JPH0136186B2 - - Google Patents
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- JPH0136186B2 JPH0136186B2 JP58087784A JP8778483A JPH0136186B2 JP H0136186 B2 JPH0136186 B2 JP H0136186B2 JP 58087784 A JP58087784 A JP 58087784A JP 8778483 A JP8778483 A JP 8778483A JP H0136186 B2 JPH0136186 B2 JP H0136186B2
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- Japan
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- signal
- head
- track
- gain
- signals
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B5/00—Recording by magnetisation or demagnetisation of a record carrier; Reproducing by magnetic means; Record carriers therefor
- G11B5/48—Disposition or mounting of heads or head supports relative to record carriers ; arrangements of heads, e.g. for scanning the record carrier to increase the relative speed
- G11B5/58—Disposition or mounting of heads or head supports relative to record carriers ; arrangements of heads, e.g. for scanning the record carrier to increase the relative speed with provision for moving the head for the purpose of maintaining alignment of the head relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following
- G11B5/596—Disposition or mounting of heads or head supports relative to record carriers ; arrangements of heads, e.g. for scanning the record carrier to increase the relative speed with provision for moving the head for the purpose of maintaining alignment of the head relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following for track following on disks
- G11B5/59605—Circuits
- G11B5/59622—Gain control; Filters
Landscapes
- Moving Of The Head To Find And Align With The Track (AREA)
- Control Of Position Or Direction (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は磁気デイスク装置用の自動利得制御機
能付きヘツド位置決めシステムに関する。
能付きヘツド位置決めシステムに関する。
回転するデイスク状媒体にデイジタル若しくは
アナログ情報を記録する技術は周知である。特に
データ処理の分野で用いられている磁気デイスク
装置は良く知られている。情報はデイスクの表面
に隣接して支持されている電磁変換ヘツドによつ
てデイスク上の同心円トラツクに対して書込まれ
たり、逆にそれから読出されたりする。典型的な
磁気デイスク装置は10トラツク/mm程度のトラツ
ク密度を有する。この様な装置は、選択されたト
ラツクの上にヘツドを正確に位置決めして維持す
るヘツド位置決めシステムにおいて用いるための
位置基準情報を持つている必要がある。ヘツドを
或るトラツクの上に維持する動作はトラツク追従
動作として知られてる。一方、或るトラツクから
別の所望のトラツクの上まで動かす動作はトラツ
ク・アクセス動作と呼ばれている。位置基準情報
はこの様な両方の動作のために用いられる。
アナログ情報を記録する技術は周知である。特に
データ処理の分野で用いられている磁気デイスク
装置は良く知られている。情報はデイスクの表面
に隣接して支持されている電磁変換ヘツドによつ
てデイスク上の同心円トラツクに対して書込まれ
たり、逆にそれから読出されたりする。典型的な
磁気デイスク装置は10トラツク/mm程度のトラツ
ク密度を有する。この様な装置は、選択されたト
ラツクの上にヘツドを正確に位置決めして維持す
るヘツド位置決めシステムにおいて用いるための
位置基準情報を持つている必要がある。ヘツドを
或るトラツクの上に維持する動作はトラツク追従
動作として知られてる。一方、或るトラツクから
別の所望のトラツクの上まで動かす動作はトラツ
ク・アクセス動作と呼ばれている。位置基準情報
はこの様な両方の動作のために用いられる。
或る磁気デイスク装置では、データ記録用のデ
イスク面とは別の専用のデイスク面に位置基準情
報が記録されている。この種のヘツド位置決めシ
ステムを用いる磁気デイスク装置の例はIBM
Journal of Research And Development
Vol.18 No.6 November 1974の第506頁におけ
るR.K.Oswaldの論文において説明されている。
この種のシステムは位置基準情報が継続的に得ら
れるという長所を有する。しかしながら、トラツ
ク密度が高くなると、離れている位置基準情報記
録部とデータ記録トラツクとの間の厳密な整列状
態を確保することが難しくなるという欠点もあ
る。
イスク面とは別の専用のデイスク面に位置基準情
報が記録されている。この種のヘツド位置決めシ
ステムを用いる磁気デイスク装置の例はIBM
Journal of Research And Development
Vol.18 No.6 November 1974の第506頁におけ
るR.K.Oswaldの論文において説明されている。
この種のシステムは位置基準情報が継続的に得ら
れるという長所を有する。しかしながら、トラツ
ク密度が高くなると、離れている位置基準情報記
録部とデータ記録トラツクとの間の厳密な整列状
態を確保することが難しくなるという欠点もあ
る。
この様な欠点を除去するためにデータ記録面の
セクタに位置基準情報を記録する技術も考え出さ
れている。このセクタはサーボ・セクタと呼ばれ
データの記録のためのデータ・セクタと交互に配
置され、デイスクの回転中にサンプリングによつ
て検出されて、データ・トラツクと正確に整列し
た位置基準情報をもたらす。この様なシステムの
例は英国特許第1314695号に示されている。
セクタに位置基準情報を記録する技術も考え出さ
れている。このセクタはサーボ・セクタと呼ばれ
データの記録のためのデータ・セクタと交互に配
置され、デイスクの回転中にサンプリングによつ
て検出されて、データ・トラツクと正確に整列し
た位置基準情報をもたらす。この様なシステムの
例は英国特許第1314695号に示されている。
前述の専用サーボ・システム及びサンプル・サ
ーボ・システムは両方とも交互に2種類のサー
ボ・トラツクを配置し、それらの間の境界線によ
つてデータ・トラツクの中央線を示す点で共通し
ている。ヘツドによつて検出されるときの2種類
のサーボ・トラツクに基く信号成分は互いに分離
可能である。復調器はこれらの信号成分を分離
し、両者の振幅の差に基いて位置誤差信号を生じ
る。位置誤差信号はトラツクを横切るヘツドの移
動につれて周期的に変化する。理想的状態では、
この信号は傾斜が交互に反転する線形(直線)部
分から成り、ヘツドがサーボ・トラツク間の境界
線に対して対称的に位置づけられるとき0レベル
になる。
ーボ・システムは両方とも交互に2種類のサー
ボ・トラツクを配置し、それらの間の境界線によ
つてデータ・トラツクの中央線を示す点で共通し
ている。ヘツドによつて検出されるときの2種類
のサーボ・トラツクに基く信号成分は互いに分離
可能である。復調器はこれらの信号成分を分離
し、両者の振幅の差に基いて位置誤差信号を生じ
る。位置誤差信号はトラツクを横切るヘツドの移
動につれて周期的に変化する。理想的状態では、
この信号は傾斜が交互に反転する線形(直線)部
分から成り、ヘツドがサーボ・トラツク間の境界
線に対して対称的に位置づけられるとき0レベル
になる。
実際には、2種類のサーボ・トラツクに基く信
号成分pとqとの間の差p−qはサーボ・トラツ
ク境界線を基準とするヘツドの変位を正確に示し
ているわけではない。その理由の1つは、デイス
ク上の半径方向位置によつてヘツドの浮上高度が
異なり、それがヘツドの検出信号の振幅に影響す
るということである。この問題を解決するため
に、前述の2つのシステムに関して、2つの信号
成分の和p+qを別個に求めて利用することが提
案されている。p+qはヘツドの全幅応答に対応
しているので、一定であり、位置誤差信号の振幅
を正規化するために使用可能である。結局、位置
誤差信号の値は(p−q)/(p+q)に定数を
掛けたものによつて示される。この技術はヘツド
によつて検出された信号を受け取る可変利得増幅
器の自動利得制御として実施される。利得制御信
号はp+qを基準値と比較することによつて得ら
れ、増幅器の利得を制御する様にフイードバツク
される。
号成分pとqとの間の差p−qはサーボ・トラツ
ク境界線を基準とするヘツドの変位を正確に示し
ているわけではない。その理由の1つは、デイス
ク上の半径方向位置によつてヘツドの浮上高度が
異なり、それがヘツドの検出信号の振幅に影響す
るということである。この問題を解決するため
に、前述の2つのシステムに関して、2つの信号
成分の和p+qを別個に求めて利用することが提
案されている。p+qはヘツドの全幅応答に対応
しているので、一定であり、位置誤差信号の振幅
を正規化するために使用可能である。結局、位置
誤差信号の値は(p−q)/(p+q)に定数を
掛けたものによつて示される。この技術はヘツド
によつて検出された信号を受け取る可変利得増幅
器の自動利得制御として実施される。利得制御信
号はp+qを基準値と比較することによつて得ら
れ、増幅器の利得を制御する様にフイードバツク
される。
位置基準情報に関する別の技術として、IBM
Technical Disclosure Bulletin Vol18 No.8
Jan.1976の第2656及び2657頁に示されている様な
ナル(null)パターンを用いるものがある。この
パターンも交互に異なつたサーボ・トラツクを用
いているが、極性反転位置は全てのサーボ・トラ
ツクを通じて一致している。隣接する2つのサー
ボ・トラツクの境界線の真上に位置づけられるヘ
ツドは同等で逆極性の磁束変化を受けるので、正
味の出力信号は0である。ヘツドの位置がずれる
と、磁束変化は同等でなくなり、従つて、誤差信
号が生じる。この技術においては、ヘツドの出力
信号から2つのサーボ・トラツクに基く成分を分
離することはできない。従つて、位置基準情報に
基いて生成される信号によつてヘツドの応等を正
規化することはできない。そのため、サーボ・ト
ラツク対の前に共通する一連のトランジシヨンを
有する利得フイールドが設けられる。利得フイー
ルドに応じてヘツドから生じる信号はトランジシ
ヨンに対するヘツドの応答の最大振幅を表わして
いるので、平均化された後、位置誤差信号を正規
化するために用いられる。
Technical Disclosure Bulletin Vol18 No.8
Jan.1976の第2656及び2657頁に示されている様な
ナル(null)パターンを用いるものがある。この
パターンも交互に異なつたサーボ・トラツクを用
いているが、極性反転位置は全てのサーボ・トラ
ツクを通じて一致している。隣接する2つのサー
ボ・トラツクの境界線の真上に位置づけられるヘ
ツドは同等で逆極性の磁束変化を受けるので、正
味の出力信号は0である。ヘツドの位置がずれる
と、磁束変化は同等でなくなり、従つて、誤差信
号が生じる。この技術においては、ヘツドの出力
信号から2つのサーボ・トラツクに基く成分を分
離することはできない。従つて、位置基準情報に
基いて生成される信号によつてヘツドの応等を正
規化することはできない。そのため、サーボ・ト
ラツク対の前に共通する一連のトランジシヨンを
有する利得フイールドが設けられる。利得フイー
ルドに応じてヘツドから生じる信号はトランジシ
ヨンに対するヘツドの応答の最大振幅を表わして
いるので、平均化された後、位置誤差信号を正規
化するために用いられる。
以上の様な従来の自動利得制御技術は異なるヘ
ツドの応答を或る程度正規化できるが、ヘツドの
幅が異なつている場合には、十分ではない。トラ
ツク密度が非常に高い場合には、制御するのが困
難になるほどヘツドの幅を減少させなければなら
ないので、どうしてもヘツドの幅が一様でなくな
るのである。電磁変換ヘツドの場合、縁部磁界の
影響があるので、ヘツドの実効幅は実際のギヤツ
プ幅よりも大きい。この様な状況においてクロス
トークを防ぐには、全てのデータ・ヘツドの幅を
データ・トラツク幅よりも十分に小さくすること
が重要である。又、縁部磁界による位置誤差信号
の劣化を防ぐためにも、サーボ・トラツク幅(ピ
ツチ)よりも少さなヘツド幅を選択することが望
ましい。セクタ・サーボ位置基準情報を読取るた
めに幅の狭いデータ・ヘツドを用いる場合には、
もし通常のAGCを行うならば、オフトラツク応
答の大きな変動が生じることが分かつている。通
常のAGCを用いる状況において幅の異なつたヘ
ツドに関して得られる位置誤差信号の傾斜の変化
については後で第11図を参照しながら説明す
る。
ツドの応答を或る程度正規化できるが、ヘツドの
幅が異なつている場合には、十分ではない。トラ
ツク密度が非常に高い場合には、制御するのが困
難になるほどヘツドの幅を減少させなければなら
ないので、どうしてもヘツドの幅が一様でなくな
るのである。電磁変換ヘツドの場合、縁部磁界の
影響があるので、ヘツドの実効幅は実際のギヤツ
プ幅よりも大きい。この様な状況においてクロス
トークを防ぐには、全てのデータ・ヘツドの幅を
データ・トラツク幅よりも十分に小さくすること
が重要である。又、縁部磁界による位置誤差信号
の劣化を防ぐためにも、サーボ・トラツク幅(ピ
ツチ)よりも少さなヘツド幅を選択することが望
ましい。セクタ・サーボ位置基準情報を読取るた
めに幅の狭いデータ・ヘツドを用いる場合には、
もし通常のAGCを行うならば、オフトラツク応
答の大きな変動が生じることが分かつている。通
常のAGCを用いる状況において幅の異なつたヘ
ツドに関して得られる位置誤差信号の傾斜の変化
については後で第11図を参照しながら説明す
る。
なお、従来も、専用サーボ・システムについ
て、この様な問題が認識されており、IBM
Technical Disclosure Bulletin Vol20 No.1
June 1977の第349及び350頁に示されている様な
解決策も考えられている。この文献の技術はトラ
ツク方向において順次離隔されており且つ半径方
向において部分的に重なり合いながらずれている
4つの極性反転部A,C,B,Dを含むパターン
を用いている。AとBとの間の境界線が1つのト
ラツクの中心線を定め、CとDとの間の境界線が
別のトラツクの中心線を定めている。そして、こ
れらの極性反転部に基く信号の和に応じて可変利
得増幅器を制御する通常のAGC回路が用いられ
ている。更に、オフトラツク利得の調節のため
に、特別のキヤリブレーシヨン・トラツク領域が
設けられている。この領域における極性反転部A
及びBはデータ・トラツクの中央線から同等の距
離だけ反対方向に離れ且つその距離が相次ぐセク
シヨンにおいて徐々に大きくなる様に書込まれて
いる。これは一時的にヘツドがオフトラツク状態
になつたのと同様な影響をヘツドの応答に対して
もたらす。ヘツドの応答は平均化されて、第2の
制御信号として可変利得増幅器に与えられる。こ
れによつてオフトラツク利得の正規化が行われ
る。後で述べる様に、本発明はこの様な特別のト
ラツク領域を必要とせずにオフトラツク利得の制
御を行うことを意図している。
て、この様な問題が認識されており、IBM
Technical Disclosure Bulletin Vol20 No.1
June 1977の第349及び350頁に示されている様な
解決策も考えられている。この文献の技術はトラ
ツク方向において順次離隔されており且つ半径方
向において部分的に重なり合いながらずれている
4つの極性反転部A,C,B,Dを含むパターン
を用いている。AとBとの間の境界線が1つのト
ラツクの中心線を定め、CとDとの間の境界線が
別のトラツクの中心線を定めている。そして、こ
れらの極性反転部に基く信号の和に応じて可変利
得増幅器を制御する通常のAGC回路が用いられ
ている。更に、オフトラツク利得の調節のため
に、特別のキヤリブレーシヨン・トラツク領域が
設けられている。この領域における極性反転部A
及びBはデータ・トラツクの中央線から同等の距
離だけ反対方向に離れ且つその距離が相次ぐセク
シヨンにおいて徐々に大きくなる様に書込まれて
いる。これは一時的にヘツドがオフトラツク状態
になつたのと同様な影響をヘツドの応答に対して
もたらす。ヘツドの応答は平均化されて、第2の
制御信号として可変利得増幅器に与えられる。こ
れによつてオフトラツク利得の正規化が行われ
る。後で述べる様に、本発明はこの様な特別のト
ラツク領域を必要とせずにオフトラツク利得の制
御を行うことを意図している。
更に他の従来技術の例が英国特許第1489078号
に開示されている。この場合、2つの連続的サー
ボ・トラツクに基く信号を復調するための2つの
サーボ・チヤネルのそれぞれにある可変利得増幅
器を別個に調節することによつて、複数のヘツド
やサーボ・チヤネルの非対称性に関連した問題を
解決している。この技術は曲がりくねつて書込ま
れたサーボ・トラツクを用いている。デイスクが
正常な速度で回転するとき、或る周波数の正弦波
で変調された形の出力信号がヘツドから生じる。
その周波数は、2種のサーボ・トラツクの各々に
ついて別個のチヤネルを用いる低帯域フイードバ
ツク・ループによる正常なトラツク追従動作に影
響を及ぼさないほど高い。正弦波変調の高周波成
分は別個のチヤネルにおいて高域フイルタによつ
て抽出される。各チヤネルにおいて抽出された高
周波信号の振幅は、各可変利得増幅器を制御する
ために用いられ、これによつて応答の非対象性の
問題は解決されている。
に開示されている。この場合、2つの連続的サー
ボ・トラツクに基く信号を復調するための2つの
サーボ・チヤネルのそれぞれにある可変利得増幅
器を別個に調節することによつて、複数のヘツド
やサーボ・チヤネルの非対称性に関連した問題を
解決している。この技術は曲がりくねつて書込ま
れたサーボ・トラツクを用いている。デイスクが
正常な速度で回転するとき、或る周波数の正弦波
で変調された形の出力信号がヘツドから生じる。
その周波数は、2種のサーボ・トラツクの各々に
ついて別個のチヤネルを用いる低帯域フイードバ
ツク・ループによる正常なトラツク追従動作に影
響を及ぼさないほど高い。正弦波変調の高周波成
分は別個のチヤネルにおいて高域フイルタによつ
て抽出される。各チヤネルにおいて抽出された高
周波信号の振幅は、各可変利得増幅器を制御する
ために用いられ、これによつて応答の非対象性の
問題は解決されている。
以上の様に磁気デイスク装置のヘツド位置決め
システムにおけるオフトラツク利得の変動の問題
は従来から認識されているが、本発明のねらいを
更に明確にするために第11図を参照しながら問
題点について考察しておくことにする。第11図
は通常のAGCループを用いる場合のヘツドの幅
の変化に関連した位置誤差信号の変動を示してい
る。この図の左半分には、4つのトラツクと3種
類のヘツド300,301,302が示されてい
る。これらのトラツクは異なつた位置基準情報を
含む2種類のトラツクP及びQを交互に配置した
ものである。ヘツド301がトラツク幅に等しい
実効幅を有するのに対し、ヘツド300及び30
2はそれぞれトラツク幅の2/3及び1/3の実効幅を
有すると仮定する。
システムにおけるオフトラツク利得の変動の問題
は従来から認識されているが、本発明のねらいを
更に明確にするために第11図を参照しながら問
題点について考察しておくことにする。第11図
は通常のAGCループを用いる場合のヘツドの幅
の変化に関連した位置誤差信号の変動を示してい
る。この図の左半分には、4つのトラツクと3種
類のヘツド300,301,302が示されてい
る。これらのトラツクは異なつた位置基準情報を
含む2種類のトラツクP及びQを交互に配置した
ものである。ヘツド301がトラツク幅に等しい
実効幅を有するのに対し、ヘツド300及び30
2はそれぞれトラツク幅の2/3及び1/3の実効幅を
有すると仮定する。
波形304は所定の浮上高度でトラツクを直角
に横切るヘツド300から生じる信号に基く位置
誤差信号、即ちトラツクP及びQに対応する信号
成分pとqとの差p−qの変化を示している。波
形305は浮上高度が異なるときのヘツド300
に関する位置誤差信号を示している。これによつ
て、利得制御回路の必要性が認められる。右側の
波形320は前述の関数(p−q)/(p+q)
に従つて通常のAGCにより波形304及び30
5を正規化した結果を示している。
に横切るヘツド300から生じる信号に基く位置
誤差信号、即ちトラツクP及びQに対応する信号
成分pとqとの差p−qの変化を示している。波
形305は浮上高度が異なるときのヘツド300
に関する位置誤差信号を示している。これによつ
て、利得制御回路の必要性が認められる。右側の
波形320は前述の関数(p−q)/(p+q)
に従つて通常のAGCにより波形304及び30
5を正規化した結果を示している。
ヘツド301及び302に関してp−qを表わ
す波形306及び307は破線で示されている部
分が波形304と異なつている。但し、ヘツド3
01及び302はヘツド300と同じ所定の浮上
高度で移動し、且つ同等の特性を有すると仮定さ
れている。関数(p−q)/(p+q)に従つて
通常のAGCにより波形306及び307を正規
化した結果は波形321及び322として示され
ている。これらの波形はオントラツク点及び1/2
トラツク(最大)変位点においては適正な値を示
しているけれど、その間における傾斜は適正でな
いことが明らかである。即ち、幅の異なつたヘツ
ドに関連して通常のAGCを用いるときには、オ
フトラツク利得は線形の変化を示すが一定の傾斜
を示さないのである。
す波形306及び307は破線で示されている部
分が波形304と異なつている。但し、ヘツド3
01及び302はヘツド300と同じ所定の浮上
高度で移動し、且つ同等の特性を有すると仮定さ
れている。関数(p−q)/(p+q)に従つて
通常のAGCにより波形306及び307を正規
化した結果は波形321及び322として示され
ている。これらの波形はオントラツク点及び1/2
トラツク(最大)変位点においては適正な値を示
しているけれど、その間における傾斜は適正でな
いことが明らかである。即ち、幅の異なつたヘツ
ドに関連して通常のAGCを用いるときには、オ
フトラツク利得は線形の変化を示すが一定の傾斜
を示さないのである。
従来の或る磁気デイスク装置用のヘツド位置決
めシステムの場合、トラツク密度が18トラツク/
mmのときのオフトラツク利得の変動は±20%程度
であつた。トラツク密度が更に高くなれば、この
様な変動の割合は更に大きくなる筈であり、デー
タ・トラツク幅よりも狭い幅を有するデータ・ヘ
ツドによつてサーボ・トラツクを読取ることを必
要とするセクタ・サーボ・システムにおいては特
に重大な問題を生じる。オフトラツク利得の過度
の変動は過度の修正又は不十分な修正をもたら
し、ヘツドを所望のトラツクの上に正確に位置決
めしてオフトラツク変位を減少させるために最も
高いトラツク追従ループ利得を必要とする高密度
トラツク追従サーボ・システムでは安定度が損わ
れる。
めシステムの場合、トラツク密度が18トラツク/
mmのときのオフトラツク利得の変動は±20%程度
であつた。トラツク密度が更に高くなれば、この
様な変動の割合は更に大きくなる筈であり、デー
タ・トラツク幅よりも狭い幅を有するデータ・ヘ
ツドによつてサーボ・トラツクを読取ることを必
要とするセクタ・サーボ・システムにおいては特
に重大な問題を生じる。オフトラツク利得の過度
の変動は過度の修正又は不十分な修正をもたら
し、ヘツドを所望のトラツクの上に正確に位置決
めしてオフトラツク変位を減少させるために最も
高いトラツク追従ループ利得を必要とする高密度
トラツク追従サーボ・システムでは安定度が損わ
れる。
オフトラツク利得の変動は、例えば欧州公開特
許出願第13326号に示されている様なトラツク・
アクセス・サーボ・システムにおいても問題を生
じる。このシステムの場合、アクセス動作中サー
ボ・セクタから得られる位置誤差信号を標本化
し、それを連続的なモデル位置誤差信号と比較す
ることが必要となつている。標本化された実際の
位置誤差信号とモデル位置誤差信号との間の差を
示すアクセス位置誤差信号はアクセス動作の制御
のためにフイードバツクされる。標本化された位
置誤差信号は異なつたデイスク面に関連している
複数のヘツドのうちのどれによつて得られた信号
に基いているかに拘りなく線形であり且つほぼ一
定のオフトラツク利得を有することが重要であ
る。
許出願第13326号に示されている様なトラツク・
アクセス・サーボ・システムにおいても問題を生
じる。このシステムの場合、アクセス動作中サー
ボ・セクタから得られる位置誤差信号を標本化
し、それを連続的なモデル位置誤差信号と比較す
ることが必要となつている。標本化された実際の
位置誤差信号とモデル位置誤差信号との間の差を
示すアクセス位置誤差信号はアクセス動作の制御
のためにフイードバツクされる。標本化された位
置誤差信号は異なつたデイスク面に関連している
複数のヘツドのうちのどれによつて得られた信号
に基いているかに拘りなく線形であり且つほぼ一
定のオフトラツク利得を有することが重要であ
る。
本発明は前述の様な問題点を解決することを目
的としている。本発明による自動利得制御機能付
きヘツド位置決めシステムはヘツドの任意の位置
において複数の相の位置誤差信号を部分的に組合
わせて、トラツク幅相当の変位当りの位置誤差信
号の変化率を表わす利得関数信号を生じる手段
と、該変化率をほぼ一定に保つ様に利得関数信号
に応じて可変利得増幅器の利得を制御する手段と
を有することを特徴としている。
的としている。本発明による自動利得制御機能付
きヘツド位置決めシステムはヘツドの任意の位置
において複数の相の位置誤差信号を部分的に組合
わせて、トラツク幅相当の変位当りの位置誤差信
号の変化率を表わす利得関数信号を生じる手段
と、該変化率をほぼ一定に保つ様に利得関数信号
に応じて可変利得増幅器の利得を制御する手段と
を有することを特徴としている。
ヘツドの全幅応答に基き且つヘツドの幅の違い
による影響を全く考慮に入れていない従来の自動
利得制御技術と違つて、本発明のシステムはヘツ
ドの幅にほとんど関係なく適正な利得制御を行う
ことができる。更に、多相位置誤差信号から得ら
れる全ての情報を利用して利得関数信号を生成し
ているので、前述のIBM TDB Vol20 No.1に
示されている付加的なキヤリブレーシヨン・トラ
ツク領域や英国特許第1489078号に示されている
変調のための曲がりくねつたトラツクを用いるこ
となく、オフトラツク利得の精密な制御が達成さ
れる。本発明によれば、18トラツク/mmより高い
トラツク密度のマルチ・ヘツド/マルチ・トラツ
ク型のセクタ・サーボ・システムにおけるオフト
ラツク利得の変動を±5%以内に維持できること
が確認された。
による影響を全く考慮に入れていない従来の自動
利得制御技術と違つて、本発明のシステムはヘツ
ドの幅にほとんど関係なく適正な利得制御を行う
ことができる。更に、多相位置誤差信号から得ら
れる全ての情報を利用して利得関数信号を生成し
ているので、前述のIBM TDB Vol20 No.1に
示されている付加的なキヤリブレーシヨン・トラ
ツク領域や英国特許第1489078号に示されている
変調のための曲がりくねつたトラツクを用いるこ
となく、オフトラツク利得の精密な制御が達成さ
れる。本発明によれば、18トラツク/mmより高い
トラツク密度のマルチ・ヘツド/マルチ・トラツ
ク型のセクタ・サーボ・システムにおけるオフト
ラツク利得の変動を±5%以内に維持できること
が確認された。
実際のシステムにおいては、各多相位置誤差信
号は各サイクルの限られた範囲においてだけ、ほ
ぼ線形であり、サイクルの残りの部分においては
線形でなくなることがわかつている。この場合、
組合わされる位置誤差信号のうちの1つがサイク
ルの非線形部分にあるとき、異なつた相の位置誤
差信号と組合わせるための補正信号を利得関数信
号発生手段に供給する補正手段を設けることが望
ましい。
号は各サイクルの限られた範囲においてだけ、ほ
ぼ線形であり、サイクルの残りの部分においては
線形でなくなることがわかつている。この場合、
組合わされる位置誤差信号のうちの1つがサイク
ルの非線形部分にあるとき、異なつた相の位置誤
差信号と組合わせるための補正信号を利得関数信
号発生手段に供給する補正手段を設けることが望
ましい。
この補正信号は後で述べる値Kの信号であり、
非線形による利得関数の不足を補つている。マル
チ・ヘツド・システムにおいては、ヘツド・アド
レス情報に応じて対応するヘツドの幅に関連した
値を有する第1の出力信号を生じる記憶手段を設
け、補正手段がその第1の出力信号に応じて予定
値だけ補正値を変更する様な構成にすることも考
えられる。この場合、第1の出力信号を利得制御
ループに直接与えることも可能である。この様な
構成によれば利得制御ループのフイードバツクだ
けによつて行われるよりも迅速な利得の補正が行
われる。
非線形による利得関数の不足を補つている。マル
チ・ヘツド・システムにおいては、ヘツド・アド
レス情報に応じて対応するヘツドの幅に関連した
値を有する第1の出力信号を生じる記憶手段を設
け、補正手段がその第1の出力信号に応じて予定
値だけ補正値を変更する様な構成にすることも考
えられる。この場合、第1の出力信号を利得制御
ループに直接与えることも可能である。この様な
構成によれば利得制御ループのフイードバツクだ
けによつて行われるよりも迅速な利得の補正が行
われる。
複数のヘツドがデイスクの領域に関して内側グ
ループと外側グループに分けられているシステム
においては、選択されたヘツドがどちらのグルー
プに属するかを示す第2の出力信号を記憶手段か
ら出し、それを利得制御ループに直接与えること
によつて迅速な利得の調節を行うことも考えられ
る。
ループと外側グループに分けられているシステム
においては、選択されたヘツドがどちらのグルー
プに属するかを示す第2の出力信号を記憶手段か
ら出し、それを利得制御ループに直接与えること
によつて迅速な利得の調節を行うことも考えられ
る。
本発明の実施はセクタ・サーボ型の磁気デイス
ク装置に限定されないことが明らかである。この
型の装置において本発明を実施するときには、利
得制御ループの帯域が迅速な制御を可能ならしめ
る程高くないということが指摘される。この場
合、各サーボ・セクタがヘツドによつて検出可能
な利得基準情報を位置基準情報の前に含むことが
望ましく、又、デイスクにおける情報に対するヘ
ツド全幅応答を表わす出力を生じる利得基準情報
振幅検出器を含む高帯域の利得制御ループをシス
テムに設けることが望ましい。そして、2つのル
ープの出力信号を組合わせて可変利得増幅器の利
得を制御するのに用いればよい。
ク装置に限定されないことが明らかである。この
型の装置において本発明を実施するときには、利
得制御ループの帯域が迅速な制御を可能ならしめ
る程高くないということが指摘される。この場
合、各サーボ・セクタがヘツドによつて検出可能
な利得基準情報を位置基準情報の前に含むことが
望ましく、又、デイスクにおける情報に対するヘ
ツド全幅応答を表わす出力を生じる利得基準情報
振幅検出器を含む高帯域の利得制御ループをシス
テムに設けることが望ましい。そして、2つのル
ープの出力信号を組合わせて可変利得増幅器の利
得を制御するのに用いればよい。
この様なシステムは、或るサーボ・セクタを検
出している時間中、位置基準情報の復調の前に、
高帯域ループによつて信号の振幅を迅速に制御で
きるという長所がある。オフトラツク利得の精密
な調節は、先行するサーボ・セクタに基いて得ら
れた利得関数を用いる低帯域ループによつて行わ
れる。
出している時間中、位置基準情報の復調の前に、
高帯域ループによつて信号の振幅を迅速に制御で
きるという長所がある。オフトラツク利得の精密
な調節は、先行するサーボ・セクタに基いて得ら
れた利得関数を用いる低帯域ループによつて行わ
れる。
本発明は任意の多相システムにおいて実施可能
であるが、最も望ましいのは、3つの位置誤差信
号のうちの1つが非線形領域にあるとき他の2つ
が常に線形領域にある3相システムである。3つ
の信号の比較に基く選択信号に応じて、利得関数
信号発生手段は線形範囲にある一対の位置誤差信
号の振幅を組合わせる様に動作する。
であるが、最も望ましいのは、3つの位置誤差信
号のうちの1つが非線形領域にあるとき他の2つ
が常に線形領域にある3相システムである。3つ
の信号の比較に基く選択信号に応じて、利得関数
信号発生手段は線形範囲にある一対の位置誤差信
号の振幅を組合わせる様に動作する。
これは、それぞれ3相の位置誤差信号を受け取
る2つのスイツチング回路を用いると共に、1/4
トラツク幅毎にこれらの信号のうちのどれかを順
次選択して出力として生じさせる様にスイツチン
グ回路を制御する選択論理手段を用いることによ
つて実施可能である。
る2つのスイツチング回路を用いると共に、1/4
トラツク幅毎にこれらの信号のうちのどれかを順
次選択して出力として生じさせる様にスイツチン
グ回路を制御する選択論理手段を用いることによ
つて実施可能である。
これらのスイツチング回路のうちの一方の出力
は合成位置誤差信号であり、その振幅の絶対値を
示す信号は一定の補正信号Kと共に選択回路に与
えられる。選択回路は2つの入力信号のうちの大
きい方を出力として利得関数信号発生手段へ送
り、後者はこの出力を他方のスイツチング手段に
よつて選択された位置誤差信号と組合わせる。こ
うして、補正値は組合わされる信号のうちの一方
の線形度がある程度以上劣化する範囲内でだけ、
供給される。
は合成位置誤差信号であり、その振幅の絶対値を
示す信号は一定の補正信号Kと共に選択回路に与
えられる。選択回路は2つの入力信号のうちの大
きい方を出力として利得関数信号発生手段へ送
り、後者はこの出力を他方のスイツチング手段に
よつて選択された位置誤差信号と組合わせる。こ
うして、補正値は組合わされる信号のうちの一方
の線形度がある程度以上劣化する範囲内でだけ、
供給される。
第1図は磁気デイスク上の2つのデータ・セク
タ11及び12の間にあるサーボ・セクタ10の
フオーマツトを示している。サーボ・セクタ10
は線13及び14で区切られている。サーボ・セ
クタ10及びデータ・セクタ11,12は便宜上
矩形である様に描かれているが、実際にはデイス
ク上の同心円の円弧に沿つて湾曲している。
タ11及び12の間にあるサーボ・セクタ10の
フオーマツトを示している。サーボ・セクタ10
は線13及び14で区切られている。サーボ・セ
クタ10及びデータ・セクタ11,12は便宜上
矩形である様に描かれているが、実際にはデイス
ク上の同心円の円弧に沿つて湾曲している。
各データ・セクタの終りの書込回復フイールド
20は、ユーザー・データを含んでいないが、磁
気ヘツドによつて読取られる信号を処理するため
の読取回路が当該データ・セクタに対するデータ
の書込みによる影響を受けない様になるまでの時
間的余裕を与える。書込回復フイールド20の後
にはマーク・フイールド21がある。マーク・フ
イールド21はサーボ・セクタ10の始まりを示
す様にコード化されている。
20は、ユーザー・データを含んでいないが、磁
気ヘツドによつて読取られる信号を処理するため
の読取回路が当該データ・セクタに対するデータ
の書込みによる影響を受けない様になるまでの時
間的余裕を与える。書込回復フイールド20の後
にはマーク・フイールド21がある。マーク・フ
イールド21はサーボ・セクタ10の始まりを示
す様にコード化されている。
デイスクの回転につれてヘツドが出会う次の領
域は、後で述べる様にヘツドによつて読取られた
信号を自動利得制御回路が標準化することを可能
ならしめるための基準信号を与える利得基準フイ
ールド22である。その後には、先行するマー
ク・フイールド21を確認するためのマーク確認
フイールド23がある。これに続いてインデツク
ス・ビツト24がある。インデツクス・ビツトの
所定値はヘツドがデイスクの同心円に沿う方向の
所定位置にあることを示す。
域は、後で述べる様にヘツドによつて読取られた
信号を自動利得制御回路が標準化することを可能
ならしめるための基準信号を与える利得基準フイ
ールド22である。その後には、先行するマー
ク・フイールド21を確認するためのマーク確認
フイールド23がある。これに続いてインデツク
ス・ビツト24がある。インデツクス・ビツトの
所定値はヘツドがデイスクの同心円に沿う方向の
所定位置にあることを示す。
インデツクス・ビツト24の後には、デイスク
上のデータ・トラツクの半径方向位置を定めるた
めの位置基準情報を含む3つのフイールド25,
26,27がある。これらのフイールドはC相
(φA)、B相(φB)、A相(φA)の位置基準情報
を含む。この様な3相の位置基準情報は別の3つ
のフイールド28,29,30にも逆の順序で含
まれている。2組の位置基準フイールドの間には
サンプル・エラー・フイールド31がある。
上のデータ・トラツクの半径方向位置を定めるた
めの位置基準情報を含む3つのフイールド25,
26,27がある。これらのフイールドはC相
(φA)、B相(φB)、A相(φA)の位置基準情報
を含む。この様な3相の位置基準情報は別の3つ
のフイールド28,29,30にも逆の順序で含
まれている。2組の位置基準フイールドの間には
サンプル・エラー・フイールド31がある。
サーボ・セクタ10の終りにはガード・ビツト
32及びホーム・ビツト33がある。ガード・ビ
ツト32は当該トラツクが通常利用可能なデー
タ・トラツクの領域内にあるか又はデータ・トラ
ツクの周囲のガード領域内にあるかを示す。ホー
ム・ビツト33は通常ユーザーにとつて利用可能
な複数のデータ・トラツクのうちの1番目のもの
であるホーム・トラツク(トラツク番号0)を示
す様にコード化されている。
32及びホーム・ビツト33がある。ガード・ビ
ツト32は当該トラツクが通常利用可能なデー
タ・トラツクの領域内にあるか又はデータ・トラ
ツクの周囲のガード領域内にあるかを示す。ホー
ム・ビツト33は通常ユーザーにとつて利用可能
な複数のデータ・トラツクのうちの1番目のもの
であるホーム・トラツク(トラツク番号0)を示
す様にコード化されている。
サーボ・セクタ10はホーム・ビツト33にお
いて終り、この後には次のデータ・セクタ12が
続いている。データ・セクタ12は先ず初期設定
及びハウスキーピングのための情報を含んでい
る。
いて終り、この後には次のデータ・セクタ12が
続いている。データ・セクタ12は先ず初期設定
及びハウスキーピングのための情報を含んでい
る。
第2図は第1図のデータ・セクタ及びサーボ・
セクタの1部分を幾分詳しく示している。第2図
に整列している第3図はデータ・トラツク0乃至
3を含む狭い帯域における典型的なサーボ・セク
タの部分の磁化状態を示している。第3図には、
典型的なヘツド40がトラツク1の上にあること
も示されている。第2図及び第3図に対応してい
る第4図は、第3図の磁化パターンがヘツド40
の下を通過するにつれてヘツド40によつて検出
される信号の波形を示している。この波形は重要
な特性を強調する様に理想化されている。実際に
は、ピークは丸みを帯びており、中間の部分も図
示されているほど直線的ではない。
セクタの1部分を幾分詳しく示している。第2図
に整列している第3図はデータ・トラツク0乃至
3を含む狭い帯域における典型的なサーボ・セク
タの部分の磁化状態を示している。第3図には、
典型的なヘツド40がトラツク1の上にあること
も示されている。第2図及び第3図に対応してい
る第4図は、第3図の磁化パターンがヘツド40
の下を通過するにつれてヘツド40によつて検出
される信号の波形を示している。この波形は重要
な特性を強調する様に理想化されている。実際に
は、ピークは丸みを帯びており、中間の部分も図
示されているほど直線的ではない。
第3図において、黒い部分は所定方向(例え
ば、左から右)の磁化を表わし、白い部分は逆方
向の磁化を表わしている。サーボ・セクタ12の
全てのフイールドがこの2つの方向のいずれかに
おいて飽和状態まで磁化されている。
ば、左から右)の磁化を表わし、白い部分は逆方
向の磁化を表わしている。サーボ・セクタ12の
全てのフイールドがこの2つの方向のいずれかに
おいて飽和状態まで磁化されている。
第2図及び第3図から分かる様に、書込回復フ
イールド20、マーク・フイールド21、利得基
準フイールド22、マーク確認フイールド23及
びインデツクス・ビツト24は全て半径方向に延
びる交互に極性の異なつたバーから成つている。
この様なバーはデイスクの利用可能な帯域の内側
から外側まで延びている。これらのフイールドに
応じてヘツドから生じる信号は、一方の極性から
他方の極性へのトランジシヨン42に対応するピ
ークを有する。これらのピークの位置及び極性
は、全てのサーボ・セクタにおいて一定である。
但し、振幅は変化しうる。一方、サンプル・エラ
ー・フイールド31はトラツク毎に異なつてコー
ド化されうる一対のビツトから成る。第3図に示
されている状態のサンプル・エラー・フイールド
31のビツトは位置基準情報が良好であることを
示している。
イールド20、マーク・フイールド21、利得基
準フイールド22、マーク確認フイールド23及
びインデツクス・ビツト24は全て半径方向に延
びる交互に極性の異なつたバーから成つている。
この様なバーはデイスクの利用可能な帯域の内側
から外側まで延びている。これらのフイールドに
応じてヘツドから生じる信号は、一方の極性から
他方の極性へのトランジシヨン42に対応するピ
ークを有する。これらのピークの位置及び極性
は、全てのサーボ・セクタにおいて一定である。
但し、振幅は変化しうる。一方、サンプル・エラ
ー・フイールド31はトラツク毎に異なつてコー
ド化されうる一対のビツトから成る。第3図に示
されている状態のサンプル・エラー・フイールド
31のビツトは位置基準情報が良好であることを
示している。
位置基準フイールド25,26,27は、それ
ぞれ或る極性のバーエレメント43と逆極性のバ
ーエレメント49とが交互に現われるサブセツト
から成る。バーエレメント43及び49はデー
タ・トラツク幅の1.5倍の長さを有する。これら
のサブセツトはデータ・トラツク幅の半分ずつ順
次ずれている。この様な位置基準情報のパターン
は半径方向においてデイスクの利用可能な帯域を
横切つて繰り返されている。相間のずれを明確に
するために、各相について3行のバーエレメント
だけが図示されている。
ぞれ或る極性のバーエレメント43と逆極性のバ
ーエレメント49とが交互に現われるサブセツト
から成る。バーエレメント43及び49はデー
タ・トラツク幅の1.5倍の長さを有する。これら
のサブセツトはデータ・トラツク幅の半分ずつ順
次ずれている。この様な位置基準情報のパターン
は半径方向においてデイスクの利用可能な帯域を
横切つて繰り返されている。相間のずれを明確に
するために、各相について3行のバーエレメント
だけが図示されている。
バーエレメントの行若しくは帯域間の1つおき
の境界線、例えば44,45,46は、対応する
データ・トラツク(この場合、トラツク1,2,
3)の中央線を定めている。各サブセツトにおい
て、同じ極性のバーエレメント43は隣接する他
の行におけるものとは1エレメントの幅だけ円周
方向においてずれている。これによつて、トラン
ジシヨン47,48の様に隣接する2つの行に属
していて整列しているトランジシヨンが同等で逆
極性となるサーボ・パターンが形成される。
の境界線、例えば44,45,46は、対応する
データ・トラツク(この場合、トラツク1,2,
3)の中央線を定めている。各サブセツトにおい
て、同じ極性のバーエレメント43は隣接する他
の行におけるものとは1エレメントの幅だけ円周
方向においてずれている。これによつて、トラン
ジシヨン47,48の様に隣接する2つの行に属
していて整列しているトランジシヨンが同等で逆
極性となるサーボ・パターンが形成される。
従つて、位置基準フイールド25,26,27
のうちのいずれかに関連してヘツド40から生じ
る信号が0レベルのときには、ヘツド40はデー
タ・トラツクの中央線又はデータ・トラツク間の
境界線上に存在する。隣接する3つのデータ・ト
ラツクのうちのどの上にヘツドが存在するかは、
3相の信号のうちのどれが0レベルであるかに依
存している。この例では、トラツク1の中央線に
対応するB相パターンの境界線44がヘツド40
の下を通過するとき、ヘツド40から生じる信号
は第4図の部分51で示されている様に0レベル
になる。C相及びA相パターンがヘツド40の下
を通過するときには、部分52及び53で示され
ている様な波形の信号が発生する。この信号のピ
ーク振幅は、C相及びA相の最も近い行境界線か
ら少なくとも半トラツク幅だけヘツド40が変位
していることを表わしている。即ち、ヘツド40
は行境界線に全く乗つていない。ヘツド40が行
境界線の真上以外の所にある場合、ヘツド40か
ら生じる信号は部分52及び53に類似し、振幅
の異なつた正及び負のピークを含む。
のうちのいずれかに関連してヘツド40から生じ
る信号が0レベルのときには、ヘツド40はデー
タ・トラツクの中央線又はデータ・トラツク間の
境界線上に存在する。隣接する3つのデータ・ト
ラツクのうちのどの上にヘツドが存在するかは、
3相の信号のうちのどれが0レベルであるかに依
存している。この例では、トラツク1の中央線に
対応するB相パターンの境界線44がヘツド40
の下を通過するとき、ヘツド40から生じる信号
は第4図の部分51で示されている様に0レベル
になる。C相及びA相パターンがヘツド40の下
を通過するときには、部分52及び53で示され
ている様な波形の信号が発生する。この信号のピ
ーク振幅は、C相及びA相の最も近い行境界線か
ら少なくとも半トラツク幅だけヘツド40が変位
していることを表わしている。即ち、ヘツド40
は行境界線に全く乗つていない。ヘツド40が行
境界線の真上以外の所にある場合、ヘツド40か
ら生じる信号は部分52及び53に類似し、振幅
の異なつた正及び負のピークを含む。
従つて、信号部分51,52,53におけるピ
ーク振幅はトラツク中央線を基準とする位置誤差
を示すものとして利用可能である。後で第6図及
び第7図を参照しながら詳しく説明する様に、一
層信頼性の高い部分復調技術が用いられ、信号部
分51,52,53は、第5図に示されている様
な3相の位置誤差信号を生じるために、別々に整
流、積分及び利得制御の処理をうける。逆相のフ
イールド28,29,30(第1図)に基く信号
も同様に処理される。
ーク振幅はトラツク中央線を基準とする位置誤差
を示すものとして利用可能である。後で第6図及
び第7図を参照しながら詳しく説明する様に、一
層信頼性の高い部分復調技術が用いられ、信号部
分51,52,53は、第5図に示されている様
な3相の位置誤差信号を生じるために、別々に整
流、積分及び利得制御の処理をうける。逆相のフ
イールド28,29,30(第1図)に基く信号
も同様に処理される。
第5図はトラツク0乃至3に関連してA、B、
C相パターンに基く復調された位置誤差信号A,
B,Cの変化を示している。この変化は周期的で
あり、各相の信号は3トラツク毎に繰り返され
る。位置基準情報を表わすバーエレメント43,
49等の半径方向の幅はヘツド40(及びデー
タ・トラツク)の物理的な幅よりも相当大きいの
で、物理的な幅と縁部磁界との組合わせであるヘ
ツド40の実効幅もバーエレメントの幅よりも十
分に小さい。そのため、ヘツド40は信号の振幅
や線形度をかなり損なう隣接行からのクロストー
クによる影響をほとんど受けない。従つて、結果
として得られる位置誤差信号A,B,Cは特にト
ラツク中央線から±1/4トラツク幅の範囲におい
て非常に線形であり、この範囲を越えてもほぼ線
形である。
C相パターンに基く復調された位置誤差信号A,
B,Cの変化を示している。この変化は周期的で
あり、各相の信号は3トラツク毎に繰り返され
る。位置基準情報を表わすバーエレメント43,
49等の半径方向の幅はヘツド40(及びデー
タ・トラツク)の物理的な幅よりも相当大きいの
で、物理的な幅と縁部磁界との組合わせであるヘ
ツド40の実効幅もバーエレメントの幅よりも十
分に小さい。そのため、ヘツド40は信号の振幅
や線形度をかなり損なう隣接行からのクロストー
クによる影響をほとんど受けない。従つて、結果
として得られる位置誤差信号A,B,Cは特にト
ラツク中央線から±1/4トラツク幅の範囲におい
て非常に線形であり、この範囲を越えてもほぼ線
形である。
各相の位置誤差信号は、前述の範囲を越えて半
トラツク幅の所まで破線60で示されている様に
線形を維持するのが理想である。更に、位置誤差
信号は、ヘツドが1つのバーエレメントの行の境
界線間に完全に入つている次の半トラツク幅の範
囲において一定振幅を維持し、次のトラツク中央
線の所から逆の傾斜をもつ線形の変化を開始する
のが理想である。実際には、縁部磁界の影響によ
り信号は部分61で示されている様に丸くなつて
しまう。マルチヘツド装置における異なつたヘツ
ドはそれらの物理的な幅及び実効幅に応じて異な
つた程度の丸みをもつた信号を生じる。しかしな
がら、前述の様に±1/4トラツク幅の範囲内で十
分に線形である位置誤差信号が得られることが認
められた。但し、異なつたヘツドから得られる信
号は同じ傾斜を有するとは限らない。任意のヘツ
ドに関して、デイスクの半径方向の任意の位置に
おいて3相の位置誤差信号のうちから十分に線形
なものが選択される。
トラツク幅の所まで破線60で示されている様に
線形を維持するのが理想である。更に、位置誤差
信号は、ヘツドが1つのバーエレメントの行の境
界線間に完全に入つている次の半トラツク幅の範
囲において一定振幅を維持し、次のトラツク中央
線の所から逆の傾斜をもつ線形の変化を開始する
のが理想である。実際には、縁部磁界の影響によ
り信号は部分61で示されている様に丸くなつて
しまう。マルチヘツド装置における異なつたヘツ
ドはそれらの物理的な幅及び実効幅に応じて異な
つた程度の丸みをもつた信号を生じる。しかしな
がら、前述の様に±1/4トラツク幅の範囲内で十
分に線形である位置誤差信号が得られることが認
められた。但し、異なつたヘツドから得られる信
号は同じ傾斜を有するとは限らない。任意のヘツ
ドに関して、デイスクの半径方向の任意の位置に
おいて3相の位置誤差信号のうちから十分に線形
なものが選択される。
第6図はデイスクの表面に沿つて複数のヘツド
の位置決めを行うシステムを示している。デイス
ク70は第1図乃至第3図に示されている型のサ
ーボ・セクタ10内に位置基準情報を含む。デイ
スク70はヘツド39及び40のそばで矢印で示
されている方向に回転する。ヘツド39及び40
はそれぞれデイスクの内側領域及び外側領域をカ
バーしており、アーム71に装着されている。ア
ーム71はモータ72によつて所定の軸線を中心
として回転させられる。図示されているヘツド位
置決めシステムの残りの部分は、選択される1つ
のヘツドから得られる信号を処理する信号処理チ
ヤネルである。このチヤネルはサーボ信号とデー
タ信号の両方を処理するものであるが、図示され
ている種々の回路は主としてサーボ信号の処理の
ためのものである。
の位置決めを行うシステムを示している。デイス
ク70は第1図乃至第3図に示されている型のサ
ーボ・セクタ10内に位置基準情報を含む。デイ
スク70はヘツド39及び40のそばで矢印で示
されている方向に回転する。ヘツド39及び40
はそれぞれデイスクの内側領域及び外側領域をカ
バーしており、アーム71に装着されている。ア
ーム71はモータ72によつて所定の軸線を中心
として回転させられる。図示されているヘツド位
置決めシステムの残りの部分は、選択される1つ
のヘツドから得られる信号を処理する信号処理チ
ヤネルである。このチヤネルはサーボ信号とデー
タ信号の両方を処理するものであるが、図示され
ている種々の回路は主としてサーボ信号の処理の
ためのものである。
1つのヘツド、例えばヘツド40から端子73
に生じる信号は線74を介して可変利得増幅器
(VGA)75に与えられる。VGA75から生じ
る信号はフイルタ76においてノイズの除去を受
けた後、再び増幅されてからゼロ交差検出器78
及び復調器80へ送られる。後で第8図を参照し
て詳しく述べる復調器の基本的な機能は、入力信
号の位置基準情報部分に基いて、第5図に示され
ている様にヘツドのオフトラツク変位につれて直
線的に変化する位置誤差信号を生じることであ
る。但し、復調器80を動作させる前に、サー
ボ・セクタの先頭にあるマーク・フイールド21
を検出することによつて、サーボ・セクタの存在
を確認することが必要である。
に生じる信号は線74を介して可変利得増幅器
(VGA)75に与えられる。VGA75から生じ
る信号はフイルタ76においてノイズの除去を受
けた後、再び増幅されてからゼロ交差検出器78
及び復調器80へ送られる。後で第8図を参照し
て詳しく述べる復調器の基本的な機能は、入力信
号の位置基準情報部分に基いて、第5図に示され
ている様にヘツドのオフトラツク変位につれて直
線的に変化する位置誤差信号を生じることであ
る。但し、復調器80を動作させる前に、サー
ボ・セクタの先頭にあるマーク・フイールド21
を検出することによつて、サーボ・セクタの存在
を確認することが必要である。
再び第3図及び第4図を参照する。他の信号部
分と違うマーク信号部分の特徴は、第4図の波形
における2つの負方向ゼロ交差54間の時間間隔
が独特なことである。更に、マーク信号部分は2
番目の負方向ゼロ交差54から正規の時間間隔を
おいて次の負方向ゼロ交差55を有する。
分と違うマーク信号部分の特徴は、第4図の波形
における2つの負方向ゼロ交差54間の時間間隔
が独特なことである。更に、マーク信号部分は2
番目の負方向ゼロ交差54から正規の時間間隔を
おいて次の負方向ゼロ交差55を有する。
マークは相次ぐ負方向ゼロ交差が正規の時間間
隔で生じるかどうかを監視するマーク検出器81
によつて検出される。ゼロ交差はゼロ交差検出器
78によつて検出される。ゼロ交差検出器78の
出力は負方向ゼロ交差の発生時にレベルを変え、
予定の正の閾値においてリセツトされる。マーク
検出器81は位相同期発振器(PLO)83の出
力に従つて動作する。発振器83の出力は2位置
スイツチ84を介してマーク検出器81に与えら
れる。2位置スイツチ84は、各セクタの開始の
直前にデコーダ91から生じるマーク検出実行信
号に応じて発振器83の出力をマーク検出器81
へ通過させる。マーク検出器81はマークを検出
するとマーク検出信号を線85に生じる。
隔で生じるかどうかを監視するマーク検出器81
によつて検出される。ゼロ交差はゼロ交差検出器
78によつて検出される。ゼロ交差検出器78の
出力は負方向ゼロ交差の発生時にレベルを変え、
予定の正の閾値においてリセツトされる。マーク
検出器81は位相同期発振器(PLO)83の出
力に従つて動作する。発振器83の出力は2位置
スイツチ84を介してマーク検出器81に与えら
れる。2位置スイツチ84は、各セクタの開始の
直前にデコーダ91から生じるマーク検出実行信
号に応じて発振器83の出力をマーク検出器81
へ通過させる。マーク検出器81はマークを検出
するとマーク検出信号を線85に生じる。
マーク検出器81の構成は第7図に示されてい
る。ゼロ交差検出器78から発生するゼロ交差信
号は線120に現われ、発振器83の出力はスイ
ツチ84を通つて線121に現われる。ゼロ交差
信号はシングルシヨツト122及びアンド回路1
23−2に与えられる。シングルシヨツト122
は負方向ゼロ交差によつてトリガーされる。発振
器83の出力は計数器124を働かせる。デコー
ダ125は計数器124の計数値に応じて一連の
ゲート信号を生じる。これらのゲート信号のうち
の2つは、マーク信号部分の最初の2つの負方向
ゼロ交差54(第4図)に対応するシングルシヨ
ツト122の出力パルスに従つて一対のラツチ1
26b及び126cをセツトすることを可能なら
しめる様にアンド回路123−3及び123−4
を付勢する。別のゲート信号は、マーク信号部分
の2つの負方向ゼロ交差54間にゼロ交差がない
ことを確認するために、線120における高レベ
ルのゼロ交差信号に従つてラツチ126aをセツ
トすることを可能ならしめる様にアンド回路12
3−2を付勢する。もう1つのアンド回路123
−1は、ラツチ126a乃至126cが全てセツ
トされうる時間の後で負方向ゼロ交差に応じたシ
ングルシヨツト122の出力パルスをアンド回路
127へ通過させる様に他のゲート信号によつて
付勢される。アンド回路127は4つの入力信号
が全て存在するときマーク検出信号を生じる。残
りのアンド回路129,130及びオア回路12
8は、マーク信号部分の負方向ゼロ交差発生パタ
ーンに合致しない負方向ゼロ交差の発生及びマー
クが検出された後の利得基準フイールドに基く信
号の負方向ゼロ交差の発生に応じて計数器124
及びラツチ126a乃至126cをリセツトする
ために設けられている。
る。ゼロ交差検出器78から発生するゼロ交差信
号は線120に現われ、発振器83の出力はスイ
ツチ84を通つて線121に現われる。ゼロ交差
信号はシングルシヨツト122及びアンド回路1
23−2に与えられる。シングルシヨツト122
は負方向ゼロ交差によつてトリガーされる。発振
器83の出力は計数器124を働かせる。デコー
ダ125は計数器124の計数値に応じて一連の
ゲート信号を生じる。これらのゲート信号のうち
の2つは、マーク信号部分の最初の2つの負方向
ゼロ交差54(第4図)に対応するシングルシヨ
ツト122の出力パルスに従つて一対のラツチ1
26b及び126cをセツトすることを可能なら
しめる様にアンド回路123−3及び123−4
を付勢する。別のゲート信号は、マーク信号部分
の2つの負方向ゼロ交差54間にゼロ交差がない
ことを確認するために、線120における高レベ
ルのゼロ交差信号に従つてラツチ126aをセツ
トすることを可能ならしめる様にアンド回路12
3−2を付勢する。もう1つのアンド回路123
−1は、ラツチ126a乃至126cが全てセツ
トされうる時間の後で負方向ゼロ交差に応じたシ
ングルシヨツト122の出力パルスをアンド回路
127へ通過させる様に他のゲート信号によつて
付勢される。アンド回路127は4つの入力信号
が全て存在するときマーク検出信号を生じる。残
りのアンド回路129,130及びオア回路12
8は、マーク信号部分の負方向ゼロ交差発生パタ
ーンに合致しない負方向ゼロ交差の発生及びマー
クが検出された後の利得基準フイールドに基く信
号の負方向ゼロ交差の発生に応じて計数器124
及びラツチ126a乃至126cをリセツトする
ために設けられている。
マークが真正なものであれば、それから所定時
間後に2ビツトのマーク確認フイールド23が現
われることになる。これらのビツトは第3図及び
第4図に示されている様に逆の位相関係を有す
る。復調器80はマークの検出から所定時間後に
マーク確認フイールド23に基く2つの制御ビツ
トを生じてシフトレジスタ87に送り込む。これ
らの制御ビツトが所定の位相反転関係を示すなら
ば、デコーダ88は線89にマーク確認信号を生
じる。
間後に2ビツトのマーク確認フイールド23が現
われることになる。これらのビツトは第3図及び
第4図に示されている様に逆の位相関係を有す
る。復調器80はマークの検出から所定時間後に
マーク確認フイールド23に基く2つの制御ビツ
トを生じてシフトレジスタ87に送り込む。これ
らの制御ビツトが所定の位相反転関係を示すなら
ば、デコーダ88は線89にマーク確認信号を生
じる。
発振器83は通常の態様で位相同期信号に同期
する。発振出力は計数器90を働かせ、その計数
値はデコーダ91によつて解読される。デコーダ
91はシステムの種々の動作のタイミングを制御
するための種々の信号を母線92に生じる。これ
らの信号のうちの1つは線94を介してスイツチ
84へ送られるマーク検出実行信号である。線9
4に生じる信号はマーク確認信号との位相比較の
ために発振器83にフイードバツクされる。発振
器83は2つの信号の位相差に応じて周波数を変
える。発振器83は種々の目的のための安定した
出力を生じなければならないので、位相シフトに
対する応答は比較的遅い。従つて、発振出力は周
波数の点ではマーク確認信号に同期するが、位相
の点では常に同相であるとは限らない。結局、発
振出力は、復調器80による利得及び位置基準情
報の同期復調のタイミングをとるために用いられ
るほど十分正確に各セクタの信号と同相にならな
いことがある。
する。発振出力は計数器90を働かせ、その計数
値はデコーダ91によつて解読される。デコーダ
91はシステムの種々の動作のタイミングを制御
するための種々の信号を母線92に生じる。これ
らの信号のうちの1つは線94を介してスイツチ
84へ送られるマーク検出実行信号である。線9
4に生じる信号はマーク確認信号との位相比較の
ために発振器83にフイードバツクされる。発振
器83は2つの信号の位相差に応じて周波数を変
える。発振器83は種々の目的のための安定した
出力を生じなければならないので、位相シフトに
対する応答は比較的遅い。従つて、発振出力は周
波数の点ではマーク確認信号に同期するが、位相
の点では常に同相であるとは限らない。結局、発
振出力は、復調器80による利得及び位置基準情
報の同期復調のタイミングをとるために用いられ
るほど十分正確に各セクタの信号と同相にならな
いことがある。
そのため、必要に応じて始動及び停止の可能な
別の発振器95が設けられている。データ・セク
タの読取中、発振器95は、スイツチ84を介し
て伝えられる位相同期発振器83の出力を分周器
96において分周したものを受けとり、それに同
期する。線94にマーク検出実行信号が発生する
と、スイツチ84の操作により、同期化のための
信号は供給されなくなり、発振器95は動作を停
止する。
別の発振器95が設けられている。データ・セク
タの読取中、発振器95は、スイツチ84を介し
て伝えられる位相同期発振器83の出力を分周器
96において分周したものを受けとり、それに同
期する。線94にマーク検出実行信号が発生する
と、スイツチ84の操作により、同期化のための
信号は供給されなくなり、発振器95は動作を停
止する。
マーク検出器81はマークを検出するとマーク
検出信号を生じ、それによつて発振器95を当該
サーボ・セクタと厳密に同相な状態で再始動させ
る。その後、発振器95は前に同期化された周波
数で自走し、復調クロツク信号(第9図)と呼ぱ
れるパルスの列を生じる。この信号は復調器80
に与えられ、且つマーク検出信号と共にプログラ
マブル読出専用記憶装置(PROM)97にも与
えられる。PROM97は復調器80の同期復調
動作を制御するための種々の選択信号(第9図)
を生じる。これから復調器80の回路構成を示す
第8図及び種々の信号の波形を示す第5図、第9
図、第10図を参照しながら同期復調動作につい
て説明する。
検出信号を生じ、それによつて発振器95を当該
サーボ・セクタと厳密に同相な状態で再始動させ
る。その後、発振器95は前に同期化された周波
数で自走し、復調クロツク信号(第9図)と呼ぱ
れるパルスの列を生じる。この信号は復調器80
に与えられ、且つマーク検出信号と共にプログラ
マブル読出専用記憶装置(PROM)97にも与
えられる。PROM97は復調器80の同期復調
動作を制御するための種々の選択信号(第9図)
を生じる。これから復調器80の回路構成を示す
第8図及び種々の信号の波形を示す第5図、第9
図、第10図を参照しながら同期復調動作につい
て説明する。
第8図において、乗算器152への線150に
おける線形入力信号は第6図の増幅器77の出力
である。発振器95から生じる復調クロツク信号
も線154を介して乗算器152に与えられる。
第9図には典型的な復調クロツク信号波形250
及び線150の入力信号の典型的な部分263が
示されている。復調クロツク信号と入力信号部分
263との乗算により、後者を整流したものに相
当する波形264が得られる。
おける線形入力信号は第6図の増幅器77の出力
である。発振器95から生じる復調クロツク信号
も線154を介して乗算器152に与えられる。
第9図には典型的な復調クロツク信号波形250
及び線150の入力信号の典型的な部分263が
示されている。復調クロツク信号と入力信号部分
263との乗算により、後者を整流したものに相
当する波形264が得られる。
乗算器152の出力は、第6図のPROM97
の出力線に対応している線156乃至164に生
じる選択信号の制御の下にマルチプレクサ155
の複数の出力線のうちの1つへ送られる。線15
6乃至164の信号は波形251乃至259とし
て示されている。このうち線156乃至163の
信号は順次2つずつ対になつており、各対は積分
すべき整流セクタ信号の部分を指示している。
の出力線に対応している線156乃至164に生
じる選択信号の制御の下にマルチプレクサ155
の複数の出力線のうちの1つへ送られる。線15
6乃至164の信号は波形251乃至259とし
て示されている。このうち線156乃至163の
信号は順次2つずつ対になつており、各対は積分
すべき整流セクタ信号の部分を指示している。
この例の場合、線158及び159のSA0及び
SA1信号(第9図の波形258及び259)は、
同じ時間に乗算器152に与えられる線形入力信
号263がA相(φA)の位置基準情報27に基
くものであることを示している。従つて、マルチ
プレクサ155は整流入力264をA相のための
積分器へ導く。この積分器は相次ぐサイクルにお
いて積分を行い、波形265の出力を生じる。第
2のA相フイールド28に基く信号も同様に積分
される。両積分出力の和は当該セクタにおけるA
相位置基準情報によつて定められる基準位置から
のヘツドのずれを表わしている。この積分出力の
和は第5図の波形A上の点に対応している。
SA1信号(第9図の波形258及び259)は、
同じ時間に乗算器152に与えられる線形入力信
号263がA相(φA)の位置基準情報27に基
くものであることを示している。従つて、マルチ
プレクサ155は整流入力264をA相のための
積分器へ導く。この積分器は相次ぐサイクルにお
いて積分を行い、波形265の出力を生じる。第
2のA相フイールド28に基く信号も同様に積分
される。両積分出力の和は当該セクタにおけるA
相位置基準情報によつて定められる基準位置から
のヘツドのずれを表わしている。この積分出力の
和は第5図の波形A上の点に対応している。
A相積分出力を生じるための積分器はマルチプ
レクサ155の出力段内の電流源によつて充電さ
れるコンデンサ170を含む。電圧ホロワ171
はコンデンサ170の電圧のためのバツフアとし
て働く。積分器はサンプルの間でスイツチ173
によつてリセツトされる。スイツチ173を作動
する線172のリセツト信号は第6図のPROM
97から発生するものであり、マーク検出信号を
反転したものに相当する。B相及びC相位置基準
情報に基く信号を積分して第5図の波形B及びC
上の点に対応する位置誤差信号を生じるためにコ
ンデンサ170に類似したコンデンサ174及び
175が用いられている。コンデンサ174へ整
流入力を導くためのSB0及びSB1信号は第9図に
波形256及び257として示されており、コン
デンサ175へ整流入力を導くためのSC0及び
SC1信号は波形254及び255として示されて
いる。
レクサ155の出力段内の電流源によつて充電さ
れるコンデンサ170を含む。電圧ホロワ171
はコンデンサ170の電圧のためのバツフアとし
て働く。積分器はサンプルの間でスイツチ173
によつてリセツトされる。スイツチ173を作動
する線172のリセツト信号は第6図のPROM
97から発生するものであり、マーク検出信号を
反転したものに相当する。B相及びC相位置基準
情報に基く信号を積分して第5図の波形B及びC
上の点に対応する位置誤差信号を生じるためにコ
ンデンサ170に類似したコンデンサ174及び
175が用いられている。コンデンサ174へ整
流入力を導くためのSB0及びSB1信号は第9図に
波形256及び257として示されており、コン
デンサ175へ整流入力を導くためのSC0及び
SC1信号は波形254及び255として示されて
いる。
線形入力信号は位置基準情報の外にフイールド
22からの利得基準情報を含む。この利得基準情
報も乗算器152において整流される。即ち、入
力信号の対応する部分と復調クロツク信号との乗
算によつて整流処理が行われる。SG0及びSG1信
号は整流された信号をマルチプレクサ155の出
力線101にHF利得信号として生じさせる。
22からの利得基準情報を含む。この利得基準情
報も乗算器152において整流される。即ち、入
力信号の対応する部分と復調クロツク信号との乗
算によつて整流処理が行われる。SG0及びSG1信
号は整流された信号をマルチプレクサ155の出
力線101にHF利得信号として生じさせる。
利得基準情報に対応する信号は第8図の回路で
は積分されない。整流された利得信号であるHF
利得信号は線101を介して比較器102(第6
図)へ送られて、後で述べる様に積分される。
は積分されない。整流された利得信号であるHF
利得信号は線101を介して比較器102(第6
図)へ送られて、後で述べる様に積分される。
マーク確認に関する制御情報(フイールド2
3)は予定の時間間隔をもつた一連のトランジシ
ヨンのシーケンスを生じる。該当する信号部分
は、ST信号(第9図の波形253)によつて選
択されて、乗算器152において復調クロツク信
号と掛け合わされる。トランジシヨン間の時間間
隔は、対応する出力パルスの極性が乗算によつて
変えられない様に定められている。出力パルスは
記録されている制御ビツトの値に応じた正又は負
のパルスである。各出力パルスはコンデンサ17
9によつて積分される。コンデンサ179の電圧
は制御ビツトの値に応じて正又は負になり、比較
器180において接地レベルと比較される。比較
器180の出力は線181を介してシフトレジス
タ87(第6図)へ送られる。コンデンサ179
は線164のST信号が負になるときリセツトさ
れる。
3)は予定の時間間隔をもつた一連のトランジシ
ヨンのシーケンスを生じる。該当する信号部分
は、ST信号(第9図の波形253)によつて選
択されて、乗算器152において復調クロツク信
号と掛け合わされる。トランジシヨン間の時間間
隔は、対応する出力パルスの極性が乗算によつて
変えられない様に定められている。出力パルスは
記録されている制御ビツトの値に応じた正又は負
のパルスである。各出力パルスはコンデンサ17
9によつて積分される。コンデンサ179の電圧
は制御ビツトの値に応じて正又は負になり、比較
器180において接地レベルと比較される。比較
器180の出力は線181を介してシフトレジス
タ87(第6図)へ送られる。コンデンサ179
は線164のST信号が負になるときリセツトさ
れる。
3つの位置誤差信号A,B,Cの処理について
説明を続けるにあたつて、これらの信号はそれぞ
れゼロ交差点を中心として±1/4トラツク幅の範
囲内で正確に線形であることが思い起こされる
(第5図)。結局、ヘツドがどの位置にあつても、
3相の信号のうちの1つを線形信号として選択で
きる。第5図において波形62として示されてい
る合成された線形位置誤差信号、即ち線形PES信
号は、切り替え可能な電圧フオロワ190におい
て、3相の位置誤差信号に基いて生成される。
説明を続けるにあたつて、これらの信号はそれぞ
れゼロ交差点を中心として±1/4トラツク幅の範
囲内で正確に線形であることが思い起こされる
(第5図)。結局、ヘツドがどの位置にあつても、
3相の信号のうちの1つを線形信号として選択で
きる。第5図において波形62として示されてい
る合成された線形位置誤差信号、即ち線形PES信
号は、切り替え可能な電圧フオロワ190におい
て、3相の位置誤差信号に基いて生成される。
電圧フオロワ190の切り替えは、論理回路1
93の出力線191及び192に生じるLINA及
びLINB信号(第10図)によつて制御される。
論理回路193は線形PES信号を生成するために
電圧フオロワ(VF)190を制御する外に第1
0図に示されている様なPESビツト1、PESビツ
ト2及びPES反転と名付けられた信号も生じる。
PESビツト1及びPESビツト2信号は、任意の位
置において3つのトラツクのどれから線形PES信
号が得られているかを表わすものである。PES反
転信号は線形PES信号の傾斜が正及び負のいずれ
であるかを表わしている。これらの信号は線形
PES信号に関連して3つのトラツクを含む広い範
囲内のヘツドの位置を判定するのに十分な情報を
含んでいる。
93の出力線191及び192に生じるLINA及
びLINB信号(第10図)によつて制御される。
論理回路193は線形PES信号を生成するために
電圧フオロワ(VF)190を制御する外に第1
0図に示されている様なPESビツト1、PESビツ
ト2及びPES反転と名付けられた信号も生じる。
PESビツト1及びPESビツト2信号は、任意の位
置において3つのトラツクのどれから線形PES信
号が得られているかを表わすものである。PES反
転信号は線形PES信号の傾斜が正及び負のいずれ
であるかを表わしている。これらの信号は線形
PES信号に関連して3つのトラツクを含む広い範
囲内のヘツドの位置を判定するのに十分な情報を
含んでいる。
但し、通常のトラツク追従動作中は、この様な
広い範囲を対象としてヘツドの位置を定める必要
はなく、線形PES信号は第6図の位相補償器99
へ直接送られる。位相補償器99の出力は駆動増
幅器100に与えられる。駆動増幅器100は線
形PES信号を0にする向きにヘツド位置決め用の
モータ72を駆動する。
広い範囲を対象としてヘツドの位置を定める必要
はなく、線形PES信号は第6図の位相補償器99
へ直接送られる。位相補償器99の出力は駆動増
幅器100に与えられる。駆動増幅器100は線
形PES信号を0にする向きにヘツド位置決め用の
モータ72を駆動する。
再び第8図を参照する。論理回路193の入力
は4つの比較器194乃至197から与えられ
る。比較器194,195,196は、それぞれ
3つの位置誤差信号のうちの2つを比較して、A
>B、B>C、C>Aの関係があるかどうかを判
断する。この比較結果を示す波形は第10図に示
されている。もう1つの比較器197は線形PES
信号が0レベルより大であるかどうかを判断した
結果を表わす信号を生じる。この信号の波形も第
10図に示されている。
は4つの比較器194乃至197から与えられ
る。比較器194,195,196は、それぞれ
3つの位置誤差信号のうちの2つを比較して、A
>B、B>C、C>Aの関係があるかどうかを判
断する。この比較結果を示す波形は第10図に示
されている。もう1つの比較器197は線形PES
信号が0レベルより大であるかどうかを判断した
結果を表わす信号を生じる。この信号の波形も第
10図に示されている。
論理回路193はこれらの入力信号に基いて第
10図に示されている様な出力信号を生じる。即
ち、PES反転、PESビツト1、PESビツト2、
LINA、LINB、X及びYと名付けられた信号が
発生する。これらの信号と位置誤差信号との関係
は第10図から明らかである。X及びY信号は線
198及び199に現われ、後で述べる様にもう
1つの電圧フオロワ200を制御する。
10図に示されている様な出力信号を生じる。即
ち、PES反転、PESビツト1、PESビツト2、
LINA、LINB、X及びYと名付けられた信号が
発生する。これらの信号と位置誤差信号との関係
は第10図から明らかである。X及びY信号は線
198及び199に現われ、後で述べる様にもう
1つの電圧フオロワ200を制御する。
位置誤差信号の有効性に関する検査は加算器2
05及び検出器206によつて行われる。理想的
な状態では、位置誤差信号A,B,Cの和はヘツ
ドの位置に拘りなく0になる。加算器205は3
つの信号の和を表わす信号を生じる。この検出は
信号器206において0ボルトを中心とする電圧
枠と比較される。信号レベルが電圧枠内にあれ
ば、検出器206はPES有効信号を生じる。PES
有効信号が発生しないことは、記録媒体における
位置基準情報に欠陥があることを示す。
05及び検出器206によつて行われる。理想的
な状態では、位置誤差信号A,B,Cの和はヘツ
ドの位置に拘りなく0になる。加算器205は3
つの信号の和を表わす信号を生じる。この検出は
信号器206において0ボルトを中心とする電圧
枠と比較される。信号レベルが電圧枠内にあれ
ば、検出器206はPES有効信号を生じる。PES
有効信号が発生しないことは、記録媒体における
位置基準情報に欠陥があることを示す。
第6図及び第8図に示されている回路の残りの
部分はHF利得信号及び利得H/L信号によつて
可変利得増幅器75の利得を自動的に制御するこ
とに関するものである。
部分はHF利得信号及び利得H/L信号によつて
可変利得増幅器75の利得を自動的に制御するこ
とに関するものである。
第6図の回路において、ヘツドの全幅応答は
HF利得信号によつて示される。前述の様に、こ
の信号は位置基準情報の前にある利得基準情報
(フイールド22)に基いている。利得基準情報
を示す交互に極性の異なる半径方向バー41(第
3図)は半径方向において切断されていないので
ヘツドの出力は全幅応答を示す。HF利得信号と
しての電流は比較器102において線103の基
準電流と比較される。そのために、両電流はスイ
ツチ105を介して積分コンデンサ104に与え
られる。スイツチ105はヘツドによる位置基準
情報の検出に対応する時間に線98に生じる利得
調節実行信号によつて閉じられる。2つの電流の
差に応じてコンデンサ104が充電される。コン
デンサ104の電圧はR−Cフイルタを介して可
変利得増幅器75の利得を制御する様に用いられ
る。即ち、ヘツド74から線74に与えられる信
号の振幅を正規化する様に制御が行われる。線1
01及び比較器102によつて形成されているフ
イードバツク・ループは同一セクタ内で達成すべ
き自動利得制御のための十分に高い帯域(2000乃
至3000ヘルツ程度)の高周波利得制御ループであ
る。
HF利得信号によつて示される。前述の様に、こ
の信号は位置基準情報の前にある利得基準情報
(フイールド22)に基いている。利得基準情報
を示す交互に極性の異なる半径方向バー41(第
3図)は半径方向において切断されていないので
ヘツドの出力は全幅応答を示す。HF利得信号と
しての電流は比較器102において線103の基
準電流と比較される。そのために、両電流はスイ
ツチ105を介して積分コンデンサ104に与え
られる。スイツチ105はヘツドによる位置基準
情報の検出に対応する時間に線98に生じる利得
調節実行信号によつて閉じられる。2つの電流の
差に応じてコンデンサ104が充電される。コン
デンサ104の電圧はR−Cフイルタを介して可
変利得増幅器75の利得を制御する様に用いられ
る。即ち、ヘツド74から線74に与えられる信
号の振幅を正規化する様に制御が行われる。線1
01及び比較器102によつて形成されているフ
イードバツク・ループは同一セクタ内で達成すべ
き自動利得制御のための十分に高い帯域(2000乃
至3000ヘルツ程度)の高周波利得制御ループであ
る。
前に第11図を参照して述べた様に、この様な
通常の自動利得制御はヘツド毎のオフトラツク応
答の変動を修正できず、場合によつては更に悪化
させる。オフトラツク応答は特定のヘツドがトラ
ツクの中心線から外れているときの位置誤差信号
の利得若しくは傾斜である。
通常の自動利得制御はヘツド毎のオフトラツク応
答の変動を修正できず、場合によつては更に悪化
させる。オフトラツク応答は特定のヘツドがトラ
ツクの中心線から外れているときの位置誤差信号
の利得若しくは傾斜である。
オフトラツク利得の過度の変動は過度の修正又
は不十分な修正をもたらし、ヘツドを所望のトラ
ツクの上に正確に位置決めしてオフトラツク変位
を減少させるために最も高いトラツク追従ループ
利得を必要とする高密度トラツク追従サーボ・シ
ステムでは安定度が損なわれる。又、オフトラツ
ク利得の変動は、欧州公開特許出願第13326号に
示されている様なトラツク・アクセス・サーボ・
システムにおいても問題を生じる。このサーボ・
システムにおいては、標本化された位置誤差信号
と連続的に得られるモデル位置誤差信号とが比較
される。標本化された位置誤差信号は異なつたデ
イスク面に関連している複数のヘツドのうちのど
れによつて得られた信号に基いているかに拘りな
く線形であり且つほぼ一定のオフトラツク利得を
有することが重要である。
は不十分な修正をもたらし、ヘツドを所望のトラ
ツクの上に正確に位置決めしてオフトラツク変位
を減少させるために最も高いトラツク追従ループ
利得を必要とする高密度トラツク追従サーボ・シ
ステムでは安定度が損なわれる。又、オフトラツ
ク利得の変動は、欧州公開特許出願第13326号に
示されている様なトラツク・アクセス・サーボ・
システムにおいても問題を生じる。このサーボ・
システムにおいては、標本化された位置誤差信号
と連続的に得られるモデル位置誤差信号とが比較
される。標本化された位置誤差信号は異なつたデ
イスク面に関連している複数のヘツドのうちのど
れによつて得られた信号に基いているかに拘りな
く線形であり且つほぼ一定のオフトラツク利得を
有することが重要である。
第6図の回路は比較器102に与える線103
の基準電流を補正することによつてオフトラツク
利得に関する問題を解決している。補正量は復調
器80において発生するLF利得信号と付加的な
フイードフオワード若しくは予測的入力に依存し
ている。
の基準電流を補正することによつてオフトラツク
利得に関する問題を解決している。補正量は復調
器80において発生するLF利得信号と付加的な
フイードフオワード若しくは予測的入力に依存し
ている。
LF利得信号は第8図に示されている様な回路
構成によつて得られる。本質的にLF利得信号は
トラツク幅変位当りの線形PES信号の変位率若し
くは傾斜、即ちオフトラツク利得の値を表わして
おり、特定のヘツドの幅とはほとんど関係がな
い。位置誤差信号A,B,Cの選択された部分を
組合わせることによつて、任意の信号にあるヘツ
ドに関して、この様な値に近似する信号が得られ
る。個々のヘツドの幅に関する情報を予め記憶し
ておいて、それを用いることによつて、近似の正
確度を一層増すことができる。LF利得信号の波
形は第5図の63によつて示されている。
構成によつて得られる。本質的にLF利得信号は
トラツク幅変位当りの線形PES信号の変位率若し
くは傾斜、即ちオフトラツク利得の値を表わして
おり、特定のヘツドの幅とはほとんど関係がな
い。位置誤差信号A,B,Cの選択された部分を
組合わせることによつて、任意の信号にあるヘツ
ドに関して、この様な値に近似する信号が得られ
る。個々のヘツドの幅に関する情報を予め記憶し
ておいて、それを用いることによつて、近似の正
確度を一層増すことができる。LF利得信号の波
形は第5図の63によつて示されている。
LF信号の発生の説明にあたつて、第5図の3
つの位置誤差信号A,B,Cの特性について考察
しておくことにする。これらの信号が破線60で
示される理想的な波形を有するならば、各信号の
頂上平坦部の振幅はヘツドがトラツク中央から半
トラツク幅だけ変位したときの位置誤差信号のレ
ベルTw/2を表わしている。この場合、任意の
ヘツド位置において3つの信号のうちの1つは常
に最高レベルになる筈であるから、所望の測定は
単に適当な相の一定信号を選択し、必要に応じて
それを反転することによつて達成される。
つの位置誤差信号A,B,Cの特性について考察
しておくことにする。これらの信号が破線60で
示される理想的な波形を有するならば、各信号の
頂上平坦部の振幅はヘツドがトラツク中央から半
トラツク幅だけ変位したときの位置誤差信号のレ
ベルTw/2を表わしている。この場合、任意の
ヘツド位置において3つの信号のうちの1つは常
に最高レベルになる筈であるから、所望の測定は
単に適当な相の一定信号を選択し、必要に応じて
それを反転することによつて達成される。
ところで、実際には第5図において実線で示さ
れている様に信号A,B,Cはピーク付近におい
て丸みを帯びており、非線形である。それにも拘
らず、任意のヘツド位置においてTw/2の値を
得ることができる。それは、3つの信号A,B,
Cのうちから比較的線形のものを2つ選択して加
え合わせることによつて行われる。例えば、第5
図において64で示されている1/4トラツク幅の
位置においては、信号A及びBの方が信号Cより
も線形である。それぞれTw/4に等しい信号A
及びBの振幅を加え合わせることによつて波形6
3上の点65によつて示される適正な値Tw/2
が得られる。1/4トラツク幅の位置以外の位置で
は、2つの信号のうちの一方は線形範囲から逸脱
するので、2つの信号の振幅を加えて得られる値
は、それほど正確ではなくなる。正確度はオント
ラツク位置においては最低になる。比較的線形な
2つの信号の和の軌跡は図示されている様に波形
63の曲線部分66と破線部分67を含む。
れている様に信号A,B,Cはピーク付近におい
て丸みを帯びており、非線形である。それにも拘
らず、任意のヘツド位置においてTw/2の値を
得ることができる。それは、3つの信号A,B,
Cのうちから比較的線形のものを2つ選択して加
え合わせることによつて行われる。例えば、第5
図において64で示されている1/4トラツク幅の
位置においては、信号A及びBの方が信号Cより
も線形である。それぞれTw/4に等しい信号A
及びBの振幅を加え合わせることによつて波形6
3上の点65によつて示される適正な値Tw/2
が得られる。1/4トラツク幅の位置以外の位置で
は、2つの信号のうちの一方は線形範囲から逸脱
するので、2つの信号の振幅を加えて得られる値
は、それほど正確ではなくなる。正確度はオント
ラツク位置においては最低になる。比較的線形な
2つの信号の和の軌跡は図示されている様に波形
63の曲線部分66と破線部分67を含む。
オントラツク位置はトラツク追従動作中にヘツ
ドが位置決めされる可能性が最も高い位置である
から、この付近における不正確性を排除すること
が重要である。これはトラツク中心線に近い領域
において2つの信号の振幅関数に定数Kを加える
ことによつて達成される。
ドが位置決めされる可能性が最も高い位置である
から、この付近における不正確性を排除すること
が重要である。これはトラツク中心線に近い領域
において2つの信号の振幅関数に定数Kを加える
ことによつて達成される。
LF利得信号を生じるための一方の成分は電圧
フオロワ200において生成される。電圧フオロ
ワ200は線198及び199におけるX及びY
信号に応じて1/4トラツク幅毎に信号A,B,C
のうちの1つを出力として生じる。選択される信
号は1/4トラツク幅の範囲において比較的線形な
2つの信号のうちの大きい方である。電圧フオロ
ワ200の出力の波形は第5図の1番下に示され
ている。この出力は整流器207に与えられ、負
の部分は破線で示されている様に反転され、結
局、上側のエンベロープ68で示される波形の信
号となる。この信号は加算器208へ送られる。
フオロワ200において生成される。電圧フオロ
ワ200は線198及び199におけるX及びY
信号に応じて1/4トラツク幅毎に信号A,B,C
のうちの1つを出力として生じる。選択される信
号は1/4トラツク幅の範囲において比較的線形な
2つの信号のうちの大きい方である。電圧フオロ
ワ200の出力の波形は第5図の1番下に示され
ている。この出力は整流器207に与えられ、負
の部分は破線で示されている様に反転され、結
局、上側のエンベロープ68で示される波形の信
号となる。この信号は加算器208へ送られる。
LF利得信号のもう1つの成分は電圧フオロワ
190から生じる線形PES信号(第5図の波形6
2)から得られる。線形PES信号は整流器209
によつて整流される。もし整流後の信号を波形6
8で示される整流器209からの信号にそのまま
加えるならば、第5図の一番上に示されている破
線の部分67を含む様な信号が得られる。しかし
ながら、この部分67を排除するために、整流器
209の出力は選択回路211において端子21
0に与えられる補正電圧Kと組み合わされる。選
択回路211は線形PES信号と電圧Kとの大きい
方を選択して出力として生じる。この出力は波形
69を有し、加算器208に与えられる。この様
にして、結合される信号のうちの一方の非線形度
が所定値を越える範囲においてだけ補正信号が与
えられるのである。
190から生じる線形PES信号(第5図の波形6
2)から得られる。線形PES信号は整流器209
によつて整流される。もし整流後の信号を波形6
8で示される整流器209からの信号にそのまま
加えるならば、第5図の一番上に示されている破
線の部分67を含む様な信号が得られる。しかし
ながら、この部分67を排除するために、整流器
209の出力は選択回路211において端子21
0に与えられる補正電圧Kと組み合わされる。選
択回路211は線形PES信号と電圧Kとの大きい
方を選択して出力として生じる。この出力は波形
69を有し、加算器208に与えられる。この様
にして、結合される信号のうちの一方の非線形度
が所定値を越える範囲においてだけ補正信号が与
えられるのである。
波形68及び69で示される2つの信号は加算
器208において加算されて波形63で示される
LF利得信号になる。LF利得信号は比較器212
において基準電圧Rと比較される。比較器212
はLF利得信号が基準電圧より高いか低いかを表
わす2進出力(利得H/L信号)を生じる。
器208において加算されて波形63で示される
LF利得信号になる。LF利得信号は比較器212
において基準電圧Rと比較される。比較器212
はLF利得信号が基準電圧より高いか低いかを表
わす2進出力(利得H/L信号)を生じる。
利得H/L信号は、前述の様に全てのヘツドの
オフトラツク応答を正規化することを目的として
第3図における線103の基準電流を調節するた
めにフイードバツクされる。このフイードバツ
ク・ループは利得の測定が行われたセクタにおい
て利得を補正するほど十分に高い帯域を持つてい
ないが、その後の複数のセクタにわたつて利得を
補正するのに有利である。
オフトラツク応答を正規化することを目的として
第3図における線103の基準電流を調節するた
めにフイードバツクされる。このフイードバツ
ク・ループは利得の測定が行われたセクタにおい
て利得を補正するほど十分に高い帯域を持つてい
ないが、その後の複数のセクタにわたつて利得を
補正するのに有利である。
利得H/L信号は線110を介してデイジタ
ル・フイルタ111へ送られる。このフイルタ1
11は相次ぐ1及び0のパルスに応じて4ビツ
ト・アツプ・ダウン計数器112のカウントを増
減させる出力を生じる。計数器112のカウント
(4ビツト)は、LF利得を基準電圧源からの基準
電圧に復帰させるのに必要な線103の基準電流
についての補正値を表わしている。カウントは線
114を介してD/A変換器115へ送られ、そ
こで線103へ送り出される電流成分に変換され
る。又、D/A変換器115は基準電圧源113
からの電圧に応じた一定基準電流を線103に送
り出す。
ル・フイルタ111へ送られる。このフイルタ1
11は相次ぐ1及び0のパルスに応じて4ビツ
ト・アツプ・ダウン計数器112のカウントを増
減させる出力を生じる。計数器112のカウント
(4ビツト)は、LF利得を基準電圧源からの基準
電圧に復帰させるのに必要な線103の基準電流
についての補正値を表わしている。カウントは線
114を介してD/A変換器115へ送られ、そ
こで線103へ送り出される電流成分に変換され
る。又、D/A変換器115は基準電圧源113
からの電圧に応じた一定基準電流を線103に送
り出す。
D/A変換器115の他の2つの入力も基準電
流の調節に関係している。この2つの入力は外部
から母線116を介して記憶回路117に与えら
れる情報に基いて得られる。この情報はどのヘツ
ドが選択されているかを示すものである。記憶回
路117は例えば読出専用メモリやマイクロプロ
セツサの1部である。デイスクの内側領域と外側
領域では、ヘツドの浮上高度が異なるので、ヘツ
ドが位置づけられている環状帯域毎にオフトラツ
ク応答に差があることが予測される。選択された
ヘツドが位置づけられている環状帯域はアドレス
の下位のビツトによつて示される。記憶回路11
7はこれらのビツトに応じたデイジタル補正値を
線118に生じる。これもD/A変換器115に
おいて電流の補正のために用いる。この場合、フ
イードバツクは用いられていないので、LF利得
信号に基くフイードバツク制御による補正よりも
迅速な補正が行われる。
流の調節に関係している。この2つの入力は外部
から母線116を介して記憶回路117に与えら
れる情報に基いて得られる。この情報はどのヘツ
ドが選択されているかを示すものである。記憶回
路117は例えば読出専用メモリやマイクロプロ
セツサの1部である。デイスクの内側領域と外側
領域では、ヘツドの浮上高度が異なるので、ヘツ
ドが位置づけられている環状帯域毎にオフトラツ
ク応答に差があることが予測される。選択された
ヘツドが位置づけられている環状帯域はアドレス
の下位のビツトによつて示される。記憶回路11
7はこれらのビツトに応じたデイジタル補正値を
線118に生じる。これもD/A変換器115に
おいて電流の補正のために用いる。この場合、フ
イードバツクは用いられていないので、LF利得
信号に基くフイードバツク制御による補正よりも
迅速な補正が行われる。
ヘツドの幅のばらつきに関しても同様な直接的
補正が行われる。それは、位置誤差信号が丸みを
帯びるのはヘツドの幅に依存しているということ
による。記憶回路117はヘツド・アドレス情報
に応じて、選択されたヘツドの幅に関連したデイ
ジタル補正値をD/A変換器115に通じる線1
19に生じる。この場合も、フイードバツクは用
いられていないので、迅速な補正が行われる。
補正が行われる。それは、位置誤差信号が丸みを
帯びるのはヘツドの幅に依存しているということ
による。記憶回路117はヘツド・アドレス情報
に応じて、選択されたヘツドの幅に関連したデイ
ジタル補正値をD/A変換器115に通じる線1
19に生じる。この場合も、フイードバツクは用
いられていないので、迅速な補正が行われる。
ヘツドの幅に関連した補正値は別のD/A変換
器120にも与えられる。D/A変換器120は
これに応じて3つのアナログ電圧のうちの1つを
電圧Kとして第8図の選択回路211の端子21
0に与える。これによつて利得の正確度が一層向
上する。
器120にも与えられる。D/A変換器120は
これに応じて3つのアナログ電圧のうちの1つを
電圧Kとして第8図の選択回路211の端子21
0に与える。これによつて利得の正確度が一層向
上する。
第1図は本発明に従つて用いられるデイスク上
のサーボ・セクタ及び隣接するデータ・セクタの
1部のフオーマツトを示す図、第2図は第1図の
フオーマツトを部分的に拡大して示す図、第3図
は第2図のフオーマツトを形成する磁化パターン
を示す図、第4図は第3図の磁化パターンに応じ
てヘツドから生じる信号の波形を示す図、第5図
は第4図の信号から得られる3相の位置誤差信号
と第6図の回路において位置及び利得の制御のた
めに用いられる種々の信号の波形を示す図、第6
図は本発明による磁気デイスク装置のヘツド位置
決めシステムを示す図、第7図はマーク検出器の
構成を示す図、第8図は復調器の構成を示す図、
第9図は第8図の復調器8における種々のタイミ
ングの信号及びヘツドからの信号に基く他の信号
の波形を示す図、第10図は第5図に示されてい
るのと同等の位置誤差信号及びそれに関連して第
8図の復調器において得られる種々の論理信号の
波形を示す図、第11図は幅の異なつたヘツドが
用いられる場合に通常の自動利得制御の下で得ら
れる位置誤差信号の傾斜の変動を示す図である。
10……サーボ・セクタ、11及び12……デー
タ・セクタ、25乃至30……位置基準フイール
ド、39及び40……ヘツド、70……デイス
ク、72……モータ、75……可変利得増幅器、
80……復調器、95……発振器、102……比
較器、115……D/A変換器、152……乗算
器、155……マルチプレクサ、193……論理
回路、194乃至196……比較器、190及び
200……電圧フオロワ。
のサーボ・セクタ及び隣接するデータ・セクタの
1部のフオーマツトを示す図、第2図は第1図の
フオーマツトを部分的に拡大して示す図、第3図
は第2図のフオーマツトを形成する磁化パターン
を示す図、第4図は第3図の磁化パターンに応じ
てヘツドから生じる信号の波形を示す図、第5図
は第4図の信号から得られる3相の位置誤差信号
と第6図の回路において位置及び利得の制御のた
めに用いられる種々の信号の波形を示す図、第6
図は本発明による磁気デイスク装置のヘツド位置
決めシステムを示す図、第7図はマーク検出器の
構成を示す図、第8図は復調器の構成を示す図、
第9図は第8図の復調器8における種々のタイミ
ングの信号及びヘツドからの信号に基く他の信号
の波形を示す図、第10図は第5図に示されてい
るのと同等の位置誤差信号及びそれに関連して第
8図の復調器において得られる種々の論理信号の
波形を示す図、第11図は幅の異なつたヘツドが
用いられる場合に通常の自動利得制御の下で得ら
れる位置誤差信号の傾斜の変動を示す図である。
10……サーボ・セクタ、11及び12……デー
タ・セクタ、25乃至30……位置基準フイール
ド、39及び40……ヘツド、70……デイス
ク、72……モータ、75……可変利得増幅器、
80……復調器、95……発振器、102……比
較器、115……D/A変換器、152……乗算
器、155……マルチプレクサ、193……論理
回路、194乃至196……比較器、190及び
200……電圧フオロワ。
Claims (1)
- 1 デイスクにおけるデータ・トラツクの位置を
定める位置基準情報として、それぞれトラツク方
向及び半径方向において反復する複数のエレメン
トから成り且つ互いに半径方向においてずれて配
列された複数のサーボ・パターンを記録してある
デイスクと、上記位置基準情報を検出して、それ
を表わす信号を生じるヘツドと、該ヘツドを上記
デイスクの半径方向に動かす作動手段と、上記ヘ
ツドからの信号を増幅する可変利得増幅器と、該
可変利得増幅器によつて増幅された信号を受け取
り、上記複数のサーボ・パターンに関連していて
上記ヘツドの変位につれて周期的に変化しうる位
相の異なつた複数の位置誤差信号を生じる手段
と、これらの位置誤差信号に基いて上記作動手段
を制御するフイードバツク手段とを有するヘツド
位置決めシステムであつて、上記複数の位置誤差
信号を部分的に組合わせてトラツク幅相当の変位
当りの位置誤差信号の変化率を表わす利得関数信
号を生じる手段と、上記変化率をほぼ一定に保つ
様に上記利得関数信号に応じて上記可変利得増幅
器の利得を制御する手段とを有することを特徴と
するヘツド位置決めシステム。
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