JPH0196951A - 半導体封止用充填剤 - Google Patents
半導体封止用充填剤Info
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- JPH0196951A JPH0196951A JP25532987A JP25532987A JPH0196951A JP H0196951 A JPH0196951 A JP H0196951A JP 25532987 A JP25532987 A JP 25532987A JP 25532987 A JP25532987 A JP 25532987A JP H0196951 A JPH0196951 A JP H0196951A
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Landscapes
- Structures Or Materials For Encapsulating Or Coating Semiconductor Devices Or Solid State Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は半導体封止用充填剤に関するものであり、より
詳しくは、半導体チップを樹脂封止するための封止剤を
構成するのに好適な充填剤並びに該封止剤を含有する封
止剤樹脂組成物に関するものである。
詳しくは、半導体チップを樹脂封止するための封止剤を
構成するのに好適な充填剤並びに該封止剤を含有する封
止剤樹脂組成物に関するものである。
半導体チップの樹脂封止は、1IO−90重量%の充填
剤と60〜IO重量%の樹脂成分からなる封止剤を用い
て行なわれている。
剤と60〜IO重量%の樹脂成分からなる封止剤を用い
て行なわれている。
封止剤の熱膨張係数は半導体チップの熱膨張係数に近い
ことが必要であり、使用する樹脂の架橋密度を下げて弾
性率を小さくするとか、充填剤量を多くする等の工夫が
なされているが、前者の方法では、封止剤の耐湿性、寸
法安定性、機械的強度等の低下を招(問題がある。また
、後者の方法では、封止剤の成形性を損うので更に改善
が望まれていた。
ことが必要であり、使用する樹脂の架橋密度を下げて弾
性率を小さくするとか、充填剤量を多くする等の工夫が
なされているが、前者の方法では、封止剤の耐湿性、寸
法安定性、機械的強度等の低下を招(問題がある。また
、後者の方法では、封止剤の成形性を損うので更に改善
が望まれていた。
本発明者らヲ主、すぐれた半導体封止剤を製造すべく鋭
意研究を重ねた結果、特定の充填剤を用いるときは比較
的少ない充填剤使用量で希望する熱膨張係数の封止剤を
製造することができ、併せて充填剤使用量が少ないので
封止剤の機械的強度等もすぐれていることを見出し本発
明に到達した。すなわち本発明は半導体封止剤用として
好適な充填剤を提供することを目的とするものであり、
チタニア含有率が/ −20重f[%であるシリカチタ
ニア粉末からなる半導体封止用充填剤からなる。
意研究を重ねた結果、特定の充填剤を用いるときは比較
的少ない充填剤使用量で希望する熱膨張係数の封止剤を
製造することができ、併せて充填剤使用量が少ないので
封止剤の機械的強度等もすぐれていることを見出し本発
明に到達した。すなわち本発明は半導体封止剤用として
好適な充填剤を提供することを目的とするものであり、
チタニア含有率が/ −20重f[%であるシリカチタ
ニア粉末からなる半導体封止用充填剤からなる。
本発明のシリカチタニア粉末は、チタニア含有基が/
−J 0重量%、好ましくはり〜10重量%である。チ
タニア含有率は多過ぎても少過ぎても熱膨張係数を小さ
(することができな(なり、本発明の効果が期待できな
くなる。
−J 0重量%、好ましくはり〜10重量%である。チ
タニア含有率は多過ぎても少過ぎても熱膨張係数を小さ
(することができな(なり、本発明の効果が期待できな
くなる。
シリカチタニア粉末の製造方法は周知の種々の方法を採
用することができるが、均量組成のものが製造できるこ
とから、固体でない原料から出発することが好ましく、
この意味でシリコン化合物としては各種の有機硅素化合
物を使用することができる。より具体的には、 ■ SiH4、(06H5,13SiH1(C!2H5
)2S i H2、(CH3)4日1、(OH3)3S
iO2H5等の(オルガノ)シラン ■ H81O13、S i O14、(C!H3)2
SiC!1□、(C6H5)3S1Br等の(オルガノ
)ハロゲノシラン ■ 5i(OCH3)4.5i(QC2H5)4、
(OH+)zs’(OOH+)z等の(オルガノコアル
コキシまたは(オルガノ)アリールオキシシラン ■ (OH3)281(OH)2.06H5Si(OH
)3等の(オルガノ)シラノール ■(CH3)251(oCOCH3)2、〔(CH3)
3S10〕2S○2等の(オルガノ)シラノールエステ
ル ■ (CH3)3810S1(CH3)3、(OH3)
3SiO8i(OH3)20Si(CH3)3等の(オ
ルガノンポリシロキサン ■ (C:H3ン、5iNH8i(OH3)3、(C’
2H5)2”’ 1NH2等の(オルガノ)シラザン ■ ((3H3)3SiSSi(CI(3)3、〔(C
H3)251S〕2等の(オルガノ)シルチアン ■ (02H5)3SiNC! 、 (OII3)3S
iNC8等の(オルガノ)イソシアンシラン などが挙げられる。〔以上においてオルガノにに)を付
したのは硅素原子に直結する水素原子の一部又は全部が
、炭化水素残基で置換されていても良いという意味であ
る。〕 チタン化合物としては、上記シリコン化合物と対応する
チタン化合物あるいは硫酸チタン等の塩類などが挙げら
れる。
用することができるが、均量組成のものが製造できるこ
とから、固体でない原料から出発することが好ましく、
この意味でシリコン化合物としては各種の有機硅素化合
物を使用することができる。より具体的には、 ■ SiH4、(06H5,13SiH1(C!2H5
)2S i H2、(CH3)4日1、(OH3)3S
iO2H5等の(オルガノ)シラン ■ H81O13、S i O14、(C!H3)2
SiC!1□、(C6H5)3S1Br等の(オルガノ
)ハロゲノシラン ■ 5i(OCH3)4.5i(QC2H5)4、
(OH+)zs’(OOH+)z等の(オルガノコアル
コキシまたは(オルガノ)アリールオキシシラン ■ (OH3)281(OH)2.06H5Si(OH
)3等の(オルガノ)シラノール ■(CH3)251(oCOCH3)2、〔(CH3)
3S10〕2S○2等の(オルガノ)シラノールエステ
ル ■ (CH3)3810S1(CH3)3、(OH3)
3SiO8i(OH3)20Si(CH3)3等の(オ
ルガノンポリシロキサン ■ (C:H3ン、5iNH8i(OH3)3、(C’
2H5)2”’ 1NH2等の(オルガノ)シラザン ■ ((3H3)3SiSSi(CI(3)3、〔(C
H3)251S〕2等の(オルガノ)シルチアン ■ (02H5)3SiNC! 、 (OII3)3S
iNC8等の(オルガノ)イソシアンシラン などが挙げられる。〔以上においてオルガノにに)を付
したのは硅素原子に直結する水素原子の一部又は全部が
、炭化水素残基で置換されていても良いという意味であ
る。〕 チタン化合物としては、上記シリコン化合物と対応する
チタン化合物あるいは硫酸チタン等の塩類などが挙げら
れる。
上記シリコン化合物とチタン化合物を適当な溶媒を用い
て均一に溶合し、例えば水を加えて加水分解を行なった
り、高温に加熱した炉中に混合溶液を噴霧する等の方法
によりシリカチタニア粉を作成することができる。
て均一に溶合し、例えば水を加えて加水分解を行なった
り、高温に加熱した炉中に混合溶液を噴霧する等の方法
によりシリカチタニア粉を作成することができる。
このシリカチタニア粉をボールミル、摺潰機等の粉砕機
で粉砕を行ない、/μm以上io。
で粉砕を行ない、/μm以上io。
μm以下、好ましくは70μm以上30μm以下に分級
を行ない、半導体樹脂封止用充填剤とする。
を行ない、半導体樹脂封止用充填剤とする。
本発明のシリカチタニア粉は樹脂と混合して半導体チッ
プを樹脂封止するだめの封止剤とする。好適な樹脂とし
ては、エポキシ樹脂、フェノール樹脂、シリコン樹脂、
ポリイミド樹脂のような熱硬化性樹脂、ポリフェニレン
サルファイド樹脂、線状ポリエステル樹脂、液晶ポリマ
ーのような熱可塑性樹脂等があげられる。
プを樹脂封止するだめの封止剤とする。好適な樹脂とし
ては、エポキシ樹脂、フェノール樹脂、シリコン樹脂、
ポリイミド樹脂のような熱硬化性樹脂、ポリフェニレン
サルファイド樹脂、線状ポリエステル樹脂、液晶ポリマ
ーのような熱可塑性樹脂等があげられる。
シリカチタニア粉末と樹脂の混合割合は、重量比でqo
:io〜QO:AO好ましくは、り!;:、2!r〜j
j : 4jの範囲から選ぶのがよい。シリカチタニア
粉の量があまり少ないと、熱膨張係数が半導体チップの
熱膨張係数を太き(上回るようになる。逆にあまりに多
いと成形性を損いやすい。
:io〜QO:AO好ましくは、り!;:、2!r〜j
j : 4jの範囲から選ぶのがよい。シリカチタニア
粉の量があまり少ないと、熱膨張係数が半導体チップの
熱膨張係数を太き(上回るようになる。逆にあまりに多
いと成形性を損いやすい。
半導体チップの封止は周知の方法に従って、熱硬化性樹
脂を用いる場合は、シリカチタニア粉を含有するプレポ
リマーを用いて成形して硬化させる方法、また熱可塑性
樹脂を用いる場合はシリカチタニア粉を含有する樹脂で
溶融成形すればよい。
脂を用いる場合は、シリカチタニア粉を含有するプレポ
リマーを用いて成形して硬化させる方法、また熱可塑性
樹脂を用いる場合はシリカチタニア粉を含有する樹脂で
溶融成形すればよい。
以下の実施例によって本発明を具体的に説明するが、本
発明はその要旨をこえない限り以下の実施例に限定され
るものではない。
発明はその要旨をこえない限り以下の実施例に限定され
るものではない。
なお、実施例中の「部」および「%」はそれぞれ「重量
部」および「重量%」を示す。
部」および「重量%」を示す。
実施例1
テトラメトキシシラン?、/部、テトライソプロポキシ
チタン/部およびメタノール3.1部を混合し、攪拌し
ながらこれに水3.6部、メタノールg、i部そして酢
酸0.03部の混合液を乙時間かけて滴下して加水分解
を行った。滴下後O,S時間攪拌した後、72時間放置
してゲル化を行った。得られたゲルを120℃、72時
間乾燥し、粉砕後SOOメツシュパスした粉体をqoo
℃で7時間焼成した。
チタン/部およびメタノール3.1部を混合し、攪拌し
ながらこれに水3.6部、メタノールg、i部そして酢
酸0.03部の混合液を乙時間かけて滴下して加水分解
を行った。滴下後O,S時間攪拌した後、72時間放置
してゲル化を行った。得られたゲルを120℃、72時
間乾燥し、粉砕後SOOメツシュパスした粉体をqoo
℃で7時間焼成した。
得られたシリカチタニア粉は、チタニア含有率9.g%
で平均粒径は77.3μmであった。
で平均粒径は77.3μmであった。
このシリカチタニア粉、291部に対して樹脂としてク
レゾールノボラソクエボキシ樹脂io。
レゾールノボラソクエボキシ樹脂io。
部、フェノールノボラック系硬化剤SO部、硬化促進剤
としてコータチルイミダゾール2部、改質材としてエポ
キシシランカップリング剤2部、離形剤としてカルナバ
ワックス一部、顔料としてカーボンブラック1部を混合
し、加熱ロールで10℃、/j分間混練し、冷却後粉砕
して半導体封止用プレポリマーを得た。成型性試験とし
て、このプレポリマーを用い温度/?j−℃、圧カフ0
kg/dの条件でスパイラルフロー長の測定を行なった
。また、上記プレポリマーを温度/gO℃、5分、圧カ
フ0に9/cIr?の条件でトランスファー成形した後
、170℃でよ時間ポストキュアーを行ない熱膨張率測
定用試験片を作成し、島津熱機械的分析装置TMA−3
0型で熱膨張率を測定した。結果を第1表に示す。
としてコータチルイミダゾール2部、改質材としてエポ
キシシランカップリング剤2部、離形剤としてカルナバ
ワックス一部、顔料としてカーボンブラック1部を混合
し、加熱ロールで10℃、/j分間混練し、冷却後粉砕
して半導体封止用プレポリマーを得た。成型性試験とし
て、このプレポリマーを用い温度/?j−℃、圧カフ0
kg/dの条件でスパイラルフロー長の測定を行なった
。また、上記プレポリマーを温度/gO℃、5分、圧カ
フ0に9/cIr?の条件でトランスファー成形した後
、170℃でよ時間ポストキュアーを行ない熱膨張率測
定用試験片を作成し、島津熱機械的分析装置TMA−3
0型で熱膨張率を測定した。結果を第1表に示す。
〔比較例1〕
実施例におけるシリカチタニア粉の代わりに、平均粒径
/!;、Jμmの石英粉を用い、池の条件は実施例と同
一にしてプレポリマーを作成し実施例と同一の測定を行
なった。
/!;、Jμmの石英粉を用い、池の条件は実施例と同
一にしてプレポリマーを作成し実施例と同一の測定を行
なった。
実施例におけるシリカチタニア粉の代わりに平均粒径1
3.3μmの石英粉3ダ9部を用い、他の条件は実施例
と同一にしてプレポリマーを作成し、実施例と同一の測
定を行った。
3.3μmの石英粉3ダ9部を用い、他の条件は実施例
と同一にしてプレポリマーを作成し、実施例と同一の測
定を行った。
第1表
上記の結果かられかるように、本発明のシリカチタニア
を用いたときは、同量のシリカを用いた場合に比して熱
膨張率が/lI% 性も改善されている。なお、熱膨張率を小さくするため
にシリカを多量に用いた場合(比較例2)には、流動性
を大きく損なう。
を用いたときは、同量のシリカを用いた場合に比して熱
膨張率が/lI% 性も改善されている。なお、熱膨張率を小さくするため
にシリカを多量に用いた場合(比較例2)には、流動性
を大きく損なう。
本発明の充填剤を用いるときは、熱膨張率が小さく、流
動性のよい半導体封止剤を得ることができるので工業的
価値が大きい。
動性のよい半導体封止剤を得ることができるので工業的
価値が大きい。
Claims (1)
- (1)チタニア含有率が1〜20重量%であるシリカチ
タニア粉末からなる半導体封止用充填剤。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62255329A JP2572782B2 (ja) | 1987-10-09 | 1987-10-09 | 半導体封止用充填剤 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62255329A JP2572782B2 (ja) | 1987-10-09 | 1987-10-09 | 半導体封止用充填剤 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0196951A true JPH0196951A (ja) | 1989-04-14 |
JP2572782B2 JP2572782B2 (ja) | 1997-01-16 |
Family
ID=17277274
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP62255329A Expired - Lifetime JP2572782B2 (ja) | 1987-10-09 | 1987-10-09 | 半導体封止用充填剤 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2572782B2 (ja) |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS50145499A (ja) * | 1974-05-15 | 1975-11-21 | ||
JPS59203303A (ja) * | 1983-05-04 | 1984-11-17 | 松下電工株式会社 | 封止用熱硬化性樹脂成形材料及びこれを用いて成形された電子部品 |
JPS62136861A (ja) * | 1985-12-10 | 1987-06-19 | Nitto Electric Ind Co Ltd | 樹脂封止半導体装置 |
JPS62192443A (ja) * | 1986-02-18 | 1987-08-24 | Matsushita Electric Works Ltd | 封止用エポキシ樹脂成形材料 |
-
1987
- 1987-10-09 JP JP62255329A patent/JP2572782B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (4)
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JP2572782B2 (ja) | 1997-01-16 |
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