JPH02148429A - 光ディスク - Google Patents
光ディスクInfo
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- JPH02148429A JPH02148429A JP63300724A JP30072488A JPH02148429A JP H02148429 A JPH02148429 A JP H02148429A JP 63300724 A JP63300724 A JP 63300724A JP 30072488 A JP30072488 A JP 30072488A JP H02148429 A JPH02148429 A JP H02148429A
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Landscapes
- Optical Record Carriers And Manufacture Thereof (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は、CD−ROM等に用いられる光ディスクに関
するものである。
するものである。
[従来の技術]
近年、コンパクトディスクにコンピュータ用のデジタル
情報を記録した光ディスク、いわゆるCD−ROMが普
及してきており、文献情報の検索等に盛んに利用されて
きているが、このCD−ROMは基本的にはコンパクト
ディスクと同じ構造を有している。
情報を記録した光ディスク、いわゆるCD−ROMが普
及してきており、文献情報の検索等に盛んに利用されて
きているが、このCD−ROMは基本的にはコンパクト
ディスクと同じ構造を有している。
第2図は従来の光ディスクを半径方向に切断した断面図
である。第2図に示すように、ポリカポネート等の熱可
塑性樹脂からなる透明基板1の表面には符号化された記
録情報に対応する凹凸パターンが形成され、この凹凸パ
ターンの形成された透明基板1の表面には蒸着法等によ
りA!等の反射率の高い金属からなる反射膜2および保
護膜4が順次積層された構造となっている。
である。第2図に示すように、ポリカポネート等の熱可
塑性樹脂からなる透明基板1の表面には符号化された記
録情報に対応する凹凸パターンが形成され、この凹凸パ
ターンの形成された透明基板1の表面には蒸着法等によ
りA!等の反射率の高い金属からなる反射膜2および保
護膜4が順次積層された構造となっている。
ここで、前)ホした凹凸パターンを有する透明基板1の
形成は通常、割出成形法を用いて行われる。
形成は通常、割出成形法を用いて行われる。
この射出成形法は、例えば、真利藤雄、林謙二共著「C
Dプレーヤ入門」第25頁(コロナ社、 1983年)
に開示されているように、マスタリングプロセスを経て
形成されたマザースタンパに、軟化させた゛ポリカーボ
ネート樹脂を射出し、前記ポリカーボネート樹脂が硬化
した後、マザースタンパから剥離し、マザースタンパの
凹凸パターンを射出したポリカーボネート樹脂上に転写
して、凹凸パターンを有する基板を形成する方法である
。
Dプレーヤ入門」第25頁(コロナ社、 1983年)
に開示されているように、マスタリングプロセスを経て
形成されたマザースタンパに、軟化させた゛ポリカーボ
ネート樹脂を射出し、前記ポリカーボネート樹脂が硬化
した後、マザースタンパから剥離し、マザースタンパの
凹凸パターンを射出したポリカーボネート樹脂上に転写
して、凹凸パターンを有する基板を形成する方法である
。
[発明が解決しようとする課題]
しかしながら、上述した従来の光ディスクにおいては、
以下に述べるような問題点があつ゛た。即ち、基板表面
に形成する凹凸パターンは通常、幅0.4IJIn前後
、長さ0.9〜3.3如の極めて微細な凹凸パターンで
あり、このため凹凸パターンを射出成形法を用いてマザ
ースタンパからポリカーボネート樹脂製の透明基板1に
転写する際に、凹凸パターンの欠け、突起、パリ等が発
生することがあり、光ディスクの製造工程上大きな問題
となっていた。特にCD−ROMの場合には従来のコン
パクトディスクに較べて格段の信頼性が求められている
ことから、前述の問題点をいかに解決するかが、大きな
課題となっているのが現状である。
以下に述べるような問題点があつ゛た。即ち、基板表面
に形成する凹凸パターンは通常、幅0.4IJIn前後
、長さ0.9〜3.3如の極めて微細な凹凸パターンで
あり、このため凹凸パターンを射出成形法を用いてマザ
ースタンパからポリカーボネート樹脂製の透明基板1に
転写する際に、凹凸パターンの欠け、突起、パリ等が発
生することがあり、光ディスクの製造工程上大きな問題
となっていた。特にCD−ROMの場合には従来のコン
パクトディスクに較べて格段の信頼性が求められている
ことから、前述の問題点をいかに解決するかが、大きな
課題となっているのが現状である。
また、既に述べたように、従来の光ディスクでは、反射
II!2は凹凸パターンを有する透明基板1の上の全面
に形成される。ところで、本発明者らの検討によれば、
凹凸パターン上に成膜された反射膜2と透明基板1との
密着不良(反射膜2の透明基板1からの浮き上がり)の
殆どが、凹凸パターンの凹部と凸部の境界で発生するこ
とが明らかとなった。更に、従来構造のCD−ROMを
長時間放置した時の反射膜2の腐食発生箇所を評価した
結果、やはり凹凸パターンの凹部と凸部の境界を中心と
して、反射膜2の腐食が多く発生することが明らかとな
った。
II!2は凹凸パターンを有する透明基板1の上の全面
に形成される。ところで、本発明者らの検討によれば、
凹凸パターン上に成膜された反射膜2と透明基板1との
密着不良(反射膜2の透明基板1からの浮き上がり)の
殆どが、凹凸パターンの凹部と凸部の境界で発生するこ
とが明らかとなった。更に、従来構造のCD−ROMを
長時間放置した時の反射膜2の腐食発生箇所を評価した
結果、やはり凹凸パターンの凹部と凸部の境界を中心と
して、反射膜2の腐食が多く発生することが明らかとな
った。
このような、反射膜2の密着不良あるいは腐食は、当然
のことながら光ディスクの信頼性を著しく損なうもので
あり、前述の射出成形時の突起。
のことながら光ディスクの信頼性を著しく損なうもので
あり、前述の射出成形時の突起。
パリ等の問題と同様、大きな問題となっている。
この反射膜の密着不良・腐食の問題の改善も、より高い
信頼性を求められるCD−ROMにとっては、極めて重
要な問題と言える。このような反射膜の密着不良や腐食
の発生原因は、未だ不明な点も多いが、密着不良の一因
は凹部と凸部の境界での応力集中により反射膜が大きな
力を受けるためと考えられる。また、反射膜の腐食につ
いては、凹部と凸部の境界で反射膜の膜質が劣化するこ
と、密着不良の場合と同様に応力集中により、いわゆる
応力腐食が起こり、腐食が促進されることが原因と考え
られる。
信頼性を求められるCD−ROMにとっては、極めて重
要な問題と言える。このような反射膜の密着不良や腐食
の発生原因は、未だ不明な点も多いが、密着不良の一因
は凹部と凸部の境界での応力集中により反射膜が大きな
力を受けるためと考えられる。また、反射膜の腐食につ
いては、凹部と凸部の境界で反射膜の膜質が劣化するこ
と、密着不良の場合と同様に応力集中により、いわゆる
応力腐食が起こり、腐食が促進されることが原因と考え
られる。
本発明は、以上述べたような従来の問題点を解決するた
めになされたもので、反射膜における密着不良や腐食発
生がなく、高い信頼性を有すると共に、パターン化され
た反射膜以外の領域での不要な反射を抑制し、S/N比
の高い光ディスクを提供することを目的とする。
めになされたもので、反射膜における密着不良や腐食発
生がなく、高い信頼性を有すると共に、パターン化され
た反射膜以外の領域での不要な反射を抑制し、S/N比
の高い光ディスクを提供することを目的とする。
[課題を解決するための手段]
本発明は、透明円板状基板上に、所定のデジタル情報に
対応した金属膜パターンよりなる反射膜と、A(j、K
またはOL+の塩化物のうち、少なくとも一種からなる
塩化物膜と、保護膜とが順次積層されてなることを特徴
とする光ディスクである。
対応した金属膜パターンよりなる反射膜と、A(j、K
またはOL+の塩化物のうち、少なくとも一種からなる
塩化物膜と、保護膜とが順次積層されてなることを特徴
とする光ディスクである。
本発明において、所定のデジタル情報に対応した金属膜
パターンは、円板状の透明基板の上に金属膜からなる反
射膜を成膜した後、この反射膜を選択的にエツチングす
ることによって形成することができる。
パターンは、円板状の透明基板の上に金属膜からなる反
射膜を成膜した後、この反射膜を選択的にエツチングす
ることによって形成することができる。
[作用]
本発明では、平坦な表面を有する円板状の透明基板の上
に、所定のデジタル情報に対応した金属膜パターンが形
成されている。このため従来の光ディスクで問題となっ
ていた凹凸パターンの凹部と凸部の境界における反射膜
の密着不良や腐食の問題が生じることがない。
に、所定のデジタル情報に対応した金属膜パターンが形
成されている。このため従来の光ディスクで問題となっ
ていた凹凸パターンの凹部と凸部の境界における反射膜
の密着不良や腐食の問題が生じることがない。
また、本発明者らの検討によれば、塩化銀薄膜。
塩化カリウム薄膜、あるいは塩化銅薄膜(膜厚はいずれ
も0.5〜1.0庫)のレーザ光(波長7800m )
に対する反射率は10〜20%と小さなものであった。
も0.5〜1.0庫)のレーザ光(波長7800m )
に対する反射率は10〜20%と小さなものであった。
従って、これらの塩化物薄膜のうち少なくとも1つから
なる塩化物膜を、前述したパターン化された反射膜を含
む透明基板上に設けることによって、前記反射膜の存在
しない領域での不必要な反射を抑制することが可能とな
り、高いS/N比を有する光ディスクが実現される。
なる塩化物膜を、前述したパターン化された反射膜を含
む透明基板上に設けることによって、前記反射膜の存在
しない領域での不必要な反射を抑制することが可能とな
り、高いS/N比を有する光ディスクが実現される。
[実施例]
以下、図面を参照して本発明の詳細な説明する。
第1図は本発明の一実施例の光ディスクを半径方向に切
断した断面図である。第1図に示す光ディスクの製造方
法は、まず強化ガラスからなる透明基板1の上にAで膜
を0.15卯の厚さに成膜する。へβ膜の成膜には電子
ビーム蒸着法を用い、その蒸着条件は到達真空度3xl
O’ Torr 、エミッション電流85mA 、蒸着
時の基板温度70℃とした。次いで、デジタル情報に対
応したパターンを有するフォトレジスト膜を前記のAl
膜上に形成し、前記フォトレジスト膜をマスクとして前
記へ!膜をイオンエツチングにより除去して、反射膜3
を形成する。その後、フォトレジスト膜を有機溶媒ある
いは酸素アッシングにより除去する。
断した断面図である。第1図に示す光ディスクの製造方
法は、まず強化ガラスからなる透明基板1の上にAで膜
を0.15卯の厚さに成膜する。へβ膜の成膜には電子
ビーム蒸着法を用い、その蒸着条件は到達真空度3xl
O’ Torr 、エミッション電流85mA 、蒸着
時の基板温度70℃とした。次いで、デジタル情報に対
応したパターンを有するフォトレジスト膜を前記のAl
膜上に形成し、前記フォトレジスト膜をマスクとして前
記へ!膜をイオンエツチングにより除去して、反射膜3
を形成する。その後、フォトレジスト膜を有機溶媒ある
いは酸素アッシングにより除去する。
次いで、抵抗加熱蒸着法によりAg、 KまたはCLI
の塩化物を蒸着し、これらの塩化物の少なくとも1つよ
りなる塩化物膜5を前記反射膜3を含む透明基板1表面
全面にわたって成膜する。塩化物の成膜条件は到達真空
度3xtO−7Torr 、るつぼへの通電電流は2A
であり、使用したるつぼは白金製ボートである。また、
蒸着時の基板温度は70’Cとし、塩化物膜5の膜厚は
0.8〜1.0席とした。その後、酸化珪素膜からなる
保護膜6を塩化物膜5上に成膜する。保護膜6の成膜に
はスパッタリング法を用い、その成膜条件はArガス圧
力5 xlO’ Torr 、投入電力400Wで、成
膜した膜厚は2卯である。
の塩化物を蒸着し、これらの塩化物の少なくとも1つよ
りなる塩化物膜5を前記反射膜3を含む透明基板1表面
全面にわたって成膜する。塩化物の成膜条件は到達真空
度3xtO−7Torr 、るつぼへの通電電流は2A
であり、使用したるつぼは白金製ボートである。また、
蒸着時の基板温度は70’Cとし、塩化物膜5の膜厚は
0.8〜1.0席とした。その後、酸化珪素膜からなる
保護膜6を塩化物膜5上に成膜する。保護膜6の成膜に
はスパッタリング法を用い、その成膜条件はArガス圧
力5 xlO’ Torr 、投入電力400Wで、成
膜した膜厚は2卯である。
以上のようにして得られた光ディスクでは、微細な凹凸
パターンを射出成形法で透明基板1の上に形成する必要
が無いため、従来射出成形時の凹凸パターンの欠け、突
起、パリ等の発生という問題点は解決し、光デイスク製
造工程での歩留まりが大幅に向上した。また、平坦な基
板面上にパターン化した反射膜を形成する構造であるた
め、従来の光ディスクで問題となっていた凹凸パターン
の凹部と凸部の境界での反射膜の密着不良や腐食の発生
も見られなかった。
パターンを射出成形法で透明基板1の上に形成する必要
が無いため、従来射出成形時の凹凸パターンの欠け、突
起、パリ等の発生という問題点は解決し、光デイスク製
造工程での歩留まりが大幅に向上した。また、平坦な基
板面上にパターン化した反射膜を形成する構造であるた
め、従来の光ディスクで問題となっていた凹凸パターン
の凹部と凸部の境界での反射膜の密着不良や腐食の発生
も見られなかった。
更に、本実施例による光ディスクのS/Nを測定したと
ころ、従来構造の光ディスクのS/Nに比較して約1.
6倍の高いS/Nを示し、塩化物膜5を形成しなかった
以外は本実施例と同一の構造を持つ光ディスクに比較し
ても約1,3倍の高いS/Nを示した。
ころ、従来構造の光ディスクのS/Nに比較して約1.
6倍の高いS/Nを示し、塩化物膜5を形成しなかった
以外は本実施例と同一の構造を持つ光ディスクに比較し
ても約1,3倍の高いS/Nを示した。
このように、本発明による光ディスクは、従来の光ディ
スクに比較して高い信頼性を有し、コンピュータ用のデ
ジタル情報を記録するCD−ROMとして優れた特性を
具備することが確認された。
スクに比較して高い信頼性を有し、コンピュータ用のデ
ジタル情報を記録するCD−ROMとして優れた特性を
具備することが確認された。
また、それと同時に、従来構造の光ディスクあるいは塩
化物膜5を形成しなかった場合に比較して、高いS/N
を持つことが確認された。
化物膜5を形成しなかった場合に比較して、高いS/N
を持つことが確認された。
なあ、上記の実施例では反射膜3の材料としてへ2膜を
用いたが、他の高反射率材料、例えばALJ、Ag、
Ta、 T*N、zrN等を用イテもよい。また、実施
例中では塩化物膜5として、塩化銀、塩化カリウム、塩
化銅を単独に使用した例のみを述べたが、これらを混合
したもの、あるいは積層したものを塩化物15として使
用してもよい。
用いたが、他の高反射率材料、例えばALJ、Ag、
Ta、 T*N、zrN等を用イテもよい。また、実施
例中では塩化物膜5として、塩化銀、塩化カリウム、塩
化銅を単独に使用した例のみを述べたが、これらを混合
したもの、あるいは積層したものを塩化物15として使
用してもよい。
[発明の効果]
以上述べたように、本発明の光ディスクは、平坦な透明
基板上に反射膜を成膜した後、この反射膜をエツチング
によりパターン化することによりデジタル情報を記録す
るため、従来射出成形時に多く発生していた凹凸パター
ンの欠け、突起、パリ等の問題は解決し、光デイスク製
造工程での歩留まりが大幅に向上する。
基板上に反射膜を成膜した後、この反射膜をエツチング
によりパターン化することによりデジタル情報を記録す
るため、従来射出成形時に多く発生していた凹凸パター
ンの欠け、突起、パリ等の問題は解決し、光デイスク製
造工程での歩留まりが大幅に向上する。
また、基板上に予め形成された凹凸パターン上に反tj
JgIを成膜する必要が無いため、従来凹凸パターンの
凹部と凸部の境界で発生していた反則膜の密着不良や腐
食を抑制することが可能となり、高い信頼性をもつ光デ
ィスクが実現される。
JgIを成膜する必要が無いため、従来凹凸パターンの
凹部と凸部の境界で発生していた反則膜の密着不良や腐
食を抑制することが可能となり、高い信頼性をもつ光デ
ィスクが実現される。
更に、所定波長のレーザ光に対して反射率が極めて小さ
な塩化物膜を前記反射膜を含む透明基板の表面上に成膜
することにより、前述したパターン化された反射膜の存
在しない領域での不必要な反射′を抑制することが可能
となり、高いS/Nを有する光ディスクが実現される。
な塩化物膜を前記反射膜を含む透明基板の表面上に成膜
することにより、前述したパターン化された反射膜の存
在しない領域での不必要な反射′を抑制することが可能
となり、高いS/Nを有する光ディスクが実現される。
第1図は本発明の一実施例による光ディスクの半径方向
の断面図、第2図は従来の光ディスクの半径方向の断面
図である。 1・・・透明基板 2,3・・・反射膜4.6・・
・保護膜 5・・・塩化物膜代 理 人
の断面図、第2図は従来の光ディスクの半径方向の断面
図である。 1・・・透明基板 2,3・・・反射膜4.6・・
・保護膜 5・・・塩化物膜代 理 人
Claims (1)
- (1)透明円板状基板上に、所定のデジタル情報に対応
した金属膜パターンよりなる反射膜と、Ag、Kまたは
Cuの塩化物のうち、少なくとも一種からなる塩化物膜
と、保護膜とが順次積層されてなることを特徴とする光
ディスク。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63300724A JPH02148429A (ja) | 1988-11-30 | 1988-11-30 | 光ディスク |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63300724A JPH02148429A (ja) | 1988-11-30 | 1988-11-30 | 光ディスク |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH02148429A true JPH02148429A (ja) | 1990-06-07 |
Family
ID=17888341
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63300724A Pending JPH02148429A (ja) | 1988-11-30 | 1988-11-30 | 光ディスク |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH02148429A (ja) |
-
1988
- 1988-11-30 JP JP63300724A patent/JPH02148429A/ja active Pending
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