JPH0140939B2 - - Google Patents
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- JPH0140939B2 JPH0140939B2 JP56132005A JP13200581A JPH0140939B2 JP H0140939 B2 JPH0140939 B2 JP H0140939B2 JP 56132005 A JP56132005 A JP 56132005A JP 13200581 A JP13200581 A JP 13200581A JP H0140939 B2 JPH0140939 B2 JP H0140939B2
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- temperature
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01K—MEASURING TEMPERATURE; MEASURING QUANTITY OF HEAT; THERMALLY-SENSITIVE ELEMENTS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01K7/00—Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements
- G01K7/36—Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements using magnetic elements, e.g. magnets, coils
- G01K7/38—Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements using magnetic elements, e.g. magnets, coils the variations of temperature influencing the magnetic permeability
-
- G—PHYSICS
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- G01K—MEASURING TEMPERATURE; MEASURING QUANTITY OF HEAT; THERMALLY-SENSITIVE ELEMENTS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01K7/00—Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements
- G01K7/36—Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements using magnetic elements, e.g. magnets, coils
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- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Measuring Magnetic Variables (AREA)
- Measuring Temperature Or Quantity Of Heat (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Magnetic Means (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、温度に応じて磁石(外部磁界)の磁
界強度を、電気信号に変換する温度センサーに関
する。
界強度を、電気信号に変換する温度センサーに関
する。
従来、この種のものに温度上昇に伴う電気抵抗
により、電圧変換を行わしめるサーミスタがある
が、抵抗変化が大きく、安定性、互換性に薄く、
材料組成、熱処理条件等の管理がむずかしく直線
性が悪く、衝撃に弱いという欠点を有し、これが
ため先行き不安定な出力電圧を生ずるようにな
る。
により、電圧変換を行わしめるサーミスタがある
が、抵抗変化が大きく、安定性、互換性に薄く、
材料組成、熱処理条件等の管理がむずかしく直線
性が悪く、衝撃に弱いという欠点を有し、これが
ため先行き不安定な出力電圧を生ずるようにな
る。
また、従来のセンサのひとつに、永久磁石と、
永久磁石の磁場内に配置された感熱部とトランス
部を有するものがある。このセンサでは、感熱部
は温度に応じて透磁率が変化する。温度によりト
ランス部を通過する磁束が変化し、トランス部の
磁心の飽和状態が変化するので、1次側の巻線に
与えた信号に対して2次側の巻線の出力が変化
し、温度を検出できる。このセンサは、例えば、
実開昭51−3382号公報に開示されている。
永久磁石の磁場内に配置された感熱部とトランス
部を有するものがある。このセンサでは、感熱部
は温度に応じて透磁率が変化する。温度によりト
ランス部を通過する磁束が変化し、トランス部の
磁心の飽和状態が変化するので、1次側の巻線に
与えた信号に対して2次側の巻線の出力が変化
し、温度を検出できる。このセンサは、例えば、
実開昭51−3382号公報に開示されている。
しかし、この種のセンサでは、漏れ磁束により
トランスのコアが飽和している状態でも2次側の
コイルに電圧が発生することがある。また、コア
の磁気飽和の度合いにより出力が変化するもので
あるので、定常的に温度値が出力されるものの、
コアや永久磁石の材質の影響を受けやすく、出力
値が不安定である。このため、リニアな出力を要
求されるタイプのセンサには不向きである。
トランスのコアが飽和している状態でも2次側の
コイルに電圧が発生することがある。また、コア
の磁気飽和の度合いにより出力が変化するもので
あるので、定常的に温度値が出力されるものの、
コアや永久磁石の材質の影響を受けやすく、出力
値が不安定である。このため、リニアな出力を要
求されるタイプのセンサには不向きである。
本発明の第1の目的は、耐振動、耐衝撃性が高
く堅牢であつて、温度を連続的に出力できるリニ
アな温度センサーを提供することである。
く堅牢であつて、温度を連続的に出力できるリニ
アな温度センサーを提供することである。
本発明の第2の目的は、温度検出信号の電気処
理が比較的に簡単な温度センサーを提供すること
である。
理が比較的に簡単な温度センサーを提供すること
である。
本発明の第3の目的は、最近目覚しい進歩をと
げたマイクロコンピユータ等のLSIにて、比較的
に簡単に単純な読み取りロジツクで、温度データ
を読み取り得る温度センターを提供することであ
る。
げたマイクロコンピユータ等のLSIにて、比較的
に簡単に単純な読み取りロジツクで、温度データ
を読み取り得る温度センターを提供することであ
る。
本発明によれば、ケーシング内にあつて、測温
部に配置される永久磁石と、この磁石の近傍に電
気コイルが巻回された軟磁性体が配置され、軟磁
性体の横断面面積は、磁気飽和を生じやすいよう
に小面積とされ、電気コイルの巻回数は比較的に
低い印加電圧、即ち、比較的に低い通電電流レベ
ルで軟磁性体が磁気飽和するに十分に多い巻回数
とされ、永久磁石はその温度差において軟磁性体
に、その温度変化に対応した強度の磁界を与える
程度の小形のものとされる。
部に配置される永久磁石と、この磁石の近傍に電
気コイルが巻回された軟磁性体が配置され、軟磁
性体の横断面面積は、磁気飽和を生じやすいよう
に小面積とされ、電気コイルの巻回数は比較的に
低い印加電圧、即ち、比較的に低い通電電流レベ
ルで軟磁性体が磁気飽和するに十分に多い巻回数
とされ、永久磁石はその温度差において軟磁性体
に、その温度変化に対応した強度の磁界を与える
程度の小形のものとされる。
軟磁性体に巻回したコイルに電圧を印加し、電
圧印加始点より、軟磁性体が磁気飽和するまでの
時間をTとすると概略では T=N/E・(φm−φx) となる。但し、E:電気コイル印加電圧 N:電気コイルの巻回数 φm:最大磁束(≒飽和磁束) φx:外部磁界による磁束 である。そこで永久磁石の温度変化により、φx
が変化するとTが変化する。即ち、温度が上昇す
れば軟磁性体に加わる外部磁束φxが変化(減少)
し、コイルに電圧を印加してからコイル電流が所
定レベルになるまでの時間Tが変化する。而し
て、本発明の温度センサーは、Tを計測しそれを
電圧レベル・デジタルコード等の電気信号で表わ
す電気回路又は半導体電子装置を接続する。
圧印加始点より、軟磁性体が磁気飽和するまでの
時間をTとすると概略では T=N/E・(φm−φx) となる。但し、E:電気コイル印加電圧 N:電気コイルの巻回数 φm:最大磁束(≒飽和磁束) φx:外部磁界による磁束 である。そこで永久磁石の温度変化により、φx
が変化するとTが変化する。即ち、温度が上昇す
れば軟磁性体に加わる外部磁束φxが変化(減少)
し、コイルに電圧を印加してからコイル電流が所
定レベルになるまでの時間Tが変化する。而し
て、本発明の温度センサーは、Tを計測しそれを
電圧レベル・デジタルコード等の電気信号で表わ
す電気回路又は半導体電子装置を接続する。
本発明の好ましい実施例においては、軟磁性体
をアモーフアス(amorphous:非晶質)磁性体
とする。アモーフアス磁性体は、液相金属を急冷
して作らざるを得ないため薄板であり、しかも磁
気的には強磁性であつて、透磁率および飽和磁化
が大きく、保持力が小さく、機械的には破断強さ
がきわめて高く、弾力性および復元性に優れる。
このようなアモーフアス磁性体の特性は、本発明
の温度センサーにきわめて好都合であり、これを
用いると電気的にはTの計測において信号処理が
簡単かつ高精度となるというメリツトがあり、機
械的には製造が簡単になり、耐振、耐衝撃性が向
上する。
をアモーフアス(amorphous:非晶質)磁性体
とする。アモーフアス磁性体は、液相金属を急冷
して作らざるを得ないため薄板であり、しかも磁
気的には強磁性であつて、透磁率および飽和磁化
が大きく、保持力が小さく、機械的には破断強さ
がきわめて高く、弾力性および復元性に優れる。
このようなアモーフアス磁性体の特性は、本発明
の温度センサーにきわめて好都合であり、これを
用いると電気的にはTの計測において信号処理が
簡単かつ高精度となるというメリツトがあり、機
械的には製造が簡単になり、耐振、耐衝撃性が向
上する。
第1図に示す本発明実施例において、温度セン
サー1は例えば、熱伝導が良好な真鍮で形成され
るケーシング2を有し、そのケーシング2に形成
したネジ部14にて測温可能に装着される。そし
てこのケーシング2の測温部3には永久磁石4が
固着されている。そして断面が略横コ字状である
断熱材(セラミツクス)5を介して、軟磁性体
(アモーフアス)6が永久磁石4と平行に配置さ
れている。軟磁性体6はボビン7内に挿通されて
おり、このボビン7には電気コイル8が巻回され
ている。そして、コイル8の両端はそれぞれター
ミナル9および10を介して、リード11および
12に接続されている。13は樹脂製挿填材であ
る。
サー1は例えば、熱伝導が良好な真鍮で形成され
るケーシング2を有し、そのケーシング2に形成
したネジ部14にて測温可能に装着される。そし
てこのケーシング2の測温部3には永久磁石4が
固着されている。そして断面が略横コ字状である
断熱材(セラミツクス)5を介して、軟磁性体
(アモーフアス)6が永久磁石4と平行に配置さ
れている。軟磁性体6はボビン7内に挿通されて
おり、このボビン7には電気コイル8が巻回され
ている。そして、コイル8の両端はそれぞれター
ミナル9および10を介して、リード11および
12に接続されている。13は樹脂製挿填材であ
る。
永久磁石4に熱が伝わると、永久磁石4の軟磁
性体6へ作用する磁界強度は温度変化に対応して
変化する。この磁石4の温度変化は電気処理回路
もしくは論理処理電子装置で検出される。
性体6へ作用する磁界強度は温度変化に対応して
変化する。この磁石4の温度変化は電気処理回路
もしくは論理処理電子装置で検出される。
第2a図は1つの電気処理回路100を示す。
回路100の定電圧電源端子101には一定レベ
ルの直流電圧(たとえば+5V)が印加される。
入力端子102には、たとえば5〜25KHzの電圧
パルスが印加され、該電圧パルスのプラス電圧区
間にNPNトランジスタ103が導通し、アース
レベルの間NPNトランジスタ103は非導通と
なる。PNPトランジスタ104はトランジスタ
103がオンの間オンとなり、オフの間オフとな
る。したがつて電気コイル8には、入力端子10
2に印加される電圧パルスのプラスレベル区間に
定電圧(Vcc)が印加され、アースレベル区間に
は電圧は加わらない。コイル22に流れる電流に
比例した電圧が抵抗105に現われ、この電圧が
抵抗106とキヤパシタ107でなる積分回路で
積分され、積分電圧が出力端108に現われる。
第2b図は第2a図に示す回路の入、出力電圧波
形を示す。入力電圧(IN)がプラスレベルに立
上つてから、抵抗105の電圧があるレベル以上
に立上るまでの時間tdおよび抵抗105の電圧a
の積分電圧Vxは磁石4の位置に対応する。
回路100の定電圧電源端子101には一定レベ
ルの直流電圧(たとえば+5V)が印加される。
入力端子102には、たとえば5〜25KHzの電圧
パルスが印加され、該電圧パルスのプラス電圧区
間にNPNトランジスタ103が導通し、アース
レベルの間NPNトランジスタ103は非導通と
なる。PNPトランジスタ104はトランジスタ
103がオンの間オンとなり、オフの間オフとな
る。したがつて電気コイル8には、入力端子10
2に印加される電圧パルスのプラスレベル区間に
定電圧(Vcc)が印加され、アースレベル区間に
は電圧は加わらない。コイル22に流れる電流に
比例した電圧が抵抗105に現われ、この電圧が
抵抗106とキヤパシタ107でなる積分回路で
積分され、積分電圧が出力端108に現われる。
第2b図は第2a図に示す回路の入、出力電圧波
形を示す。入力電圧(IN)がプラスレベルに立
上つてから、抵抗105の電圧があるレベル以上
に立上るまでの時間tdおよび抵抗105の電圧a
の積分電圧Vxは磁石4の位置に対応する。
第3a図は他の1つの電気処理回路120を示
す。入力電圧(IN)がプラスレベルの間NPNト
ランジスタ103がオン、PNPトランジスタ1
04がオンしてコイル8には電圧が印加される。
入力電圧(IN)がアースレベルの間トランジス
タ103がオフ、PNPトランジスタ104がオ
フしてコイル8には電圧が印加されない。コイル
電流は定電流接続とした接合形Nチヤンネル
FET1およびFET2で一定レベル電流値に制御
される。FET2を流れる電流のレベルは可変抵
抗122で設定される。FET1およびFET2に
接続されたコイル端子の電圧は、反転増幅器IN
1およびIN2で増幅および波形成形される。第
3b図は第3a図に示す回路の入、出力電圧波形
を示す。回路120の出力(OUT)は、入力パ
ルス(IN)よりもtdだけ遅れて立上る電圧パル
スであり、このtdが磁石14の位置に対応する。
tdは第4図に示す計数回路140でデジタルコー
ドで表わされる。回路140において、入力電圧
(IN)の立上りでフリツプフロツプF1がセツト
されてそのQ出力が高レベル「1」となり、アン
ドゲートA1がゲート開(オン)となつてクロツ
クパルス発振器141の発生パルスがカウンタ1
42のカウントパルス入力端CKに印加される。
出力パルス(OUT)とF1のQ出力がアンドゲ
ートA2に印加され、出力パルス(OUT)が立
上るとアンドゲートA2が高レベル「1」に立上
り、その立上り点でフリツプフロツプF1がリセ
ツトされそのQ出力が低レベル「0」となる。こ
れによりアンドゲートA1がゲート閉(オフ)と
なり、カウンタ142へのクロツクパルスは遮断
される。アンドゲートA2の出力が「1」となつ
たとき、ラツチ143にカウンタ142のカウン
トコードが取り込まれる。フリツプフロツプF1
がリセツトされ、ラツチ143にカウントコード
が取り込まれた後に、アンドゲートA3がクロツ
クパルスを出力し、カウンタ142をクリアす
る。ラツチ143の出力コードはtdの間のクロツ
クパルス発生個数を示し、このコードがtdを示す
ことになる。
す。入力電圧(IN)がプラスレベルの間NPNト
ランジスタ103がオン、PNPトランジスタ1
04がオンしてコイル8には電圧が印加される。
入力電圧(IN)がアースレベルの間トランジス
タ103がオフ、PNPトランジスタ104がオ
フしてコイル8には電圧が印加されない。コイル
電流は定電流接続とした接合形Nチヤンネル
FET1およびFET2で一定レベル電流値に制御
される。FET2を流れる電流のレベルは可変抵
抗122で設定される。FET1およびFET2に
接続されたコイル端子の電圧は、反転増幅器IN
1およびIN2で増幅および波形成形される。第
3b図は第3a図に示す回路の入、出力電圧波形
を示す。回路120の出力(OUT)は、入力パ
ルス(IN)よりもtdだけ遅れて立上る電圧パル
スであり、このtdが磁石14の位置に対応する。
tdは第4図に示す計数回路140でデジタルコー
ドで表わされる。回路140において、入力電圧
(IN)の立上りでフリツプフロツプF1がセツト
されてそのQ出力が高レベル「1」となり、アン
ドゲートA1がゲート開(オン)となつてクロツ
クパルス発振器141の発生パルスがカウンタ1
42のカウントパルス入力端CKに印加される。
出力パルス(OUT)とF1のQ出力がアンドゲ
ートA2に印加され、出力パルス(OUT)が立
上るとアンドゲートA2が高レベル「1」に立上
り、その立上り点でフリツプフロツプF1がリセ
ツトされそのQ出力が低レベル「0」となる。こ
れによりアンドゲートA1がゲート閉(オフ)と
なり、カウンタ142へのクロツクパルスは遮断
される。アンドゲートA2の出力が「1」となつ
たとき、ラツチ143にカウンタ142のカウン
トコードが取り込まれる。フリツプフロツプF1
がリセツトされ、ラツチ143にカウントコード
が取り込まれた後に、アンドゲートA3がクロツ
クパルスを出力し、カウンタ142をクリアす
る。ラツチ143の出力コードはtdの間のクロツ
クパルス発生個数を示し、このコードがtdを示す
ことになる。
第5図に示す電子処理ユニツト160は、1チ
ツプマイクロコンピユータ(大規模集積半導体装
置)161、増幅器162、定電流制御用の接合
形NチヤンネルFET1、抵抗163、キヤパシ
タ164、増幅器165およびクロツクパルス発
振器166で構成する。抵抗163とキヤパシタ
164は、入、出力パルス周波数よりも高い周波
数の電圧振動を吸収するフイルタを構成してい
る。マイクロコンピユータ161はクロツクパル
スを基本に5KHz〜30KHzの範囲内の一定周波数
のパルスを形成しこれを増幅器162に与える。
一方、マイクロコンピユータ161はNチヤンネ
ルFET1とコイル22の一端との接続点の電圧
(増幅器165の出力電圧)を監視し、それ自身
が出力したパルスの立上り点から増幅器165の
出力電圧の立上り点まで(td)の間のクロツクパ
ルスをカウントし、tdを示すコードを出力する
(DATA OUT)。
ツプマイクロコンピユータ(大規模集積半導体装
置)161、増幅器162、定電流制御用の接合
形NチヤンネルFET1、抵抗163、キヤパシ
タ164、増幅器165およびクロツクパルス発
振器166で構成する。抵抗163とキヤパシタ
164は、入、出力パルス周波数よりも高い周波
数の電圧振動を吸収するフイルタを構成してい
る。マイクロコンピユータ161はクロツクパル
スを基本に5KHz〜30KHzの範囲内の一定周波数
のパルスを形成しこれを増幅器162に与える。
一方、マイクロコンピユータ161はNチヤンネ
ルFET1とコイル22の一端との接続点の電圧
(増幅器165の出力電圧)を監視し、それ自身
が出力したパルスの立上り点から増幅器165の
出力電圧の立上り点まで(td)の間のクロツクパ
ルスをカウントし、tdを示すコードを出力する
(DATA OUT)。
以上のように、第1図に示す温度センサー1
は、電気処理回路および論理処理電子装置を接続
して、温度センサー1の永久磁石4の温度変化に
対応した電気信号を得ることができる。
は、電気処理回路および論理処理電子装置を接続
して、温度センサー1の永久磁石4の温度変化に
対応した電気信号を得ることができる。
次に、第6b図に示す実検データを参照して説
明する。−0.2%1℃の温度係数を持つフエライト
マグネツトを用いて、第6a図に示す如く、感温
フエライト磁石4と軟磁性体6とは一定のエヤギ
ヤツプを有して、平行に配置され、感温フエライ
ト磁石4に熱風を吹きつけて、該磁石冷却時の磁
束の変化をアモーフアスにコイルを巻回したセン
サーにて読み取る方法で測定した。
明する。−0.2%1℃の温度係数を持つフエライト
マグネツトを用いて、第6a図に示す如く、感温
フエライト磁石4と軟磁性体6とは一定のエヤギ
ヤツプを有して、平行に配置され、感温フエライ
ト磁石4に熱風を吹きつけて、該磁石冷却時の磁
束の変化をアモーフアスにコイルを巻回したセン
サーにて読み取る方法で測定した。
形状、寸法および配置位置並びに材質等を次に
示す。
示す。
軟磁性体6については、材質:Fe40,
Ni40P14,B6、厚み:0.058mm、巾:1.8mm、長
さ:40mm、重ね枚数:4枚(エポキシ系接着材使
用)。
Ni40P14,B6、厚み:0.058mm、巾:1.8mm、長
さ:40mm、重ね枚数:4枚(エポキシ系接着材使
用)。
電気コイル8については巻回数:1000(直径
0.12mm)、永久磁石4(フエライトマグネツト)
については、直径:12mm、長さ:40mm、感温フエ
ライト磁石4と軟磁性体6との間隔:10mm、測定
手段及び入力パルス周波数:回路100、5KHz、電
圧印加モード:N−N。
0.12mm)、永久磁石4(フエライトマグネツト)
については、直径:12mm、長さ:40mm、感温フエ
ライト磁石4と軟磁性体6との間隔:10mm、測定
手段及び入力パルス周波数:回路100、5KHz、電
圧印加モード:N−N。
尚、電圧印加モードのN−Nは、第6a図にお
いて、軟磁性体6の左端がN極になるように、コ
イル8を電気回路100に接続したことを示す。
いて、軟磁性体6の左端がN極になるように、コ
イル8を電気回路100に接続したことを示す。
この場合、感温フエライト磁石4の温度が上昇
するに従い、その磁界強度が弱り、その特性は、
第6b図に示すデータグラフから、出力電圧Vx
は温度上昇と共にゆるく直線的に減少変化し、か
なり広い範囲において、直線性が高いことが分
る。
するに従い、その磁界強度が弱り、その特性は、
第6b図に示すデータグラフから、出力電圧Vx
は温度上昇と共にゆるく直線的に減少変化し、か
なり広い範囲において、直線性が高いことが分
る。
従つて、第1図に示す温度センサー1におい
て、感温フエライト磁石とアモーフアス軟磁性体
とを用いる極めて簡単な構成にして、熱入力に対
する磁気特性の変化を、使用目的により選定し、
その温度変化を電気信号に変換し、電気的処理で
温度検出信号が得られるので、機械的な摩耗によ
るガタ等生じなく、耐振動性が高く、安定した温
度検出を行う。特筆すべきは、センサーに接続さ
れる電気処理回路の構成が簡単であり、特に、1
チツプマイクロコンピユータなどの大規模半導体
装置で、圧力検出用パルスを作成し、そのパルス
と電気コイルの通電電流検出パルスの時間差をデ
ジタルコードで簡単に得ることができるというこ
とである。
て、感温フエライト磁石とアモーフアス軟磁性体
とを用いる極めて簡単な構成にして、熱入力に対
する磁気特性の変化を、使用目的により選定し、
その温度変化を電気信号に変換し、電気的処理で
温度検出信号が得られるので、機械的な摩耗によ
るガタ等生じなく、耐振動性が高く、安定した温
度検出を行う。特筆すべきは、センサーに接続さ
れる電気処理回路の構成が簡単であり、特に、1
チツプマイクロコンピユータなどの大規模半導体
装置で、圧力検出用パルスを作成し、そのパルス
と電気コイルの通電電流検出パルスの時間差をデ
ジタルコードで簡単に得ることができるというこ
とである。
第1図は、本発明の一実施例を示す温度センサ
ー1の縦断面図。第2a図は第1図に示す温度セ
ンサー1に接続され検出温度に対応したレベルの
アナログ電圧を生ずる電気処理回路100を示す
回路図、第2b図は第2a図に示す電気処理回路
100の入、出力信号を示す波形図、第3a図は
第1図に示す温度センサー1に接続され、検出温
度に対応した時間差のパルスを生ずる電気回路1
20を示す回路図、第3b図は第3a図に示す電
気処理回路120の入、出力信号を示す波形図、
第4図は第3a図に示す電峯処理回路120の
入、出力パルス時間差tdをデジタルコードに変換
する計数回路140を示すブロツク図、第5図は
第1図に示す温度センサー1に接続され、1チツ
プマイクロコンピユータで温度センサー1の電気
コイル6に印加するパルス電圧に対する電気コイ
ル6に流れる電流の立上りの遅れ時間を計数する
電子処理ユニツト160を示すブロツク図、第6
a図は軟磁性体6に対する感温フエライト磁石4
の温度変化(冷却時)の磁束の変化を実験で求め
たときの、軟磁性体6と感温フエライト磁石4の
位置関係を示す図、第6b図は第6a図で測定し
たデータを示すグラフである。 4……永久磁石、6……軟磁性体、8……電気
コイル。
ー1の縦断面図。第2a図は第1図に示す温度セ
ンサー1に接続され検出温度に対応したレベルの
アナログ電圧を生ずる電気処理回路100を示す
回路図、第2b図は第2a図に示す電気処理回路
100の入、出力信号を示す波形図、第3a図は
第1図に示す温度センサー1に接続され、検出温
度に対応した時間差のパルスを生ずる電気回路1
20を示す回路図、第3b図は第3a図に示す電
気処理回路120の入、出力信号を示す波形図、
第4図は第3a図に示す電峯処理回路120の
入、出力パルス時間差tdをデジタルコードに変換
する計数回路140を示すブロツク図、第5図は
第1図に示す温度センサー1に接続され、1チツ
プマイクロコンピユータで温度センサー1の電気
コイル6に印加するパルス電圧に対する電気コイ
ル6に流れる電流の立上りの遅れ時間を計数する
電子処理ユニツト160を示すブロツク図、第6
a図は軟磁性体6に対する感温フエライト磁石4
の温度変化(冷却時)の磁束の変化を実験で求め
たときの、軟磁性体6と感温フエライト磁石4の
位置関係を示す図、第6b図は第6a図で測定し
たデータを示すグラフである。 4……永久磁石、6……軟磁性体、8……電気
コイル。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 測温部に配置されると共に、温度変化に対応
して磁界強度が変化する永久磁石、 該永久磁石の近傍に配置された軟磁性体コア手
段、 該軟磁性体コア手段に巻回された電気コイル手
段、 電圧発生手段、 指示に応じて電圧発生手段の発生電圧を前記電
気コイル手段に印加する電圧切換手段、および 前記電気コイル手段に流れる電流を検出する電
流検出手段、 を備え、指示から前記電流検出手段の測定電流の
飽和までの時間を出力値とする温度センサー。
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US06/182,813 US4357114A (en) | 1980-08-29 | 1980-08-29 | Temperature sensor |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5772031A JPS5772031A (en) | 1982-05-06 |
JPH0140939B2 true JPH0140939B2 (ja) | 1989-09-01 |
Family
ID=22670142
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP56132005A Granted JPS5772031A (en) | 1980-08-29 | 1981-08-21 | Temperature sensor |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4357114A (ja) |
JP (1) | JPS5772031A (ja) |
DE (1) | DE3133054C2 (ja) |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2005524134A (ja) * | 2002-04-25 | 2005-08-11 | グラクソ グループ リミテッド | 環境条件を検知するための磁気音響センサーシステムおよびそれに関連する方法 |
WO2004094971A1 (en) * | 2003-03-27 | 2004-11-04 | Dresser, Inc. | Temperature measurement device |
CN110388994A (zh) * | 2019-07-29 | 2019-10-29 | 中国计量大学 | 一种永磁温度传感器 |
Family Cites Families (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE946092C (de) * | 1941-08-27 | 1956-07-26 | Siemens Ag | Einrichtung zur Messung oder Regelung der Temperatur von rotierenden Koerpern |
DE953925C (de) * | 1951-10-04 | 1956-12-06 | Philips Nv | Vorrichtung zur Temperaturmessung oder -regelung |
US2756595A (en) * | 1951-10-04 | 1956-07-31 | Hartford Nat Bank & Trust Co | Temperature measuring device |
JPS513382U (ja) * | 1974-06-24 | 1976-01-12 | ||
US4085617A (en) * | 1976-04-05 | 1978-04-25 | Edwin Langberg | Fast response thermometer |
-
1980
- 1980-08-29 US US06/182,813 patent/US4357114A/en not_active Expired - Lifetime
-
1981
- 1981-08-21 JP JP56132005A patent/JPS5772031A/ja active Granted
- 1981-08-21 DE DE3133054A patent/DE3133054C2/de not_active Expired
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US4357114A (en) | 1982-11-02 |
DE3133054A1 (de) | 1982-04-01 |
JPS5772031A (en) | 1982-05-06 |
DE3133054C2 (de) | 1985-06-05 |
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