JPH0196824A - 磁気記録媒体 - Google Patents
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- JPH0196824A JPH0196824A JP62253800A JP25380087A JPH0196824A JP H0196824 A JPH0196824 A JP H0196824A JP 62253800 A JP62253800 A JP 62253800A JP 25380087 A JP25380087 A JP 25380087A JP H0196824 A JPH0196824 A JP H0196824A
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- Manufacturing Of Magnetic Record Carriers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は磁気記録媒体に関し、特に磁性層の改良に関す
るものである。
るものである。
従来のγ−Fe2O3に代表される有機バインダー法(
特公昭44−14090号公報、特公昭45−1837
2号公報等)でディスク基板上に塗布した記録媒体は、
近年の高密度記録の要望に応じきれなくなってきており
、磁性材料として強磁性金属またはこれらの合金を用い
たメツキ法(特公昭57−6177号公報、特公昭57
−51173号公報等)や真空蒸着法(特公昭57−1
7292号公報)等が検討されている。
特公昭44−14090号公報、特公昭45−1837
2号公報等)でディスク基板上に塗布した記録媒体は、
近年の高密度記録の要望に応じきれなくなってきており
、磁性材料として強磁性金属またはこれらの合金を用い
たメツキ法(特公昭57−6177号公報、特公昭57
−51173号公報等)や真空蒸着法(特公昭57−1
7292号公報)等が検討されている。
第1図は、例えば特公昭56−43532号公報に示さ
れた従来の磁気記録媒体の構成を模式的に示すもので、
図において(1)はアルミニウム合金などからなるディ
スク基板、(2)はこのディスク基板(1)の表面に真
空蒸着法により形成された強磁性材料からなる磁性層、
(3)はこの磁性層(2)の表面を保護する保護層であ
る。
れた従来の磁気記録媒体の構成を模式的に示すもので、
図において(1)はアルミニウム合金などからなるディ
スク基板、(2)はこのディスク基板(1)の表面に真
空蒸着法により形成された強磁性材料からなる磁性層、
(3)はこの磁性層(2)の表面を保護する保護層であ
る。
上記のように構成された磁気記録媒体は、例えばコンピ
ュータの外部記憶装置としてのハードディスク装置など
に用いられるものであり、図示しないドライブ装置のス
ピンドルモータによって回転され、磁気ヘッドによって
情報の記録、再生、または消去が行なわれる。
ュータの外部記憶装置としてのハードディスク装置など
に用いられるものであり、図示しないドライブ装置のス
ピンドルモータによって回転され、磁気ヘッドによって
情報の記録、再生、または消去が行なわれる。
上記のように構成された従来の磁気記録媒体は、磁性層
(2)とディスク基板(1)との密着性が低いため記録
−再生時の磁気ヘッドとの機械的摩擦によって、磁性層
(2)が剥離したりするという問題点があった。
(2)とディスク基板(1)との密着性が低いため記録
−再生時の磁気ヘッドとの機械的摩擦によって、磁性層
(2)が剥離したりするという問題点があった。
この発明は上記のような問題点を解消するためになされ
たもので、磁気ヘッドの接触走行による記録−再生の繰
り返しによって磁性層が剥離したりすることのない磁気
記録媒体を得ることを目的とする。
たもので、磁気ヘッドの接触走行による記録−再生の繰
り返しによって磁性層が剥離したりすることのない磁気
記録媒体を得ることを目的とする。
この発明に係る磁気記録媒体は、磁性層をクラスターイ
オンビーム蒸着によって形成された蒸着薄膜によって構
成したものである。
オンビーム蒸着によって形成された蒸着薄膜によって構
成したものである。
また第2の発明に係る磁気記録媒体は、磁性層をクラス
ターイオンビーム蒸着によって形成された蒸着薄膜によ
って構成するとともに、表面保護層をイオンビーム蒸着
によって形成された蒸着薄膜によって構成したものであ
る。
ターイオンビーム蒸着によって形成された蒸着薄膜によ
って構成するとともに、表面保護層をイオンビーム蒸着
によって形成された蒸着薄膜によって構成したものであ
る。
この発明における磁気記録媒体は、磁性層を加速制御さ
れたクラスタイオンを含む薄膜形成によって形成したこ
とにより、ディスク基板など下地材との付着力を強くし
、長期の繰り返し記録−再生に耐えるようにする。
れたクラスタイオンを含む薄膜形成によって形成したこ
とにより、ディスク基板など下地材との付着力を強くし
、長期の繰り返し記録−再生に耐えるようにする。
以下、この発明の一実施例を図について説明する。第1
図において、(20〉はクラスタイオンビーム蒸着によ
って形成された磁性層であり、この磁性層(20)はク
ロム層(21)とコバルト・ニッケル合金などの強磁性
材料からなる薄膜層(22)を交互に積層したものであ
る。その他の符号は従来のものと同様である。
図において、(20〉はクラスタイオンビーム蒸着によ
って形成された磁性層であり、この磁性層(20)はク
ロム層(21)とコバルト・ニッケル合金などの強磁性
材料からなる薄膜層(22)を交互に積層したものであ
る。その他の符号は従来のものと同様である。
次に上記磁性J’l (20)を形成する方法について
具体的に説明する。
具体的に説明する。
第2図は上記磁性層(20)を形成するために用いるク
ラスタイオンビーム蒸着装置の要部を示す構成図である
。図において(5A) (5B)はクラスターイオンビ
ーム発生源であり、蒸気発生源(51A) (51B)
、イオン化手段(52^)(52B)、イオンビーム加
速電極(53^)(53B)などを備えている。(51
1^)(511B)はルツボ、(512八)(512B
)はノズル、(513^)は蒸着物質としてのコバルト
・ニッケル合金、(513B)は蒸着物質としてのクロ
ム、(514八)(514B>は加熱用フィラメント、
(515A) (515B)は熱シールド板、(521
^)(521B)は電子ビーム引出電極、(522八)
(522B)は電子ビーム放出フィラメント、(523
Δ)(523B)は熱シールド板である。 (6A)(
6B)はシャッター、矢印A、矢印Bはクラスタイオン
ビームの流れの方向をそれぞれ示す、そして上記クラス
ターイオンビーム発生源(5^)(5B)、シャッター
(6八)(6B)、及びディスク基板(1)は、図示し
ない所定の真空度に保持された真空槽内に納められてい
る。
ラスタイオンビーム蒸着装置の要部を示す構成図である
。図において(5A) (5B)はクラスターイオンビ
ーム発生源であり、蒸気発生源(51A) (51B)
、イオン化手段(52^)(52B)、イオンビーム加
速電極(53^)(53B)などを備えている。(51
1^)(511B)はルツボ、(512八)(512B
)はノズル、(513^)は蒸着物質としてのコバルト
・ニッケル合金、(513B)は蒸着物質としてのクロ
ム、(514八)(514B>は加熱用フィラメント、
(515A) (515B)は熱シールド板、(521
^)(521B)は電子ビーム引出電極、(522八)
(522B)は電子ビーム放出フィラメント、(523
Δ)(523B)は熱シールド板である。 (6A)(
6B)はシャッター、矢印A、矢印Bはクラスタイオン
ビームの流れの方向をそれぞれ示す、そして上記クラス
ターイオンビーム発生源(5^)(5B)、シャッター
(6八)(6B)、及びディスク基板(1)は、図示し
ない所定の真空度に保持された真空槽内に納められてい
る。
次に動作について説明する。
図示されない真空排気系によって真空槽内が1 、OX
10−’Torr以下の真空度になるまで排気した後
、ルツボ(511^)、(511B)内に充填されてい
る蒸着物質(513^)、(513B)の蒸気圧が数T
orrになる温度までルツボ加熱用フィラメント(51
4Δ)。
10−’Torr以下の真空度になるまで排気した後
、ルツボ(511^)、(511B)内に充填されてい
る蒸着物質(513^)、(513B)の蒸気圧が数T
orrになる温度までルツボ加熱用フィラメント(51
4Δ)。
(51413)で加熱すると蒸着物質であるクロム(5
13八)とコバルト・ニッケル合金(513B)はノズ
ル(512^)。
13八)とコバルト・ニッケル合金(513B)はノズ
ル(512^)。
(512B)から真空中に噴射する。この噴射するノズ
ル(512^)、(512B)を通過する際、断熱膨張
により加速冷却されて凝縮し、クラスターと呼ばれる塊
状原子集団が形成される。このクラスター及び蒸気は次
いで電子ビーム放出フィラメント(522A) 。
ル(512^)、(512B)を通過する際、断熱膨張
により加速冷却されて凝縮し、クラスターと呼ばれる塊
状原子集団が形成される。このクラスター及び蒸気は次
いで電子ビーム放出フィラメント(522A) 。
(522B)から放出され、電子ビーム引出電極(52
1^)。
1^)。
(521B)で加速された電子と衡突して一層イオン化
され、さらにイオンビーム加速電極(53A) 、 (
53B)で形成される電界による加速をうけて、イオン
化されていない中性の蒸気およびクラスターと共に矢印
Aまたは矢印Bの方向に移動し、ディスク基板(1)上
に蒸着される。このときそれぞれのイオンビーム加速型
′IEl(53^)、(53B)とディスク基板(1)
の間に設けられたシャッター(6八) 、(6B)を開
閉して第1図に示すようにクロムM (21)、コバル
ト・ニッケル層(22)、クロム層(21)・・・コバ
ルト・ニッケルN(22)、クロム層り21)と交互に
多層に蒸着して磁性層(20)を形成する。
され、さらにイオンビーム加速電極(53A) 、 (
53B)で形成される電界による加速をうけて、イオン
化されていない中性の蒸気およびクラスターと共に矢印
Aまたは矢印Bの方向に移動し、ディスク基板(1)上
に蒸着される。このときそれぞれのイオンビーム加速型
′IEl(53^)、(53B)とディスク基板(1)
の間に設けられたシャッター(6八) 、(6B)を開
閉して第1図に示すようにクロムM (21)、コバル
ト・ニッケル層(22)、クロム層(21)・・・コバ
ルト・ニッケルN(22)、クロム層り21)と交互に
多層に蒸着して磁性層(20)を形成する。
上記のようにして得られた磁気記録媒体は、磁性層(2
0)をクラスタイオンビーム蒸着による加速制御された
イオンを含む薄膜形成法によって形成したので、高速加
速イオンのディスク基板への衝突過程で、基板表面物質
のスパッタ作用、イオン注入作用などより、ディスク基
板と磁性層との付着強度が大きく耐摩耗性、耐ヘツドク
ラツシユ性に優れたものである。しかも従来の真空蒸着
法では、高蒸着速度では蒸着形成できながった磁性層が
低温プロセスで容易に形成でき、しがも品質が一定で安
価に製造できる。さらに上記実施例のものはクロム層(
21)と強磁性材料であるコバルト・ニッケル! (2
2)を交互に積み重ねて形成したので、抗磁力が大きく
、角形比が1に近い優れた磁気特性を示す。
0)をクラスタイオンビーム蒸着による加速制御された
イオンを含む薄膜形成法によって形成したので、高速加
速イオンのディスク基板への衝突過程で、基板表面物質
のスパッタ作用、イオン注入作用などより、ディスク基
板と磁性層との付着強度が大きく耐摩耗性、耐ヘツドク
ラツシユ性に優れたものである。しかも従来の真空蒸着
法では、高蒸着速度では蒸着形成できながった磁性層が
低温プロセスで容易に形成でき、しがも品質が一定で安
価に製造できる。さらに上記実施例のものはクロム層(
21)と強磁性材料であるコバルト・ニッケル! (2
2)を交互に積み重ねて形成したので、抗磁力が大きく
、角形比が1に近い優れた磁気特性を示す。
なお、上記磁性層(20)の材質は上記のものに限定さ
れるものでないことは勿論であり、また必ずしも異なる
ものを交互に積層する構造としなくてもよい。また磁性
層(20)はディスク基板(1)の両面に設けてもよい
。
れるものでないことは勿論であり、また必ずしも異なる
ものを交互に積層する構造としなくてもよい。また磁性
層(20)はディスク基板(1)の両面に設けてもよい
。
第3図はこの発明の別の発明に係る磁気記録媒体の一実
施例を示す断面構成図である。第3図において、(4)
は下地保護層、(30)は表面保護層であり、これら下
地保i[(4)及び表面保護層(30)はいずれもイオ
ンビーム蒸着によって形成されたものである。なお、(
20)は上記第1図に示すものと同様の磁性層で有る。
施例を示す断面構成図である。第3図において、(4)
は下地保護層、(30)は表面保護層であり、これら下
地保i[(4)及び表面保護層(30)はいずれもイオ
ンビーム蒸着によって形成されたものである。なお、(
20)は上記第1図に示すものと同様の磁性層で有る。
以下第4図を参照して上記下地保護層(4)及び表面保
護N1(30)の形成方法を説明する。
護N1(30)の形成方法を説明する。
即ち第4図は第3図に実施例の下地保護層(4)または
表面像N層(30)を形成するなめに用いるイオンビー
ム蒸着装置の要部を示す構成図である。
表面像N層(30)を形成するなめに用いるイオンビー
ム蒸着装置の要部を示す構成図である。
図において、(7)はガスイオンビーム源であり、この
ガスイオンビーム源(7)は、反応性ガスを導入するガ
ス噴射ノズル(71)と、この反応性ガスを励起、解離
およびイオン化するイオン化手段(7Z)と、このイオ
ン化手段(72)によってイオン化されたガスイオンを
基板(1)の、方向へ引出し加速するイオンビーム加速
電極(73)と、イオンビーム源(7)内部をそのまわ
りの空間より高いガス圧に保つ内部槽(74)などから
構成され、上記イオン化手段(72)は電子ビーム引出
電1(721)と電子ビーム放出フィラメント(722
)を有している。なお(5)はクラスターイオンビーム
源であり、第2図に示す(5^)または(5B)と同様
のものであ。なお、これらは図示しない所定の真空度に
保持された真空槽内に納められている。
ガスイオンビーム源(7)は、反応性ガスを導入するガ
ス噴射ノズル(71)と、この反応性ガスを励起、解離
およびイオン化するイオン化手段(7Z)と、このイオ
ン化手段(72)によってイオン化されたガスイオンを
基板(1)の、方向へ引出し加速するイオンビーム加速
電極(73)と、イオンビーム源(7)内部をそのまわ
りの空間より高いガス圧に保つ内部槽(74)などから
構成され、上記イオン化手段(72)は電子ビーム引出
電1(721)と電子ビーム放出フィラメント(722
)を有している。なお(5)はクラスターイオンビーム
源であり、第2図に示す(5^)または(5B)と同様
のものであ。なお、これらは図示しない所定の真空度に
保持された真空槽内に納められている。
以下、蒸着物質(513)としてチタンを用い、クラス
ターイオンビーム源(5)によりチタンを蒸着する一方
、ガスイオンビーム源(7)に反応性ガスとして窒素ガ
スを導入して、これらの化学反応によって窒化チタン薄
膜からなる保護層を形成する場合について述べる。
ターイオンビーム源(5)によりチタンを蒸着する一方
、ガスイオンビーム源(7)に反応性ガスとして窒素ガ
スを導入して、これらの化学反応によって窒化チタン薄
膜からなる保護層を形成する場合について述べる。
図示されていない真空排気系によって真空槽内が1 、
OX 10−’Torr以下の真空度になるまで排気し
た後、反応性ガスとして窒素ガスをガス噴射ノズル(7
1)より導入し、電子ビーム放出フィラメント(722
)からガス噴射ノズル(71)の下流に配設されている
電子ビーム引出電極(721)に電子を放出して、反応
性ガスを励起、解離およびイオン化して非常に活性化さ
れた状態とする。イオン化手段(72)とイオンビーム
加速電極(73)の間にバイアス電圧を印加して、イオ
ンを引き出しさらに加速して、励起および解離した反応
性ガスと共にディスク基板(1)に照射する一方、ルツ
ボ(511)に充填された蒸着物質であるチタン(51
3)を、蒸気発生源(51)内に設けられたフィラメン
ト(514)により加熱し、蒸気およびクラスターとし
て噴出させる。この蒸気およびクラスターはイオン化手
段(52)で一部イオン化されたのち、イオンビーム加
速電極(53)によって加速され、イオン化されていな
い中性の蒸気およびクラスターと共にディスク基板(1
)に運ばれ、ディスク基板く1)近傍に存在する励起、
解離およびイオン化した反応性ガスと化学反応を起こし
て、ディスク基板(1)上に窒化チタン薄膜からなる下
地保護膜(4)、または表面保護M (30)が形成さ
れる。なお、表面保護膜(30)は下地保護膜く4)の
上に上記第2図によって説明した方法と同様の手段によ
って磁性層<20)を形成した後に設けることは言うま
でもない。
OX 10−’Torr以下の真空度になるまで排気し
た後、反応性ガスとして窒素ガスをガス噴射ノズル(7
1)より導入し、電子ビーム放出フィラメント(722
)からガス噴射ノズル(71)の下流に配設されている
電子ビーム引出電極(721)に電子を放出して、反応
性ガスを励起、解離およびイオン化して非常に活性化さ
れた状態とする。イオン化手段(72)とイオンビーム
加速電極(73)の間にバイアス電圧を印加して、イオ
ンを引き出しさらに加速して、励起および解離した反応
性ガスと共にディスク基板(1)に照射する一方、ルツ
ボ(511)に充填された蒸着物質であるチタン(51
3)を、蒸気発生源(51)内に設けられたフィラメン
ト(514)により加熱し、蒸気およびクラスターとし
て噴出させる。この蒸気およびクラスターはイオン化手
段(52)で一部イオン化されたのち、イオンビーム加
速電極(53)によって加速され、イオン化されていな
い中性の蒸気およびクラスターと共にディスク基板(1
)に運ばれ、ディスク基板く1)近傍に存在する励起、
解離およびイオン化した反応性ガスと化学反応を起こし
て、ディスク基板(1)上に窒化チタン薄膜からなる下
地保護膜(4)、または表面保護M (30)が形成さ
れる。なお、表面保護膜(30)は下地保護膜く4)の
上に上記第2図によって説明した方法と同様の手段によ
って磁性層<20)を形成した後に設けることは言うま
でもない。
なお上記実施例では、反応性ガスとして窒素ガスを用い
、蒸着物質としてチタンを用いて窒化チタン薄膜を保護
膜として蒸着する場合について述べたが、これに限定さ
れるものではない。例えば、蒸着物質としてアルミニウ
ム、チタン、シリコンなど、及びアルミニウム、チタン
、シリコンなどの化合物の少なくとも1つを用い、反応
性ガスとして酸素、窒素、炭化水素系のガスもしくは酸
素元素、窒素元素、炭素元素を含むガスの少なくとも1
つを用いて、それらの組み合わせによって、例えば酸化
アルミニウム、窒化アルミニウム、酸化シリコン、窒化
シリコン、炭化シリコン、炭化チタンなどの薄膜を保護
膜として形成でき、ガスイオン源(7)に炭化水素系の
反応性ガスを導入してカーボンもしくはダイヤモンド薄
膜からなる保護膜を形成することができる。更に、第3
図のクラスタイオンビーム源(5)及びガスイオンビー
ム源(7)の一方もしくは両方を複数設け、蒸着物質ま
たは反応性ガスとして複数種のものを用いることにより
、例えば炭化シリコンと窒化シリコンの混晶系からなる
薄膜、窒化シリコンと窒化チタンの混晶系からなる薄膜
などを形成できるなど、さまざまな組み合わせが可能で
ある。また、下地保護膜(4)と表面保護膜(30)と
は種類の異なるものであってもよい。
、蒸着物質としてチタンを用いて窒化チタン薄膜を保護
膜として蒸着する場合について述べたが、これに限定さ
れるものではない。例えば、蒸着物質としてアルミニウ
ム、チタン、シリコンなど、及びアルミニウム、チタン
、シリコンなどの化合物の少なくとも1つを用い、反応
性ガスとして酸素、窒素、炭化水素系のガスもしくは酸
素元素、窒素元素、炭素元素を含むガスの少なくとも1
つを用いて、それらの組み合わせによって、例えば酸化
アルミニウム、窒化アルミニウム、酸化シリコン、窒化
シリコン、炭化シリコン、炭化チタンなどの薄膜を保護
膜として形成でき、ガスイオン源(7)に炭化水素系の
反応性ガスを導入してカーボンもしくはダイヤモンド薄
膜からなる保護膜を形成することができる。更に、第3
図のクラスタイオンビーム源(5)及びガスイオンビー
ム源(7)の一方もしくは両方を複数設け、蒸着物質ま
たは反応性ガスとして複数種のものを用いることにより
、例えば炭化シリコンと窒化シリコンの混晶系からなる
薄膜、窒化シリコンと窒化チタンの混晶系からなる薄膜
などを形成できるなど、さまざまな組み合わせが可能で
ある。また、下地保護膜(4)と表面保護膜(30)と
は種類の異なるものであってもよい。
上記のようにして得られた磁気記録媒体は、加速制御さ
れたイオンを含む薄膜形成法によるため高速加速イオン
のディスク基板への衝突過程で、基板表面物質のスパッ
タ作用、イオン注入作用などより、ディスク基板(1)
、下地保護層(4)、磁性層(20)、及び表面保護層
(30)の各層間の付着強度が大きく耐摩耗性、耐ヘツ
ドクラツシユ性に優れなものであり、例えば、磁気ヘッ
ドの接触走行テスト(7秒サイクルのコンタクト・スタ
ート・ストップ・テスト)に対し2万回以上に耐える優
れたものである。しかも、表面保護膜(30)として窒
化チタン、酸化アルミニウム、炭化シリコンなどの強い
硬度をもつものも容易に形成し得る。
れたイオンを含む薄膜形成法によるため高速加速イオン
のディスク基板への衝突過程で、基板表面物質のスパッ
タ作用、イオン注入作用などより、ディスク基板(1)
、下地保護層(4)、磁性層(20)、及び表面保護層
(30)の各層間の付着強度が大きく耐摩耗性、耐ヘツ
ドクラツシユ性に優れなものであり、例えば、磁気ヘッ
ドの接触走行テスト(7秒サイクルのコンタクト・スタ
ート・ストップ・テスト)に対し2万回以上に耐える優
れたものである。しかも、表面保護膜(30)として窒
化チタン、酸化アルミニウム、炭化シリコンなどの強い
硬度をもつものも容易に形成し得る。
ところで上記実施例のガスイオン源は電子ビーム励起型
のものであるが、これに限定されるものではなく例えば
マイクロ波を用いたガスイオン源や、ECR(電子サイ
クロトロン共鳴)を利用したガスイオン源などであって
もよい、さらに、上記下地保護層(4)は省いても差し
支えない。
のものであるが、これに限定されるものではなく例えば
マイクロ波を用いたガスイオン源や、ECR(電子サイ
クロトロン共鳴)を利用したガスイオン源などであって
もよい、さらに、上記下地保護層(4)は省いても差し
支えない。
以上説明した通り、この発明によればディスク基板に薄
膜状の磁性層と、この磁性層を保護する表面保護層とを
備えた磁気記録媒体において、上記磁性層をクラスタイ
オンビーム蒸着により形成したので、磁性層と基板との
密着性が良く、磁気ヘッドの接触走行に強いという効果
がある。
膜状の磁性層と、この磁性層を保護する表面保護層とを
備えた磁気記録媒体において、上記磁性層をクラスタイ
オンビーム蒸着により形成したので、磁性層と基板との
密着性が良く、磁気ヘッドの接触走行に強いという効果
がある。
また、第2の発明によれば、磁性層をクラスタイオンビ
ーム蒸着薄膜により構成するとともに、表面保護層をイ
オンビーム蒸着薄膜により構成したので、基板と磁性層
と表面保護層の各層間の密着性がよく、磁気ヘッドの接
触走行に強いものである他、表面保護層の硬度も高めら
れる効果がある。
ーム蒸着薄膜により構成するとともに、表面保護層をイ
オンビーム蒸着薄膜により構成したので、基板と磁性層
と表面保護層の各層間の密着性がよく、磁気ヘッドの接
触走行に強いものである他、表面保護層の硬度も高めら
れる効果がある。
第1図は本発明の一実施例による磁気記録媒体の構成を
模式的に示す図、第2図は上記実施例における磁性層を
形成するためのクラスタイオンビーム蒸着装置の一例を
示す要部構成図、第3図は本発明の別の発明の一実施例
による磁気記録媒体の構成を模式的に示す図、第4図は
第3図の実施例における保護層を形成するためのイオン
ビーム蒸着装置の一例を示す要部構成図、第5図は従来
の磁気記録媒体の構成を模式的に示す図である。 図において(1)はディスク基板、(4)は下地保護層
、(20)は磁性層、(30)は表面保護層である。 なお、図中、同一符号は同一もしくは相当部分を示す。 勇1図 洛3図 20゛頃・I・主層 30、冑(ピiイ矛↓1し層 も2図 氾4図
模式的に示す図、第2図は上記実施例における磁性層を
形成するためのクラスタイオンビーム蒸着装置の一例を
示す要部構成図、第3図は本発明の別の発明の一実施例
による磁気記録媒体の構成を模式的に示す図、第4図は
第3図の実施例における保護層を形成するためのイオン
ビーム蒸着装置の一例を示す要部構成図、第5図は従来
の磁気記録媒体の構成を模式的に示す図である。 図において(1)はディスク基板、(4)は下地保護層
、(20)は磁性層、(30)は表面保護層である。 なお、図中、同一符号は同一もしくは相当部分を示す。 勇1図 洛3図 20゛頃・I・主層 30、冑(ピiイ矛↓1し層 も2図 氾4図
Claims (4)
- (1)ディスク基板に薄膜状の磁性層と、この磁性層を
保護する表面保護層とを備えた磁気記録媒体において、
上記磁性層はクラスタイオンビーム蒸着により形成され
た蒸着薄膜からなることを特徴とする磁気記録媒体。 - (2)磁性層は、クロム薄膜と強磁性体薄膜をクラスタ
イオンビーム蒸着により交互に積層したものであること
を特徴とする特許請求の範囲第1項記載の磁気記録媒体
。 - (3)強磁性体薄膜はコバルト・ニッケル合金であるこ
とを特徴とする特許請求の範囲第2項記載の磁気記録媒
体。 - (4)ディスク基板に薄膜状の磁性層と、この磁性層を
保護する表面保護層とを備えた磁気記録媒体において、
上記磁性層はクラスタイオンビーム蒸着により形成され
た蒸着薄膜からなり、上記表面保護層はイオンビーム蒸
着により形成された蒸着薄膜からなることを特徴とする
磁気記録媒体。
Priority Applications (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62253800A JPH0196824A (ja) | 1987-10-09 | 1987-10-09 | 磁気記録媒体 |
KR1019880010501A KR920001981B1 (ko) | 1987-10-09 | 1988-08-18 | 자기기록매체 |
DE3889836T DE3889836T2 (de) | 1987-10-09 | 1988-09-28 | Magnetischer Aufzeichnungsträger. |
EP88116000A EP0310930B1 (en) | 1987-10-09 | 1988-09-28 | Magnetic recording medium |
CN88106996A CN1025254C (zh) | 1987-10-09 | 1988-10-03 | 磁记录介质 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62253800A JPH0196824A (ja) | 1987-10-09 | 1987-10-09 | 磁気記録媒体 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0196824A true JPH0196824A (ja) | 1989-04-14 |
Family
ID=17256329
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP62253800A Pending JPH0196824A (ja) | 1987-10-09 | 1987-10-09 | 磁気記録媒体 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0196824A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0310930A2 (en) * | 1987-10-09 | 1989-04-12 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Magnetic recording medium |
-
1987
- 1987-10-09 JP JP62253800A patent/JPH0196824A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0310930A2 (en) * | 1987-10-09 | 1989-04-12 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Magnetic recording medium |
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