JPH02143138A - 冷熱衝撃試験装置 - Google Patents
冷熱衝撃試験装置Info
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- JPH02143138A JPH02143138A JP29711888A JP29711888A JPH02143138A JP H02143138 A JPH02143138 A JP H02143138A JP 29711888 A JP29711888 A JP 29711888A JP 29711888 A JP29711888 A JP 29711888A JP H02143138 A JPH02143138 A JP H02143138A
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Landscapes
- Testing Resistance To Weather, Investigating Materials By Mechanical Methods (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は、電子機器や精密機械又はそれら部品などを高
温乃至低温の雰囲気下に置いて、前記各種機器類の耐久
性や熱的強度などを試験するために使用する冷熱衝撃試
験装置に関する。
温乃至低温の雰囲気下に置いて、前記各種機器類の耐久
性や熱的強度などを試験するために使用する冷熱衝撃試
験装置に関する。
(従来の技術)
従来、この種試験装置は、例えば特公昭58−4981
7号公報に記載され、かつ、第4図に示したごとく、外
気出入口(A)を備え、該外気取入口(A)を開閉する
常温ダンパ(DI)を設けたテスト室(TR)に、ヒー
タとファンとを配設した予p8室(R1)と、冷凍機に
接続されるクーラーとファンとを配設した予冷室(R2
)とをそれぞれ@接して設け、前記テスト室(TR)と
予熱室(R1)とを連通する開口部(CI)に高温ダン
パ(D2)を、また、前記テスト室(TR)と予冷室(
R2)とを連通ずる開口部(C2)に低温ダンパ(D3
)をそれぞれ開閉可能に取付けている。
7号公報に記載され、かつ、第4図に示したごとく、外
気出入口(A)を備え、該外気取入口(A)を開閉する
常温ダンパ(DI)を設けたテスト室(TR)に、ヒー
タとファンとを配設した予p8室(R1)と、冷凍機に
接続されるクーラーとファンとを配設した予冷室(R2
)とをそれぞれ@接して設け、前記テスト室(TR)と
予熱室(R1)とを連通する開口部(CI)に高温ダン
パ(D2)を、また、前記テスト室(TR)と予冷室(
R2)とを連通ずる開口部(C2)に低温ダンパ(D3
)をそれぞれ開閉可能に取付けている。
また、以上の試験装置を用いた試験パターンとしては、
各種機器類を前記テスト室(TR)に配置して、このテ
スト室(TR)を、前記各ダンパ(Di)(D2)(D
3)の開閉操作で、低温〜常温〜高瓜のサイクルで繰り
返すパターンと、低温〜高温のサイクルで繰り返すパタ
ーンとの2種類があり、前者の低温〜常温〜高温を繰り
返す試験パターンの場合には、前記常温ダンパ(DI)
を開閉操作して、前記テスト室(TR)内に外気を導入
することにより、該テスト室(TR)の温度復帰時間を
短縮させるようにしている。
各種機器類を前記テスト室(TR)に配置して、このテ
スト室(TR)を、前記各ダンパ(Di)(D2)(D
3)の開閉操作で、低温〜常温〜高瓜のサイクルで繰り
返すパターンと、低温〜高温のサイクルで繰り返すパタ
ーンとの2種類があり、前者の低温〜常温〜高温を繰り
返す試験パターンの場合には、前記常温ダンパ(DI)
を開閉操作して、前記テスト室(TR)内に外気を導入
することにより、該テスト室(TR)の温度復帰時間を
短縮させるようにしている。
(発明が解決しようとする課題)
所で、以上の冷熱衝撃試験装置では、特に、前記した前
者の試験パターンを採用する場合にあっては、前記常温
ダンパ(DI)が開閉されて、前記テスト室(TR)の
内部に多くの水分を含む外気が導入されることから、該
テスト室(TR)を前記低温ダンパ(D3)の開動作で
予冷室(R2) (11に連通させて低温となすとき、
前記テスト室(TR)の尋人外気が前記予冷室(R2)
に至って、該予冷室(R2)内に配設されたクーラーな
どに霜が付着するのであり、従って、この霜を除去する
ために、途中で頻繁にデフロスト運転を行う必要があっ
て、運転効率が悪い問題があった。
者の試験パターンを採用する場合にあっては、前記常温
ダンパ(DI)が開閉されて、前記テスト室(TR)の
内部に多くの水分を含む外気が導入されることから、該
テスト室(TR)を前記低温ダンパ(D3)の開動作で
予冷室(R2) (11に連通させて低温となすとき、
前記テスト室(TR)の尋人外気が前記予冷室(R2)
に至って、該予冷室(R2)内に配設されたクーラーな
どに霜が付着するのであり、従って、この霜を除去する
ために、途中で頻繁にデフロスト運転を行う必要があっ
て、運転効率が悪い問題があった。
本発明は以上の問題に鑑みてなしたもので、その目的は
、前記テスト室に外気を導入して、該テスト室の温度復
帰時間を短縮可能となすにも拘わらず、前記予冷室内の
クーラーなどに霜が付着し難く、運転効率を高めること
ができる冷熱衝撃試験装置を提供することにある。
、前記テスト室に外気を導入して、該テスト室の温度復
帰時間を短縮可能となすにも拘わらず、前記予冷室内の
クーラーなどに霜が付着し難く、運転効率を高めること
ができる冷熱衝撃試験装置を提供することにある。
(課題を解決するための手段)
上記目的を達成するために、本発明は、一側に外気に連
通ずる外気取入口(2)と排気口(3)とを設け、これ
ら取入口(2)と排気口(3)とを開閉する常温ダンパ
(4)(4)を備えたテスト室(1)に、断熱隔壁(5
)を介して、ヒータ(8)とフtン(7)とを配置した
予熱室(9)と、冷凍機(10)に接続するクーラー(
11)とファン(12)とを配置した予冷室(14)と
を隣接して設けると共に、前記テスト室(1)と前記予
熱室(9)とを連通させる開口部(15)を開閉する高
温ダンパ(18)と、また、前記テスト室(1)と前記
予冷室(14)とを連通させる開口部(17)を開閉す
る低温ダンパ(18)とを備えた冷熱衝撃試験装置にお
いて、前記取入口(2)の外気取入側に、前記冷凍機(
10)に接続するクーラー(19)と再熱器(20)と
から成る除湿5(21)を配設すると共に、前記冷凍機
(10)の接続回路に、前記常温ダンパ(4)(4)の
開動作時に開き、開動作時に閉じる開閉弁(22)を介
装したことを特徴とするものである。
通ずる外気取入口(2)と排気口(3)とを設け、これ
ら取入口(2)と排気口(3)とを開閉する常温ダンパ
(4)(4)を備えたテスト室(1)に、断熱隔壁(5
)を介して、ヒータ(8)とフtン(7)とを配置した
予熱室(9)と、冷凍機(10)に接続するクーラー(
11)とファン(12)とを配置した予冷室(14)と
を隣接して設けると共に、前記テスト室(1)と前記予
熱室(9)とを連通させる開口部(15)を開閉する高
温ダンパ(18)と、また、前記テスト室(1)と前記
予冷室(14)とを連通させる開口部(17)を開閉す
る低温ダンパ(18)とを備えた冷熱衝撃試験装置にお
いて、前記取入口(2)の外気取入側に、前記冷凍機(
10)に接続するクーラー(19)と再熱器(20)と
から成る除湿5(21)を配設すると共に、前記冷凍機
(10)の接続回路に、前記常温ダンパ(4)(4)の
開動作時に開き、開動作時に閉じる開閉弁(22)を介
装したことを特徴とするものである。
(作用)
前記常温ダンパ(4)の開動作で前記テスト室(1)内
に外気を導入するときには、前記常温ダンパ(4)に連
動する前記開閉弁(22)の開動作により、前記冷凍1
!1(10)側から前記除湿器(21)へと冷媒が供給
されて、この除湿器(21)で前記外気中の水分が除去
され、水分台イ1fflの少ない乾燥空気が1n記テス
ト室(1)に導入されるのであり、従って、該テスト室
(1)を前記低温ダンパ(18)の開動作で予冷室(1
4)側と連通して低温とするとき、この予冷室(14)
内に配設されたクーラー(11)などへの霜付着量が少
なくなり、デフロスト運転回数が低減されて、運転効率
が高められるのである。
に外気を導入するときには、前記常温ダンパ(4)に連
動する前記開閉弁(22)の開動作により、前記冷凍1
!1(10)側から前記除湿器(21)へと冷媒が供給
されて、この除湿器(21)で前記外気中の水分が除去
され、水分台イ1fflの少ない乾燥空気が1n記テス
ト室(1)に導入されるのであり、従って、該テスト室
(1)を前記低温ダンパ(18)の開動作で予冷室(1
4)側と連通して低温とするとき、この予冷室(14)
内に配設されたクーラー(11)などへの霜付着量が少
なくなり、デフロスト運転回数が低減されて、運転効率
が高められるのである。
(実施例)
第1図に示した冷熱衝撃試験装置は、断P構造とされた
テスト室(1)の横方向一側で中間部位に、外気側に連
通される外気取入口(2)とり[メロ(3)とを設け、
これら取入口(2)と排気口(3)とに、それぞれ常温
ダンパ(4)(4)を開閉可能に取付けると共に、前記
テスト室(1)の両側位置に、断熱隔壁(5)を介して
、ヒータ(8)とファン(7)及び蓄熱器(8)が配置
された予熱室(9)と、冷凍機(10)側に接続される
クーラー(11)とファン(12)及び蓄冷!(13)
が配置された予冷室(14)とをそれぞれ隣接して設け
る一方、前記テスト室(1)と予熱室(9)とを画成す
る前記隔壁(5)に開口部(15)を開設して、該開口
部(15)に高温ダンパ(18)を開閉可能に取付け、
また、前記テスト室(1)と予冷室(14)とを画成す
る前記隔壁(5)に開口部(17)を開設して、該開口
部(17)に低温ダンパ(18)を開閉可能に取付けて
いる。
テスト室(1)の横方向一側で中間部位に、外気側に連
通される外気取入口(2)とり[メロ(3)とを設け、
これら取入口(2)と排気口(3)とに、それぞれ常温
ダンパ(4)(4)を開閉可能に取付けると共に、前記
テスト室(1)の両側位置に、断熱隔壁(5)を介して
、ヒータ(8)とファン(7)及び蓄熱器(8)が配置
された予熱室(9)と、冷凍機(10)側に接続される
クーラー(11)とファン(12)及び蓄冷!(13)
が配置された予冷室(14)とをそれぞれ隣接して設け
る一方、前記テスト室(1)と予熱室(9)とを画成す
る前記隔壁(5)に開口部(15)を開設して、該開口
部(15)に高温ダンパ(18)を開閉可能に取付け、
また、前記テスト室(1)と予冷室(14)とを画成す
る前記隔壁(5)に開口部(17)を開設して、該開口
部(17)に低温ダンパ(18)を開閉可能に取付けて
いる。
斯くして、各挿機器類の耐久性や熱的強度などを試験す
るときには、この機器類を前記テスト室(1)に配置し
て、該テスト室(1)を前記ダンパ(4)(1B)(1
8)の開閉操作で、低温〜常温〜高温のサイクルで繰り
返し、若しくは低温〜高温のサイクルで繰り返すのであ
り、この低温〜常温〜高温を繰り返す試験パターンの場
合には、前記常温ダンパ(4)を開閉操作して、前記テ
スト室(1)内に外気を導入することにより、該テスト
室(1)の温度復帰時間を短縮するのである。
るときには、この機器類を前記テスト室(1)に配置し
て、該テスト室(1)を前記ダンパ(4)(1B)(1
8)の開閉操作で、低温〜常温〜高温のサイクルで繰り
返し、若しくは低温〜高温のサイクルで繰り返すのであ
り、この低温〜常温〜高温を繰り返す試験パターンの場
合には、前記常温ダンパ(4)を開閉操作して、前記テ
スト室(1)内に外気を導入することにより、該テスト
室(1)の温度復帰時間を短縮するのである。
しかして、以上の冷熱衝撃試験vi置において、前記テ
スト室(1)に設けた取入口(2)の外気取入側に、前
記冷凍機(10)の接続回路に接続されるクーラー(1
9)と再熱器(20)とを備えた除z8器(21)を配
設し、該除湿器(20)で前記取入口(2)からテスト
室(1)内に取入れられる外気中から水分を除去するよ
うになすと共に、前記冷凍機(10)の接続回路に、前
記常温ダンパ(4)(4)の開動作時に開き、閉動作時
に閉じる開閉弁(22)を介装させ、この開閉弁(22
)で前記除湿器(21)の作動制御を行うのである。
スト室(1)に設けた取入口(2)の外気取入側に、前
記冷凍機(10)の接続回路に接続されるクーラー(1
9)と再熱器(20)とを備えた除z8器(21)を配
設し、該除湿器(20)で前記取入口(2)からテスト
室(1)内に取入れられる外気中から水分を除去するよ
うになすと共に、前記冷凍機(10)の接続回路に、前
記常温ダンパ(4)(4)の開動作時に開き、閉動作時
に閉じる開閉弁(22)を介装させ、この開閉弁(22
)で前記除湿器(21)の作動制御を行うのである。
具体的に説明すると、前記冷凍機(10)は、第2図で
明らかにしたごとく、低温側と高温側との二元冷凍回路
を備えており、この低温側冷凍回路は、前記予冷室(工
4)のクーラー(11)と、該クーラー(11)にアキ
ュムレータ(23)を介して接続される低塩側圧縮機(
24)、油分離器(25)、カスケードコンデンサ(2
G)、ドライヤ(27)及び膨張弁(28)とで構成さ
れ、前記油分子fi5(25)の吐出側と前記アキュム
レータ(23)の吸入側との間に、吐出圧力調整弁(2
9)を介して膨張タンク(30)を接続し、前記低温側
冷凍回路を循環される低温冷媒が高温となって膨張され
たとき、この冷媒の一部を前記膨張タンク(30)に収
納させるようになすと共に、前記油分m5(25)の吐
出側と前記クーラー(11)の吸入側との間に、ホット
ガス電磁弁(31)を接続して、前記クーラー(11)
に若霜が発生したとき、前記電磁弁(31)の開動作で
ホー1 )ガスの一部を供給して、前記クーラー(11
)のデフロストを行うようになす。
明らかにしたごとく、低温側と高温側との二元冷凍回路
を備えており、この低温側冷凍回路は、前記予冷室(工
4)のクーラー(11)と、該クーラー(11)にアキ
ュムレータ(23)を介して接続される低塩側圧縮機(
24)、油分離器(25)、カスケードコンデンサ(2
G)、ドライヤ(27)及び膨張弁(28)とで構成さ
れ、前記油分子fi5(25)の吐出側と前記アキュム
レータ(23)の吸入側との間に、吐出圧力調整弁(2
9)を介して膨張タンク(30)を接続し、前記低温側
冷凍回路を循環される低温冷媒が高温となって膨張され
たとき、この冷媒の一部を前記膨張タンク(30)に収
納させるようになすと共に、前記油分m5(25)の吐
出側と前記クーラー(11)の吸入側との間に、ホット
ガス電磁弁(31)を接続して、前記クーラー(11)
に若霜が発生したとき、前記電磁弁(31)の開動作で
ホー1 )ガスの一部を供給して、前記クーラー(11
)のデフロストを行うようになす。
またN iFJ記高温側の冷凍回路は、冷媒吸入側にア
キュムレータ(32)を付設した高温側圧縮機(33)
と、凝縮器(34)、ドライヤ(35)、膨張弁(38
)及び前記カスケードコンデンサ(28)に内装された
コイル(37)とで構成され、該コイル(37)内の高
温冷媒と前記カスケードコンデンサ(28)内の低温冷
媒との間で熱交換を行うことにより、この低温冷媒をさ
らに冷却して、前記クーラー(11)を低温度にまで冷
却可能となす。
キュムレータ(32)を付設した高温側圧縮機(33)
と、凝縮器(34)、ドライヤ(35)、膨張弁(38
)及び前記カスケードコンデンサ(28)に内装された
コイル(37)とで構成され、該コイル(37)内の高
温冷媒と前記カスケードコンデンサ(28)内の低温冷
媒との間で熱交換を行うことにより、この低温冷媒をさ
らに冷却して、前記クーラー(11)を低温度にまで冷
却可能となす。
そして、以上の高温側冷凍回路における圧縮機(33)
の冷媒吐出側に、前記凝縮器(34)やドライヤ(35
)、膨張弁(38)及び前記コイル(37)をバイパス
するバイパス通路(38)を設け、このバイパス通路(
38)を前記除湿器(21)の再熱器(20)に接続す
ると共に、該再熱器(20)の冷媒吐出側に前記クーラ
ー(19)を接続して、このクーラー(19)内の冷媒
を前記高温側圧縮1(33)の吸入側へと還流させるよ
うになす一方、前記バイパス通路(3g)における再熱
器(20)の冷媒入口側に、前記ノ(イバス通路(38
)を開閉する前記開閉弁(22)を介装させ、この開閉
弁(22)を前記常温ダンパ(4)の開閉動作に連動し
て開閉させるのである。
の冷媒吐出側に、前記凝縮器(34)やドライヤ(35
)、膨張弁(38)及び前記コイル(37)をバイパス
するバイパス通路(38)を設け、このバイパス通路(
38)を前記除湿器(21)の再熱器(20)に接続す
ると共に、該再熱器(20)の冷媒吐出側に前記クーラ
ー(19)を接続して、このクーラー(19)内の冷媒
を前記高温側圧縮1(33)の吸入側へと還流させるよ
うになす一方、前記バイパス通路(3g)における再熱
器(20)の冷媒入口側に、前記ノ(イバス通路(38
)を開閉する前記開閉弁(22)を介装させ、この開閉
弁(22)を前記常温ダンパ(4)の開閉動作に連動し
て開閉させるのである。
斯(することにより、前記テスト室(1)内に外気を導
入すべく、前記常温ダンA(4)が開動作されたとき、
前記開閉弁(22)でバイ/ず入通路(38)が開放さ
れて、前記圧縮機(33)からの吐出冷媒の一部が、前
記バイパス通路(38)から前記再熱ム(20)及びク
ーラー(19)へと循環され、このクーラー(19)で
前記取入0(2)から取入れられる外気中の水分が除去
され、かつ、前記再熱器(20)で加熱されて、水分台
を量の少ない乾燥空気が前記テスト室(1)内に取入れ
られるのであり、従って、このテスト室(1)内に外気
を取入れた後、該テスト室(1)を前記低温ダンパ(1
8)の開動作で前記予冷室(14)側と連通させて低温
状態に冷却するとき、この予冷室(14)内に配設され
た前記クーラー(11)などへの霜付着量が少なくなる
のである。
入すべく、前記常温ダンA(4)が開動作されたとき、
前記開閉弁(22)でバイ/ず入通路(38)が開放さ
れて、前記圧縮機(33)からの吐出冷媒の一部が、前
記バイパス通路(38)から前記再熱ム(20)及びク
ーラー(19)へと循環され、このクーラー(19)で
前記取入0(2)から取入れられる外気中の水分が除去
され、かつ、前記再熱器(20)で加熱されて、水分台
を量の少ない乾燥空気が前記テスト室(1)内に取入れ
られるのであり、従って、このテスト室(1)内に外気
を取入れた後、該テスト室(1)を前記低温ダンパ(1
8)の開動作で前記予冷室(14)側と連通させて低温
状態に冷却するとき、この予冷室(14)内に配設され
た前記クーラー(11)などへの霜付着量が少なくなる
のである。
また、前記開閉弁(22)として、前記常温ダンパ(4
)に連動する2つの第1及び第2開閉弁(22a)(2
2b)を用い、該各間閉弁(22a)(22b)を前記
二元冷凍回路を構成する低温及び高温側冷凍回路にそれ
ぞれ介装させて、これら各冷凍回路から前記各開閉弁(
22a)(22b)の開閉操作で、前記除湿器(20)
のクーラー(19)と再熱器(20)へと冷媒を供給す
ることもできる。
)に連動する2つの第1及び第2開閉弁(22a)(2
2b)を用い、該各間閉弁(22a)(22b)を前記
二元冷凍回路を構成する低温及び高温側冷凍回路にそれ
ぞれ介装させて、これら各冷凍回路から前記各開閉弁(
22a)(22b)の開閉操作で、前記除湿器(20)
のクーラー(19)と再熱器(20)へと冷媒を供給す
ることもできる。
即ち、第3図に示したごとく、前記高温側冷凍回路にお
ける膨張弁(3G)の冷媒出口側に、前記除湿器(21
)のクーラー(19)側に至る第1バイパス通路(39
)を接続し、この第1/<イバス通路(39)に前記第
1開閉弁(22a)を介装させ、該開閉弁(22a)の
開動作で前記クーラー(19)に高温側圧縮機(33)
から吐出冷媒の一部を供給し、かつ、前記クーラー(1
9)から冷媒をキャピラリチューブ(40)を介して前
記圧1Iii機(33)の吸入側に還流させるようにな
すと共に、前記低温側冷凍回路における肋記へむ分Wi
器(25)とカスケードコンデンサ(28)との間に、
前記再熱器(20)側へと至る第2バイパス通路(41
)を設けて、該ノくイIず入通路(4工)に前記第2開
閉弁(22b)を介装させ、この開閉弁(22b)の開
動作で前記再熱器(20)に低温側圧縮機(24)から
吐出冷媒の一部を循環させるようになすのである。
ける膨張弁(3G)の冷媒出口側に、前記除湿器(21
)のクーラー(19)側に至る第1バイパス通路(39
)を接続し、この第1/<イバス通路(39)に前記第
1開閉弁(22a)を介装させ、該開閉弁(22a)の
開動作で前記クーラー(19)に高温側圧縮機(33)
から吐出冷媒の一部を供給し、かつ、前記クーラー(1
9)から冷媒をキャピラリチューブ(40)を介して前
記圧1Iii機(33)の吸入側に還流させるようにな
すと共に、前記低温側冷凍回路における肋記へむ分Wi
器(25)とカスケードコンデンサ(28)との間に、
前記再熱器(20)側へと至る第2バイパス通路(41
)を設けて、該ノくイIず入通路(4工)に前記第2開
閉弁(22b)を介装させ、この開閉弁(22b)の開
動作で前記再熱器(20)に低温側圧縮機(24)から
吐出冷媒の一部を循環させるようになすのである。
以上の構成とするときにも、前述した場合と同様に、前
記クーラー(19)で前記取入口(2)から取入れられ
る外気中の水分が除去され、かつ、前記再熱器(20)
で加熱されて、水分含有量の少ない乾燥空気が前記テス
ト室(1)内に取入れられることになる。
記クーラー(19)で前記取入口(2)から取入れられ
る外気中の水分が除去され、かつ、前記再熱器(20)
で加熱されて、水分含有量の少ない乾燥空気が前記テス
ト室(1)内に取入れられることになる。
尚、各図の実施例では、前記排気口(3)にυト気ファ
ン(42)を配設すると共に、前記取入口(2)におけ
る前記除湿器(21)の風上側に吸気ファン(4,3)
を配設している。
ン(42)を配設すると共に、前記取入口(2)におけ
る前記除湿器(21)の風上側に吸気ファン(4,3)
を配設している。
(発明の効果)
以上説明したように本発明の冷N4衝撃試験装置では、
テスト室(1)における外気取入口(2)の取入側に、
冷凍機(10)側に接続されるクーラー(19)と再熱
6(20)とから成る除湿器(21)を配設すると共に
、1】j記冷凍機(10)の接続回路に、前記取入口(
2)や排気口(3)に設けた常温ダンパ(4)の開閉操
作に連動して、前記除湿器(21)を制御する開閉弁(
22)を介装させたから、前記取入口(2)からテスト
室(1)への外気取入時に、i1′iX記除湿器(21
)で外気中の水分を除去して、水分台T−T Iの少な
い乾煽空気を前記テスト室(1)内に導入させることが
可能となって、このテスト室(1)を予冷室(14)と
連通させて低温とするとき、該予冷室(I4)内に配設
されたクーラー(11)などへの霜付Nff1を少なく
でき、これに伴いデフロスト運転回数を低減できて、運
転効率を高め得るに至ったのである。
テスト室(1)における外気取入口(2)の取入側に、
冷凍機(10)側に接続されるクーラー(19)と再熱
6(20)とから成る除湿器(21)を配設すると共に
、1】j記冷凍機(10)の接続回路に、前記取入口(
2)や排気口(3)に設けた常温ダンパ(4)の開閉操
作に連動して、前記除湿器(21)を制御する開閉弁(
22)を介装させたから、前記取入口(2)からテスト
室(1)への外気取入時に、i1′iX記除湿器(21
)で外気中の水分を除去して、水分台T−T Iの少な
い乾煽空気を前記テスト室(1)内に導入させることが
可能となって、このテスト室(1)を予冷室(14)と
連通させて低温とするとき、該予冷室(I4)内に配設
されたクーラー(11)などへの霜付Nff1を少なく
でき、これに伴いデフロスト運転回数を低減できて、運
転効率を高め得るに至ったのである。
第1図は本発明にかかる冷熱衝撃試験装置の全体構造を
示す断面図、第2図は冷凍機の配管系統図、第3図は他
の実施例を示す配管系統図、第4図は従来例を示す断面
図である。 (1)e・−・・テスト室 (2)−・拳会働外気取入口 (3)−−1111・すYメロ (4)−−−−@常温ダンパ (5)−・@働拳断熱隔壁 (8)φ・−・φヒータ (7)・・・1フアン (9)e (I S) (工 8) ・・・拳予熱室 番・−・冷凍機 番・・・クーラー 11#ψ−ファン ・・11φ予冷室 ・・−・開口部 ・・・・高温ダンパ 争・e11開口部 会費−・低温ダンパ Φ・・・クーラー 拳・拳・再熱器 a*am除湿器 第1図 テスト室 外気取AO j4「気O 字盈γン1l− b6璧 ヒ−7 ファン +炉り虻 クーラー ファン 十ニー! 関0艶 4h偏a?−シぺ 間0節 向渫?ンI望 ルし=8S
示す断面図、第2図は冷凍機の配管系統図、第3図は他
の実施例を示す配管系統図、第4図は従来例を示す断面
図である。 (1)e・−・・テスト室 (2)−・拳会働外気取入口 (3)−−1111・すYメロ (4)−−−−@常温ダンパ (5)−・@働拳断熱隔壁 (8)φ・−・φヒータ (7)・・・1フアン (9)e (I S) (工 8) ・・・拳予熱室 番・−・冷凍機 番・・・クーラー 11#ψ−ファン ・・11φ予冷室 ・・−・開口部 ・・・・高温ダンパ 争・e11開口部 会費−・低温ダンパ Φ・・・クーラー 拳・拳・再熱器 a*am除湿器 第1図 テスト室 外気取AO j4「気O 字盈γン1l− b6璧 ヒ−7 ファン +炉り虻 クーラー ファン 十ニー! 関0艶 4h偏a?−シぺ 間0節 向渫?ンI望 ルし=8S
Claims (1)
- 1)一側に外気に連通する外気取入口(2)と排気口(
3)とを設け、これら外気取入口(2)と排気口(3)
とを開閉する常温ダンパ(4)(4)を備えたテスト室
(1)に、断熱隔壁(5)を介して、ヒータ(8)とフ
ァン(7)とを配置した予熱室(9)と、冷凍機(10
)に接続するクーラー(11)とファン(12)とを配
置した予冷室(14)とを隣接して設けると共に、前記
テスト室(1)と前記予熱室(9)とを連通させる開口
部(15)を開閉する高温ダンパ(18)と、また、前
記テスト室(1)と前記予冷室(14)とを連通させる
開口部(17)を開閉する低温ダンパ(18)とを備え
た冷熱衝撃試験装置において、前記外気取入口(2)の
外気取入側に、前記冷凍機(10)に接続するクーラー
(19)と再熱器(20)とから成る除湿器(21)を
配設すると共に、前記冷凍機(10)への接続回路に、
前記常温ダンパ(4)(4)の開動作時開き、閉動作時
閉じる開閉弁(22)を介装していることを特徴とする
冷熱衝撃試験装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP29711888A JPH02143138A (ja) | 1988-11-24 | 1988-11-24 | 冷熱衝撃試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP29711888A JPH02143138A (ja) | 1988-11-24 | 1988-11-24 | 冷熱衝撃試験装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH02143138A true JPH02143138A (ja) | 1990-06-01 |
Family
ID=17842445
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP29711888A Pending JPH02143138A (ja) | 1988-11-24 | 1988-11-24 | 冷熱衝撃試験装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH02143138A (ja) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001066237A (ja) * | 1999-08-26 | 2001-03-16 | Tabai Espec Corp | 冷熱衝撃試験装置の省エネ制御方法 |
JP2007183126A (ja) * | 2006-01-05 | 2007-07-19 | Espec Corp | 熱疲労評価方法、並びに、熱疲労評価装置 |
JP2010271233A (ja) * | 2009-05-22 | 2010-12-02 | Espec Corp | 環境試験装置 |
KR101245941B1 (ko) * | 2005-12-29 | 2013-03-21 | 두산인프라코어 주식회사 | 와류 방지 커버가 구비된 마그네틱 컨베이어 |
CN103439993A (zh) * | 2013-07-09 | 2013-12-11 | 广州国技试验仪器有限公司 | 加热通道和制冷通道共用鼓风电机的试验箱 |
-
1988
- 1988-11-24 JP JP29711888A patent/JPH02143138A/ja active Pending
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001066237A (ja) * | 1999-08-26 | 2001-03-16 | Tabai Espec Corp | 冷熱衝撃試験装置の省エネ制御方法 |
KR101245941B1 (ko) * | 2005-12-29 | 2013-03-21 | 두산인프라코어 주식회사 | 와류 방지 커버가 구비된 마그네틱 컨베이어 |
JP2007183126A (ja) * | 2006-01-05 | 2007-07-19 | Espec Corp | 熱疲労評価方法、並びに、熱疲労評価装置 |
JP2010271233A (ja) * | 2009-05-22 | 2010-12-02 | Espec Corp | 環境試験装置 |
CN103439993A (zh) * | 2013-07-09 | 2013-12-11 | 广州国技试验仪器有限公司 | 加热通道和制冷通道共用鼓风电机的试验箱 |
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