JPH02141926A - 磁気記録媒体の製造方法 - Google Patents
磁気記録媒体の製造方法Info
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- JPH02141926A JPH02141926A JP63294911A JP29491188A JPH02141926A JP H02141926 A JPH02141926 A JP H02141926A JP 63294911 A JP63294911 A JP 63294911A JP 29491188 A JP29491188 A JP 29491188A JP H02141926 A JPH02141926 A JP H02141926A
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Landscapes
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- Manufacturing Of Magnetic Record Carriers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は磁気テープ等に使用して有効な磁気記録媒体の
製造方法に関するものである。
製造方法に関するものである。
従来の技術
近年、磁気記録技術の発展はめざましく、記録密度の向
上、とりわけ装置の小型化、高性能化。
上、とりわけ装置の小型化、高性能化。
多機能化に於ける進歩は著しく、この傾向は今後も続X
ことが予測され、重要な要素である磁気メディアは薄膜
磁気記録層、垂直磁化薄膜の採用に向って改良が進めら
れている。
ことが予測され、重要な要素である磁気メディアは薄膜
磁気記録層、垂直磁化薄膜の採用に向って改良が進めら
れている。
垂直磁化薄膜はCo−0r スパッタ膜に代表され、
Ni−FeとCo−0rのいわゆる積層二層媒体と単磁
極ヘッドの組み合わせでは、680KFRPIの記録再
生が報告され〔アイイーイーイートランザクションズオ
ンマグネティクス(IEEETRANSACTIONS
ON MAGNETIC3)vol、MAG−2
3,A5 2072(1987))るに至っている一方
、Go−Cr−Nb単層膜とリンクヘッドの既存のイン
ターフェース技術によっての高密度化も確認され〔特開
昭61−77128号公報〕号公報への期待が高まって
きている。
Ni−FeとCo−0rのいわゆる積層二層媒体と単磁
極ヘッドの組み合わせでは、680KFRPIの記録再
生が報告され〔アイイーイーイートランザクションズオ
ンマグネティクス(IEEETRANSACTIONS
ON MAGNETIC3)vol、MAG−2
3,A5 2072(1987))るに至っている一方
、Go−Cr−Nb単層膜とリンクヘッドの既存のイン
ターフェース技術によっての高密度化も確認され〔特開
昭61−77128号公報〕号公報への期待が高まって
きている。
実用化にあたって今日重要なテーマは、耐久性に優れ、
記録性能の良好な磁気ディスク、@気テープ等の磁気記
録媒体を再現よく、高速で製造する技術の確立であると
いえる。かかる事情に鑑み、電子ビーム蒸着技術〔アイ
イーイーイー トランザクションズオンマグネティクス
(IEEK TRANSAC−TIONS ON
M人GNICTIC3)vol、MA−23As 2
449(1987))スパッタリング法〔同誌2443
頁(198γ)〕が中心に検討されている。
記録性能の良好な磁気ディスク、@気テープ等の磁気記
録媒体を再現よく、高速で製造する技術の確立であると
いえる。かかる事情に鑑み、電子ビーム蒸着技術〔アイ
イーイーイー トランザクションズオンマグネティクス
(IEEK TRANSAC−TIONS ON
M人GNICTIC3)vol、MA−23As 2
449(1987))スパッタリング法〔同誌2443
頁(198γ)〕が中心に検討されている。
発明が解決しようとする課題
しかしながら、スパッタリング法や電子ビーム蒸着法で
満足な記録再生特性を有するGo−Or垂直磁化膜等の
垂直磁化膜を形成するには、ベースフィルムの温度を2
00C程度にする必要がある。この条件は、汎用性の高
いポリエチレンテレフタレートフィルム等のポリエステ
ルフィルムを用いて磁気記録媒体を製造できないことに
なり、経済性と性能の両面で優れたポリエステルフィル
ムが使用可能となる製造方法を見い出すことは重要な課
題である。
満足な記録再生特性を有するGo−Or垂直磁化膜等の
垂直磁化膜を形成するには、ベースフィルムの温度を2
00C程度にする必要がある。この条件は、汎用性の高
いポリエチレンテレフタレートフィルム等のポリエステ
ルフィルムを用いて磁気記録媒体を製造できないことに
なり、経済性と性能の両面で優れたポリエステルフィル
ムが使用可能となる製造方法を見い出すことは重要な課
題である。
本発明は上記した事情に鑑みなされたもので、低温で高
性能な垂直磁化膜を形成する方法を提供するものである
。
性能な垂直磁化膜を形成する方法を提供するものである
。
課題を解決するための手段
上記した課題を解決するため、本発明の磁気記録媒体の
製造方法は、CO系合金垂直磁化膜の形成時にKr又は
Xeの多価イオン照射を行うようにしたものである。
製造方法は、CO系合金垂直磁化膜の形成時にKr又は
Xeの多価イオン照射を行うようにしたものである。
作用
本発明の磁気記録媒体の製造方法は上記した構成により
、活性なKr又はXsイオンが、CO系合金垂直磁化膜
のり、c、P、結晶配向性の改善を行い、多価イオンで
あることから、照射密度を増大させなくても、電子を集
める作用が大きく、この点でも低温結晶成長を促進する
ことになり、磁、気記録膜として雑音レベルを改善でき
、C/Nを増大せしめることが可能になる。
、活性なKr又はXsイオンが、CO系合金垂直磁化膜
のり、c、P、結晶配向性の改善を行い、多価イオンで
あることから、照射密度を増大させなくても、電子を集
める作用が大きく、この点でも低温結晶成長を促進する
ことになり、磁、気記録膜として雑音レベルを改善でき
、C/Nを増大せしめることが可能になる。
実施例
以下、図面を参照しながら本発明の実施例について説明
する。図は本発明の製造方法によって製造される磁気記
録媒体の拡大断面図である。
する。図は本発明の製造方法によって製造される磁気記
録媒体の拡大断面図である。
図で1はポリエチレンテレフタレート、ポリエチレンナ
フタレート等のポリエステルフィルムであるが、後述す
る作用効果は他のポリフェニレンサルファイド、ポリア
ミド等の使用に於ても同様に得られるものであるから、
その使用を特に阻むものではない。2はτi02.Ca
CO3,5in2゜CdO,ZnO等の微粒子やミミズ
状の隆起によって形成される微細な突起群で主として耐
久性向上目的で配すものであるから、保護膜のみの耐久
性で十分な場合はなくしてもよい。3はGo−Or。
フタレート等のポリエステルフィルムであるが、後述す
る作用効果は他のポリフェニレンサルファイド、ポリア
ミド等の使用に於ても同様に得られるものであるから、
その使用を特に阻むものではない。2はτi02.Ca
CO3,5in2゜CdO,ZnO等の微粒子やミミズ
状の隆起によって形成される微細な突起群で主として耐
久性向上目的で配すものであるから、保護膜のみの耐久
性で十分な場合はなくしてもよい。3はGo−Or。
Co−Ti 、Co−Ta 、Co−W、Go−Mo
。
。
Go−Ru、Co−0r−Nb等のCo系合金垂直磁化
躾で、チタン、S=、Go等の下地層を介して形成して
もよい。Co 系合金垂直磁化膜の形成は、電子ビーム
蒸着法、イオンプ、レーティング法、スパッタリング法
等のいずれかと、Kr又はXs の多価イオン照射を
組み合わせて実施されるもので、イオン密度は成膜速度
を100(入/!!610)〜16、ooo(人/5e
a)の範囲では、成膜速度の1/103〜1/105(
μム/i)でよく、加速電圧は、Co系合金膜に照射さ
れる状態でのエネルギーが10〜500(6マ)が好ま
しい。Kr。
躾で、チタン、S=、Go等の下地層を介して形成して
もよい。Co 系合金垂直磁化膜の形成は、電子ビーム
蒸着法、イオンプ、レーティング法、スパッタリング法
等のいずれかと、Kr又はXs の多価イオン照射を
組み合わせて実施されるもので、イオン密度は成膜速度
を100(入/!!610)〜16、ooo(人/5e
a)の範囲では、成膜速度の1/103〜1/105(
μム/i)でよく、加速電圧は、Co系合金膜に照射さ
れる状態でのエネルギーが10〜500(6マ)が好ま
しい。Kr。
Xaの多価イオンの生成は、Br 、Iの放射性同位元
素がβ崩壊する時点で、生成されるものを利用するのが
好ましく、エネルギーをそろえるために、電磁界でフィ
ルターをかけてもよいが、10〜500(6マ)の範囲
になるように適当な電圧をかけて生成イオンを大部分利
用してもよい。多価イオンの価数としては、16価以上
が好ましい。
素がβ崩壊する時点で、生成されるものを利用するのが
好ましく、エネルギーをそろえるために、電磁界でフィ
ルターをかけてもよいが、10〜500(6マ)の範囲
になるように適当な電圧をかけて生成イオンを大部分利
用してもよい。多価イオンの価数としては、16価以上
が好ましい。
4は保護潤滑層で、プラズマ重合膜、カーボン膜。
5102膜、MO82膜、we膜や脂肪酸、脂肪酸アミ
ド、パーフルオロポリエーテル等から選んで組み合わせ
ればよい。本発明はテープ状、ディスク状に応じて他の
公知の構成をとるのは自由である。
ド、パーフルオロポリエーテル等から選んで組み合わせ
ればよい。本発明はテープ状、ディスク状に応じて他の
公知の構成をとるのは自由である。
以下、更に具体的に得られた磁気記録媒体の性能比較で
本発明について比較例との対比で説明する。
本発明について比較例との対比で説明する。
実施例−1
厚み10μmのポリエチレンテレフタレートフィルム上
に直径90人のCr2O,微粒子を16ケ/(μm)2
配し、その上に直径60crn の円筒キャン(キャン
温度50’C)に沿わせて、Go−Cr(Co:sow
t%)を入射角6度以内、真空度: 3X10−6(T
orr)、蒸着速度eooo(人/ s e c )で
電子ビーム蒸着し、1900(入)の垂直磁化膜を形成
した。その際、放射性同位元素工がβ崩壊して得られる
Xsの多価イオンを照射した。イオンは、36価イオン
が24チ、36価イオンが67係、37価イオンが19
係含まれるもので、電流密度は0,3(μ人/crl’
)とし、加速電圧は90(V)とした。Go−Cr膜の
上にパーフルオロアラキン酸を0.9 (η/−)塗布
し、0.4(μm)のバックコート層を配し8ミリテー
プとした。
に直径90人のCr2O,微粒子を16ケ/(μm)2
配し、その上に直径60crn の円筒キャン(キャン
温度50’C)に沿わせて、Go−Cr(Co:sow
t%)を入射角6度以内、真空度: 3X10−6(T
orr)、蒸着速度eooo(人/ s e c )で
電子ビーム蒸着し、1900(入)の垂直磁化膜を形成
した。その際、放射性同位元素工がβ崩壊して得られる
Xsの多価イオンを照射した。イオンは、36価イオン
が24チ、36価イオンが67係、37価イオンが19
係含まれるもので、電流密度は0,3(μ人/crl’
)とし、加速電圧は90(V)とした。Go−Cr膜の
上にパーフルオロアラキン酸を0.9 (η/−)塗布
し、0.4(μm)のバックコート層を配し8ミリテー
プとした。
実施例−2
実施例−1で、Co−0rの蒸着速度を3600(人/
5ea)とし、放射性同位元素Brがβ崩壊して得られ
るKrの多価イオン〔20価イオンが15%21価イオ
ンが20係、22価イオンが37%、23価イオンが2
4%、24価イオン4チ〕を165(V)加速1.2(
μ人/cfI)照射で、照射した以外は同じ条件で8ミ
リテープを得た。
5ea)とし、放射性同位元素Brがβ崩壊して得られ
るKrの多価イオン〔20価イオンが15%21価イオ
ンが20係、22価イオンが37%、23価イオンが2
4%、24価イオン4チ〕を165(V)加速1.2(
μ人/cfI)照射で、照射した以外は同じ条件で8ミ
リテープを得た。
実施例−3
実施例−1でXsイオンを36価イオン0.2(μA/
1)Krイオンを22価イオyo、2μAを混合して1
20(V)で照射した以外は同じ条件で8ミリテーグを
得た。
1)Krイオンを22価イオyo、2μAを混合して1
20(V)で照射した以外は同じ条件で8ミリテーグを
得た。
比較例−1
実施例−1でイオン照射を行わずにGo−Cr蒸着を行
って、他は同じ条件で8ミリテープを得た。
って、他は同じ条件で8ミリテープを得た。
比較例−2
比較例−1で、Xeの1価のイオンを1(μ入/−)で
3 (K6V)で照射した以外は同じ条件で8ミリテー
プを得た。
3 (K6V)で照射した以外は同じ条件で8ミリテー
プを得た。
比較例−3
厚み10μmのポリイミドフィルムを用い、キャン温度
を210℃で、他は比較例−1と同じ条件で8ミリテー
プを得た。
を210℃で、他は比較例−1と同じ条件で8ミリテー
プを得た。
上記したテープを改造した8ミリビデオによりC/Nを
評価した。ギャップ長0.18μmのセンダストスパッ
タメタルインギャップ型ヘッドでビット長0.22μm
を記録再生し比較例−3を0(dB)とし特性比較した
結果は次の表のようであった。
評価した。ギャップ長0.18μmのセンダストスパッ
タメタルインギャップ型ヘッドでビット長0.22μm
を記録再生し比較例−3を0(dB)とし特性比較した
結果は次の表のようであった。
(以 下 余 白)
1・・・・・・ポリエステルフィルム、3・・・・・C
O系合金垂直磁化膜。
O系合金垂直磁化膜。
代理人の氏名 弁理士 粟 野 重 孝 ほか1名画比
較例−2との対比では、経時変化が実施例は小さく、そ
のことは同じ電流密度でも実際のKrやXeの原子数が
少くできることからきていると考えられるものである。
較例−2との対比では、経時変化が実施例は小さく、そ
のことは同じ電流密度でも実際のKrやXeの原子数が
少くできることからきていると考えられるものである。
発明の効果
以上のように本発明によれば、低温で垂直磁化膜を形成
することができ、良好な磁気記録媒体を製造できるとい
ったすぐれた効果がある。
することができ、良好な磁気記録媒体を製造できるとい
ったすぐれた効果がある。
図は本発明の製造方法により得ることのできる磁気記録
媒体の拡大断面図である。
媒体の拡大断面図である。
Claims (1)
- Co系合金垂直磁化膜の形成時に、Kr又はXeの多価
イオン照射を行うことを特徴とする磁気記録媒体の製造
方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63294911A JPH02141926A (ja) | 1988-11-22 | 1988-11-22 | 磁気記録媒体の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63294911A JPH02141926A (ja) | 1988-11-22 | 1988-11-22 | 磁気記録媒体の製造方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH02141926A true JPH02141926A (ja) | 1990-05-31 |
Family
ID=17813850
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63294911A Pending JPH02141926A (ja) | 1988-11-22 | 1988-11-22 | 磁気記録媒体の製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH02141926A (ja) |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS61273738A (ja) * | 1985-05-29 | 1986-12-04 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 磁気記録媒体の製造方法 |
-
1988
- 1988-11-22 JP JP63294911A patent/JPH02141926A/ja active Pending
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS61273738A (ja) * | 1985-05-29 | 1986-12-04 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 磁気記録媒体の製造方法 |
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