JPH0213836A - カム表面の検査装置 - Google Patents
カム表面の検査装置Info
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- JPH0213836A JPH0213836A JP16417888A JP16417888A JPH0213836A JP H0213836 A JPH0213836 A JP H0213836A JP 16417888 A JP16417888 A JP 16417888A JP 16417888 A JP16417888 A JP 16417888A JP H0213836 A JPH0213836 A JP H0213836A
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- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims abstract description 26
- 230000002950 deficient Effects 0.000 claims abstract description 17
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims description 3
- 238000000605 extraction Methods 0.000 abstract description 3
- 239000000284 extract Substances 0.000 abstract 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 9
- 239000002344 surface layer Substances 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
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- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、カム表面の検査装置に関し、更に詳し１くは
、カム表面の欠陥面積が所定の基準値未満か以上かによ
ってカム表面の良否を判定するカム表面の検査装置に関
する。
、カム表面の欠陥面積が所定の基準値未満か以上かによ
ってカム表面の良否を判定するカム表面の検査装置に関
する。
第６図に従来のカム表面の検査装置の一例を示す。
このカム表面の検査装置１１は、カムシャフトＳを所定
の位置、角度に保持するシャフト保持手段２と、カム表
面の画像を得るためのカメラ手段３と、前記シャフト保
持手段２およびカメラ手段３を制御してカム表面の検査
を行う処理手段１４とからなっている。
の位置、角度に保持するシャフト保持手段２と、カム表
面の画像を得るためのカメラ手段３と、前記シャフト保
持手段２およびカメラ手段３を制御してカム表面の検査
を行う処理手段１４とからなっている。
処理手段１４のシャフト位置手段１４１は、シャフト保
持手段２によりカムシャフトＳを移動して、検査対象と
なるカム表面をカメラ手段３の視野に入れる。これによ
り得られる画像は、例えば第７図ｉａ＋のようになる。
持手段２によりカムシャフトＳを移動して、検査対象と
なるカム表面をカメラ手段３の視野に入れる。これによ
り得られる画像は、例えば第７図ｉａ＋のようになる。
欠陥は暗部ａのようになっている。
処理手段１４の検査手段１４ａは、画像中の暗部ａの面
積を算出し、所定の基準値と比較して、暗部ａの面積が
基準値未満のときはカム表面を良と判定し、基準値以上
のときはカム表面を不良と判定する。
積を算出し、所定の基準値と比較して、暗部ａの面積が
基準値未満のときはカム表面を良と判定し、基準値以上
のときはカム表面を不良と判定する。
上記従来のカム表面の検査装置１１において、例えば第
７図（ｂｌに示すように、暗部すの面積が所定の基準値
よりも小さな面積であると、このカム表面は良と判定さ
れる。つまり、このような小さな欠陥は許容される。
７図（ｂｌに示すように、暗部すの面積が所定の基準値
よりも小さな面積であると、このカム表面は良と判定さ
れる。つまり、このような小さな欠陥は許容される。
ところが、第７図（Ｃ１に示すように、許容しうる程度
の小さな欠陥すでも、複数個存在すると、総和の面積が
所定の基準値よりも大きくなるため、カム表面不良と判
定されてしまう問題点がある。
の小さな欠陥すでも、複数個存在すると、総和の面積が
所定の基準値よりも大きくなるため、カム表面不良と判
定されてしまう問題点がある。
従って、本発明の目的とするところは、許容しろる程度
の小さな欠陥が複数存在しても、大きな欠陥が存在しな
ければ、カム表面層と判定できるようにしたカム表面の
検査装置を提供することにある。
の小さな欠陥が複数存在しても、大きな欠陥が存在しな
ければ、カム表面層と判定できるようにしたカム表面の
検査装置を提供することにある。
本発明のカム表面の検査装置は、カム表面の画像を得る
撮像手段と、画像を横または縦方向に分割して許容でき
ない欠陥の最小径と略等しい区画幅をもつ複数の区画を
設定する区画設定手段と、隣接する２区画において欠陥
面積を検出して全ての隣接する２区画について基準値未
満ならカム表面層と判定し一つの隣接する２区画でも所
定の基準値以上ならカム表面不良と判定する検査手段を
具備してなることを構成上の特徴とするものである。
撮像手段と、画像を横または縦方向に分割して許容でき
ない欠陥の最小径と略等しい区画幅をもつ複数の区画を
設定する区画設定手段と、隣接する２区画において欠陥
面積を検出して全ての隣接する２区画について基準値未
満ならカム表面層と判定し一つの隣接する２区画でも所
定の基準値以上ならカム表面不良と判定する検査手段を
具備してなることを構成上の特徴とするものである。
本発明のカム表面の検査装置では、許容できない欠陥の
最小径と略等しい幅の区画に分けて、隣接する２区画毎
に別個に欠陥の検査を行うから、小さな欠陥が加算され
て大きな欠陥とみなされることが防止される。
最小径と略等しい幅の区画に分けて、隣接する２区画毎
に別個に欠陥の検査を行うから、小さな欠陥が加算され
て大きな欠陥とみなされることが防止される。
他方、区画化すると、大きな欠陥が分割されて小さな欠
陥に見えることがあるが、隣接する２区画において検査
を行うから、かかる欠陥の分割による見逃しを防止でき
る。
陥に見えることがあるが、隣接する２区画において検査
を行うから、かかる欠陥の分割による見逃しを防止でき
る。
以下、図に示す実施例に基づいて本発明を更に詳しく説
明する。ここに第１図は本発明の一実施例のカム表面の
検査装置の構成模式図、第２図は第１図に示す実施例装
置の作動のフローチャート、第３図は小さな複数の欠陥
と区画の関係を示す概念図、第４図および第５図は大き
な欠陥と区画の関係を示す概念図である。なお、図に示
す実施例により本発明が限定されるものではない。
明する。ここに第１図は本発明の一実施例のカム表面の
検査装置の構成模式図、第２図は第１図に示す実施例装
置の作動のフローチャート、第３図は小さな複数の欠陥
と区画の関係を示す概念図、第４図および第５図は大き
な欠陥と区画の関係を示す概念図である。なお、図に示
す実施例により本発明が限定されるものではない。
第１図に示すカム表面の検査装置１は、シャフト保持手
段２と、カメラ手段３と、処理手段４とからなっている
。
段２と、カメラ手段３と、処理手段４とからなっている
。
シャフト保持手段２は、カムシャフトＳを保持し、軸方
向（りに移動すると共に、回転方向１ｒｌに回転し、検
査対象となるカム表面をカメラ手段３の視野中に入れる
。
向（りに移動すると共に、回転方向１ｒｌに回転し、検
査対象となるカム表面をカメラ手段３の視野中に入れる
。
カメラ手段３は、例えばＣＯＤカメラであり、カム表面
のＩｉ像信号を処理手段４に出力する。
のＩｉ像信号を処理手段４に出力する。
処理手段４は、マイクロコンビエータを中枢トするもの
で、第２図に示すように作動する。
で、第２図に示すように作動する。
まず、ステップＳ１では、画像を分割して１つの区画Ｄ
１における欠陥面積ＡＩを検出する。
１における欠陥面積ＡＩを検出する。
この区画は、例えば第３図に示すように、画像を所定の
高さ毎に縦方向に分割して形成されるもので、所定の高
さとしては、許容できない欠陥の最小径とほぼ等しい値
が選択される。
高さ毎に縦方向に分割して形成されるもので、所定の高
さとしては、許容できない欠陥の最小径とほぼ等しい値
が選択される。
次に、ステップＳ２では、前記区画Ｄ１に１Ｉｌｌｔ接
する区画Ｄ２での欠陥面積Ａ２を検出する。
する区画Ｄ２での欠陥面積Ａ２を検出する。
次いで、ステップＳ３において、隣接する２区画Ｄ１．
Ｄ２の欠陥面積Ａ１＋Ａ２が所定の基準値に以上か否か
をチエツクする。この基準値にとしては許容できない欠
陥の嵌小面積が選択される。
Ｄ２の欠陥面積Ａ１＋Ａ２が所定の基準値に以上か否か
をチエツクする。この基準値にとしては許容できない欠
陥の嵌小面積が選択される。
隣接する２区画ＤＩ、Ｄ２における欠陥面積Ａ１十Ａ２
が所定の基準値に以上なら、カム表面不良と判定する（
Ｓ３）。
が所定の基準値に以上なら、カム表面不良と判定する（
Ｓ３）。
他方、隣接する２区画Ｄｉ、Ｄ２での欠陥面積Ａ１＋Ａ
２が所定の基準値に未満であれば、上記区画Ｄ２に隣接
する区画Ｄ３での欠陥面積Ａ３を検出する（Ｓ４）。
２が所定の基準値に未満であれば、上記区画Ｄ２に隣接
する区画Ｄ３での欠陥面積Ａ３を検出する（Ｓ４）。
そして、隣接する２区画Ｄ２．Ｄ３における欠陥面積Ａ
２＋Ａ３が所定の基準値に以上か否かをチエツクする。
２＋Ａ３が所定の基準値に以上か否かをチエツクする。
基準値に以上であれば、カム表面不良と判定する（３５
）。
）。
一方、隣接する２区画Ｄ２．Ｄ３の欠陥面積Ａ２＋Ａ３
が所定の基準値に未満であれば、次に区画Ｄ３に隣接す
る区画Ｄ４について欠陥面積Ａ４を検出し、隣接する２
区画Ｄ３．Ｄ４について上記と同様の判定を行う。
が所定の基準値に未満であれば、次に区画Ｄ３に隣接す
る区画Ｄ４について欠陥面積Ａ４を検出し、隣接する２
区画Ｄ３．Ｄ４について上記と同様の判定を行う。
以下同様にして、最後から１つ前の区画Ｄ５と最後の区
画Ｄ６の隣接する２区画において判定が行われ（Ｓｌｌ
）、全ての隣接する２区画についての欠陥面積が所定の
基準値に未満であれば、カム表面良と判定する（Ｓｌｌ
）。
画Ｄ６の隣接する２区画において判定が行われ（Ｓｌｌ
）、全ての隣接する２区画についての欠陥面積が所定の
基準値に未満であれば、カム表面良と判定する（Ｓｌｌ
）。
以上の作動について具体例を当てはめたものを第３図、
第４図および第５図に示す。
第４図および第５図に示す。
第４図は許容しうる程度の小さな欠陥部分が複数個ある
場合で、画像全面の検査では第７図（ｃｌを参照して説
明したように欠陥面積が所定の基準値に以上となるから
、従来装置ではカム表面不良と判定されてしまう、とこ
ろが、この発明の実施例装置１によれば、隣接する２区
画についての検査が延べ５回が行われるが、何れにおい
ても欠陥面積が基準値に未満となるので、カム表面良と
判定される。
場合で、画像全面の検査では第７図（ｃｌを参照して説
明したように欠陥面積が所定の基準値に以上となるから
、従来装置ではカム表面不良と判定されてしまう、とこ
ろが、この発明の実施例装置１によれば、隣接する２区
画についての検査が延べ５回が行われるが、何れにおい
ても欠陥面積が基準値に未満となるので、カム表面良と
判定される。
第４図および第５図は許容できない欠陥の最小径のもの
が存在する場合であり、第４図の場合には隣接する２区
画Ｄ２．Ｄ３における検査によってカム表面不良と判定
される。また、第５図における場合には、隣接する２区
画Ｄ３とＤ４における検査においてカム表面不良と判定
される。隣接する２区画を検査の単位とするので、第５
図に示すような２区画に跨がる欠陥を見逃すのを防止で
きる。。
が存在する場合であり、第４図の場合には隣接する２区
画Ｄ２．Ｄ３における検査によってカム表面不良と判定
される。また、第５図における場合には、隣接する２区
画Ｄ３とＤ４における検査においてカム表面不良と判定
される。隣接する２区画を検査の単位とするので、第５
図に示すような２区画に跨がる欠陥を見逃すのを防止で
きる。。
なお、第１図に示す区画設定手段４トは、上記区画Ｄ１
〜Ｄ６を設定するための手段であり、隣接２区画抽出手
段４．は、順次検査を行っていく隣接する２区画を選択
するための手段である。
〜Ｄ６を設定するための手段であり、隣接２区画抽出手
段４．は、順次検査を行っていく隣接する２区画を選択
するための手段である。
このようにして、上記カム表面の検査装置１では、無視
しうる程度の小さな欠陥が複数個あった場合にカム表面
不良と誤って判断することを防止できるようになる。
しうる程度の小さな欠陥が複数個あった場合にカム表面
不良と誤って判断することを防止できるようになる。
本発明によれば、カム表面の画像を得る撮像手段と、画
像を横または縦方向に分割して許容できない欠陥の最小
径と略等しい区画幅をもつ複数の区画を設定する区画設
定手段と、隣接する２区画において欠陥面積を検出して
全ての隣接する２区画について基準値未満ならカム表面
良と判定し一つの隣接する２区画でも所定の基準値以上
ならカム表面不良と判定する検査手段を具備してなるこ
とを特徴とするカム表面の検査装置が提供され、これに
より大きな面積の欠陥がある場合と小さな面積の欠陥が
複数個ある場合とを弁別して検査できるから、大きな面
積の欠陥がある場合だけをカム表面不良と判定できるよ
うになる。
像を横または縦方向に分割して許容できない欠陥の最小
径と略等しい区画幅をもつ複数の区画を設定する区画設
定手段と、隣接する２区画において欠陥面積を検出して
全ての隣接する２区画について基準値未満ならカム表面
良と判定し一つの隣接する２区画でも所定の基準値以上
ならカム表面不良と判定する検査手段を具備してなるこ
とを特徴とするカム表面の検査装置が提供され、これに
より大きな面積の欠陥がある場合と小さな面積の欠陥が
複数個ある場合とを弁別して検査できるから、大きな面
積の欠陥がある場合だけをカム表面不良と判定できるよ
うになる。
第１図は本発明の一実施例のカム表面の検査装置の構成
模式図、第２図は第１図に示す実施例装置の作動のフロ
ーチャート、第３図は小さな複数の欠陥と区画の関係を
示す概念図、第４図および第５図は大きな欠陥と区画の
関係を示す概念図、第６図は従来のカム表面の検査装置
の一例の構成模式図、第７図（ａｌは画像中における大
きな欠陥部分を示す概念図、第７図（ｂｌは画像中にお
ける小さな欠陥部分を示すｍ１′＆図、第７図（（＋１
は画像中における複数の小さな欠陥を示す概念図である
。 〔符号の説明〕 ■・・・カム表面の検査装置 ２・・・シャフト保持手段 ３・・・カメラ手段 ４・・・処理手段 ４、・・・シャフト位置手段 ４ｂ・・・区画設定手段 ４ｃ・・・隣接２区画抽出手段 ４Ｊ・・・検査手段。 出願人 ダイハツ工業株式会社
模式図、第２図は第１図に示す実施例装置の作動のフロ
ーチャート、第３図は小さな複数の欠陥と区画の関係を
示す概念図、第４図および第５図は大きな欠陥と区画の
関係を示す概念図、第６図は従来のカム表面の検査装置
の一例の構成模式図、第７図（ａｌは画像中における大
きな欠陥部分を示す概念図、第７図（ｂｌは画像中にお
ける小さな欠陥部分を示すｍ１′＆図、第７図（（＋１
は画像中における複数の小さな欠陥を示す概念図である
。 〔符号の説明〕 ■・・・カム表面の検査装置 ２・・・シャフト保持手段 ３・・・カメラ手段 ４・・・処理手段 ４、・・・シャフト位置手段 ４ｂ・・・区画設定手段 ４ｃ・・・隣接２区画抽出手段 ４Ｊ・・・検査手段。 出願人 ダイハツ工業株式会社
Claims (1)
- １、カム表面の画像を得る撮像手段と、画像を横または
縦方向に分割して許容できない欠陥の最小径と略等しい
区画幅をもつ複数の区画を設定する区画設定手段と、隣
接する２区画において欠陥面積を検出して全ての隣接す
る２区画について基準値未満ならカム表面良と判定し一
つの隣接する２区画でも所定の基準値以上ならカム表面
不良と判定する検査手段を具備してなることを特徴とす
るカム表面の検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16417888A JPH0820369B2 (ja) | 1988-06-30 | 1988-06-30 | カム表面の検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16417888A JPH0820369B2 (ja) | 1988-06-30 | 1988-06-30 | カム表面の検査装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0213836A true JPH0213836A (ja) | 1990-01-18 |
| JPH0820369B2 JPH0820369B2 (ja) | 1996-03-04 |
Family
ID=15788199
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP16417888A Expired - Fee Related JPH0820369B2 (ja) | 1988-06-30 | 1988-06-30 | カム表面の検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0820369B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH05180777A (ja) * | 1991-12-27 | 1993-07-23 | Japan Tobacco Inc | 円筒形物体の外観検査装置 |
| WO2012127657A1 (ja) * | 2011-03-23 | 2012-09-27 | トヨタ自動車株式会社 | ワークの欠陥検出装置 |
-
1988
- 1988-06-30 JP JP16417888A patent/JPH0820369B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH05180777A (ja) * | 1991-12-27 | 1993-07-23 | Japan Tobacco Inc | 円筒形物体の外観検査装置 |
| WO2012127657A1 (ja) * | 2011-03-23 | 2012-09-27 | トヨタ自動車株式会社 | ワークの欠陥検出装置 |
| CN103460028A (zh) * | 2011-03-23 | 2013-12-18 | 丰田自动车株式会社 | 工件的缺陷检测装置 |
| JP5655936B2 (ja) * | 2011-03-23 | 2015-01-21 | トヨタ自動車株式会社 | ワークの欠陥検出装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0820369B2 (ja) | 1996-03-04 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |