JPH02148971A - 画像信号補正方法および装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野コ 本発明は画像信号補正方法および装置に関し、−層詳細
には、複数の光電変換部を有するイメージセンサを用い
て画像情報の読み取りを行う際、前記イメージセンサを
構成する各光電変換部から出力される画像信号について
、効率的に作成された補正テーブルに基づいて補正する
ことにより光電変換特性の中、リニアリティの差異に起
因する歪を除去してむらのない高品質な画像を得ること
が出来ると共に前記補正テーブルのメモリ容量を大幅に
低減し得る画像信号補正方法および装置に関する。

［発明の背景コ 例えば、印刷、製版の分野において作業工程の合理化、
画像品質の向上等を目的として原稿に担持された画像情
報を電気的に処理しフィルム原版を作成する画像走査再
生システムが広範に用いられている。

この画像走査再生システムは画像読取装置と画像再生装
置とから基本的に構成されている。

すなわち、画像読取装置では画像読取部において副走査
搬送される原稿の画像情報がイメージセンサによって前
記副走査方向と略直交する方向へ主走査され電気信号に
変換される。次に、前記画像読取装置で光電変換された
画像情報は画像再生装置において製版条件に応じた階削
補正、エツジ強調等の演算処理が施された後、レーザ光
等の光信号に変換されフィルム等の感光材料からなる画
像記録担体上に再生される。な右、この画像記録担体は
所定の現像装置によって現像処理されフィルム原版とし
て印刷等に供されることになる。

ところで、前記画像読取装置において原稿を主走査して
その画像情報を読み取る場合、例えば、数千の光電変換
部を主走査方向に沿って一列に配列したイメージセンサ
が用いられている。

この場合、イメージセンサを構成する光電変換部のゲイ
ンおよびオフセット量は、一般に、光電変換部毎に相違
している。従って、これらを調整しない状態で使用した
場合、光電変換部に対応した画像上にすし状の明暗むら
が生じることになる。そこで、通常、イメージセンサに
光を入射させない状態でイメージセンサの暗時出力レベ
ルを測定し、さらに白色原稿等の基準濃度板をイメージ
センサによって読み取り、光電変換部毎にオフセット量
、ゲインの調整を行っている。

ところが、イメージセンサは光電変換特性のリニアリテ
ィが光電変換部毎に異なっているため、画像情報の濃度
レベルが異なると各光電変換部から出力される画像信号
間に差異が生じてしまう。従って、この差異に起因して
前記した再生画像上にすし状の明暗むらが惹起するとい
う不都合が回避されるには至っていない。なお、前記す
じ状の明暗むらは画像を拡大しエツジ強調した場合、特
に顕著に観測される。

そこで、このような光電変換部毎のりニアリティの差に
起因する画像信号の差異を補正するために、先ず、イメ
ージセンサから出力される画像信号について暗時出力レ
ベルの差異に起因するオフセラ）Ｉを補正し、次いで白
色原稿に対応する出力レベルの際を一定にするようゲイ
ン補正を行った後にＡ／Ｄ変換器を用いて量子化し所定
ビットのデジタルデータである画像データに符号化する
。次に、予め光電変換部毎に作成されたりニアリティの
補正テーブルにより前記画像データを補正して再生画像
上に発生するすし状の明暗むらを除去することが考えら
れる。

然しながら２、この場合、補正テーブルのメモリ容量は
（光電変換部数）×（量子化レベル数）×（補正データ
のビット数）となり、例えば、光電変換部数が４０００
個、量子化レベル数（階調）が２５６レベル、補正デー
タのビット数が８ビツトの場合について考察すると、略
８Ｍビット（１Ｍバイト）のメモリ容量となってしまい
、製造コストが著しく上昇するという不都合が顕れる。

特に、前記画像読取装置で画像情報を高解像度で読み取
る目的のために複数のイメージセンサを光学的に接続し
て使用する場合にはりニアリティ補正テーブルのメモリ
容量が膨大なものとなり、製造コストの上昇がさらに大
きくなる。

［発明の目的コ 本発明は前記の不都合を克服するためになされたもので
あって、イメージセンサを構成する光電変換部のリニア
リティの差が比較的小さいことに着目して補正テーブル
を効率的に作成することにより、補正テーブルのメモリ
容量を大幅に低減することを可能とし、この補正テーブ
ルを用いて光電変換部毎のりニアリティの相違を除去し
、むらのない高品質な画像を得ることを可能とする画像
信号補正方法および装置を提供することを目的とする。

［目的を達成するための手段］ 前記の目的を達成するために、本発明はイメージセンサ
を構成する複数の光電変換部から得られる画像信号をＡ
／Ｄ変換してｎビットの画像データに変換した後、補正
テーブルに格納してある補正データにより補正して前記
複数の光電変換部の光電変換特性の相違による歪を除去
するための画像信号補正方法であって、前記補正テーブ
ルに格納すべき補正データは所定光量に対する目標とな
る光電変換値から所定光量に対する個々の光電変換部の
光電変換値を差し弓いた値に対応する補正データとし、
前記Ａ／Ｄ変換されたｎビットの画像データの中、上位
ｍビットの画像データを前記補正テーブルに入力するこ
とにより前記補正データを出力させ、当該補正データと
前記ｎビットの画像データとを加算することで補正後の
ｎビットの画像データを得るようにすることを特徴とす
る。

また、本発明はイメージセンサを構成する複数の光電変
換部から得られる画像信号をＡ／Ｄ変換してｎビットの
画像データに変換した後、補正テーブルに格納してある
補正データにより補正して前記複数の光電変換部の光電
変換特性の相違による歪を除去するための画像信号補正
装置であって、補正テーブルと加算器とを備え、前記補
正テーブルは所定光量に対する目標となる光電変換値か
ら所定光量に対する個々の光電変換部の光電変換値を差
し引いた値に対応する補正データを格納すると共に、前
記Ａ／Ｄ変換されたｎビット画像データの中、当該補正
テーブルに入力される上位ｍビットの画像データに応じ
て前記補正データを出力して加算器の一方の入力端子に
導入するものであり、前記加算器は前記補正データと前
記ｎビット画像データを加算して補正後のｎビットの画
像データを出力するよう構成することを特徴とする。

［実施態様］ 次に、本発明に係る画像信号補正方法および装置につい
て好適な実施態様を挙げ、添付の図面を参照しながら以
下詳細に説明する。

第１図において、参照符号１０は本実施態様に係る画像
信号補正方法および装置が適用される画像走査再生シス
テムを示す。このシステム１０では原稿Ｓに担持された
画像情報が光源１２からの照明光によって照明され、そ
の反射光り、が第１のミラー１６および集光レンズ１８
を介して光学的に直列接続されたラインセンサである３
個のＣＣＤイメージセンサ２０ａ乃至２０ｃにより光電
的に読み取られる。

この場合、ＣＣＤイメージセンサ２０ａ乃至２０Ｃは数
十個の光電変換部ＮＡ、（ａ＝１乃至ｎ）　、Ｎ　Ｂａ
　　（ａ　＝　１乃至ｎ）、およびＮＣ。

（ａ＝１乃至ｎ）で構成されており、ＣＣＤイメージセ
ンサ２０ｂの両端部側に存在する光電変換部ＮＢ、とＣ
ＣＤイメージセンサ２０ａ、２０Ｃの端部側に存在する
光電変換部ＮＡ、、ＮＣ。

とは第２のミラー２２を介して光学的に接続される。な
お、前記原稿Ｓは図示しない搬送機構により矢印入方向
に副走査搬送されると共に、ＣＣＤイメージセンサ２０
ａ乃至２０ｃによって矢印Ｂ方向に主走査されることで
その全面の画像情報が読み取られる。

ＣＣＤイメージセンサ２０ａ乃至２０Ｃによって光電変
換された画像情報は暗時出力レベルに対応するオフセッ
ト量の補正がなされた後、画像信号Ｇａ、ｃｂおよびＧ
ｃとして本実施態様の画像信号補正装置を構成する信号
補正部２４に導入された後、補正され画像信号Ｇ。とじ
て信号処理部２６に導入される。信号処理部２６は前記
画像信号Ｇ。に対し階調補正、エツジ強調等の画像処理
を施して網点画像信号発生部２８に導入する。網点画像
信号発生部２８では所定の網点信号に基づいて前記画像
信号Ｇ。を２鎖目号に変換し、当該２値信号をレーザ走
査部３０に導入する。

そして、レーザ走査部３０において、前記２鎖目号に基
づきレーザ光Ｌｐがオン／オフ制御されると共に当該オ
ン／オフ制御されたレーザ光ＬＰを光偏向器（図示せず
）によって偏向することでフィルムＦ上に網点画像が形
成される。

この場合、フィルムＦは矢印Ｃ方向に副走査製送される
と共に、レーザ光ＬＰ　によって当該副走査方向と略直
交する方向に主走査されることで画像情報が二次元的に
再生される。

ここで、信号補正部２４は第２図に示すように構成され
る。すなわち、ＣＣＤイメージセンサ２０ａ乃至２０Ｃ
から出力される画像信号Ｇａ乃至Ｇｃはマルチプレクサ
３２によって順次選択されシェーディング補正回路３４
に導入される。シェーディング補正回路３４は所定の基
準濃度レベルに対し前記画像信号Ｇ、乃至Ｇｃのゲイン
調整を行うものであり、各ＣＣＤイメージセンサ２０ａ
乃至２０Ｃを構成する光電変換部ＮＡ、。

ＮＢ、およびＮＣ，に対するゲイン調整用データを有す
る。シェーディング補正回路３４によってゲイン調整さ
れた画像信号Ｇ１乃至Ｇ。はＡ／Ｄ変換器３６によって
、例えば、量子化レベル数２５６、換言すれば、８ビツ
トのデジタル画像データＱ２乃至Ｑｃに変換された後、
本実施態様の画像信号補正装置の要部を構成する信号補
正回路３８に導入される。

ここで、信号補正回路３８は第３図に示すように構成さ
れている。すなわち、Ａ／Ｄ変換器３６から出力される
８ビツトの画像データＱａ乃至Ｑｃの中、上位５ビツト
の画像データは本発明の要部に係る補正テーブル４０に
導入される。この補正テーブル４０は画素カウンタ４２
からのカウントデータに基づいて前記上位５ビツトの画
像データに対応する４ビツトの補正データＲ６乃至Ｒｃ
を８ビツトの加算器４４の一方の入力端子ＡＯ乃至Ａ７
に出力する。この場合、入力端子ＡＯ乃至Ａ７に導入さ
れる補正データＲ＆乃至Ｒｃは、正あるいは負のデータ
を導入することを可能とするために２の補数表現に係る
データとされている。ここで、補正テーブル４０から出
力される補正データＲ１乃至Ｒｃのビット数は符号ビッ
トを含めて４ビツトとなっており、−方、加算器４４に
入力される当該補正データＲ。

乃至Ｒｅに対応する補正データのビット数は前記符号ビ
ットをその上位４ビツトのデータ入力端子Ａ４乃至Ａ７
に共通接続して導入するよう構成しているので８ビツト
になっている。

なお、前記４ビツトの補正データＲ，乃至ＲｃはＣＰ　
Ｕ３Ｏから補正テーブル４０に設定される。

この補正データＲ，乃至Ｒ６は、後述するように、ＣＣ
Ｄイメージセンサ２０ａ乃至２０Ｇを構成する光電変換
部ＮＡ、　、　ＮＢ、およびＮＣ，の光電変換特性が一
致するように設定されている。

前記加算器４４の他方の入力端子ＢＯ乃至Ｂ７には補正
前の８ビツト画像データＱ、乃至Ｑ。

が入力されており、この補正前の画像データＱ６乃至Ｑ
０に前記補正データＲ１乃至Ｒｃが加算された後、補正
された８ビツトの画像データＷａ乃至Ｗ。として出力端
子ＥＯ乃至Σ７から信号処理部２６へ供給される。

なお、信号補正回路３８において、ＣＰ　Ｕ３Ｏは８ビ
ツトの画像データＱ、乃至Ｑｃをパスライン５４を介し
て読み込み、この画像データＱ、乃至Ｑｃに基づき４ビ
ツトの補正データＲ８乃至Ｒ０を生成し、この補正デー
タＲ，乃至Ｒ６をパスライン５４を介して補正テーブル
４０に設定する。

本発明に係る画像信号補正方法および装置を実施するた
めのシステムは基本的には以上のように構成されるもの
であり、次にこのシステムを用いた補正方法について説
明する。

先ず、ＣＣＤイメージセンサ２０ａ乃至２０Ｃを遮光状
態とし、暗電流に基づくオフセット電圧を測定する。そ
して、このオフセット電圧に基づきＣＣＤイメージセン
サ２０ａ乃至２０ｃの光電変換部ＮＡ、（ａ＝１乃至ｎ
）、ＮＢａ　（ａ＝１乃至ｎ）およびＮＣａ　（ａ＝１
乃至ｎ）のオフセット調整を行う。

次に、白色基準板の濃度をＣＣＤイメージセンサ２０ａ
乃至２０ｃによって読み取る。すなわち、前記白色基準
板からの光量Ｉ。の反射光り、は第１ミラー１６、集光
レンズ１８および第２ミラー２２を介してＣＣＤイメー
ジセンサ２０ａ乃至２０ｃに入射して光電変換され、次
いで、マルチプレクサ３２およびシェーディング補正回
路３４を介してＡ／Ｄ変換器３６に供給され光電変換部
ＮＡいＮＢ、およびＮＣ，に対応する８ビツトのデジタ
ルデータに変換される。この場合、ＣＣＤイメージセン
サ２０ａ乃至２０ｃを構成する光電変換部ＮＡ、　、Ｎ
Ｂ、およびＮＣ，はゲイン調整を行っていないため、こ
のデジタルデータは光量Ｉ。に対して、例えば、ｉ　　
（１≦１≦ｎ）番目の光電変換部ＮＡ、とｊ　（１≦Ｊ
≦ｎ）番目の光電変換部ＮＡ、で夫々異なるＡ／Ｄ値Ｑ
Ａｉ（ｔｏ）、並びにＱΔ＊（ｌｏ）となっている（第
４図参照）。

そこで、Ａ／Ｄ値ＱＡｉ（ｔｏ）　、ＱＡｊ（Ｉｏ）が
Ａ／Ｄ値のフルスケール値である値２５５において一致
するように、シェーディング補正回路３４に対してイメ
ージセンサ２０ａを構成する光電変換部ＮＡ１、ＮＡ」
に対応するゲイン調整データを設定する。第５図は前記
のように設定したゲイン調整データを用いてシェーディ
ング補正回路３４でゲイン調整した場合の光量ＩとＡ／
Ｄ値との関係を示す。

次に、ＣＣＤイメージセンサ２０ａ乃至２０Ｃを構成す
る残りの光電変換部ＮＡ、　、ＮＢ、およびＮＣ居こ対
しても同様に、Ａ／Ｄ値ＱＡ、（１０）、ＱＢ、（ｌｏ
）およびＱＣ，（１Ｇ）がフルスケール値２５５に一致
するようにゲイン調整を行っておく（第６図参照）。

ここで、第５図および第６図から諒解されるように、Ｃ
ＣＤイメージセンサ２０ａ乃至２０Ｃを構成する各光電
変換部ＮＡ、、ＮＢ、およびＮＣ，の暗電流に対するオ
フセット電圧および白色基準板からの光＠ｔ、に対する
ゲインを調整した場合、光量Ｉｋ（１，≠０、Ｉｋ≠１
．）に対してリニアリティの相違により光電変換特性の
差が生じていることが諒解されよう。そして、この差を
補正しない場合、光電変換して得られる画像間に濃度む
らが生じる虞がある。

本実施態様ではこの差を補正テーブル４０を用いて除去
している。

先ず、反射光り、の光量がＩｋ　（ｋ＝１．２．３、・
・・）である基準濃度板を各光電変換部ＮＡ、　ＳＮＢ
、およびＮＣ，毎に読み取りＡ／Ｄ値ＱＡａ（Ｉ）＝）
、ＱＢ、（Ｉｋ）およびＱＣ，（Ｉｋ）を求める。この
場合、Ａ／Ｄ値ＱＡ、（Ｉｋ）、ＱＢ、（Ｉｋ）および
ＱＣ，（Ｉｋ）は光電変換部ＮＡ、　、ＮＢｔおよびＮ
　Ｃｒに対してＮＡ、　　：ＱＡ＋（Ｉｌ）、ＱＡ、（
Ｉ□）、・・・ＮＢ、　　；ＱＢ、（Ｉｌ）、ＱＢＩ（
Ｉ２）、・・Ｎ　Ｃｌ；　Ｑ　Ａ＋（１＋）、Ｑ　Ａ　
ｌ　（Ｉ　２）、・・・が得られ、光電変換部ＮＡ、乃
至ＮＡ、およびＮＢ２乃至ＮＢ、、並びにＮＣ２乃至Ｎ
Ｃ，に対して が得られる。

次に、夫々の光量Ｌ（ｋ＝１．２．３、・・・）におい
て光電変換値であるＡ／Ｄ値ＱＡ−（Ｌ）、ＱＢ、（１
，）およびＱＣ，（Ｉｋ）を一致すべ（目標となる光電
変換値である目標Ａ／Ｄ値Ｗ（Ｉ５）を求める。この目
標Ａ／Ｄ値Ｗ（Ｉ、）はは、例えば、以下の式に示すよ
うに、所定の光量Ｉｋ　　（ｋ＝１．２．３、・・・）
毎に前記Ａ／Ｄ値Ｑ、（Ｉｋ）を相加平均した値とすれ
ばよい（第６図参照）。

Ｗ（１，）＝　（ＱＡ、（１，）＋ＱＡ２（１，）＋・
・・＋ＱＡ、（１，）＋ＱＢｌ（１１）＋ＱＢ２（１１
）＋・・・＋ＱＢ、（＋、）＋ＱＣ１（ＩＩ）＋ＱＣ２
（ＩＩ）＋・・・＋ＱＣ，（１１））÷３ｎ Ｗ（１２）＝　（ＱＡ、（Ｉ２）十ＱＡ２（１２）十・
・・十〇Ａ、、（１２）＋ＱＢ＋（１２）＋ＱＢ２（１
２）＋・・・＋〇Ｂｌ、（＋２＞＋ＱＣ１（１２）　＋
ＱＣ２（１２）＋−＋ＱＣ，（１２））÷３ｎ 次いで、この目標Ａ／Ｄ値Ｗ（Ｌ）と前記ＡＺＤ値ＱＡ
、（Ｌ）　、ＱＢ、（Ｉｋ）およびｑｃ、（１ｍ）との
差ΔＡ、（Ｉｖ）　、ΔＢ、（１，）およびΔｃ、（Ｉ
ｔ、）を光量Ｉｋ　（ｋ＝１．２．３、・・・）毎に且
つ光電変換部ＮＡ、　、ＮＡ２・ＨＡ、、およびＮＢ、
。

Ｎ　Ｂ　２・・・ＮＢ、、並びにＮ　Ｃ＋　、Ｎ　Ｃ２
・・・ＮＣｈ毎に求める。すなわち、光量■１について
３×ｎ個の差データ ΔＡ＋（１，）”Ｗ（ＩＩ）　　ＱＡＩ（ＩＩ）ΔＡ２
１＝Ｗ（ＩＩ＞−ＱＡ２（Ｉｔ）ΔＡ、（１１）＝Ｗ（
ＩＩ）−ＱＡｎ（ＩＩ）ΔＢ、（１，）＝Ｗ（ＩＩ）−
ＱＢＩ（ＩＩ）ΔＢ２（［１）＝Ｗ（１，）−ＱＢ２（
ＩＩ）ΔＢ、、（ＩＩ）＝Ｖｖ’（１１）−ＱＢ、（Ｉ
Ｉ＞ΔＣ１（ＩＩ）＝Ｗ（＋１）−ＱＣ，（１，）Δ　
Ｃ２（１１）＝Ｗ（Ｉｔ）　　　　ＱＣ２（ＩＩ）ΔＣ
，，（１，）＝Ｗ（１，）−ＱＣｎ（＋、）が得られ、
以下、光量Ｉ２以降について３Ｘｎ個ずつの差データ ΔＡ、（１２＞＝Ｗ（１２）−ＱＡ、（＋２）ΔＡ２（
＋２）　＝Ｗ（＋２）　−ＱＡ２（＋２）ΔＡ、（＋２
）　＝Ｗ（＋２）　−ＱＡ、（１２）ΔＢ＋（１２）　
＝Ｗ（＋２）　　ＱＢＩ（＋２）ΔＢ、（Ｌ）＝Ｗ（＋
２）−ＱＢ２（＋２）ΔＢ、（＋２）＝Ｗ（１２）−Ｑ
Ｂ、、（１２）ΔＣ，（１２）＝Ｗ（１２）−ＱＣ，（
１２）ΔＣ，（１，）＝Ｗ（１２）−ＱＣ２（１，）Δ
Ｇ、（１２）＝Ｗ（＋２）−ＱＣ，（１２）が得られる
。

次に、このようにして求めた目ａＡ／Ｄ値ｗ（ｉ、り　
と前記Ａ／Ｄ値ＱＡ、（Ｉｋ）　、ＱＢ、（Ｉｋ）およ
びＱＣ，（１，）との差ΔＡ、（１，）　、ΔＢ、（１
，）およびΔＣ，（１，）の中、差の最大値Δ（Ｉｋ）
、。

を求める（第６図参照）。この最大値Δ（＋ｉ、）、、
。

は、通常、ＡＺＤ値のフルスケール値２５５に比較して
極めて小さな値であり、且つ光量変化に対して緩やかに
変化している。

そこで、発明者はこの目標Ａ／Ｄ値Ｗ（ｌｋ＞と前記Ａ
／Ｄ値ＱＡ、（Ｉｋ）　、ＱＢ、（Ｉｋ）およびｑｃ、
（１，、）との差ΔＡ、（Ｉｋ）、ΔＢ、（ｌｂ）およ
びΔｃ、（Ｉｍ＞を補正テーブル４０に設定する補正デ
ータＲ２乃至Ｒ６とすることによって当該補正テーブル
４０のメモリ容量を低減することに想到した。

すなわち、第３図の回路図に示すように、補正データＲ
１乃至Ｒｃを補正テーブル４０から出力させるために当
該補正テーブルに入力すべき必要な画像データは画像デ
ータＱ−ＳＱｂおよびＱｃの中の所定の上位ビットに係
るデータとし、補正データＲ，乃至Ｒｅは符号ビットを
含めて前記最大値Δ、（Ｉｋ）　、、、を発生し得るビ
ット数を有するデータとして、前記画像データＱ、　、
　Ｑ、およびＱｃ　と補正データＲ，、Ｒ。

およびＲ６を加算するように構成すれば補正テーブル４
０のメモリ容量を低減出来る。

例えば、前記最大値Δ（Ｉ、）Ｍ、、の値が±（２３−
１）であるならば補正データＲ−、ＲｈおよびＲｃのビ
ット数は２の補数表現により符号ビットを含めて夫々４
ビツトとなる。また、補正テーブル４０に入力する画像
データのビット数は、例えば、上位５ビツトのデータと
する（第３図参照）。

従って、補正テーブル４０のメモリ容量は画像データＱ
、　、　Ｑ、およびＱ。の中、下位３ビット分のデータ
を導入しないことにより、従来技術に係るメモリ容量の
１７２３に減少し、一方、補正データＲａ、　Ｒｈおよ
びＲｅとしては上位４ビット分のメモリを使用しないこ
とになるので、さらに４／８減少することになる。例え
ば、ＣＣＤイメージセンサ２０ａ乃至２０ｃを構成する
夫々の光電変換部の数が４０００個である場合に必要な
メモリ容量は ４０００　ｘ　（２５６ｘ　（１／　２°））Ｘ４＝５
１２にビットとなり、前記した従来技術に係るメモリ容
量（１Ｍバイト）に比較して１７１６程度でよいことに
なる。

一般的に説明すれば、必要なメモリ容量がＸビットから
なる画像データの中、補正テーブル４０に入力しない下
位ビット数をｙとし、補正テーブル４０から出力するＸ
ビットの補正データの中、使用しない上位ビット数を２
とした場合、メモリ容量は１／２ソＸ（ｘ−ｚ）／ｘに
なる。

このようにして加算器４４により画像データＱ、乃至Ｑ
。に対して補正データＲ６乃至Ｒ６を加算することによ
り目標Ａ／Ｄ値Ｗ（１，）に−致した像データＷａ乃至
Ｗ。を得ることが出来る。なお、光重がＩ、（ｋ＝１．
２．３、・・・）となる基準格子板の数は、通常、量子
化レベル数（本実施態様では２５６）より少ないので、
先遣Ｉ。

間に対応する補正データＲ，ＳＲ，およびＲ６は補間に
より求めてもよいことは勿論である。

このようにして前記補正後の画像データＷいＷ、および
ＷｃのＡ／Ｄ値は前記目標Ａ／Ｄ値ｗ（ｘｈ）と等しい
値となり、ＣＣＤイメージセンサ２０ａ乃至２０Ｃを構
成する光電変換部ＮＡ、乃至ＮＡｒ、、ＮＢ＋乃至ＮＢ
、およびＮ　Ｃｒ乃至ＮＣＩ、の夫々についてオフセッ
ト値、ゲイン、リニアリティに係る光電変換特性を全て
一致させるこ止が出来、画像上の明暗むらを除去するこ
とが出来る。

なお、第６図において目標となる光電変換値であるＡ／
Ｄ値Ｗ（Ｉｔ＝）は前記Ａ／Ｄ値ＱＡ、（ｌｂ）、ＱＢ
、（Ｉｋ）、ＱＣ，（１，）の中央値あるいは相乗平均
した値またはＡ／Ｄ値ＱＡ、（Ｌ）、ＱＢ、（Ｉｋ）お
よびＱｓｃ（Ｉｂ）の中のいずれかのＡ／Ｄ値Ｑ、（Ｉ
ｋ）とする等、種々の値が考えられよう。

そこで、前記のようにして設定した補正テーブル４０に
基づき画像信号Ｇ、乃至Ｇ。の補正を行う。すなわち、
原稿Ｓに担持された画像情報はＣＣＤイメージセンサ２
０ａ乃至２０ｃによって画像信号Ｇ、乃至Ｇｃに変換さ
れた後、図示しない補正手段により暗電流に基づくオフ
セット量電圧の補正が行われる。次いで、マルチプレク
サ３２によって画像信号Ｇ６乃至Ｇｃが順次選択されシ
ェーディング補正回路３４に導入される。

シェーディング補正回路３４は前記画像信号Ｇ６乃至Ｇ
ｃ　に対しゲイン調整データを用いてゲイン調整を行い
Ａ／Ｄ変換器３６に出力する。この場合、Ａ／Ｄ変換器
３６は前記画像信号Ｇ、乃至Ｇ、を、第５図に例示する
ように、オフセット量およびゲインの調整された画像デ
ータＱ、乃至Ｑｃに変換して加算器４４の入力端子ＢＯ
乃至Ｂ７に供給すると共に、補正テーブル４０に当該画
像データＱ、乃至Ｑ。の中、上位５ビツトのデータを供
給する。一方、補正テーブル４０は画素カウンタ４２か
らのカウントデータに基づき４ビツトの補正データＲ，
乃至Ｒｃを出力して加算器４４の入力端子ＡＯ乃至Ａ７
に供給する。従って、加算器４４の出力画像データＷ１
乃至ＷｃはＣＣＤイメージセンサ２０ａ乃至２０ｃ毎に
光量■工に対して同一のＡ／Ｄ値Ｗ（Ｉｋ）を有するデ
ータとなる（第７図参照）。この画像データＷａ乃至Ｗ
ｃは画像信号Ｇ。とじて信号処理部２６に供給される。

信号処理部２６は前記画像信号Ｇ。に対し階調補正、エ
ツジ強調等の画像処理を施し網点画像信号発生部２８に
出力する。網点画像信号発生部２８では導入された画像
信号Ｇｏに応じてパルス幅変調した２鎖目号を生成しレ
ーザ走査部３０に導入する。そして、レーザ走査部３０
は前記２鎖目号に応じてレーザ光Ｌｐを制御しフィルム
Ｆ上に所望の画像を記録する。この場合、各ＣＣＤイメ
ージセンサ２０ａ乃至２０Ｃからの画像信号Ｇ１乃至Ｇ
ｃは補正テーブル４０によって夫々の光電変換部ＮＡ、
乃至ＮＣ，毎の任意の光量工に対するリニアリティが一
致するように補正されているため、むらのない極めて高
品質な画像を得ることが出来る。

［発明の効果］ 以上のように、本発明によれば、イメージセンサを用い
て画像情報の読み取りを行う際、前記イメージセンサを
構成する光電変換部のりニアリティの差が比較的小さい
ことに着目して補正テーブルを作成し、前記補正テーブ
ルに基づき光電変換された画像信号の補正を行っている
。

従って、補正テーブルのメモリ容量を大幅に低減するこ
とが出来る効果を有すると共に、光電変換部毎のりニア
リティの相違を除去してむらのない高品質な画像が得ら
れるという利点を有する。

以上、本発明について好適な実施態様を挙げて説明した
が、本発明はこの実施態様に限定されるものではなく、
例えば、所定のイメージセンサを構成する光電変換部間
のりニアリティの相違が無視出来る程に小さい場合には
イメージセンサ間の接続部近傍についてのみ補正テーブ
ルにより画像信号の補正を行うようにすることも可能で
ある等、本発明の要旨を逸脱しない範囲において種々の
改良並びに設計の変更が可能なことは勿論である。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明に係る画像信号補正方法および装置が適
用される画像走査再生システムの概略構成図、 第２図は第１図に示す画像走査再生システムにおける信
号補正部の構成ブロック図、第３図は第２図に示す信号
補正部における信号補正回路の回路図、 第４図はＣＣＤイメージセンサにおけるシェーディング
補正前の光ｍとＡ／Ｄ値との関係図、第５図はＣＣＤイ
メージセンサにおけるシェーディング補正後の光量とＡ
／Ｄ値との関係図、第６図はシェーディング補正後の出
力信号のＡ／Ｄ値とリニアリティ補正データに係る目標
Ａ／Ｄ値との関係説明図、 第７図はＣＣＤイメージセンサにおける光１とリニアリ
ティの相違を除去した補正後の値との関係図である。 １０・・・画像走査再生システム ２０ａ〜２０Ｃ・・・ＣＣＤイメージセンサ２６・・・
信号処理部 ２８・・・網点画像信号発生部　３０・・・レーザ走査
部３６・・・Ａ／Ｄ変換器　　　　３８・・・信号補正
回路４０・・・補正テーブル　　　　４４・・・加算器
Ｆ・・・フィルム ＮＡ、〜ＮＣ，・・・光電変換部 Ｓ・・・原稿 光量（Ｉ） 光量ｍ 光量＋１） 手 続 補 正 書 （自発）

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. （１）イメージセンサを構成する複数の光電変換部から
   得られる画像信号をＡ／Ｄ変換してｎビットの画像デー
   タに変換した後、補正テーブルに格納してある補正デー
   タにより補正して前記複数の光電変換部の光電変換特性
   の相違による歪を除去するための画像信号補正方法であ
   って、前記補正テーブルに格納すべき補正データは所定
   光量に対する目標となる光電変換値から所定光量に対す
   る個々の光電変換部の光電変換値を差し引いた値に対応
   する補正データとし、前記Ａ／Ｄ変換されたｎビットの
   画像データの中、上位ｍビットの画像データを前記補正
   テーブルに入力することにより前記補正データを出力さ
   せ、当該補正データと前記ｎビットの画像データとを加
   算することで補正後のｎビットの画像データを得るよう
   にすることを特徴とする画像信号補正方法。
2. （２）イメージセンサを構成する複数の光電変換部から
   得られる画像信号をＡ／Ｄ変換してｎビットの画像デー
   タに変換した後、補正テーブルに格納してある補正デー
   タにより補正して前記複数の光電変換部の光電変換特性
   の相違による歪を除去するための画像信号補正装置であ
   って、補正テーブルと加算器とを備え、前記補正テーブ
   ルは所定光量に対する目標となる光電変換値から所定光
   量に対する個々の光電変換部の光電変換値を差し引いた
   値に対応する補正データを格納すると共に、前記Ａ／Ｄ
   変換されたｎビット画像データの中、当該補正テーブル
   に入力される上位ｍビットの画像データに応じて前記補
   正データを出力して加算器の一方の入力端子に導入する
   ものであり、前記加算器は前記補正データと前記ｎビッ
   ト画像データを加算して補正後のｎビットの画像データ
   を出力するよう構成することを特徴とする画像信号補正
   装置。