＳＤＬは、ディスク記録媒体に対
するデータの記録及び再生中にエラーと検出されたセク
タの位置情報であり、エラーセクタが検出された場合は
随時記録される。表３にその内容の一例を示す。なお、
表４，５はそれぞれ書換ゾーンとエンボスゾーンのグル
ープ分けのフォーマットを示しており、表６はＤＭＡ領
域を配置したときの具体的なトラック番号とセクタ番号
を示している。
するデータの記録及び再生中にエラーと検出されたセク
タの位置情報であり、エラーセクタが検出された場合は
随時記録される。表３にその内容の一例を示す。なお、
表４，５はそれぞれ書換ゾーンとエンボスゾーンのグル
ープ分けのフォーマットを示しており、表６はＤＭＡ領
域を配置したときの具体的なトラック番号とセクタ番号
を示している。
【０００８】図１３は各ＤＭＡ領域１〜４内にＤＤＳ，
ＰＤＬ，及びＳＤＬを記録（定義）するセクタの位置の
一例を示しており、ＤＭＡ領域１として第０トラックの
第０セクタにＤＤＳ１，第１セクタにＰＤＬ，第２セク
タにＳＤＬが記録され、ＤＭＡ領域２として第１トラッ
クの第１４セクタにＤＤＳ２，第１５セクタにＰＤＬ，
第１６セクタにＳＤＬが記録されている。
ＰＤＬ，及びＳＤＬを記録（定義）するセクタの位置の
一例を示しており、ＤＭＡ領域１として第０トラックの
第０セクタにＤＤＳ１，第１セクタにＰＤＬ，第２セク
タにＳＤＬが記録され、ＤＭＡ領域２として第１トラッ
クの第１４セクタにＤＤＳ２，第１５セクタにＰＤＬ，
第１６セクタにＳＤＬが記録されている。
【０００９】また、ＤＭＡ領域３として第９９９７トラ
ックの第０セクタにＤＤＳ３，第１セクタにＰＤＬ，第
２セクタにＳＤＬが記録され、ＤＭＡ領域４として第９
９９３トラックの第１４セクタにＤＤＳ４，第１５セク
タにＰＤＬ，第１６セクタにＳＤＬが記録されている。
なお、ＰＤＬ，ＳＤＬについてはＤＭＡ領域のＤＤＳの
記録されているセクタ以外のいずれのセクタに記録して
も良い。
ックの第０セクタにＤＤＳ３，第１セクタにＰＤＬ，第
２セクタにＳＤＬが記録され、ＤＭＡ領域４として第９
９９３トラックの第１４セクタにＤＤＳ４，第１５セク
タにＰＤＬ，第１６セクタにＳＤＬが記録されている。
なお、ＰＤＬ，ＳＤＬについてはＤＭＡ領域のＤＤＳの
記録されているセクタ以外のいずれのセクタに記録して
も良い。
【００１０】さて、このような光学情報記録媒体の記録
膜が経時的に劣化したり、同一箇所を繰り返し何度も読
み出すことによって生じる光摩擦によって劣化したりし
た場合、データの読み出しが行なえなくなるという恐れ
があった。
膜が経時的に劣化したり、同一箇所を繰り返し何度も読
み出すことによって生じる光摩擦によって劣化したりし
た場合、データの読み出しが行なえなくなるという恐れ
があった。
【００１１】例えば、ディスクロード時に内周制御ゾー
ン及び外周制御ゾーン（これらを「コントロールトラッ
ク」とも称する）を読み出す（リードする）時には必ず
ＤＭＡ領域をリードするものであり、頻繁にリードする
ことによって光摩擦等で記録膜が劣化することが考えら
れる。したがって、記録膜に劣化が生ずるとそこに記録
されているデータが読み出せなくなることがあり、これ
は、データ保存上大きな問題である。
ン及び外周制御ゾーン（これらを「コントロールトラッ
ク」とも称する）を読み出す（リードする）時には必ず
ＤＭＡ領域をリードするものであり、頻繁にリードする
ことによって光摩擦等で記録膜が劣化することが考えら
れる。したがって、記録膜に劣化が生ずるとそこに記録
されているデータが読み出せなくなることがあり、これ
は、データ保存上大きな問題である。
【００１２】そこで、このＩＳＯ標準によればディスク
記録媒体上には、そのディスク上の内周と外周で４箇所
（ＤＭＡ１〜ＤＭＡ４）のＤＭＡ領域を設けており、Ｄ
ＭＡ１〜ＤＭＡ４の各ＤＭＡ領域で先頭のセクタからＤ
ＤＳ，ＰＤＬ，ＳＤＬを連続して割り当てている。
記録媒体上には、そのディスク上の内周と外周で４箇所
（ＤＭＡ１〜ＤＭＡ４）のＤＭＡ領域を設けており、Ｄ
ＭＡ１〜ＤＭＡ４の各ＤＭＡ領域で先頭のセクタからＤ
ＤＳ，ＰＤＬ，ＳＤＬを連続して割り当てている。
【００１３】つまり、従来の光学情報記録再生装置で
は、ディスク記録媒体上のＤＭＡ領域については内周側
の２個所のセクタと外周側の２個所のセクタの合計４個
所のセクタにそれぞれＤＤＳ，ＰＤＬ，及びＳＤＬを記
録するようにしており、ＤＤＳ，ＰＤＬ，又はＳＤＬの
読み出しに際して記録膜の劣化等によって４箇所のセク
タの内のいずれかが読み出せなくなったときには、その
他のセクタから読み出すようにしており、ＤＭＡ領域内
の欠陥に対しては、複数箇所に書くことで欠陥情報のデ
ータの保存の信頼性を高めていた。
は、ディスク記録媒体上のＤＭＡ領域については内周側
の２個所のセクタと外周側の２個所のセクタの合計４個
所のセクタにそれぞれＤＤＳ，ＰＤＬ，及びＳＤＬを記
録するようにしており、ＤＤＳ，ＰＤＬ，又はＳＤＬの
読み出しに際して記録膜の劣化等によって４箇所のセク
タの内のいずれかが読み出せなくなったときには、その
他のセクタから読み出すようにしており、ＤＭＡ領域内
の欠陥に対しては、複数箇所に書くことで欠陥情報のデ
ータの保存の信頼性を高めていた。
【００１４】
【表１】
【００１５】
【表２】
【００１６】
【表６】
【００１７】
【表３】
【００１８】
【表４】
【００１９】
【表５】
【００２０】なお、ディスク記録媒体上に不良ブロック
が発生した場合の代替処理に用いる管理情報を管理領域
内に記録するとき、その管理情報と管理領域内に既に記
録されている他の代替処理用の管理情報とを１ブロック
にまとめて記録し、管理情報の読み出し作業を効率良く
する装置（例えば、特開平２−２４０８６９号公報参
照）が提案されている。
が発生した場合の代替処理に用いる管理情報を管理領域
内に記録するとき、その管理情報と管理領域内に既に記
録されている他の代替処理用の管理情報とを１ブロック
にまとめて記録し、管理情報の読み出し作業を効率良く
する装置（例えば、特開平２−２４０８６９号公報参
照）が提案されている。
【００２１】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
光学情報記録再生装置では、ＰＤＬ，ＳＤＬ等の欠陥情
報のデータの信頼性を高めるために上述したように、デ
ィスク記録媒体上の４箇所のＤＭＡ領域に記録すること
によって行なっていたが、ディスク記録媒体上のＰＤ
Ｌ，ＳＤＬを記録するセクタに初期欠陥があっても、そ
のままそのセクタに記録してしまうので、ＰＤＬ，ＳＤ
Ｌ等の欠陥情報のデータの保存の信頼性が保たれなくな
る恐れがあった。
光学情報記録再生装置では、ＰＤＬ，ＳＤＬ等の欠陥情
報のデータの信頼性を高めるために上述したように、デ
ィスク記録媒体上の４箇所のＤＭＡ領域に記録すること
によって行なっていたが、ディスク記録媒体上のＰＤ
Ｌ，ＳＤＬを記録するセクタに初期欠陥があっても、そ
のままそのセクタに記録してしまうので、ＰＤＬ，ＳＤ
Ｌ等の欠陥情報のデータの保存の信頼性が保たれなくな
る恐れがあった。
【００２２】また、ディスク記録媒体上に経時的にゴミ
等の付着や傷がついても、何ら対策を行なっていないの
で、既に記録したＰＤＬ，ＳＤＬ等の欠陥情報のデータ
の保存の信頼性が保たれなくなる恐れもあった。
等の付着や傷がついても、何ら対策を行なっていないの
で、既に記録したＰＤＬ，ＳＤＬ等の欠陥情報のデータ
の保存の信頼性が保たれなくなる恐れもあった。
【００２３】この発明は上記の点に鑑みてなされたもの
であり、ディスク状の光学情報記録媒体のＰＤＬ，ＳＤ
Ｌ等の欠陥情報を記録する位置に初期欠陥やゴミ，傷等
の経時的欠陥が生じても、そのデータの保存の信頼性を
確保できるようにすることを目的とする。
であり、ディスク状の光学情報記録媒体のＰＤＬ，ＳＤ
Ｌ等の欠陥情報を記録する位置に初期欠陥やゴミ，傷等
の経時的欠陥が生じても、そのデータの保存の信頼性を
確保できるようにすることを目的とする。
【００２４】
【課題を解決するための手段】この発明は上記の目的を
達成するため、ディスク状の光学情報記録媒体に半導体
レーザを用いてデータを記録し、そのデータを読み出し
て再生する光学情報記録再生装置において、上記光学情
報記録媒体のフォーマット時に、その光学情報記録媒体
上に設けられた欠陥管理領域であるＤＭＡ領域内を欠陥
検査し、そのＤＭＡ領域内に欠陥セクタが検出されたと
きにはその欠陥セクタを避けて欠陥リストの記録位置を
設定する手段を設けたものである。
達成するため、ディスク状の光学情報記録媒体に半導体
レーザを用いてデータを記録し、そのデータを読み出し
て再生する光学情報記録再生装置において、上記光学情
報記録媒体のフォーマット時に、その光学情報記録媒体
上に設けられた欠陥管理領域であるＤＭＡ領域内を欠陥
検査し、そのＤＭＡ領域内に欠陥セクタが検出されたと
きにはその欠陥セクタを避けて欠陥リストの記録位置を
設定する手段を設けたものである。
【００２５】また、上記光学情報記録媒体のフォーマッ
ト時にその全面の欠陥検査によって複数の欠陥セクタが
検出されたとき、その各欠陥セクタ情報を上記設定され
た欠陥リストの記録位置に連続して記録する手段を設け
るとよい。
ト時にその全面の欠陥検査によって複数の欠陥セクタが
検出されたとき、その各欠陥セクタ情報を上記設定され
た欠陥リストの記録位置に連続して記録する手段を設け
るとよい。
【００２６】あるいは、上記光学情報記録媒体のフォー
マット時にその全面の欠陥検査によって欠陥セクタが検
出されたとき、その欠陥セクタ情報を上記欠陥セクタを
飛ばして上記設定された欠陥リストの記録位置に記録す
る手段と、その飛ばした欠陥セクタ情報を上記ＤＭＡ領
域内に設けられたディスク定義構造であるＤＤＳ内に記
録する手段を設けるとよい。
マット時にその全面の欠陥検査によって欠陥セクタが検
出されたとき、その欠陥セクタ情報を上記欠陥セクタを
飛ばして上記設定された欠陥リストの記録位置に記録す
る手段と、その飛ばした欠陥セクタ情報を上記ＤＭＡ領
域内に設けられたディスク定義構造であるＤＤＳ内に記
録する手段を設けるとよい。
【００２７】また、ディスク状の光学情報記録媒体に半
導体レーザを用いてデータを記録し、そのデータを読み
出して再生する光学情報記録再生装置において、上記光
学情報記録媒体の装着時、その光学情報記録媒体上に設
けられた欠陥管理領域であるＤＭＡ領域内を欠陥検査
し、そのＤＭＡ領域内ですでに欠陥セクタ情報が記録さ
れている欠陥リスト記録セクタ内で欠陥セクタが検出さ
れたときには、その欠陥セクタを含む連続するセクタに
記録されている欠陥セクタ情報を上記ＤＭＡ領域内の欠
陥のない連続したセクタに移動させて記録する欠陥リス
ト移動手段を設けるとよい。
導体レーザを用いてデータを記録し、そのデータを読み
出して再生する光学情報記録再生装置において、上記光
学情報記録媒体の装着時、その光学情報記録媒体上に設
けられた欠陥管理領域であるＤＭＡ領域内を欠陥検査
し、そのＤＭＡ領域内ですでに欠陥セクタ情報が記録さ
れている欠陥リスト記録セクタ内で欠陥セクタが検出さ
れたときには、その欠陥セクタを含む連続するセクタに
記録されている欠陥セクタ情報を上記ＤＭＡ領域内の欠
陥のない連続したセクタに移動させて記録する欠陥リス
ト移動手段を設けるとよい。
【００２８】さらに、ディスク状の光学情報記録媒体に
半導体レーザを用いてデータを記録し、そのデータを読
み出して再生する光学情報記録再生装置において、上記
光学情報記録媒体の装着時、その光学情報記録媒体上に
設けられた欠陥管理領域であるＤＭＡ領域内を欠陥検査
し、そのＤＭＡ領域内ですでに欠陥セクタ情報が記録さ
れている欠陥リスト記録セクタ内で欠陥セクタが検出さ
れたときには、その欠陥セクタから連続するセクタに記
録されている欠陥セクタ情報を上記欠陥セクタを飛ばし
て連続するセクタに移動させて記録する手段と、その飛
ばした欠陥セクタ情報を上記ＤＭＡ領域内に設けられた
ディスク定義構造であるＤＤＳ内に記録する手段を設け
るとよい。
半導体レーザを用いてデータを記録し、そのデータを読
み出して再生する光学情報記録再生装置において、上記
光学情報記録媒体の装着時、その光学情報記録媒体上に
設けられた欠陥管理領域であるＤＭＡ領域内を欠陥検査
し、そのＤＭＡ領域内ですでに欠陥セクタ情報が記録さ
れている欠陥リスト記録セクタ内で欠陥セクタが検出さ
れたときには、その欠陥セクタから連続するセクタに記
録されている欠陥セクタ情報を上記欠陥セクタを飛ばし
て連続するセクタに移動させて記録する手段と、その飛
ばした欠陥セクタ情報を上記ＤＭＡ領域内に設けられた
ディスク定義構造であるＤＤＳ内に記録する手段を設け
るとよい。
【００２９】
【作用】この発明による光学情報記録再生装置は、ディ
スク状の光学情報記録媒体のフォーマット時に、その光
学情報記録媒体上に設けられた欠陥管理領域であるＤＭ
Ａ領域内を欠陥検査し、そのＤＭＡ領域内に欠陥セクタ
が検出されたときにはその欠陥セクタを避けて欠陥リス
トの記録位置を設定するので、光学情報記録媒体のＤＭ
Ａ領域内の欠陥のない記録位置に欠陥リストの記録位置
を設定することができる。
スク状の光学情報記録媒体のフォーマット時に、その光
学情報記録媒体上に設けられた欠陥管理領域であるＤＭ
Ａ領域内を欠陥検査し、そのＤＭＡ領域内に欠陥セクタ
が検出されたときにはその欠陥セクタを避けて欠陥リス
トの記録位置を設定するので、光学情報記録媒体のＤＭ
Ａ領域内の欠陥のない記録位置に欠陥リストの記録位置
を設定することができる。
【００３０】また、光学情報記録媒体のフォーマット時
にその全面の欠陥検査によって複数の欠陥セクタが検出
されたとき、その各欠陥セクタ情報を上記設定された欠
陥リストの記録位置に連続して記録するようにすれば、
光学情報記録媒体のＤＭＡ領域内の欠陥のない記録位置
に欠陥情報を記録することができる。
にその全面の欠陥検査によって複数の欠陥セクタが検出
されたとき、その各欠陥セクタ情報を上記設定された欠
陥リストの記録位置に連続して記録するようにすれば、
光学情報記録媒体のＤＭＡ領域内の欠陥のない記録位置
に欠陥情報を記録することができる。
【００３１】あるいは、光学情報記録媒体のフォーマッ
ト時にその全面の欠陥検査によって欠陥セクタが検出さ
れたとき、その欠陥セクタ情報を欠陥のあるセクタを飛
ばして欠陥リストの記録位置に記録し、その飛ばした欠
陥セクタ情報をＤＭＡ領域内に設けられたディスク定義
構造であるＤＤＳ内に記録するようにすれば、光学情報
記録媒体のＤＭＡ領域内の欠陥セクタを飛ばして欠陥情
報を記録することができる。
ト時にその全面の欠陥検査によって欠陥セクタが検出さ
れたとき、その欠陥セクタ情報を欠陥のあるセクタを飛
ばして欠陥リストの記録位置に記録し、その飛ばした欠
陥セクタ情報をＤＭＡ領域内に設けられたディスク定義
構造であるＤＤＳ内に記録するようにすれば、光学情報
記録媒体のＤＭＡ領域内の欠陥セクタを飛ばして欠陥情
報を記録することができる。
【００３２】また、ディスク状の光学情報記録媒体の装
着時、その光学情報記録媒体上のＤＭＡ領域内で既に欠
陥セクタ情報が記録されている欠陥リスト記録セクタ内
で欠陥セクタが検出されたときには、その欠陥セクタを
含む連続するセクタに記録されている欠陥セクタ情報を
ＤＭＡ領域内の欠陥のない連続したセクタに移動させて
記録するようにすれば、光学情報記録媒体のＤＭＡ領域
内の欠陥のあったセクタに記録されている欠陥情報を欠
陥のない記録位置に記録し直すことができる。
着時、その光学情報記録媒体上のＤＭＡ領域内で既に欠
陥セクタ情報が記録されている欠陥リスト記録セクタ内
で欠陥セクタが検出されたときには、その欠陥セクタを
含む連続するセクタに記録されている欠陥セクタ情報を
ＤＭＡ領域内の欠陥のない連続したセクタに移動させて
記録するようにすれば、光学情報記録媒体のＤＭＡ領域
内の欠陥のあったセクタに記録されている欠陥情報を欠
陥のない記録位置に記録し直すことができる。
【００３３】さらに、ディスク状の光学情報記録媒体の
装着時、その光学情報記録媒体上のＤＭＡ領域内ですで
に欠陥セクタ情報が記録されている欠陥リスト記録セク
タ内で欠陥セクタが検出されたときには、その欠陥セク
タから連続するセクタに記録されている欠陥セクタ情報
をその欠陥セクタを飛ばして連続するセクタに移動させ
て記録し、その飛ばした欠陥セクタ情報をＤＭＡ領域内
に設けられたディスク定義構造であるＤＤＳ内に記録す
るようにすれば、光学情報記録媒体のＤＭＡ領域内の欠
陥のあったセクタに記録されている欠陥情報を欠陥セク
タを飛ばした記録位置に記録し直すことができる。
装着時、その光学情報記録媒体上のＤＭＡ領域内ですで
に欠陥セクタ情報が記録されている欠陥リスト記録セク
タ内で欠陥セクタが検出されたときには、その欠陥セク
タから連続するセクタに記録されている欠陥セクタ情報
をその欠陥セクタを飛ばして連続するセクタに移動させ
て記録し、その飛ばした欠陥セクタ情報をＤＭＡ領域内
に設けられたディスク定義構造であるＤＤＳ内に記録す
るようにすれば、光学情報記録媒体のＤＭＡ領域内の欠
陥のあったセクタに記録されている欠陥情報を欠陥セク
タを飛ばした記録位置に記録し直すことができる。
【００３４】
【実施例】以下この発明の実施例を図面に基づいて具体
的に説明する。この発明の第１実施例について説明す
る。図１はこの第１実施例の光学情報記録再生装置の構
成を示す図であり、この光学情報記録再生装置は、各種
のデータを記録するディスク状の光学情報記録媒体であ
る光磁気ディスク１を回転モータ２によって回転させ
る。
的に説明する。この発明の第１実施例について説明す
る。図１はこの第１実施例の光学情報記録再生装置の構
成を示す図であり、この光学情報記録再生装置は、各種
のデータを記録するディスク状の光学情報記録媒体であ
る光磁気ディスク１を回転モータ２によって回転させ
る。
【００３５】光ピックアップ３は、光磁気ディスク１上
に半導体レーザによるレーザ光Ｌのスポットを集光させ
て各種のデータの記録／再生を行ない、光磁気ディスク
１の回転にともなうディスク面の振れ，トラックのディ
スク半径方向への振れを検出する。
に半導体レーザによるレーザ光Ｌのスポットを集光させ
て各種のデータの記録／再生を行ない、光磁気ディスク
１の回転にともなうディスク面の振れ，トラックのディ
スク半径方向への振れを検出する。
【００３６】磁気ヘッド４は、光磁気ディスク１の記録
面に対するデータの記録／消去のときに光磁気ディスク
１のレーザ光Ｌを照射したディスク面の反対側の面から
そのレーザ光Ｌの照射位置に、照射と同時に必要な磁界
を印加する。粗動モータ５は、光ピックアップ３を光磁
気ディスク１の目標位置にランダムアクセスさせるため
に移動させる。
面に対するデータの記録／消去のときに光磁気ディスク
１のレーザ光Ｌを照射したディスク面の反対側の面から
そのレーザ光Ｌの照射位置に、照射と同時に必要な磁界
を印加する。粗動モータ５は、光ピックアップ３を光磁
気ディスク１の目標位置にランダムアクセスさせるため
に移動させる。
【００３７】ドライブ回路系６は、磁気ヘッド駆動系
７，回転制御系８，光ピックアップ制御系９，信号処理
系１０，粗動モータ制御系１１，及びドライブコントロ
ーラ１２からなり、そのドライブコントローラ１２はド
ライブインタフェース１３を介してホストコントローラ
１４と接続されている。
７，回転制御系８，光ピックアップ制御系９，信号処理
系１０，粗動モータ制御系１１，及びドライブコントロ
ーラ１２からなり、そのドライブコントローラ１２はド
ライブインタフェース１３を介してホストコントローラ
１４と接続されている。
【００３８】磁気ヘッド駆動系７は、磁気ヘッド４を光
磁気ディスク１の目標位置に移動させ、光磁気ディスク
１のディスク面に必要な磁界を印加する駆動制御を行な
う。回転制御系８は回転モータ２の回転数を制御する。
光ピックアップ制御系９は、光ピックアップ３によって
検出されたディスク面やトラックのディスク半径方向の
振れに応じてディスク面へのレーザ光Ｌのスポットを追
従させるように光ピックアップ３の自動制御を行なう。
磁気ディスク１の目標位置に移動させ、光磁気ディスク
１のディスク面に必要な磁界を印加する駆動制御を行な
う。回転制御系８は回転モータ２の回転数を制御する。
光ピックアップ制御系９は、光ピックアップ３によって
検出されたディスク面やトラックのディスク半径方向の
振れに応じてディスク面へのレーザ光Ｌのスポットを追
従させるように光ピックアップ３の自動制御を行なう。
【００３９】信号処理系１０は、光ピックアップ３によ
って検出された光磁気ディスク１のディスク面やトラッ
クのディスク半径方向の振れに応じた信号を光ピックア
ップ制御系７へ送る。粗動モータ制御系１１は、粗動モ
ータ５の速度と位置の制御を行ない、光磁気ディスク１
のディスク面のトラック振れに対する光スポットの追従
制御の一部も担っている。
って検出された光磁気ディスク１のディスク面やトラッ
クのディスク半径方向の振れに応じた信号を光ピックア
ップ制御系７へ送る。粗動モータ制御系１１は、粗動モ
ータ５の速度と位置の制御を行ない、光磁気ディスク１
のディスク面のトラック振れに対する光スポットの追従
制御の一部も担っている。
【００４０】ドライブコントローラ１２は、ドライブイ
ンタフェース１３を介してホストコントローラ１４から
の指示にしたがって上記の各制御系７〜１１を管理し、
目標の動作を行なわせると同時にその結果をドライブイ
ンタフェース１３を介してホストコントローラ１４に報
告する。
ンタフェース１３を介してホストコントローラ１４から
の指示にしたがって上記の各制御系７〜１１を管理し、
目標の動作を行なわせると同時にその結果をドライブイ
ンタフェース１３を介してホストコントローラ１４に報
告する。
【００４１】ホストコントローラ１４は、誤り訂正部１
５，バッファメモリ１６，及びホストインタフェース
（ＳＣＳＩ）１７等を有し、そのホストインタフェース
１７は（ＳＣＳＩ用）バス１８を介してホストコンピュ
ータ１９と接続されており、そのホストコンピュータ１
９からバス１８を介して送られる各種の指示を解釈して
ドライブコントローラ１２へ伝える。
５，バッファメモリ１６，及びホストインタフェース
（ＳＣＳＩ）１７等を有し、そのホストインタフェース
１７は（ＳＣＳＩ用）バス１８を介してホストコンピュ
ータ１９と接続されており、そのホストコンピュータ１
９からバス１８を介して送られる各種の指示を解釈して
ドライブコントローラ１２へ伝える。
【００４２】また、動作の結果をホストコンピュータ１
９に伝える機能を持っている。その他、誤り訂正部１５
によって光磁気ディスク１からドライブによって読み出
されたデータの誤り訂正処理を行ない、この発明に係る
光磁気ディスク１上の欠陥セクタを避けて欠陥情報を記
録するデータ記録位置を管理する交替処理、ホストコン
ピュータ１９から送られる記録データを蓄えるバッファ
メモリ１６の管理も行なう。
９に伝える機能を持っている。その他、誤り訂正部１５
によって光磁気ディスク１からドライブによって読み出
されたデータの誤り訂正処理を行ない、この発明に係る
光磁気ディスク１上の欠陥セクタを避けて欠陥情報を記
録するデータ記録位置を管理する交替処理、ホストコン
ピュータ１９から送られる記録データを蓄えるバッファ
メモリ１６の管理も行なう。
【００４３】次に、この光学情報記録再生装置における
光磁気ディスク１のフォーマット処理について説明す
る。このフォーマット処理では、ホストコントローラ１
４の指示に基づく上記各制御系７〜１１による制御処理
によって、光磁気ディスク１のフォーマット時に、その
記録面に設けられた欠陥管理領域（以下「ＤＭＡ領域」
と略称する）内を欠陥検査して、欠陥セクタが検出され
たときにはその欠陥セクタを避けて欠陥リストの記録位
置を設定する。
光磁気ディスク１のフォーマット処理について説明す
る。このフォーマット処理では、ホストコントローラ１
４の指示に基づく上記各制御系７〜１１による制御処理
によって、光磁気ディスク１のフォーマット時に、その
記録面に設けられた欠陥管理領域（以下「ＤＭＡ領域」
と略称する）内を欠陥検査して、欠陥セクタが検出され
たときにはその欠陥セクタを避けて欠陥リストの記録位
置を設定する。
【００４４】そして、光磁気ディスク１の全面の欠陥検
査によって複数の欠陥セクタが検出されたときには、そ
の各欠陥セクタ情報を既に設定されている欠陥リストの
記録位置に連続して記録する。
査によって複数の欠陥セクタが検出されたときには、そ
の各欠陥セクタ情報を既に設定されている欠陥リストの
記録位置に連続して記録する。
【００４５】図２はこの光学情報記録再生装置における
光磁気ディスク１のフォーマット処理を示すフローチャ
ートである。この光磁気ディスク１のフォーマットは、
ディスク全面（ＤＭＡ領域を含めた）をサーティファイ
（欠陥検査）し、ＤＭＡ領域とデータ領域（書換ゾー
ン）にわけて欠陥セクタをチェックする。このとき、デ
ータ領域の欠陥セクタの量によってＤＭＡ領域内のＰＤ
Ｌを登録するためのセクタ数が変わってくる。
光磁気ディスク１のフォーマット処理を示すフローチャ
ートである。この光磁気ディスク１のフォーマットは、
ディスク全面（ＤＭＡ領域を含めた）をサーティファイ
（欠陥検査）し、ＤＭＡ領域とデータ領域（書換ゾー
ン）にわけて欠陥セクタをチェックする。このとき、デ
ータ領域の欠陥セクタの量によってＤＭＡ領域内のＰＤ
Ｌを登録するためのセクタ数が変わってくる。
【００４６】そして、各ＤＭＡ領域１〜４の先頭セクタ
にディスク定義構造（以下「ＤＤＳ」と略称する）を割
り当て、その次のセクタから連続してＰＤＬを登録する
セクタを割り当てるが、そのＰＤＬを書き込むセクタに
欠陥があるか否かをチェックして、欠陥がなければＤＤ
Ｓ用セクタの後にＰＤＬ用セクタを連続して割り当て
て、そのＤＤＳ用セクタとＰＤＬ用セクタにそれぞれＤ
ＤＳとＰＤＬを書き込む。
にディスク定義構造（以下「ＤＤＳ」と略称する）を割
り当て、その次のセクタから連続してＰＤＬを登録する
セクタを割り当てるが、そのＰＤＬを書き込むセクタに
欠陥があるか否かをチェックして、欠陥がなければＤＤ
Ｓ用セクタの後にＰＤＬ用セクタを連続して割り当て
て、そのＤＤＳ用セクタとＰＤＬ用セクタにそれぞれＤ
ＤＳとＰＤＬを書き込む。
【００４７】一方、欠陥があればＤＭＡ領域内の欠陥が
無い連続するセクタをチェックして、その欠陥が無い連
続するセクタをＰＤＬ用セクタに割り当てて、そのＤＤ
Ｓ用セクタとＰＤＬ用セクタにそれぞれＤＤＳとＰＤＬ
を書き込んでこの処理を終了する。
無い連続するセクタをチェックして、その欠陥が無い連
続するセクタをＰＤＬ用セクタに割り当てて、そのＤＤ
Ｓ用セクタとＰＤＬ用セクタにそれぞれＤＤＳとＰＤＬ
を書き込んでこの処理を終了する。
【００４８】図３はＤＭＡ領域内の欠陥セクタのない連
続するセクタにＰＤＬを記録したときの一例を示す図で
あり、ＤＭＡ領域の第１トラックの第０〜２４セクタに
欠陥がない場合、第０セクタをＤＤＳ用セクタに割り当
ててＤＤＳ（図中では「Ｄ」で示す）を記録し、第１セ
クタから連続するセクタをＰＤＬ用セクタに割り当てて
それぞれＰＤＬ（図中では「Ｐ」で示す）を記録する。
続するセクタにＰＤＬを記録したときの一例を示す図で
あり、ＤＭＡ領域の第１トラックの第０〜２４セクタに
欠陥がない場合、第０セクタをＤＤＳ用セクタに割り当
ててＤＤＳ（図中では「Ｄ」で示す）を記録し、第１セ
クタから連続するセクタをＰＤＬ用セクタに割り当てて
それぞれＰＤＬ（図中では「Ｐ」で示す）を記録する。
【００４９】図４はＤＭＡ領域内の欠陥セクタを避けて
連続するセクタにＰＤＬを記録したときの一例を示す図
であり、ＤＭＡ領域の第１トラックの第０セクタには欠
陥がないので、その第０セクタをＤＤＳ用セクタに割り
当ててＤＤＳ（図中では「Ｄ」で示す）を記録する。そ
して、第２及び第３セクタに欠陥がある（図中に×印で
示す）ので、そのセクタを避けて第４セクタから連続す
るセクタをＰＤＬ用セクタに割り当ててそれぞれＰＤＬ
（図中では「Ｐ」で示す）を記録する。
連続するセクタにＰＤＬを記録したときの一例を示す図
であり、ＤＭＡ領域の第１トラックの第０セクタには欠
陥がないので、その第０セクタをＤＤＳ用セクタに割り
当ててＤＤＳ（図中では「Ｄ」で示す）を記録する。そ
して、第２及び第３セクタに欠陥がある（図中に×印で
示す）ので、そのセクタを避けて第４セクタから連続す
るセクタをＰＤＬ用セクタに割り当ててそれぞれＰＤＬ
（図中では「Ｐ」で示す）を記録する。
【００５０】このようにして、フォーマット時にＤＭＡ
領域に欠陥セクタがあっても欠陥セクタを避けてＰＤＬ
またはＳＤＬを配置できるため、ＤＭＡ領域に記録する
ＰＤＬ，ＳＤＬのデータの保存の信頼性を高められる。
なお、ＤＭＡ領域の先頭セクタに欠陥がある場合は、そ
の先頭セクタを避けてＤＤＳ用セクタを割り当てると良
い。
領域に欠陥セクタがあっても欠陥セクタを避けてＰＤＬ
またはＳＤＬを配置できるため、ＤＭＡ領域に記録する
ＰＤＬ，ＳＤＬのデータの保存の信頼性を高められる。
なお、ＤＭＡ領域の先頭セクタに欠陥がある場合は、そ
の先頭セクタを避けてＤＤＳ用セクタを割り当てると良
い。
【００５１】次に、この発明の第２実施例について説明
する。この実施例の光学情報記録再生装置の構成は図１
に示した光学情報記録再生装置と同じであるが、その処
理が若干異なる。
する。この実施例の光学情報記録再生装置の構成は図１
に示した光学情報記録再生装置と同じであるが、その処
理が若干異なる。
【００５２】この実施例の光学情報記録再生装置では、
光磁気ディスク１のフォーマット時、ホストコントロー
ラ１４の指示に基づく上記各制御系７〜１１による制御
処理によって、光磁気ディスク１のフォーマット時に、
その記録面に設けられたＤＭＡ領域内を欠陥検査して、
欠陥セクタが検出されたときにはその欠陥セクタを避け
て欠陥リストの記録位置を設定する。
光磁気ディスク１のフォーマット時、ホストコントロー
ラ１４の指示に基づく上記各制御系７〜１１による制御
処理によって、光磁気ディスク１のフォーマット時に、
その記録面に設けられたＤＭＡ領域内を欠陥検査して、
欠陥セクタが検出されたときにはその欠陥セクタを避け
て欠陥リストの記録位置を設定する。
【００５３】そして、その全面の欠陥検査によって複数
の欠陥セクタが検出されたときには、その欠陥セクタを
飛ばして欠陥リストの記録位置にその欠陥セクタ情報を
記録し、その飛ばした欠陥セクタ情報をＤＭＡ領域内に
設けられたＤＤＳ内に記録する。
の欠陥セクタが検出されたときには、その欠陥セクタを
飛ばして欠陥リストの記録位置にその欠陥セクタ情報を
記録し、その飛ばした欠陥セクタ情報をＤＭＡ領域内に
設けられたＤＤＳ内に記録する。
【００５４】図５はこの光学情報記録再生装置における
光磁気ディスク１のフォーマット処理を示すフローチャ
ートである。この光磁気ディスク１のフォーマットは、
ディスク全面（ＤＭＡ領域を含めた）をサーティファイ
（欠陥検査）し、ＤＭＡ領域とデータ領域（書換ゾー
ン）にわけて欠陥セクタをチェックする。このとき、デ
ータ領域の欠陥セクタの量によってＤＭＡ領域内のＰＤ
Ｌを登録するためのセクタ数が変わってくる。
光磁気ディスク１のフォーマット処理を示すフローチャ
ートである。この光磁気ディスク１のフォーマットは、
ディスク全面（ＤＭＡ領域を含めた）をサーティファイ
（欠陥検査）し、ＤＭＡ領域とデータ領域（書換ゾー
ン）にわけて欠陥セクタをチェックする。このとき、デ
ータ領域の欠陥セクタの量によってＤＭＡ領域内のＰＤ
Ｌを登録するためのセクタ数が変わってくる。
【００５５】そして、各ＤＭＡ領域１〜４の先頭セクタ
にＤＤＳを割り当て、その次のセクタから連続してＰＤ
Ｌを登録するセクタを割り当てるが、そのＰＤＬを書き
込むセクタに欠陥があるか否かをチェックして、欠陥が
なければＤＤＳ用セクタの後にＰＤＬ用セクタを連続し
て割り当てて、そのＤＤＳ用セクタとＰＤＬ用セクタに
それぞれＤＤＳとＰＤＬを書き込む。
にＤＤＳを割り当て、その次のセクタから連続してＰＤ
Ｌを登録するセクタを割り当てるが、そのＰＤＬを書き
込むセクタに欠陥があるか否かをチェックして、欠陥が
なければＤＤＳ用セクタの後にＰＤＬ用セクタを連続し
て割り当てて、そのＤＤＳ用セクタとＰＤＬ用セクタに
それぞれＤＤＳとＰＤＬを書き込む。
【００５６】一方、欠陥があればその欠陥セクタを飛ば
してＰＤＬ用セクタを割り当てて、そのＰＤＬ用セクタ
にＰＤＬを書き込み、ＤＤＳにその飛ばした欠陥セクタ
情報を書き込んでこの処理を終了する。
してＰＤＬ用セクタを割り当てて、そのＰＤＬ用セクタ
にＰＤＬを書き込み、ＤＤＳにその飛ばした欠陥セクタ
情報を書き込んでこの処理を終了する。
【００５７】図６はＤＭＡ領域内の欠陥セクタを飛ばし
てＰＤＬを記録したときの一例を示す図であり、ＤＭＡ
領域の第１トラックの第０セクタには欠陥がないので、
その第０セクタをＤＤＳ用セクタに割り当ててＤＤＳ
（図中では「Ｄ」で示す）を記録し、欠陥のない第１セ
クタをＰＤＬ用セクタに割り当ててＰＤＬ（図中では
「Ｐ」で示す）を記録する。
てＰＤＬを記録したときの一例を示す図であり、ＤＭＡ
領域の第１トラックの第０セクタには欠陥がないので、
その第０セクタをＤＤＳ用セクタに割り当ててＤＤＳ
（図中では「Ｄ」で示す）を記録し、欠陥のない第１セ
クタをＰＤＬ用セクタに割り当ててＰＤＬ（図中では
「Ｐ」で示す）を記録する。
【００５８】さらに、第２，３セクタには欠陥がある
（図中には×印で示す）ので、そのセクタを飛ばして第
４〜６セクタをＰＤＬ用セクタに割り当ててそれぞれＰ
ＤＬ（図中では「Ｐ」で示す）を記録する。そして、そ
の飛ばした第２，３セクタの情報をＤＤＳに記録する。
（図中には×印で示す）ので、そのセクタを飛ばして第
４〜６セクタをＰＤＬ用セクタに割り当ててそれぞれＰ
ＤＬ（図中では「Ｐ」で示す）を記録する。そして、そ
の飛ばした第２，３セクタの情報をＤＤＳに記録する。
【００５９】このようにして、フォーマット時にＤＭＡ
領域に欠陥セクタがあっても欠陥セクタを避けてＰＤＬ
またはＳＤＬを配置できるため、ＤＭＡ領域に記録する
ＰＤＬ，ＳＤＬのデータの保存の信頼性を高められる。
また、欠陥のあるセクタのみをデータ記録位置から除く
ことができるので、限られたセクタを有効に使用するこ
とができる。
領域に欠陥セクタがあっても欠陥セクタを避けてＰＤＬ
またはＳＤＬを配置できるため、ＤＭＡ領域に記録する
ＰＤＬ，ＳＤＬのデータの保存の信頼性を高められる。
また、欠陥のあるセクタのみをデータ記録位置から除く
ことができるので、限られたセクタを有効に使用するこ
とができる。
【００６０】次に、この発明の第３実施例について説明
する。この実施例の光学情報記録再生装置の構成は図１
に示した光学情報記録再生装置と同じであるが、光磁気
ディスク１が装着されたときの処理に特徴がある。
する。この実施例の光学情報記録再生装置の構成は図１
に示した光学情報記録再生装置と同じであるが、光磁気
ディスク１が装着されたときの処理に特徴がある。
【００６１】この光学情報記録再生装置は、光磁気ディ
スク１の装着時、そのディスク面のＤＭＡ領域内を欠陥
検査して、ＤＭＡ領域内ですでに欠陥セクタ情報が記録
されている欠陥リスト記録セクタ内で欠陥セクタが検出
されたときには、その欠陥セクタを含む連続するセクタ
に記録されている欠陥セクタ情報をＤＭＡ領域内の欠陥
のない連続したセクタに移動させて記録する。
スク１の装着時、そのディスク面のＤＭＡ領域内を欠陥
検査して、ＤＭＡ領域内ですでに欠陥セクタ情報が記録
されている欠陥リスト記録セクタ内で欠陥セクタが検出
されたときには、その欠陥セクタを含む連続するセクタ
に記録されている欠陥セクタ情報をＤＭＡ領域内の欠陥
のない連続したセクタに移動させて記録する。
【００６２】図７はこの光学情報記録再生装置における
光磁気ディスク１の装着時の処理を示すフローチャート
である。この処理では、メディア（光磁気ディスク１）
がドライブに装着されたか否かを判断して、装着された
らイニシャライズする時にＤＭＡ領域内の各セクタに記
録されているデータ（欠陥セクタ情報）をリード（再
生）し、既にＰＤＬ，ＳＤＬが書き込まれているセクタ
に欠陥セクタがあるかチェックする。
光磁気ディスク１の装着時の処理を示すフローチャート
である。この処理では、メディア（光磁気ディスク１）
がドライブに装着されたか否かを判断して、装着された
らイニシャライズする時にＤＭＡ領域内の各セクタに記
録されているデータ（欠陥セクタ情報）をリード（再
生）し、既にＰＤＬ，ＳＤＬが書き込まれているセクタ
に欠陥セクタがあるかチェックする。
【００６３】そして、ＰＤＬ，ＳＤＬが書き込まれてい
るセクタに欠陥セクタがあるか否かを判断して、欠陥セ
クタがなければＰＤＬ，ＳＤＬが書き込まれているセク
タに関してはデータの再書き込みを行なわずにこの処理
を終了する。一方、既にＰＤＬ，ＳＤＬが書き込まれて
いるセクタに欠陥セクタがある場合は、その欠陥セクタ
を含む連続するセクタに記録されているデータを欠陥の
ない連続したセクタに移動させて書き換えて、この処理
を終了する。
るセクタに欠陥セクタがあるか否かを判断して、欠陥セ
クタがなければＰＤＬ，ＳＤＬが書き込まれているセク
タに関してはデータの再書き込みを行なわずにこの処理
を終了する。一方、既にＰＤＬ，ＳＤＬが書き込まれて
いるセクタに欠陥セクタがある場合は、その欠陥セクタ
を含む連続するセクタに記録されているデータを欠陥の
ない連続したセクタに移動させて書き換えて、この処理
を終了する。
【００６４】図８はＤＭＡ領域内の既にＰＤＬの記録さ
れているセクタに欠陥があるときの一例を示す図、図９
は図８のＰＤＬ，ＳＤＬを欠陥のない連続するセクタに
移動して記録したときの一例を示す図である。
れているセクタに欠陥があるときの一例を示す図、図９
は図８のＰＤＬ，ＳＤＬを欠陥のない連続するセクタに
移動して記録したときの一例を示す図である。
【００６５】図８に示すように、第０セクタにはＤＤＳ
（図中「Ｄ」で示す）が、第１〜３セクタにはそれぞれ
ＰＤＬ（図中「Ｐ１」「Ｐ２」「Ｐ３」で示す）が、第
４，５セクタにはそれぞれＳＤＬ（図中「Ｓ１」「Ｓ
２」で示す）が記録されており、ディスク装着時の欠陥
検査によって第２セクタに欠陥があった（図中×印で示
す）ものとする。
（図中「Ｄ」で示す）が、第１〜３セクタにはそれぞれ
ＰＤＬ（図中「Ｐ１」「Ｐ２」「Ｐ３」で示す）が、第
４，５セクタにはそれぞれＳＤＬ（図中「Ｓ１」「Ｓ
２」で示す）が記録されており、ディスク装着時の欠陥
検査によって第２セクタに欠陥があった（図中×印で示
す）ものとする。
【００６６】このような場合、上述の処理によって、第
１〜３セクタの各ＰＤＬ（「Ｐ１」「Ｐ２」「Ｐ３」）
と第４，５セクタの各ＳＤＬ（「Ｓ１」「Ｓ２」）が、
図９に示すように、それぞれ欠陥のない連続する第３〜
７セクタに移動されて記録される。
１〜３セクタの各ＰＤＬ（「Ｐ１」「Ｐ２」「Ｐ３」）
と第４，５セクタの各ＳＤＬ（「Ｓ１」「Ｓ２」）が、
図９に示すように、それぞれ欠陥のない連続する第３〜
７セクタに移動されて記録される。
【００６７】このようにして、メディアを装着するたび
にＤＭＡ領域の欠陥セクタをチェックして、ＤＭＡ領域
内にほこり、傷等による経時的な欠陥セクタが発生して
も、既に記録されているＰＤＬ，ＳＤＬをその欠陥セク
タを避けて欠陥のない連続するセクタに移動して再記録
するので、ＰＤＬ及びＳＤＬ内のデータの保存の信頼性
を常に高く保つことができる。
にＤＭＡ領域の欠陥セクタをチェックして、ＤＭＡ領域
内にほこり、傷等による経時的な欠陥セクタが発生して
も、既に記録されているＰＤＬ，ＳＤＬをその欠陥セク
タを避けて欠陥のない連続するセクタに移動して再記録
するので、ＰＤＬ及びＳＤＬ内のデータの保存の信頼性
を常に高く保つことができる。
【００６８】次に、この発明の第４実施例について説明
する。この実施例の光学情報記録再生装置の構成は図１
に示した光学情報記録再生装置と同じであり、光磁気デ
ィスク１が装着されたときの処理に特徴があるが、第３
実施例の処理と若干異なる。
する。この実施例の光学情報記録再生装置の構成は図１
に示した光学情報記録再生装置と同じであり、光磁気デ
ィスク１が装着されたときの処理に特徴があるが、第３
実施例の処理と若干異なる。
【００６９】この光学情報記録再生装置は、光磁気ディ
スク１の装着時、そのディスク面のＤＭＡ領域内を欠陥
検査して、ＤＭＡ領域内ですでに欠陥セクタ情報が記録
されている欠陥リスト記録セクタ内で欠陥セクタが検出
されたときには、その欠陥セクタから連続するセクタに
記録されている欠陥セクタ情報をその欠陥セクタを飛ば
して連続するセクタに移動させて記録し、その飛ばした
欠陥セクタ情報をＤＭＡ領域内に設けられたＤＤＳ内に
記録する。
スク１の装着時、そのディスク面のＤＭＡ領域内を欠陥
検査して、ＤＭＡ領域内ですでに欠陥セクタ情報が記録
されている欠陥リスト記録セクタ内で欠陥セクタが検出
されたときには、その欠陥セクタから連続するセクタに
記録されている欠陥セクタ情報をその欠陥セクタを飛ば
して連続するセクタに移動させて記録し、その飛ばした
欠陥セクタ情報をＤＭＡ領域内に設けられたＤＤＳ内に
記録する。
【００７０】図１０はこの光学情報記録再生装置におけ
る光磁気ディスク１の装着時の処理を示すフローチャー
トであり、図７に示したフローチャートの処理と共通す
る部分は省略する。この処理では、メディアの既にＰＤ
Ｌ，ＳＤＬが書き込まれているセクタに欠陥セクタがあ
る場合は、その欠陥セクタから連続するセクタに記録さ
れているデータを欠陥セクタを飛ばして欠陥のない連続
するセクタに移動させて書き換える。
る光磁気ディスク１の装着時の処理を示すフローチャー
トであり、図７に示したフローチャートの処理と共通す
る部分は省略する。この処理では、メディアの既にＰＤ
Ｌ，ＳＤＬが書き込まれているセクタに欠陥セクタがあ
る場合は、その欠陥セクタから連続するセクタに記録さ
れているデータを欠陥セクタを飛ばして欠陥のない連続
するセクタに移動させて書き換える。
【００７１】図１１は図８の欠陥セクタを飛ばしてＰＤ
Ｌを記録したときの一例を示す図であり、第２，３セク
タの各ＰＤＬ（「Ｐ２」「Ｐ３」）と第４，５セクタの
各ＳＤＬ（「Ｓ１」「Ｓ２」）が、同図に示すように、
第２セクタを飛ばして欠陥のない連続する第３〜６セク
タに移動されて記録される。さらに、その飛ばした第２
セクタの情報がＤＤＳに記録される。
Ｌを記録したときの一例を示す図であり、第２，３セク
タの各ＰＤＬ（「Ｐ２」「Ｐ３」）と第４，５セクタの
各ＳＤＬ（「Ｓ１」「Ｓ２」）が、同図に示すように、
第２セクタを飛ばして欠陥のない連続する第３〜６セク
タに移動されて記録される。さらに、その飛ばした第２
セクタの情報がＤＤＳに記録される。
【００７２】このようにして、メディアを装着するたび
にＤＭＡ領域の欠陥セクタをチェックして、ＤＭＡ領域
内にほこり、傷等による経時的な欠陥セクタが発生して
も、既に記録されているＰＤＬ，ＳＤＬをその欠陥セク
タを飛ばして欠陥のない連続するセクタに移動して再記
録するので、ＰＤＬ及びＳＤＬ内のデータの保存の信頼
性を常に高く保つことができる。また、欠陥のあるセク
タのみをデータ記録位置から除くことができるので、限
られたセクタを有効に使用することができる。
にＤＭＡ領域の欠陥セクタをチェックして、ＤＭＡ領域
内にほこり、傷等による経時的な欠陥セクタが発生して
も、既に記録されているＰＤＬ，ＳＤＬをその欠陥セク
タを飛ばして欠陥のない連続するセクタに移動して再記
録するので、ＰＤＬ及びＳＤＬ内のデータの保存の信頼
性を常に高く保つことができる。また、欠陥のあるセク
タのみをデータ記録位置から除くことができるので、限
られたセクタを有効に使用することができる。
【００７３】
【発明の効果】以上説明してきたように、この発明によ
る光学情報記録再生装置によれば、ディスク状の光学情
報記録媒体のフォーマット時に、ＤＭＡ領域内に欠陥セ
クタが検出されたときにはその欠陥セクタを避けて欠陥
リストの記録位置を設定するので、ＤＭＡ領域内の欠陥
のない記録位置に欠陥リストの記録位置を設定できる。
る光学情報記録再生装置によれば、ディスク状の光学情
報記録媒体のフォーマット時に、ＤＭＡ領域内に欠陥セ
クタが検出されたときにはその欠陥セクタを避けて欠陥
リストの記録位置を設定するので、ＤＭＡ領域内の欠陥
のない記録位置に欠陥リストの記録位置を設定できる。
【００７４】また、光学情報記録媒体のフォーマット時
に複数の欠陥セクタが検出されたとき、その各欠陥セク
タ情報を設定された欠陥リストの記録位置に連続して記
録するようにすれば、ＤＭＡ領域内の欠陥のない記録位
置に欠陥情報を記録できる。
に複数の欠陥セクタが検出されたとき、その各欠陥セク
タ情報を設定された欠陥リストの記録位置に連続して記
録するようにすれば、ＤＭＡ領域内の欠陥のない記録位
置に欠陥情報を記録できる。
【００７５】あるいは、光学情報記録媒体のフォーマッ
ト時に欠陥セクタが検出されたとき、その欠陥セクタ情
報を欠陥のあるセクタを飛ばして欠陥リストの記録位置
に記録し、その飛ばした欠陥セクタ情報をＤＭＡ領域内
に設けられたディスク定義構造であるＤＤＳ内に記録す
るようにすれば、ＤＭＡ領域内の欠陥セクタを飛ばして
欠陥情報を記録できる。
ト時に欠陥セクタが検出されたとき、その欠陥セクタ情
報を欠陥のあるセクタを飛ばして欠陥リストの記録位置
に記録し、その飛ばした欠陥セクタ情報をＤＭＡ領域内
に設けられたディスク定義構造であるＤＤＳ内に記録す
るようにすれば、ＤＭＡ領域内の欠陥セクタを飛ばして
欠陥情報を記録できる。
【００７６】したがって、ディスク状の光学情報記録媒
体のフォーマット時に、その光学情報記録媒体上のＤＭ
Ａ領域内の欠陥情報を記録する位置に初期欠陥が有って
も、その位置を避けて欠陥情報を記録するので、その欠
陥情報のデータの保存の信頼性を確保することができ
る。
体のフォーマット時に、その光学情報記録媒体上のＤＭ
Ａ領域内の欠陥情報を記録する位置に初期欠陥が有って
も、その位置を避けて欠陥情報を記録するので、その欠
陥情報のデータの保存の信頼性を確保することができ
る。
【００７７】また、ディスク状の光学情報記録媒体の装
着時、のＤＭＡ領域内で既に欠陥セクタ情報が記録され
ている欠陥リスト記録セクタ内で欠陥セクタが検出され
たときには、その欠陥セクタを含む連続するセクタに記
録されている欠陥セクタ情報をＤＭＡ領域内の欠陥のな
い連続したセクタに移動させて記録するので、ＤＭＡ領
域内の欠陥のあったセクタに記録されている欠陥情報を
欠陥のない記録位置に記録し直すことができる。
着時、のＤＭＡ領域内で既に欠陥セクタ情報が記録され
ている欠陥リスト記録セクタ内で欠陥セクタが検出され
たときには、その欠陥セクタを含む連続するセクタに記
録されている欠陥セクタ情報をＤＭＡ領域内の欠陥のな
い連続したセクタに移動させて記録するので、ＤＭＡ領
域内の欠陥のあったセクタに記録されている欠陥情報を
欠陥のない記録位置に記録し直すことができる。
【００７８】さらに、その欠陥セクタから連続するセク
タに記録されている欠陥セクタ情報をその欠陥セクタを
飛ばして連続するセクタに移動させて記録し、その飛ば
した欠陥セクタ情報をＤＭＡ領域内に設けられたディス
ク定義構造であるＤＤＳ内に記録するようにすれば、Ｄ
ＭＡ領域内の欠陥のあったセクタに記録されている欠陥
情報を欠陥セクタを飛ばした記録位置に記録し直すこと
ができる。
タに記録されている欠陥セクタ情報をその欠陥セクタを
飛ばして連続するセクタに移動させて記録し、その飛ば
した欠陥セクタ情報をＤＭＡ領域内に設けられたディス
ク定義構造であるＤＤＳ内に記録するようにすれば、Ｄ
ＭＡ領域内の欠陥のあったセクタに記録されている欠陥
情報を欠陥セクタを飛ばした記録位置に記録し直すこと
ができる。
【００７９】したがって、ディスク状の光学情報記録媒
体が装着された時に、その光学情報記録媒体上のＤＭＡ
領域内のＰＤＬ，ＳＤＬ等の欠陥情報の記録された位置
にゴミ，傷等の経時的欠陥が生じても、その位置を避け
た位置に欠陥情報を移動させるので、その欠陥情報のデ
ータの保存の信頼性を確保することができる。
体が装着された時に、その光学情報記録媒体上のＤＭＡ
領域内のＰＤＬ，ＳＤＬ等の欠陥情報の記録された位置
にゴミ，傷等の経時的欠陥が生じても、その位置を避け
た位置に欠陥情報を移動させるので、その欠陥情報のデ
ータの保存の信頼性を確保することができる。
【図１】この発明の第１実施例の光学情報記録再生装置
の構成を示す図である。
の構成を示す図である。
【図２】第１実施例の光学情報記録再生装置における光
磁気ディスク１のフォーマット処理を示すフローチャー
トである。
磁気ディスク１のフォーマット処理を示すフローチャー
トである。
【図３】ＤＭＡ領域内の欠陥セクタのない連続するセク
タにＰＤＬを記録したときの一例を示す図である。
タにＰＤＬを記録したときの一例を示す図である。
【図４】ＤＭＡ領域内の欠陥セクタを避けて連続するセ
クタにＰＤＬを記録したときの一例を示す図である。
クタにＰＤＬを記録したときの一例を示す図である。
【図５】第２実施例の光学情報記録再生装置における光
磁気ディスク１のフォーマット処理を示すフローチャー
トである。
磁気ディスク１のフォーマット処理を示すフローチャー
トである。
【図６】ＤＭＡ領域内の欠陥セクタを飛ばしてＰＤＬを
記録したときの一例を示す図である。
記録したときの一例を示す図である。
【図７】第３実施例の光学情報記録再生装置における光
磁気ディスク１の装着時の処理を示すフローチャートで
ある。
磁気ディスク１の装着時の処理を示すフローチャートで
ある。
【図８】ＤＭＡ領域内の既にＰＤＬの記録されているセ
クタに欠陥があるときの一例を示す図である。
クタに欠陥があるときの一例を示す図である。
【図９】図８のＰＤＬ，ＳＤＬを欠陥のない連続するセ
クタに移動して記録したときの一例を示す図である。
クタに移動して記録したときの一例を示す図である。
【図１０】第４実施例の光学情報記録再生装置における
光磁気ディスク１の装着時の処理を示すフローチャート
である。
光磁気ディスク１の装着時の処理を示すフローチャート
である。
【図１１】図８の欠陥セクタを飛ばしてＰＤＬを記録し
たときの一例を示す図である。
たときの一例を示す図である。
【図１２】９０ミリ国際標準化機構（ＩＳＯ）の標準メ
ディアで定義されているディスク記録媒体の各記録領域
のゾーン位置を示す図である。
ディアで定義されているディスク記録媒体の各記録領域
のゾーン位置を示す図である。
【図１３】各ＤＭＡ領域１〜４内にＤＤＳ，ＰＤＬ，及
びＳＤＬを記録（定義）するセクタの位置の一例を示す
図である。
びＳＤＬを記録（定義）するセクタの位置の一例を示す
図である。
１：光磁気ディスク ２：回転モータ ３：光ピックアップ ４：磁気ヘッド ５：粗動モータ ６：ドライブ回路系 ７：磁気ヘッド駆動系 ８：回転制御系 ９：光ピックアップ制御系 １０：信号処理系 １１：粗動モータ制御系 １２：ドライブコントローラ １３：ドライブインタフェース １４：ホストコントローラ １５：誤り訂正部 １６：バッファメモリ １７：ホストインタフェース（ＳＣＳＩ） １８：（ＳＣＳＩ用）バス １９：ホストコンピュータ Ｌ：レーザ光
Claims (5)
- 【請求項１】 ディスク状の光学情報記録媒体に半導体
レーザを用いてデータを記録し、該データを読み出して
再生する光学情報記録再生装置において、 前記光学情報記録媒体のフォーマット時に、該光学情報
記録媒体上に設けられた欠陥管理領域であるＤＭＡ領域
内を欠陥検査し、該ＤＭＡ領域内に欠陥セクタが検出さ
れたときには該欠陥セクタを避けて欠陥リストの記録位
置を設定する手段を設けたことを特徴とする光学情報記
録再生装置。 - 【請求項２】 請求項１記載の光学情報記録再生装置に
おいて、前記光学情報記録媒体のフォーマット時にその
全面の欠陥検査によって複数の欠陥セクタが検出された
とき、その各欠陥セクタ情報を前記設定された欠陥リス
トの記録位置に連続して記録する手段を設けたことを特
徴とする光学情報記録再生装置。 - 【請求項３】 請求項１記載の光学情報記録再生装置に
おいて、前記光学情報記録媒体のフォーマット時にその
全面の欠陥検査によって欠陥セクタが検出されたとき、
その欠陥セクタ情報を前記欠陥セクタを飛ばして前記設
定された欠陥リストの記録位置に記録する手段と、その
飛ばした欠陥セクタ情報を前記ＤＭＡ領域内に設けられ
たディスク定義構造であるＤＤＳ内に記録する手段とを
設けたことを特徴とする光学情報記録再生装置。 - 【請求項４】 ディスク状の光学情報記録媒体に半導体
レーザを用いてデータを記録し、該データを読み出して
再生する光学情報記録再生装置において、 前記光学情報記録媒体の装着時、該光学情報記録媒体上
に設けられた欠陥管理領域であるＤＭＡ領域内を欠陥検
査し、該ＤＭＡ領域内ですでに欠陥セクタ情報が記録さ
れている欠陥リスト記録セクタ内で欠陥セクタが検出さ
れたときには、該欠陥セクタを含む連続するセクタに記
録されている欠陥セクタ情報を前記ＤＭＡ領域内の欠陥
のない連続したセクタに移動させて記録する欠陥リスト
移動手段を設けたことを特徴とする光学情報記録再生装
置。 - 【請求項５】 ディスク状の光学情報記録媒体に半導体
レーザを用いてデータを記録し、該データを読み出して
再生する光学情報記録再生装置において、 前記光学情報記録媒体の装着時、該光学情報記録媒体上
に設けられた欠陥管理領域であるＤＭＡ領域内を欠陥検
査し、該ＤＭＡ領域内ですでに欠陥セクタ情報が記録さ
れている欠陥リスト記録セクタ内で欠陥セクタが検出さ
れたときには、該欠陥セクタから連続するセクタに記録
されている欠陥セクタ情報を前記欠陥セクタを飛ばして
連続するセクタに移動させて記録する手段と、その飛ば
した欠陥セクタ情報を前記ＤＭＡ領域内に設けられたデ
ィスク定義構造であるＤＤＳ内に記録する手段とを設け
たことを特徴とする光学情報記録再生装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP26354593A JPH07121993A (ja) | 1993-10-21 | 1993-10-21 | 光学情報記録再生装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP26354593A JPH07121993A (ja) | 1993-10-21 | 1993-10-21 | 光学情報記録再生装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07121993A true JPH07121993A (ja) | 1995-05-12 |
Family
ID=17391033
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP26354593A Pending JPH07121993A (ja) | 1993-10-21 | 1993-10-21 | 光学情報記録再生装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH07121993A (ja) |
Cited By (14)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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-
1993
- 1993-10-21 JP JP26354593A patent/JPH07121993A/ja active Pending
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