JPH02137321A - 半導体ウェーハの洗浄装置 - Google Patents

半導体ウェーハの洗浄装置

Info

Publication number
JPH02137321A
JPH02137321A JP29170988A JP29170988A JPH02137321A JP H02137321 A JPH02137321 A JP H02137321A JP 29170988 A JP29170988 A JP 29170988A JP 29170988 A JP29170988 A JP 29170988A JP H02137321 A JPH02137321 A JP H02137321A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
inlet
center
cleaning
semiconductor wafer
tank
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP29170988A
Other languages
English (en)
Inventor
Asako Murai
村井 朝子
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
Priority to JP29170988A priority Critical patent/JPH02137321A/ja
Publication of JPH02137321A publication Critical patent/JPH02137321A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Cleaning By Liquid Or Steam (AREA)
  • Cleaning Or Drying Semiconductors (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は半導体ウェーハの洗浄装置に関する。
〔従来の技術〕
第3図(a) 、 (b) 、 (c)に従来の洗浄装
置を示す。
図において、1は半導体ウェーハ、2はキャリア、3は
内槽、4は外槽、5は洗浄液の流入口、6は振動板、7
は発振器である。従来装置では半導体ウェーハ1をキャ
リア2に収納してこれを内WI3に浸漬させ、流入口5
からの洗浄液を振動板6にて加振させて半導体ウェーハ
1の洗浄を行つていた。
〔発明が解決しようとする課題〕
上述した従来の洗浄装置は、発振板6が長方形で、図に
示したように内槽3の底面の中央に設けられており、従
って、洗浄液の流入口5は隅に寄せて設けられていたた
め、流入口5から流れこんだ洗浄液の勢いは半導体ウェ
ーハ1に到達するまでに衰えてしまい、洗浄の効果を十
分にあげることができなかった。
本発明の目的は前記課題を解決した半導体つ工−ハの洗
浄装置を提供することにある。
〔発明の従来技術に対する相違点〕
上述した従来の半導体ウェーハの洗浄装置に対し、本発
明の半導体ウェーハのメガソニック洗浄装置は、洗浄液
の流入口と振動板との関係位置を改善することにより洗
浄効率を高めるという相違点を有する。
〔課題を解決するための手段〕
前記目的を達成するため、本発明に係る半導体ウェーハ
の洗浄装置においては、半導体ウエーハを浸漬させる洗
浄槽の底部中央に洗浄液の流入口を有し、該流入口を中
心としてその口縁周囲に振動板を配置したものである。
〔実施例〕
次に本発明を実施例により説明する。
(実施例1) 第1図(a)〜(d)は本発明の一実施例を示す図であ
る。
図において、1は半導体ウェーハ、2はキャリア、3は
内槽、4は外槽、5は洗浄液の流入口、6a、6bは振
動板、7は発振器、8は排出口である0本発明は洗浄液
の流入「15を内槽3の半導体ウェーハ1の直下に位置
する底部中央に設り、振動板6aの形状を扇形とし、こ
れを流入口5を中心としてその周囲に円環状に配列した
ものである。
本発明によれば、槽底部中央の流入口5から洗浄液が槽
内に噴射され、その際発振器7により振動板6aが加振
され、そのメガソニックの加速度効果により半導体ウェ
ーハ1の表面から剥がれたゴミが、洗浄液の勢いで運び
去られ、効率の良い洗浄が実行される。実験の結果、ゴ
ミの除去効果を10%以上向上することができた。振動
板の形状は、振動板6aのような扇形の他に、第1図(
d)に示す振動板6bのように長方形で構成することも
できる。
(実施例2) 第2図(a) 、 (b)は本発明の他の実施例を示す
図である。
本実施例は振動板6を円環形とし、これを内外2重の円
環状に配置し、その中央に洗浄液の流入口らを配設した
ものである。本実施例によれば、振動板6が内外2重の
円環になっているので、メガソニックを照射したい領域
によって動作範囲を変えることができるという利点があ
る。
〔発明の効果〕
以上説明したように本発明は、半導体ウェーハのメガソ
ニック洗浄装置において、洗浄液の流入口を内槽の中央
に設け、洗浄液の流入口を中心として周囲に振動板を配
置することにより、流入口から吹き出した液の勢いを衰
えさせることなく、洗浄を行うことができ、ゴミの除去
効果を向上することができるという効果を有する。
【図面の簡単な説明】
第1図(a)は本発明の一実施例を示す斜視図、(b)
は振動板と発振器との関係を示す図、(C)。 (d)は振動板の配置例を示す図、第2図(a)は本発
明の他の実施例における振動板の配置を示す図、(b)
は振動板と発振器との関係を示す図、第3図(a)は従
来の半導体ウェーハの洗浄rt置を示す図、(b)は振
動板の配置を示す図、(C)は振動板と発振器との関係
を示す図である。 1・・・半導体ウェーハ  2・・・キャリア3・・・
内槽       4・・・外槽5・・・洗浄液の流入
口  6・・・振動板7・・・発振器      8・
・・排出口・戊ヤ 墓 (b) (C) 第1図 (d) 第2図 (’d) (b) (C) 第3図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)半導体ウェーハを浸漬させる洗浄槽の底部中央に
    洗浄液の流入口を有し、該流入口を中心としてその口縁
    周囲に振動板を配置したことを特徴とする半導体ウェー
    ハの洗浄装置。
JP29170988A 1988-11-18 1988-11-18 半導体ウェーハの洗浄装置 Pending JPH02137321A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP29170988A JPH02137321A (ja) 1988-11-18 1988-11-18 半導体ウェーハの洗浄装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP29170988A JPH02137321A (ja) 1988-11-18 1988-11-18 半導体ウェーハの洗浄装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH02137321A true JPH02137321A (ja) 1990-05-25

Family

ID=17772384

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP29170988A Pending JPH02137321A (ja) 1988-11-18 1988-11-18 半導体ウェーハの洗浄装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH02137321A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012009507A (ja) * 2010-06-22 2012-01-12 Honda Electronic Co Ltd 超音波基板処理ユニット及び超音波基板処理装置
KR20180122554A (ko) * 2017-05-03 2018-11-13 램 리써치 코포레이션 컨디셔닝 챔버 컴포넌트

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012009507A (ja) * 2010-06-22 2012-01-12 Honda Electronic Co Ltd 超音波基板処理ユニット及び超音波基板処理装置
KR20180122554A (ko) * 2017-05-03 2018-11-13 램 리써치 코포레이션 컨디셔닝 챔버 컴포넌트

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH0855827A (ja) ウェーハカセットおよびこれを使用した洗浄装置
JPH02137321A (ja) 半導体ウェーハの洗浄装置
JPH0964000A (ja) ドライ洗浄装置
JPH0234923A (ja) 超音波洗浄装置
JP2000021840A (ja) 半導体ウェハのスピン枚葉処理装置
JPS6336534A (ja) 洗浄装置
TWI220393B (en) Ultrasonic cleaning module
JPH0581314B2 (ja)
CN112371645A (zh) 声波清洗装置及晶圆清洗设备
JP3005358U (ja) ろ過器
JP3288313B2 (ja) 超音波洗浄装置およびこれを用いた洗浄乾燥装置
TW558760B (en) Carrier for cleaning silicon wafers
JP2003163195A (ja) 基板処理装置
JP2643150B2 (ja) バー型洗浄ノズル
JP3056068B2 (ja) 洗浄装置
JP2000294528A (ja) 洗浄装置および洗浄方法
JPH03258381A (ja) 超音波洗浄機
JPH0691064B2 (ja) 洗浄装置
JPH0513396A (ja) 半導体装置の洗浄方法
JPS6396925A (ja) ウエハの清浄化処理装置
JPH04247276A (ja) 超音波洗浄装置
KR940005503B1 (ko) 웨이퍼 세척방법 및 그 장치
JP2571198Y2 (ja) 洗浄用超音波振動体
JPH0697113A (ja) 真空処理装置
JPH0368482A (ja) 超音波洗浄装置