JP2002217296A - 配線設計方法および配線設計装置 - Google Patents
配線設計方法および配線設計装置Info
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 エレクトロマイグレーションの影響で生じる
配線の溶断を防止する配線設計方法および配線設計装置
を提供する。 【解決手段】 半導体集積回路のネットの配線分岐点を
取得し、それらの配線分岐点毎に電流密度値を計算し
て、これを電流密度制限値と比較することによりエレク
トロマイグレーションの検証を行う。電流密度の検証
は、ソース側からロード側方向に配線の接続関係を調べ
て、ソース側に近い配線分岐点から順に行う。そして、
電流密度超過を起こしている部分の配線のみを、最適な
配線幅に広げて、その配線個所における電流密度の低減
を行う。
配線の溶断を防止する配線設計方法および配線設計装置
を提供する。 【解決手段】 半導体集積回路のネットの配線分岐点を
取得し、それらの配線分岐点毎に電流密度値を計算し
て、これを電流密度制限値と比較することによりエレク
トロマイグレーションの検証を行う。電流密度の検証
は、ソース側からロード側方向に配線の接続関係を調べ
て、ソース側に近い配線分岐点から順に行う。そして、
電流密度超過を起こしている部分の配線のみを、最適な
配線幅に広げて、その配線個所における電流密度の低減
を行う。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、半導体集積回路上
の複数の機能ブロックを電気的に相互に接続するための
配線設計方法および配線設計装置に関するものである。
の複数の機能ブロックを電気的に相互に接続するための
配線設計方法および配線設計装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】近年、大規模集積回路（ＬＳＩ）では、
高集積化、並びに高速化が著しく、これに伴って、回路
における消費電力も増加している。このため、回路を構
成する配線における電流密度が大きい箇所では、エレク
トロマイグレーション(electromigration)による配線の
溶断が生じる可能性が大きくなっている。
高集積化、並びに高速化が著しく、これに伴って、回路
における消費電力も増加している。このため、回路を構
成する配線における電流密度が大きい箇所では、エレク
トロマイグレーション(electromigration)による配線の
溶断が生じる可能性が大きくなっている。
【０００３】エレクトロマイグレーションとは、配線金
属膜中の電流密度が増大したり、チップ当たりの消費電
力が増大してデバイスの温度が上昇し、それによる高温
の状態で高密度の電流が流れると、キャリアから電極構
成電子に金属膜中の金属イオンの移動が起こって空孔が
生じ、そのため、さらに電流密度が上がって、ついには
配線が溶断することをいう。
属膜中の電流密度が増大したり、チップ当たりの消費電
力が増大してデバイスの温度が上昇し、それによる高温
の状態で高密度の電流が流れると、キャリアから電極構
成電子に金属膜中の金属イオンの移動が起こって空孔が
生じ、そのため、さらに電流密度が上がって、ついには
配線が溶断することをいう。
【０００４】このエレクトロマイグレーションを防ぐに
は、単に配線幅を広げたり、配線中に中継バッファ等を
挿入して配線長を分断する等の対策が考えられる。例え
ば、特開平１１−９７５４１号公報には、半導体集積回
路における配線設計方法に係る発明であって、機能ブロ
ック間の配線を流れる電流密度を求め、それが規格内に
あるか否かに応じて、配線の分枝ごとに必要な配線の本
数を算出して、分枝ごとに再度、配線を行う技術が開示
されている。
は、単に配線幅を広げたり、配線中に中継バッファ等を
挿入して配線長を分断する等の対策が考えられる。例え
ば、特開平１１−９７５４１号公報には、半導体集積回
路における配線設計方法に係る発明であって、機能ブロ
ック間の配線を流れる電流密度を求め、それが規格内に
あるか否かに応じて、配線の分枝ごとに必要な配線の本
数を算出して、分枝ごとに再度、配線を行う技術が開示
されている。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記の
問題を回避するため、従来は、エレクトロマイグレーシ
ョンにより断線する可能性のあるネットについては、配
線結果を人手で修正している例もあり、このような場
合、人手による配線修正工数が増大するという問題があ
る。
問題を回避するため、従来は、エレクトロマイグレーシ
ョンにより断線する可能性のあるネットについては、配
線結果を人手で修正している例もあり、このような場
合、人手による配線修正工数が増大するという問題があ
る。
【０００６】また、上記特開平１１−９７５４１号公報
に記載の配線設計方法では、配線を流れる電流密度が規
格内にないとき、分枝ごとに必要な配線の本数を算出し
て、再配線を行っているため、場合によっては、初期配
線が全く生かされないという事態も発生する。さらに
は、その再配線が、基板あるいはサブストレート上にお
いて多大な面積を占有することになる場合、配線上の制
約が多くなるという問題がある。
に記載の配線設計方法では、配線を流れる電流密度が規
格内にないとき、分枝ごとに必要な配線の本数を算出し
て、再配線を行っているため、場合によっては、初期配
線が全く生かされないという事態も発生する。さらに
は、その再配線が、基板あるいはサブストレート上にお
いて多大な面積を占有することになる場合、配線上の制
約が多くなるという問題がある。
【０００７】本発明は、上述の課題に鑑みてなされたも
のであり、その目的とするところは、半導体集積回路に
おける電流密度過多によるエレクトロマイグレーション
の影響で生じる配線の溶断を防止する配線設計方法およ
び配線設計装置を提供することである。
のであり、その目的とするところは、半導体集積回路に
おける電流密度過多によるエレクトロマイグレーション
の影響で生じる配線の溶断を防止する配線設計方法およ
び配線設計装置を提供することである。
【０００８】また、本発明の他の目的は、半導体集積回
路の配線において溶断を生じやすい、あるいは、その可
能性のある個所を効率的かつ迅速に発見、修正できる配
線設計方法および配線設計装置を提供することである。
路の配線において溶断を生じやすい、あるいは、その可
能性のある個所を効率的かつ迅速に発見、修正できる配
線設計方法および配線設計装置を提供することである。
【０００９】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
め、本発明は、半導体集積回路上の複数の機能ブロック
を電気的に相互に接続するための配線設計方法におい
て、上記複数の機能ブロック間における配線分岐点を得
る第1 の接続情報取得ステップと、上記配線分岐点にお
ける電流密度を求める第２の接続情報取得ステップと、
上記電流密度が所定の制限値を越えているか否かを判定
するステップと、上記判定の結果をもとに、上記電流密
度が上記制限値を超過している配線分岐点を末端とする
所定の配線部分に対して電流密度を低減する処理を施す
ステップとを備える配線設計方法を提供する。
め、本発明は、半導体集積回路上の複数の機能ブロック
を電気的に相互に接続するための配線設計方法におい
て、上記複数の機能ブロック間における配線分岐点を得
る第1 の接続情報取得ステップと、上記配線分岐点にお
ける電流密度を求める第２の接続情報取得ステップと、
上記電流密度が所定の制限値を越えているか否かを判定
するステップと、上記判定の結果をもとに、上記電流密
度が上記制限値を超過している配線分岐点を末端とする
所定の配線部分に対して電流密度を低減する処理を施す
ステップとを備える配線設計方法を提供する。
【００１０】また，他の発明は、半導体集積回路上の複
数の機能ブロックを電気的に相互に接続するための配線
設計装置において、上記複数の機能ブロック間における
配線分岐点を得る第1 の接続情報取得手段と、上記配線
分岐点における電流密度を求める第２の接続情報取得手
段と、上記電流密度が所定の制限値を越えているか否か
を判定する手段と、上記判定の結果をもとに、上記電流
密度が上記制限値を超過している配線分岐点を末端とす
る所定の配線部分に対して電流密度を低減する処理を施
す手段とを備える配線設計装置を提供する。
数の機能ブロックを電気的に相互に接続するための配線
設計装置において、上記複数の機能ブロック間における
配線分岐点を得る第1 の接続情報取得手段と、上記配線
分岐点における電流密度を求める第２の接続情報取得手
段と、上記電流密度が所定の制限値を越えているか否か
を判定する手段と、上記判定の結果をもとに、上記電流
密度が上記制限値を超過している配線分岐点を末端とす
る所定の配線部分に対して電流密度を低減する処理を施
す手段とを備える配線設計装置を提供する。
【００１１】好ましくは、上記の発明において、上記配
線分岐点について、上記機能ブロックの信号源側から負
荷側方向へ検索を行い、上記信号源に近い順に上記電流
密度の検証を行う。
線分岐点について、上記機能ブロックの信号源側から負
荷側方向へ検索を行い、上記信号源に近い順に上記電流
密度の検証を行う。
【００１２】
【発明の実施の形態】以下、添付図面を参照しながら、
本発明の実施の形態について詳細に説明する。図１は、
本発明の実施の形態に係るエレクトロマイグレーション
・エラー改善システム（以下、適宜、システムともい
う）の全体構成を示すブロック図である。同図に示すよ
うに、本システムは、論理接続情報格納部１１、物理接
続情報格納部１２、電流密度制限値格納部１６、論理／
物理接続情報入力部１３、配線トレース部１４、配線分
岐点取得部１５、電流密度制限値取得部１７、電流密度
計算部１８、電流密度検証部１９、検証結果格納部２
０、そして、配線幅変更部２１からなる。
本発明の実施の形態について詳細に説明する。図１は、
本発明の実施の形態に係るエレクトロマイグレーション
・エラー改善システム（以下、適宜、システムともい
う）の全体構成を示すブロック図である。同図に示すよ
うに、本システムは、論理接続情報格納部１１、物理接
続情報格納部１２、電流密度制限値格納部１６、論理／
物理接続情報入力部１３、配線トレース部１４、配線分
岐点取得部１５、電流密度制限値取得部１７、電流密度
計算部１８、電流密度検証部１９、検証結果格納部２
０、そして、配線幅変更部２１からなる。
【００１３】これらの構成要素の内、論理接続情報格納
部１１は、回路を構成するブロック間の論理接続情報等
を格納する。ここで「ブロック」とは、フリップフロッ
プ（Ｆ／Ｆ）やゲート等、論理回路を構成している全て
の素子の総称とする。また、物理接続情報格納部１２
は、ブロックの配置結果、ブロック間接続の配線結果、
各ネット／ブロックの性質を示す情報等からなる物理接
続情報を格納する。
部１１は、回路を構成するブロック間の論理接続情報等
を格納する。ここで「ブロック」とは、フリップフロッ
プ（Ｆ／Ｆ）やゲート等、論理回路を構成している全て
の素子の総称とする。また、物理接続情報格納部１２
は、ブロックの配置結果、ブロック間接続の配線結果、
各ネット／ブロックの性質を示す情報等からなる物理接
続情報を格納する。
【００１４】電流密度制限値格納部１６は、ネットのソ
ース（信号源あるいは電流源）出力端の駆動能力ごと、
かつ、ソース出力端から配線分岐点間の配線抵抗合計値
ごとに定義された電流密度制限値からなる電流密度制限
値情報を格納する。
ース（信号源あるいは電流源）出力端の駆動能力ごと、
かつ、ソース出力端から配線分岐点間の配線抵抗合計値
ごとに定義された電流密度制限値からなる電流密度制限
値情報を格納する。
【００１５】論理／物理接続情報入力部１３は、論理接
続情報格納部１１に格納された論理接続情報、物理接続
情報格納部１２に格納された物理接続情報、および、電
流密度制限値格納部１６に格納された電流密度制限値情
報を入力する。
続情報格納部１１に格納された論理接続情報、物理接続
情報格納部１２に格納された物理接続情報、および、電
流密度制限値格納部１６に格納された電流密度制限値情
報を入力する。
【００１６】配線トレース部１４は、論理／物理接続情
報入力部１３が入力した論理接続情報、および物理接続
情報を参照して、ネットの配線接続情報をトレースす
る。また、配線分岐点取得部１５は、配線トレース部１
４で取得した配線接続情報を参照して、ネットの配線分
岐点を取得する。
報入力部１３が入力した論理接続情報、および物理接続
情報を参照して、ネットの配線接続情報をトレースす
る。また、配線分岐点取得部１５は、配線トレース部１
４で取得した配線接続情報を参照して、ネットの配線分
岐点を取得する。
【００１７】電流密度制限値取得部１７は、論理／物理
接続情報入力部１３が電流密度制限値格納部１６より入
力した電流密度制限値情報を参照して、配線分岐点取得
部１５で取得した配線分岐点における電流密度制限値を
取得する。
接続情報入力部１３が電流密度制限値格納部１６より入
力した電流密度制限値情報を参照して、配線分岐点取得
部１５で取得した配線分岐点における電流密度制限値を
取得する。
【００１８】また、電流密度計算部１８は、配線分岐点
取得部１５で取得した配線分岐点における電流密度値を
計算し、電流密度検証部１９は、配線分岐点取得部１５
で取得した配線分岐点での電流密度を検証する。そし
て、電流密度検証部１９は、電流密度制限値取得部１７
で取得した電流密度制限値と、電流密度計算部１８で計
算した電流密度値とを比較して、電流密度値が電流密度
制限値を越えている場合、その配線分岐点では電流密度
超過エラーが起きているものと判定して、エラー情報を
検証結果格納部２０に送る。
取得部１５で取得した配線分岐点における電流密度値を
計算し、電流密度検証部１９は、配線分岐点取得部１５
で取得した配線分岐点での電流密度を検証する。そし
て、電流密度検証部１９は、電流密度制限値取得部１７
で取得した電流密度制限値と、電流密度計算部１８で計
算した電流密度値とを比較して、電流密度値が電流密度
制限値を越えている場合、その配線分岐点では電流密度
超過エラーが起きているものと判定して、エラー情報を
検証結果格納部２０に送る。
【００１９】検証結果格納部２０は、上述のように電流
密度検証部１９で判定された電流密度超過エラー情報を
格納する。そして、配線幅変更部２１は、検証結果格納
部２０に格納されたエラー情報を参照して、電流密度超
過エラーが起きていると判定されたネットについて、ソ
ース出力端と、電流密度超過エラーが起きている配線分
岐点とを接続する配線の幅を、エラーとならない幅に広
げる。
密度検証部１９で判定された電流密度超過エラー情報を
格納する。そして、配線幅変更部２１は、検証結果格納
部２０に格納されたエラー情報を参照して、電流密度超
過エラーが起きていると判定されたネットについて、ソ
ース出力端と、電流密度超過エラーが起きている配線分
岐点とを接続する配線の幅を、エラーとならない幅に広
げる。
【００２０】そこで、図１に示すエレクトロマイグレー
ション・エラー改善システムの各部の動作について、さ
らに詳細に説明する。論理／物理接続情報入力部１３
は、論理接続情報格納部１１に格納された論理接続情
報、物理接続情報格納部１２に格納された物理接続情報
と各ネット／ブロックの性質を示す情報（電流密度計算
に必要な情報も含む）、および、電流密度制限値格納部
１６に格納された電流密度制限値を入力する。
ション・エラー改善システムの各部の動作について、さ
らに詳細に説明する。論理／物理接続情報入力部１３
は、論理接続情報格納部１１に格納された論理接続情
報、物理接続情報格納部１２に格納された物理接続情報
と各ネット／ブロックの性質を示す情報（電流密度計算
に必要な情報も含む）、および、電流密度制限値格納部
１６に格納された電流密度制限値を入力する。
【００２１】配線トレース部１４は、論理／物理接続情
報入力部１３が入力した論理接続情報、および物理接続
情報を参照して、ネットのソース側ブロック、ロード
（負荷）側ブロック、および、それらのブロック間を接
続する配線等の配線接続情報を取得する。
報入力部１３が入力した論理接続情報、および物理接続
情報を参照して、ネットのソース側ブロック、ロード
（負荷）側ブロック、および、それらのブロック間を接
続する配線等の配線接続情報を取得する。
【００２２】次に、配線分岐点取得部１５は、配線トレ
ース部１４でトレースした配線接続情報を参照して、ネ
ットの配線分岐点を取得する。また、電流密度制限値取
得部１７は、論理／物理接続情報入力部１３で入力した
電流密度制限値の中から、配線分岐点取得部１５で取得
した配線分岐点における電流密度制限値を取得する。
ース部１４でトレースした配線接続情報を参照して、ネ
ットの配線分岐点を取得する。また、電流密度制限値取
得部１７は、論理／物理接続情報入力部１３で入力した
電流密度制限値の中から、配線分岐点取得部１５で取得
した配線分岐点における電流密度制限値を取得する。
【００２３】電流密度計算部１８は、配線分岐点取得部
１５で取得した配線分岐点での電流密度値を計算する。
ここでは、配線の接続関係をソース側からロード側方向
に調べて、ソース側に近い配線分岐点から順番に、電流
密度値を計算していく。
１５で取得した配線分岐点での電流密度値を計算する。
ここでは、配線の接続関係をソース側からロード側方向
に調べて、ソース側に近い配線分岐点から順番に、電流
密度値を計算していく。
【００２４】電流密度検証部１９は、配線分岐点取得部
１５で取得した配線分岐点での電流密度を検証する。す
なわち、電流密度検証部１９は、電流密度制限値取得部
１７で取得した電流密度制限値と、電流密度計算部１８
で計算した電流密度値とを比較する。そして、この電流
密度値が電流密度制限値を越えている場合、電流密度検
証部１９は、その配線分岐点では、電流密度超過エラー
が起きているものと判定して、エラー情報を検証結果格
納部２０へ出力する。
１５で取得した配線分岐点での電流密度を検証する。す
なわち、電流密度検証部１９は、電流密度制限値取得部
１７で取得した電流密度制限値と、電流密度計算部１８
で計算した電流密度値とを比較する。そして、この電流
密度値が電流密度制限値を越えている場合、電流密度検
証部１９は、その配線分岐点では、電流密度超過エラー
が起きているものと判定して、エラー情報を検証結果格
納部２０へ出力する。
【００２５】ネットの全配線分岐点における電流密度検
証を終了後、電流密度超過エラーが起きている配線分岐
点がある場合、配線幅変更部２１は、検証結果格納部２
０に格納されたエラー情報を参照して、ソース出力端と
電流密度超過エラーが起きている配線分岐点とを接続す
る配線の幅を、エラーが発生しない幅に広げる。
証を終了後、電流密度超過エラーが起きている配線分岐
点がある場合、配線幅変更部２１は、検証結果格納部２
０に格納されたエラー情報を参照して、ソース出力端と
電流密度超過エラーが起きている配線分岐点とを接続す
る配線の幅を、エラーが発生しない幅に広げる。
【００２６】配線幅を変更することによって電流密度も
変化するので、当該ネットについて、再び、電流密度計
算部１８において電流密度を計算し、電流密度検証部１
９で電流密度を検証し、さらに、配線幅変更部２１にお
いて、電流密度超過エラーが起きている配線分岐点の配
線幅変更を行う。ここでは、これらの処理を、後述する
ように、電流密度超過エラーが起きている配線分岐点が
なくなるまで繰り返す。
変化するので、当該ネットについて、再び、電流密度計
算部１８において電流密度を計算し、電流密度検証部１
９で電流密度を検証し、さらに、配線幅変更部２１にお
いて、電流密度超過エラーが起きている配線分岐点の配
線幅変更を行う。ここでは、これらの処理を、後述する
ように、電流密度超過エラーが起きている配線分岐点が
なくなるまで繰り返す。
【００２７】次に、本実施の形態に係るエレクトロマイ
グレーション・エラー改善システムの動作について詳細
に説明する。
グレーション・エラー改善システムの動作について詳細
に説明する。
【００２８】既に述べたように、一般的には、回路を構
成する配線の電流密度が大きい箇所において、エレクト
ロマイグレーションによる配線の溶断が生じる可能性が
大きくなる。また、配線の電流密度は、その配線を流れ
る電流値を配線の断面積で割ることにより計算できる。
成する配線の電流密度が大きい箇所において、エレクト
ロマイグレーションによる配線の溶断が生じる可能性が
大きくなる。また、配線の電流密度は、その配線を流れ
る電流値を配線の断面積で割ることにより計算できる。
【００２９】また、配線が途中で分岐する場合、その分
岐点以降の配線には、電流が分散されて流れるため、ソ
ース出力端から分岐点を通過するに従って、配線を流れ
る電流は減少する。そのため、電流密度は配線分岐点、
および、配線の断面積の変化点において変化する。
岐点以降の配線には、電流が分散されて流れるため、ソ
ース出力端から分岐点を通過するに従って、配線を流れ
る電流は減少する。そのため、電流密度は配線分岐点、
および、配線の断面積の変化点において変化する。
【００３０】ここで、ネットの配線幅が配線分岐点のみ
で変更できるものとすると、電流密度は配線分岐点での
み変化することになる。
で変更できるものとすると、電流密度は配線分岐点での
み変化することになる。
【００３１】本実施の形態に係るエレクトロマイグレー
ション・エラー改善システムでは、電流密度の変化点で
ある配線分岐点での電流密度値と、あらかじめ設定し
た、エレクトロマイグレーションの影響による配線の溶
断が生じない最大電流密度値（電流密度制限値）とを比
較して、電流密度超過エラーを判定する。
ション・エラー改善システムでは、電流密度の変化点で
ある配線分岐点での電流密度値と、あらかじめ設定し
た、エレクトロマイグレーションの影響による配線の溶
断が生じない最大電流密度値（電流密度制限値）とを比
較して、電流密度超過エラーを判定する。
【００３２】電流密度超過エラーが起きている配線分岐
点では、エレクトロマイグレーションによる配線の溶断
が生じる可能性が大きいため、ソース出力端とその配線
分岐点とを接続する配線の幅を広げることによって電流
密度を低減して、エレクトロマイグレーションによる配
線の溶断を防止する。
点では、エレクトロマイグレーションによる配線の溶断
が生じる可能性が大きいため、ソース出力端とその配線
分岐点とを接続する配線の幅を広げることによって電流
密度を低減して、エレクトロマイグレーションによる配
線の溶断を防止する。
【００３３】図２は、本実施の形態に係るシステムにお
ける電流密度超過エラーの判定、および配線幅の変更処
理手順を示すフローチャートである。また、図３は、エ
ラーの判定および配線幅変更処理の対象となるネットの
例を示している。図２のステップＡ０１において、論理
／物理接続情報入力部１３は、論理接続情報格納部１１
に格納された論理接続情報、物理接続情報格納部１２に
格納された物理接続情報、および、電流密度制限値格納
部１６に格納された電流密度制限値を入力する。入力さ
れた論理接続情報と物理接続情報は、図１に示すシステ
ムの各部によって参照される。
ける電流密度超過エラーの判定、および配線幅の変更処
理手順を示すフローチャートである。また、図３は、エ
ラーの判定および配線幅変更処理の対象となるネットの
例を示している。図２のステップＡ０１において、論理
／物理接続情報入力部１３は、論理接続情報格納部１１
に格納された論理接続情報、物理接続情報格納部１２に
格納された物理接続情報、および、電流密度制限値格納
部１６に格納された電流密度制限値を入力する。入力さ
れた論理接続情報と物理接続情報は、図１に示すシステ
ムの各部によって参照される。
【００３４】論理接続情報には、対象とする回路を構成
するブロック間の論理接続情報等があり、物理接続情報
としては、ブロックの配置結果、ブロック間接続の配線
結果、および、各ネット／ブロックの性質を示す情報等
がある。
するブロック間の論理接続情報等があり、物理接続情報
としては、ブロックの配置結果、ブロック間接続の配線
結果、および、各ネット／ブロックの性質を示す情報等
がある。
【００３５】上記の物理接続情報としてのブロックの配
置結果、および、ブロック間接続の配線結果は、ここで
は、従来のレイアウト手法を用いて配置配線処理を行っ
た結果とし、配線の電流密度は特に考慮していないもの
とする。また、各ネット／ブロックの性質を示す情報と
して、例えば、ネットの配線幅／高さ、配線単位面積当
たりの抵抗値／容量値、ブロックの端子抵抗値／容量値
等が記述されているものとする。
置結果、および、ブロック間接続の配線結果は、ここで
は、従来のレイアウト手法を用いて配置配線処理を行っ
た結果とし、配線の電流密度は特に考慮していないもの
とする。また、各ネット／ブロックの性質を示す情報と
して、例えば、ネットの配線幅／高さ、配線単位面積当
たりの抵抗値／容量値、ブロックの端子抵抗値／容量値
等が記述されているものとする。
【００３６】次に、ステップＡ０２において、回路中の
任意のネットについて、各配線分岐点での電流密度を検
証する。ここでは、図３に示すネット３を例に説明す
る。まず、配線トレース部１４は、論理／物理接続情報
入力部１３で入力した論理接続情報、および、物理接続
情報を参照する。そして、配線トレース部１４は、ネッ
ト３が、ソース側ブロック３１とロード側ブロック３２
〜３５とを接続する配線から構成され、ソース出力端
（Ａ）、配線分岐点（Ｂ），（Ｄ），（Ｆ）、および、
ロード入力端（Ｃ），（Ｅ），（Ｇ），（Ｈ）が存在す
るという配線接続情報を取得する。
任意のネットについて、各配線分岐点での電流密度を検
証する。ここでは、図３に示すネット３を例に説明す
る。まず、配線トレース部１４は、論理／物理接続情報
入力部１３で入力した論理接続情報、および、物理接続
情報を参照する。そして、配線トレース部１４は、ネッ
ト３が、ソース側ブロック３１とロード側ブロック３２
〜３５とを接続する配線から構成され、ソース出力端
（Ａ）、配線分岐点（Ｂ），（Ｄ），（Ｆ）、および、
ロード入力端（Ｃ），（Ｅ），（Ｇ），（Ｈ）が存在す
るという配線接続情報を取得する。
【００３７】なお、図３に示すネット３における配線抵
抗値や配線電流値等は、以下の一覧表に示すようになっ
ている。すなわち、 ソース出力端（Ａ）の端子抵抗Ｒｇ１＝０．０７［ＫΩ］ であり、 配 線 部 分 配線抵抗値［Ω］／電流値［Ａ］ ソース出力端（Ａ）−配線接続点（Ｂ）間 Rw1=30.0 / Iw1=10.0 配線接続点（Ｂ）−ロード入力端（Ｃ）間 Rw2=30.0 / Iw2=10.0 配線接続点（Ｂ）−配線接続点（Ｄ）間 Rw3=20.0 / Iw3=6.0 配線接続点（Ｄ）−ロード入力端（Ｅ）間 Rw4=30.0 / Iw4=10.0 配線接続点（Ｄ）−配線接続点（Ｆ）間 Rw5=40.0 / Iw5=15.0 配線接続点（Ｆ）−ロード入力端（Ｇ）間 Rw6=30.0 / Iw6=10.0 配線接続点（Ｆ）−ロード入力端（Ｈ）間 Rw7=40.0 / Iw7=15.0 である。
抗値や配線電流値等は、以下の一覧表に示すようになっ
ている。すなわち、 ソース出力端（Ａ）の端子抵抗Ｒｇ１＝０．０７［ＫΩ］ であり、 配 線 部 分 配線抵抗値［Ω］／電流値［Ａ］ ソース出力端（Ａ）−配線接続点（Ｂ）間 Rw1=30.0 / Iw1=10.0 配線接続点（Ｂ）−ロード入力端（Ｃ）間 Rw2=30.0 / Iw2=10.0 配線接続点（Ｂ）−配線接続点（Ｄ）間 Rw3=20.0 / Iw3=6.0 配線接続点（Ｄ）−ロード入力端（Ｅ）間 Rw4=30.0 / Iw4=10.0 配線接続点（Ｄ）−配線接続点（Ｆ）間 Rw5=40.0 / Iw5=15.0 配線接続点（Ｆ）−ロード入力端（Ｇ）間 Rw6=30.0 / Iw6=10.0 配線接続点（Ｆ）−ロード入力端（Ｈ）間 Rw7=40.0 / Iw7=15.0 である。
【００３８】また、 ロード入力端（Ｃ）内配線の電流値I ｇ１＝１．０［Ａ］ ロード入力端（Ｅ）内配線の電流値I ｇ２＝１．０［Ａ］ ロード入力端（Ｇ）内配線の電流値I ｇ３＝１．０［Ａ］ ロード入力端（Ｈ）内配線の電流値I ｇ４＝１．０［Ａ］ である。
【００３９】配線トレース部１４は、これらの配線接続
情報を参照して、ソース側からロード側方向に配線の接
続関係を調べて、ソース側に近い配線分岐点から順に電
流密度を検証していく。このとき、ロード入力端も配線
分岐点とみなして、電流密度の検証の対象に含める。
情報を参照して、ソース側からロード側方向に配線の接
続関係を調べて、ソース側に近い配線分岐点から順に電
流密度を検証していく。このとき、ロード入力端も配線
分岐点とみなして、電流密度の検証の対象に含める。
【００４０】例えば、図３に示すネット３において、配
線分岐点をソース側に近い順に列挙すると、配線分岐点
（Ｂ）→配線分岐点（Ｄ）→ロード入力端（Ｃ）→ロー
ド入力端（Ｅ）→配線分岐点（Ｆ）→ロード入力端
（Ｇ）→ロード入力端（Ｈ）となっている。なお、ここ
では、配線分岐点（Ｂ）で電流密度超過エラーが起きて
いるものとして説明する。
線分岐点をソース側に近い順に列挙すると、配線分岐点
（Ｂ）→配線分岐点（Ｄ）→ロード入力端（Ｃ）→ロー
ド入力端（Ｅ）→配線分岐点（Ｆ）→ロード入力端
（Ｇ）→ロード入力端（Ｈ）となっている。なお、ここ
では、配線分岐点（Ｂ）で電流密度超過エラーが起きて
いるものとして説明する。
【００４１】次に、ステップＡ０３において、配線分岐
点取得部１５は、未処理の配線分岐点の中で一番ソース
側に近いものを調べて、配線分岐点（Ｂ）を取得し、そ
の配線分岐点（Ｂ）における配線抵抗合計値Ｒｔｏｔａ
ｌ（Ｂ）を計算する。なお、ここでは、配線抵抗合計値
は、ソース出力端と配線分岐点とを一筆書きで接続する
配線の抵抗値を合計したものとする。
点取得部１５は、未処理の配線分岐点の中で一番ソース
側に近いものを調べて、配線分岐点（Ｂ）を取得し、そ
の配線分岐点（Ｂ）における配線抵抗合計値Ｒｔｏｔａ
ｌ（Ｂ）を計算する。なお、ここでは、配線抵抗合計値
は、ソース出力端と配線分岐点とを一筆書きで接続する
配線の抵抗値を合計したものとする。
【００４２】例えば、配線分岐点（Ｂ）における、ソー
ス出力端（Ａ）と配線分岐点（Ｂ）とを接続する配線の
抵抗値Ｒｗ１は、上記の一覧表より３０．０［Ω］であ
るから、配線抵抗合計値Ｒｔｏｔａｌ（Ｂ）は３０．０
［Ω］となる。
ス出力端（Ａ）と配線分岐点（Ｂ）とを接続する配線の
抵抗値Ｒｗ１は、上記の一覧表より３０．０［Ω］であ
るから、配線抵抗合計値Ｒｔｏｔａｌ（Ｂ）は３０．０
［Ω］となる。
【００４３】次に、ステップＡ０４において、電流密度
制限値取得部１７は、配線分岐点（Ｂ）での電流密度制
限値Ｊｌｉｍｉｔ（Ｂ）を取得する。電流密度制限値
は、例えば、回路シミュレーションの実行結果等から決
定された、エレクトロマイグレーションの影響による配
線の溶断が生じない最大電流密度値であり、ソース出力
端の駆動能力毎、かつ、配線抵抗合計値毎に定義する。
また、ソース出力端の駆動能力は、端子抵抗で指定す
る。
制限値取得部１７は、配線分岐点（Ｂ）での電流密度制
限値Ｊｌｉｍｉｔ（Ｂ）を取得する。電流密度制限値
は、例えば、回路シミュレーションの実行結果等から決
定された、エレクトロマイグレーションの影響による配
線の溶断が生じない最大電流密度値であり、ソース出力
端の駆動能力毎、かつ、配線抵抗合計値毎に定義する。
また、ソース出力端の駆動能力は、端子抵抗で指定す
る。
【００４４】図４は、本実施の形態に係るシステムにお
ける電流密度制限値の定義の一例を示している。同図に
おいて、１行が１レコードであり、各レコードにそれぞ
れユニークなレコード番号ｎが付与されている。そし
て、以下の電流密度制限値選択条件（ａ），（ｂ）を両
方とも満たすレコードの電流密度制限値Ｊｌｉｍｉｔ
（ｎ）が、その配線分岐点での電流密度制限値になる。
ける電流密度制限値の定義の一例を示している。同図に
おいて、１行が１レコードであり、各レコードにそれぞ
れユニークなレコード番号ｎが付与されている。そし
て、以下の電流密度制限値選択条件（ａ），（ｂ）を両
方とも満たすレコードの電流密度制限値Ｊｌｉｍｉｔ
（ｎ）が、その配線分岐点での電流密度制限値になる。
【００４５】条件（ａ）：駆動能力最小値Ｒｅｓｏｕｒ
ｃｅ＿ＭＩＮ（ｎ）≦ソース出力端の駆動能力＜駆動能
力最大値Ｒｅｓｏｕｒｃｅ＿ＭＡＸ（ｎ） 条件（ｂ）：配線抵抗合計最小値Ｒｅｓｉｓｔ＿ＭＩＮ
（ｎ）≦配線分岐点での配線抵抗合計値＜配線抵抗最大
値Ｒｅｓｉｓｔ＿ＭＡＸ（ｎ）
ｃｅ＿ＭＩＮ（ｎ）≦ソース出力端の駆動能力＜駆動能
力最大値Ｒｅｓｏｕｒｃｅ＿ＭＡＸ（ｎ） 条件（ｂ）：配線抵抗合計最小値Ｒｅｓｉｓｔ＿ＭＩＮ
（ｎ）≦配線分岐点での配線抵抗合計値＜配線抵抗最大
値Ｒｅｓｉｓｔ＿ＭＡＸ（ｎ）
【００４６】上述のように、ソース出力端（Ａ）の端子
抵抗Ｒｇ１は、０．０７［ＫΩ］であり、配線抵抗合計
値Ｒｔｏｔａｌ（Ｂ）は、３０．０[ Ω] であるから、
図４において、上記の条件（ａ），（ｂ）両方を満たす
レコード番号は“８”となる。よって、この場合、レコ
ード番号８の電流密度制限値である３０．０［Ａ／ｍｍ
2 ］を、配線分岐点（Ｂ）での電流密度制限値Ｊｌｉｍ
ｉｔ（Ｂ）とする。
抵抗Ｒｇ１は、０．０７［ＫΩ］であり、配線抵抗合計
値Ｒｔｏｔａｌ（Ｂ）は、３０．０[ Ω] であるから、
図４において、上記の条件（ａ），（ｂ）両方を満たす
レコード番号は“８”となる。よって、この場合、レコ
ード番号８の電流密度制限値である３０．０［Ａ／ｍｍ
2 ］を、配線分岐点（Ｂ）での電流密度制限値Ｊｌｉｍ
ｉｔ（Ｂ）とする。
【００４７】次に、ステップＡ０５で、電流密度計算部
１８は、配線分岐点（Ｂ）での電流密度値Ｊｔｏｔａｌ
（Ｂ）を計算する。図３において、配線分岐点（Ｂ）を
流れる電流値は、配線分岐点（Ｂ）とロード入力端
（Ｃ），（Ｅ），（Ｇ），（Ｈ）とを接続する配線を流
れる電流値の合計となる。このため、これらの区間の配
線における電流値の合計を、配線分岐点（Ｂ）の断面積
で割ったものが、配線分岐点（Ｂ）での電流密度値Ｊｔ
ｏｔａｌ（Ｂ）となる。
１８は、配線分岐点（Ｂ）での電流密度値Ｊｔｏｔａｌ
（Ｂ）を計算する。図３において、配線分岐点（Ｂ）を
流れる電流値は、配線分岐点（Ｂ）とロード入力端
（Ｃ），（Ｅ），（Ｇ），（Ｈ）とを接続する配線を流
れる電流値の合計となる。このため、これらの区間の配
線における電流値の合計を、配線分岐点（Ｂ）の断面積
で割ったものが、配線分岐点（Ｂ）での電流密度値Ｊｔ
ｏｔａｌ（Ｂ）となる。
【００４８】図３に示すネット３の各分岐点間の配線に
おける電流値が、Ｉｗ１〜Ｉｗ７であり、各ロード側ブ
ロック内の配線の電流密度値がＩｇ１〜Ｉｇ４であるか
ら、これらの区間での電流値は、Ｉｗ２〜Ｉｗ７とＩｇ
１〜Ｉｇ４との合計値、すなわち、７０．０［Ａ］とな
る。そこで、配線分岐点（Ｂ）の断面積を１［ｍｍ2］
すると、そこでの電流密度値Ｊｔｏｔａｌ（Ｂ）は、７
０．０［Ａ／ｍｍ2 ］となる。以上が、図２のステップ
Ａ０５で実行される処理である。
おける電流値が、Ｉｗ１〜Ｉｗ７であり、各ロード側ブ
ロック内の配線の電流密度値がＩｇ１〜Ｉｇ４であるか
ら、これらの区間での電流値は、Ｉｗ２〜Ｉｗ７とＩｇ
１〜Ｉｇ４との合計値、すなわち、７０．０［Ａ］とな
る。そこで、配線分岐点（Ｂ）の断面積を１［ｍｍ2］
すると、そこでの電流密度値Ｊｔｏｔａｌ（Ｂ）は、７
０．０［Ａ／ｍｍ2 ］となる。以上が、図２のステップ
Ａ０５で実行される処理である。
【００４９】続くステップＡ０６において、配線分岐点
（Ｂ）での電流密度を検証する。すなわち、電流密度検
証部１９は、電流密度制限値取得部１７で取得した電流
密度制限値Ｊｌｉｍｉｔ（Ｂ）と、電流密度計算部１８
で計算した電流密度値Ｊｔｏｔａｌ（Ｂ）とを比較す
る。
（Ｂ）での電流密度を検証する。すなわち、電流密度検
証部１９は、電流密度制限値取得部１７で取得した電流
密度制限値Ｊｌｉｍｉｔ（Ｂ）と、電流密度計算部１８
で計算した電流密度値Ｊｔｏｔａｌ（Ｂ）とを比較す
る。
【００５０】上述のように、配線分岐点（Ｂ）における
電流密度制限値Ｊｌｉｍｉｔ（Ｂ）が３０．０［Ａ／ｍ
ｍ2 ］で、電流密度値Ｊｔｏｔａｌ（Ｂ）が７０．０
［Ａ／ｍｍ2 ］であるから、電流密度値Ｊｔｏｔａｌ
（Ｂ）は、電流密度制限値Ｊｌｉｍｉｔ（Ｂ）を越えて
いる。この結果から、電流密度検証部１９は、配線分岐
点（Ｂ）において電流密度超過エラーが起きているもの
と判定して、検証結果格納部２０にエラー情報を出力す
る（図２のステップＡ０７）。
電流密度制限値Ｊｌｉｍｉｔ（Ｂ）が３０．０［Ａ／ｍ
ｍ2 ］で、電流密度値Ｊｔｏｔａｌ（Ｂ）が７０．０
［Ａ／ｍｍ2 ］であるから、電流密度値Ｊｔｏｔａｌ
（Ｂ）は、電流密度制限値Ｊｌｉｍｉｔ（Ｂ）を越えて
いる。この結果から、電流密度検証部１９は、配線分岐
点（Ｂ）において電流密度超過エラーが起きているもの
と判定して、検証結果格納部２０にエラー情報を出力す
る（図２のステップＡ０７）。
【００５１】ここでは、エラー情報として、ネット名、
配線分岐点（Ｂ）の座標と端子抵抗Ｒｇ１、配線抵抗合
計値Ｒｔｏｔａｌ（Ｂ）、電流密度値Ｊｔｏｔａｌ
（Ｂ）、電流密度制限値Ｊｌｉｍｉｔ（Ｂ）等が出力さ
れる。そして、これらのエラー情報の出力後、ステップ
Ａ０８において、全配線分岐点におけるチェックが終了
したかどうかが判断される。
配線分岐点（Ｂ）の座標と端子抵抗Ｒｇ１、配線抵抗合
計値Ｒｔｏｔａｌ（Ｂ）、電流密度値Ｊｔｏｔａｌ
（Ｂ）、電流密度制限値Ｊｌｉｍｉｔ（Ｂ）等が出力さ
れる。そして、これらのエラー情報の出力後、ステップ
Ａ０８において、全配線分岐点におけるチェックが終了
したかどうかが判断される。
【００５２】すなわち、配線分岐点（Ｂ）に対する処理
が終了した後、未処理の配線分岐点があれば、ステップ
Ａ０８での判定は“ｎｏ”であるから、ステップＡ０３
に戻り、次の配線分岐点の処理に移行する。
が終了した後、未処理の配線分岐点があれば、ステップ
Ａ０８での判定は“ｎｏ”であるから、ステップＡ０３
に戻り、次の配線分岐点の処理に移行する。
【００５３】このように、配線分岐点（Ｂ）での処理が
終了したならば、次に、配線分岐点取得部１５は、未処
理の配線分岐点の中で一番ソース側に近いものを調べ
る。その結果、配線分岐点（Ｄ）が取得され、その配線
分岐点（Ｄ）での配線抵抗合計値Ｒｔｏｔａｌ（Ｄ）を
計算する（ステップＡ０３）。
終了したならば、次に、配線分岐点取得部１５は、未処
理の配線分岐点の中で一番ソース側に近いものを調べ
る。その結果、配線分岐点（Ｄ）が取得され、その配線
分岐点（Ｄ）での配線抵抗合計値Ｒｔｏｔａｌ（Ｄ）を
計算する（ステップＡ０３）。
【００５４】配線抵抗合計値Ｒｔｏｔａｌ（Ｄ）は、図
３から明らかなように、ソース出力端（Ａ）と配線分岐
点（Ｂ）を接続する配線の抵抗値Ｒｗ１（３０．０
［Ω］）と、配線分岐点（Ｂ）と配線分岐点（Ｄ）を接
続する配線の抵抗値Ｒｗ３（２０．０［Ω］）との合計
値である、５０．０［Ω］となる。
３から明らかなように、ソース出力端（Ａ）と配線分岐
点（Ｂ）を接続する配線の抵抗値Ｒｗ１（３０．０
［Ω］）と、配線分岐点（Ｂ）と配線分岐点（Ｄ）を接
続する配線の抵抗値Ｒｗ３（２０．０［Ω］）との合計
値である、５０．０［Ω］となる。
【００５５】次に、ステップＡ０４において、電流密度
制限値取得部１７は、論理／物理接続情報入力部１３で
入力された電流密度制限値の定義の中から、配線分岐点
（Ｄ）における電流密度制限値Ｊｌｉｍｉｔ（Ｄ）を取
得する。
制限値取得部１７は、論理／物理接続情報入力部１３で
入力された電流密度制限値の定義の中から、配線分岐点
（Ｄ）における電流密度制限値Ｊｌｉｍｉｔ（Ｄ）を取
得する。
【００５６】配線分岐点（Ｄ）について、ソース出力端
（Ａ）の端子抵抗Ｒｇ１は、０．０７［ＫΩ］であり、
配線抵抗合計値Ｒｔｏｔａｌ（Ｄ）は、上記のように５
０．０［Ω］）であるから、図４より、上記の電流密度
制限値の選択条件（ａ），（ｂ）を両方満たすレコード
番号は、“９”となる。よって、レコード番号９の電流
密度制限値６０．０［Ａ／ｍｍ2 ］を、配線分岐点
（Ｄ）での電流密度制限値Ｊｌｉｍｉｔ（Ｄ）とする。
（Ａ）の端子抵抗Ｒｇ１は、０．０７［ＫΩ］であり、
配線抵抗合計値Ｒｔｏｔａｌ（Ｄ）は、上記のように５
０．０［Ω］）であるから、図４より、上記の電流密度
制限値の選択条件（ａ），（ｂ）を両方満たすレコード
番号は、“９”となる。よって、レコード番号９の電流
密度制限値６０．０［Ａ／ｍｍ2 ］を、配線分岐点
（Ｄ）での電流密度制限値Ｊｌｉｍｉｔ（Ｄ）とする。
【００５７】次に、ステップＡ０５において、電流密度
計算部１８は、配線分岐点（Ｄ）での電流密度値Ｊｔｏ
ｔａｌ（Ｄ）を計算する。配線分岐点（Ｄ）を流れる電
流値は、配線分岐点（Ｄ）と、ロード入力端（Ｅ），
（Ｇ），（Ｈ）とを接続する配線を流れる電流値の合計
となる。そして、これらの区間の配線における電流値の
合計を、配線分岐点（Ｄ）の断面積で割ったものが、配
線分岐点（Ｄ）での電流密度値Ｊｔｏｔａｌ（Ｄ）とな
る。
計算部１８は、配線分岐点（Ｄ）での電流密度値Ｊｔｏ
ｔａｌ（Ｄ）を計算する。配線分岐点（Ｄ）を流れる電
流値は、配線分岐点（Ｄ）と、ロード入力端（Ｅ），
（Ｇ），（Ｈ）とを接続する配線を流れる電流値の合計
となる。そして、これらの区間の配線における電流値の
合計を、配線分岐点（Ｄ）の断面積で割ったものが、配
線分岐点（Ｄ）での電流密度値Ｊｔｏｔａｌ（Ｄ）とな
る。
【００５８】具体的には、上記の区間における電流値
は、Ｉｗ４〜Ｉｗ７とＩｇ２〜Ｉｇ４との合計値であ
る、５３．０［Ａ］となる。配線分岐点（Ｄ）の断面積
を１［ｍｍ2 ］すると、電流密度値Ｊｔｏｔａｌ（Ｄ）
は、５３．０［Ａ／ｍｍ2 ］となる。
は、Ｉｗ４〜Ｉｗ７とＩｇ２〜Ｉｇ４との合計値であ
る、５３．０［Ａ］となる。配線分岐点（Ｄ）の断面積
を１［ｍｍ2 ］すると、電流密度値Ｊｔｏｔａｌ（Ｄ）
は、５３．０［Ａ／ｍｍ2 ］となる。
【００５９】次に、ステップＡ０６で、電流密度検証部
１９による、配線分岐点（Ｄ）での電流密度の検証が行
われる。具体的には、電流密度検証部１９は、電流密度
制限値取得部１７で取得した電流密度制限値Ｊｌｉｍｉ
ｔ（Ｄ）と、電流密度計算部１８で計算した電流密度値
Ｊｔｏｔａｌ（Ｄ）とを比較する。
１９による、配線分岐点（Ｄ）での電流密度の検証が行
われる。具体的には、電流密度検証部１９は、電流密度
制限値取得部１７で取得した電流密度制限値Ｊｌｉｍｉ
ｔ（Ｄ）と、電流密度計算部１８で計算した電流密度値
Ｊｔｏｔａｌ（Ｄ）とを比較する。
【００６０】その結果、電流密度制限値Ｊｌｉｍｉｔ
（Ｄ）が、６０．０[ Ａ／ｍｍ2]で、電流密度値Ｊｔｏ
ｔａｌ（Ｄ）が、５３．０［Ａ／ｍｍ2 ］であるから、
電流密度値Ｊｔｏｔａｌ（Ｄ）は、電流密度制限値Ｊｌ
ｉｍｉｔ（Ｄ）を越えていないことが分かる（ステップ
Ａ０６で“ｎｏ”）。
（Ｄ）が、６０．０[ Ａ／ｍｍ2]で、電流密度値Ｊｔｏ
ｔａｌ（Ｄ）が、５３．０［Ａ／ｍｍ2 ］であるから、
電流密度値Ｊｔｏｔａｌ（Ｄ）は、電流密度制限値Ｊｌ
ｉｍｉｔ（Ｄ）を越えていないことが分かる（ステップ
Ａ０６で“ｎｏ”）。
【００６１】よって、電流密度検証部１９は、配線分岐
点（Ｄ）において電流密度超過エラーが起きていないも
のと判定する。そこで、ステップＡ０８において、全配
線分岐点におけるチェックが終了したかどうかが判断さ
れ、その判断結果に応じて、次の配線分岐点の処理に移
る。
点（Ｄ）において電流密度超過エラーが起きていないも
のと判定する。そこで、ステップＡ０８において、全配
線分岐点におけるチェックが終了したかどうかが判断さ
れ、その判断結果に応じて、次の配線分岐点の処理に移
る。
【００６２】全配線分岐点におけるチェックが終了して
いなければ、上記の配線分岐点（Ｂ），（Ｄ）と同様
に、ロード入力端（Ｃ）、ロード入力端（Ｅ）、配線分
岐点（Ｆ）、ロード入力端（Ｇ）、ロード入力端（Ｈ）
についても、それぞれ電流密度の検証を順次、行う。な
お、上述したように、これらの配線分岐点（（Ｂ）以
外）では、電流密度超過エラーは起きていないものとす
る。
いなければ、上記の配線分岐点（Ｂ），（Ｄ）と同様
に、ロード入力端（Ｃ）、ロード入力端（Ｅ）、配線分
岐点（Ｆ）、ロード入力端（Ｇ）、ロード入力端（Ｈ）
についても、それぞれ電流密度の検証を順次、行う。な
お、上述したように、これらの配線分岐点（（Ｂ）以
外）では、電流密度超過エラーは起きていないものとす
る。
【００６３】各配線分岐点での電流密度の検証が終了し
たならば、次に、配線幅変更部２１は、電流密度超過エ
ラーとなっている区間の配線幅を変更する。しかし、電
流密度超過エラーが起きている配線分岐点が存在しない
場合には、かかるネットの処理を終了して、次のネット
の処理に移る。
たならば、次に、配線幅変更部２１は、電流密度超過エ
ラーとなっている区間の配線幅を変更する。しかし、電
流密度超過エラーが起きている配線分岐点が存在しない
場合には、かかるネットの処理を終了して、次のネット
の処理に移る。
【００６４】電流密度超過エラーが起きている配線分岐
点が存在する場合、ステップＡ０９での判定結果は“ｙ
ｅｓ”となるから、配線幅変更部２１は、検証結果格納
部２０に格納されたエラー情報を参照して、ソース出力
端とエラーとなっている配線分岐点とを接続する配線の
幅を、エラーとならない幅に広げる（ステップＡ１
０）。
点が存在する場合、ステップＡ０９での判定結果は“ｙ
ｅｓ”となるから、配線幅変更部２１は、検証結果格納
部２０に格納されたエラー情報を参照して、ソース出力
端とエラーとなっている配線分岐点とを接続する配線の
幅を、エラーとならない幅に広げる（ステップＡ１
０）。
【００６５】図３のネット３では、配線分岐点（Ｂ）で
電流密度超過エラーが起きているので、配線幅変更部２
１は、ソース出力端（Ａ）と配線分岐点（Ｂ）とを接続
する配線の幅を広げる。そして、配線幅を変更すること
によって、電流密度も変化するので、配線幅の変更後、
再び、ネット３の各配線分岐点での電流密度の検証を行
い、変更後の配線幅で電流密度制限エラーが起きていな
いかを検証する。
電流密度超過エラーが起きているので、配線幅変更部２
１は、ソース出力端（Ａ）と配線分岐点（Ｂ）とを接続
する配線の幅を広げる。そして、配線幅を変更すること
によって、電流密度も変化するので、配線幅の変更後、
再び、ネット３の各配線分岐点での電流密度の検証を行
い、変更後の配線幅で電流密度制限エラーが起きていな
いかを検証する。
【００６６】上記の処理および検証を、電流密度制限エ
ラーが起きている配線分岐点が存在しなくなるまで繰り
返す。その結果、電流密度制限エラーが起きている配線
分岐点が存在しなくなったならば、対象とするネットの
処理を終了して、次のネットの処理に移る（ステップＡ
１１で“ｎｏ”）。
ラーが起きている配線分岐点が存在しなくなるまで繰り
返す。その結果、電流密度制限エラーが起きている配線
分岐点が存在しなくなったならば、対象とするネットの
処理を終了して、次のネットの処理に移る（ステップＡ
１１で“ｎｏ”）。
【００６７】上記の手順を繰り返して、回路中の全ネッ
トについて処理を行い、ステップＡ１１での判定が“ｙ
ｅｓ”となったならば、全ネットの処理が終了したとし
て、本エラー判定および配線幅変更処理を終える。
トについて処理を行い、ステップＡ１１での判定が“ｙ
ｅｓ”となったならば、全ネットの処理が終了したとし
て、本エラー判定および配線幅変更処理を終える。
【００６８】以上説明したように、本実施の形態によれ
ば、半導体集積回路のネットの配線分岐点毎に電流密度
値を計算して、これを電流密度制限値と比較することに
よりエレクトロマイグレーションの検証を行い、電流密
度超過を起こしている部分の配線のみを、例えば、最適
な配線幅に広げて電流密度低減を行うことで、エレクト
ロマイグレーションの影響による配線の溶断を未然に防
止することができ、そのための再配線も不要になる。
ば、半導体集積回路のネットの配線分岐点毎に電流密度
値を計算して、これを電流密度制限値と比較することに
よりエレクトロマイグレーションの検証を行い、電流密
度超過を起こしている部分の配線のみを、例えば、最適
な配線幅に広げて電流密度低減を行うことで、エレクト
ロマイグレーションの影響による配線の溶断を未然に防
止することができ、そのための再配線も不要になる。
【００６９】このことは、大規模集積回路（ＬＳＩ）の
レイアウト設計において、電流密度過多によるエレクト
ロマイグレーションの影響で生じる配線の溶断を考慮に
入れて、その防止を図ることにつながる。
レイアウト設計において、電流密度過多によるエレクト
ロマイグレーションの影響で生じる配線の溶断を考慮に
入れて、その防止を図ることにつながる。
【００７０】また、エレクトロマイグレーションによる
配線の溶断が、配線分岐点で生じる可能性が大きいこと
に着目して、ソース側からロード側方向に配線の接続関
係を調べて、ソース側に近い配線分岐点から順に電流密
度を検証し、ソース出力端とその配線分岐点とを接続す
る配線における電流密度を低減することで、エレクトロ
マイグレーションによる配線の溶断を防止するために、
効率的に電流密度過度な配線分岐点を発見できる。
配線の溶断が、配線分岐点で生じる可能性が大きいこと
に着目して、ソース側からロード側方向に配線の接続関
係を調べて、ソース側に近い配線分岐点から順に電流密
度を検証し、ソース出力端とその配線分岐点とを接続す
る配線における電流密度を低減することで、エレクトロ
マイグレーションによる配線の溶断を防止するために、
効率的に電流密度過度な配線分岐点を発見できる。
【００７１】なお、上記の実施の形態では、回路中の全
ネットについて検証を行っているが、本発明は、これに
限定されるものではなく、例えば、任意のネットについ
てのみ検証を行ってもよい。また、任意のネットを除い
た全ネットについて、かかる検証を行うようにしてもよ
い。
ネットについて検証を行っているが、本発明は、これに
限定されるものではなく、例えば、任意のネットについ
てのみ検証を行ってもよい。また、任意のネットを除い
た全ネットについて、かかる検証を行うようにしてもよ
い。
【００７２】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
半導体集積回路上の複数の機能ブロックを電気的に相互
に接続するための配線設計方法において、これら複数の
機能ブロック間における配線分岐点を得る第１の接続情
報取得ステップと、上記配線分岐点における電流密度を
求める第２の接続情報取得ステップと、上記電流密度が
所定の制限値を越えているか否かを判定するステップ
と、上記判定の結果をもとに、上記電流密度が上記制限
値を超過している配線分岐点を末端とする所定の配線部
分に対して電流密度を低減する処理を施すステップとを
備えることで、エレクトロマイグレーションの影響によ
る配線の溶断を生じやすい個所、あるいは、その可能性
のある個所を効率的かつ迅速に発見、修正して、かかる
溶断を未然に防止できる。
半導体集積回路上の複数の機能ブロックを電気的に相互
に接続するための配線設計方法において、これら複数の
機能ブロック間における配線分岐点を得る第１の接続情
報取得ステップと、上記配線分岐点における電流密度を
求める第２の接続情報取得ステップと、上記電流密度が
所定の制限値を越えているか否かを判定するステップ
と、上記判定の結果をもとに、上記電流密度が上記制限
値を超過している配線分岐点を末端とする所定の配線部
分に対して電流密度を低減する処理を施すステップとを
備えることで、エレクトロマイグレーションの影響によ
る配線の溶断を生じやすい個所、あるいは、その可能性
のある個所を効率的かつ迅速に発見、修正して、かかる
溶断を未然に防止できる。
【００７３】また，他の発明によれば、半導体集積回路
上の複数の機能ブロックを電気的に相互に接続するため
の配線設計装置において、これら複数の機能ブロック間
における配線分岐点を得る第1 の接続情報取得手段と、
上記配線分岐点における電流密度を求める第２の接続情
報取得手段と、上記電流密度が所定の制限値を越えてい
るか否かを判定する手段と、上記判定の結果をもとに、
上記電流密度が上記制限値を超過している配線分岐点を
末端とする所定の配線部分に対して電流密度を低減する
処理を施す手段とを備えることで、エレクトロマイグレ
ーションによる配線の溶断を生じやすい個所、溶断の可
能性のある個所を効率的、かつ迅速に発見、修正でき、
かかる溶断を未然に防止できるという効果がある。
上の複数の機能ブロックを電気的に相互に接続するため
の配線設計装置において、これら複数の機能ブロック間
における配線分岐点を得る第1 の接続情報取得手段と、
上記配線分岐点における電流密度を求める第２の接続情
報取得手段と、上記電流密度が所定の制限値を越えてい
るか否かを判定する手段と、上記判定の結果をもとに、
上記電流密度が上記制限値を超過している配線分岐点を
末端とする所定の配線部分に対して電流密度を低減する
処理を施す手段とを備えることで、エレクトロマイグレ
ーションによる配線の溶断を生じやすい個所、溶断の可
能性のある個所を効率的、かつ迅速に発見、修正でき、
かかる溶断を未然に防止できるという効果がある。
【００７４】さらには、上記の配線分岐点について、上
記機能ブロックの信号源側から負荷側方向へ検索を行
い、信号源に近い順に上記電流密度の検証を行うこと
で、エレクトロマイグレーションによる配線の溶断を防
止するための、電流密度過度な配線分岐点の発見を効率
的に行える。
記機能ブロックの信号源側から負荷側方向へ検索を行
い、信号源に近い順に上記電流密度の検証を行うこと
で、エレクトロマイグレーションによる配線の溶断を防
止するための、電流密度過度な配線分岐点の発見を効率
的に行える。
【図１】本発明の実施の形態に係るエレクトロマイグレ
ーション・エラー改善システムの全体構成を示すブロッ
ク図である。
ーション・エラー改善システムの全体構成を示すブロッ
ク図である。
【図２】本実施の形態に係る電流密度超過エラーの判
定、および配線幅の変更処理手順を示すフローチャート
である。
定、および配線幅の変更処理手順を示すフローチャート
である。
【図３】エラーの判定および配線幅変更処理の対象とな
るネットの例を示す図である。
るネットの例を示す図である。
【図４】本実施の形態に係るシステムにおける電流密度
制限値の定義の一例を示す図である。
制限値の定義の一例を示す図である。
３ ネット １１ 論理接続情報格納部 １２ 物理接続情報格納部 １３ 論理／物理接続情報入力部 １４ 配線トレース部 １５ 配線分岐点取得部 １６ 電流密度制限値格納部 １７ 電流密度制限値取得部 １８ 電流密度計算部 １９ 電流密度検証部 ２０ 検証結果格納部 ２１ 配線幅変更部 ３１ ソース側ブロック ３２〜３５ ロード側ブロック
Claims (16)
- 【請求項１】 半導体集積回路上の複数の機能ブロック
を電気的に相互に接続するための配線設計方法におい
て、 前記複数の機能ブロック間における配線分岐点を得る第
1 の接続情報取得ステップと、 前記配線分岐点における電流密度を求める第２の接続情
報取得ステップと、 前記電流密度が所定の制限値を越えているか否かを判定
するステップと、 前記判定の結果をもとに、前記電流密度が前記制限値を
超過している配線分岐点を末端とする所定の配線部分に
対して電流密度を低減する処理を施すステップとを備え
ることを特徴とする配線設計方法。 - 【請求項２】 前記配線分岐点には、前記機能ブロック
の内、負荷として機能するブロックの入力端が含まれる
ことを特徴とする請求項１記載の配線設計方法。 - 【請求項３】 前記第２の接続情報取得ステップは、前
記配線分岐点について、前記機能ブロックの信号源側か
ら負荷側方向へ検索を行い、前記信号源に近い順に前記
電流密度の検証を行うことを特徴とする請求項２記載の
配線設計方法。 - 【請求項４】 前記所定の配線部分は、前記電流密度が
前記制限値を超過している配線分岐点と、その信号源方
向に位置する他の配線分岐点とで示される区間、また
は、前記電流密度が前記制限値を超過している配線分岐
点と、その信号源方向に位置する前記機能ブロックの出
力端とで示される区間であることを特徴とする請求項３
記載の配線設計方法。 - 【請求項５】 前記所定の制限値は、前記区間における
配線が溶断しない最大電流密度であることを特徴とする
請求項４記載の配線設計方法。 - 【請求項６】 前記最大電流密度は、前記区間の信号源
側に位置する前記機能ブロックの出力端の駆動能力、お
よび、当該区間の配線抵抗の合計値によって規定される
ことを特徴とする請求項５記載の配線設計方法。 - 【請求項７】 前記電流密度を低減する処理には、前記
配線部分の電気抵抗を低減する処理が含まれることを特
徴とする請求項１記載の配線設計方法。 - 【請求項８】 半導体集積回路上の複数の機能ブロック
を電気的に相互に接続するための配線設計装置におい
て、 前記複数の機能ブロック間における配線分岐点を得る第
1 の接続情報取得手段と、 前記配線分岐点における電流密度を求める第２の接続情
報取得手段と、 前記電流密度が所定の制限値を越えているか否かを判定
する手段と、 前記判定の結果をもとに、前記電流密度が前記制限値を
超過している配線分岐点を末端とする所定の配線部分に
対して電流密度を低減する処理を施す手段とを備えるこ
とを特徴とする配線設計装置。 - 【請求項９】 前記配線分岐点には、前記機能ブロック
の内、負荷として機能するブロックの入力端が含まれる
ことを特徴とする請求項８記載の配線設計装置。 - 【請求項１０】 前記第２の接続情報取得手段は、前記
配線分岐点について、前記機能ブロックの信号源側から
負荷側方向へ検索を行い、前記信号源に近い順に前記電
流密度の検証を行うことを特徴とする請求項９記載の配
線設計装置。 - 【請求項１１】 前記所定の配線部分は、前記電流密度
が前記制限値を超過している配線分岐点と、その信号源
方向に位置する他の配線分岐点とで示される区間、また
は、前記電流密度が前記制限値を超過している配線分岐
点と、その信号源方向に位置する前記機能ブロックの出
力端とで示される区間であることを特徴とする請求項１
０記載の配線設計装置。 - 【請求項１２】 前記所定の制限値は、前記区間におけ
る配線が溶断しない最大電流密度であることを特徴とす
る請求項１１記載の配線設計装置。 - 【請求項１３】 前記最大電流密度は、前記区間の信号
源側に位置する前記機能ブロックの出力端の駆動能力、
および、当該区間の配線抵抗の合計値によって規定され
ることを特徴とする請求項１２記載の配線設計装置。 - 【請求項１４】 前記電流密度を低減する処理には、前
記配線部分の電気抵抗を低減する処理が含まれることを
特徴とする請求項８記載の配線設計装置。 - 【請求項１５】 半導体集積回路上の複数の機能ブロッ
クを電気的に相互に接続するための配線設計方法を実行
するプログラムを記録したコンピュータ可読記録媒体に
おいて、 前記複数の機能ブロック間における配線分岐点を得るス
テップのプログラムコードと、 前記配線分岐点における電流密度を求めるステップのプ
ログラムコードと、 前記電流密度が所定の制限値を越えているか否かを判定
するステップのプログラムコードと、 前記判定の結果をもとに、前記電流密度が前記制限値を
超過している配線分岐点を末端とする所定の配線部分に
対して電流密度を低減する処理を施すステップのプログ
ラムコードとを備えることを特徴とするコンピュータ可
読記録媒体。 - 【請求項１６】 半導体集積回路上の複数の機能ブロッ
クを電気的に相互に接続するための配線設計処理を実行
するプログラムにおいて、 前記複数の機能ブロック間における配線分岐点を得る処
理と、 前記配線分岐点における電流密度を求める処理と、 前記電流密度が所定の制限値を超えているか否かを判定
する処理と、 前記判定の結果をもとに、前記電流密度が前記制限値を
超過している配線分岐点を末端とする所定の配線部分に
対して電流密度を低減する処理とを実行させるためのプ
ログラム。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001009075A JP3654190B2 (ja) | 2001-01-17 | 2001-01-17 | 配線設計方法および配線設計装置 |
| US10/043,312 US6971082B2 (en) | 2001-01-17 | 2002-01-14 | Method and apparatus for revising wiring of a circuit to prevent electro-migration |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001009075A JP3654190B2 (ja) | 2001-01-17 | 2001-01-17 | 配線設計方法および配線設計装置 |
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|---|---|
| JP2002217296A true JP2002217296A (ja) | 2002-08-02 |
| JP3654190B2 JP3654190B2 (ja) | 2005-06-02 |
Family
ID=18876616
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2001009075A Expired - Fee Related JP3654190B2 (ja) | 2001-01-17 | 2001-01-17 | 配線設計方法および配線設計装置 |
Country Status (2)
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| US (1) | US6971082B2 (ja) |
| JP (1) | JP3654190B2 (ja) |
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| US7191425B1 (en) * | 2004-11-18 | 2007-03-13 | Sun Microsystems, Inc. | Method and apparatus for inserting extra tracks during library architecture migration |
| US8219953B2 (en) * | 2008-01-17 | 2012-07-10 | Texas Instruments Incorporated | Budgeting electromigration-related reliability among metal paths in the design of a circuit |
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| US8205183B1 (en) * | 2009-09-18 | 2012-06-19 | Altera Corporation | Interactive configuration of connectivity in schematic diagram of integrated circuit design |
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| US9607125B1 (en) * | 2015-01-09 | 2017-03-28 | Apple Inc. | Context-aware reliability checks |
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|---|---|---|---|---|
| US5379231A (en) * | 1992-05-29 | 1995-01-03 | University Of Texas System | Method and apparatus for simulating a microelectric interconnect circuit |
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| US5737580A (en) * | 1995-04-28 | 1998-04-07 | International Business Machines Corporation | Wiring design tool improvement for avoiding electromigration by determining optimal wire widths |
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- 2001-01-17 JP JP2001009075A patent/JP3654190B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2002
- 2002-01-14 US US10/043,312 patent/US6971082B2/en not_active Expired - Fee Related
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|---|---|
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| US6971082B2 (en) | 2005-11-29 |
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