JPH02137246A - 電源配線方法と電源配線検証方法 - Google Patents

電源配線方法と電源配線検証方法

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JPH02137246A
JPH02137246A JP63291180A JP29118088A JPH02137246A JP H02137246 A JPH02137246 A JP H02137246A JP 63291180 A JP63291180 A JP 63291180A JP 29118088 A JP29118088 A JP 29118088A JP H02137246 A JPH02137246 A JP H02137246A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
power supply
functional block
supply wiring
wiring
same potential
Prior art date
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Pending
Application number
JP63291180A
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English (en)
Inventor
Ryuichi Yamaguchi
龍一 山口
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Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Publication date
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  • Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
  • Design And Manufacture Of Integrated Circuits (AREA)
  • Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、LSIチップ及びプリント基板に配置された
機能ブロック上の同電位で複数の給電点と同電位で複数
の電源入出力パッド間の電源配線を行なう電源配線方法
と、機能ブロックに接続された電源配線の電流値の検証
および電源配線と機能ブロックとの接続を検証する機能
を備えた電源配線検証方法に関する。
従来の技術 機能ブロックに電源を供給するために、外部から電源を
取り入れる入出力パッドと機能ブロックの給電点とを接
続する電源配線を行なう。電源配線の経路を決定する方
法としては、例えば給電点と電源入出力パッド間を最短
経路法により経路探索する方法がある。この方法は給電
点と電源入出力パッド間の最短経路を求める方法である
が、同電位に配線される給電点が1個の機能ブロック上
に2個以上存在し、さらに同電位の電源入出力パッドが
2個以上同−チツブ内に存在していた場合、機能ブロッ
クと入出力パッドの配置状態によっては同一ブロックの
同電位の給電点に接続される入出力パッドが複数になる
場合がある。この場合は、素子の動作特性に悪影響を与
えるのを避けるために、同一のブロック上の同電位の給
電点については同一の入出力端子に接続するように人手
により配線経路を修正する。
また、機能ブロックに供給する電源は、機能ブロックに
より消費電流量及び電圧値が異なる。そのため、電源配
線は接続する機能ブロックに見合った電流容量と電圧を
持つ配線を与える必要がある。電流容量については、電
源配線を流れる電流量に見合った配線巾を持つことが必
要であり、許容量以上の電流が定常的に流れる場合には
金属のエレクトロ・マイグレーションにより配線の劣化
が起こりやすくなる。また、機能ブロックの給電点は指
定された電源入出力パッドと電源配線により接続されて
いなければならない。従来、電源配線検証方法としては
レイアウトデータを目視によって検査するかあるいは目
視検査に回路シミュレータを併用して検査を行なう方法
がある。
目視による検査は次の手順により実現される。
(1)レイアウト図から、機能ブロックの消費電流と電
源配線を流れる電流値を計算する。
(2)求められた電流値から電源配線の巾が十分である
かをレイアウト図を目視で検査することにより判断する
回路シミュレータを併用した場合では(1)の部分を回
路シミュレータにより行なう。
発明が解決しようとする課題 上記のように電源配線において機能ブロックの給電点と
電源入出力パッドが複数存在した場合では、自動レイア
ウト処理に人手による作業が介在するため、作業の一貫
性および作業の間違いと作業にかかる時間が問題点にな
る。また、電源配線を目視あるいは回路シミュレータを
併用して検査した場合では、電源配線のパターンと流れ
る電流との対応がつきに(いという問題点と、電源配線
の許容電流容量が認識しに(いという問題点と、電源配
線が局所的に細くなってても認識しにくいという問題点
を有している。
本発明はこのような点を考慮し、LSIチップ及びプリ
ント基板に配置された機能ブロック上の同電位で複数の
給電点と同電位で複数の電源入出力パッド間の電源配線
を行なう電源配線方法と、機能ブロックに接続された電
源配線の電流値の検証および電源配線と機能ブロックと
の接続を検証する機能を備えた電源配線検証方法を提供
することを目的とする。
課題を解決するための手段 本発明は上記問題点を解決するため、給電点が属する機
能ブロックを判断する手段と、前記給電点のうち少なく
とも1個と前記電源入出力パッドのうちの1個との接続
を決定する手段と、接続が決定された給電点と同電位で
同一の機能ブロックに属する給電点をすべて同一の入出
力パッドに接続する手段を備えたことを特徴とする電源
配線方法と、機能ブロックのレイアウト図形と、給電点
を接続する電源配線の配線抵抗とレイアウト図形とを入
力として、前記機能ブロックの消費電流を見積もる手段
と、前記電源配線の許容電流容量を算出する手段と、前
記配線抵抗と前記許容電流容量を属性とする枝を持つグ
ラフに前記電源配線を変換する手段と、前記グラフの枝
を通過する電流値を算出して前記許容電流容量と比較す
る手段と、前記許容電流容量より多くの電流が流れる電
源配線部分を出力する手段と、前記電流値から前記機能
ブロックの給電点での電圧値を求める手段と、前記電圧
値から前記電源配線と前記機能ブロックとの接続を検証
する手段を備えたことを特徴とする電源配線検証方法で
ある。
作用 本発明は上記の構成によって、機能ブロック上の同電位
で複数の給電点と同電位で複数の電源入出力パッド間の
電源配線を行ない、機能ブロックに接続された電源配線
の電流値の検証および電源配線と機能ブロックとの接続
を検証することができる。
実施例 第1図は本発明の第1の実施例における電源配線方法の
フローチャート図を示すものである。第1図において、
11,12.13.14.15はそれぞれ電源配線を行
なうための処理を示している。
以上に構成された電源配線方法について以下その手順を
示す。まず、処理11により給電点が属する機能ブロッ
クの情報を各給電点に持たせる。
処理12では、電源入出力パッドにまだ接続されていな
い給電点を選択する。処理13では、選択された給電点
をもっとも近い電源入出力パッドに接続する。この時に
配線経路を探索する方法としては最短経路法等がある。
処理14では、接続された給電点と同じ機能ブロックに
属する給電点の内で同電位に接続すべき給電点を、先に
選ばれた給電点が接続された電源入出力パッドに接続す
る。処理15では、未接続の給電点があった場合、処理
12に戻り、ない場合は終了する。
以上のように、本実施例によれば、処理11゜12.1
3.14.15を設けることにより、機能ブロック上の
同電位で複数の給電点をすべて同じ電源入出力パッドに
接続することができる。
第2図は本発明の第2の実施例における電源配線検証方
法のフローチャート図を示している。第2図において、
21は機能ブロックの消費電流見積手段、22は電源配
線の許容電流容量算出手段、23はグラフ作成手段、2
4は電源配線を通過する電流値算出比較手段、25はエ
ラー出力手段を示している。
第3図は機能ブロックに電源を供給する電源配線のレイ
アウト図を示している。第3図において、31は機能ブ
ロック、32は電源配線、33は電源配線のコンタクト
、34は電源を供給する電源入出力パッドを示している
第4図は、第3図の電源配線レイアウト図に対応したグ
ラフ表現である。第4図において、41は機能ブロック
31の給電点を表現する節点、42は電源配線32を表
現する枝、43は電源配線のコンタクト33を表現する
枝、44は電源配線のコンタクト33を表現する節点、
45は電源入出力パッド34を表現する節点を示してい
る。
以上に構成された電源配線検証方法について以下その手
順を第2図のフローチャート図に基づいて説明する。ま
ず、消費電流見積手段21では、機能ブロック31の面
積、あるいは機能ブロック31に含まれるトランジスタ
等の素子数、機能ブロック31の動作する速度等に基づ
いて機能ブロック31の消費電流を見積もる。許容電流
容量算出手段22では、電源配線32の巾とコンタクト
33の面積から最大どれだけ電流が流れることができる
かという許容電流容量を算出する。グラフ作成手段23
では、第3図のレイアウト図を第4図のグラフで表現す
る。この時、枝42は電源配線32を代表し、枝43は
コンタクト33を代表している。枝42.43はその属
性として、電源配線32とコンタクト33の許容電流容
量と配線抵抗値を持つ。電流値算出比較手段24では、
グラフの枝42,43を通過する電流値を求め、枝42
.43に設定された許容電流容量と比較する。エラー出
力手段25では、許容電流容量以上に電流の流れる枝4
2.43に対応する電源配線32あるいはコンタクト3
3を表示する。
以上のように、本実施例によれば、消費電流見積手段2
1と許容電流容量算出手段22とグラフ作成手段23と
電流値算出比較手段24とエラー出力手段25を設ける
ことにより、機能ブロック31に接続された電源配vA
32とコンタクト33を流れる電流値の検証を行なうこ
とができる。
第5図は本発明の第3の実施例を示す電源配線検証方法
のフローチャート図である。第5図において、21.2
2.23,24.25は第2図と同様であり、54は機
能ブロックの給電点における電圧値を求めて設定電圧値
と比較する電圧値算出比較手段である。
第5図に基づいて本発明の第3の実施例の電源配線検証
方法について以下その手順を説明する。
ここで、消費電流見積手段21から電流値算出比較手段
24までは第2の実施例と同様である。電圧値算出比較
手段54では、枝42.43を通過する電流値から節点
45での電圧値を求め、節点45での電圧値と設定電圧
値を比較する。エラー出力部25では、設定電圧値以外
の電圧値をもつ機能ブロックの給電点を表示する。その
結果、電源配線32と機能ブロック31との接続を確認
することができる。
以上のように、本実施例によれば、消費電力見積手段2
1と許容電流容量算出手段22とグラフ作成手段23と
電流値算出比較手段24と電圧値算出比較手段54を設
けることにより、電源配線32と機能ブロック31との
接続を確認することができる。
発明の詳細 な説明したように、本発明によれば、機能ブロック上の
同電位で複数の給電点と同電位で複数の電源入出力パッ
ド間の電源配線を行ない、機能ブロックに接続された電
源配線の電流値の検証および電源配線と機能ブロックと
の接続を検証することができ、その実用的効果は大きい
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明における電源配線方法の一実施例のフロ
ーチャート図、第2図は本発明の電源配線検証方法の一
実施例のフローチャート図、第3図は同実施例の電源配
線のレイアウト図、第4図は同実施例の電源配線を表現
したグラフ特性図、第5図は本発明の電源配線検証方法
の他の実施例のフローチャート図である。 11.12,13.14.15・・・・・・処理、21
・・・・・・消費電力見積手段、22・・・・・・許容
電流容量算出手段、23・・・・・・グラフ作成手段、
24・・・・・・電流値算出比較手段、25・・・・・
・エラー出力手段。 代理人の氏名 弁理士 粟野重孝 ほか1名第1図 箔 図 第 図 31性醋ラロ・ソフ / 第 図 ←V 図

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)論理機能を持つ1個の機能ブロックに2個以上複
    数の同電位の電源の給電点を持つ機能ブロックと前記機
    能ブロックに外部から電源を供給するための2個以上複
    数の同電位の電源入出力パッドが存在するLSI及びプ
    リント基板において、前記給電点が属する機能ブロック
    を判断する手段と、前記給電点のうち少なくとも1個と
    前記電源入出力パッドのうちの1個との接続を決定する
    手段と、接続が決定された給電点と同電位で同一の機能
    ブロックに属する給電点をすべて同一の入出力パッドに
    接続する手段を備えたことを特徴とする電源配線方法。
  2. (2)機能ブロックのレイアウト図形と、前記機能ブロ
    ックの給電点を接続する電源配線の配線抵抗とレイアウ
    ト図形とを入力として、前記機能ブロックの消費電流を
    見積もる手段と、前記電源配線の許容電流容量を算出す
    る手段と、前記配線抵抗と前記許容電流容量とを属性と
    する枝を持つグラフに前記電源配線を変換する手段と、
    前記グラフの枝を通過する電流値を算出して前記許容電
    流容量と比較する手段と、前記許容電流容量より多くの
    電流が流れる電源配線部分を出力する手段を備えたこと
    を特徴とする電源配線検証方法。
  3. (3)電流値から機能ブロックの給電点での電圧値を求
    める手段と、前記電圧値から電源配線と前記機能ブロッ
    クとの接続を検証する手段を備えたことを特徴とする請
    求項2に記載の電源配線検証方法。
JP63291180A 1988-11-17 1988-11-17 電源配線方法と電源配線検証方法 Pending JPH02137246A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008023850A (ja) * 2006-07-21 2008-02-07 Toshiba Hokuto Electronics Corp サーマルヘッド
JP2008030358A (ja) * 2006-07-31 2008-02-14 Canon Inc 記録装置

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008023850A (ja) * 2006-07-21 2008-02-07 Toshiba Hokuto Electronics Corp サーマルヘッド
JP2008030358A (ja) * 2006-07-31 2008-02-14 Canon Inc 記録装置

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