JPH02133435A - 耐熱性高分子超薄膜の製造法 - Google Patents
耐熱性高分子超薄膜の製造法Info
- Publication number
- JPH02133435A JPH02133435A JP28701188A JP28701188A JPH02133435A JP H02133435 A JPH02133435 A JP H02133435A JP 28701188 A JP28701188 A JP 28701188A JP 28701188 A JP28701188 A JP 28701188A JP H02133435 A JPH02133435 A JP H02133435A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- alkyl group
- group
- polymer film
- ultra
- heat
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 229920006254 polymer film Polymers 0.000 title claims abstract description 20
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims description 9
- 125000000217 alkyl group Chemical group 0.000 claims abstract description 23
- 229920000642 polymer Polymers 0.000 claims abstract description 21
- 125000001997 phenyl group Chemical group [H]C1=C([H])C([H])=C(*)C([H])=C1[H] 0.000 claims abstract description 13
- 229910052732 germanium Inorganic materials 0.000 claims abstract description 9
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 claims abstract description 8
- 239000007788 liquid Substances 0.000 claims abstract description 7
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 5
- 238000010030 laminating Methods 0.000 claims abstract description 4
- 229920001400 block copolymer Polymers 0.000 claims abstract 2
- 125000004432 carbon atom Chemical group C* 0.000 claims description 10
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 9
- GNPVGFCGXDBREM-UHFFFAOYSA-N germanium atom Chemical compound [Ge] GNPVGFCGXDBREM-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 8
- 239000000126 substance Substances 0.000 claims description 8
- 239000010703 silicon Substances 0.000 claims description 7
- 125000004435 hydrogen atom Chemical group [H]* 0.000 claims description 3
- 229920005603 alternating copolymer Polymers 0.000 claims 1
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract description 5
- 125000001188 haloalkyl group Chemical group 0.000 abstract 3
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 abstract 1
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 30
- 239000010408 film Substances 0.000 description 10
- 239000000463 material Substances 0.000 description 9
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 6
- 238000000862 absorption spectrum Methods 0.000 description 5
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 4
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 4
- 229920000548 poly(silane) polymer Polymers 0.000 description 4
- UHOVQNZJYSORNB-UHFFFAOYSA-N Benzene Chemical compound C1=CC=CC=C1 UHOVQNZJYSORNB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 3
- 229920002120 photoresistant polymer Polymers 0.000 description 3
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000012298 atmosphere Substances 0.000 description 2
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000012776 electronic material Substances 0.000 description 2
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 description 2
- 229920000620 organic polymer Polymers 0.000 description 2
- 125000002524 organometallic group Chemical group 0.000 description 2
- 229920001709 polysilazane Polymers 0.000 description 2
- 239000002994 raw material Substances 0.000 description 2
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 2
- 238000003892 spreading Methods 0.000 description 2
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical group [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- YXFVVABEGXRONW-UHFFFAOYSA-N Toluene Chemical compound CC1=CC=CC=C1 YXFVVABEGXRONW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 1
- 229920001940 conductive polymer Polymers 0.000 description 1
- 238000007334 copolymerization reaction Methods 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- YUYHCACQLHNZLS-UHFFFAOYSA-N dichloro-cyclohexyl-methylsilane Chemical compound C[Si](Cl)(Cl)C1CCCCC1 YUYHCACQLHNZLS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- KKRMHVJQWMXYBZ-UHFFFAOYSA-N dichloro-hexyl-methylsilane Chemical compound CCCCCC[Si](C)(Cl)Cl KKRMHVJQWMXYBZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- KPUWHANPEXNPJT-UHFFFAOYSA-N disiloxane Chemical class [SiH3]O[SiH3] KPUWHANPEXNPJT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 1
- 239000003814 drug Substances 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 239000000945 filler Substances 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- 239000011261 inert gas Substances 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 1
- 239000011368 organic material Substances 0.000 description 1
- 125000000843 phenylene group Chemical group C1(=C(C=CC=C1)*)* 0.000 description 1
- 230000000704 physical effect Effects 0.000 description 1
- -1 polygermane Polymers 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 1
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 description 1
- 238000010189 synthetic method Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Manufacture Of Macromolecular Shaped Articles (AREA)
- Laminated Bodies (AREA)
- Formation Of Insulating Films (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は種々の電子部品あるいは光学部品等に利用され
る耐熱性高分子超薄膜の製造法に関するものである。
る耐熱性高分子超薄膜の製造法に関するものである。
従来の技術
近年エレクトロニクス技術の発展がめざましく、装置機
器あるいは素子が著るしく小型化されている。そのよう
ななかでシリコンあるいはゲルマニウム元素を含む有機
高分子は第2の有機物とに非常な興味を集めている。こ
れは従来の様な炭素を主体とした有機物には見られない
特徴的な物性が期待されるためで、用途とに現状で考え
ると■ 半導体、導電性高分子などの電子材料 ■ 記録材料、光関連材料 ■ セラミックス原料 ■ フォトレジスト ■ 有機ガラス ■医薬 等が考えられ既に一部は実用化もにいる。
器あるいは素子が著るしく小型化されている。そのよう
ななかでシリコンあるいはゲルマニウム元素を含む有機
高分子は第2の有機物とに非常な興味を集めている。こ
れは従来の様な炭素を主体とした有機物には見られない
特徴的な物性が期待されるためで、用途とに現状で考え
ると■ 半導体、導電性高分子などの電子材料 ■ 記録材料、光関連材料 ■ セラミックス原料 ■ フォトレジスト ■ 有機ガラス ■医薬 等が考えられ既に一部は実用化もにいる。
発明が解決しようとする課題
しかしながらこれらの材料の薄膜とにの機能を発現させ
た例は殆んどない。これは一つは例えばポリシランの場
合可溶化はできても、低分子物質の混在を招きどうにも
皮膜性が悪化するためと考えられる。この点に関には現
在勢力的に実験が行なわれ新しい合成法が開発されつつ
ある。
た例は殆んどない。これは一つは例えばポリシランの場
合可溶化はできても、低分子物質の混在を招きどうにも
皮膜性が悪化するためと考えられる。この点に関には現
在勢力的に実験が行なわれ新しい合成法が開発されつつ
ある。
しかし依然とに現状得られるポリマーは分子量分布が2
つのピークを持つものとなっている。従って(、■のセ
ラミックスをつくる場合においても薄膜とには得られて
おらず、固体も[−くけ繊維状に限られている。
つのピークを持つものとなっている。従って(、■のセ
ラミックスをつくる場合においても薄膜とには得られて
おらず、固体も[−くけ繊維状に限られている。
シリコンもしくけゲルマニウムを含むポリマーを薄膜化
することは電子材料、記録材料あるいはフォトレジスト
材料とにもまたセラミックス原料でも非常に興味のある
所である。
することは電子材料、記録材料あるいはフォトレジスト
材料とにもまたセラミックス原料でも非常に興味のある
所である。
本発明は上記要望を達成するもので、シリコンまたはゲ
ルマニウムを含むポリマーの超薄膜化と耐熱性の向上を
目的とするものである。
ルマニウムを含むポリマーの超薄膜化と耐熱性の向上を
目的とするものである。
評題点を解決するための手段
本発明は上記目的を達成するもので2可溶性のポリシラ
ン、ポリゲルマン、ポリシラザンの溶液を支持液体表面
、例えば水面上に供給することにより容易にこれら高分
子の超薄膜を作製できる。
ン、ポリゲルマン、ポリシラザンの溶液を支持液体表面
、例えば水面上に供給することにより容易にこれら高分
子の超薄膜を作製できる。
そに水面上に生成した高分子超薄膜を基板上にすくい上
げ接着積層することで〜200 A程度の均一な超薄膜
を作製できる。この膜厚は当然積層の回数、もしくは溶
液の濃度で調整できるものである0 また我々が既に提案(特公昭58−35722号公報参
照)にいるような水面展開法による連続的な製膜も可能
である。得られたポリマーの薄膜は一般的に低分子物質
を含み非常に不安定な膜となってしまう。そのため30
0〜1000℃での加熱処理により、低分子物質の除去
と膜の安定化を必要とする。 こうすることにより〜1
00八程度のこれらポリマーの超薄の高分子膜が容易に
可能となった。
げ接着積層することで〜200 A程度の均一な超薄膜
を作製できる。この膜厚は当然積層の回数、もしくは溶
液の濃度で調整できるものである0 また我々が既に提案(特公昭58−35722号公報参
照)にいるような水面展開法による連続的な製膜も可能
である。得られたポリマーの薄膜は一般的に低分子物質
を含み非常に不安定な膜となってしまう。そのため30
0〜1000℃での加熱処理により、低分子物質の除去
と膜の安定化を必要とする。 こうすることにより〜1
00八程度のこれらポリマーの超薄の高分子膜が容易に
可能となった。
また本発明に用いられる高分子は従来技術でも示した通
り感光性材料とにも知られ、フォレジスト材料とにも有
望である。従ってあらかじめパターンを描いた後で熱処
理することも可能で、超薄膜でパターン化することも可
能である。
り感光性材料とにも知られ、フォレジスト材料とにも有
望である。従ってあらかじめパターンを描いた後で熱処
理することも可能で、超薄膜でパターン化することも可
能である。
ポリシラン材料とには一般式が
以下余白
R1
体も可能で一般式が
(但し、R1は水素原子、炭素数が1〜9個のアルキル
基あるいはハロゲン化アルキル基及びフェニル基のいず
れかで示される。R2は炭素数が1〜9個のアルキル基
あるいは)・ロゲン化アルキル基及びフェニル基より成
る群より選ばれる。R1゜R2は同じでも異っても良い
。nは10以上の整数で示きれる。)で示される。また
ポリゲルマンとには一般式が (但し、R+、R2は炭素数が1〜6個のアルキル基あ
るいはハロゲン化アルキル基及びフェニル基より成る群
より選ばれる。几1.R2は同じでも異っても良い。n
は10以上の整数で示される。)のもので、分子量が少
くとも10,000以上の成分を含んでいることが必要
である。この他に共重合(但し、R+は水素原子、炭素
数が1〜9個のアルキル基あるいけハロゲン化アルキル
基及びフェニル基のいずれかで示される。R2は炭素数
が1〜9個のアルキル基あるいはハロゲン化アルキル基
及びフェニル基より成る群より選ばれる。R1゜Rzi
d同じでも異って良い。Xは炭素、フェニレン、ケイ素
、ゲルマニウムを含む残基より成る群より選ばれる。で
示されるものが適当である。
基あるいはハロゲン化アルキル基及びフェニル基のいず
れかで示される。R2は炭素数が1〜9個のアルキル基
あるいは)・ロゲン化アルキル基及びフェニル基より成
る群より選ばれる。R1゜R2は同じでも異っても良い
。nは10以上の整数で示きれる。)で示される。また
ポリゲルマンとには一般式が (但し、R+、R2は炭素数が1〜6個のアルキル基あ
るいはハロゲン化アルキル基及びフェニル基より成る群
より選ばれる。几1.R2は同じでも異っても良い。n
は10以上の整数で示される。)のもので、分子量が少
くとも10,000以上の成分を含んでいることが必要
である。この他に共重合(但し、R+は水素原子、炭素
数が1〜9個のアルキル基あるいけハロゲン化アルキル
基及びフェニル基のいずれかで示される。R2は炭素数
が1〜9個のアルキル基あるいはハロゲン化アルキル基
及びフェニル基より成る群より選ばれる。R1゜Rzi
d同じでも異って良い。Xは炭素、フェニレン、ケイ素
、ゲルマニウムを含む残基より成る群より選ばれる。で
示されるものが適当である。
さらにこれらの高分子の混合体でも相溶性が良ければ均
一な薄膜を作ることが可能である。ま、ケ場合によって
は、より耐熱性を向上させるためフィラーを混入させる
ことあるいは第2成分を混入させ熱処理をすることでよ
り強固な薄膜を作製することも可能である。
一な薄膜を作ることが可能である。ま、ケ場合によって
は、より耐熱性を向上させるためフィラーを混入させる
ことあるいは第2成分を混入させ熱処理をすることでよ
り強固な薄膜を作製することも可能である。
つまり本発明は有機の可溶性金属系ポリマーを従来にな
い手法である支持液体表面に展開させ、超薄膜を非常に
容易に作製できること。及びこの膜を熱処理することで
耐熱性高分子超薄膜を簡単に作製できるところに有り、
この系に第2成分が入ってきても支持液体表面で薄膜を
展開できれば何等の11限はないものである。
い手法である支持液体表面に展開させ、超薄膜を非常に
容易に作製できること。及びこの膜を熱処理することで
耐熱性高分子超薄膜を簡単に作製できるところに有り、
この系に第2成分が入ってきても支持液体表面で薄膜を
展開できれば何等の11限はないものである。
作 用
この様にに得られる有機高分子薄膜ば、熱処理の温度に
よってはセラミックス化することも可能であり非常に耐
熱性に優れた超薄膜を生成できる。従って例えば得られ
る薄膜をコンデンサーの誘電体とに使用すれば高分子フ
ィルムで実現できなかった誘電率を備え、かつ従来のフ
ィルムコンデンサーに使用にいる高分子誘電体以上に薄
膜化も可能となる。かつ耐熱性にも優れ非常に高性能な
フィルムコンデンサーが可能となる。
よってはセラミックス化することも可能であり非常に耐
熱性に優れた超薄膜を生成できる。従って例えば得られ
る薄膜をコンデンサーの誘電体とに使用すれば高分子フ
ィルムで実現できなかった誘電率を備え、かつ従来のフ
ィルムコンデンサーに使用にいる高分子誘電体以上に薄
膜化も可能となる。かつ耐熱性にも優れ非常に高性能な
フィルムコンデンサーが可能となる。
このフィルムコンデンサー以外にもこの様な耐熱性の高
分子超薄膜は種々の電子部品あるいは光学部品等に応用
が可能である。
分子超薄膜は種々の電子部品あるいは光学部品等に応用
が可能である。
実施例
以下に本発明の実施例を図面を用いて詳細に説明する。
〈実施例−1〉
n−ヘキシルメチルジクロルシランをトルエン溶媒中に
溶解し、金属Naを添加に脱塩縮合させるウルツフィノ
テノヒ反応により合成しfl。合成きれたサンプルはG
P Cit’(II定により分子量をjilt定した
結果、重量平均分子量が10万と1万に2つのピークを
もつポリマーとなった。このポリマーを再沈法により稍
製、乾燥後2重量%のベンゼン溶液を調整した。この溶
液を用い、いわゆる水面展開を試みた所、約20OAの
超薄膜が形成された。形成された薄膜をゲルマニウム基
板上に積層を5回行ない〜1μmの薄膜を得た。第1図
(Aンにその赤外吸収スペクトルを示した。得られた1
17膜を空気中〜400 ’Cで30分熱処理後の赤外
吸収スペクトルを同じく第1図(B)に示した。−性的
に不活性ガス雰囲気中で熱処理した場合カルボシラン構
造になることが知られている(ジャーナルオブ オルガ
ノメタリック ケミストリー; Jonrnal of
Organometallic Chemistry
、 300(1986)327−346)。この場合は
空気雰囲気中のためこのカルボシランとシロキサン購造
が混在したものと考えられる。
溶解し、金属Naを添加に脱塩縮合させるウルツフィノ
テノヒ反応により合成しfl。合成きれたサンプルはG
P Cit’(II定により分子量をjilt定した
結果、重量平均分子量が10万と1万に2つのピークを
もつポリマーとなった。このポリマーを再沈法により稍
製、乾燥後2重量%のベンゼン溶液を調整した。この溶
液を用い、いわゆる水面展開を試みた所、約20OAの
超薄膜が形成された。形成された薄膜をゲルマニウム基
板上に積層を5回行ない〜1μmの薄膜を得た。第1図
(Aンにその赤外吸収スペクトルを示した。得られた1
17膜を空気中〜400 ’Cで30分熱処理後の赤外
吸収スペクトルを同じく第1図(B)に示した。−性的
に不活性ガス雰囲気中で熱処理した場合カルボシラン構
造になることが知られている(ジャーナルオブ オルガ
ノメタリック ケミストリー; Jonrnal of
Organometallic Chemistry
、 300(1986)327−346)。この場合は
空気雰囲気中のためこのカルボシランとシロキサン購造
が混在したものと考えられる。
得られた薄膜の模厚ば〜180Aの超薄膜で、耐熱性に
も優れる均一な薄膜を与えた。
も優れる均一な薄膜を与えた。
〈実施例−2〉
実施例−1と同様にシクロヘキシルメチルジクロルシラ
ンを用いてそのポリマーを合成し、薄膜を作製し同じ実
験を行った。この場合は加熱処理温度な〜600℃に上
げ30分行った。第2図(A)に未処理のポリマー薄1
摸の赤外吸収スペクトルを。
ンを用いてそのポリマーを合成し、薄膜を作製し同じ実
験を行った。この場合は加熱処理温度な〜600℃に上
げ30分行った。第2図(A)に未処理のポリマー薄1
摸の赤外吸収スペクトルを。
そに(B)に処理後のスペクトルを示した。実施例−1
の場合同様の薄膜が約120Aで生成はれた。
の場合同様の薄膜が約120Aで生成はれた。
本発明の実施例とにポリシランの例を示したがポリゲル
マンあるいはポリシラザンについても同様の効果が得ら
れることが確認烙れた。
マンあるいはポリシラザンについても同様の効果が得ら
れることが確認烙れた。
発明の効果
以上のようし′こ、本発明は支持液体表面にシリコンオ
たはゲルマニウムを含む高分子超薄膜を生成する過程と
、前記高分子超薄膜を基板上に積層する過程と、前記積
層体を加熱処理する過程とを少なくとも含む耐熱性高分
子超薄膜の製造法を提供するもので、この方法により、
シリコンまたはゲルマニウムを含む耐熱性の高分子超薄
膜を容易に製造可能である。そに得られる薄膜は電子部
品あるいは光学部品等の材料とに非常に有望である。
たはゲルマニウムを含む高分子超薄膜を生成する過程と
、前記高分子超薄膜を基板上に積層する過程と、前記積
層体を加熱処理する過程とを少なくとも含む耐熱性高分
子超薄膜の製造法を提供するもので、この方法により、
シリコンまたはゲルマニウムを含む耐熱性の高分子超薄
膜を容易に製造可能である。そに得られる薄膜は電子部
品あるいは光学部品等の材料とに非常に有望である。
第1図は本発明の実施例1において作製された薄膜の赤
外吸収スペクトル図を示し、(A)は未処理、(B)は
400”C130分処理した薄膜のスペクトル図、第2
図は実施例2において作製畑れた薄膜の赤外吸収スペク
トル図を示し、(A)は未処理、(B)は600’C1
30分処理した薄膜のスペクトル図である。 代理人の氏名 弁理士 粟 野 重 孝 ほか1名第
1 図 、4) 第 2 口 (り 懺 オ天(こn=) 1覧 欅虻 (cyrす
外吸収スペクトル図を示し、(A)は未処理、(B)は
400”C130分処理した薄膜のスペクトル図、第2
図は実施例2において作製畑れた薄膜の赤外吸収スペク
トル図を示し、(A)は未処理、(B)は600’C1
30分処理した薄膜のスペクトル図である。 代理人の氏名 弁理士 粟 野 重 孝 ほか1名第
1 図 、4) 第 2 口 (り 懺 オ天(こn=) 1覧 欅虻 (cyrす
Claims (5)
- (1)シリコンまたはゲルマニウムを含む可溶性高分子
の溶液を支持液体表面に供給し支持液体表面に高分子超
薄膜を生成する過程と、生成した高分子超薄膜を基板上
に接着積層する過程と、更に前記積層体を加熱処理する
過程とから成ることを特徴とする耐熱性高分子超薄膜の
製造法。 - (2)可溶性高分子が一般式 ▲数式、化学式、表等があります▼ (但し、R_1は水素原子、炭素数が1〜9個のアルキ
ル基あるいはハロゲン化アルキル基及びフェニル基のい
ずれかで示される。R_2は炭素数が1〜9個のアルキ
ル基あるいはハロゲン化アルキル基及びフェニル基より
成る群より選ばれる。R_1、R_2は同じでも異って
も良い。nは10以上の整数で示される。)である請求
項1記載の耐熱性高分子超薄膜の製造法。 - (3)可溶性高分子が一般式 ▲数式、化学式、表等があります▼ (但し、R_1、R_2は炭素数が1〜6個のアルキル
基あるいはハロゲン化アルキル基及びフェニル基より成
る群より選ばれる。R_1、R_2は同じでも異っても
良い。nは10以上の整数で示される。)である請求項
1記載の耐熱性高分子超薄膜の製造法。 - (4)可溶性高分子が一般式 ▲数式、化学式、表等があります▼ (但し、R_1、R_2は炭素数1〜6個のアルキル基
あるいはハロゲン化アルキル基及びフェニル基より成る
群より選ばれ、同一でも異っても良い。nは10以上の
整数で示される。)である請求項1記載の耐熱性高分子
超薄膜の製造法。 - (5)可溶性高分子が一般式 ▲数式、化学式、表等があります▼ (但し、R_1は水素原子、炭素数が1〜9個のアルキ
ル基あるいはハロゲン化アルキル基及びフェニル基のい
ずれかで示される。R_2は炭素数が1〜9個のアルキ
ル基あるいはハロゲン化アルキル基及びフェニル基より
成る群より選ばれる。R_1、R_2は同じでも異って
良い。Xは炭素、ホウ素、ケイ素、ゲルマニウムを含む
残基より成る群より選ばれる。)で示される交互もしく
はブロック共重合体である請求項1記載の耐熱性高分子
超薄膜の製造法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP28701188A JPH02133435A (ja) | 1988-11-14 | 1988-11-14 | 耐熱性高分子超薄膜の製造法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP28701188A JPH02133435A (ja) | 1988-11-14 | 1988-11-14 | 耐熱性高分子超薄膜の製造法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH02133435A true JPH02133435A (ja) | 1990-05-22 |
Family
ID=17711873
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP28701188A Pending JPH02133435A (ja) | 1988-11-14 | 1988-11-14 | 耐熱性高分子超薄膜の製造法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH02133435A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006059937A (ja) * | 2004-08-18 | 2006-03-02 | Osaka Gas Co Ltd | 絶縁膜用組成物および絶縁膜 |
JP2008517746A (ja) * | 2004-10-26 | 2008-05-29 | ビユーラア アクチエンゲゼルシヤフト | ロールミル |
JP2009241047A (ja) * | 2008-03-31 | 2009-10-22 | Casio Electronics Co Ltd | 混練装置 |
-
1988
- 1988-11-14 JP JP28701188A patent/JPH02133435A/ja active Pending
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006059937A (ja) * | 2004-08-18 | 2006-03-02 | Osaka Gas Co Ltd | 絶縁膜用組成物および絶縁膜 |
JP2008517746A (ja) * | 2004-10-26 | 2008-05-29 | ビユーラア アクチエンゲゼルシヤフト | ロールミル |
JP2009241047A (ja) * | 2008-03-31 | 2009-10-22 | Casio Electronics Co Ltd | 混練装置 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
Trujillo et al. | Ultralow dielectric constant tetravinyltetramethylcyclotetrasiloxane films deposited by initiated chemical vapor deposition (iCVD) | |
JP2591863B2 (ja) | 超小形電子デバイスおよび基材用コーティング | |
Lewis et al. | Hot-filament chemical vapor deposition of organosilicon thin films from hexamethylcyclotrisiloxane and octamethylcyclotetrasiloxane | |
WO2015041207A1 (ja) | 被膜形成用組成物およびそれを用いた被膜形成方法 | |
JP3495116B2 (ja) | 撥水性薄膜およびその製造方法 | |
Lau et al. | Fluorocarbon dielectrics via hot filament chemical vapor deposition | |
JP2003055556A (ja) | シリコン膜またはシリコン酸化膜の形成方法およびそのための組成物 | |
JPH02133435A (ja) | 耐熱性高分子超薄膜の製造法 | |
JPH02263981A (ja) | 被膜形成方法 | |
EP0781079B1 (en) | Method of fabricating electronic circuit | |
EP0724000A2 (en) | Method of forming an insoluble coating on a substrate | |
EP1468446A1 (de) | Verfahren zur herstellung von dielektrischen schichten unter verwendung multifunktioneller carbosilane | |
JP3485425B2 (ja) | 低誘電率絶縁膜の形成方法及びこの膜を用いた半導体装置 | |
JP2007023163A (ja) | 膜形成用組成物、絶縁膜、およびその製造方法 | |
Li et al. | Self‐assembling directed synthesis of a novel terephthalamide‐bridged ladderlike polysiloxane | |
JPH02307572A (ja) | 均斉薄膜の形成方法 | |
JP4548567B2 (ja) | シリコン酸化膜の形成方法 | |
JPH043764B2 (ja) | ||
Scarlete et al. | Spectroscopic investigation of the synthesis of thin silicon nitride films on silicon single-crystal wafers via ammonia-assisted pyrolysis of organosilicon polymers | |
JPH0320377A (ja) | 酸化物被膜形成用塗布液および酸化物被膜の形成方法 | |
JPS59218755A (ja) | 被覆または包封製品およびその製造方法 | |
JPS61278532A (ja) | 末端ヒドロキシフエニルラダ−ポリシロキサンの製法 | |
JPH09134917A (ja) | 半導体装置 | |
JPH11130867A (ja) | 改善されたオルガノシリコンナノクラスター及びその製造方法 | |
JP2856916B2 (ja) | 電子回路の形成方法 |