JPH0199528A - エアパフ型眼圧計 - Google Patents
エアパフ型眼圧計Info
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- JPH0199528A JPH0199528A JP62258049A JP25804987A JPH0199528A JP H0199528 A JPH0199528 A JP H0199528A JP 62258049 A JP62258049 A JP 62258049A JP 25804987 A JP25804987 A JP 25804987A JP H0199528 A JPH0199528 A JP H0199528A
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- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
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Classifications
-
- A—HUMAN NECESSITIES
- A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
- A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
- A61B3/00—Apparatus for testing the eyes; Instruments for examining the eyes
- A61B3/10—Objective types, i.e. instruments for examining the eyes independent of the patients' perceptions or reactions
- A61B3/16—Objective types, i.e. instruments for examining the eyes independent of the patients' perceptions or reactions for measuring intraocular pressure, e.g. tonometers
- A61B3/165—Non-contacting tonometers
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- Veterinary Medicine (AREA)
- Eye Examination Apparatus (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産ｉｆΔ■」Ｂ１０
この発明は、被検眼角膜で反射した検出光から角膜の圧
平（平面状態）を検出し、この検出した時点のエアパフ
の圧力から眼圧を測定するエアパフ型眼圧計に関する。
平（平面状態）を検出し、この検出した時点のエアパフ
の圧力から眼圧を測定するエアパフ型眼圧計に関する。
従末挟亙
従来、エアパフ型眼圧計は、エアパフを被検眼角膜に吹
き付けるとともに、被検眼角膜に対してて光源から検出
光を射出し、そして、この被検眼角膜で反射した反射検
出光を受光手段に受光させ、この受光手段の受光量から
被検眼角膜の圧平を検出している。このとき、検出光を
射出する光源の発光量と、圧平検出系の検出感度は一定
にしである。これは、圧平達成時の被検眼角膜の反射率
は被検眼者が異なっても一定であるとみなしているから
である。
き付けるとともに、被検眼角膜に対してて光源から検出
光を射出し、そして、この被検眼角膜で反射した反射検
出光を受光手段に受光させ、この受光手段の受光量から
被検眼角膜の圧平を検出している。このとき、検出光を
射出する光源の発光量と、圧平検出系の検出感度は一定
にしである。これは、圧平達成時の被検眼角膜の反射率
は被検眼者が異なっても一定であるとみなしているから
である。
■が解決しようとする山点
しかし、実際には、健康な通常の眼においても角膜の反
射率に個人差があり、特に、角膜表面が荒れているよう
な場合、荒れていない角膜表面に較べて１／４〜１１５
しか反射光がない場合がある。
射率に個人差があり、特に、角膜表面が荒れているよう
な場合、荒れていない角膜表面に較べて１／４〜１１５
しか反射光がない場合がある。
したがって、圧平検出系の検出感度を最大反射率の眼に
合わせると、最低反射率の眼では圧平検出系から出力さ
れる検出信号が小さくなり過ぎて圧平の検出精度が低下
してしまい、また、その検出感度を最低反射率の目に合
わせると、最大反射率の眼では圧平検出系が飽和して圧
平を検出することができず、正確な眼圧を求めることが
できなくるという問題があった。
合わせると、最低反射率の眼では圧平検出系から出力さ
れる検出信号が小さくなり過ぎて圧平の検出精度が低下
してしまい、また、その検出感度を最低反射率の目に合
わせると、最大反射率の眼では圧平検出系が飽和して圧
平を検出することができず、正確な眼圧を求めることが
できなくるという問題があった。
見豆勿ｌ刷
そこで、この発明は、上記問題点に鑑みてなされたもの
で、被検眼角膜の反射率に拘りなく高精度に眼圧を測定
することのできるエアパフ型眼圧計を提供することを目
的とする。
で、被検眼角膜の反射率に拘りなく高精度に眼圧を測定
することのできるエアパフ型眼圧計を提供することを目
的とする。
発明の構成
被検眼角膜に対して検出光を射出する光源と、この光源
の射出光の射出によって被検眼角膜で反射した反射検出
光を受光して光学系と被検眼角膜とのアライメントを検
出するアライメント検出手段と、エアパフの吹き付けに
よって圧平される前記被検眼角膜の圧平状態に応じた圧
平信号を出力する圧平検出手段と、この圧平検出手段か
ら出力される圧平信号を比較標準値を基にしてＡ／Ｄ変
換するＡ／Ｄ変換器とを備えているエアパフ型眼圧計に
おいて、 前記アライメント検出手段が受光する受光量に応じて前
記Ａ／Ｄ変換器の比較標準値を変える比較標準値変更手
段を設けたものである。
の射出光の射出によって被検眼角膜で反射した反射検出
光を受光して光学系と被検眼角膜とのアライメントを検
出するアライメント検出手段と、エアパフの吹き付けに
よって圧平される前記被検眼角膜の圧平状態に応じた圧
平信号を出力する圧平検出手段と、この圧平検出手段か
ら出力される圧平信号を比較標準値を基にしてＡ／Ｄ変
換するＡ／Ｄ変換器とを備えているエアパフ型眼圧計に
おいて、 前記アライメント検出手段が受光する受光量に応じて前
記Ａ／Ｄ変換器の比較標準値を変える比較標準値変更手
段を設けたものである。
生−皿
比較標準値変更手段が、アライメント検出手段の受光量
に応じて前記Ａ／Ｄ変換器の標準比較値を変える。
に応じて前記Ａ／Ｄ変換器の標準比較値を変える。
夫ＪｕＬ
以下、この発明の実施例を図面に基づいて説明する。
第１，２図は、エアパフ型眼圧計の光学系の概略構成図
であり、図において、Ｒは被検眼Ｈに対して検出光を射
出する光源、Ｐｌは指標（絞り）で、この絞りＰ工を通
った光源Ｒからの検出光はレンズＬ０によって平行光束
となって被検眼角膜Ｍに照射する。角膜Ｍは一種の凸面
鏡とみなせるので、絞りＰ□の虚像が角膜Ｍの後方にで
き、この虚像が絞りＰ、上に結像されるようにレンズＬ
、、Ｌ。
であり、図において、Ｒは被検眼Ｈに対して検出光を射
出する光源、Ｐｌは指標（絞り）で、この絞りＰ工を通
った光源Ｒからの検出光はレンズＬ０によって平行光束
となって被検眼角膜Ｍに照射する。角膜Ｍは一種の凸面
鏡とみなせるので、絞りＰ□の虚像が角膜Ｍの後方にで
き、この虚像が絞りＰ、上に結像されるようにレンズＬ
、、Ｌ。
が配置されている。１はアライメントセンサで、これは
絞りＰｌの像と絞りＰ、とが重なったとき、すなわち光
学系と角膜とのアライメントが完了したときにアライメ
ント完了信号を出力するようになっている。なお、通常
このようなアライメント系を複数個設けて検出精度の向
上を図ったり、変位方向の表示等を行なったりするが、
ここでは省略する。
絞りＰｌの像と絞りＰ、とが重なったとき、すなわち光
学系と角膜とのアライメントが完了したときにアライメ
ント完了信号を出力するようになっている。なお、通常
このようなアライメント系を複数個設けて検出精度の向
上を図ったり、変位方向の表示等を行なったりするが、
ここでは省略する。
２は圧平検出センサ（圧平検出手段）で、これは、第２
図に示すように角膜Ｍがノズル（エアパフ放出手段）Ｎ
から吹き付けられるエアパフによって圧平されたとき、
絞りＰｌの像がハーフミラ−３を介して絞りＰ２の位置
に結像されるようになっていて、このとき受光する受光
量が最大となり、これを検出することにより角膜Ｍの圧
平を検出するものである。そして、この圧平を検出した
ときのエアパフの圧力を検出し、これにより被検眼Ｈの
眼圧が求められる。
図に示すように角膜Ｍがノズル（エアパフ放出手段）Ｎ
から吹き付けられるエアパフによって圧平されたとき、
絞りＰｌの像がハーフミラ−３を介して絞りＰ２の位置
に結像されるようになっていて、このとき受光する受光
量が最大となり、これを検出することにより角膜Ｍの圧
平を検出するものである。そして、この圧平を検出した
ときのエアパフの圧力を検出し、これにより被検眼Ｈの
眼圧が求められる。
第３図は、エアパフ型眼圧計の信号処理系の構成を示し
たブロック図であり、図において、１１は基準電圧発生
回路１２から出力される基準電圧とアンプ１３を介して
入力されるアライメントセンサ１からの信号電圧（アラ
イメント信号）とを比較して信号電圧が基準電圧以上に
なったときアライメント完了信号を出力するコンパレー
タ、１４はアライメントが完了したときのアライメント
センサ１から出力される信号電圧をサンプルホールドす
るサンプルホールド回路、１５はアンプ１３の出力を倍
率調整するアンプである。なお、アライメントセンサ１
．コンパレータ１１．基準電圧発生回路１２等でアライ
メント検出手段が構成される。
たブロック図であり、図において、１１は基準電圧発生
回路１２から出力される基準電圧とアンプ１３を介して
入力されるアライメントセンサ１からの信号電圧（アラ
イメント信号）とを比較して信号電圧が基準電圧以上に
なったときアライメント完了信号を出力するコンパレー
タ、１４はアライメントが完了したときのアライメント
センサ１から出力される信号電圧をサンプルホールドす
るサンプルホールド回路、１５はアンプ１３の出力を倍
率調整するアンプである。なお、アライメントセンサ１
．コンパレータ１１．基準電圧発生回路１２等でアライ
メント検出手段が構成される。
１６はサンプルホールド回路（比較標準値変更手段）１
４でホールドした電圧を比較標準電圧とし、これを基に
してアンプ１７を介して入力される圧平センサ２からの
圧平信号をデジタル信号に変換するＡ／Ｄ変換器で、こ
れは後述するタイミングコントローラ１７の指令信号に
よってＡ／Ｄ変換を行なうものである。
４でホールドした電圧を比較標準電圧とし、これを基に
してアンプ１７を介して入力される圧平センサ２からの
圧平信号をデジタル信号に変換するＡ／Ｄ変換器で、こ
れは後述するタイミングコントローラ１７の指令信号に
よってＡ／Ｄ変換を行なうものである。
ところで、Ａ／Ｄ変換器１６は、デジタル信号に変換で
きる入力電圧の範囲が比較標準電圧によって決定される
。すなわち、入力電圧が太きくＡ／Ｄ変換器が飽和して
しまうような場合、比較標準電圧を大きくとれば変換率
が減少して所定範囲内のデジタル信号として取り出すこ
とができ、逆に入力信号が小さい場合、比較標準電圧を
小さくとれば、変換率が増加して所定範囲内のデジタル
信号を取り出すことができる。
きる入力電圧の範囲が比較標準電圧によって決定される
。すなわち、入力電圧が太きくＡ／Ｄ変換器が飽和して
しまうような場合、比較標準電圧を大きくとれば変換率
が減少して所定範囲内のデジタル信号として取り出すこ
とができ、逆に入力信号が小さい場合、比較標準電圧を
小さくとれば、変換率が増加して所定範囲内のデジタル
信号を取り出すことができる。
２１はノズルＮから吹き付けられるエアパフの圧力を検
出する圧力センサ、２２はアンプ２３を介して入力され
る圧力センサ２１の圧力信号と、後述するカウンタ２４
のカウント数をＤ／Ａ変換器２５で変換したカウントア
ナログ信号とを比較し、圧力信号値がカウントアナログ
信号値以上のときＨレベルの信号を出力し、以下のとき
Ｌレベルの信号を出力するコンパレータ、２６はコンパ
レータ２２の出力がＨレベルのときＡ／Ｄ変換器１６を
作動させる指令信号を出力するとともに、このＡ／Ｄ変
換器１６で変換されたデジタル信号をＲＡＭ２７に記憶
させるタイミングコントローラである。前記カウンタ２
４はコンパレータ２２の出力がＬレベルからＨレベルに
変化するとカウント数を１つ増加させるとともに、この
カウント数でＲＡＭ２７のアドレスを指定していき、Ｒ
ＡＭ２７が指定されたアドレスにＡ／Ｄ変換器１６でＡ
／Ｄ変換されたデジタル信号を記憶していく。
出する圧力センサ、２２はアンプ２３を介して入力され
る圧力センサ２１の圧力信号と、後述するカウンタ２４
のカウント数をＤ／Ａ変換器２５で変換したカウントア
ナログ信号とを比較し、圧力信号値がカウントアナログ
信号値以上のときＨレベルの信号を出力し、以下のとき
Ｌレベルの信号を出力するコンパレータ、２６はコンパ
レータ２２の出力がＨレベルのときＡ／Ｄ変換器１６を
作動させる指令信号を出力するとともに、このＡ／Ｄ変
換器１６で変換されたデジタル信号をＲＡＭ２７に記憶
させるタイミングコントローラである。前記カウンタ２
４はコンパレータ２２の出力がＬレベルからＨレベルに
変化するとカウント数を１つ増加させるとともに、この
カウント数でＲＡＭ２７のアドレスを指定していき、Ｒ
ＡＭ２７が指定されたアドレスにＡ／Ｄ変換器１６でＡ
／Ｄ変換されたデジタル信号を記憶していく。
ところで、コンパレータ２２はＤ／Ａ変換器２５がカウ
ンタ２４の１つ増加したカウント数をＤ／Ａ変換したカ
ウントアナログ信号と圧力信号とを比較し、このとき、
コンパレータ２２の出力がＨレベルに変化した時点から
Ｄ／Ａ変換器２５の出力が変化する時点までのエアパフ
の圧力の上昇である圧力信号の電位の上昇がＤ／Ａ変換
器２５の１ビット分の電位以下になるように圧力信号の
電位が設定されるのでコンパレータ２２の出力は再度Ｌ
レベルに戻る。このようなコンパレータ２２．カウンタ
２４．Ｄ／Ａ変換器２５で構成されるループにより、エ
アパフの圧力上昇とともにカウンタ２４のカウント数が
増加していくので、カウンタ２４にはエアパフの圧力に
応じたカウント数が記憶されていくことになり、また、
そのカウント数がＲＡＭ１７のアドレスを指定していく
ので、そのアドレスとエアパフの圧力とが対応する。
ンタ２４の１つ増加したカウント数をＤ／Ａ変換したカ
ウントアナログ信号と圧力信号とを比較し、このとき、
コンパレータ２２の出力がＨレベルに変化した時点から
Ｄ／Ａ変換器２５の出力が変化する時点までのエアパフ
の圧力の上昇である圧力信号の電位の上昇がＤ／Ａ変換
器２５の１ビット分の電位以下になるように圧力信号の
電位が設定されるのでコンパレータ２２の出力は再度Ｌ
レベルに戻る。このようなコンパレータ２２．カウンタ
２４．Ｄ／Ａ変換器２５で構成されるループにより、エ
アパフの圧力上昇とともにカウンタ２４のカウント数が
増加していくので、カウンタ２４にはエアパフの圧力に
応じたカウント数が記憶されていくことになり、また、
そのカウント数がＲＡＭ１７のアドレスを指定していく
ので、そのアドレスとエアパフの圧力とが対応する。
次に、上記エアパフ眼圧計の動作について説明する。
先ず最初に、光源Ｒから検出光を射出させる。
次に、光学系を調整して被検眼角膜Ｍのアライメントを
完了させる。アライメントが完了すると、コンパレータ
１１からアライメント完了信号が出力され、このアライ
メント完了信号に基づいて図示しないコントローラがサ
ンプルホールド回路１４を作動させ、カウンタ２４をリ
セットする。サンプルホールド回路１４は、そのアライ
メント完了時点にアライメントセンサ１から出力される
圧平信号をアンプ１３．１５を介してホールドする。そ
の直後ノズルＮからエアパフが吹き付けられる。
完了させる。アライメントが完了すると、コンパレータ
１１からアライメント完了信号が出力され、このアライ
メント完了信号に基づいて図示しないコントローラがサ
ンプルホールド回路１４を作動させ、カウンタ２４をリ
セットする。サンプルホールド回路１４は、そのアライ
メント完了時点にアライメントセンサ１から出力される
圧平信号をアンプ１３．１５を介してホールドする。そ
の直後ノズルＮからエアパフが吹き付けられる。
一方、圧力センサ２１がエアパフの圧力に応じた圧力信
号を出力し、コンパレータ２２がこの圧力信号と、Ｄ／
Ａ変換器２５から出力されるカウントアナログ信号（ゼ
ロに応じたアナログ信号）とを比較する。この場合、カ
ウンタ２４のカウント数はリセットされてゼロになって
いるので、圧力信号値がカウントアナログ信号値以上と
なり、これにより、コンパレータ２２の出力がＬレベル
からＨレベルとなってカウンタ２４のカウント数が１に
なる。このカウント数１の信号がＤ／Ａ変換器２５によ
ってカウントアナログ信号に変換されて圧力信号と比較
される。このとき、エアパフの圧力上昇よりも１カウン
ト増加するときのＤ／Ａ変換器２５の出力の上昇の方が
大きくなるように設定されているのでカウントアナログ
信号が圧力信号よりも大きくなり、コンパレータ２２の
出力はＨレベルから再度Ｌレベルになる。そして、エア
パフの圧力が時間の経過とともに上昇していき、圧力信
号がカウントアナログ信号よりも大きくなるごとにカウ
ント数が１づつ増加していく。
号を出力し、コンパレータ２２がこの圧力信号と、Ｄ／
Ａ変換器２５から出力されるカウントアナログ信号（ゼ
ロに応じたアナログ信号）とを比較する。この場合、カ
ウンタ２４のカウント数はリセットされてゼロになって
いるので、圧力信号値がカウントアナログ信号値以上と
なり、これにより、コンパレータ２２の出力がＬレベル
からＨレベルとなってカウンタ２４のカウント数が１に
なる。このカウント数１の信号がＤ／Ａ変換器２５によ
ってカウントアナログ信号に変換されて圧力信号と比較
される。このとき、エアパフの圧力上昇よりも１カウン
ト増加するときのＤ／Ａ変換器２５の出力の上昇の方が
大きくなるように設定されているのでカウントアナログ
信号が圧力信号よりも大きくなり、コンパレータ２２の
出力はＨレベルから再度Ｌレベルになる。そして、エア
パフの圧力が時間の経過とともに上昇していき、圧力信
号がカウントアナログ信号よりも大きくなるごとにカウ
ント数が１づつ増加していく。
そして、エアパフの圧力の増加とともに角膜Ｍが第２図
に示すように圧平されると、圧平センサ２から出力され
るアライメント信号が最大となる。
に示すように圧平されると、圧平センサ２から出力され
るアライメント信号が最大となる。
その後、その圧力の増加とともに角膜が凹状になるので
、圧平信号の信号値は減少していく。
、圧平信号の信号値は減少していく。
他方、タイミングコントローラ２６はコンパレータ２２
の出力がＨレベルになる毎に指令信号を出力し、Ａ／Ｄ
変換器１６がその指令信号を受けるごとに圧平センサ２
から出力される圧平信号を圧平デジタル信号に変換して
いく。そして、ＲＡＭ２７がカウンタ２４で指定される
アドレスに圧平デジタル信号を第４図に示すように記憶
していく。このアドレスはエアパフの圧力に対応してい
るので、圧平デジタル信号の最大値を記憶しているアド
レスが眼圧を示すことになる。
の出力がＨレベルになる毎に指令信号を出力し、Ａ／Ｄ
変換器１６がその指令信号を受けるごとに圧平センサ２
から出力される圧平信号を圧平デジタル信号に変換して
いく。そして、ＲＡＭ２７がカウンタ２４で指定される
アドレスに圧平デジタル信号を第４図に示すように記憶
していく。このアドレスはエアパフの圧力に対応してい
るので、圧平デジタル信号の最大値を記憶しているアド
レスが眼圧を示すことになる。
ところで、被検眼角膜Ｍの反射率が大きく、圧平センサ
２から出力される圧平信号が大きすぎてＡ／Ｄ変換器１
６から出力されるデジタル信号が第４図の破線で示すよ
うに飽和してしまうような場合、その反射率が大きいの
でアライメントセンサ１から出力される信号電圧も大き
く、したがって、サンプルホールド回路１４がアライメ
ント完了時にホールドする電圧、すなわち比較標準電圧
が大きくなり、これにより変換率が小さ（なってＡ／Ｄ
変換器１６から出力されるデジタル信号が第４図の実線
で示すように所定範囲内に収められる。
２から出力される圧平信号が大きすぎてＡ／Ｄ変換器１
６から出力されるデジタル信号が第４図の破線で示すよ
うに飽和してしまうような場合、その反射率が大きいの
でアライメントセンサ１から出力される信号電圧も大き
く、したがって、サンプルホールド回路１４がアライメ
ント完了時にホールドする電圧、すなわち比較標準電圧
が大きくなり、これにより変換率が小さ（なってＡ／Ｄ
変換器１６から出力されるデジタル信号が第４図の実線
で示すように所定範囲内に収められる。
また、被検眼角膜Ｍの反射率が小さく、圧平センサ２か
ら出力される圧平信号が小さすぎてＡ／Ｄ変換器１６か
ら出力されるデジタル信号が第５図の破線で示すように
最大値が正確に求めることができないような場合、その
反射率が小さいのでアライメントセンサ１から出力され
る信号電圧が小さく、サンプルホールド回路１４がアラ
イメント完了時にホールドする電圧である比較標準電圧
が小さくなり、これにより変換率が大きくなってＡ／Ｄ
変換器１６から出力されるデジタル信号が第５図の実線
で示すように所定範囲内に収められる。
ら出力される圧平信号が小さすぎてＡ／Ｄ変換器１６か
ら出力されるデジタル信号が第５図の破線で示すように
最大値が正確に求めることができないような場合、その
反射率が小さいのでアライメントセンサ１から出力され
る信号電圧が小さく、サンプルホールド回路１４がアラ
イメント完了時にホールドする電圧である比較標準電圧
が小さくなり、これにより変換率が大きくなってＡ／Ｄ
変換器１６から出力されるデジタル信号が第５図の実線
で示すように所定範囲内に収められる。
したがって、被検眼角膜Ｍの反射率の大小に拘らず、常
に所定範囲内のデジタル信号を取り出すことができ、正
確な眼圧を求めることができる。
に所定範囲内のデジタル信号を取り出すことができ、正
確な眼圧を求めることができる。
なお、複数のアライメント検出系を有する場合、アライ
メント検出系の検出出力の平均値や最大値を利用してＡ
／Ｄ変換器１６の比較標準電圧を定めるようにしてもよ
い。
メント検出系の検出出力の平均値や最大値を利用してＡ
／Ｄ変換器１６の比較標準電圧を定めるようにしてもよ
い。
第６，７図は他の実施例を示したもので、第６図に示す
ものは、コンパレータ１１を使用せずにアライメントセ
ンサ１の出力をＡ／Ｄ変換器５１でデジタル信号に変換
し、このデジタル信号に基づいてコントローラ５２でア
ライメントを検出し、さらに上記デジタル信号と予め設
定した基準値とを比較′して比較標準値をコントローラ
５２で演算し、この演算した比較標準値のデジタル信号
を出力し、このデジタル信号がＤ／Ａ変換器５３によっ
てデジタル信号に変換されてＡ／Ｄ変換器１６の比較標
準電圧とされる。これは、角膜の反射率に応じてより高
度な対応が行なえる。また、サンプルホールド回路１４
を使用していないので、ホールド電圧の少しづつの漏れ
の影響を受けないで済む。
ものは、コンパレータ１１を使用せずにアライメントセ
ンサ１の出力をＡ／Ｄ変換器５１でデジタル信号に変換
し、このデジタル信号に基づいてコントローラ５２でア
ライメントを検出し、さらに上記デジタル信号と予め設
定した基準値とを比較′して比較標準値をコントローラ
５２で演算し、この演算した比較標準値のデジタル信号
を出力し、このデジタル信号がＤ／Ａ変換器５３によっ
てデジタル信号に変換されてＡ／Ｄ変換器１６の比較標
準電圧とされる。これは、角膜の反射率に応じてより高
度な対応が行なえる。また、サンプルホールド回路１４
を使用していないので、ホールド電圧の少しづつの漏れ
の影響を受けないで済む。
第７図に示すものは、第１実施例と同様にアライメント
の検出をコンパレータ１１で行なうようにしたものであ
り、他は上記と同様である。これらはコントローラ５２
でＡ／Ｄ変換器５１． Ｄ ／ Ａ変換器５３の入出力
関係を自由に変えられ、例えば角膜の反射率が低い場合
、感度を高め過ぎてノイズを信号として判断してしまう
こと等を防止することができる。
の検出をコンパレータ１１で行なうようにしたものであ
り、他は上記と同様である。これらはコントローラ５２
でＡ／Ｄ変換器５１． Ｄ ／ Ａ変換器５３の入出力
関係を自由に変えられ、例えば角膜の反射率が低い場合
、感度を高め過ぎてノイズを信号として判断してしまう
こと等を防止することができる。
溌訓Ｅυ弧米
この発明は、以上のような構成であるから、被検眼角膜
の反射率に拘りなく、常に安定した圧平信号を検出する
ことができ、したがって、被検眼毎に角膜の反射率が大
きく変わっても正確にしかも安定して眼圧を測定するこ
とができるという効果を有する。
の反射率に拘りなく、常に安定した圧平信号を検出する
ことができ、したがって、被検眼毎に角膜の反射率が大
きく変わっても正確にしかも安定して眼圧を測定するこ
とができるという効果を有する。
第１，２図はこの発明に係わるエアパフ型眼圧計の光学
系の概略構成図、第３図は第１実施例の信号処理系の構
成を示したブロック図、第４，５図はＲＡＭのアドレス
とこのアドレスに記憶されるＡ／Ｄ変換器から出力され
るデジタル信号との関係を示した説明図、第６，７図は
他の実施例の説明図である。 １・・・アライメントセンサ ２・・・圧平センサ １１・・・コンパレータ １２・・・基準電圧発生回路 １４・・・サンプル／ホールド回路 １６・・・Ａ／Ｄ変換器 第１図 第３図 マロレス（斥−ｔｌ） １戸し久（ｒＳ−１１）
系の概略構成図、第３図は第１実施例の信号処理系の構
成を示したブロック図、第４，５図はＲＡＭのアドレス
とこのアドレスに記憶されるＡ／Ｄ変換器から出力され
るデジタル信号との関係を示した説明図、第６，７図は
他の実施例の説明図である。 １・・・アライメントセンサ ２・・・圧平センサ １１・・・コンパレータ １２・・・基準電圧発生回路 １４・・・サンプル／ホールド回路 １６・・・Ａ／Ｄ変換器 第１図 第３図 マロレス（斥−ｔｌ） １戸し久（ｒＳ−１１）
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 被検眼角膜に対して検出光を射出する光源と、この光源
の検出光の射出によって被検眼角膜で反射した反射検出
光を受光して光学系と被検眼角膜とのアライメントを検
出するアライメント検出手段と、エアパフの吹き付けに
よって圧平される前記被検眼角膜の圧平状態に応じた圧
平信号を出力する圧平検出手段と、この圧平検出手段か
ら出力される圧平信号を比較標準値を基にしてＡ／Ｄ変
換するＡ／Ｄ変換器とを備えているエアパフ型眼圧計に
おいて、 前記アライメント検出手段が受光する受光量に応じて前
記Ａ／Ｄ変換器の比較標準値を変える比較標準値変更手
段を設けたことを特徴とするエアパフ型眼圧計。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62258049A JPH0199528A (ja) | 1987-10-13 | 1987-10-13 | エアパフ型眼圧計 |
| US07/257,368 US5042484A (en) | 1987-10-13 | 1988-10-13 | Air puff type tonometer |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62258049A JPH0199528A (ja) | 1987-10-13 | 1987-10-13 | エアパフ型眼圧計 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0199528A true JPH0199528A (ja) | 1989-04-18 |
Family
ID=17314832
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62258049A Pending JPH0199528A (ja) | 1987-10-13 | 1987-10-13 | エアパフ型眼圧計 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5042484A (ja) |
| JP (1) | JPH0199528A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH08140942A (ja) * | 1994-11-16 | 1996-06-04 | Topcon Corp | 非接触式眼圧計 |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6234966B1 (en) | 1991-08-31 | 2001-05-22 | Nidek Co., Ltd. | Noncontact type tonometer |
| JP3880475B2 (ja) * | 2002-07-12 | 2007-02-14 | キヤノン株式会社 | 眼科装置 |
| UA150315U (uk) * | 2021-11-18 | 2022-01-26 | Дмитро Вікторович Вакуленко | Автоматичний тонометр |
Family Cites Families (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3783247A (en) * | 1971-08-30 | 1974-01-01 | Coulter Electronics | Particle analyzing system for coulter particle device and method |
| US4131113A (en) * | 1976-08-19 | 1978-12-26 | California Institute Of Technology | ERG analysis system |
| US4164863A (en) * | 1977-10-05 | 1979-08-21 | Cavitron Corporation | System and method for analyzing tonosignals |
| US4747296A (en) * | 1985-09-27 | 1988-05-31 | Design Team Partners | Electronic tonometer with baseline nulling system |
| JP2588881B2 (ja) * | 1986-09-06 | 1997-03-12 | 株式会社 トプコン | 非接触式眼圧計 |
| GB8626601D0 (en) * | 1986-11-07 | 1986-12-10 | Pa Consulting Services | Testing apparatus |
| US4827191A (en) * | 1987-09-08 | 1989-05-02 | Motorola, Inc. | Adaptive range/DC restoration circuit or use with analog to digital convertors |
-
1987
- 1987-10-13 JP JP62258049A patent/JPH0199528A/ja active Pending
-
1988
- 1988-10-13 US US07/257,368 patent/US5042484A/en not_active Expired - Fee Related
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH08140942A (ja) * | 1994-11-16 | 1996-06-04 | Topcon Corp | 非接触式眼圧計 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US5042484A (en) | 1991-08-27 |
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