JPH02130969A - ジョセフソン接合の製造方法 - Google Patents

ジョセフソン接合の製造方法

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Publication number
JPH02130969A
JPH02130969A JP63285071A JP28507188A JPH02130969A JP H02130969 A JPH02130969 A JP H02130969A JP 63285071 A JP63285071 A JP 63285071A JP 28507188 A JP28507188 A JP 28507188A JP H02130969 A JPH02130969 A JP H02130969A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
josephson junction
film
superconductor
josephson
good reproducibility
Prior art date
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Pending
Application number
JP63285071A
Other languages
English (en)
Inventor
Seiichi Iwamatsu
誠一 岩松
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Seiko Epson Corp
Original Assignee
Seiko Epson Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Seiko Epson Corp filed Critical Seiko Epson Corp
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Priority to FR898913548A priority patent/FR2638569B1/fr
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Publication of JPH02130969A publication Critical patent/JPH02130969A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明はジョセフソン接合の製造方法に関する。
〔従来の技術〕
従来、ジョセフソン接合の製造方法として、超電導電極
配線間に20 程度のStO,膜やN6OSを挟むのが
通例であった。
〔発明が解決しようとする課題〕
しかし、上記従来技術によると、ジョセフソン接合部は
マイクロ・ブリッジ法と呼ぶ結晶粒界に形成される酸化
膜やCVD法による極めて薄い酸化膜を形成する等、量
産性や再現性に課題が多かった。
本発明は、かかる従来技術の課題を解決し、再現性良く
、量産性のあるジョセフソン接合部の形成方法を提供す
る事を目的とする。
〔課題を解決するための手段〕
上記課題を解決する為に、本発明はジョセフソン接合の
製造方法に関し、超電導体電極膜のジョセフソン接合形
成部にイオン打込みを施す手段をとる事、及び半導体膜
を形成する手段をとる事を基本とする。
〔実 施 例〕
以下、実施例により本発明を詳述する。
第1図は本発明の一実施例を示すジョセフソン接合の製
造方法を示す断面図である。すなわち、risio、等
から成る絶縁基板1の表面にはYI Ba2 C+g 
07等から成るセラミック系高温超電導体膜から成る超
電導膜電極2が0.1μ程度の厚さで配線され、該超電
導膜電極2のジョセフソン接合を形成する部分に酸素イ
オン・ビームを加速して10〜20 程度に絞ってイオ
ン打込み3を施してジョセフソン接合部4を形成する。
YI Ba2 Cu307に過剰酸素を含有させる事に
より絶縁化あるいは半導体化してトンネル膜となる訳で
ある。尚イオン打込み種は酸素のみならず、その他の元
素イオンであっても良い。更に、ジョセフソン接合部4
の形成は、約10 のギャップを持ったオート・レジス
ト膜を超電導体膜電極2の表面に形成し、全面にイオン
打込み3を施して前記ギヤツブ部ジョセフソン接合部4
を形成する方法もある。
第2図は本発明の他の実施例を示すジョセフソン接合の
断面図である。すなわち、絶縁基板11の表面には0.
1μm厚程度の超電導体Jl11電極12を形成し、該
超電導体膜12のジョセフソン接合形成部に200 程
度のギャップをホト・エツチングやイオン・ビーム・エ
ツチング等により形成し、該ギャップ内に81等の半導
体H13を埋め込んでジョセフソン接合としたものであ
るが、該半導体膜13はイオン・ビームCVD法で部分
的に形成することもできるが、CVD法やスパッタ法で
超電導体膜電極12等の表面に全面形成後、スパッタ・
エッチやプラズマ・エッチ等のエツチング処理によりエ
ッチ・バックして、前記ギャップ内のみに半導体膜13
を残存せしめて形成することができる。尚半導体膜13
は、アモルファス状態や多結晶状態であっても良いが、
加熱アニル処理により200 程度の単結晶粒化して単
結晶となすこともできる。更に、半導体膜13はSiの
みならずGaAs5 I nPs S iCs 5es
Ge等の他の半導体であっても良い。いずれにしても本
例では、半導体膜をジョセフソン接合部に用いることに
より、ジョセフソン接合11が絶縁膜の場合、20.A
程度であるのに対し、200人程庇取も、トンネル膜と
しての作用がある。
第3図は、本発明の応用例を示す電界効果型ジョセフソ
ン−トランジスタの断面図である。すなわち、絶縁基盤
21の表面には0.1μm厚程度の超電導体膜電極22
を形成し、該超電導体膜電極22に前記第1図である1
1は第2図の例の如くにしてジョセフソン接合部23を
形成し、該ジョセフソン接合部23の表面にCVD法等
により5i02膜等から成るゲート絶縁膜24を0.0
1μm乃至0.1μm厚さ程度に形成し、該ゲート絶縁
膜24上にゲート電極25を形成してゲート25となし
、前記ジョセフソン接合部23を挟んで双方向に形成さ
れている超電導体膜電極22の一方をソース26、他方
をドレイン27としたものである。
〔発明の効果〕
本発明によりジョセフソン接合が再現性良く量産性のあ
る形成方法が提供できる効果があり、電界効果型ジョセ
フソン・トランジスタを集積化した集積回路が容易に製
作できる効果もある。
【図面の簡単な説明】
第1図及び第2図は本発明の実施例を示すジョセフソン
接合の断面図であり、第3図は本発明の応用例を示す電
界効果型ジョセフソン・トランジスタの断面図である。 1.11. 2.12. 3・ ・ 会 ・ 4.23・ 13・ 参 ・ 24惨 争 ・ 25・ ・ ・ 26・ ・ 赤 27φ ・ 中 28・ 1111 ・絶縁基板 ・超電導体膜電極 番イオン打込み やジョセフソン接合部 ・半導体膜 ・ゲート絶縁膜 ・ゲート電極 ・ソース ・ドレイン 拳ゲート 以上 出願人 セイコーエプソン株式会社

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)超電導体電極膜のジョセフソン接合形成部には酸
    素、イオン等のイオン打込みによりジョセフソン接合を
    形成する事を特徴とするジョセフソン接合の製造方法。
  2. (2)超電導体電極膜のジョセフソン接合形成部にはS
    i等の半導体膜を形成する事によりジョセフソン接合を
    形成する事を特徴とするジョセフソン接合の製造方法。
JP63285071A 1988-10-25 1988-11-11 ジョセフソン接合の製造方法 Pending JPH02130969A (ja)

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JP63285071A JPH02130969A (ja) 1988-11-11 1988-11-11 ジョセフソン接合の製造方法
FR898913548A FR2638569B1 (fr) 1988-10-25 1989-10-17 Transistor josephson du type a effet de champ et procede de fabrication d'une jonction josephson
US07/423,969 US5071832A (en) 1988-10-25 1989-10-19 Field effect type josephson transistor

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH05152630A (ja) * 1991-11-30 1993-06-18 Sumitomo Electric Ind Ltd 超電導電界効果型素子およびその作製方法
JPH05198849A (ja) * 1991-12-27 1993-08-06 Kawasaki Heavy Ind Ltd 機能性薄膜を用いた電子デバイス
JPH08153908A (ja) * 1994-11-28 1996-06-11 Korea Electron Telecommun 結晶粒界チャンネルをもつ超伝導電界効果素子とその製造方法

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