JPH0197832A - 偏心測定装置 - Google Patents

偏心測定装置

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JPH0197832A
JPH0197832A JP25560987A JP25560987A JPH0197832A JP H0197832 A JPH0197832 A JP H0197832A JP 25560987 A JP25560987 A JP 25560987A JP 25560987 A JP25560987 A JP 25560987A JP H0197832 A JPH0197832 A JP H0197832A
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JP
Japan
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light
lens
light source
amount
amplifier
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JP25560987A
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English (en)
Inventor
Yasushi Nakamura
泰 中村
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Olympus Corp
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Olympus Optical Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、レンズの偏心量を測定するための偏心測定装
置に関する。
〔従来の技術〕
上記この種の偏心測定装置としては、特開昭61−11
8639号に記載された技術がある。
かかる技術を第5図を用いて説明すると、図においてl
で示すのは被測定体である被検レンズで、この被検レン
ズ1は被検レンズ枠2に回転可能に保持されている。3
で示すのは光源で、この光源3からの光はコリメートレ
ンズ系4を経て平行光となり、この平行光が被検レンズ
lに入射されるようになっている。被検レンズ1からの
透過光は、被検レンズlの焦点位置に集光して点像とな
り、この点像は、拡大レンズ系5を介して拡大されて先
位i’横出素子6上に結像されるようになっている。そ
して、光位置検出素子6は、集光した点像のX、Y2方
向の重心位置をリニアなX、 Yの電圧に変換しこの光
位置検出素子6からのX、 Y電圧は増幅器7を介して
増幅され、A/D変換器8を経てコンピュータ9に入力
されるようになっている。
上記構成によれば、次のようにして被検レンズlの被検
レンズ枠2に対する偏心量を測定しうるちのである。即
ち、第5図にて示す構成において、被検レンズ枠2を基
準として被検レンズ1を回転させると、被検レンズ1が
被検レンズ枠2に対して偏心している場合には、光位置
検出素子6上に集光した点像は円を描くことになる。、
従って、光位置検出素子6のX、 Y出力は点像が円を
描くことにより変化し、これをコンピュータにて計算処
理することにより被検レンズ1の偏心量を求めることが
できる。そして、求められた偏心量がデジタル表示され
るものである。
〔発明が解決しようとする問題点〕
上記従来の偏心測定装置によれば、偏心量を数値化して
求めることができるものであるが、次のような問題点が
あった。
(1)  被検レンズが変わると光位置検出素子の受光
量が変動し、この光量変動のために増幅器での演算によ
る誤差が大きくなり、そのために光位置検出精度が低下
していた。
(2)偏心測定を行なう際には、被検レンズごとに光量
調整を行なう必要があるが、この光量調整を手動で行な
っていたために作業時間が多くかかり、作業性9作業効
率が低いものとなっていた。又、光量調整を手動で行な
う方式であるので、光位置検出精度が低く、正確な偏心
量の測定ができなかった。
本発明は、上記従来技術の問題点に鑑みなされたもので
あって、被検レンズの変更等による外乱に影響されるこ
となく自動的に最適光量を設定しうるようにし、高精度
に偏心量を測定できるようにした偏心測定装置を提供す
ることを目的とする。
〔問題点を解決するための手段〕
本発明は、点光源と、前記点光源からの光を被検レンズ
に投射するためのレンズ系と、前記被検レンズを回転す
るための回転機構部と、その検出面上に結像された前記
被検レンズからの点像の光量的重心位置を電気信号とし
て検出するための光位置検出素子と、前記光位置検出素
子にて検出された電気信号を増幅するための増幅器と、
前記増幅器からのアナログ信号をデジタル信号に変換す
るためのA/D変換器と、前記A/D変換器からの出力
により被検レンズの偏心量を計算するためのコンピュー
タとから構成してなる偏心測定装置において、 前記光
源の光量をコントロール可能な光源ドライバと、前記増
幅器より出力される総光量信号を前記光源ドライバにフ
ィードバックして総光量が一定になるように制御するた
めのフィードバック回路とを装備して構成したものであ
る。
〔作用〕
上記構成においては、光源からの光がレンズ系を介して
被検レンズに投射される。そして、被検レンズを透過し
た光位置検出素子上に結像され、結像された点像の光量
的重心位置が電気信号として取り出され、この電気信号
が増幅器に入力される。増幅器にて増幅された総光量信
号は、A/D変換器を介してデジタル信号に変換されて
コンピュータに入力される。
又、前記増幅器より出力される総光量信号は光源ドライ
バにフィードバックされ、フィードバック回路を介して
総光量が一定となるように制御される。これにより、被
検レンズが変更されて光量が変動した場合でも総光量は
自動的に一定に制御され、光位置検出精度が低下するこ
とがない。
〔実施例〕
以下、図面を用いて本発明の実施例について詳細に説明
する。なお、以下の説明において第5図にて示した構成
と同様の構成については同一符号を付して説明するもの
とする。
〔第1実施例〕 第1図は、本発明に係る偏心測定装置10の第1実施例
を示す構成説明図である。
図において1で示すのは、被測定体である被検レンズで
、この被検レンズ1は被検レンズ枠2に ゛保持自在の
構成となっており、被検レンズ1は被検レンズ枠2を介
して回転自在の構成となっている。被検レンズ枠2は、
図示を省略している回転機構部を介して回転駆動される
構成となっている。
3で示すのは光源で、この光源3からの光はコリメート
レンズ系4を経て平行光となり、この平行。
光が被検レンズ1に入射されるように設定しである。そ
して、被検レンズ1を透過した光は被検レンズ1の焦点
位置に集光して点像となり、この点像は、拡大レンズ系
5を介して拡大されて光位置検出素子6上に結像される
ように設定しである。
そして、この光位置検出素子6にて集光した点像のX、
Y2方向の重心位置がリニアなX、Yの電圧に変換され
、この変換された光位置検出素子6からのX、 Y電圧
が増幅器7に入力されるように設定しである。そして、
増幅器7を介して増幅されたX、Y電圧はA/D変換器
8に人力されてデジタル変換され、デジタル変換された
x、Y電圧がコンピュータ9に入力されるように設定構
成しである。
11で示すのは差動増幅器で、この差動増幅器11には
基準電圧発生器12からの基準電圧信号V、と増幅器7
からの総光量電圧信号Σとが入力されるように設定しで
ある。即ち、光位置検出素子6にて受光した総光量は増
幅器7にて、演算増幅され、総光N電圧信号Σとして差
動増幅器11に入力されるようになっており、この総光
量電圧信号Σと基準電圧発生器12からの基準電圧信号
■□とが差動増幅器11に入力されるようになっている
。そして、差動増幅器11からの出力電圧は、光量コン
トロール信号1)として光源ドライバ14に入力される
ようになっている。光源ドライバ14は、光量コントロ
ール信号1)に応じて光源3の光強度をコントロールし
うるように設定構成しである。15で示すのはフィード
バック回路である。
次に、上記構成に基づき被検レンズ1の偏心量を測定す
る作用について説明する。
まず、光源3を発光させ、光源3からの光をコリメート
レンズ4を介して平行光として被検レンズl(測定時に
は被検レンズ枠2を介して回転される)に投射させる。
被検レンズ1からの透過光は、被検レンズ1の焦点位置
に集光して点像となり、この点像は、拡大レンズ5によ
り拡大されて光位置検出素子6上に結像される。
光位置検出素子6は、集光した点像のX、Y2・方向の
重心位置をリニアなX、Y電圧に変換し、この変換され
たX、Y電圧出力は増幅器7に入力されて演算増幅され
る。増幅器7にて、増幅されたX、Y電圧は、A/D変
換器8を介してデジタル変換され、コンピュータ9に入
力される。そして、コンピュータ9の表示部9aに被検
レンズ1の偏心量がデジタル表示される。
一方、光位置検出素子6にて受光された総光量は増幅器
7にて演算増幅され、総光量電圧Σとして出力され差動
増幅器11に入力される。差動増幅器11は、増幅器7
から入力される総光量電圧信号Σと基準電圧発生器12
から入力される基準電圧信号■8とを比較演算し、上記
2つの電圧差を増幅して出力する。差動増幅3311か
らの出力は、光量コントロール信号1)として光源ドラ
イバ14に入力される。光源ドライバ14は、光量コン
トロール信号1)に応じて光[3・を調光し、光位置検
出素子6上での光量が一定になるように制御される。
従って、被検レンズ1が変更され、光位置検出素子6の
受光量が変動した場合には、差動増幅器IIからの光量
コントロール信号1)が変わることになるが、この場合
には、光量コントロール信号1).フィードバック回路
15.差動増幅器11を介して光源ドライバ14がコン
トロールされ、これにより光位置検出素子6上の光量が
一定になるように光源3が調光される。即ち、被検レン
ズlが変更されて光位置検出素子6の受光量が変わった
場合には、総光量電圧Σの変動を打ち消すように差動増
幅器11が働き、これに応じて光源ドライバ14がコン
トロールされて光源3が調光され、光位置検出素子6上
での光量が基準電圧vRにて設定された一定の光量とな
るように制御されるのである。
以上のように本実施例においては、被検レンズ1を変更
した際等において光位置検出素子6の受光量が変動した
場合においても、光′rA3を自動調光して光位置検出
素子6上の光量が一定となるように制御されるので、光
位置検出精度が著しく向上し、正確な偏心量を測定する
ことができる。又、被検レンズ1を変えた際に生ずる光
位置検出素子6上の受光量の変動を自動的に一定光量と
なるように制御する方式であるので、偏心測定の際の作
業性9作業効率の向上を図ることができる。又、被検レ
ンズ1を変更した際等においても光位置検出素子6上の
受光量が一定となるように自動的に制御されるので、被
検レンズ1を変更した際等においても増幅器7での演算
誤差がなくなり、この点からも光位置検出精度の向上が
図れるものである。
(第2実施例) 第2図は、本発明に係る偏心測定装置10の第2実施例
を示すものである0本実施例の特徴は、第1図にて示す
構成において、差動増幅器11と光源ドライバ14との
接続回路中にリミッタ回路20を配設し、リミッタ回路
20からの出力を光量コントロール信号1)として光源
ドラ′イバ14に入力するように構成した点である。光
源ドライバ14から出力される光源駆動電流はリミッタ
入力信号21としてリミッタ回路20に入力されるよう
に設定してあり、光源ドライバ14からリミッタ回路2
0に入力される光源駆動電流がある一定レベル以上の場
合には、光量を下げるように光源ドライバ14に光量コ
ントロール信号1)がリミッタ回路20から出力するよ
うに設定しである。その他の構成は、第1図に示したも
のと同様であるので、同様の部材には同一の符号を付し
てその説明を省略する。
上記構成によれば、次のような作用、効果を奏すること
ができる。即ち、第1図にて示した構成においては、被
検レンズ1が被検レンズ枠2に取り付けられていない場
合等には光位置検出素子6の受光量が極端に小さくなる
ので、光源3の強度が受光量を大きくするべく極端に大
きくなり、その結果、光源3が破壊される事態が生じう
る0本実施例においては、光源ドライバ14からリミッ
タ回路20に入力される光源駆動電流が所定のレベル以
上となったときには、リミッタ回路20から光量を下げ
るように光量コントロール信号1)が光源ドライバ14
に入力されるので、光源3の破壊を確実に防止できる利
点がある。
その他の作用、効果については、第1実施例と同様であ
るので、その説明を省略する。
(第3実施例) 第3図は、本発明に係る偏心測定装置10の第3実施例
を示すものである。本実施例においては、図に示すよう
に、増幅器7からの総光量電圧信号(出力信号)Σは比
較器30に人力されるように設定してあり、この比較器
30にて増幅器7から入力される総光量電圧信号Σと基
準電圧発生器12から入力される基準電圧信号vIIと
が比較演算され、比較器30からの出力がカウンタ31
に入力されるようになっている。カウンタ31は、比較
器30からの出力信号に応じてカウンタ値のアップ、ダ
ウンを行うものであり、カウンタ31におけるアップ、
ダウンのクロックはパルス発生器32から入力されるよ
うになっている。このパルス発生器32からカウンタ3
1に入力されるクロックパルスは、カウンタ31におけ
るカウントの基準クロックとなるものである。
比較器30からの出力はエツジ検出回路33に入り、こ
のエツジ検出回路33にて比較器30の出力パルスの立
上りもしくは立下り検出されるように設定しである。3
4で示すのは、エツジ検出回路33からの検出信号によ
りセットされるプリンプフロソプ、35で示すのは、フ
リップフロップ34リセツト用のスイッチである。
カウンタ31からのデジタル量の出力は、D/A変換器
36を介してアナログ量に変換されて光源ドライバ14
に人力されるようになっており、この光源ドライバ14
に入力されるD/A変換器36からの出力信号により光
ag3の光強度がコントロールされるようになっている
その他の構成は、第1実施例と同様であるので、同様の
部材には同一符号を付してその説明を省略する。
上記構成においては、増幅器7からの総光量電圧信号Σ
は比較器30に入力され、比較器30にて総光量電圧信
号Σが基準電圧発生器12からの基準電圧V、よりも大
きいか小さいかが比較演算される。比較器30からの出
力信号はカウンタ31(スイッチ35はON状態にある
)に入力され、カウンタ31はこの信号を受けてカウン
タ値のアンプ、ダウンを行う。カウンタ31からの出力
は、D/A変換器30を介して光源ドライバ14に入力
され、光源ドライバ14はその入力値に応じて光源3の
光強度をコントロールする。そして、総光量電圧信号Σ
と基準電圧v魔とが一致した際には、比較器30の出力
は立上りパルス又は立下りパルスとなるので、この立上
りパルス又は立下りパルスのエツジがエツジ検出回路3
3にて検出され、このエツジ検出信号にてフリップフロ
ップ34がセットされてカウンタ31の動作が停止する
従って、上記構成によれば、被検レンズ1をセットし、
スイッチ35を介してフリップフロップ34をリセント
させることによりカウ′ンタ31がカウント動作を開始
し、エツジ検出回路33が立上がりパルスのエツジを検
出するまで、即ち、総光量電圧信号Σと基準電圧信号V
、とが一致するまでフィードバック作用が行われるもの
であり、上記エツジ検出後はカウント動作を停止し、光
源3に対するフィードバックも停止さゼるものである。
その他の作用は、第1実施例と同様であるので、その説
明を省略する。
上記本実施例によれば、第1実施例の効果に加えて光源
3の使用をリミット限界で使用するのを避け、光源3の
寿命を延命化できるとともに、測定者の目を強い光から
保護できる利点がある。
(第4実施例) 第4図は、本発明に係る偏心測定装置10の第4実施例
を示すものである0図において40で示すのは、光源ド
ライバ14を介して光強度を調光制御自在に構成された
レーザ光源で、レーザ光源40からのレーザ光は、コリ
メートレンズ41を介して平行光となり、ビームスプリ
ッタ42に入射されるようになっている。そして、ビー
ムスプリッタ42からの透過光は、第1の集光レンズ4
3に入射され、第1の集光レンズ43の焦点位置に集光
されるようになっている。
被検レンズ枠2にセットされた被検レンズ1は、その反
射球面1aの曲率中心が第1の集光レンズの焦点位置と
一致するようにセントされるようになっており、被検レ
ンズ1の反射球面1aに入射されたレーザ光源40から
のレーザ光は、反射球面1aにて反射されて再び第1の
集光レンズ43の焦点位置に集光されるように設定しで
ある。
従って、もし光軸に対して反射球面1aが偏心している
場合には、第1の集光レンズ43の焦点位置上で近似的
に光軸から偏心量の2倍だけずれた位置に集光するよう
になっている。
被検レンズ1の反射球面1aから反射された反射光は、
再び第1の集光レンズ43を通り、ビームスプリンタ4
2に入射されるように設定しである。そして、ビームス
プリッタ42からの反射光は、第2の集光レンズ44を
介して集光されて点像となり、この点像は拡大レンズ4
5を介して拡大されて光位置検出素子6上に結像するよ
うに設定しである。その他の構成は第3実施例と同一で
あるので、第3図にて示した構成部と同一の構成部には
同一符号を付してその説明を省略する。
上記構成によれば、被検レンズ枠2に対して偏心してい
る被検レンズ1を被検レンズ枠2を基準として回転すれ
ば、被検レンズlの反射球面1aから反射されて光位置
検出素子6上に結像される像は円の軌跡を描(。従って
、この円の大小が被検レンズ1の被検レンズ枠2に対す
る偏心量の大小を示すこととなり、その結果、被検レン
ズ1の反射面の偏心量を測定できる利点がある。その他
の作用、効果は第3実施例と同様であるので、その説明
を省略する。
〔発明の効果〕
以上のように、本発明によれば、被検レンズを変更した
場合等において光量変動が生じても自動的に光計が一定
になるように調光されるので、正確な偏心量の測定が可
能になるとともに、測定作業の作業性1作業効率の向上
を図りうるちのである。
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明に係る装置の第1実施例を・示す説明
図、 第2図は、本発明に係る装置の第2実施例を示′  す
説明図、 第3図は、本発明に係る装置の第3実施例を示す説明図
、 第4図は、本発明に係る装置の第4実施例を示す説明図
、 第5図は、従来技術の説明図である。 1・・・被検レンズ 3・・・光源 4・・・コリメートレンズ 6・・・光位置検出素子 7・・・増幅器 8・・・A/D変換器 9・・・コンピュータ 11・・・差動増幅器 14・・・光源ドライバ 30・・・比較器

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)点光源と、前記点光源からの光を被検レンズに投
    射するためのレンズ系と、前記被検レンズを回転するた
    めの回転機構部と、その検出面上に結像された前記被検
    レンズからの点像の光量的重心位置を電気信号として検
    出するための光位置検出素子と、前記光位置検出素子に
    て検出された電気信号を増幅するための増幅器と、前記
    増幅器からのアナログ信号をデジタル信号に変換するた
    めのA/D変換器と、前記A/D変換器からの出力によ
    り被検レンズの偏心量を計算するためのコンピュータと
    から構成してなる偏心測定装置において、 前記光源の光量をコントロール可能な光源ドライバと、
    前記増幅器より出力される総光量信号を前記光源ドライ
    バにフィードバックして総光量が一定になるように制御
    するためのフィードバック回路とを装備して構成したこ
    とを特徴とする偏心測定装置。
JP25560987A 1987-10-09 1987-10-09 偏心測定装置 Pending JPH0197832A (ja)

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5453606A (en) * 1993-03-11 1995-09-26 Minolta Co. Ltd. Apparatus for adjusting the optical axis of an optical system
EP0736788A2 (en) * 1995-04-07 1996-10-09 Discovision Associates Method and apparatus for aligning an objective lens
JP2010014680A (ja) * 2008-07-07 2010-01-21 Sanyo Electric Co Ltd ビーム照射装置

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61118639A (ja) * 1984-11-15 1986-06-05 Olympus Optical Co Ltd 偏心量測定装置

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61118639A (ja) * 1984-11-15 1986-06-05 Olympus Optical Co Ltd 偏心量測定装置

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5453606A (en) * 1993-03-11 1995-09-26 Minolta Co. Ltd. Apparatus for adjusting the optical axis of an optical system
EP0736788A2 (en) * 1995-04-07 1996-10-09 Discovision Associates Method and apparatus for aligning an objective lens
EP0736788A3 (en) * 1995-04-07 1998-05-13 Discovision Associates Method and apparatus for aligning an objective lens
US6023379A (en) * 1995-04-07 2000-02-08 Discovision Associates Method and apparatus for aligning an objective lens
JP2010014680A (ja) * 2008-07-07 2010-01-21 Sanyo Electric Co Ltd ビーム照射装置

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