JPH0210153A - 超音波探傷方式 - Google Patents

超音波探傷方式

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JPH0210153A
JPH0210153A JP63159704A JP15970488A JPH0210153A JP H0210153 A JPH0210153 A JP H0210153A JP 63159704 A JP63159704 A JP 63159704A JP 15970488 A JP15970488 A JP 15970488A JP H0210153 A JPH0210153 A JP H0210153A
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Shiyuuzou Wadaka
修三 和高
Koichiro Misu
幸一郎 三須
Tsutomu Nagatsuka
勉 永塚
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2291/00Indexing codes associated with group G01N29/00
    • G01N2291/04Wave modes and trajectories
    • G01N2291/044Internal reflections (echoes), e.g. on walls or defects

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  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] この発明は、超音波を用いて被検材内の欠陥を検出する
超音波探傷方式に係わり、特に欠陥の位置検出における
距離分解能の向上に関するものである。
[従来の技術] 従来のこの種の超音波探傷方式は、振動継続時間の短い
超音波パルスを被検材内に照射し、欠陥で反射し戻って
くる反射エコーを受信して欠陥の有無や欠陥の位置を検
出するという、いわゆるパルスエコー法を用いたもので
ある。
例えば第3図は、丹羽 登著「超音波計測」。
昭和57年3月25日発行9発行所昭晃堂+P67から
引用した従来のこの種の超音波探傷方式を示す図である
。第3図(alにおいて、1は被検材であり、2は被検
材l内の欠陥である。3は電気信号と超音波との変換を
行う探触子、4はパルス送信器、5は受信器、6は指示
装置である。第3図tblは指示装置6のC,RT上に
表示されるエコー信号の様子を示す図であり、記号Tを
付して示している信号は送信パルス、記号Fを付した信
号は欠陥2からの反射エコー、記号Bを付した信号は被
桧材1の底面からの反射エコーである。これらの信号は
全て受信器5で包絡線を検出して表示された信号である
従来のこの種の超音波探傷方式では、パルスを送信して
から欠陥2よりの反射エコーが受信されるまでの時間を
計測することにより、欠陥2の位置を検出していた。従
って、送信パルスの振動継続時間を短くしなければ、例
えば、欠陥2からの反射エコーFと被検材1の底面から
の反射エコーBとが重なり合って分離できない。
しかし、送信パルスの振動継続時間を短くしようとして
も、探触子3が有限な周波数帯域しがもっていないので
、それには限界がある。一般に、振動継続時間は短くで
きても数サイクル以上である。例えば、中心周波数が2
 M I−I zの探触子3を用い、送信パルスの振動
継続時間が2サイクルとすると、振動継続時間は(2サ
イクル)×(1/2MT(z)=1 tt sとなる。
この振動継続時間は、距離に換算すると、被検月1内に
おける超音波の伝播速度■が5000 m / sのと
き、1μsX5000m/s=5mmに対応する。つま
り、欠陥2が被検材1の底面から5mm/22.5mm
以上離れていなければ、両エコーを分離できない。なお
、ここで2で割っているのは、超音波伝播経路が往復で
あることによる。
[発明が解決しようとする課題] すなわち、従来のいわゆるパルスエコー法を用いた超音
波探傷方式では、送信パルスの振動継続時間を短くしよ
うとしても限界があるので、距離分解能が悪いという問
題点があった。
この発明は上記のような問題点を解消するためになされ
たもので、距離分解能の優れた超音波探傷方式を提供す
ることを目的とする。
[課題を解決するための手段] この発明に係る超音波探傷方式は、連続的な送信信号を
探触子に送出するとともにその周波数の可変走査が可能
な周波数可変送信手段と、探触子で受信された信号を2
乗する演算手段と、2乗して得られた信号の直流成分を
検出する直流成分検出手段と、検出した信号を走査周波
数の関数としく3) て記憶する記憶手段と、記憶した信号の周期を周波数走
査範囲の周波数合成処理により検出する周期検出手段と
を備え、検出された周期より被検材内の欠陥の位置を検
出するようにしたものである。
[作用] この発明においては、連続波あるいはほとんど連続波と
みなして良い程度に長い振動継続時間を有するパルスを
送受信し、送信信号の周波数を逐次走査して得られる受
信信号を2乗し、2乗して得られた信号の直流成分を検
出して走査周波数の関数として記憶する。周波数の走査
範囲にわたって取り込まれたこの信号に周波数合成処理
を施すことにより、その周期を検出することができ、こ
の周期より被検材内の欠陥の位置を検出できるので、従
来のパルスエコー法のような限界がなくなり、距離分解
能が向」ニする。
[実施例] 以下、この発明の一実施例を図について説明する。
第1図はこの発明による超音波探傷方式の一実施例を示
す構成図である。図において、1は被検材、2は欠陥、
3は探触子、6は指示装置であり、これらは従来のもの
と同様なものである。7は周波数可変送信器であり、連
続波あるいは連続波とみなしてさしつかえないほどの振
動継続時間を有するパルスを探触子3に送信でき、かつ
周波数を走査して可変できるものである。8は信号処理
装置であり、探触子3で受信された信号を2乗する演算
手段8aと、2乗して得られた信号の直流成分を検出す
る直流成分検出手段8bと、検出した信号を走査周波数
の関数として記憶する記憶手段8cと、記憶した信号の
周期を周波数走査範囲の周波数合成処理により検出する
周期検出手段8dとを有するもので、パーソナルコンピ
ュータ等で実現できる。
以下、本方式による信号処理を詳細に述べる。
送信信号をcos(ωを十〇)とする。ここで、ωば角
周波数、tは時間、0は固定位相角である。
一方、欠陥2における超音波の反射率をaで、被桧材]
の底面における超音波の反射率をAで表わし、被検材]
−の厚さをLとし、被検材」底面と欠陥2との間の距離
をβとする。また、超音波の伝播速度を■とし、T =
 L / v 、 τ=2/Vとおく。
さて、探触子3から送信された信号は、欠陥2及び被検
材1底而で反射され、それぞれ時間2(T−で)、2丁
だけ遅れて探触子3で受信される。従って、受信信号を
5(t)とすると、5(t)=a  cos(ω [t
−2(T−τ )]+ 0  )十Acos(ω (t
−27)+ O)と表わされる。このS (t)を2乗
する。三角関数の積を和に変換する公式を利用して、2
乗した後の信号を整理すると、 52(t)=[A2/2+a2/2+A a cos(
2ωτ)]+[A2cos(2ωt−4C1l T+2
0 )/2+a2cos(2ωt−4ωT+4ω τ+
20)/2+A a C03(2(、) t−4ωT+
2ωτ+20)]となる。この式において、[]て括っ
た第1項目は時間的に変化しない直流成分であり、第2
項目は角周波数2ωで変化する交流成分である。この2
乗した信号を、角周波数2ω成分をカッ1〜し。
直流成分を通過させる低域通過フィルタに通すと、[]
で括った第1項目の直流成分が取り出される。これをr
で表わす。つまり、 r=A”/2+a2/2+A a C08(2C,l 
で)このrを送信周波数とともに記憶する。以上の処理
を周波数可変送信器7の送信周波数を逐次走査しながら
信号処理装置8で繰返し行う。すなわち、r・はωの関
数として記憶されることになる。
次に信号処理装置8で以下の処理を行う。」二記により
記憶された信号rを縦軸にとり、角周波数ωを横軸にと
って描いてみると、これは、第2図[alに示すように
、ωとともに変化しない直流成分[A2/2+a2/2
]と、ωとともに変化する交流成分Aacos(2ωτ
)との和になっている。交流成分の周期は、2ωτ=2
7cとおいてωを求めることにより、ω=π/τとなる
。従って、rの周期を求めることによりτを求めること
ができる。っます、超音波の伝播速度Vと以上のように
して求めたでとから、被検材1底面と欠陥2との間の距
離!をp=vτから求められる。
rの周期を検出するには、例えば、次のようなスペクト
ル解析を行えばよい。先ず、rから直流成分[A2/2
+a2/2]を引きさる。つまり、次の処理を行う。
r’:r−(A2/2+a2/2) =Aacos(2ω τ) このようにして得られたr・′をスペクトル解析する。
角周波数の走査範囲を0〜Ωとする。負の周波数は実際
にはあり得ないが、解析の都合上。
r′(−ω)=r’ (ω)として負の周波数範囲にお
けるr′ を与える。その後、r′ をフーリエ変換す
る。つまり、次式 %式%(1) の演算をpを変化させながら行う。これは周波数合成処
理を行っていることに対応する。上式の右辺の定積分を
行うと、 o(p) A・Ω[喫用P痩侶・嘲仲叶「射1 が得られる。これを図示すると、第2図(blに示すも
のとなる。H(P)の絶対値IH(+))lの相対値、
つまりl H(p) l / (AaΩ)を図示してい
る。第2図(b)から、IH(p)lが最大となるpの
値を読み取ればこれは2τに等しいから、読み取ったp
の値からτを求めることができることがわかる。
以上は、説明を簡単にするため、探触子3の送受信感度
の周波数特性が周波数に依らず一定であるとして信号処
理手順を示したが、探触子3の周波数特性を無視できな
い場合には、送受信総合感度の周波数特性を予め測定し
ておき、これを用いて受信信号S (t)のレベルを補
正すればよい。つまり、探触子3の送受信総合感度の周
波数特性をT(ω)とすれば、S (t)の代わりに5
(t)をT(ω)で割ったものを用いればよい。
さて、この発明に係る超音波探傷方式を従来のパルスエ
コー法を用いた探傷方式と比較してみる。第2図(a)
を用いて示したように、この発明に(]C0 係る超音波探傷方式では、rの周期を検出することによ
り欠陥2の位置を検出しようとしている。
例えば、2 M Hzまで周波数を走査した場合を考え
る。角周波数に直すと、2πX 2 M Hz = 4
π(rad)XIO’ Hzである。第2図+a+にお
いて、横軸の角周波数ωが0〜4π(rad) X 1
0’ Hzの間に、rの交流成分が1周期入れば周期を
読み取れる。1周期はπ/τであるから、π/τ=4π
×106とおくことによりτ=0.25μSとなる。こ
れは、距離に換算してp = v Xτ=5000m/
sX0.25μs=1.25mmとなる。すなわち、前
記した従来の距離分解能2.5mmの半分である。なお
、いうまでもなく、周波数走査範囲を広くすればする程
、距離分解能や精度が向上すことは明らかである。
ところで、以上の説明では、被検材1の底面からの反射
波をいわば参照信号として用いたが、この発明はこれに
限らず、被検材1のコーナーからの反射波など被検材1
の他の部分からの反射波を参照信号として用いてもよい
[発明の効果] 以上のように、この発明による超音波探傷方式では、周
波数走査して各周波数における被検材からの受信信号を
信号処理することにより欠陥からのデータを収集し、収
集したデータに周波数合成処理を施すことにより欠陥の
位置を検出するようにしたので、従来に比べ距離分解能
を大幅に向」二できる効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明による超音波探傷方式の一実施例を示
す構成図、第2図ta+、 (blは実施例の動作を説
明するための図、第3図fa+、 [blは従来の超音
波探傷方式を示す図である。 1は被検材、2は欠陥、3は探触子、6は指示装置、7
は周波数可変送信器、8は信号処理装置、8aは演算手
段、8bは直流成分検出手段、8cは記憶手段、8dは
周期検出手段。 なお、図中、同一符号は同一、又は相当部分を示す。 代理人  大 岩  増 雄(ほか2名)%で V2.3翫に い (b) 1−1(P) 邪ガ装置 ハ 小 第ろ図 と

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】  探触子を用いて、超音波を被検材内に送信し、被検材
    内からの反射超音波を受信して被検材内の欠陥を検出す
    る超音波探傷方式において、 連続的な送信信号を探触子に送出するとともにその周波
    数の可変走査が可能な周波数可変送信手段と、探触子で
    受信された信号を2乗する演算手段と、2乗して得られ
    た信号の直流成分を検出する直流成分検出手段と、検出
    した信号を走査周波数の関数として記憶する記憶手段と
    、記憶した信号の周期を周波数走査範囲の周波数合成処
    理により検出する周期検出手段とを備え、検出された周
    期より被検材内の欠陥の位置を検出するようにしたこと
    を特徴とする超音波探傷方式。
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1045718C (zh) * 1995-11-06 1999-10-20 西安天诚医药生物工程有限公司 青藤碱的医药新用途
US7317862B2 (en) 2004-04-13 2008-01-08 Nec Corporation Mechanism for releasing lock between optical transceiver and cage, optical transceiver, communication apparatus and method of releasing lock between optical transceiver and cage
WO2012098576A1 (ja) * 2011-01-19 2012-07-26 パナソニック株式会社 有機発光素子の製造方法、有機表示パネル、有機発光装置、機能層の形成方法、インク、基板、有機発光素子、有機表示装置、および、インクジェット装置

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1045718C (zh) * 1995-11-06 1999-10-20 西安天诚医药生物工程有限公司 青藤碱的医药新用途
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WO2012098576A1 (ja) * 2011-01-19 2012-07-26 パナソニック株式会社 有機発光素子の製造方法、有機表示パネル、有機発光装置、機能層の形成方法、インク、基板、有機発光素子、有機表示装置、および、インクジェット装置

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