JPH02126531A - 電子放出素子 - Google Patents

電子放出素子

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JPH02126531A
JPH02126531A JP63278702A JP27870288A JPH02126531A JP H02126531 A JPH02126531 A JP H02126531A JP 63278702 A JP63278702 A JP 63278702A JP 27870288 A JP27870288 A JP 27870288A JP H02126531 A JPH02126531 A JP H02126531A
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JP
Japan
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electron
metal layer
insulator layer
electron emission
layer
Prior art date
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Pending
Application number
JP63278702A
Other languages
English (en)
Inventor
Akira Kaneko
彰 金子
Toru Sugano
亨 菅野
Kaoru Tomii
冨井 薫
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Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Priority to US07/429,526 priority patent/US5202605A/en
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 この発明は、電子放出素子、例えば、電子顕微鏡、電子
ビーム露光装置、CRT等、各種電子ビーム応用装置の
電子発生源として利用される電子放出素子に関する。
従来の技術 電子顕微鏡やCRT等の電子発生源として使われる電子
放出素子として、従来、熱電子を放出する熱陰極が用い
られている。しかし、熱陰極は陰極自体を加熱する加熱
手段を必要としたり、加熱に伴うエネルギー損失があっ
たりという問題がある。それで、加熱を必要としない電
子放出素子、いわゆる冷陰極の研究がなされ、いくつか
の素子が実際に提案されている。
具体的には、PN接合に逆バイアス電圧を印加し、電子
なだれ降伏現象を起こさせて素子外に電子を放出されせ
ようにしたもの、あるいは、電界集中の生じ易い形状の
金属に対し電圧を印加して局所的に電界強度を高め、金
属から素子外に電子を放出させる電界効果型のもの、さ
らには、金属−絶縁体層−金属層の3層構成で、両金属
間に電圧を印加することにより、トンネル効果で絶縁体
層を通過してきた電子を金属層表面から素子外に放出さ
せるもの(MIM型と通称される)等の電子放出素子が
ある。これらのうちMIM型電子放出素子は構成が簡潔
であり、これからの素子として注目もされている。
従来のMIM型の電子放出素子として、つぎのようなも
のがある。
第4図は、従来のMIM型電子放出素子をあられす。
この電子放出素子は、金属体41上に薄い絶縁体層42
が積層され、同絶縁体層42の上に薄い金属層43が積
層された構成となっている。電源44によって、金属層
43の仕事関数φよりも大きな電圧を金属体41・金属
層43間に印加することによって、絶縁体層42をトン
ネルした電子のうち真空準位より大きなエネルギーをも
つ電子が、放出電子45として、金属層43表面から飛
び出す。
さらに、従来、第5図や第6図にみるようなMIM型電
子放出素子も知られている。
第5図の電子放出素子は、ガラス基板50上にAlの金
属層51およびAuの金属層54が積層されているとと
もに、両金属層51.54の間には、図にみるように、
Al2O3の絶縁体層52およびSiOの絶縁体層53
が設けられた構成となっている。この電子放出素子では
、電源55により金属層51.54間に図示のごとくに
電圧が加えられると、金属層54における電子放出領域
56より電子が飛び出す(テレビジョン学会電子装置研
究委員会資料[トンネルカソードを用いた陰極線管J 
1968年4月30日)。
第6図の電子放出素子は、導電性材60の上に絶縁体層
61を積層し、同絶縁体層61上に金属層62を積層す
るとともに、電子放出領域63における導電性材60と
絶縁体層61との界面に微小突起部64を設けた構成と
なっている。この電子放出素子では、電源により導電性
材60・金属層62間に電圧が加えられると、微小突起
部64前面に強い電界が形成され、電子は微小突起部6
4から絶縁体層61をトンネルして金属層62の電子放
出領域63から素子外に飛び出す(特開昭62−272
421号公報)。
発明が解決しようとする課題 しかしながら、上記従来のMIM型電子放出素子は、電
子放出効率が十分でないという問題がある。
絶縁体層が、従来、蒸着、陽極酸化等によシ、単に50
〜200A程度の非常に薄くすることだけを目指して形
成されており、形成された超薄膜が不定形の膜であった
からである。絶縁体層が不定形の膜であると、絶縁体層
をトンネル現象によって透過する電子は、その多くが層
内を抜ける途中で散乱されエネルギーを失うため、結局
、真空中(素子外)に飛び出す電子の数が著しく少なく
なるのである。
電子放出素子の表面の金属層でも、電子が透過する際、
散乱によるエネルギー損失が生じる。これを防ぐには、
金属層の厚みを薄くすればよいのであるが、厚みが薄く
なると、電源側から電子放出領域にかけて生ずる電圧降
ドが大きくなって、電子放出領域での実効的電界強度が
低下し、有効に電子を引き出すことができなくなる。こ
の場合、電源電圧を上げれば、電子放出領域での実効的
電界強度の低下が防げることにはなるが、今度は、金属
層を流れる電流によるジュール熱が増加し途中の金属層
が蒸発することになるため、電子放出の不均一や断線と
いった不都合が起こる。
上記のような事情に鑑み、請求項1記載の発明は、絶縁
体層内での電子の散乱を抑え十分な電子放出効率をもつ
電子放出素子を提供することを第1の課題とし、請求項
2記載の発明は、加えて、電子放出効率部分における金
属層の厚みが薄くても、電圧降下および金属層の蒸発を
伴うことのない電子放出素子を提供することを第2の課
題とする。
課題を解決するだめの手段 前記第1の課題を解決するため、請求項1記戦の電子放
出素子は、導電性材上に絶縁体層が積層され、同絶縁体
層の上に金属層が積、噴されていて、前記導電性材・金
属層間への電圧印加に伴い金属層面から電子が放出され
るようになっているとともに、前記絶縁体層は少なくと
も電子放出領域部分において配向している構成となって
いる。
前記第2の課題を解決するため、請求項2記載の電子放
出素子は、上に加えて、金属層を、電子放出領域におい
て、少なくとも一部が同旬領域外よりも厚みが薄くなる
ようにしている。
作   用 請求項1.2記載の電子放出素子のように、電子放出領
域部分において絶縁体層が配向していると、トンネル現
象で透過しようとする電子と絶縁体層中の原子、電子と
の相互作用が、不定形絶縁体層の場合に比べ、大巾に減
少する。その結果、電子の散乱、エネルギー損失が大き
く減少し、真空中(素子外)に放出される電子の数が増
え、電子放出効率が大巾に向上することとなる。
請求項2記載の電子放出素子のように、金属1@が、電
子放出領域において、少なくとも一部が同領域外よりも
厚みが薄くなっていると、厚みの薄いところでは、電子
の散乱、エネルギー損失が減少するため、十分な数の放
出電子が確保され、高い電子放出効率となる。しかも、
金属層は厚みの薄い部分以外で厚みがあることにより、
金属層自体の抵抗が十分に小さい値に留捷っており、電
源によって印加された電圧が途中で降下したりしない。
そのため、金属層の厚みが薄くても、電源電圧を高く上
げることなく、ジュール熱による金属層の蒸発断線も阻
止しつつ、電子放出領域に十分な強度の実効的電界を形
成することができる。
実施例 以下、この発明にかかる電子放出素子を、その一実施例
をあられす図面を参照しながら詳しく説明する。
第1図は、請求項1記載の電子放出素子の一実施例をあ
られす。第1図において、lOは導電性材、11は絶縁
体層、12は配向性絶縁体層、13は金属層、14は電
子放出領域をそれぞれ示す。
この電子放出素子は、導電性材10上に電子放出領域1
4を除いた部分に厚目の絶縁体層11が形成され、さら
に電子放出領域14部分を覆うようにして配向性絶縁体
層12が非常【て薄い(例えば50〜200A程度)厚
みでもって形成されており、かつ、絶縁体層12上には
金属層13が形成されだ構成となっている。
この電子放出素子では、金属層■3が”十″側で導電性
材10が“−”側となるように電圧が印加される。そう
すると、電子放出領域14の下側の配向性絶縁体層12
に強電界が形成され、導電性材10より電子が引き出さ
れ、引き出された電子はトンネル効果によって配向性絶
縁体層12を抜は金属層13に達する。金属層13に達
した電子のうち、金属層13の仕事関数以上のエネルギ
ーを持った電子は金属層13より飛び出していく。
電子放出領域14部分にある上記絶縁体層12ば、配向
し結晶性がよく、透過途中で原子や電子による散乱が起
き難い。そのため、金属層13へ到達する電子の数が増
え、しかも、達した電子のうちに十分なエネルギーをも
つ電子の数が増える。
したがって、金属層13表面から素子外に飛び出す電子
の数が著しく増加し、電子放出効率が高くなる。
第1図に示す電子放出素子の製造例を具体的に説明する
導電性材10として、比抵抗0.02ΩαのSiを用い
、同導電性材10上に、直径Zoo/jmの電子放出領
域14に対応した部分を除いて膜厚1000Aの5i0
2膜を、絶縁体層11として形成した。さらにMBE法
によってA1203 をエピタキ7ヤル成長させて、電
子放出領域14部分を覆う<111 >配向しだ膜厚5
0〜200Aの配向性絶縁体層12を形成し、ついで、
この絶縁体@12の上に、金属層13としてAuを10
0〜200A蒸着し、電子放出素子を作成した。
このようにして得た電子放出素子の電子放出電流を測定
したところ、直流動作で0.1mA、パルス動作で10
mAの放出電流が確認できた。また、この時の電流透過
率はαm′S=0.09であった。
続いて請求項1記載の発明の他の実施例を説明する。
第2図は、請求項1記載の電子放出素子の他の実施例を
あられす。第2図において、20は導電性材、21は配
向性絶縁体層、22は絶縁体層、23は金属層、24は
電子放出領域をそれぞれ示す。
この電子放出素子は、導電性材20の上にまず配向性絶
縁体層21を形成し、その後、電子放出領域24を除い
た部分に絶縁体層22を形成し、ついで、電子放出領域
24部分に金属層23を形成した構成となっている。
電子放出領域24下の絶縁体層は配向したものとなって
いるため、先の実施例と同様、やはり、絶縁体層21を
透過する際の電子の散乱を減少させることができ、電子
放出効率が良くなる。
絶縁体層21.22の作成順序を一部変更する以外は、
前記実施例と略同様にして、第2図に示す実施例の電子
放出素子を作成し、その特性を調べたところ、前記実施
例と略同様の結果が得られた。
続いて、請求項2記載の発明の実施例について説明する
第3図(al、 (blは、請求項2記載の電子放出素
子の一実施例をあられす。第3図(at、 (blにお
いて、30は導電性材、31は絶縁体層、32は配向性
絶縁体層、33は第1金属層、34は第2金属層、35
は電源をそれぞれあられす。
この電子放出素子は、第3図(blにみるように、導電
性材30の上に電子放出領域36を除いた部分に厚い絶
縁体層31が形成され、さらに電子放出領域36部分を
覆うようにして配向性絶縁体層32が非常に薄い(例え
ば50〜200A程度)厚みでもって形成されており、
この絶縁体層32上に第1.2金属層33.34が形成
された構成となっている。第1金属層33は非常に薄い
膜厚で形成され、第2金属層34は、第1金属層33よ
りも厚く格子状に形成されている。第2金属層34は全
体がひとつにつながった状態となっている。
なお、第1.2金属層33.34が電気的につながって
いることはいうまでもない。
この電子放出素子では、導電性材30、金属層33.3
4間に電源35から電圧を印加するようにする。そうす
ると、電源35の電圧は厚い第2金属層34を通して、
殆ど降下することなく第1金属層33に印加される。薄
い第1金属層33に十分に電源電圧がかかる(略ioo
%ちかい値の電圧がかかる)だめ、電子放出領域36に
強電界が形成され、第1金属層33表向から多くの電子
が飛び出し、しかも、電源35の電圧をあげる必要がな
いため、薄い第1金属層33にダメージが加わることも
ない。
この実施例の電子放出素子の具体的製造例について説明
する。
パイレックスからなる絶縁性基材(図示せず)の上に導
電性材30として、配向性Al膜をMBE法により形成
し、その上に、絶縁体層31として膜厚1000Aの不
定形hi2o5を積層し、その後、再び、MBE法によ
シ配向性絶縁体層32として配向させたAl2O3膜を
50〜200A形成した。ついで、第2金属層34とし
て、フォトグラフィー技術を利用して膜厚1000Aの
Au膜を形成した後、第1金属層33として、膜厚10
0〜200AのAu膜をMBE法により形成した。この
ようにして得た電子放出素子の電子透過率を測定したと
ころ、αm手0.07であった。
この発明は上記実施例に限らない。電子放出素子は、第
1〜3図に示す以外の構成であってもよい。導電性材、
絶縁体層、金属層がそれぞれ前記例示以外の材料で形成
されていてもよい。
絶縁体層の厚みも、上記例示の膜厚に限らず、絶縁破壊
を生じない範囲でなるべく薄くするようにするのが好ま
しい。
導電性材は、膜状のものでも、バルク状のものでもよい
発明の効果 請求項1.2記載の電子放出素子では、絶縁体層が、電
子放出領域部分において配向している。
そのため、トンネル現家で透過しようとする電子と絶縁
体層中の原子、電子との相互作用が従来の不定形絶縁体
層の場合に比べ少なく、絶縁体層内における散乱、エネ
ルギー損失が著しく減少する結果、電子放出効率が大巾
に向上することとなる。
請求項2記載の電子放出素子では、加えて、金属層が、
電子放出領域において、少なくとも一部が同領域外より
も厚みが薄くなっており、そのため、厚みの薄いところ
で十分な数の電子を放出させられ、しかも、厚みがある
ところで金属層自体の抵抗を十分に小さい値に確保する
ようにし、電源電圧の降下を抑え、電源電圧を高くあげ
ることなく、電子放出領域に十分な強度の実効的電界を
形成でき、しかも、ジュール熱による金属層の蒸発断線
も阻止することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は、請求項1記載の電子放出素子の一実施例をあ
られす概略断面図、第2図は、請求項1記載の電子放出
素子の他の実施例をあられす概略断面図、第3図は、請
求項2記載の電子放出素子の一実施例をあられす図であ
って、図(atは平面図、図(blは概略断面図、第4
〜6図は、それぞれ、従来の電子放出素子をあられす概
略断面図である。 10.20.30・・・導電性材、11,22゜31・
・・絶縁体層、12,21.32・・配向性絶縁体層、
13.23,33.34・・・金属層、14゜24゜ 36・・・電極放出領域。

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)導電性材上に絶縁体層が積層され、同絶縁体層の
    上に金属層が積層されていて、前記導電性材・金属層間
    への電圧印加に伴い金属層面から電子が放出されるよう
    になっているとともに、前記絶縁体層は少なくとも電子
    放出領域部分において配向している電子放出素子。
  2. (2)金属層は、電子放出領域において、少なくとも一
    部が同領域外よりも厚みが薄くなっている請求項1記載
    の電子放出素子。
JP63278702A 1988-10-31 1988-11-04 電子放出素子 Pending JPH02126531A (ja)

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