JPH0160764B2 - - Google Patents

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JPH0160764B2
JPH0160764B2 JP4598283A JP4598283A JPH0160764B2 JP H0160764 B2 JPH0160764 B2 JP H0160764B2 JP 4598283 A JP4598283 A JP 4598283A JP 4598283 A JP4598283 A JP 4598283A JP H0160764 B2 JPH0160764 B2 JP H0160764B2
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JP
Japan
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pair
axis
television
coordinate detection
dimensional coordinate
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JP4598283A
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JPS59171806A (ja
Inventor
Kazuo Maruyama
Nobuyuki Suzuki
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TOKYO KOGYO DAIGAKUCHO
Original Assignee
TOKYO KOGYO DAIGAKUCHO
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Publication date
Application filed by TOKYO KOGYO DAIGAKUCHO filed Critical TOKYO KOGYO DAIGAKUCHO
Priority to JP4598283A priority Critical patent/JPS59171806A/ja
Publication of JPS59171806A publication Critical patent/JPS59171806A/ja
Publication of JPH0160764B2 publication Critical patent/JPH0160764B2/ja
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/002Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring two or more coordinates

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
技術分野 本発明は、被検物、特に微小な物体の形状およ
び寸法を表わす三次元座標検出装置に関し、特
に、極めて微小な物体や変形し易い物体に対し、
非接触にて測定点検出用フイーラの先端形状等に
基づく補正を要せずに、安定確実かつ高精度に三
次元座標検出を行ない得るようにしたものであ
る。 従来技術 最近、各産業における精密加工技術や自動化に
よる大量生産技術の進歩に伴い、大量かつ高い加
工精度の製造技術が要求されている。しかして、
高い加工精度の基礎となる測長技術は、被検物が
立体的なものであるから三次元的に測定を行なわ
なければ正確さ、省力化、迅速化等の要求を満た
し得ない。したがつて、最近は、三次元測定機が
測長技術の主役として大きくクローズアツプされ
て来ている。 この種三次元測定機は、測定点検出器、すなわ
ち、いわゆるフイーラがX軸、Y軸、Z軸よりな
る三次元空間における任意の方向に移動して測定
点の三次元座標を読取り得るようにした三次元座
標検出装置であり、 (1) X,Y,Z座標位置を直読し得る。 (2) 熟練を要せず、操作が簡単である。 (3) 測定値をデイジタル表示、デイジタル処理し
得、個人誤差が生じない。 (4) 任意の空間位置を座標原点に設定し得る。 等の幾多の利点を有するものである。 しかして、この種三次元座標検出装置は、X,
Y,Zの3軸よりなる直角座標系を採用している
ものが圧倒的に多く、また、被検物を載置するテ
ーブルを移動式にしたものよりテーブル固定式に
し、しかも、第1図に示すようなブリツジ型にし
たものが最も広く使用されている。 図示のテーブル固定式ブリツジ型三次元座標検
出装置においては、基台30上に被検物載置用テ
ーブル31を固定するとともに、基台30の両側
端部に固定した支柱32を接続してY軸方向に移
動可能にしたフレーム33を設け、そのフレーム
33上をX軸方向に移動可能にしてキヤリツジ3
4により、Z軸方向に移動可能にして支持軸35
を保持し、その支持軸35の下端に設けたフイー
ラ・マウント36に被検物上の測定点を検出する
ための測定点検出子すなわちフイーラを取付ける
ように構成してある。したがつて、フイーラFl
は、テーブル31の被検物載置面に対し、平行の
X,Y軸方向および垂直のZ軸方向に任意に移動
して、所望の測定点を検出し得る。 一方、量産品製造技術における製品の品質に対
する要求および生産の合理化の必要性に応じて新
たに数値制御加工技術の開発が促進されるに伴
い、この製造技術によつて確実な成果を得るため
に、製品検査の迅速性と正確性とが特に強調され
ている。しかしながら、製品検査における測定誤
差は製造公差の端数の範囲しか許されないので、
集積回路等の製品の微細化により製造公差がミク
ロンオーダである場合には三次元座標検出装置に
対しても、単に機械的精度の向上によつて達成し
得る最高の機械的精密度の他に、座標検出装置の
設計に関する構想の段階において、物理的合法則
性の利用について新なな考慮をなすことが重要で
ある。 しかして、第1図に示したような構成のこの種
三次元座標検出装置においては、従来、被検物の
測定点検出用にフイーラマウント36に取付ける
フイーラすなわち検出子としては、先端に微細な
球体を回転可能に装着した接触型フイーラが用い
られて来た。かかる接触型フイーラにより被検物
の被測定点を順次に検出して三次元曲面の輪郭を
測定しようとすると、フイーラの先端に装着した
回転球の形状、寸法の測定値に及ぼす影響を補正
して測定誤差の発生を防止しなければならず、し
たがつて、精密な測定を正確に行なうことが困難
であつた。また、フイーラの先端により被検物に
機械的に接触して測定を行なうと、ゴム製品等の
軟かくて変形し易い被検物や集積回路等の極めて
微細な構造を有する被検物、あるいは、塑性加工
の対象物等の形状・寸法の測定は一層困難であ
る、という欠点があつた。したがつて、この種三
次元座標検出装置については、従来、その性能を
飛躍的に向上させる新たな構想として非接触型フ
イーラの開発が要望されていた。 発明の要点 本発明の目的は、上述した従来の欠点を除去す
るとともに従来の要望を達成し、被検物測定点検
出用フイーラを非接触型に構成し、フイーラ先端
の形状・寸法等に対する補正を要せずに、X,
Y,Z3軸による三次元座標の同時検出を確実容
易に行ない、高精度の測定を迅速に行ない得るよ
うにした非接触型三次元座標検出装置を提供する
ことにある。 すなわち、本発明非接触型三次元座標検出装置
は、Z軸に対して対称に傾斜させた一対の顕微鏡
による被検物測定点の像を一対のテレビジヨンカ
メラにより撮像し、それら一対のテレビジヨンカ
メラによる撮像出力画像のモニタ画面上における
一致により、イメージスプリツト式照準器と同様
の動作原理により光学的に非接触にて被検物測定
点の三次元座標を検出し得るようにしたものであ
り、被検物を載置するテーブルと、そのテーブル
の載置面に平行のx軸方向およびy軸方向にそれ
ぞれ移動可能に設けたフレームと、前記載置面に
垂直のz軸方向に移動可能にして前記フレームに
取付けた支持軸と、z軸に対し互いに対称にx軸
方向またはy軸方向に互いに離隔して前記支持軸
に取付けるとともにz軸に対し互いに等しい角度
をなして傾斜した光軸をそれぞれ有する一対の顕
微鏡と、それら一対の顕微鏡にそれぞれ結合した
一対のテレビジヨンカメラと、それら一対のテレ
ビジヨンカメラの撮像出力画像を合成する画像合
成装置と、その画像合成装置の合成出力画像を表
示するテレビジヨンモニタと、前記一対のテレビ
ジヨンカメラの各撮像面および前記テレビジヨン
モニタの表示面の走査を同期制御する制御回路と
を備え、前記被検物の所定個所の前記一対のテレ
ビジヨンカメラによる各撮像出力画像の前記テレ
ビジヨンモニタの表示面上における前記フレーム
および前記支持軸のそれぞれの移動に応じた互い
の一致により前記被検物の前記所定個所のx軸、
y軸およびz軸に対する三次元座標を非接触にて
検出し得るように構成したことを特徴とするもの
である。 実施例 以下に図面を参照して実施例につき本発明を詳
細に説明する。 本発明非接触型三次元座標検出装置は、前述し
たように、その動作原理として、例えばZ−X平
面内にてZ軸に対し対称に傾斜した一対の顕微鏡
による被検物像のモニタ画面上における一致によ
り被検物測定点の三次元座標を検出するのである
から、モニタ画面上における被検物像のX軸方向
の動きは三次元座標検出装置におけるX軸方向の
動きとともにZ軸方向の動きにも依存する。そこ
で、本発明装置における測定精度に関する基礎デ
ータを得るために、まず、第2図に示すように、
前述した第1図示のテーブル固定式ブリツジ型三
次元座標検出装置における支持軸35に相当する
支持軸11に単一の顕微鏡1を取付けてその光軸
を被検物載置用テーブル12の載置面に垂直のZ
軸方向に保持し、その顕微鏡1に光学的に結合さ
せた超小型のテレビジヨンカメラ3による被検物
13の撮像出力画像をテレビジヨンモニタ9の画
面上に表示し、その表示面に予め描いた基準線1
0に被検物13の像、例えば、被検物13の上面
に形成した格子縞における格子点の像を一致させ
たときのX,Y,Z3軸の座標を測定したときに
おける繰返し精度を求めた。 すなわち、被検物として幅50μmの格子縞を焼
付けた平板を用い、支持軸11を保持したフレー
ムを移動させて格子点を表示面上の基準線10に
一致させたときのX座標を読取る操作を多数回反
復して行ない、X座標の読みについて標準偏差を
求めた。その結果を、顕微鏡1の倍率を50倍とし
て50回の読取りを反復したときについて第3図に
示す。図は、順次の2μm幅の範囲に入るX座標値
の読取り度数の百分率を示したものであり、その
標準偏差σは2.08μmであつた。 上述のようにしてZ軸方向の光軸を有する顕微
鏡により読取つたX座標値の標準偏差σを、顕微
鏡の倍率を変えて求めた結果顕微鏡倍率と標準偏
差値との関係を第4図に示す。図から明らかなよ
うに、顕微鏡倍率を35倍から100倍までの範囲で
変化させた限りにおいては、X座標読取り値の標
準偏差は顕微鏡倍率の変化に対して有意の変化を
示さず、ほぼ2.0μmであつた。 また、第5図に示すように、被検物上面に形成
した格子縞のX軸方向の幅にほぼ等しい間隔にて
モニタ画面上にY軸方向の基準線を2本設け、そ
れら2本の基準線の間に格子縞像を挾むようにし
てX座標の読取りを行なつた場合には、顕微鏡倍
率を50倍としたときに、X座標読取り値の同様の
標準偏差が、第4図に方形の測定点口によつて示
すように、0.8μmとなり、X座標読取り精度が格
段に向上した。 しかして、従来のこの種座標検出装置における
接触型フイーラによる座標読取りの標準偏差は通
例1〜2μm程度であるから、顕微鏡、テレビジヨ
ンカメラおよびテレビジヨンモニタの組合わせか
らなる本発明の非接触型フイーラによれば、現実
験段階においても、少なくとも従来と同程度の座
標読取り精度が得られることが明らかとなつた。 つぎに、上述のような単一の非接触型フイーラ
によるX,Y座標読取り精度の確認のもとに、Z
座標の読取りをも非接触型にて可能にした本発明
非接触型三次元座標検出装置の原理的構成および
座標読取り動作の態様について説明する。 しかして、本発明座標検出装置は、前述したよ
うに、Z軸に対して対称に傾斜した一対の顕微鏡
により、イメージスプリツト式照準器と同様の動
作原理により光学的に三次元座標を読取るのであ
るから、上述したようにZ軸方向に光軸を有する
顕微鏡を用いたときのX座標読取りの標準偏差に
基づいて本発明装置におけるX座標読取りの標試
偏差を得るには、上述した標準偏差に若干の修正
を施す必要がある。 いま、顕微鏡の光軸を被検物載置面に垂直のZ
軸に対して角度αだけ傾斜させることにより、第
6図aに示すように、相対的に、Z軸に平行にし
た顕微鏡の光軸に対し、被検物載置面をX軸方向
に角度αだけ傾斜させて、図示のX′軸方向に設
置し、その載置面上の被検物を図示のZ′軸方向か
ら垂直に見た場合における顕微鏡の実効的な倍率
は、第6図bに示す前述したようなZ軸方向から
垂直に載置面上の被検物を見た場合における顕微
鏡倍率のcosα倍になる。したがつて、載置面に
平行のX軸方向あるいはX′軸方向の前述のよう
に確認した標準偏差をσ0とすると、第6図aに示
した斜視の場合におけるX軸方向の標準偏差は
σ0/cosαとなり、単一の顕微鏡によつても、被
検物載置面を斜視することにより、標準偏差を低
減させ得るが、モニタ画面上における被検物のX
軸方向の動きは、顕微鏡のX軸方向の相対的動き
とともにZ軸方向の相対的動きにも依存するの
で、X座標値の検出に時間を要することになる。 以上のような基礎的検討に基づく本発明非接触
型三次元座標検出装置の動作原理を第7図a〜d
を参照して説明する。 本発明非接触型三次元座標検出装置において
は、第1図に示したのと同様の構成においてX,
Y,Z3軸方向に移動可能にしたZ軸方向の支持
軸11に対して、第7図aに示すように、Z軸か
ら対称にX軸の正負両方向に角度αだけ傾斜させ
て1対の顕微鏡1,2を取付け、それら1対の顕
微鏡1,2に1対の超小型に構成したテレビジヨ
ンカメラ3,4をそれぞれ結合させ、固定したテ
ーブル12の載置面上の被検物13における所望
の測定点を中心とする拡大被検物像を撮像し、さ
らに拡大した被検物撮像出力信号をテレビジヨン
モニタ9の画面に互いに重畳して同時に表示す
る。しかして、説明の便宜上、1対のテレビジヨ
ンカメラ3,4の各撮像出力信号を個別にそれぞ
れ供給して個別にそれぞれ表示するように図示し
た1対のテレビジヨンモニタ9−1,9−2の表
示面には、Z軸上に生ずる双方の顕微鏡1,2の
光軸相互間の交点に位置した測定点像が表示され
る位置を中心交点とした十字形の基準線10−
1,10−2を、第7図bに示すように、予め描
いてある。したがつて、1対のテレビジヨンカメ
ラ3,4による被検物測定点像の撮像出力画像、
例えば被検物表面の格子縞における格子点像が、
第7図cに示すように、それぞれの基準線10−
1,10−2の中心交点に一致して、双方の顕微
鏡1,2相互間の対称傾斜に基づく視差をなくし
た状態になるように支持軸11を移動させれば、
十分に拡大した被検物測定点線をモニタ画面上に
て目視しながら、非接触にて、支持軸11の位置
が示す座標値として、被検物測定点の三次元座標
X0,Y0,Z0を高精度かつ容易に検出することが
できる。 しかして、第7図aに示した本発明装置の概略
構成における1対の顕微鏡1,2は、Z−X平面
内においてZ軸に対し対称に角度αだけ傾斜して
いるので、前述したように、モニタ画面上におけ
る被検物像のX軸方向の動きは、第1図示の三次
元座標検出装置におけるX軸方向の動きとともに
Z軸方向の動きにも依存する。したがつて、双方
の被検物測定点像をモニタ画面上にて精度よく一
致させるには、X軸方向の位置調整とZ軸方向の
位置調整とを交互に反復して行なう必要があり、
一致点の検出に時間がかかることが予想される。
そこで、1対のテレビジヨンカメラ3,4の撮像
出力信号を現実に1対のテレビジヨンモニタ9−
1,9−2にそれぞれ供給し、第7図c,dに示
すように、それら1対のモニタ画面上の被検物測
定点像を片方ずつそれぞれの基準線10−1,1
0−2にそれぞれ一致させたときの各三次元座標
値X1,Y1,Z1、X2,Y1,Z1をそれぞれ検出し、
つぎの計算式(1)〜(3)により所要の三次元測定点座
標を求めるようにすれば、比較的迅速に所望の三
次元座標検出を行なうこができる。 X0=1/2・(X1+X2) (1) Y0=Y1 (2) Z0=Z1−1/2tanα・(X2−X1) (3) なお、第6図につき前述したように、Z軸に対
して角度αだけ傾斜させた顕微鏡によるX座標読
取りの標準偏差は、顕微鏡をZ軸方向に設置した
ときのX座標読取りの標準偏差σ0に対してσ0
cosαとなるが、この斜視時の標準偏差は、上述
の式(1)、(3)における座標値X1,X2の標準偏差に
相当する。しかして、座標値X1,X2の分布は互
いに独立であるから、三次元座標値X0,Y0,Z0
の各標準偏差σX0,σY0,σZ0は、上述の式(1)〜
(3)からそれぞれつぎのようにして計算することが
できる。 σX2 0=(1/2)2・{(σ0/cosα)2+(σ0/cosα
2} =(σ0/√2cosα)2 (4) σY2 0=σ2 0 (5) σZ2 0=(1/2tanα)2・{(σ0/cosα)2 +(σ0/cosα)2}=(σ0/√2sinα)2 (6) つぎに、上述のような動作原理に基づいて非接
触にて三次元座標検出を行なう本発明装置の原理
的構成の例を第8図に示す。 図示の原理的構成においては、第1図示の三次
元座標検出装置におけるZ軸方向の支持軸11に
第7図aに示したとおりに1対の顕微鏡付きテレ
ビジヨンカメラ1,3および2,4を装着し、双
方の顕微鏡撮像出力画像信号を一対のカメラ制御
器5および6をそれぞれ介して二重像合成装置8
に供給し、フレーム周期もしくはライン周期等に
て交互に切換え、あるいは、非加算混合するなど
して、双方の被検物像が相互に重畳した二重像信
号を形成し、その二重像信号を単一のテレビジヨ
ンモニタ9に供給して双方の被検物測定点像が単
一の十字形基準線10の中心交点に一致するよう
に支持軸11を三次元座標系内にて移動させる。
なお、かかる二重像表示を円滑に行なうために、
同期信号発生装置7から適切な走査方式による水
平・垂直両同期信号をカメラ制御装置5,6およ
びテレビジヨンモニタ9に供給して、撮像画面お
よび表示面を同期制御する。 なお、第7図aに示した原理的構成においては
顕微鏡1,2とテレビジヨンカメラ3,4との光
軸をそれぞれ一直線上にて一致させてあるが、第
1図示のような構成の三次元座標検出装置におけ
る支持軸35の下端に設けたフイーラマウント3
6に、第7図aに示したようにX軸方向に張り出
した顕微テレビジヨンカメラを装着したのでは、
支持軸35のX軸方向の移動に支障が生ずる。 したがつて、第9図に示す本発明装置の一部の
具体的構成においては、1対のテレビジヨンカメ
ラ3,4を、各光軸をZ軸方向にして支持軸11
に近接して平行に配置し、例えばプリズムの適切
な組合わせ等により光軸を所要の角度に屈折させ
るように構成した1対の屈折光学手段17,18
をそれぞれ介して、所要の斜視角αをもつてZ軸
に対し傾斜させた1対の顕微鏡1,2にそれぞれ
結合させ、かかる構成の顕微撮像手段をアーム1
5,16を介して支持軸11の下端部に設けたフ
イーラ・マウント14に装着することにより、本
発明による非接触フイーラをコンパクトに構成し
てある。 なお、上述のように1対の斜視顕微撮像手段か
らの各被検物像を同一モニタ画面上に重畳表示し
たときに生ずる二重像は、第10図a〜dに、か
かる二重像中の各成分画像の基準線10−1,1
0−2に対する位置関係と、三次元座標点Or
被検物測定点Tgとの相対位置関係とを、種々の
三次元座標について、それぞれ対比して示すよう
に、被検物の相対位置によつて複雑に変化する。
しかしながら、第7図について前述したように、
かかる二重像を分解した各成分画像を各基準線1
0−1,10−2に一致させるようにして得られ
る三次元座標の各標準偏差σX0,σY0,σZ0と顕
微鏡1,2のZ軸に対する傾斜角αとの関係は、
第11図に示すようになり、傾斜角α=45゜とし
たときに各座標の標準偏差σX0,σY0,σZ0がす
べて同一偏差値σ0となり、最高の三次元座標検出
精度が得られた。 上述のように構成して動作する本発明非接触型
三次元座標検出装置による座標検出精度を検討す
るために試作装置について行なつた測定実験にお
ける実験条件および実験結果を第1表に示すとと
もに、実験結果の標準偏差をプロツトして第12
図に示す。
【表】 これらの実験結果から判るように、本発明装置
による非接触三次元座標検出値の標準偏差は、第
2図乃至第5図について前述したように、Z軸方
向の光軸を有する単一の顕微撮像手段によるX,
Y座標検出値の標準偏差とほぼ同様に、ほぼ2μm
となり、しかも、実験番号1〜4についてはZ座
標検出値の標準偏差がX,Y座標検出値の標準偏
差より大きくなつているが、一方の被検物像の極
性を反転させて同一モニタ画面上に重畳表示した
実験番号5については、Z座標とX,Y座標との
検出値の標準偏差の大小関係が逆転しており、本
発明装置による三次元座標検出精度の格段の向上
の可能性を示唆している。 したがつて、上述の実験結果では本発明による
三次元座標検出値の標準偏差は0.9〜3.4μmに留ま
るが、今後の一層の改善を期待し得る。 つぎに、本発明装置を用いて非接触にて三次元
座標検出を行なう測定系の概略構成配置の例を第
13図に示す。図示の構成配置においては、上述
のようにして非接触三次元座標検出を行なう本発
明装置20の顕微撮像出力画像をコントローラ5
〜8を介してモニタ9の画面に表示するととも
に、検出結果のX,Y,Z各座標値を座標表示部
21にデイジタル表示し、さらに、そのデイジタ
ル測定値をコンピユータ22により処理し、その
処理結果をプロツタ23によりグラフ表示する。 効 果 以上の説明から明らかなように、本発明によれ
ば、1対の斜視顕微鏡と1対の超小型テレビジヨ
ンカメラとによる被検物像を同一モニタ画面に重
畳表示することにより、非接触にて被検物の三次
元座標を確実容易に検出することができ、しか
も、従来の接触型フイーラに比して少なくとも同
等の検出精度を得ることができる。 したがつて、本発明装置によれば、従来の接触
型フイーラによつては測定不可能であつた微小物
体、例えば集積回路や、変形し易い物体、例えば
ゴム製品、あるいは、三次元物体上の格子線等に
ついて三次元座標検出を容易に、しかも、良好な
精度をもつて行なうことができ、さらに、従来の
接触型フイーラによる場合のような測定値の補正
も全く必要としない、という顕著な効果が得ら
れ、測定用プログラムの開発を著しく簡単化する
ことができるので、プレス加工技術や集積回路製
造技術に貢献すること甚だ大である。
【図面の簡単な説明】
第1図は三次元座標検出装置の概略構成の例を
示す斜視図、第2図は本発明による非接触式三次
元座標検出の予備実験装置の構成を模式的に示す
構成配置図、第3図および第4図は同じくその予
備実験の結果の例をそれぞれ示すグラフ、第5図
は同じくその予備実験装置の構成の一部の他の例
を示す線図、第6図a,bは同じくその予備実験
の原理をそれぞれ示す線図、第7図a〜dは本発
明による非接触式三次元座標検出の動作原理を順
次に示す線図、第8図は本発明非接触型三次元座
標検出装置の原理的構成を示すブロツク線図、第
9図は同じくその具体的構成の一部の例を示す正
面図、第10図a〜dは同じくその動作の態様の
例を順次に模式的に示す線図、第11図は同じく
その動作の態様の例を示す特性曲線図、第12図
は同じくその動作の態様の例を示すグラフ、第1
3図は本発明装置を用いた三次元座標測定系の概
略構成の例を示すブロツク線図。 30…基台、31…テーブル、32…支柱、3
3…フレーム、34…キヤリツジ、35…支持
軸、36…フイーラマウント、1,2…顕微鏡、
3,4…テレビジヨンカメラ、5,6…カメラ制
御器、7…同期信号発生装置、8…二重像合成装
置、9,9−1,9−2…テレビジヨンモニタ、
10,10−1,10−2…基準線、11…支持
軸、12…テーブル、13…被検物、14…フイ
ーラマウント、15,16…アーム、17,18
…屈折光学手段(プリズム)、20…非接触型三
次元座標検出装置、21…座標表示部、22…コ
ンピユータ、23…プロツタ、24…フートスイ
ツチ、Or…座標原点、Tg…測定点。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 被検物を載置するテーブルと、そのテーブル
    の載置面に平行のx軸方向およびy軸方向にそれ
    ぞれ移動可能に設けたフレームと、前記載置面に
    垂直のz軸方向に移動可能にして前記フレームに
    取付けた支持軸と、z軸に対し互いに対称にx軸
    方向またはy軸方向に互いに離隔して前記支持軸
    に取付けるとともにz軸に対し互いに等しい角度
    をなして傾斜した光軸をそれぞれ有する一対の顕
    微鏡と、それら一対の顕微鏡にそれぞれ結合した
    一対のテレビジヨンカメラと、それら一対のテレ
    ビジヨンカメラの撮像出力画像を合成する画像合
    成装置と、その画像合成装置の合成出力画像を表
    示するテレビジヨンモニタと、前記一対のテレビ
    ジヨンカメラの各撮像面および前記テレビジヨン
    モニタの表示面の走査を同期制御する制御回路と
    を備え、前記被検物の所定個所の前記一対のテレ
    ビジヨンカメラによる各撮像出力画像の前記テレ
    ビジヨンモニタの表示面上における前記フレーム
    および前記支持軸のそれぞれの移動に応じた互い
    の一致により前記被検物の前記所定個所のx軸、
    y軸およびz軸に対する三次元座標を非接触にて
    検出し得るように構成したことを特徴とする非接
    触型三次元座標検出装置。 2 前記テレビジヨンカメラをz軸に平行にして
    前記支持軸に取付けるとともに、z軸に対し前記
    互いに等しい角度をなして光軸を傾斜させた前記
    顕微鏡を屈折光学手段を介して前記テレビジヨン
    カメラに結合させたことを特徴とする特許請求の
    範囲第1項記載の非接触型三次元座標検出装置。 3 前記一対のテレビジヨンカメラの撮像出力画
    像信号の極性を互いに反転させて前記撮像出力画
    像の一致を検出するように構成したことを特徴と
    する特許請求の範囲第1項または第2項記載の非
    接触型三次元座標検出装置。
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