JPH0140004Y2 - - Google Patents
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- JPH0140004Y2 JPH0140004Y2 JP7670383U JP7670383U JPH0140004Y2 JP H0140004 Y2 JPH0140004 Y2 JP H0140004Y2 JP 7670383 U JP7670383 U JP 7670383U JP 7670383 U JP7670383 U JP 7670383U JP H0140004 Y2 JPH0140004 Y2 JP H0140004Y2
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- JP
- Japan
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- measured
- length measuring
- movable rod
- movable
- temperature
- Prior art date
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- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 13
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 claims description 12
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 6
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 3
- 210000003813 thumb Anatomy 0.000 description 2
- 230000032683 aging Effects 0.000 description 1
- 230000008602 contraction Effects 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 description 1
- 230000035882 stress Effects 0.000 description 1
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- Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
- Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
- Indication And Recording Devices For Special Purposes And Tariff Metering Devices (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
この考案は温度補正機能を持つ測長器に関す
る。
る。
〈考案の背景〉
各種の構築物或は建造物等において経年変化或
は温度変化による変形等を調べる上で微小な寸法
の変化を測定することが要求される。
は温度変化による変形等を調べる上で微小な寸法
の変化を測定することが要求される。
〈考案の目的〉
この考案はこのような要求に対して満すことが
できる温度補正機能を持つ測長器を提供しようと
するものである。
できる温度補正機能を持つ測長器を提供しようと
するものである。
〈考案の実施例〉
第1図以下にこの考案の一実施例を示す。第1
図はこの考案による測長器の外観を説明するため
の正面図、第2図は第1図に示す−線上の断
面図、第3図は第1図に示す−線上の断面図
である。図に示す例ではレールの熱膨張による寸
法変化を測定する状態について示している。つま
りレール1に第2図に示すように2つのピン2a,
2bを植設しておき、このピン2a,2b間の寸法を
測定し、そのときのレールの温度と対応させてレ
ール1に蓄積された軸応力を算出するための測長
器を例示して示す。従つてこゝではレール1を被
測定体と称することとする。
図はこの考案による測長器の外観を説明するため
の正面図、第2図は第1図に示す−線上の断
面図、第3図は第1図に示す−線上の断面図
である。図に示す例ではレールの熱膨張による寸
法変化を測定する状態について示している。つま
りレール1に第2図に示すように2つのピン2a,
2bを植設しておき、このピン2a,2b間の寸法を
測定し、そのときのレールの温度と対応させてレ
ール1に蓄積された軸応力を算出するための測長
器を例示して示す。従つてこゝではレール1を被
測定体と称することとする。
図中3は被測定体1に着脱機構によつて取付け
ることができるアタツチメントを示す。つまりア
タツチメント3はツマミナツト3aにより被測定
体1に固定する。アタツチメント3には固定板4
が取付けられる。固定板4はその板面が水平とな
るようにアタツチメント3にツマミネジ5によつ
て締付け固定される。このときツマミネジ5は固
定板4に形成した長孔6(第2図参照)を貫通
し、この長孔6によつて固定板4は被測定体1に
対して進退できるようにし、その先端4aが被測
定体1に接触する状態に調整できる構造になつて
いる。
ることができるアタツチメントを示す。つまりア
タツチメント3はツマミナツト3aにより被測定
体1に固定する。アタツチメント3には固定板4
が取付けられる。固定板4はその板面が水平とな
るようにアタツチメント3にツマミネジ5によつ
て締付け固定される。このときツマミネジ5は固
定板4に形成した長孔6(第2図参照)を貫通
し、この長孔6によつて固定板4は被測定体1に
対して進退できるようにし、その先端4aが被測
定体1に接触する状態に調整できる構造になつて
いる。
7は固定板4上に支持された測長器本体を示
す。この測長器本体7は第5図に示すように底面
にコロ8を有し、このコロ8によつて固定板4の
上で可及的に小さい摩擦抵抗で被測定体1と平行
する方向に移動できるようになつている。
す。この測長器本体7は第5図に示すように底面
にコロ8を有し、このコロ8によつて固定板4の
上で可及的に小さい摩擦抵抗で被測定体1と平行
する方向に移動できるようになつている。
次に測長器本体7の内部構造について第4図及
び第5図を用いて説明する。
び第5図を用いて説明する。
第4図及び第5図において9は測長器本体7を
支持する基板を示す。11は基板9の上を被うカ
バーを示す。12は固定測長片である。この固定
測長片12は基板9に固定され、その先端が被測
定体1に接触できるようにカバー11に形成した
窓11aを通じて外部に突出する。13は可動測
長片を示す。この可動測長片13は可動ロツド1
4に取付けられ、可動ロツド14を移動させるこ
とにより被測定体1と平行する方向に移動できる
構造となつている。
支持する基板を示す。11は基板9の上を被うカ
バーを示す。12は固定測長片である。この固定
測長片12は基板9に固定され、その先端が被測
定体1に接触できるようにカバー11に形成した
窓11aを通じて外部に突出する。13は可動測
長片を示す。この可動測長片13は可動ロツド1
4に取付けられ、可動ロツド14を移動させるこ
とにより被測定体1と平行する方向に移動できる
構造となつている。
可動ロツド14は付勢手段15を介して微少変
位センサ16に連結される。付勢手段15はシリ
ンダ17と、可動ロツド14の遊端に取付けたフ
ランジ18と、このフランジ18とシリンダ17
の端部との間に介挿したスプリング19とによつ
て構成することができる。この付勢手段15によ
れば可動ロツド14は図示の状態において右方向
に偏倚力を受ける。この偏倚力はストツパ20に
よつて受け止められ、ストツパ20によつて固定
測長片12と可動測長片13の面12aと13a
の距離Lが予め決めた規定値となるようにしてい
る。距離Lはピン2a,2bの内側の間隔よりわ
ずかに大きい値に設定する。この設定はストツパ
20によつて標準温度20℃において行なう。尚2
1は円筒形のシリンダ17を基板9上に固定する
ためのアタツチメントを示す。つまりこのアタツ
チメント21は外形が角形をなし、その中心にシ
リンダ17が貫通する孔を有し、この孔にシリン
ダ17を嵌着する。角形アタツチメント21はそ
の一つの面を基板9に接触させ、基板9の裏側か
ら角形アタツチメント21をビス止めする。
位センサ16に連結される。付勢手段15はシリ
ンダ17と、可動ロツド14の遊端に取付けたフ
ランジ18と、このフランジ18とシリンダ17
の端部との間に介挿したスプリング19とによつ
て構成することができる。この付勢手段15によ
れば可動ロツド14は図示の状態において右方向
に偏倚力を受ける。この偏倚力はストツパ20に
よつて受け止められ、ストツパ20によつて固定
測長片12と可動測長片13の面12aと13a
の距離Lが予め決めた規定値となるようにしてい
る。距離Lはピン2a,2bの内側の間隔よりわ
ずかに大きい値に設定する。この設定はストツパ
20によつて標準温度20℃において行なう。尚2
1は円筒形のシリンダ17を基板9上に固定する
ためのアタツチメントを示す。つまりこのアタツ
チメント21は外形が角形をなし、その中心にシ
リンダ17が貫通する孔を有し、この孔にシリン
ダ17を嵌着する。角形アタツチメント21はそ
の一つの面を基板9に接触させ、基板9の裏側か
ら角形アタツチメント21をビス止めする。
微少変位センサ16は例えば差動トランス或は
マグネスケール(商品名)等の変位センサを用い
ることができる。図の例ではマグネスケールを用
いた場合を示す。16aは検出ヘツド部分を示
す。検出ヘツド部分16aは貫通孔を有し、この
貫通孔に可動素子、つまり磁気スケール16bが
挿通される。磁気スケール16bの端部はアタツ
チメント22を介して可動ロツド14の端部に連
結される。
マグネスケール(商品名)等の変位センサを用い
ることができる。図の例ではマグネスケールを用
いた場合を示す。16aは検出ヘツド部分を示
す。検出ヘツド部分16aは貫通孔を有し、この
貫通孔に可動素子、つまり磁気スケール16bが
挿通される。磁気スケール16bの端部はアタツ
チメント22を介して可動ロツド14の端部に連
結される。
微少変位センサ16を保持するボデイはシリン
ダ17の端部に挿入しておくだけの構造であるた
め、この例では微少変位センサ16のボデイを板
バネ23により押圧し、微少変位センサ16をシ
リンダ17に対してガタツキなく保持するように
している。
ダ17の端部に挿入しておくだけの構造であるた
め、この例では微少変位センサ16のボデイを板
バネ23により押圧し、微少変位センサ16をシ
リンダ17に対してガタツキなく保持するように
している。
24は可動測長片13を矢印X方向に移動させ
るための操作レバーを示す。この操作レバー24
はバネ25によつて反時計方向に回動偏倚されそ
の先端24aは可動測長片13から離れる方向に
偏倚されている。レバー24の回動支持軸26は
減速手段27に連結される。減速手段27は例え
ば多段結合された歯車輪列によつて構成すること
ができる。レバー24を時計方向に回動操作し、
回動操作状態から解放すると、レバー24がバネ
25の偏倚力により反時計方向に回転する。この
とき減速手段27によりレバー24の回転速度が
制限され、一定の低速度で元の位置まで戻るよう
に動作する。
るための操作レバーを示す。この操作レバー24
はバネ25によつて反時計方向に回動偏倚されそ
の先端24aは可動測長片13から離れる方向に
偏倚されている。レバー24の回動支持軸26は
減速手段27に連結される。減速手段27は例え
ば多段結合された歯車輪列によつて構成すること
ができる。レバー24を時計方向に回動操作し、
回動操作状態から解放すると、レバー24がバネ
25の偏倚力により反時計方向に回転する。この
とき減速手段27によりレバー24の回転速度が
制限され、一定の低速度で元の位置まで戻るよう
に動作する。
28は操作レバー24を時計方向に回動させた
場合、その最大回動位置において操作レバー24
をロツクしておくためのロツク用レバーを示す。
操作レバー24の回動支持軸26には円板29が
取付けられ、円板29に円弧状の長溝31を形成
し、長溝31の端部に凹部32を形成する。ロツ
ク用レバー28はバネ33の偏倚力によつて軸3
4を中心に反時計方向に付勢されている。よつて
操作レバー24を時計方向に回動操作し、最大回
動位置に達するとロツク用レバー28の先端に取
付けたピン35が凹部32に係合し、操作レバー
24が反時計方向に回動することを阻止し、その
状態に保持する。このロツク状態を解くにはロツ
ク用レバー28の遊端を押圧操作すればよい。こ
のようにしてロツク用レバー28を軸34を中心
に時計方向に回動させ、ピン35を凹部32から
外すことにより操作レバー24はロツク状態から
外れ低速度で反時計方向に回動を始める。
場合、その最大回動位置において操作レバー24
をロツクしておくためのロツク用レバーを示す。
操作レバー24の回動支持軸26には円板29が
取付けられ、円板29に円弧状の長溝31を形成
し、長溝31の端部に凹部32を形成する。ロツ
ク用レバー28はバネ33の偏倚力によつて軸3
4を中心に反時計方向に付勢されている。よつて
操作レバー24を時計方向に回動操作し、最大回
動位置に達するとロツク用レバー28の先端に取
付けたピン35が凹部32に係合し、操作レバー
24が反時計方向に回動することを阻止し、その
状態に保持する。このロツク状態を解くにはロツ
ク用レバー28の遊端を押圧操作すればよい。こ
のようにしてロツク用レバー28を軸34を中心
に時計方向に回動させ、ピン35を凹部32から
外すことにより操作レバー24はロツク状態から
外れ低速度で反時計方向に回動を始める。
このとき可動測長片13は操作レバー24の回
動に追従して矢印X′方向に低速度で移動する。
動に追従して矢印X′方向に低速度で移動する。
35は基板9に取付けた温度センサを示す。こ
の温度センサ35は主に基板9とカバー11内の
温度を測定し、電気信号としてコネクタ36から
外部に送出する。またコネクタ36には微少変位
センサ16の検出信号も供給され、外部に取出す
ことができるようになつている。
の温度センサ35は主に基板9とカバー11内の
温度を測定し、電気信号としてコネクタ36から
外部に送出する。またコネクタ36には微少変位
センサ16の検出信号も供給され、外部に取出す
ことができるようになつている。
第6図はこの考案による測長器の電気的な構成
を示す。第6図において16は微少変位センサを
示す。この微少変位センサ16として上記したよ
うにマグネスケールを用いたとすると可動素子1
6bが磁気ヘツド部分16aに対して相対的に位
置ずれを生じるとパルスが出力される。このパル
スを計数することにより可動ロツド14の移動量
を知ることができる。パルスは多相パルスで出力
され、移動方向に応じて多数パルスの位相が逆転
する。よつてこの多相パルスの位相により移動方
向を知ることができ、パルスの数を計数すること
により移動量を検知できる。37はアツプダウン
カウンタを示し、このアツプダウンカウンタ37
により微少変位センサ16から出力される多相パ
ルスをその位相に応じてアツプカウント及びダウ
ンカウントする。つまり可動測長片13が矢印X
方向に移動するときアツプダウンカウンタ37は
ダウンカウントし、可動測長片13が矢印X′方
向に移動するときアツプカウントする。アツプダ
ウンカウント37の数計値と距離定数回路39か
ら距離に変換する信号を距離算出回路38に与
え、この算出回路38において距離値に変換しこ
の距離値を補正回路40に与える。補正回路40
では温度センサ35から出力された温度に対応し
た信号をA−D変換器41によつてデイジタル信
号に変換し、このデイジタル信号を補正値算出回
路42に与える。この補正値算出回路42には距
離定数回路39から距離値Lに相当する信号を与
える。また線膨張係数設定器43から線膨張係数
に相当する信号を与え、温度補正信号を算出す
る。この温度補正信号は主に基板9と可動ロツド
14の温度変化に伴なつて生じる伸縮量を補正す
るものである。その補正値Δlは Δl=Lα(t2−t1) (1) で求められる。こゝでLは測長片12−13間の
最大距離の値、αは基板9及び可動ロツド14の
線膨張係数、t1は標準温度(例えば20℃)、t2は
測定温度である。
を示す。第6図において16は微少変位センサを
示す。この微少変位センサ16として上記したよ
うにマグネスケールを用いたとすると可動素子1
6bが磁気ヘツド部分16aに対して相対的に位
置ずれを生じるとパルスが出力される。このパル
スを計数することにより可動ロツド14の移動量
を知ることができる。パルスは多相パルスで出力
され、移動方向に応じて多数パルスの位相が逆転
する。よつてこの多相パルスの位相により移動方
向を知ることができ、パルスの数を計数すること
により移動量を検知できる。37はアツプダウン
カウンタを示し、このアツプダウンカウンタ37
により微少変位センサ16から出力される多相パ
ルスをその位相に応じてアツプカウント及びダウ
ンカウントする。つまり可動測長片13が矢印X
方向に移動するときアツプダウンカウンタ37は
ダウンカウントし、可動測長片13が矢印X′方
向に移動するときアツプカウントする。アツプダ
ウンカウント37の数計値と距離定数回路39か
ら距離に変換する信号を距離算出回路38に与
え、この算出回路38において距離値に変換しこ
の距離値を補正回路40に与える。補正回路40
では温度センサ35から出力された温度に対応し
た信号をA−D変換器41によつてデイジタル信
号に変換し、このデイジタル信号を補正値算出回
路42に与える。この補正値算出回路42には距
離定数回路39から距離値Lに相当する信号を与
える。また線膨張係数設定器43から線膨張係数
に相当する信号を与え、温度補正信号を算出す
る。この温度補正信号は主に基板9と可動ロツド
14の温度変化に伴なつて生じる伸縮量を補正す
るものである。その補正値Δlは Δl=Lα(t2−t1) (1) で求められる。こゝでLは測長片12−13間の
最大距離の値、αは基板9及び可動ロツド14の
線膨張係数、t1は標準温度(例えば20℃)、t2は
測定温度である。
補正値算出回路42から得られた補正値Δlを
補正回路40に与え、測定距離値に加えて測定距
離値を温度補正する。補正された距離信号を表示
器44に与えその値を表示する。
補正回路40に与え、測定距離値に加えて測定距
離値を温度補正する。補正された距離信号を表示
器44に与えその値を表示する。
〈考案の作用〉
上述した測長器の操作順序は以下の如くであ
る。
る。
(1) 固定板4を予め後退させた状態でアタツチメ
ント3を被測定体1に取付ける。
ント3を被測定体1に取付ける。
(2) アタツチメント3を被測定体1に取付けた後
に固定板を前進させ先端4aを被測定体1に接
触させる。このとき操作レバー24を最大回動
位置まで回動偏倚させロツク状態にしておく。
この状態で測長片12及び13を被測定体1に
植設したピン2a,2bの互に対向する間に挿
入する。このとき固定測長片12をピン2aの
内側の面に接触させておく。
に固定板を前進させ先端4aを被測定体1に接
触させる。このとき操作レバー24を最大回動
位置まで回動偏倚させロツク状態にしておく。
この状態で測長片12及び13を被測定体1に
植設したピン2a,2bの互に対向する間に挿
入する。このとき固定測長片12をピン2aの
内側の面に接触させておく。
(3) 準備が完了したらロツク用レバー28の遊端
部を押圧操作し、操作レバー24のロツクを解
除する。
部を押圧操作し、操作レバー24のロツクを解
除する。
(4) ロツク用レバー28は減速手段27の作用に
よりゆつくりと回動し、測長片13をゆつくり
とピン2bに向つて移動させる。測長片13が
ピン2bに当接すると、可動ロツド14の移動
が停止する。
よりゆつくりと回動し、測長片13をゆつくり
とピン2bに向つて移動させる。測長片13が
ピン2bに当接すると、可動ロツド14の移動
が停止する。
(5) このとき表示器44に表示される表示値がピ
ン2a,2b間の距離値である。操作レバー2
4を再び付勢し再度測定を行なう。この測定操
作を所要回行なつて測定値を確認する。
ン2a,2b間の距離値である。操作レバー2
4を再び付勢し再度測定を行なう。この測定操
作を所要回行なつて測定値を確認する。
つまり操作レバー24を回動操作したときは、
ストツパ20によつて予め決められた基準距離L
からその移動量X1に対応した量のパルス数が減
算され、移動量X1が計測される。
ストツパ20によつて予め決められた基準距離L
からその移動量X1に対応した量のパルス数が減
算され、移動量X1が計測される。
その位置で操作レバー24のロツクを解除する
と、可動測長片13がゆつくりと元の位置に向つ
て移動する。このとき可動測長片13がピン2a
に係合するまでパルスを加算し移動量X2を計測
する。可動測長片13がピン2aに係合して停止
した状態で表示器にはL−(X1−X2)が表示さ
れ、ピン2aと2bの間の距離値が表示される。
と、可動測長片13がゆつくりと元の位置に向つ
て移動する。このとき可動測長片13がピン2a
に係合するまでパルスを加算し移動量X2を計測
する。可動測長片13がピン2aに係合して停止
した状態で表示器にはL−(X1−X2)が表示さ
れ、ピン2aと2bの間の距離値が表示される。
この測定操作を所要回行なつて測定値を確認す
る。
る。
〈考案の効果〉
以上説明したようにこの考案によれば基板9の
温度及びその周囲温度を測定し、その温度値に応
じて測長片12及び13間の距離値を補正するよ
うに構成したから、温度が変わつて基板9及び可
動ロツド14の熱膨張により測長片12及び13
間の距離値が変化しても、その変動を補正し、常
に初期値を保つことができる。よつて温度変動に
関係なく、常に正しい微少変形を測定できる。
温度及びその周囲温度を測定し、その温度値に応
じて測長片12及び13間の距離値を補正するよ
うに構成したから、温度が変わつて基板9及び可
動ロツド14の熱膨張により測長片12及び13
間の距離値が変化しても、その変動を補正し、常
に初期値を保つことができる。よつて温度変動に
関係なく、常に正しい微少変形を測定できる。
更に測長器本体7をコロ8によつて固定板4の
上に摩擦抵抗を少なくして支持したから可動測長
片13が被測定物1のピン2bに当接したとき、
この当接力を他方の固定測長片12にも与えるこ
とができる。よつてピン2a,2bに均等に圧接
力を与えることができ、この点でも正確な精密測
定が可能である。
上に摩擦抵抗を少なくして支持したから可動測長
片13が被測定物1のピン2bに当接したとき、
この当接力を他方の固定測長片12にも与えるこ
とができる。よつてピン2a,2bに均等に圧接
力を与えることができ、この点でも正確な精密測
定が可能である。
第1図はこの考案による測長器の外観の一例を
示す正面図、第2図は第1図の−線上の断面
図、第3図は第1図の−線上の断面図、第4
図はこの考案の要部の内部構造を説明するための
一部を断面とした平面図、第5図はその側面図、
第6図はこの考案による測長器の電気回路の構成
を説明するためのブロツク図である。 1:被測定体、2a,2b:ピン、3:アタツ
チメント、4:固定板、7:測長器本体、8:コ
ロ、9:基板、12:固定測長片、13:可動測
長片、14:可動ロツド、15:付勢手段、1
6:微少変位センサ、16b:可動素子、20:
ストツパ、24:操作レバー、27:減速手段、
40:温度補正回路。
示す正面図、第2図は第1図の−線上の断面
図、第3図は第1図の−線上の断面図、第4
図はこの考案の要部の内部構造を説明するための
一部を断面とした平面図、第5図はその側面図、
第6図はこの考案による測長器の電気回路の構成
を説明するためのブロツク図である。 1:被測定体、2a,2b:ピン、3:アタツ
チメント、4:固定板、7:測長器本体、8:コ
ロ、9:基板、12:固定測長片、13:可動測
長片、14:可動ロツド、15:付勢手段、1
6:微少変位センサ、16b:可動素子、20:
ストツパ、24:操作レバー、27:減速手段、
40:温度補正回路。
Claims (1)
- 【実用新案登録請求の範囲】 A 被測定体に着脱機構によつて固定される固定
板と、 B この固定板上に可及的に小さい摩擦抵抗で被
測定体と平行する方向に摺動できるように支持
された基板と、 C この基板に固定され遊端が上記被測定体に向
つて突出した固定測長片と、 D 上記基板に固定された微少変位センサと、 E この微少変位センサの可動素子と連結され、
上記被測定体と平行する方向に移動自在に支持
された可動ロツドと、 F この可動ロツドの他端側に取付けられた可動
測長片と、 G 上記可動ロツドにその遊端方向に向う偏倚力
を与える付勢手段と、 H この付勢手段によつて偏倚される上記可動ロ
ツドの遊端と衝合し、上記可動測長片を基準点
で支持するストツパと、 I 上記可動ロツドを上記付勢手段の偏倚力に抗
して移動させ、その状態から解放させたとき上
記可動ロツドを低速度で元の位置に戻す減速手
段と、 J 上記基板に取付けられ主に上記基板及び可動
ロツド周縁の温度を測定する温度センサと、 K この温度センサによつて測定した温度により
上記測長センサで測定した距離の値を補正する
補正回路と、 から成る温度補正機能を持つ測長器。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP7670383U JPS59180609U (ja) | 1983-05-20 | 1983-05-20 | 温度補正機能を持つ測長器 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP7670383U JPS59180609U (ja) | 1983-05-20 | 1983-05-20 | 温度補正機能を持つ測長器 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS59180609U JPS59180609U (ja) | 1984-12-03 |
JPH0140004Y2 true JPH0140004Y2 (ja) | 1989-12-01 |
Family
ID=30206751
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP7670383U Granted JPS59180609U (ja) | 1983-05-20 | 1983-05-20 | 温度補正機能を持つ測長器 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS59180609U (ja) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0614065B2 (ja) * | 1988-10-19 | 1994-02-23 | 本田技研工業株式会社 | ガスレートセンサ |
-
1983
- 1983-05-20 JP JP7670383U patent/JPS59180609U/ja active Granted
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS59180609U (ja) | 1984-12-03 |
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