JPH0196061A - セラミック回路基板の有機結合剤および製造方法 - Google Patents

セラミック回路基板の有機結合剤および製造方法

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JPH0196061A
JPH0196061A JP62255248A JP25524887A JPH0196061A JP H0196061 A JPH0196061 A JP H0196061A JP 62255248 A JP62255248 A JP 62255248A JP 25524887 A JP25524887 A JP 25524887A JP H0196061 A JPH0196061 A JP H0196061A
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JP
Japan
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circuit board
ceramic
ceramic circuit
organic binder
weight
Prior art date
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JP62255248A
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English (en)
Inventor
Kiyomi Kobayashi
清美 小林
Nobuaki Kawahara
伸章 川原
Makoto Okawa
誠 大川
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Denso Corp
Original Assignee
NipponDenso Co Ltd
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Publication date
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  • Compositions Of Oxide Ceramics (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、セラミック回路基板の製造時に用いられる有
機結合剤とセラミック回路基板の製造方法に関するもの
である。
〔従来の技術〕
従来、例えばセラミックグリーンシートを形成する場合
において使用されるセラミック粉末成形用の有機結合剤
(以下有機バインダと称す。)としては、結合力が強い
PVA(ポリビニルアルコール)、PVB (ポリビニ
ルブチラール)等が用いられていた。グリーンシートの
製造時においては、これらのバインダを5〜15−t%
添加しグリーンシート化するが、その焼成工程において
、上記有機バインダを除去する必要があり、そのため大
気中 (Ox雰囲気)で酸化による完全な有機バインダ
の除去を行っていた。
〔発明が解決しようとする問題点〕
しかし近年、回路基板材料に窒化アルミニウム(ArN
)等、非酸化物セラミックを用いたり、グリーンシート
上に銅・ニッケル等、低抵抗、低コストな導体材料で配
線を形成、多層化し、グリーンシートと導体を同時焼成
する多層回路基板がン主目されてきている。このような
セラミックや導体の酸化を防止する上で脱パインダニ程
は中性、還元性雰囲気で行う必要がある。ここで、従来
のPVA−PVBを有機バインダとして使用すると、こ
れら有機バインダは構成が複雑で脱パインダニ程におい
て、有機バインダの解重合が起こらず分解飛散性が悪い
ために、上記雰囲気では有機バインダの完全な除去がで
きず、カーボンがセラミック回路基板内に残ってしまっ
た。そのためにセラミックの焼結性・強度等、回路基板
の特性を著しく低下させるという問題が生じていた。
本発明は、上記の問題点を鑑みてなされたものであり、
中性・還元性雰囲気において熱分解性が良く、かつ焼結
後のカーボン残渣の少ない有機バインダおよびこの有機
バインダを用いたセラミック回路基板の製造方法を提供
するものである。
〔問題点を解決するための手段〕
そこで、本発明では、ポリメタクリル酸エステルよりな
るhaバインダを採用する。
さらに、セラミック粉末と、ポリメタクリル酸エステル
よりなるバインダとを少なくとも混合しセラミック原料
とする工程と、このセラミック原料を成形する工程と、
中性または還元性雰囲気にて有機バインダの除去および
セラミック成形体を焼成する工程とからなるセラミック
回路基板の製造方法を採用する。
〔作用〕
本発明であるセラミック回路基板の有機バインダおよび
セラミック回路基板の製造方法を採用することによって
、セラミック原料中に含まれる有機バインダであるポリ
メタクリル酸エステルが、中性・還元性雰囲気の脱パイ
ンダニ程において、解重合による熱分解反応が従来のバ
インダと比較してより低温側で起こる。そのため、揮発
性に優れた七ツマ−を生成し、グリーンシートからの有
機バインダの飛散性を著しく向上させる。
〔発明の効果] 本発明の有機バインダおよびセラミックの製造方法を採
用することによって、脱バインダおよび焼成工程を、中
性および還元性雰囲気で行っても有機バインダを除去す
ることができ、カーボン残渣の少ないセラミック回路基
板を得ることができた。
〔実施例〕
(第1実施例) 平均粒子径0.5μmに調整されたホウケイ酸ガラスと
アルミナ(AA、O,)よりなるセラミック粉末100
重量部に対して、有機バインダである平均分子11.0
X10’のポリメタクリル酸ノルマルブチル(以下PB
MA (n)と称す。)を20重量部、溶媒であるメチ
ルエチルケトン(MEK)40重量部とトルエン30重
量部、および可塑剤であるジブチルフタレート2重量部
を混合し、セラミック原料であるスラリーとする。その
後、このスラリー中の溶媒を蒸発させることにより、ス
ラリーの粘度を約10.000cpsに調整し、ドクタ
ーブレード法によってグリーンシートを成形する。そし
て成形されたグリーンシートに、スクリーン印刷機を用
いて、銅ペーストを印刷し導体パターンを形成した。
導体パターンの形成されたグリーンシートを窒素気流中
にて、昇温速度20°C/ Hrで600°Cまで加熱
することによって、有機バインダの除去を行った。さら
に窒素雰囲気中にて1000°C1時間の条件で、グリ
ーンシートの焼成を行った。
得られたセラミック回路基板は、銅の焼付状態が良好で
あり、かつカーボン残渣を従来の125分の1とするこ
とができた。
ここで、カーボン残渣量の測定は次のようにした。
まず、セラミック焼結体を酸素気流中で燃焼させ二酸化
炭素とし、赤外線検出器に導き、二酸化炭素の赤外線吸
収量から、カーボン残渣量を測定した。
上記測定方法により、第1実施例のセラミック回路基板
中のカーボン残渣量が約40ppmであり、従来の約5
000ppmと比較して125分の1のカーボン残渣量
であることがわかった。
(第2実施例) 平均粒子径0.8μmに調整されたホウケイ酸ガラスと
アルミナ(A 12 z O3)よりなるセラミック粉
末100重量部に対して、有機バインダであるPBMA
 (n)と、メタクリル酸イソブチル(以下P’BMA
 (i s o)と称す。)との共重合体(PBMA 
(n): PBMA (i s o)=50750、平
均分子1tlOX10’)を15重量部、溶媒であるト
ルエン30重量部、酢酸イソアミル15重量部とメチル
エチルケトン20重量部および可塑剤であるジブチルフ
タレート2重量部を混合し、セラミック原料であるスラ
リーとした。他は第1実施例と全く同様の方法により、
セラミック回路基板を得た。
第2実施例によって得られたセラミック焼結体もまた、
銅の焼付状態が良好であり、かつカーボン残渣を50p
pm以下とすることができた。
(第3実施例) 平均粒子径0.3μmに調整されたホウケイ酸ガラスと
アルミナ(A l t O3)よりなるセラミック粉末
100重量部に対して、有機バインダであるPBMA 
(i s o)(平均分子量5X10’)を20重量部
、溶媒であるメチルイソブチルケトン(MIBK)を3
0重量部とエタノールを20重量部、分散剤である5P
AN85を1重量部および可塑剤であるジブチルフタレ
ート5重量部を混合し、スラリーとした。他は第1実施
例と全く同様の方法により、セラミック回路基板を得た
第3実施例によって得られたセラミック焼結体もまた銅
の焼付状態が良好であり、カーボン残渣を50ppm以
下とすることができた。
(第4実施例) 平均粒子径0.8μmに調整されたホウケイ酸ガラスと
アルミナ(A 1 t O3)粉末よりなるセラミック
粉末100重量部に対して、有機バインダであるメタク
リル酸−2−メチルヘキシル30重量部(平均分子量5
X10’)、溶媒であるトルエン20重量部、メチルエ
チルケトン15重量部およびエタノール30重量部、分
散剤である5PAN85を1重量部部合し、スラリーと
した。他は第1実施例と全く同様の方法により、セラミ
ック回路基板を得た。
第4実施例によって得られたセラミック回路基板もまた
銅の焼付状態が良好であり、カーボン残渣を約50pp
m以下とすることができた。
(第5実施例) 平均粒子径0.8μmに調整されたホウケイ酸ガラスと
アルミナ(Aff□03)粉末よりなるセラミック粉末
100重量部に対して、有機バインダであるメタクリル
酸−2−エチルヘキシル(以下2−EHMAと称す)と
PBMA (i s o)との共重合体(2−EHMA
: PBMA (i s o)=50:50、平均分子
量 10XIO’)を30重四部、溶媒であるトルエン
20重量部、メチルエチルケトン15重量部およびエタ
ノール30重量部、可塑剤であるジブチルフタレート3
重量部を混合し、スラリーとした。他は第1実施例と全
く同様の方法により、セラミック回路基板を得た。
第5実施例によって得られたセラミック回路基板もまた
銅の焼付状態が良好であり、カーボン残渣が30ppm
以下とすることができた。
(第6実施例) 平均粒子径0.8μmに調整されたホウケイ酸ガラス粉
末とアルミナ(A l 203 )粉末よりなるセラミ
ック粉末100重量部に対して、有機バインダであるポ
リメタクリル酸−2−エチルプロピル(以下2−EPM
Aと称す)とポリメタクリル酸メチル(以下PMMAと
称す)との共重合体(2−EPMA : PMMA=7
5 : 25、平均分子量5X10’)を30重量部、
溶媒であるMIBKを30重量部とエタノールを20重
量部、可塑剤であるジブチルフタレート3重量部を混合
し、スラリーとした。他は第1実施例と全く同様の方法
によりセラミック回路基板を得た。
第6実施例によって得られたセラミック回路基板もまた
銅の焼付状態が良好であり、カーボン残渣を40ppm
以下とすることができた。
従来の有機バインダであるPVB、および本発明に採用
した有機バインダであるPBMA(n)。
PBMA (i s o)、2EHMAおよびPMMA
の、窒素雰囲気中の温度と重量減少率との関係を第1図
に示す。ここで、重量減少率は示差熱分析計を用いて測
定した。
第1図より、50%重LH7j2少時の温度をそれぞれ
の有機バインダで比較すると、PVBは約370°C,
PMMAは約390°C,PBMA (n)が約315
°C,PBMA (i s o)が約330’C。
2EHMAが約290°Cである。これにより、PBM
A (n)、PBMA (i s o)、2EHMAよ
りなる有機バインダがPVBに比べて窒素雰囲気中での
熱分解性に優れていることが分かる。
本発明に用いる有機バインダであるPBMA(n)の窒
素雰囲気中における重合および解重合反応は、窒素雰囲
気中において第1図に示す如(、従来より低温側で起こ
る。そして、揮発性の良好なモノマーであるn−ブチル
メタクリレートを生成することにより、グリーンシート
からの有機バインダの分解飛散性を著しく向上させ、カ
ーボン残渣を低減させた。
本発明に用いる有機バインダは、前記実施例に限られる
ものではなく、第2図(a)に示す構造を持つ熱分解性
の良好なポリメタクリル酸エステルを少なくとも含む有
機バインダであればよい。好ましくは、ポリメタクリル
酸n−ブチルおよび第2図(1))において、mが1ま
たは2、およびnが1乃至4よりなるエステルからなる
ポリメタクリル酸エステルを少なくとも含む有機バイン
ダであればよい。具体的には、ポリメタクリル酸のエス
テルが、ノルマルブチル、イソブチル(m=1.n=1
)、2−メチルブチル(m=1.n=2.m=2、n=
1)、2−エチルブチル(m=2.n=1)、2−メチ
ルペンチル(m=1.n=3)、2−エチルペンチル(
m=2.n=3)、2−メチルヘキシル(m=1.n=
4)、2−エチルヘキシル(m=2.n=4)を少なく
とも含めばよい。仮に、m≦nでかつmが3以上である
ポリメタクリル酸エステルは、ポリマーの合成が困難と
なってしまう。また、エステルとしてメチル、エチル、
プロピルが用いられた場合には、ポリメタクリル酸エス
テルの分解温度が高いために、焼結後のカーボン残渣が
多くなってしまう。さらにn≧5の時には、ポリメタク
リル酸エステルのガラス転位点Tgが一20°C以下で
あるため、成形用バインダとしては不適となってしまう
有機バインダであるポリメタクリル酸エステルの共重合
体は前記実施例に限られるものではなく、ポリメタクリ
ル酸メチルと、ポリメタクリル酸−2−エチルヘキシル
との共重合体、ポリメタクリル酸−2−メチルブチルと
ポリメタクリル酸−1−メチルヘキシルとの共重合体な
どでもよい。
本発明に用いるセラミック原料への有機バインダの添加
量はセラミック粉末の種類、粒子径によって依存され、
前記実施例に限るものではない。
例えば、適度なシート強度を持たせるために、セラミッ
ク粉末を100重量部とした場合に5〜50重量部の添
加量が良く、好ましくは10〜30重量部の添加量が良
い。有機バインダが5重量部より少ないと、成形体の強
度が小さく、割れ等が生じ易くなり、加工性が低下する
。また、50重量部より多いと、焼成時の収縮率が大き
く、寸法管理が困難となったり、脱バインダニ程時に、
割れ、膨れ等が生じ易く脱バインダ性が低下し、脱バイ
ンダに長時間を要してしまい、良好なセラミック回路基
板が得られない。
また、混合用溶媒としては前記実施例に限るものではな
く、例えばケトン系、トルエン系、アルコール系でも良
い。
前記実施例において、必要に応じて可塑剤、分散剤およ
び湿潤剤を微量添加しても良い。
前記実施例では、脱バインダおよび焼成工程を窒素雰囲
気中で行ったが、中性雰囲気である窒素中に水素を混合
したガスを用いた還元性雰囲気としても良い。この還元
性雰囲気では、脱バインダ性が損なわれず、銅が還元さ
れ焼付性を向上させることができる。
また、加湿された中性、還元性雰囲気とすることにより
、成形体中の炭素と水蒸気との水和反応により、脱バイ
ンダ性を向上させカーボン残渣を低減させることができ
る。
さらに、脱バインダおよび焼成工程において、窒素雰囲
気中に酸素を数十〜数百pp+i程度、銅が酸化しない
程度に添加することにより、有機バインダの酸化による
有機バインダの除去が可能となり、脱バインダ性が向上
する。
本発明で得られたセラミック回路基板をセラミック多層
回路基板に適用した例を第3図を用いて説明する。
ここで、1は6枚積層されている絶縁層セラミック、2
は銅ペーストで形成された表面導体、3は銅ペーストで
形成された内部導体、4はスルーホール、5は多層基板
に取付けられた抵抗体、6はコンデンサ、7はSiチッ
プである。
第3図に示すように、絶縁層セラミック1と表面導体2
、内部導体3とがそれぞれスルーホール4によって三次
元的構造を成している。
このセラミック多層基板は、本発明によって得られるグ
リーンシートに層間導体用のスルーホール4を形成した
後、スルーホール4内と図示しない導体パターンを銅ペ
ーストを用いて充填、印刷し、これを数層から数十層積
層した。その後、中性または還元性雰囲気で脱バインダ
、および焼成を行った。
以上のようにして、基板特性の良好な銅導体多層基板を
製造することができた。
【図面の簡単な説明】
第1図は、各バインダにおける温度と重量減少率との関
係を示す特性図、第2図は有機バインダの重合、解重合
を示す模式図、第3図は本発明の製造方法を採用した多
層基板の断面構造図である。 1・・・絶縁層セラミック、2・・・表面導体、3・・
・内部s体、4・・・スルーホール。 代理人弁理士  岡 部    隆 追 Ji  (”C) 第1図 CmH2m+ 1 R=  CH−CH−CnH2n+1 (b)

Claims (7)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)ポリメタクリル酸エステルよりなることを特徴と
    するセラミック回路基板の有機結合剤。
  2. (2)前記ポリメタクリル酸エステルのエステルは、少
    なくともイソブチル、ノルマルブチル、2−メチルブチ
    ル、2−エチルブチル、2−メチルペンチル、2−エチ
    ルペンチル、2−メチルヘキシル、2−エチルヘキシル
    のいずれかよりなる重合体または、いずれか一種以上を
    含むメタクリル酸エステルの共重合体であることを特徴
    とする特許請求の範囲第1項記載のセラミック回路基板
    の有機結合剤。
  3. (3)セラミック粉末と、ポリメタクリル酸エステルよ
    りなる有機結合剤とを少なくとも混合しセラミック原料
    とする工程と、 前記セラミック原料を成形する工程と、 中性または還元性雰囲気にて前記セラミック原料の前記
    有機結合剤の除去および前記セラミック原料の焼成する
    工程とを含むことを特徴とするセラミック回路基板の製
    造方法。
  4. (4)前記ポリメタクリル酸エステルのエステルは、少
    なくともイソブチル、ノルマルブチル、2−メチルブチ
    ル、2−エチルブチル、2−メチルペンチル、2−エチ
    ルペンチル、2−メチルヘキシル、2−エチルヘキシル
    のいずれかよりなる重合体または、いずれか一種以上を
    含むメタクリル酸エステルの共重合体であることを特徴
    とする特許請求の範囲第3項記載のセラミック回路基板
    の製造方法。
  5. (5)前記ポリメタクリル酸エステルは、前記セラミッ
    ク粉末を100重量部としたとき、5ないし30重量部
    とすることを特徴とする特許請求の範囲第3項乃至第4
    項のいずれかに記載のセラミック回路基板の製造方法。
  6. (6)前記中性および還元性雰囲気を加湿することを特
    徴とする特許請求の範囲第3項乃至第5項のいずれかに
    記載のセラミック回路基板の製造方法。
  7. (7)中性および還元性雰囲気に酸素を微量添加するこ
    とを特徴とする特許請求の範囲第3項乃至第6項のいず
    れかに記載のセラミック回路基板の製造方法。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0656511A (ja) * 1992-08-11 1994-03-01 Nippon Shokubai Co Ltd 無機質焼結体製造用バインダー
JP2013227204A (ja) * 2012-03-26 2013-11-07 Hitachi Metals Ltd セラミックス回路基板の製造方法及びセラミックス回路基板

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