JPH05172524A - 光学式計測装置 - Google Patents

光学式計測装置

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JPH05172524A
JPH05172524A JP3338190A JP33819091A JPH05172524A JP H05172524 A JPH05172524 A JP H05172524A JP 3338190 A JP3338190 A JP 3338190A JP 33819091 A JP33819091 A JP 33819091A JP H05172524 A JPH05172524 A JP H05172524A
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JP
Japan
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measurement
workpiece
dimensional
image sensor
measured
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JP3338190A
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Inventor
Takuya Wakayama
卓也 若山
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Amada Wasino Co Ltd
Original Assignee
Amada Wasino Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 工作物を工作機械に取り付けた状態にて当該
工作物の各部の寸法を作業性よく精密測定すること。 【構成】 工作物の如き測定対象物を低倍率にて撮像す
る2次元イメージセンサ23と測定対象物を高倍率にて
撮像する1次元ラインセンサ25とを各々設け、2次元
イメージセンサ23により撮像された測定対象物の画像
と1次元ラインセンサ25による測定位置指示カーソル
Cをテレビモニタ25に画面表示するようにし、1次元
ラインセンサ25により撮像された測定対象物と測定位
置指示カーソルCの相対的位置関係に基づいて測定対象
物の測長を行う。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、光学式計測装置に係
り、特に研削加工物等の寸法を工作機械上にて精密測定
する光学式計測装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】研削加工物等の寸法測定には、厚さ、
幅、深さ、段差、溝深さ、ピッチ、角度、円弧円径
(R)等がある。研削加工物等の厚さ、幅、深さ等の測
定は、その要求測定精度がさほど高くない場合には、マ
イクロメータ、デプスマイクロメータ、ダイアルゲージ
等により工作機械上にて行われるが、要求測定精度が2
〜3μm程度である場合には、測定対象物を工作機械よ
り取り外して投影器や工具顕微鏡等を用いて行われてい
る。また研削加工物等の段差、溝深さ、ピッチ、角度、
円弧円径等の計測は測定対象物を工作機械より取り外し
て投影器や工具顕微鏡等を用いて行われている。
【0003】また研削加工物等の工作物の寸法測定を行
う計測装置として、研削加工物等の測定対象物を工作機
械に対する装着状態にて2次元のCCDカメラにより撮
像し、これをテレビモニタにより画面表示し、テレビモ
ニタ上に表示される測定位置指示カーソルとCCDカメ
ラにより撮像された測定対象物との相対的位置関係に基
づいて測定対象物の寸法測定を行うよう構成された光学
式の計測装置が提案されている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】高精度測定のために投
影器や工具顕微鏡等を用いる寸法測定に於いては、測定
のために測定対象物を工作機械より取り外し、追い研削
等の追加加工が必要な場合は、測定対象物を再度、工作
機械に取り付けると云う作業が必要であり、特に平面研
削盤に於いては、測定対象物の取り付け、取り外しの作
業以外に、測定対象物、即ち工作物の再装着のために工
作物取付面を清掃する必要が生じ、作業効率が低下す
る。また工作機械に対する工作物の再装着時には、追い
研削等のための工作物と砥石等との位置合わせが難し
く、通常1〜2μm程度の取付位置誤差が発生すること
は避けられない。
【0005】CCDカメラを用いた光学式の計測装置に
於いては、工作物を工作機械より取り外すことなく、工
作物を工作機械に取り付けた状態にて当該工作物の各部
の寸法を精密測定することが可能であり、工作機械の連
続自動運転を可能にするが、しかしこれに於いては、測
定精度を高めるためには、CCDカメラによる工作物、
即ち測定対象物の撮像倍率を高める必要があり、この測
定対象物の撮像倍率が高いと、測定対象物の極く一部分
しかテレビモニタに映し出されず、このため測定者は測
定対象物のどの部分を測定しているか把握し難くなり、
測定作業性が低下する。
【0006】例えば、1μmの測定精度を保証するため
には、CCDカメラの撮像分解能は保証測定精度の1/
5〜1/10に相当する0.2〜0.1μm程度必要と
なり、撮像分解能を0.1μmとすべく撮像倍率を10
0倍とした場合、40万画素の通常のCCDを用いても
テレビモニタに映し出される測定対象物の領域は0.1
mm平方程度にしかならない。
【0007】このためCCDカメラによる光学式の計測
装置に於いては、測定作業性の確保のために、ズームレ
ンズ等を用いて撮像倍率を変化できるように構成するこ
とが要求されるが、これは、計測装置を大掛かりで、高
価のものにし、この計測装置を各工作機械に専用計測装
置として組み付けることを、スペース的観点、経済的観
点から実用性に欠けるものする。
【0008】本発明は、従来の計測装置に於ける上述の
如き問題点に着目してなされたものであり、工作物を工
作機械より取り外すことなく、工作物を工作機械に取り
付けた状態にて当該工作物の各部の寸法を作業性よく精
密測定することができ、工作機械の連続自動運転を可能
とし、しかし装置全体が大掛かりなものになることがな
く、経済性にも優れた光学式計測装置を提供することを
目的としている。
【0009】
【課題を解決するための手段】上述の如き目的は、本発
明によれば、測定対象物を所定の倍率にて撮像する2次
元イメージセンサと、測定対象物を前記2次元イメージ
センサの撮像倍率より高い倍率にて撮像する1次元ライ
ンセンサと、前記2次元イメージセンサにより撮像され
た測定対象物の画像と前記1次元ラインセンサによる測
定位置指示カーソルを画面表示する画面表示手段と、前
記1次元ラインセンサにより撮像された測定対象物と前
記測定位置指示カーソルとの相対的位置関係に基づいて
測定対象物の測長を行う測長処理手段とを有することを
特徴とする光学式計測装置によって達成される。
【0010】
【作用】上述の如き構成によれば、画面表示手段には2
次元イメージセンサにより撮像された測定対象物の画像
が映し出され、測定対象物の測長は、2次元イメージセ
ンサによる測定対象物の撮像とは別に、1次元ラインセ
ンサにより高倍率にて撮像された測定対象物と前記測定
位置指示カーソルとの相対的位置関係に基づいて行われ
る。
【0011】
【実施例】以下に添付の図を参照して本発明を実施例に
ついて詳細に説明する。
【0012】図5は本発明による光学式計測装置を装備
された好適なNC平面研削盤の一例を示している。図5
に示されているNC平面研削盤は横軸型のNC平面研削
盤であり、このNC平面研削盤は、本体フレーム1に上
下方向(鉛直方向)および前後水平方向、即ちY座標軸
方向およびX座標軸方向とに移動可能に設けられた砥石
台3と、本体フレーム1に左右水平方向、即ちZ座標軸
方向に移動可能に設けられたワークテーブル5とを有し
ている。
【0013】砥石台3はワークテーブル5の上方にてX
座標軸方向に水平に延在する回転軸7を支持しており、
回転軸7には砥石車9が取り付けられている。
【0014】ワークテーブル5上にはマグネット等によ
る平面的なワークチャック11が設けられており、ワー
クチャック11は工作物Wを磁気吸着等により密着保持
するようになっている。
【0015】砥石台3のY座標軸方向およびX座標軸方
向の移動、回転軸7の回転、ワークテーブル5のZ座標
軸方向の移動は、NC装置13によりNCプログラムに
従って行われるようになっている。
【0016】本体フレーム1には撮像装置15が取り付
けられている。撮像装置15はワークテーブル5のZ座
標軸方向の一側方よりワークチャック11に保持された
工作物Wを撮像するよう所定の撮像位置と研削加工の邪
魔にならない退避位置との間に移動可能になっている。
【0017】図1に示されている如く、撮像装置15
は、対物レンズ17と、リレーレンズ19と、ハーフミ
ラー21と、2次元イメージセンサ23と、1次元ライ
ンセンサ25とを有し、対物レンズ17とリレーレンズ
19により結像された光像をハーフミラー21により2
次元イメージセンサ23と1次元ラインセンサ25とに
入射するように構成されている。
【0018】2次元イメージセンサ23は、ホトダイオ
ード、CCD等による撮像素子を面状に2次元配置され
たエリアセンサであり、ワークチャック11上の工作物
Wを数倍程度の比較的低い所定の倍率にて、たとえば2
〜10mm平方程度のエリアを撮像するようになってい
る。
【0019】1次元ラインセンサ25は、図2に示され
ている如く、ホトダイオード、CCD等による撮像素子
27を上下および水平方向に十文字配置されたリニアイ
メージセンサであり、撮像素子27の上下および水平方
向の配列個数、換言すれば画素数を、例えば2048画
素に設定され、ワークチャック11上の工作物Wを撮像
するようになっている。1次元ラインセンサ25は、撮
像倍率を2次元イメージセンサ23の撮像倍率より高い
倍率、例えば50〜100倍程度に設定され、2次元イ
メージセンサ23により撮像エリア内に於ける工作物W
の一部を拡大撮像するようになっている。
【0020】2次元イメージセンサ23が出力する工作
物Wの撮像信号と1次元ラインセンサが出力する工作物
Wの撮像信号はデータ処理装置29に入力されるように
なっている。データ処理装置29は、画像処理部31と
測長処理部33とを有している。
【0021】画像処理部31は、2次元イメージセンサ
23が出力する工作物Wの撮像信号を入力データとして
画面表示のための所定の画像処理を行い、2次元イメー
ジセンサ23が出力する工作物Wの撮像信号による工作
物Wの画像We をCRT等によるテレビモニタ35に画
面表示し、同時に1次元イメージセンサ25による測定
位置をポイント指示する測定位置指示カーソルCをテレ
ビモニタ35に画面表示するよう構成されている。
【0022】測定位置指示カーソルCは、テレビモニタ
35による画面表示に於いて、マンマシンフンタフェー
スにより1次元イメージセンサ25の撮像素子27の十
文字配置内にて上下左右に移動可能になっている。
【0023】測長処理部31は、所定の撮像位置にて1
次元ラインセンサ25により撮像された工作物Wと測定
位置指示カーソルCとの相対的位置関係に基づいて、測
定位置指示カーソルCの移動量より、更には1次元イメ
ージセンサ25により撮像される工作物Wの撮像データ
より、平面研削盤の軸移動機能による1次元イメージセ
ンサ25の撮像位置に対するワークチャック11上の工
作物Wの相対移動量を検出し、この相対移動量と測定位
置指示カーソルCの移動量の合計より工作物Wの各部の
寸法測定を行うように構成されている。
【0024】測長処理部31が出力する工作物Wの各部
の測定データはオンラインによりNC装置13に入力さ
れるようになっている。NC装置13は、測定データを
NC加工プログラムに対するフィードバックデータとし
て入力し、これに基づき追加工指令を平面研削盤に出力
するようになっている。
【0025】次に図3を用いて上述の如き構成よりなる
光学式計測装置の使用要領の一例について説明する。N
C装置13のNC加工プログラムによる研削加工が完了
した時点で、撮像装置15を所定の撮像位置に引き出
し、NC加工プログラムと同様にワークチャック11上
の工作物Wをトレースし、撮像装置15によりワークテ
ーブル5のZ座標軸方向の一側方より工作物Wをワーク
チャック11に保持された状態のまま撮像する。尚、こ
の撮像時には、所定のコントラストが得られるべく、適
当な照明装置により工作物Wの照明が行われてよい。
【0026】この撮像により、図3(a)に示されてい
る如く、テレビモニタ35には、2次元イメージセンサ
23が出力する工作物Wの撮像信号による工作物Wの画
像We と1次元イメージセンサ25による測定位置をポ
イント指示する測定位置指示カーソルCとが互いに重合
して画面表示される。
【0027】この状態にてオペレータはテレビモニタ3
5に於ける測定位置指示カーソルCをテレビモニタ35
に於ける工作物Wの画像We の寸法測定開始点aに位置
させる。
【0028】測定位置指示カーソルCを寸法測定開始点
aに位置合わせすることが完了すると、測長処理部31
はこの時点に於ける測定位置指示カーソルCの1次元イ
メージセンサ25に対する位置を読み取る。
【0029】次にオペレータは平面研削盤の軸移動機能
を使用して撮像装置15の撮像位置とワークチャック1
1上の工作物Wとを水平方向(X座標軸方向)へ相対移
動させ、またテレビモニタ35に於ける測定位置指示カ
ーソルCの移動により、図3(b)に示されている如
く、テレビモニタ35に於ける測定位置指示カーソルC
をテレビモニタ35に於ける工作物Wの画像We の寸法
測定終了点bに位置させる。
【0030】測定位置指示カーソルCを寸法測定終了点
bに位置合わせすることが完了すると、測長処理部31
はこの時点に於ける測定位置指示カーソルCの1次元イ
メージセンサ25に対する位置を読み取る。
【0031】測長処理部31は、撮像装置15の撮像位
置に対するワークチャック11上の工作物Wの相対移動
量、換言すれば、1次元イメージセンサ25の撮像位置
に対するワークチャック11上の工作物Wの相対移動量
と、寸法測定開始点aおよび寸法測定終了点bの各々に
於ける測定位置指示カーソルCの1次元イメージセンサ
25に対する位置の読み取り値より、工作物Wのa点と
b点との間の水平方向寸法を測定することになる。
【0032】引き続きワークチャック11上にて工作物
Wのb点とc点との間の水平方向寸法を測定する場合
は、オペレータは平面研削盤の軸移動機能を使用して撮
像装置15の撮像位置とワークチャック11上の工作物
Wとを水平方向(X座標軸方向)へ相対移動させ、また
テレビモニタ35に於ける測定位置指示カーソルCの移
動により、図3(c)に示されている如く、テレビモニ
タ35に於ける測定位置指示カーソルCをテレビモニタ
35に於ける工作物Wの画像We の次の寸法測定終了点
cに位置させる。
【0033】測定位置指示カーソルCを寸法測定終了点
cに位置合わせすることが完了すると、測長処理部31
はこの時点に於ける測定位置指示カーソルCの1次元イ
メージセンサ25に対する位置を読み取る。
【0034】測長処理部31は、1次元イメージセンサ
25の撮像位置に対するワークチャック11上の工作物
Wの相対移動量と、b点およびc点の各々に於ける測定
位置指示カーソルCの1次元イメージセンサ25に対す
る位置の読み取り値より、工作物Wのb点とc点との間
の水平方向寸法を測定することになる。
【0035】またワークチャック11上にて工作物Wの
c点とd点との間の垂直方向寸法をする場合は、オペレ
ータは平面研削盤の軸移動機能を使用して撮像装置15
の撮像位置とワークチャック11上の工作物Wとを上下
方向(Y座標軸方向)に相対移動させ、またテレビモニ
タ35に於ける測定位置指示カーソルCの移動により、
図3(d)に示されている如く、テレビモニタ35に於
ける測定位置指示カーソルCをテレビモニタ35に於け
る工作物Wの画像We の次の寸法測定終了点dに位置さ
せる。
【0036】測定位置指示カーソルCを寸法測定終了点
dに位置合わせすることが完了すると、測長処理部31
はこの時点に於ける測定位置指示カーソルCの1次元イ
メージセンサ25に対する位置を読み取る。
【0037】測長処理部31は、同様に、1次元イメー
ジセンサ25の撮像位置に対するワークチャック11上
の工作物Wの相対移動量と、c点およびd点の各々に於
ける測定位置指示カーソルCの1次元イメージセンサ2
5に対する位置の読み取り値より、工作物Wのc点とd
点との間の垂直方向寸法を測定することになる。
【0038】尚、何れの測定に於いても、測定間隔が、
1次元イメージセンサ25による撮像範囲内であれば、
測定位置指示カーソルCの移動のみにより測定すること
ができる。
【0039】測長処理部31による工作物Wの各部の測
定データはNC装置13へ出力され、これに基づいて追
研削が行われることにより、研削加工誤差の修正が自動
的に行われ得るようになる。
【0040】上述の如き光学式計測装置は、工作物Wの
各部の寸法測定以外に、工作物Wに対する砥石車9の位
置決めにも使用することができる。この位置決めに際し
ては、図4に示されている如く、撮像装置15によりワ
ークチャック11上の工作物Wを撮像して、これの画像
e をテレビモニタ35に画面表示させると共に、砥石
車7を手動操作によりY座標軸方向、X座標軸方向へ移
動させて砥石車7をワークチャック11上の工作物Wに
近付け、撮像装置15により砥石車7を撮像し、これの
画像Ge をテレビモニタ35に画面表示させる。この状
態にて測定位置指示カーソルCにより工作物Wと砥石車
7との微細間隙が測定される。これにより工作物Wを砥
石車7に一旦当てることなく、砥石車7の初期位置が設
定されるようになる。
【0041】尚、上述の実施例に於いては、加工後に工
作物の測定を行うポストプロセス方式の計測について説
明したが、本発明による光学式計測装置は、撮像装置に
焦点距離を工作物の撮像部位に関して自動追尾させる自
動焦点調整機構を組み込む等して加工中に工作物の測定
を行うインプロセス方式の計測にも適用できる。
【0042】また測定対象は、直線距離の測長に留まら
ず、上下方向と測定値と水平方向の測定値との組合せに
より円弧部分の半径の測定も可能である。
【0043】以上に於ては、本発明を特定の実施例につ
いて詳細に説明したが、本発明は、これに限定されるも
のではなく、本発明の範囲内にて種々の実施例が可能で
あることは当業者にとって明らかであろう。
【0044】
【発明の効果】以上の説明から理解される如く、本発明
による光学式計測装置によれば、テレビモニタの如き画
面表示手段には2次元イメージセンサにより撮像された
測定対象物の画像が比較的広範囲に映し出され、測定対
象物の測長は、2次元イメージセンサによる測定対象物
の撮像とは別に、1次元ラインセンサにより高倍率にて
撮像された測定対象物と測定位置指示カーソルとの相対
的位置関係に基づいて高精度に行われるから、工作物の
寸法測定に於いては測定対象の工作物を工作機械より取
り外すことなく、工作物を工作機械に取り付けた状態に
て当該工作物の各部の寸法を精密測定できることは勿論
のこと、ズームレンズ等の高価な撮像倍率可変機構を必
要とすることなく、精密測定が作業性よく行われるよう
になり、同時に小型化設計が可能になる。このことから
光学式計測装置を各工作機械に専用計測装置として組み
付けることの実用性が、スペース観点、経済的観点の何
れからも向上するようになる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明による光学式計測装置の一実施例を示す
ブロック線図である。
【図2】本発明による光学式計測装置に用いられる1次
元ラインセンサの撮像素子の配置状態を示す正面図であ
る。
【図3】本発明による光学式計測装置の使用要領の一例
を説明するためのテレビモニタの画面表示図である。
【図4】本発明による光学式計測装置を用いた砥石車の
位置決め時に於けるテレビモニタの画面表示図である。
【図5】図5は本発明による光学式計測装置を装備され
て好適なNC平面研削盤の一例を示している。
【符号の説明】
1 本体フレーム 3 砥石台 5 ワークテーブル 9 砥石車 11 ワークチャック 13 NC装置 15 撮像装置 23 2次元イメージセンサ 25 1次元ラインセンサ 27 撮像素子 29 データ処理装置 31 画像処理部 33 測長処理部 35 テレビモニタ

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 測定対象物を所定の倍率にて撮像する2
    次元イメージセンサと、測定対象物を前記2次元イメー
    ジセンサの撮像倍率より高い倍率にて撮像する1次元ラ
    インセンサと、前記2次元イメージセンサにより撮像さ
    れた測定対象物の画像と前記1次元ラインセンサによる
    測定位置指示カーソルを画面表示する画面表示手段と、
    前記1次元ラインセンサにより撮像された測定対象物と
    前記測定位置指示カーソルとの相対的位置関係に基づい
    て測定対象物の測長を行う測長処理手段とを有すること
    を特徴とする光学式計測装置。
JP3338190A 1991-12-20 1991-12-20 光学式計測装置 Pending JPH05172524A (ja)

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2017003389A (ja) * 2015-06-09 2017-01-05 東芝機械株式会社 刃位置測定方法および刃位置測定装置
JP2019040499A (ja) * 2017-08-28 2019-03-14 ファナック株式会社 工作機械および軸移動制御方法
CN114924405A (zh) * 2022-05-05 2022-08-19 大连藏龙光电子科技有限公司 一种应用于ccd显微镜贴装产品的设备校准方法

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