JPH0191545A - 自己診断回路 - Google Patents
自己診断回路Info
- Publication number
- JPH0191545A JPH0191545A JP62248163A JP24816387A JPH0191545A JP H0191545 A JPH0191545 A JP H0191545A JP 62248163 A JP62248163 A JP 62248163A JP 24816387 A JP24816387 A JP 24816387A JP H0191545 A JPH0191545 A JP H0191545A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- circuit
- bit
- data
- serial data
- output
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims abstract description 6
- 238000004092 self-diagnosis Methods 0.000 claims description 9
- 238000001514 detection method Methods 0.000 abstract description 3
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 8
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Maintenance And Management Of Digital Transmission (AREA)
- Detection And Prevention Of Errors In Transmission (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明はディジタル通信方式に関し、特に被測定回路
の誤シを検出する自己診断回路に関する。
の誤シを検出する自己診断回路に関する。
従来、この種の自己診断回路はパリティ演算方式により
監視するものとなっていた。
監視するものとなっていた。
上述した従来の自己診断回路は１ビツトの情報で誤シ検
出しているので、被測定回路の障害の種類によっては誤
シ検出が不可能になるという欠点がある。
出しているので、被測定回路の障害の種類によっては誤
シ検出が不可能になるという欠点がある。
この発明に係る自己診断回路は、入力部演算回路および
出力部演算回路がそれぞれシリアルデータをｔビットの
パラレルデータに変換するシリアルパラレル変換回路と
、シリアルデータのｔビット周期でパラレルデータをサ
ンプルするｔビットサンプル回路と、このｔビットサン
プル回路の出力をｔビットの数字とみなしｎ回加算する
加算回路と、前記シリアルデータのｔＸｎビット毎に加
算回路の出力を保持する保持回路とを有している。
出力部演算回路がそれぞれシリアルデータをｔビットの
パラレルデータに変換するシリアルパラレル変換回路と
、シリアルデータのｔビット周期でパラレルデータをサ
ンプルするｔビットサンプル回路と、このｔビットサン
プル回路の出力をｔビットの数字とみなしｎ回加算する
加算回路と、前記シリアルデータのｔＸｎビット毎に加
算回路の出力を保持する保持回路とを有している。
この発明は被測定回路の検出能力を高めることができる
。
。
第１図はこの発明に係る自己診断回路の一実施例を示す
ブロック図である。同図において、１は被測定回路、２
および３はそれぞれその詳細なブロック図を第２図に示
す入力部演算回路および出力部演算回路、４はこの入力
部演算回路の出力と出力部演算回路の出力とを比較し誤
シを検出する比較回路である。
ブロック図である。同図において、１は被測定回路、２
および３はそれぞれその詳細なブロック図を第２図に示
す入力部演算回路および出力部演算回路、４はこの入力
部演算回路の出力と出力部演算回路の出力とを比較し誤
シを検出する比較回路である。
なお、第２図に示す入力部演算回路２および出力部演算
回路３において、５はシリアルデータをパラレルデータ
に変換するシリアルパラレル変換回路、６はこのパラレ
ルデータをシリアルデータのｔビット周期でサンプルし
てｔビットのデータを出力するｔビットサンプル回路、
Ｔはこのｔビットサンプル回路６から出力するｔビット
のデータをｎ回加算する加算回路、８はシリアルデータ
のｔｘ！１ビット毎に加算回路７の演算結果を保持する
保持回路である。
回路３において、５はシリアルデータをパラレルデータ
に変換するシリアルパラレル変換回路、６はこのパラレ
ルデータをシリアルデータのｔビット周期でサンプルし
てｔビットのデータを出力するｔビットサンプル回路、
Ｔはこのｔビットサンプル回路６から出力するｔビット
のデータをｎ回加算する加算回路、８はシリアルデータ
のｔｘ！１ビット毎に加算回路７の演算結果を保持する
保持回路である。
次に、上記構成による自己診断回路の動作について説明
する。まず、被測定回路１に入力するシリアルデータは
入力部演算回路２に入力する。−方、この被測定回路１
から出力するシリアルデータは出力部演算回路３に入力
する。し次がって、この入力部演算回路２および出力部
演算回路３では、そのシリアルパラレル変換回路５は入
力するシリアルデータをパラレルデータに変換したのち
、ｔビットサンプル回路６によシリアルデータのｔビッ
ト周期でパラレルデータをサンプルする。
する。まず、被測定回路１に入力するシリアルデータは
入力部演算回路２に入力する。−方、この被測定回路１
から出力するシリアルデータは出力部演算回路３に入力
する。し次がって、この入力部演算回路２および出力部
演算回路３では、そのシリアルパラレル変換回路５は入
力するシリアルデータをパラレルデータに変換したのち
、ｔビットサンプル回路６によシリアルデータのｔビッ
ト周期でパラレルデータをサンプルする。
そして、加算回路Ｔはこのサンプルされたデータをｔビ
ットの数字とみなしてｎ回加算したのち保持回路８によ
シそのシリアルデータのｔＸｎビット毎に加算回路７の
演算結果を保持する。したがって、比較回路４は前記入
力部演算回路２の保持回路８に保持された演算結果と出
力部演算回路３の保持回路８に保持された演算結果とを
比較することによシ被測定回路の障害を検出することが
できる。
ットの数字とみなしてｎ回加算したのち保持回路８によ
シそのシリアルデータのｔＸｎビット毎に加算回路７の
演算結果を保持する。したがって、比較回路４は前記入
力部演算回路２の保持回路８に保持された演算結果と出
力部演算回路３の保持回路８に保持された演算結果とを
比較することによシ被測定回路の障害を検出することが
できる。
以上詳細に説明したように、この発明に係る自己診断回
路によれば、回路規模を増加させることなく、検出能力
を高めることができる効果がある。
路によれば、回路規模を増加させることなく、検出能力
を高めることができる効果がある。
第１図はこの発明に係る自己診断回路の一実施例を示す
ブロック図、第２図は第１図の入力部演算回路および出
力部演算回路の詳細なブロック図である。 １・・・・被測定回路、２・・・・入力部演算・・・・
ｔビットサンプル回路、７・・・−加算回路、８拳・・
争保持回路。
ブロック図、第２図は第１図の入力部演算回路および出
力部演算回路の詳細なブロック図である。 １・・・・被測定回路、２・・・・入力部演算・・・・
ｔビットサンプル回路、７・・・−加算回路、８拳・・
争保持回路。
Claims (1)
- 被測定回路の入力部に接続された入力部演算回路と、前
記被測定回路の出力部に接続された出力部演算回路と、
この入力部演算回路の出力とこの出力部演算回路の出力
とを比較する比較回路とを備えた自己診断回路において
、前記入力部演算回路および前記出力部演算回路はそれ
ぞれシリアルデータをｌビットのパラレルデータに変換
するシリアルパラレル変換回路と、シリアルデータのｌ
ビット周期でパラレルデータをサンプルするｌビットサ
ンプル回路と、このｌビットサンプル回路の出力をｌビ
ットの数字とみなしｎ回加算する加算回路と、前記シリ
アルデータのｌ×ｎビット毎に加算回路の出力を保持す
る保持回路とを備えたことを特徴とする自己診断回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62248163A JPH0191545A (ja) | 1987-10-02 | 1987-10-02 | 自己診断回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62248163A JPH0191545A (ja) | 1987-10-02 | 1987-10-02 | 自己診断回路 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0191545A true JPH0191545A (ja) | 1989-04-11 |
Family
ID=17174153
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62248163A Pending JPH0191545A (ja) | 1987-10-02 | 1987-10-02 | 自己診断回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0191545A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH06209307A (ja) * | 1992-09-18 | 1994-07-26 | American Teleph & Telegr Co <Att> | 伝送パスの完全性検査方法とその装置 |
-
1987
- 1987-10-02 JP JP62248163A patent/JPH0191545A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH06209307A (ja) * | 1992-09-18 | 1994-07-26 | American Teleph & Telegr Co <Att> | 伝送パスの完全性検査方法とその装置 |
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