JP3465267B2 - 磁気ディスク装置ヘッド位置検出装置および磁気ディスクのトラッキング信号記録方法 - Google Patents
磁気ディスク装置ヘッド位置検出装置および磁気ディスクのトラッキング信号記録方法Info
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- JP3465267B2 JP3465267B2 JP13429392A JP13429392A JP3465267B2 JP 3465267 B2 JP3465267 B2 JP 3465267B2 JP 13429392 A JP13429392 A JP 13429392A JP 13429392 A JP13429392 A JP 13429392A JP 3465267 B2 JP3465267 B2 JP 3465267B2
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、例えばハードディスク
等の磁気ディスクを駆動する磁気ディスク装置およびそ
の磁気ディスクのトラッキング信号記録方法に関するも
のであり，特に，読み出されるデータパルスにジッタな
どが存在しても正確な位相信号を検出する磁気ディスク
装置のヘッド位置検出装置および磁気ディスクのトラッ
キング信号記録方法に関する。
等の磁気ディスクを駆動する磁気ディスク装置およびそ
の磁気ディスクのトラッキング信号記録方法に関するも
のであり，特に，読み出されるデータパルスにジッタな
どが存在しても正確な位相信号を検出する磁気ディスク
装置のヘッド位置検出装置および磁気ディスクのトラッ
キング信号記録方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】磁気ディスク，例えばいわゆるハードデ
ィスクにおけるセクタサーボ制御においては，磁気ディ
スクに予め記録されたセクタサーボパターンを再生し，
このセクタサーボパターンの再生信号に基づくファイン
（精密）位置情報を検出し，このファイン位置情報に応
じたセクタサーボ制御が行われている。セクタサーボパ
ターンとしては，例えば，バースト信号をトラックセン
タに対して千鳥状に配置したパターンや，いわゆるトラ
イビット或いはダイビットのような磁化反転のパターン
等がある。
ィスクにおけるセクタサーボ制御においては，磁気ディ
スクに予め記録されたセクタサーボパターンを再生し，
このセクタサーボパターンの再生信号に基づくファイン
（精密）位置情報を検出し，このファイン位置情報に応
じたセクタサーボ制御が行われている。セクタサーボパ
ターンとしては，例えば，バースト信号をトラックセン
タに対して千鳥状に配置したパターンや，いわゆるトラ
イビット或いはダイビットのような磁化反転のパターン
等がある。
【０００３】近年は磁気ディスクにおいて高密度記録を
実現するため，例えば，高トラック密度化すなわち，１
インチ当たりのトラック数（ＴＰＩ）を多くし，トラッ
クピッチを狭くする高ＴＰＩ化が進められている。例え
ば，従来は，１０００ＴＰＩであったものを，３０００
ＴＰＩとするような高ＴＰＩ化が進められている。この
ように高ＴＰＩ化するには，磁気ヘッドギャップのトラ
ック幅（ギャップトラック幅）を小さくすることが必要
となる。しかし，このギャップトラック幅が小さくなる
と，記録および再生時にギャップの両フリンジングの影
響が大きくなる。その結果として，セクタサーボパター
ンの再生信号に基づく上記ファイン位置情報のリニアリ
ティが悪くなり，セクタサーボ時のヘッドのズレ量が判
りにくくなる。
実現するため，例えば，高トラック密度化すなわち，１
インチ当たりのトラック数（ＴＰＩ）を多くし，トラッ
クピッチを狭くする高ＴＰＩ化が進められている。例え
ば，従来は，１０００ＴＰＩであったものを，３０００
ＴＰＩとするような高ＴＰＩ化が進められている。この
ように高ＴＰＩ化するには，磁気ヘッドギャップのトラ
ック幅（ギャップトラック幅）を小さくすることが必要
となる。しかし，このギャップトラック幅が小さくなる
と，記録および再生時にギャップの両フリンジングの影
響が大きくなる。その結果として，セクタサーボパター
ンの再生信号に基づく上記ファイン位置情報のリニアリ
ティが悪くなり，セクタサーボ時のヘッドのズレ量が判
りにくくなる。
【０００４】上述したセクタサーボパターンに基づいて
ファイン位置情報を得る方法では，１つのセクタサーボ
パターンの再生信号から得られる直接部分（ダイナミッ
クレンジ）は，ギャップトラック幅になる。一方，トラ
ックピッチと，ギャップトラック幅は，一般に割り切れ
る関係にはないので，直線性が良く且つ連続なファイン
位置情報が作りにくい。さらに，トラック幅のバラツキ
がファイン位置情報の誤差に与える影響は大きく，この
バラツキが大きいと，正確なセクタサーボ制御が行えな
くなる。また，上記セクタサーボパターンを磁気ディス
クの記録領域に記録する（いわゆるサーボライトする）
ためには，ヘッドの精密位置決めを１トラックピッッチ
当たりに何度も行う必要がある。上述したように，高Ｔ
ＰＩ化のディスクを作成するためのハードディスクドラ
イブ（すなわちトラック数の多いドライブ）では，上記
サーボライトに要する時間が加速度的に増加する。例え
ば，上記バースト信号の千鳥状配置のパターンの場合，
ヘッド位置決めを１トラック当たり２回行うようになる
ため，例えば１０００トラックとすると合計２０００回
のヘッド位置決めが必要となり，ヘッド位置決めに非常
に時間がかかる。その結果，このセクタサーボパターン
が記録された磁気ディスクの製造は生産性が低く，製造
価格も高くなる。
ファイン位置情報を得る方法では，１つのセクタサーボ
パターンの再生信号から得られる直接部分（ダイナミッ
クレンジ）は，ギャップトラック幅になる。一方，トラ
ックピッチと，ギャップトラック幅は，一般に割り切れ
る関係にはないので，直線性が良く且つ連続なファイン
位置情報が作りにくい。さらに，トラック幅のバラツキ
がファイン位置情報の誤差に与える影響は大きく，この
バラツキが大きいと，正確なセクタサーボ制御が行えな
くなる。また，上記セクタサーボパターンを磁気ディス
クの記録領域に記録する（いわゆるサーボライトする）
ためには，ヘッドの精密位置決めを１トラックピッッチ
当たりに何度も行う必要がある。上述したように，高Ｔ
ＰＩ化のディスクを作成するためのハードディスクドラ
イブ（すなわちトラック数の多いドライブ）では，上記
サーボライトに要する時間が加速度的に増加する。例え
ば，上記バースト信号の千鳥状配置のパターンの場合，
ヘッド位置決めを１トラック当たり２回行うようになる
ため，例えば１０００トラックとすると合計２０００回
のヘッド位置決めが必要となり，ヘッド位置決めに非常
に時間がかかる。その結果，このセクタサーボパターン
が記録された磁気ディスクの製造は生産性が低く，製造
価格も高くなる。
【０００５】かかる問題に鑑み，本件出願の発明者は，
サーボライトが容易で，高ＴＰＩ化しても正確なファイ
ン位置情報が得られ，生産性が高く，価格も安い磁気デ
ィスクを提供することができる磁気ディスク装置及びト
ラッキング信号記録方法を提案した（たとえば，特願平
２−２６２１８０号，「磁気ディスク装置及び磁気ディ
スクのトラッキング信号記録方法」）。その概要を述べ
る。その磁気ディスク装置においては，磁気ディスクか
ら再生したトラッキング信号とクロック信号との位相比
較結果に基づいて，トラッキング信号再生用のヘッドの
正確な位置を検出すると共に，この位置検出出力に応じ
てヘッド移動のアクチュエータを制御する。また，その
磁気ディスクのトラッキング信号記録方法においては，
磁気ディスク上のクロックトラックに基準信号を記録
し，再生された基準信号に基づいてトラッキング信号を
発生し，ヘッドをディスク半径方向に直線移動させてこ
のディスク上にトラッキング信号を記録して，容易にセ
クタサーボパターンを得る。
サーボライトが容易で，高ＴＰＩ化しても正確なファイ
ン位置情報が得られ，生産性が高く，価格も安い磁気デ
ィスクを提供することができる磁気ディスク装置及びト
ラッキング信号記録方法を提案した（たとえば，特願平
２−２６２１８０号，「磁気ディスク装置及び磁気ディ
スクのトラッキング信号記録方法」）。その概要を述べ
る。その磁気ディスク装置においては，磁気ディスクか
ら再生したトラッキング信号とクロック信号との位相比
較結果に基づいて，トラッキング信号再生用のヘッドの
正確な位置を検出すると共に，この位置検出出力に応じ
てヘッド移動のアクチュエータを制御する。また，その
磁気ディスクのトラッキング信号記録方法においては，
磁気ディスク上のクロックトラックに基準信号を記録
し，再生された基準信号に基づいてトラッキング信号を
発生し，ヘッドをディスク半径方向に直線移動させてこ
のディスク上にトラッキング信号を記録して，容易にセ
クタサーボパターンを得る。
【０００６】図面を参照してさらに詳細に述べる。図３
８は磁気ディスク装置の組立時，シャーシ２０１に蓋を
する前の状態を示す平面図である。図３８に示す磁気デ
ィスク装置は，全てのトラックの少なくとも一部に記録
されかつ半径方向に放射線状に揃った磁化反転を有する
トラッキング信号Ｓr と，クロックトラックＴＣに記録
されたクロック信号Ｓc とを有するディスク２０２と，
クロックトラックＴＣから上記クロック信号Ｓc を再生
する固定ヘッド２２０と，ディスク２０２からトラッキ
ング信号Ｓr を再生する再生ヘッドとしての記録再生ヘ
ッド２３０と，この記録再生ヘッド２３０を上記半径方
向とは一致しない軌跡に沿って移動させる回動形アクチ
ュエータ２３６と，固定ヘッド２２０により再生された
上記クロック信号Ｓc と上記記録再生ヘッド２１０によ
り再生されたトラッキング信号Ｓr との位相を比較する
位相比較回路２３７と，この位相比較回路２３７の出力
により磁気ディスク２０２に対する記録再生ヘッド２３
０の位置を検出するヘッド位置検出回路２３８と，この
ヘッド位置検出回路２３８の出力によりロータリーアク
チュエータ２３６を制御する駆動制御回路２３９とを有
する。
８は磁気ディスク装置の組立時，シャーシ２０１に蓋を
する前の状態を示す平面図である。図３８に示す磁気デ
ィスク装置は，全てのトラックの少なくとも一部に記録
されかつ半径方向に放射線状に揃った磁化反転を有する
トラッキング信号Ｓr と，クロックトラックＴＣに記録
されたクロック信号Ｓc とを有するディスク２０２と，
クロックトラックＴＣから上記クロック信号Ｓc を再生
する固定ヘッド２２０と，ディスク２０２からトラッキ
ング信号Ｓr を再生する再生ヘッドとしての記録再生ヘ
ッド２３０と，この記録再生ヘッド２３０を上記半径方
向とは一致しない軌跡に沿って移動させる回動形アクチ
ュエータ２３６と，固定ヘッド２２０により再生された
上記クロック信号Ｓc と上記記録再生ヘッド２１０によ
り再生されたトラッキング信号Ｓr との位相を比較する
位相比較回路２３７と，この位相比較回路２３７の出力
により磁気ディスク２０２に対する記録再生ヘッド２３
０の位置を検出するヘッド位置検出回路２３８と，この
ヘッド位置検出回路２３８の出力によりロータリーアク
チュエータ２３６を制御する駆動制御回路２３９とを有
する。
【０００７】図３９は磁気ディスクのトラッキング信号
記録方法の処理フローチャートである。このトラッキン
グ信号記録方法を図３７に示した磁気ディスク装置に適
用した場合の動作について述べる。磁気ディスク２０２
上に設けられたクロックトラックＴＣに固定ヘッド２２
０で基準信号（クロック信号Ｓc ）を記録し（ステップ
Ｓ１），固定ヘッド２２０でクロックトラックＴＣから
クロック信号Ｓc を再生し（ステップＳ２），再生され
たクロック信号Ｓc に位相ロックし，例えば，トラッキ
ング信号発生回路２１８で所定の周波数を有するトラッ
キング信号Ｓr を発生し（ステップＳ３），トラッキン
グ信号Ｓr をディスク２０２の半径方向に一致するヘッ
ドギャップを有するトラッキング信号記録用ヘッド２１
０により磁気ディスク２０２上に記録し（ステップＳ
４），トラッキング信号記録用ヘッド１０を直動ステー
ジ付アクチュエータ２１６で半径方向に直線移動させ
（ステップＳ５），トラッキング信号Ｓr を磁気ディス
ク２０２上で半径方向に放射状に揃った磁化反転を有す
るように記録する。
記録方法の処理フローチャートである。このトラッキン
グ信号記録方法を図３７に示した磁気ディスク装置に適
用した場合の動作について述べる。磁気ディスク２０２
上に設けられたクロックトラックＴＣに固定ヘッド２２
０で基準信号（クロック信号Ｓc ）を記録し（ステップ
Ｓ１），固定ヘッド２２０でクロックトラックＴＣから
クロック信号Ｓc を再生し（ステップＳ２），再生され
たクロック信号Ｓc に位相ロックし，例えば，トラッキ
ング信号発生回路２１８で所定の周波数を有するトラッ
キング信号Ｓr を発生し（ステップＳ３），トラッキン
グ信号Ｓr をディスク２０２の半径方向に一致するヘッ
ドギャップを有するトラッキング信号記録用ヘッド２１
０により磁気ディスク２０２上に記録し（ステップＳ
４），トラッキング信号記録用ヘッド１０を直動ステー
ジ付アクチュエータ２１６で半径方向に直線移動させ
（ステップＳ５），トラッキング信号Ｓr を磁気ディス
ク２０２上で半径方向に放射状に揃った磁化反転を有す
るように記録する。
【０００８】図３８に示す磁気ディスク装置での各部の
動作を，上記トラッキング信号記録方法を適用して順に
説明する。先ず，磁気ディスク２０２は，スピンドルモ
ータ等によりスピンドル軸Ｃ3 を回転中心として図中矢
印β方向に定常回転駆動される。この定常回転に入った
後，磁気ディスク２０２には，固定ヘッド２２０によっ
て基準信号，例えば，単一周波数の信号であるクロック
信号ＳC が記録される（ステップＳ１）。この時，クロ
ック信号ＳC は，磁気ディスク２０２の記録領域の最外
周又は最内周に一周分記録される。このクロック信号Ｓ
C が記録されたトラックが上記クロックトラックＴＣと
なる。なお，クロックトラックＴＣは，一旦，クロック
信号ＳC が記録された後は，再生専用のトラックとされ
る。固定ヘッド２２０は支持部材２２４により支持され
ている。その後，上述のようにクロック信号ＳC が記録
されたクロックトラックＴＣからは，固定ヘッド２２０
によって，クロック信号ＳC が再生される（ステップＳ
２）。ここで，固定ヘッド２２０の後段には，順に，ク
ロック信号ＳC （磁化反転パターンの再生信号）の増幅
用のヘッドアンプ２２５，再生クロック信号ＳCのピー
ク検出用のピーク検出回路２２６，および，必要に応じ
てピーク検出回路２２６のピーク出力の位相を揃える位
相同期回路（ＰＬＬ：フェーズ・ロック・ループ回路）
２２７が接続されている。このように再生されたクロッ
ク信号ＳCは，ディスク２０２上のクロックトラックＴ
Ｃから得られているので，磁気ディスク２０２の回転に
完全に同期した信号となる。
動作を，上記トラッキング信号記録方法を適用して順に
説明する。先ず，磁気ディスク２０２は，スピンドルモ
ータ等によりスピンドル軸Ｃ3 を回転中心として図中矢
印β方向に定常回転駆動される。この定常回転に入った
後，磁気ディスク２０２には，固定ヘッド２２０によっ
て基準信号，例えば，単一周波数の信号であるクロック
信号ＳC が記録される（ステップＳ１）。この時，クロ
ック信号ＳC は，磁気ディスク２０２の記録領域の最外
周又は最内周に一周分記録される。このクロック信号Ｓ
C が記録されたトラックが上記クロックトラックＴＣと
なる。なお，クロックトラックＴＣは，一旦，クロック
信号ＳC が記録された後は，再生専用のトラックとされ
る。固定ヘッド２２０は支持部材２２４により支持され
ている。その後，上述のようにクロック信号ＳC が記録
されたクロックトラックＴＣからは，固定ヘッド２２０
によって，クロック信号ＳC が再生される（ステップＳ
２）。ここで，固定ヘッド２２０の後段には，順に，ク
ロック信号ＳC （磁化反転パターンの再生信号）の増幅
用のヘッドアンプ２２５，再生クロック信号ＳCのピー
ク検出用のピーク検出回路２２６，および，必要に応じ
てピーク検出回路２２６のピーク出力の位相を揃える位
相同期回路（ＰＬＬ：フェーズ・ロック・ループ回路）
２２７が接続されている。このように再生されたクロッ
ク信号ＳCは，ディスク２０２上のクロックトラックＴ
Ｃから得られているので，磁気ディスク２０２の回転に
完全に同期した信号となる。
【０００９】磁気固定ヘッド２２０から再生されたクロ
ック信号ＳC は，ヘッドアンプ２２５，ピーク検出回路
２２６，ＰＬＬ回路２２７を介して，直動ステージ付ア
クチュエータ２１６に配されたトラッキング信号記録用
ヘッド２１０に送られる。ここで，クロック信号Ｓ
C は，トラッキング信号記録用ヘッド２１０に送られる
前に，例えばトラッキング信号発生回路２１８に送られ
る。トラッキング信号発生回路２１８は，供給されたク
ロック信号ＳC に位相ロックした所定の周波数（周波数
ｆ0 ）のトラッキング信号Ｓr を発生する（ステップＳ
３）。トラッキング信号発生回路２１８からのトラッキ
ング信号Ｓr は，ライトアンプ２１７で増幅された後，
トラッキング信号記録用ヘッド２１０に送られる。な
お，ライトアンプ２１７に供給される信号は，再生され
たクロック信号ＳC そのものとすることもできる。
ック信号ＳC は，ヘッドアンプ２２５，ピーク検出回路
２２６，ＰＬＬ回路２２７を介して，直動ステージ付ア
クチュエータ２１６に配されたトラッキング信号記録用
ヘッド２１０に送られる。ここで，クロック信号Ｓ
C は，トラッキング信号記録用ヘッド２１０に送られる
前に，例えばトラッキング信号発生回路２１８に送られ
る。トラッキング信号発生回路２１８は，供給されたク
ロック信号ＳC に位相ロックした所定の周波数（周波数
ｆ0 ）のトラッキング信号Ｓr を発生する（ステップＳ
３）。トラッキング信号発生回路２１８からのトラッキ
ング信号Ｓr は，ライトアンプ２１７で増幅された後，
トラッキング信号記録用ヘッド２１０に送られる。な
お，ライトアンプ２１７に供給される信号は，再生され
たクロック信号ＳC そのものとすることもできる。
【００１０】トラッキング信号記録用ヘッド２１０は，
支持部材２１４を介して直動ステージ付アクチュエータ
２１６の可動アームに固定されている。直動ステージ付
アクチュエータ２１６は，磁気ディスク２０２の半径方
向に直線的にトラッキング信号記録用ヘッド２１０を移
動させるためのアクチュエータである。アクチュエータ
２１６は，磁気ディスク２０２の記録領域の少なくとも
最内周から最外周（ただし上記クロックトラックＴＣは
含まない）まで，トラッキング信号記録用ヘッド２１０
を，半径方向に移動させることができる。ここで，トラ
ッキング信号記録用ヘッド２１０のギャップトラック幅
ＴW1の方向は, アクチュエータ２１６の移動方向（ディ
スク２０２の半径方向）と平行で，かつ，ギャップを含
む直線が，スピンドル軸Ｃ3 を通る直線（スピンドル中
心線）と交わるように配されている。また，トラッキン
グ信号記録用ヘッド２１０のギャップトラック幅Ｔ
W1は，データ用のトラック幅，トラックピッチとは無関
係に選ばれる。この時，トラッキング信号記録用ヘッド
２１０を，アクチュエータ２１６によって直線移動させ
ることにより，磁気ディスク２０２の記録領域全面を塗
りつぶすように（クロックトラックＴＣは除く），トラ
ッキング信号Ｓr が記録される（ステップＳ４およびＳ
５）。具体的には，例えば，トラッキング信号記録用ヘ
ッド２１０をディスク２０２の記録領域の最内周に位置
させ，トラッキング信号Ｓr を書き込むようにし（ライ
トモードとする），このライトモードの状態で，アクチ
ュエータ２１６によりヘッド２１０をゆっくりディスク
２０２の外周方向へ移動させていく。これにより，ディ
スク２０２の全周（記録領域全面）にトラッキング信号
Ｓr が記録される。トラッキング信号記録用ヘッド２１
０の移動速度ｖと，このヘッド２１０のギャップトラッ
ク幅ＴW1及びスピンドル回転数Ｄ（ＨZ ）との関係は，
下記式で規定される。 ｖ＜ＴW1・Ｄ この条件を満足することで，トラッキング信号Ｓr をデ
ィスク２０２の記録領域全面へ記録することができるよ
うになる。
支持部材２１４を介して直動ステージ付アクチュエータ
２１６の可動アームに固定されている。直動ステージ付
アクチュエータ２１６は，磁気ディスク２０２の半径方
向に直線的にトラッキング信号記録用ヘッド２１０を移
動させるためのアクチュエータである。アクチュエータ
２１６は，磁気ディスク２０２の記録領域の少なくとも
最内周から最外周（ただし上記クロックトラックＴＣは
含まない）まで，トラッキング信号記録用ヘッド２１０
を，半径方向に移動させることができる。ここで，トラ
ッキング信号記録用ヘッド２１０のギャップトラック幅
ＴW1の方向は, アクチュエータ２１６の移動方向（ディ
スク２０２の半径方向）と平行で，かつ，ギャップを含
む直線が，スピンドル軸Ｃ3 を通る直線（スピンドル中
心線）と交わるように配されている。また，トラッキン
グ信号記録用ヘッド２１０のギャップトラック幅Ｔ
W1は，データ用のトラック幅，トラックピッチとは無関
係に選ばれる。この時，トラッキング信号記録用ヘッド
２１０を，アクチュエータ２１６によって直線移動させ
ることにより，磁気ディスク２０２の記録領域全面を塗
りつぶすように（クロックトラックＴＣは除く），トラ
ッキング信号Ｓr が記録される（ステップＳ４およびＳ
５）。具体的には，例えば，トラッキング信号記録用ヘ
ッド２１０をディスク２０２の記録領域の最内周に位置
させ，トラッキング信号Ｓr を書き込むようにし（ライ
トモードとする），このライトモードの状態で，アクチ
ュエータ２１６によりヘッド２１０をゆっくりディスク
２０２の外周方向へ移動させていく。これにより，ディ
スク２０２の全周（記録領域全面）にトラッキング信号
Ｓr が記録される。トラッキング信号記録用ヘッド２１
０の移動速度ｖと，このヘッド２１０のギャップトラッ
ク幅ＴW1及びスピンドル回転数Ｄ（ＨZ ）との関係は，
下記式で規定される。 ｖ＜ＴW1・Ｄ この条件を満足することで，トラッキング信号Ｓr をデ
ィスク２０２の記録領域全面へ記録することができるよ
うになる。
【００１１】上述のようにしてディスク２０２の記録領
域全面にトラッキング信号Ｓr を記録することにより，
換言すれば，トラッキング信号Ｓr を，ディスク２０２
上で半径方向に放射線状に揃った磁化反転を有するよう
に記録することにより，図４０に示すように，磁化反転
領域が全トラックにわたって連続し，ラジアルに並んだ
パターン，つまり，各磁化反転を含む直線Ｍがスピンド
ル軸Ｃ3 を通るパターンが得られる。図４０に示すよう
に，クロックトラックＴＣにクロック信号ＳC が記録さ
れ他の記録領域に半径方向に放射状に揃った磁化反転を
有するトラッキング信号Ｓrが記録されたディスク２０
２を用い，セクタサーボ制御のファイン位置情報の検出
が行われる。すなわち，ディスク２０２上に記録された
上記トラッキング信号Ｓr は，記録再生ヘッド２３０に
よって読み取られる。ただし，この記録再生ヘッド２３
０は，トラッキング信号Ｓr の再生のみならず，他のデ
ータの記録再生も行うことができる。記録再生ヘッド２
３０は，図示しないスライダ２３１と，ギャップトラッ
ク幅ＴW のギャップＧを有する磁気ヘッド２３２とから
なり，スライダ２３１が支持部材２３４に支持されてい
る。ギャップＧは，ギャップトラック幅ＴW 方向が，図
４０中の支持部材の中心線Ｌ3 に対して直交する方向に
配置され, 更に, ディスク２０２面に対して平行に位置
するようになっている。この支持部材２３４が，ロータ
リーアクチュエータ２３６のアームの先端に取り付けら
れている。
域全面にトラッキング信号Ｓr を記録することにより，
換言すれば，トラッキング信号Ｓr を，ディスク２０２
上で半径方向に放射線状に揃った磁化反転を有するよう
に記録することにより，図４０に示すように，磁化反転
領域が全トラックにわたって連続し，ラジアルに並んだ
パターン，つまり，各磁化反転を含む直線Ｍがスピンド
ル軸Ｃ3 を通るパターンが得られる。図４０に示すよう
に，クロックトラックＴＣにクロック信号ＳC が記録さ
れ他の記録領域に半径方向に放射状に揃った磁化反転を
有するトラッキング信号Ｓrが記録されたディスク２０
２を用い，セクタサーボ制御のファイン位置情報の検出
が行われる。すなわち，ディスク２０２上に記録された
上記トラッキング信号Ｓr は，記録再生ヘッド２３０に
よって読み取られる。ただし，この記録再生ヘッド２３
０は，トラッキング信号Ｓr の再生のみならず，他のデ
ータの記録再生も行うことができる。記録再生ヘッド２
３０は，図示しないスライダ２３１と，ギャップトラッ
ク幅ＴW のギャップＧを有する磁気ヘッド２３２とから
なり，スライダ２３１が支持部材２３４に支持されてい
る。ギャップＧは，ギャップトラック幅ＴW 方向が，図
４０中の支持部材の中心線Ｌ3 に対して直交する方向に
配置され, 更に, ディスク２０２面に対して平行に位置
するようになっている。この支持部材２３４が，ロータ
リーアクチュエータ２３６のアームの先端に取り付けら
れている。
【００１２】図４１に示すように，ロータリーアクチュ
エータ２３６は，そのアームがアーム回動中心ＣR を中
心として回転し，この回転に伴い，記録再生ヘッド２３
０がディスク２０２の記録面上を移動する。更に，ディ
スク２０２の内周から外周全域でのヘッドスキュー角を
減らすため，記録再生ヘッド２３０は，ロータリーアク
チュエータ２３６のアーム回動中心ＣR を通り記録再生
ヘッド３０を通るＬR に対して，ベント角θ3 を有する
配置となるように，アクチュエータ２３６に取り付けら
れている。また，ロータリーアクチュエータ２３６にお
いては，アーム有効長ｂと，アーム回動中心ＣR からス
ピンドル軸Ｃ3 までの距離（アーム軸・スピンドル軸間
距離）ａとの関係は，下記式で示す関係にある。 ａ＝ｂ ａ＝ｂとする理由については後述する。
エータ２３６は，そのアームがアーム回動中心ＣR を中
心として回転し，この回転に伴い，記録再生ヘッド２３
０がディスク２０２の記録面上を移動する。更に，ディ
スク２０２の内周から外周全域でのヘッドスキュー角を
減らすため，記録再生ヘッド２３０は，ロータリーアク
チュエータ２３６のアーム回動中心ＣR を通り記録再生
ヘッド３０を通るＬR に対して，ベント角θ3 を有する
配置となるように，アクチュエータ２３６に取り付けら
れている。また，ロータリーアクチュエータ２３６にお
いては，アーム有効長ｂと，アーム回動中心ＣR からス
ピンドル軸Ｃ3 までの距離（アーム軸・スピンドル軸間
距離）ａとの関係は，下記式で示す関係にある。 ａ＝ｂ ａ＝ｂとする理由については後述する。
【００１３】上述のようにアーム有効長ｂとアーム軸・
スピンドル軸間距離ａ，すなわち，アームの位置と長さ
が定められることで，アームを例えば外周側に回転させ
ると，記録再生ヘッド２３０は，単にディスク２０２上
のトラックを横切るだけでなく，ディスク２０２の回転
方向βに対して上流側に移動することがわかる。すなわ
ち，この装置においては，このような記録再生ヘッド２
３０の上流側への移動に注目し，トラッキング信号Ｓr
の磁化反転パターンの再生出力から得られるパルス列
と，固定ヘッド２２０から得られるクロック信号Ｓ
C （基準クロックパルス列）との位相を比較し，その比
較出力をファイン位置情報として用いる。
スピンドル軸間距離ａ，すなわち，アームの位置と長さ
が定められることで，アームを例えば外周側に回転させ
ると，記録再生ヘッド２３０は，単にディスク２０２上
のトラックを横切るだけでなく，ディスク２０２の回転
方向βに対して上流側に移動することがわかる。すなわ
ち，この装置においては，このような記録再生ヘッド２
３０の上流側への移動に注目し，トラッキング信号Ｓr
の磁化反転パターンの再生出力から得られるパルス列
と，固定ヘッド２２０から得られるクロック信号Ｓ
C （基準クロックパルス列）との位相を比較し，その比
較出力をファイン位置情報として用いる。
【００１４】ファイン位置情報検出の動作を以下に述べ
る。なお，記述を簡略化するため，トラッキング信号Ｓ
r の再生パルス列と，基準クロックパルス列との間隔
が，例えば，１パルス間隔分だけずれるヘッド２３０の
移動量を，１トラックピッチＴr に等しくした場合につ
いて述べる。図４２にはディスク２０２の外周部におけ
る１トラックピッチＴr 分のギャップＧの移動量（等角
度ピッチ）を示し，図４３はディスク２０２の外周部に
おける１トラックピッチＴr 分のギャップＧの移動量を
示し，図４４は図４２または図４３に図解したものをよ
り一般化した拡大図を示し，図４５は図４４を更に模式
化して１トラックピッチＴr 内のギャップＧの移動の状
況を示す。
る。なお，記述を簡略化するため，トラッキング信号Ｓ
r の再生パルス列と，基準クロックパルス列との間隔
が，例えば，１パルス間隔分だけずれるヘッド２３０の
移動量を，１トラックピッチＴr に等しくした場合につ
いて述べる。図４２にはディスク２０２の外周部におけ
る１トラックピッチＴr 分のギャップＧの移動量（等角
度ピッチ）を示し，図４３はディスク２０２の外周部に
おける１トラックピッチＴr 分のギャップＧの移動量を
示し，図４４は図４２または図４３に図解したものをよ
り一般化した拡大図を示し，図４５は図４４を更に模式
化して１トラックピッチＴr 内のギャップＧの移動の状
況を示す。
【００１５】図４２および図４３において，図４２に示
す磁化反転を示す線Ｍは，ディスク２０２の内周部であ
るため，図４３に示す磁化反転を示す線Ｍによりも，各
線Ｍ間の幅が狭くなっている。これらの線Ｍは，内周側
ほど間隔が狭まっている。更に，ギャップＧが，磁化反
転の線Ｍに対してとる角度は，図４３に示す外周部の方
が大きい。ディスク２０２が回転方向βに回転すること
により，磁化反転の線Ｍが，ギャップＧを通過していく
ことになり，この磁化反転のパターンが読み取られる。
図４２および図４４中の線ＬD は, ロータリーアクチュ
エータ２３６のアームの回転に伴ってギャップＧの中心
が辿る軌跡である。磁気反転の線Ｍにおける磁化の向き
は，図４４に示すように，＋と−が交互に配列されたも
のとなる。ギャップトラック幅ＴW 方向と，ギャップＧ
の中心が辿る軌跡ＬD とは，上記ベント角θ3 すなわ
ち，ギャップＧの中心及びアーム回動中心ＣR を結ぶ線
ＬD と, ギャップＧの中心を通り該ギャップＧの中心Ｇ
と直交する線Ｌc ，つまり線ＬS に平行する線と角度θ
3 をなしている。ギャップＧの中心を通る軌跡ＬD の円
の接点と, 磁化反転の線Ｍのなす角θ3はアームスキュ
ー角となる。
す磁化反転を示す線Ｍは，ディスク２０２の内周部であ
るため，図４３に示す磁化反転を示す線Ｍによりも，各
線Ｍ間の幅が狭くなっている。これらの線Ｍは，内周側
ほど間隔が狭まっている。更に，ギャップＧが，磁化反
転の線Ｍに対してとる角度は，図４３に示す外周部の方
が大きい。ディスク２０２が回転方向βに回転すること
により，磁化反転の線Ｍが，ギャップＧを通過していく
ことになり，この磁化反転のパターンが読み取られる。
図４２および図４４中の線ＬD は, ロータリーアクチュ
エータ２３６のアームの回転に伴ってギャップＧの中心
が辿る軌跡である。磁気反転の線Ｍにおける磁化の向き
は，図４４に示すように，＋と−が交互に配列されたも
のとなる。ギャップトラック幅ＴW 方向と，ギャップＧ
の中心が辿る軌跡ＬD とは，上記ベント角θ3 すなわ
ち，ギャップＧの中心及びアーム回動中心ＣR を結ぶ線
ＬD と, ギャップＧの中心を通り該ギャップＧの中心Ｇ
と直交する線Ｌc ，つまり線ＬS に平行する線と角度θ
3 をなしている。ギャップＧの中心を通る軌跡ＬD の円
の接点と, 磁化反転の線Ｍのなす角θ3はアームスキュ
ー角となる。
【００１６】図４５は，ギャップＧが１トラックピッチ
Ｔr 内で，上記軌跡ＬD に沿って移動した場合のギャッ
プＧの位置を，例えば，任意の４つの位置：ギャップＧ
1,Ｇ2,Ｇ3,Ｇ4 として例示している。この場合，ギャッ
プＧ1 での位置を基準とすると，ギャップＧ2 の移動量
は図中ｇ12, ｇ22で示す量となり，ギャップＧ3 の示す
量は図中ｇ13, ｇ23で示す量，ギャップＧ4 の移動量は
図中ｇ14, ｇ24で示す量となる。図中の記号ＴW はトラ
ック幅，すなわち前記ギャップトラック幅ＴWを示して
おり，記号Ｔr はトラックピッチを示す。
Ｔr 内で，上記軌跡ＬD に沿って移動した場合のギャッ
プＧの位置を，例えば，任意の４つの位置：ギャップＧ
1,Ｇ2,Ｇ3,Ｇ4 として例示している。この場合，ギャッ
プＧ1 での位置を基準とすると，ギャップＧ2 の移動量
は図中ｇ12, ｇ22で示す量となり，ギャップＧ3 の示す
量は図中ｇ13, ｇ23で示す量，ギャップＧ4 の移動量は
図中ｇ14, ｇ24で示す量となる。図中の記号ＴW はトラ
ック幅，すなわち前記ギャップトラック幅ＴWを示して
おり，記号Ｔr はトラックピッチを示す。
【００１７】図４６は，図４５におけるギャップＧ1,Ｇ
2,Ｇ3,Ｇ4 のそれぞれの位置において, 磁化反転のパタ
ーンから得られるパルス列が，基準クロックパルス（ク
ロック信号ＳC ）に対してどのような時間（位相）関係
にあるかを示す。基準クロックパルス（ＳC ）から各ギ
ャップＧ1,Ｇ2,Ｇ3,Ｇ4,位置での上記磁化反転の再生パ
ルスまでの時間は，上記ギャップＧ1 で０とすれば，ギ
ャップＧ2 では時間ｔ2 となり, ギャップＧ3 では時間
ｔ3,ギャップＧ4 では時間ｔ4 となる。したがって，上
記基準クロックパルス（クロック信号ＳC ）から，各ギ
ャップＧ1,Ｇ2,Ｇ3,Ｇ4,位置での磁化反転の再生パルス
までの時間をΔｔとした場合，基準クロックパルスＳC
のパルス間隔をｔ0 （時間Δｔの最大値＝クロック間
隔）とすれば，トラックピッチＴr 間で, 再生パルスが
得られる時間は, 例えば，（ｎ−１），ｎ，（ｎ＋１）
のトラックにおいて，１トラックピッチＴr 間をギャッ
プＧが移動することで，基準クロックパルスＳC から各
位置での再生パルスまでの時間は，１トラックピッチＴ
r 内で連続的に増加する時間となる。このようなことか
ら，時間Δｔを実際に計測すれば，上記トラッキング信
号Ｓr が記録された記録領域内で，時間Δｔの例えば平
均値に比例したファイン位置情報が得られる。
2,Ｇ3,Ｇ4 のそれぞれの位置において, 磁化反転のパタ
ーンから得られるパルス列が，基準クロックパルス（ク
ロック信号ＳC ）に対してどのような時間（位相）関係
にあるかを示す。基準クロックパルス（ＳC ）から各ギ
ャップＧ1,Ｇ2,Ｇ3,Ｇ4,位置での上記磁化反転の再生パ
ルスまでの時間は，上記ギャップＧ1 で０とすれば，ギ
ャップＧ2 では時間ｔ2 となり, ギャップＧ3 では時間
ｔ3,ギャップＧ4 では時間ｔ4 となる。したがって，上
記基準クロックパルス（クロック信号ＳC ）から，各ギ
ャップＧ1,Ｇ2,Ｇ3,Ｇ4,位置での磁化反転の再生パルス
までの時間をΔｔとした場合，基準クロックパルスＳC
のパルス間隔をｔ0 （時間Δｔの最大値＝クロック間
隔）とすれば，トラックピッチＴr 間で, 再生パルスが
得られる時間は, 例えば，（ｎ−１），ｎ，（ｎ＋１）
のトラックにおいて，１トラックピッチＴr 間をギャッ
プＧが移動することで，基準クロックパルスＳC から各
位置での再生パルスまでの時間は，１トラックピッチＴ
r 内で連続的に増加する時間となる。このようなことか
ら，時間Δｔを実際に計測すれば，上記トラッキング信
号Ｓr が記録された記録領域内で，時間Δｔの例えば平
均値に比例したファイン位置情報が得られる。
【００１８】この時間Δｔの計測は，具体的には，図４
７に示すような回路構成を用いれば可能である。図４７
に示す回路は，図３８に示した位相比較回路２３７およ
びヘッド位置検出回路２３８の具体的な回路構成であ
る。図４８は，図４７の回路の各部の出力波形を示す。
端子３０１に記録再生ヘッド２３０からのディスク２０
２上の磁化反転を読み取ったパルス信号，サーボパルス
Ａが供給される。端子２０２に固定ヘッド２２０からの
基準クロックパルスＢが供給される。サーボパルスＡは
セット・リセット（ＲＳ）形−フリップフロップ３１１
のリセット端子Ｒに供給され，基準クロックパルスＢは
セット端子Ｓに供給される。ＲＳ形フリップフロップ３
１１の出力パルスＤは，基準クロックパルスＢの，例え
ば，立ち上がりからサーボパルスＡの，例えば，立ち上
りまでの時間，例えば，“Ｈ”レベルとなる。すなわ
ち，ＲＳ形フリップフロップ３１１は，基準クロックパ
ルスＢからサーボパルスＡまでの時間の比較，換言すれ
ば，基準クロックパルスＢとサーボパルスＡとの位相比
較を行う。つまり，ＲＳ形フリップフロップ３１１は，
図３８に示した位相比較回路２３７として動作してい
る。ＲＳ形フリップフロップ３１１の出力パルスＤは，
積分器３１２に送られる。積分器３１２で出力パルスＤ
の積分処理を行うことで，積分器３１２の出力は，図４
８に示す積分出力Ｅのようを波形になる。すなわち，積
分器３１２の積分出力Ｅは，上述した移動量と時間Δｔ
との関係のように，積分出力Ｅのレベルと，出力パルス
Ｄのパルス数，すなわち，サーボパルスのパルス数とが
関係付けられている。つまり，サーボパルスのパルス数
は，記録再生ヘッド２３０の移動量を示し，したがっ
て，積分出力Ｅと再生記録ヘッド２３０の移動量，すな
わち，ファイン位置情報とが関連付けられる。ファイン
位置情報を，基準クロックパルスＢとサーボパルスＡと
の位相差（時間差）として検出している。図４７に示す
回路の積分器３１２が，図３８に示すヘッド位置検出回
路２３８として機能する。
７に示すような回路構成を用いれば可能である。図４７
に示す回路は，図３８に示した位相比較回路２３７およ
びヘッド位置検出回路２３８の具体的な回路構成であ
る。図４８は，図４７の回路の各部の出力波形を示す。
端子３０１に記録再生ヘッド２３０からのディスク２０
２上の磁化反転を読み取ったパルス信号，サーボパルス
Ａが供給される。端子２０２に固定ヘッド２２０からの
基準クロックパルスＢが供給される。サーボパルスＡは
セット・リセット（ＲＳ）形−フリップフロップ３１１
のリセット端子Ｒに供給され，基準クロックパルスＢは
セット端子Ｓに供給される。ＲＳ形フリップフロップ３
１１の出力パルスＤは，基準クロックパルスＢの，例え
ば，立ち上がりからサーボパルスＡの，例えば，立ち上
りまでの時間，例えば，“Ｈ”レベルとなる。すなわ
ち，ＲＳ形フリップフロップ３１１は，基準クロックパ
ルスＢからサーボパルスＡまでの時間の比較，換言すれ
ば，基準クロックパルスＢとサーボパルスＡとの位相比
較を行う。つまり，ＲＳ形フリップフロップ３１１は，
図３８に示した位相比較回路２３７として動作してい
る。ＲＳ形フリップフロップ３１１の出力パルスＤは，
積分器３１２に送られる。積分器３１２で出力パルスＤ
の積分処理を行うことで，積分器３１２の出力は，図４
８に示す積分出力Ｅのようを波形になる。すなわち，積
分器３１２の積分出力Ｅは，上述した移動量と時間Δｔ
との関係のように，積分出力Ｅのレベルと，出力パルス
Ｄのパルス数，すなわち，サーボパルスのパルス数とが
関係付けられている。つまり，サーボパルスのパルス数
は，記録再生ヘッド２３０の移動量を示し，したがっ
て，積分出力Ｅと再生記録ヘッド２３０の移動量，すな
わち，ファイン位置情報とが関連付けられる。ファイン
位置情報を，基準クロックパルスＢとサーボパルスＡと
の位相差（時間差）として検出している。図４７に示す
回路の積分器３１２が，図３８に示すヘッド位置検出回
路２３８として機能する。
【００１９】このように，積分器３１２の出力を，図３
８に示す駆動制御回路２３９に供給し，駆動制御回路２
３９の出力に基づいて，ロータリーアクチュエータ２３
６のアーム回転用モータ等を駆動させることで，セクタ
サーボ制御が可能となる。磁気ディスク２０２でのセク
タサーボ制御を行う場合，上述したように，記録領域全
面にトラッキング信号Ｓr を記録したディスク２０２を
用い，ロータリーアクチュエータ２３６と連動する他の
ロータリーアクチュエータで，他のディスク，あるい
は，ディスク２０２の裏面へのセクタサーボ制御を行う
ことができる。この記録領域に，データ記録用のデータ
ゾーンと，トラッキング信号Ｓr が記録されたサーボゾ
ーンとを設けるようにして，このサーボゾーンを用いて
セクタサーボ制御を行うようにすることも可能である。
８に示す駆動制御回路２３９に供給し，駆動制御回路２
３９の出力に基づいて，ロータリーアクチュエータ２３
６のアーム回転用モータ等を駆動させることで，セクタ
サーボ制御が可能となる。磁気ディスク２０２でのセク
タサーボ制御を行う場合，上述したように，記録領域全
面にトラッキング信号Ｓr を記録したディスク２０２を
用い，ロータリーアクチュエータ２３６と連動する他の
ロータリーアクチュエータで，他のディスク，あるい
は，ディスク２０２の裏面へのセクタサーボ制御を行う
ことができる。この記録領域に，データ記録用のデータ
ゾーンと，トラッキング信号Ｓr が記録されたサーボゾ
ーンとを設けるようにして，このサーボゾーンを用いて
セクタサーボ制御を行うようにすることも可能である。
【００２０】このように，サーボゾーンとデータゾーン
とを設ける場合，たとえば，図４９に示すように，サー
ボゾーンＺS が一定時間間隔で並び, その間の記録領域
をデータゾーンＺD とすることができる。サーボゾーン
ＺS,データゾーンＺD をディスク２０２上に形成するに
は，例えば，予め記録領域全面に上記トラッキング信号
Ｓr を記録したディスク２０２に対し，上記データゾー
ンＺD の期間だけ記録データをオーバーライトするよう
にしたり，或いは，該データゾーンＺD の期間だけ上記
予め記録されたトラッキング信号Ｓr を消去する。サー
ボゾーンＺS とデータゾーンＺD とを有するディスク２
０２を用いる場合，図４７に示した回路には，端子３０
３にサーボゾーンＺS のみを示すサーボゾーンパルスＣ
（図４８）を供給する。サーボゾーンパルスＣは，遅延
器３１５とＯＲゲート３１６を介することにより，図４
８に示すパルスＦとなる。このパルスＦの，例えば，立
ち下がりを，積分器３１２のリセット入力とすること
で，積分器３１２の積分出力Ｅがリセットされ，サーボ
ゾーンＺS のみで再生ヘッド２３０の移動量が検出され
る。積分器３１２の出力は，更にサンプルホールド回路
３１３を介し，アナログ／デジタル変換（Ａ／Ｄ変換）
器３１４を介して出力端子３０５から出力される。な
お，サンプルホールド回路３１３にも，サーボゾーンパ
ルスＣがリセット入力として供給されるので，サンプル
ホールド回路３１３の出力パルスは，図４８に示すサン
プルホールド信号Ｓ／Ｈとなる。出力端子３０５からの
出力が，駆動制御回路２３９に送られる。
とを設ける場合，たとえば，図４９に示すように，サー
ボゾーンＺS が一定時間間隔で並び, その間の記録領域
をデータゾーンＺD とすることができる。サーボゾーン
ＺS,データゾーンＺD をディスク２０２上に形成するに
は，例えば，予め記録領域全面に上記トラッキング信号
Ｓr を記録したディスク２０２に対し，上記データゾー
ンＺD の期間だけ記録データをオーバーライトするよう
にしたり，或いは，該データゾーンＺD の期間だけ上記
予め記録されたトラッキング信号Ｓr を消去する。サー
ボゾーンＺS とデータゾーンＺD とを有するディスク２
０２を用いる場合，図４７に示した回路には，端子３０
３にサーボゾーンＺS のみを示すサーボゾーンパルスＣ
（図４８）を供給する。サーボゾーンパルスＣは，遅延
器３１５とＯＲゲート３１６を介することにより，図４
８に示すパルスＦとなる。このパルスＦの，例えば，立
ち下がりを，積分器３１２のリセット入力とすること
で，積分器３１２の積分出力Ｅがリセットされ，サーボ
ゾーンＺS のみで再生ヘッド２３０の移動量が検出され
る。積分器３１２の出力は，更にサンプルホールド回路
３１３を介し，アナログ／デジタル変換（Ａ／Ｄ変換）
器３１４を介して出力端子３０５から出力される。な
お，サンプルホールド回路３１３にも，サーボゾーンパ
ルスＣがリセット入力として供給されるので，サンプル
ホールド回路３１３の出力パルスは，図４８に示すサン
プルホールド信号Ｓ／Ｈとなる。出力端子３０５からの
出力が，駆動制御回路２３９に送られる。
【００２１】上述したように，この磁気ディスク装置に
よれば，ディスク２０２から再生したトラッキング信号
Ｓr の磁化反転のパターンのパルスと，クロック信号Ｓ
C の基準クロックパルスとを位相比較回路２３７で位相
比較した結果に基づいて，位置検出回路２３８でトラッ
キング信号再生用のヘッドである記録再生ヘッド２３０
の位置を検出することにより，正確で完全にリニアなフ
ァイン位置情報を求めることができる。このファイン位
置情報に応じて記録再生ヘッド２３０の移動用のロータ
リーアクチュエータ２３６のスピンドルモータを制御す
ることで，正確なセクタサーボ制御を行うことが可能と
なる。また，この磁気ディスクのトラッキング信号記録
方法によれば，ディスク上のクロックトラックＴＣに基
準信号としてのクロック信号ＳC を記録し，再生された
クロック信号ＳC に基づいてトラッキング信号Ｓr を発
生し，磁気ヘッドを半径方向に直線移動させてトラッキ
ング信号Ｓr をディスク上に記録させることで，精密な
ヘッド位置決めが不要で短期間にトラッキング信号（セ
クタサーボパターン）を記録することができるようにな
る。さらに，フォーマッテイングの精度を高くすること
ができ，セクタサーボ制御における不感帯をなくするこ
ともできる。
よれば，ディスク２０２から再生したトラッキング信号
Ｓr の磁化反転のパターンのパルスと，クロック信号Ｓ
C の基準クロックパルスとを位相比較回路２３７で位相
比較した結果に基づいて，位置検出回路２３８でトラッ
キング信号再生用のヘッドである記録再生ヘッド２３０
の位置を検出することにより，正確で完全にリニアなフ
ァイン位置情報を求めることができる。このファイン位
置情報に応じて記録再生ヘッド２３０の移動用のロータ
リーアクチュエータ２３６のスピンドルモータを制御す
ることで，正確なセクタサーボ制御を行うことが可能と
なる。また，この磁気ディスクのトラッキング信号記録
方法によれば，ディスク上のクロックトラックＴＣに基
準信号としてのクロック信号ＳC を記録し，再生された
クロック信号ＳC に基づいてトラッキング信号Ｓr を発
生し，磁気ヘッドを半径方向に直線移動させてトラッキ
ング信号Ｓr をディスク上に記録させることで，精密な
ヘッド位置決めが不要で短期間にトラッキング信号（セ
クタサーボパターン）を記録することができるようにな
る。さらに，フォーマッテイングの精度を高くすること
ができ，セクタサーボ制御における不感帯をなくするこ
ともできる。
【００２２】前述した，アーム有効長ｂと，アーム軸・
スピンドル軸間距離ａとを，ａ＝ｂとする理由について
述べる。この例において，トラックピッチＴr は, 磁気
ディスク２０２の記録領域の内周から外周にわたり，一
定（等トラックピッチ）である必要がある。等トラック
ピッチとは，「１トラックピッチＴr 移動する時の，上
記ロータリーアクチュエータ２３６のアーム回転角度
が，どこのトラックにおいても一定である」という意味
である。ところが，ディスク２０２のラジアル方向でみ
ると，図４２，図４３，および，図４４からわかるよう
に，ディスク２０２の内周側と外周側とでは，ギャップ
Ｇの前記ベント角θ3 が異なるため, 正確には，等トラ
ックピッチになっていない。ただし，トラック幅（ギャ
ップトラック幅）ＴW とトラックピッチＴr の比：ＴW
／Ｔr は一定になる。トラックピッチＴr をほぼ一定に
する意図はガードバンド幅をトラックによらず安定化さ
せることにあり，ガードハンド幅はヘッドのトラック幅
のばらつきを吸収する等の目的で設けられる。このよう
に等トラックピッチ化することは合理的である。
スピンドル軸間距離ａとを，ａ＝ｂとする理由について
述べる。この例において，トラックピッチＴr は, 磁気
ディスク２０２の記録領域の内周から外周にわたり，一
定（等トラックピッチ）である必要がある。等トラック
ピッチとは，「１トラックピッチＴr 移動する時の，上
記ロータリーアクチュエータ２３６のアーム回転角度
が，どこのトラックにおいても一定である」という意味
である。ところが，ディスク２０２のラジアル方向でみ
ると，図４２，図４３，および，図４４からわかるよう
に，ディスク２０２の内周側と外周側とでは，ギャップ
Ｇの前記ベント角θ3 が異なるため, 正確には，等トラ
ックピッチになっていない。ただし，トラック幅（ギャ
ップトラック幅）ＴW とトラックピッチＴr の比：ＴW
／Ｔr は一定になる。トラックピッチＴr をほぼ一定に
する意図はガードバンド幅をトラックによらず安定化さ
せることにあり，ガードハンド幅はヘッドのトラック幅
のばらつきを吸収する等の目的で設けられる。このよう
に等トラックピッチ化することは合理的である。
【００２３】ロータリーアクチュエータ２３６におい
て，１トラック分のアーム回転角度が，内周から外周で
一定になるための条件を以下に計算する。サーボパター
ンは，磁化反転がディスク２０２の中心（スピンドル軸
Ｃ3 ）を通る直線上にあり，かつ，等角度で並ぶパター
ンである。したがって，サーボパターン（磁化反転の線
Ｍ）から得られるパルス間隔に対応するディスク２０２
上での距離ｈは，スピンドル軸Ｃ3 からギャップＧまで
のトラック半径ｒに比例している。すなわち距離ｈを下
記式１で規定する。 ｈ＝ｋ1 ・ｒ ・・（１） ただし，ｋ1 は，定数である。ロータリーアクチュエー
タ２３６のアームが，アーム回動中心ＣR を中心として
１トラック分の角度Δθr だけ回転した時，記録再生ヘ
ッド２３０が移動する距離をｄとすると，下記式２で表
され， ｋ1 ・ｒ＝ｄ sinθ sinθ＝（ｋ1 ／ｄ）・ｒ ・・（２） 距離ｄが一定となる。つまり， sinθがディスク２０２
の半径に比例する。
て，１トラック分のアーム回転角度が，内周から外周で
一定になるための条件を以下に計算する。サーボパター
ンは，磁化反転がディスク２０２の中心（スピンドル軸
Ｃ3 ）を通る直線上にあり，かつ，等角度で並ぶパター
ンである。したがって，サーボパターン（磁化反転の線
Ｍ）から得られるパルス間隔に対応するディスク２０２
上での距離ｈは，スピンドル軸Ｃ3 からギャップＧまで
のトラック半径ｒに比例している。すなわち距離ｈを下
記式１で規定する。 ｈ＝ｋ1 ・ｒ ・・（１） ただし，ｋ1 は，定数である。ロータリーアクチュエー
タ２３６のアームが，アーム回動中心ＣR を中心として
１トラック分の角度Δθr だけ回転した時，記録再生ヘ
ッド２３０が移動する距離をｄとすると，下記式２で表
され， ｋ1 ・ｒ＝ｄ sinθ sinθ＝（ｋ1 ／ｄ）・ｒ ・・（２） 距離ｄが一定となる。つまり， sinθがディスク２０２
の半径に比例する。
【００２４】スピンドル軸Ｃ3 の座標を（０，０），ロ
ータリーアクチュエータ２３６のアーム回動中心ＣR の
座標を（０，ａ），トラック半径をｒ，スピンドル軸Ｃ
3 からアーム回動中心ＣR の軸間距離をａ，アーム有効
長をｂとする。これらの条件の下で，トラッキングスキ
ュー角が０となるようなオフセット角をθとし，記録再
生ヘッド２３０の位置の座標を（ｘ0,ｙ0 ），スピンド
ル軸Ｃ3 から記録再生ヘッド２３０の位置に向かう単位
ベクトルをＰ1,アーム回動中心ＣR から記録再生ヘッド
２３０の位置に向かう単位ベクトルをＰ2 とすると，下
記式で表される。 Ｐ1 ＝（ｘ0 ／ｒ，ｙ0 ／ｒ） ・・（３） Ｐ2 ＝（ｘ0 ／ｂ，（ｙ0 −ａ）／ｂ） ・・（４） 式３および式４のＰ1 とＰ2 の内積をとる。 Ｐ1 ・Ｐ2 ＝１・１・cos(( π／２）−θ）＝ sinθ ・・（５） 式５に式３および式４を代入する。 Ｐ1 ・Ｐ2 ＝（ｘ0 ／ｒ）・（ｘ0 ／ｂ） ＋（ｙ0 ／ｒ）・（ｙ0 −ａ）／ｂ） ＝（１／ｒｂ)(ｘ0 2＋ｙ0 2−ａｙ0) ・・（６）
ータリーアクチュエータ２３６のアーム回動中心ＣR の
座標を（０，ａ），トラック半径をｒ，スピンドル軸Ｃ
3 からアーム回動中心ＣR の軸間距離をａ，アーム有効
長をｂとする。これらの条件の下で，トラッキングスキ
ュー角が０となるようなオフセット角をθとし，記録再
生ヘッド２３０の位置の座標を（ｘ0,ｙ0 ），スピンド
ル軸Ｃ3 から記録再生ヘッド２３０の位置に向かう単位
ベクトルをＰ1,アーム回動中心ＣR から記録再生ヘッド
２３０の位置に向かう単位ベクトルをＰ2 とすると，下
記式で表される。 Ｐ1 ＝（ｘ0 ／ｒ，ｙ0 ／ｒ） ・・（３） Ｐ2 ＝（ｘ0 ／ｂ，（ｙ0 −ａ）／ｂ） ・・（４） 式３および式４のＰ1 とＰ2 の内積をとる。 Ｐ1 ・Ｐ2 ＝１・１・cos(( π／２）−θ）＝ sinθ ・・（５） 式５に式３および式４を代入する。 Ｐ1 ・Ｐ2 ＝（ｘ0 ／ｒ）・（ｘ0 ／ｂ） ＋（ｙ0 ／ｒ）・（ｙ0 −ａ）／ｂ） ＝（１／ｒｂ)(ｘ0 2＋ｙ0 2−ａｙ0) ・・（６）
【００２５】交点の座標が（ｘ0,ｙ0 ）であるから，下
記式に示す関係が成立する。 ｘ0 2＋ｙ0 2＝ｒ2 ・・（７） ｘ0 2＋（ｙ0 −ａ）2 ＝ｂ2 ・・（８） 式７と式８を組み合わせると式９が得られる。 ２ｘ0 2＋２ｙ0 2−２ａｙ0 ＋ａ2 ＝ｒ2 ＋ｂ2 ｘ0 2＋ｙ0 2−ａｙ0 ＝（ｒ2 ＋ｂ2 −ａ2 ）／２ ・・（９） 式９に式６を代入すると，式１０が得られる。 Ｐ1 ・Ｐ2 ＝（ｒ2 ＋ｂ2 −ａ2 ）／２ｒｂ ・・（10) 式１０式６を代入すると，式１１が得られる。 sin θ＝（ｒ2 ＋ｂ2 −ａ2 ）／２ｒｂ θ＝sin -1［（ｒ2 ＋ｂ2 −ａ2 ）／２ｒｂ］ ・・（11）
記式に示す関係が成立する。 ｘ0 2＋ｙ0 2＝ｒ2 ・・（７） ｘ0 2＋（ｙ0 −ａ）2 ＝ｂ2 ・・（８） 式７と式８を組み合わせると式９が得られる。 ２ｘ0 2＋２ｙ0 2−２ａｙ0 ＋ａ2 ＝ｒ2 ＋ｂ2 ｘ0 2＋ｙ0 2−ａｙ0 ＝（ｒ2 ＋ｂ2 −ａ2 ）／２ ・・（９） 式９に式６を代入すると，式１０が得られる。 Ｐ1 ・Ｐ2 ＝（ｒ2 ＋ｂ2 −ａ2 ）／２ｒｂ ・・（10) 式１０式６を代入すると，式１１が得られる。 sin θ＝（ｒ2 ＋ｂ2 −ａ2 ）／２ｒｂ θ＝sin -1［（ｒ2 ＋ｂ2 −ａ2 ）／２ｒｂ］ ・・（11）
【００２６】式１１は下記式に書き換えることができ
る。 sin θ＝（１＋２ｒｂ）・（ｒ2 ＋ｂ2 −ａ2 ） ＝（ｒ／２ｂ）＋（ｒ2 −ａ2 ）／２ｒｂ ・・（12） 式１２に式２を代入すると，下記式が得られる。 （ｋ1 ／ｄ）・ｒ＝（ｒ／２ｂ）＋（ｂ2 −ａ2 ）／２ｒｂ （ｋ1 ／ｄ）＝（１／２ｂ）＋（ｂ2 −ａ2 ）／２ｒｂ ・・（13） 式１３において，トラック半径ｒによらずに距離ｄが一
定となるためには，式１３における右辺第２項が０，す
なわち， ａ＝ｂ となる。
る。 sin θ＝（１＋２ｒｂ）・（ｒ2 ＋ｂ2 −ａ2 ） ＝（ｒ／２ｂ）＋（ｒ2 −ａ2 ）／２ｒｂ ・・（12） 式１２に式２を代入すると，下記式が得られる。 （ｋ1 ／ｄ）・ｒ＝（ｒ／２ｂ）＋（ｂ2 −ａ2 ）／２ｒｂ （ｋ1 ／ｄ）＝（１／２ｂ）＋（ｂ2 −ａ2 ）／２ｒｂ ・・（13） 式１３において，トラック半径ｒによらずに距離ｄが一
定となるためには，式１３における右辺第２項が０，す
なわち， ａ＝ｂ となる。
【００２７】上述したように，この磁気ディスク装置に
おいては，ディスクから再生したトラッキング信号とク
ロック信号との位相比較結果に基づいて，トラッキング
信号再生用のヘッドの位置を検出することで，このヘッ
ドの正確なファイン位置情報を検出することができ，こ
のファイン位置情報に応じてヘッド移動用のアクチュエ
ータを制御することで，正確なセクタサーボが行えるよ
うになる。また，この磁気ディスクのトラッキング信号
記録方法によれば，ディスク上のクロックトラックに基
準信号を記録し，再生された基準信号に基づいてトラッ
キング信号を発生し，磁気ヘッドを半径方向に直線移動
させてトラッキング信号をディスク上に記録すること
で，簡単かつ短時間にトラッキング信号を記録すること
ができる。
おいては，ディスクから再生したトラッキング信号とク
ロック信号との位相比較結果に基づいて，トラッキング
信号再生用のヘッドの位置を検出することで，このヘッ
ドの正確なファイン位置情報を検出することができ，こ
のファイン位置情報に応じてヘッド移動用のアクチュエ
ータを制御することで，正確なセクタサーボが行えるよ
うになる。また，この磁気ディスクのトラッキング信号
記録方法によれば，ディスク上のクロックトラックに基
準信号を記録し，再生された基準信号に基づいてトラッ
キング信号を発生し，磁気ヘッドを半径方向に直線移動
させてトラッキング信号をディスク上に記録すること
で，簡単かつ短時間にトラッキング信号を記録すること
ができる。
【００２８】
【発明が解決しようとする課題】上述した先行技術のヘ
ッド位置検出回路の概略構成を図５０に示す。この先行
技術においては，位相比較器８の基準クロックとして、
図４８に示したクロックパルスＳｃのみを想定してい
る。もし，比較対象となるデータパルス，たとえば，図
４６に示したサーボパルス（ギャップパルス）Ｇ1 〜Ｇ
4 に時間的なゆらぎ，すなわち，ジッタが生ずると、基
準クロックとデータパルスが接近しているような場合，
たとえば，図４６におけるギャップパルスＧ1 とギャッ
プパルスＧ4との時間関係では、データパルスのエッジ
が基準クロックのエッジの前後に分かれて存在する可能
性がある。その場合の位相比較器の比較出力は，図５１
に示したように，例えば，３５５°、３°、１°、５°
となり、平均化回路９においてそのまま平均化すると正
しい（望ましい）答えが１°であるのに対し、得られる
答えは９１°と誤ったものとなる。上記事情を詳細に分
析すると，基準クロックとデータパルス列の位相が接近
している場合，たとえば，データパルス列の平均位相が
０°付近あるいは３６０°付近である場合、ジッタの影
響でデータパルスのエッジが振られ基準クロックのエッ
ジの前後に分かれて存在することがある。その場合の比
較出力は例えば、３５５°、３°、１°、５°となり、
最初の３５５°を−５°とみなして平均１°と出力すべ
きであるが、平均化回路が先行技術におけるように単純
な加算平均をとる構成であると、得られる結果は、９１
°と誤ったものとなってしまう。つまり，上記先行技術
においては，基準クロックが単一なため，ジッタの影響
によりデータパルスのエッジが基準クロックエッジの前
後に分かれて存在すると、正しい位相データが得られな
いという問題があった。本発明は上述した先行技術にお
ける問題を解決し，先行技術の改良を目的とする。
ッド位置検出回路の概略構成を図５０に示す。この先行
技術においては，位相比較器８の基準クロックとして、
図４８に示したクロックパルスＳｃのみを想定してい
る。もし，比較対象となるデータパルス，たとえば，図
４６に示したサーボパルス（ギャップパルス）Ｇ1 〜Ｇ
4 に時間的なゆらぎ，すなわち，ジッタが生ずると、基
準クロックとデータパルスが接近しているような場合，
たとえば，図４６におけるギャップパルスＧ1 とギャッ
プパルスＧ4との時間関係では、データパルスのエッジ
が基準クロックのエッジの前後に分かれて存在する可能
性がある。その場合の位相比較器の比較出力は，図５１
に示したように，例えば，３５５°、３°、１°、５°
となり、平均化回路９においてそのまま平均化すると正
しい（望ましい）答えが１°であるのに対し、得られる
答えは９１°と誤ったものとなる。上記事情を詳細に分
析すると，基準クロックとデータパルス列の位相が接近
している場合，たとえば，データパルス列の平均位相が
０°付近あるいは３６０°付近である場合、ジッタの影
響でデータパルスのエッジが振られ基準クロックのエッ
ジの前後に分かれて存在することがある。その場合の比
較出力は例えば、３５５°、３°、１°、５°となり、
最初の３５５°を−５°とみなして平均１°と出力すべ
きであるが、平均化回路が先行技術におけるように単純
な加算平均をとる構成であると、得られる結果は、９１
°と誤ったものとなってしまう。つまり，上記先行技術
においては，基準クロックが単一なため，ジッタの影響
によりデータパルスのエッジが基準クロックエッジの前
後に分かれて存在すると、正しい位相データが得られな
いという問題があった。本発明は上述した先行技術にお
ける問題を解決し，先行技術の改良を目的とする。
【００２９】
【課題を解決するための手段】本発明の第１の観点によ
れば、全てのトラックの少なくとも一部に記録されかつ
半径方向に放射線状に揃った磁気反転を有するトラッキ
ング信号と，クロックトラックに記録されたクロック信
号とを有するディスクと，上記クロックトラックから上
記クロック信号を再生する固定ヘッドと，上記ディスク
から上記トラッキング信号を再生する再生ヘッドと，上
記再生ヘッドを上記半径方向とは一致しない軌跡に沿っ
て移動させるアクチュエータとを有する磁気ディスク装
置における、ヘッド位置検出装置であって、上記固定ヘ
ッドにより再生された上記クロック信号と上記トラッキ
ング信号との位相を比較する第１の位相比較手段と，該
位相比較手段の出力により上記ディスクに対する上記再
生ヘッドの位置を検出するヘッド位置検出手段と，該ヘ
ッド位置検出手段の出力により上記アクチュエータを制
御する制御手段と、３６０°／ｎずづ位相をずらしたｎ
個（ｎ≧２）の基準クロックを発生する手段と、中心位
相が各基準クロックとから±１８０°ずれ、窓の大きさ
が３６０°／ｎのｎ個あるいはｎ−１個のパルス識別窓
を発生する手段と、上記各基準クロックと、磁気ヘッド
により再生されたデータパルス列との位相を比較する第
２の位相比較手段と、上記第１および第２の位相比較手
段のそれぞれの出力を平均化する平均化手段と、上記各
パルス識別窓中にデータパルスが入ったことを検出する
手段とを備えたことを特徴とする磁気ディスク装置のヘ
ッド位置検出装置が提供される。
れば、全てのトラックの少なくとも一部に記録されかつ
半径方向に放射線状に揃った磁気反転を有するトラッキ
ング信号と，クロックトラックに記録されたクロック信
号とを有するディスクと，上記クロックトラックから上
記クロック信号を再生する固定ヘッドと，上記ディスク
から上記トラッキング信号を再生する再生ヘッドと，上
記再生ヘッドを上記半径方向とは一致しない軌跡に沿っ
て移動させるアクチュエータとを有する磁気ディスク装
置における、ヘッド位置検出装置であって、上記固定ヘ
ッドにより再生された上記クロック信号と上記トラッキ
ング信号との位相を比較する第１の位相比較手段と，該
位相比較手段の出力により上記ディスクに対する上記再
生ヘッドの位置を検出するヘッド位置検出手段と，該ヘ
ッド位置検出手段の出力により上記アクチュエータを制
御する制御手段と、３６０°／ｎずづ位相をずらしたｎ
個（ｎ≧２）の基準クロックを発生する手段と、中心位
相が各基準クロックとから±１８０°ずれ、窓の大きさ
が３６０°／ｎのｎ個あるいはｎ−１個のパルス識別窓
を発生する手段と、上記各基準クロックと、磁気ヘッド
により再生されたデータパルス列との位相を比較する第
２の位相比較手段と、上記第１および第２の位相比較手
段のそれぞれの出力を平均化する平均化手段と、上記各
パルス識別窓中にデータパルスが入ったことを検出する
手段とを備えたことを特徴とする磁気ディスク装置のヘ
ッド位置検出装置が提供される。
【００３０】本発明の第２の観点によれば、全てのトラ
ックの少なくとも一部に記録されかつ半径方向に放射線
状に揃った磁気反転を有するトラッキング信号と，クロ
ックトラックに記録されたクロック信号とを有するディ
スクと，上記クロックトラックから上記クロック信号を
再生する固定ヘッドと，上記ディスクから上記トラッキ
ング信号を再生する再生ヘッドと，上記再生ヘッドを上
記半径方向とは一致しない軌跡に沿って移動させるアク
チュエータとを有する磁気ディスク装置におけるヘッド
位置検出装置であって、上記固定ヘッドにより再生され
た上記クロック信号と上記トラッキング信号との位相を
比較する第１の位相比較手段と，該位相比較手段の出力
により上記ディスクに対する上記再生ヘッドの位置を検
出するヘッド位置検出手段と，該ヘッド位置検出手段の
出力により上記アクチュエータを制御する制御手段と、
１８０°位相をずらした２つの基準クロックを発生する
手段と、窓の大きさが３６０°／ｎのｎ個（ｎ≧３）の
パルス識別窓を発生する手段と、上記２つの各基準クロ
ックと磁気ヘッドにより再生されたデータパルス列との
位相を比較する２個の第２の位相比較手段と、上記第１
および第２の各位相比較手段のそれぞれの出力を平均化
する２個の平均化手段と、上記各パルス識別窓中にデー
タパルスが入ったこと検出する手段とを備えたことを特
徴とする磁気ディスク装置のヘッド位置検出装置が提供
される。
ックの少なくとも一部に記録されかつ半径方向に放射線
状に揃った磁気反転を有するトラッキング信号と，クロ
ックトラックに記録されたクロック信号とを有するディ
スクと，上記クロックトラックから上記クロック信号を
再生する固定ヘッドと，上記ディスクから上記トラッキ
ング信号を再生する再生ヘッドと，上記再生ヘッドを上
記半径方向とは一致しない軌跡に沿って移動させるアク
チュエータとを有する磁気ディスク装置におけるヘッド
位置検出装置であって、上記固定ヘッドにより再生され
た上記クロック信号と上記トラッキング信号との位相を
比較する第１の位相比較手段と，該位相比較手段の出力
により上記ディスクに対する上記再生ヘッドの位置を検
出するヘッド位置検出手段と，該ヘッド位置検出手段の
出力により上記アクチュエータを制御する制御手段と、
１８０°位相をずらした２つの基準クロックを発生する
手段と、窓の大きさが３６０°／ｎのｎ個（ｎ≧３）の
パルス識別窓を発生する手段と、上記２つの各基準クロ
ックと磁気ヘッドにより再生されたデータパルス列との
位相を比較する２個の第２の位相比較手段と、上記第１
および第２の各位相比較手段のそれぞれの出力を平均化
する２個の平均化手段と、上記各パルス識別窓中にデー
タパルスが入ったこと検出する手段とを備えたことを特
徴とする磁気ディスク装置のヘッド位置検出装置が提供
される。
【００３１】本発明の第３の観点によれば、全てのトラ
ックの少なくとも一部に記録されかつ半径方向に放射線
状に揃った磁気反転を有するトラッキング信号と，クロ
ックトラックに記録されたクロック信号とを有すディス
クと，上記クロックトラックから上記クロック信号を再
生する固定ヘッドと，上記ディスクから上記トラッキン
グ信号を再生する再生ヘッドと，上記再生ヘッドを上記
半径方向とは一致しない軌跡に沿って移動させるアクチ
ュエータとを有する磁気ディスク装置におけるヘッド位
置検出装置であって、上記固定ヘッドにより再生された
上記クロック信号と上記トラッキング信号との位相を比
較する第１の位相比較手段と，該位相比較手段の出力に
より上記ディスクに対する上記再生ヘッドの位置を検出
するヘッド位置検出手段と，該ヘッド位置検出手段の出
力により上記アクチュエータを制御する制御手段と、入
力される基準クロックと、磁気ヘッドにより再生された
データパルス列との間の位相を比較する第２の位相比較
手段と、上記第２の位相比較手段からの出力を、位相ず
れ量に比例したアナログ量に変換する変換手段と、上記
変換手段からの出力をプロセッサに取り込むためサンプ
リングホールド手段と，該サンプリングホールド手段か
らの信号をディジタル信号に変換するアナログ／ディジ
タル変換手段と，該アナログ／ディジタル変換手段から
の出力に基づいて演算処理を行うための演算処理手段と
を備え，該演算処理手段は，他の位相比較データとの差
が１８０°より大となるような位相比較データを得た場
合は、ケタ上がりあるいはケタ下がりがあったものとし
て位相補正演算を行うことを特徴とする磁気ディスク装
置のヘッド位置検出装置が提供される。
ックの少なくとも一部に記録されかつ半径方向に放射線
状に揃った磁気反転を有するトラッキング信号と，クロ
ックトラックに記録されたクロック信号とを有すディス
クと，上記クロックトラックから上記クロック信号を再
生する固定ヘッドと，上記ディスクから上記トラッキン
グ信号を再生する再生ヘッドと，上記再生ヘッドを上記
半径方向とは一致しない軌跡に沿って移動させるアクチ
ュエータとを有する磁気ディスク装置におけるヘッド位
置検出装置であって、上記固定ヘッドにより再生された
上記クロック信号と上記トラッキング信号との位相を比
較する第１の位相比較手段と，該位相比較手段の出力に
より上記ディスクに対する上記再生ヘッドの位置を検出
するヘッド位置検出手段と，該ヘッド位置検出手段の出
力により上記アクチュエータを制御する制御手段と、入
力される基準クロックと、磁気ヘッドにより再生された
データパルス列との間の位相を比較する第２の位相比較
手段と、上記第２の位相比較手段からの出力を、位相ず
れ量に比例したアナログ量に変換する変換手段と、上記
変換手段からの出力をプロセッサに取り込むためサンプ
リングホールド手段と，該サンプリングホールド手段か
らの信号をディジタル信号に変換するアナログ／ディジ
タル変換手段と，該アナログ／ディジタル変換手段から
の出力に基づいて演算処理を行うための演算処理手段と
を備え，該演算処理手段は，他の位相比較データとの差
が１８０°より大となるような位相比較データを得た場
合は、ケタ上がりあるいはケタ下がりがあったものとし
て位相補正演算を行うことを特徴とする磁気ディスク装
置のヘッド位置検出装置が提供される。
【００３２】本発明の第４の観点によれば、サーボゾー
ンに，磁化反転が前記ヘッドの移動軌跡に沿う曲線方向
に連なる第１のパターンと前記ディスクの中心から前記
ディスクの外縁に向かって放射状に延びる放射方向に連
なる第２のパターンで構成されたディスクと，これらの
パターンの位相差を基準クロックにもとづいて検出する
手段とを有することを特徴とする磁気ディスク装置のヘ
ッド位置検出装置が提供される。
ンに，磁化反転が前記ヘッドの移動軌跡に沿う曲線方向
に連なる第１のパターンと前記ディスクの中心から前記
ディスクの外縁に向かって放射状に延びる放射方向に連
なる第２のパターンで構成されたディスクと，これらの
パターンの位相差を基準クロックにもとづいて検出する
手段とを有することを特徴とする磁気ディスク装置のヘ
ッド位置検出装置が提供される。
【００３３】本発明の第５の観点によれば、ディスク上
に設けられたクロックトラックに基準信号を再生するス
テップと，再生された上記基準信号に位相ロックし所定
の周波数を有するトラッキング信号を発生するステップ
と，上記トラッキング信号を上記ディスクの半径方向に
一致するヘッドギャップを有する磁気ヘッドにより上記
ディスク上に記録するステップと，上記磁気ヘッドを上
記半径方向に直線移動させるステップとを有し，上記ト
ラッキング信号を上記ディスク上で上記半径方向に放射
状に揃った磁化反転を有するように記録する磁気ディス
クのトラッキング信号記録方法であって，３６０°／ｎ
ずづ位相をずらしたｎ個（ｎ≧２）の基準クロックを発
生するステップと，中心位相が各基準クロックとから±
１８０°ずれ、窓の大きさが３６０°／ｎのｎ個あるい
はｎ−１個のパルス識別窓を発生するステップと，上記
各基準クロックと、磁気ヘッドにより再生されたデータ
パルス列との位相をそれぞれ比較するステップと，上記
各位相比較ステップにおける比較結果についてのそれぞ
れの出力を平均化するステップと，上記各パルス識別窓
中にデータパルスが入ったことを検出するステップとを
備えたことを特徴とする磁気ディスクのトラッキング信
号記録方法が提供される。
に設けられたクロックトラックに基準信号を再生するス
テップと，再生された上記基準信号に位相ロックし所定
の周波数を有するトラッキング信号を発生するステップ
と，上記トラッキング信号を上記ディスクの半径方向に
一致するヘッドギャップを有する磁気ヘッドにより上記
ディスク上に記録するステップと，上記磁気ヘッドを上
記半径方向に直線移動させるステップとを有し，上記ト
ラッキング信号を上記ディスク上で上記半径方向に放射
状に揃った磁化反転を有するように記録する磁気ディス
クのトラッキング信号記録方法であって，３６０°／ｎ
ずづ位相をずらしたｎ個（ｎ≧２）の基準クロックを発
生するステップと，中心位相が各基準クロックとから±
１８０°ずれ、窓の大きさが３６０°／ｎのｎ個あるい
はｎ−１個のパルス識別窓を発生するステップと，上記
各基準クロックと、磁気ヘッドにより再生されたデータ
パルス列との位相をそれぞれ比較するステップと，上記
各位相比較ステップにおける比較結果についてのそれぞ
れの出力を平均化するステップと，上記各パルス識別窓
中にデータパルスが入ったことを検出するステップとを
備えたことを特徴とする磁気ディスクのトラッキング信
号記録方法が提供される。
【００３４】本発明の第６の観点によれば、ディスク上
に設けられたクロックトラックに基準信号を再生するス
テップと，再生された上記基準信号に位相ロックし所定
の周波数を有するトラッキング信号を発生するステップ
と，上記トラッキング信号を上記ディスクの半径方向に
一致するヘッドギャップを有する磁気ヘッドにより上記
ディスク上に記録するステップと，上記磁気ヘッドを上
記半径方向に直線移動させるステップとを有し，上記ト
ラッキング信号を上記ディスク上で上記半径方向に放射
状に揃った磁化反転を有するように記録する磁気ディス
クのトラッキング信号記録方法であって，１８０°位相
をずらした２つの基準クロックを発生するステップと，
窓の大きさが３６０°／ｎのｎ個（ｎ≧３）のパルス識
別窓を発生するステップと，上記２つの各基準クロック
と磁気ヘッドにより再生されたデータパルス列との位相
をそれぞれ比較するステップと，上記各位相比較結果に
ついてそれぞれの出力を平均化するステップと，上記各
パルス識別窓中にデータパルスが入ったこと検出するス
テップとを備えたことを特徴とする磁気ディスクのトラ
ッキング信号記録方法が提供される。
に設けられたクロックトラックに基準信号を再生するス
テップと，再生された上記基準信号に位相ロックし所定
の周波数を有するトラッキング信号を発生するステップ
と，上記トラッキング信号を上記ディスクの半径方向に
一致するヘッドギャップを有する磁気ヘッドにより上記
ディスク上に記録するステップと，上記磁気ヘッドを上
記半径方向に直線移動させるステップとを有し，上記ト
ラッキング信号を上記ディスク上で上記半径方向に放射
状に揃った磁化反転を有するように記録する磁気ディス
クのトラッキング信号記録方法であって，１８０°位相
をずらした２つの基準クロックを発生するステップと，
窓の大きさが３６０°／ｎのｎ個（ｎ≧３）のパルス識
別窓を発生するステップと，上記２つの各基準クロック
と磁気ヘッドにより再生されたデータパルス列との位相
をそれぞれ比較するステップと，上記各位相比較結果に
ついてそれぞれの出力を平均化するステップと，上記各
パルス識別窓中にデータパルスが入ったこと検出するス
テップとを備えたことを特徴とする磁気ディスクのトラ
ッキング信号記録方法が提供される。
【００３５】本発明の第７の観点によれば、ディスク上
に設けられたクロックトラックに基準信号を再生するス
テップと，再生された上記基準信号に位相ロックし所定
の周波数を有するトラッキング信号を発生するステップ
と，上記トラッキング信号を上記ディスクの半径方向に
一致するヘッドギャップを有する磁気ヘッドにより上記
ディスク上に記録するステップと，上記磁気ヘッドを上
記半径方向に直線移動させるステップとを有し，上記ト
ラッキング信号を上記ディスク上で上記半径方向に放射
状に揃った磁化反転を有するように記録する磁気ディス
クのトラッキング信号記録方法であって，入力される基
準クロックと、磁気ヘッドにより再生されたデータパル
ス列との間の位相を比較するステップと，上記位相結果
出力を、位相ずれ量に比例したアナログ量に変換するス
テップと，上記変換ステップによる変換出力をプロセッ
サに取り込むためサンプリングホールドするステップ
と，該サンプリングホールドステップによる信号をディ
ジタル信号に変換するアナログ／ディジタル変換するス
テップと，該アナログ／ディジタル変換ステップからの
出力に基づいて演算処理を行うステップとを備え，該演
算処理ステップは，他の位相比較データとの差が１８０
°より大となるような位相比較データを得た場合は、ケ
タ上がりあるいはケタ下がりがあったものとして位相補
正演算を行うことを特徴とする磁気ディスクのトラッキ
ング信号記録方法が提供される。
に設けられたクロックトラックに基準信号を再生するス
テップと，再生された上記基準信号に位相ロックし所定
の周波数を有するトラッキング信号を発生するステップ
と，上記トラッキング信号を上記ディスクの半径方向に
一致するヘッドギャップを有する磁気ヘッドにより上記
ディスク上に記録するステップと，上記磁気ヘッドを上
記半径方向に直線移動させるステップとを有し，上記ト
ラッキング信号を上記ディスク上で上記半径方向に放射
状に揃った磁化反転を有するように記録する磁気ディス
クのトラッキング信号記録方法であって，入力される基
準クロックと、磁気ヘッドにより再生されたデータパル
ス列との間の位相を比較するステップと，上記位相結果
出力を、位相ずれ量に比例したアナログ量に変換するス
テップと，上記変換ステップによる変換出力をプロセッ
サに取り込むためサンプリングホールドするステップ
と，該サンプリングホールドステップによる信号をディ
ジタル信号に変換するアナログ／ディジタル変換するス
テップと，該アナログ／ディジタル変換ステップからの
出力に基づいて演算処理を行うステップとを備え，該演
算処理ステップは，他の位相比較データとの差が１８０
°より大となるような位相比較データを得た場合は、ケ
タ上がりあるいはケタ下がりがあったものとして位相補
正演算を行うことを特徴とする磁気ディスクのトラッキ
ング信号記録方法が提供される。
【００３６】本発明の第８の観点によれば、サーボゾー
ンに，磁化反転が前記ヘッドの移動軌跡に沿う曲線方向
に連なる第１のパターンと前記ディスクの中心から前記
ディスクの外縁に向かって放射状に延びる放射方向に連
なる第２のパターンで構成されたディスクから上記パタ
ーン信号を入力するステップと，これらのパターンの位
相差を基準クロックにもとづいて検出するステップとを
有することを特徴とする磁気ディスクのトラッキング信
号記録方法が提供される。
ンに，磁化反転が前記ヘッドの移動軌跡に沿う曲線方向
に連なる第１のパターンと前記ディスクの中心から前記
ディスクの外縁に向かって放射状に延びる放射方向に連
なる第２のパターンで構成されたディスクから上記パタ
ーン信号を入力するステップと，これらのパターンの位
相差を基準クロックにもとづいて検出するステップとを
有することを特徴とする磁気ディスクのトラッキング信
号記録方法が提供される。
【００３７】本発明の第９の観点によれば、磁気ディス
ク上の所定の半径位置に固定ヘッドによりクロックパタ
ーンを書き込むステップと、前記クロックパターンを固
定ヘッドにより再生するステップと、該再生された前記
クロックパターンに基づいて、直動ヘッドによりラジア
ルパターンを前記磁気ディスクの全面にべた書きするス
テップと、回動ヘッドにより前記べた書きしてパターン
を部分的に消去しつつ、回動パターンをべた書きするス
テップとを有する磁気ディスクのトラッキング信号記録
方法が提供される。
ク上の所定の半径位置に固定ヘッドによりクロックパタ
ーンを書き込むステップと、前記クロックパターンを固
定ヘッドにより再生するステップと、該再生された前記
クロックパターンに基づいて、直動ヘッドによりラジア
ルパターンを前記磁気ディスクの全面にべた書きするス
テップと、回動ヘッドにより前記べた書きしてパターン
を部分的に消去しつつ、回動パターンをべた書きするス
テップとを有する磁気ディスクのトラッキング信号記録
方法が提供される。
【００３８】
【００３９】
【００４０】
【００４１】
【実施例】図１は本発明の第１実施例としての磁気ディ
スク装置におけるヘッド位置検出回路のシステム構成を
示すブロック図である。このヘッド位置検出回路は，基
準クロック発生回路１，位相比較回路３，平均化回路
５，パルス識別窓発生回路２，データパルス有無検出回
路４，出力選択判別処理回路６，および，スイッチ回路
７を有する。基準クロック発生回路１は単一のマスタク
ロックＭＣＫから複数の基準クロックＲＣＫ１〜ＲＣＫ
ｎを発生し位相比較回路３に出力する。位相比較回路３
はデータパルス列ＤＰＴと上記複数の基準クロックＲＣ
Ｋ１〜ＲＣＫｎと比較して比較出力信号ＣＭＰ１〜ＣＭ
Ｐｎを出力する。平均化回路５はこれらの比較出力信号
ＣＭＰ１〜ＣＭＰｎを平均する。パルス識別窓発生回路
２はマスタクロックＭＣＫから複数のパルス識別窓Ｗ１
〜Ｗｎを発生しデータパルス有無検出回路４に出力す
る。データパルス有無検出回路４はデータパルス列ＤＰ
Ｔを複数のパルス識別窓Ｗ１〜Ｗｎのいずれに位置にあ
るかを検出して複数の検出出力信号ＤＥＴ１〜ＤＥＴｎ
を出力する。出力選択判別処理回路６は所定の判定方法
（アルゴリズム）に基づいて複数の検出出力信号ＤＥＴ
１〜ＤＥＴｎからスイッチ回路７を切換駆動する信号Ｓ
６を出力する。スイッチ回路７は，切換駆動信号Ｓ６に
基づいて平均化回路５からの複数の平均化信号Ｓ５1 〜
Ｓ５n のいずれかを選択して出力する。
スク装置におけるヘッド位置検出回路のシステム構成を
示すブロック図である。このヘッド位置検出回路は，基
準クロック発生回路１，位相比較回路３，平均化回路
５，パルス識別窓発生回路２，データパルス有無検出回
路４，出力選択判別処理回路６，および，スイッチ回路
７を有する。基準クロック発生回路１は単一のマスタク
ロックＭＣＫから複数の基準クロックＲＣＫ１〜ＲＣＫ
ｎを発生し位相比較回路３に出力する。位相比較回路３
はデータパルス列ＤＰＴと上記複数の基準クロックＲＣ
Ｋ１〜ＲＣＫｎと比較して比較出力信号ＣＭＰ１〜ＣＭ
Ｐｎを出力する。平均化回路５はこれらの比較出力信号
ＣＭＰ１〜ＣＭＰｎを平均する。パルス識別窓発生回路
２はマスタクロックＭＣＫから複数のパルス識別窓Ｗ１
〜Ｗｎを発生しデータパルス有無検出回路４に出力す
る。データパルス有無検出回路４はデータパルス列ＤＰ
Ｔを複数のパルス識別窓Ｗ１〜Ｗｎのいずれに位置にあ
るかを検出して複数の検出出力信号ＤＥＴ１〜ＤＥＴｎ
を出力する。出力選択判別処理回路６は所定の判定方法
（アルゴリズム）に基づいて複数の検出出力信号ＤＥＴ
１〜ＤＥＴｎからスイッチ回路７を切換駆動する信号Ｓ
６を出力する。スイッチ回路７は，切換駆動信号Ｓ６に
基づいて平均化回路５からの複数の平均化信号Ｓ５1 〜
Ｓ５n のいずれかを選択して出力する。
【００４２】データパルス列ＤＰＴの平均位相θ- を
（０°≦θ- ＜３６０°）
とし、ジッタを含めた各パルスの位相分布を
θ- −δθｍ≦θｉ≦θ- ＋δθP （０°≦δθｍ，δ
θP ） とする。（δθｍ＋δθp ）≦１８０°となると平均化
が困難となるので、ここでは，（δθｍ＋δθｐ）＜１
８０°に限定して考える。上記の先行技術における問題
を回避するためには、データパルス列ＤＰＴの位相θに
応じて，基準クロック発生回路１において発生する複数
の基準クロックＲＣＫ１〜ＲＣＫｎの位相をずらし、デ
ータパルス列ＤＰＴのエッジが基準クロックＲＣＫ１〜
ＲＣＫｎのエッジの両側にまたがって分布しないように
することで十分である。この位相ずれ量を Θ（０°＜Θ＜３６０°） とすると、位相比較回路３からの個々の位相比較出力信
号ＣＭＰ１〜ＣＭＰｎには、−Θあるいは（３６０°−
Θ）のオフセットが生じる。これのオフセットに対して
は平均化回路５において平均をとった結果に位相ずれ量
Θを加算し、その結果が３６０°以上になった場合はさ
らに位相データから３６０°を減ずるという処理を行
う。第１実施例は，上述の十分条件を満足させるための
方法を与えるものであり、以下原理を述べる。
θP ） とする。（δθｍ＋δθp ）≦１８０°となると平均化
が困難となるので、ここでは，（δθｍ＋δθｐ）＜１
８０°に限定して考える。上記の先行技術における問題
を回避するためには、データパルス列ＤＰＴの位相θに
応じて，基準クロック発生回路１において発生する複数
の基準クロックＲＣＫ１〜ＲＣＫｎの位相をずらし、デ
ータパルス列ＤＰＴのエッジが基準クロックＲＣＫ１〜
ＲＣＫｎのエッジの両側にまたがって分布しないように
することで十分である。この位相ずれ量を Θ（０°＜Θ＜３６０°） とすると、位相比較回路３からの個々の位相比較出力信
号ＣＭＰ１〜ＣＭＰｎには、−Θあるいは（３６０°−
Θ）のオフセットが生じる。これのオフセットに対して
は平均化回路５において平均をとった結果に位相ずれ量
Θを加算し、その結果が３６０°以上になった場合はさ
らに位相データから３６０°を減ずるという処理を行
う。第１実施例は，上述の十分条件を満足させるための
方法を与えるものであり、以下原理を述べる。
【００４３】データパルス列ＤＰＴの各データパルスの
系列の位相をθｊとし、ジッタの最大値をピーク・ツゥ
ー・ピーク（ｐ−ｐ）でδθｍａｘとする。このとき，
∀ｊ，θｊ- −δθｊｍ≦θｊｉ≦θｊ- ＋δθｊｐに
対し、 δθｊｍ＋δθｊｐ≦δθｍａｘ（＜１８０°） ・・（14） が成り立つものとする。ここで、δθｍａｘ＜１８０°
×（１−１／ｕ）を満足する最小の整数ｕをｋとする。
図２に示したように，本実施例においては，ｎ個（ｎ≧
ｋ）の（３６０°／ｎ）ずつ位相をずらした基準クロッ
クＲＣＫ１〜ＲＣＫｎを用意し、それぞれの基準クロッ
クに対応して設けたパルス識別窓Ｗ１〜Ｗｎによりデー
タパルス列ＤＰＴの位相を判別して基準クロックの位相
ずれ量Θを決定することにより、上記十分条件を満足さ
せ、正しい平均位相θｊ- を得る。図２に示したよう
に，パルス識別窓Ｗ１〜Ｗｎの中心位相は、それぞれの
基準クロックＲＣＫ１〜ＲＣＫｎとは±１８０°ずらす
ものとし、それぞれのパルス識別窓の大きさは（３６０
°／ｎ）とする。
系列の位相をθｊとし、ジッタの最大値をピーク・ツゥ
ー・ピーク（ｐ−ｐ）でδθｍａｘとする。このとき，
∀ｊ，θｊ- −δθｊｍ≦θｊｉ≦θｊ- ＋δθｊｐに
対し、 δθｊｍ＋δθｊｐ≦δθｍａｘ（＜１８０°） ・・（14） が成り立つものとする。ここで、δθｍａｘ＜１８０°
×（１−１／ｕ）を満足する最小の整数ｕをｋとする。
図２に示したように，本実施例においては，ｎ個（ｎ≧
ｋ）の（３６０°／ｎ）ずつ位相をずらした基準クロッ
クＲＣＫ１〜ＲＣＫｎを用意し、それぞれの基準クロッ
クに対応して設けたパルス識別窓Ｗ１〜Ｗｎによりデー
タパルス列ＤＰＴの位相を判別して基準クロックの位相
ずれ量Θを決定することにより、上記十分条件を満足さ
せ、正しい平均位相θｊ- を得る。図２に示したよう
に，パルス識別窓Ｗ１〜Ｗｎの中心位相は、それぞれの
基準クロックＲＣＫ１〜ＲＣＫｎとは±１８０°ずらす
ものとし、それぞれのパルス識別窓の大きさは（３６０
°／ｎ）とする。
【００４４】あるデータ
θｊｉ（θｊ- −δθｊｍ≦θｊｉ≦θｊ- ＋δθｊ
ｐ，０°≦θｊ- ≦３６０°） があり、ｑ番目の識別窓中に入ったとすると下記式が成
立する。 ヨｊ、Θｑ’−１８０°／ｎ≦Θｊｉ ≦Θｑ’＋１８０°／ｎ ・・（15） ただし、Θｑ’＝３６０°×（ｑ−１）／ｎ Θｑ’＝Θｑ±１８０° （符号±はΘｊｉのレンジに応じて選択する） 式１４に示した条件と、 δΘｍａｘ≦１８０°×（１−１／ｋ） ≦１８０°×（１−１／ｎ） （∵ｎ≧ｋ） より ∀ｊ，δθｊｍ＋δθｊｐ＜１８０°×（１−１／ｎ） ・・（16) が成り立つ。 ∀ｊ，θｑ’−１８０° ＜θｊｉ＜θｑ’＋１８０° が成り立つから，データパルス系列θｊのすべてのデー
タθｊｉについて、 式１５の符号＋のとき Θｑ＜θｊｉ＜Θｑ＋３６０° 式１５の符号−のとき Θｑ−３６０°＜θｊｉ＜Θｑ となることがわかる。したがって，あるデータがｑ番目
の識別窓中に入ったときは、位相ずれ量 Θｑ＝３６０°ｘ（ｑ−１）／ｎ とする（基準クロックｑを使用する）ことにより、デー
タパルスのエッジが基準クロックのエッジの両側にまた
がって分布することが回避できる。
ｐ，０°≦θｊ- ≦３６０°） があり、ｑ番目の識別窓中に入ったとすると下記式が成
立する。 ヨｊ、Θｑ’−１８０°／ｎ≦Θｊｉ ≦Θｑ’＋１８０°／ｎ ・・（15） ただし、Θｑ’＝３６０°×（ｑ−１）／ｎ Θｑ’＝Θｑ±１８０° （符号±はΘｊｉのレンジに応じて選択する） 式１４に示した条件と、 δΘｍａｘ≦１８０°×（１−１／ｋ） ≦１８０°×（１−１／ｎ） （∵ｎ≧ｋ） より ∀ｊ，δθｊｍ＋δθｊｐ＜１８０°×（１−１／ｎ） ・・（16) が成り立つ。 ∀ｊ，θｑ’−１８０° ＜θｊｉ＜θｑ’＋１８０° が成り立つから，データパルス系列θｊのすべてのデー
タθｊｉについて、 式１５の符号＋のとき Θｑ＜θｊｉ＜Θｑ＋３６０° 式１５の符号−のとき Θｑ−３６０°＜θｊｉ＜Θｑ となることがわかる。したがって，あるデータがｑ番目
の識別窓中に入ったときは、位相ずれ量 Θｑ＝３６０°ｘ（ｑ−１）／ｎ とする（基準クロックｑを使用する）ことにより、デー
タパルスのエッジが基準クロックのエッジの両側にまた
がって分布することが回避できる。
【００４５】データパルスが、複数のパルス識別窓にま
たがって存在した場合、上述の論議はいずれのパスル識
別窓中のデータに対しても適応可能である。すなわち、
対応するどの基準クロックを用いてもよい。この場合
に、基準クロックを選択する方法として、たとえば，下
記に挙げる選択（判定）基準（アルゴリズム）をとるこ
とができる。 選択基準１：最初のデータが存在するパルス識別窓に対
応したクロックを選択する。 選択基準２：一番多くのデータが分布しているパルス識
別窓に対応したクロックを選択する。
たがって存在した場合、上述の論議はいずれのパスル識
別窓中のデータに対しても適応可能である。すなわち、
対応するどの基準クロックを用いてもよい。この場合
に、基準クロックを選択する方法として、たとえば，下
記に挙げる選択（判定）基準（アルゴリズム）をとるこ
とができる。 選択基準１：最初のデータが存在するパルス識別窓に対
応したクロックを選択する。 選択基準２：一番多くのデータが分布しているパルス識
別窓に対応したクロックを選択する。
【００４６】これまでの記述では、パルス識別窓は各基
準クロックに対応してｎ個設けるものとしたが、図１に
示した位相算出回路において，そのうちの１個を省略
し、データパルスが（ｎ−１）個のパスル識別窓のいず
れの中にも存在しなかった場合、省略したパスル識別窓
中にあるものとみなすという構成も可能である。
準クロックに対応してｎ個設けるものとしたが、図１に
示した位相算出回路において，そのうちの１個を省略
し、データパルスが（ｎ−１）個のパスル識別窓のいず
れの中にも存在しなかった場合、省略したパスル識別窓
中にあるものとみなすという構成も可能である。
【００４７】以上、第１実施例として図１に示した位相
算出回路の動作原理を述べたが、以下の記述において
は，この実施例の具体的構成について、図１を参照しな
がら述べる。マスタクロックＭＣＫから複数の基準クロ
ックＲＣＫ１〜ＲＣＫｎを発生する基準クロック発生回
路１の回路構成としては，マスタクロックＭＣＫの周波
数を基準クロックＲＣＫ１〜ＲＣＫｎの周波数の整数倍
と仮定し，基準クロック発生回路１における分周等によ
り複数の基準クロックＲＣＫ１〜ＲＣＫｎを発生させ
る。位相は１８０°異なるが，パルス識別窓発生回路２
におけるパルス識別窓Ｗ１〜Ｗｎの発生も，基準クロッ
ク発生回路１と同様，マスタクロックＭＣＫを分周して
発生させる。あるいは，基準クロック発生回路１および
パルス識別窓発生回路２において，マスタクロックＭＣ
Ｋを順次遅延させて，基準クロックＲＣＫおよびパルス
識別窓Ｗを発生させてもよい。
算出回路の動作原理を述べたが、以下の記述において
は，この実施例の具体的構成について、図１を参照しな
がら述べる。マスタクロックＭＣＫから複数の基準クロ
ックＲＣＫ１〜ＲＣＫｎを発生する基準クロック発生回
路１の回路構成としては，マスタクロックＭＣＫの周波
数を基準クロックＲＣＫ１〜ＲＣＫｎの周波数の整数倍
と仮定し，基準クロック発生回路１における分周等によ
り複数の基準クロックＲＣＫ１〜ＲＣＫｎを発生させ
る。位相は１８０°異なるが，パルス識別窓発生回路２
におけるパルス識別窓Ｗ１〜Ｗｎの発生も，基準クロッ
ク発生回路１と同様，マスタクロックＭＣＫを分周して
発生させる。あるいは，基準クロック発生回路１および
パルス識別窓発生回路２において，マスタクロックＭＣ
Ｋを順次遅延させて，基準クロックＲＣＫおよびパルス
識別窓Ｗを発生させてもよい。
【００４８】ｎ＝２の場合について具体例を示す。図３
はｎ＝２の場合の，分周を行って第１および第２の基準
クロックＲＣＫ１，ＲＣＫ２を発生させる基準クロック
発生回路１，および，パルス識別窓発生回路２の特定的
な回路構成図であり，図４は図３の回路による信号波形
図である。図５はｎ＝２の場合の，遅延によって第１お
よび第２の基準クロックＲＣＫ１，ＲＣＫ２を発生させ
る基準クロック発生回路１，および，パルス識別窓発生
回路２の特定的な回路構成図であり，図６は図５の回路
による信号波形図である。図７は位相比較回路３として
セット・リセット（ＲＳ）形フリップフロップを用いた
回路構成図であり，この回路においては，図８に示すよ
うに，例えば，それぞれの基準クロックＲＣＫ１〜ＲＣ
Ｋｎの立ち上がりからデータパルス列ＤＰＴの立ち上が
りまでの間が、「高（Ｈ）」レベルの比較出力信号ＣＭ
Ｐとなる。図９はデータパルス有無検出回路４の１例と
して，遅延（Ｄ）形フリップフロップ回路の回路図であ
る。図１０はこの回路における信号波形図である。この
フリップフロップにおいては，例えば，パルス識別窓Ｗ
中にデータパルス列ＤＰＴが立ち上がると，検出出力信
号ＤＥＴが出力される。図１１は平均化回路５の１例と
して，位相比較回路３を図７に示したフリップフロップ
を用いた場合に好適な，積分器ＩＮＴを示す図である。
図１２は図１１の積分出力，すなわち，平均化回路５の
平均化信号Ｓ５1 〜Ｓ５n の１つをかめす波形図であ
る。
はｎ＝２の場合の，分周を行って第１および第２の基準
クロックＲＣＫ１，ＲＣＫ２を発生させる基準クロック
発生回路１，および，パルス識別窓発生回路２の特定的
な回路構成図であり，図４は図３の回路による信号波形
図である。図５はｎ＝２の場合の，遅延によって第１お
よび第２の基準クロックＲＣＫ１，ＲＣＫ２を発生させ
る基準クロック発生回路１，および，パルス識別窓発生
回路２の特定的な回路構成図であり，図６は図５の回路
による信号波形図である。図７は位相比較回路３として
セット・リセット（ＲＳ）形フリップフロップを用いた
回路構成図であり，この回路においては，図８に示すよ
うに，例えば，それぞれの基準クロックＲＣＫ１〜ＲＣ
Ｋｎの立ち上がりからデータパルス列ＤＰＴの立ち上が
りまでの間が、「高（Ｈ）」レベルの比較出力信号ＣＭ
Ｐとなる。図９はデータパルス有無検出回路４の１例と
して，遅延（Ｄ）形フリップフロップ回路の回路図であ
る。図１０はこの回路における信号波形図である。この
フリップフロップにおいては，例えば，パルス識別窓Ｗ
中にデータパルス列ＤＰＴが立ち上がると，検出出力信
号ＤＥＴが出力される。図１１は平均化回路５の１例と
して，位相比較回路３を図７に示したフリップフロップ
を用いた場合に好適な，積分器ＩＮＴを示す図である。
図１２は図１１の積分出力，すなわち，平均化回路５の
平均化信号Ｓ５1 〜Ｓ５n の１つをかめす波形図であ
る。
【００４９】出力選択判別処理回路６における選択方法
（アルゴリズム）としては，上述した例示のように，下
記２つのいずれかを用いて，平均化回路５から出力され
る平均化信号Ｓ５1 〜Ｓ５n のうち，最適なものをスイ
ッチ回路７において選択させる。 選択方法ａ：最初のデータが存在するパルス識別窓に対
応した平均化出力を選択する。 選択方法ｂ：一番多くのデータが分布しているパルス識
別窓に対応した平均化出力を選択する。 なお、平均化回路５からの平均化出力として第１の基準
クロックＲＣＫ１に対応する平均化信号Ｓ５1 以外を選
択した場合、平均した結果にオフセットが生じるが、既
述のように、平均化出力Ｓ５i （ｉ≧２）を選択したと
きには、結果にずれ量Θ＝３６０°×ｉ−１／ｎを加
え、３６０°以上となってしまったら、さらに３６０°
を減算するという処理を行えば，オフセットが補償でき
る。
（アルゴリズム）としては，上述した例示のように，下
記２つのいずれかを用いて，平均化回路５から出力され
る平均化信号Ｓ５1 〜Ｓ５n のうち，最適なものをスイ
ッチ回路７において選択させる。 選択方法ａ：最初のデータが存在するパルス識別窓に対
応した平均化出力を選択する。 選択方法ｂ：一番多くのデータが分布しているパルス識
別窓に対応した平均化出力を選択する。 なお、平均化回路５からの平均化出力として第１の基準
クロックＲＣＫ１に対応する平均化信号Ｓ５1 以外を選
択した場合、平均した結果にオフセットが生じるが、既
述のように、平均化出力Ｓ５i （ｉ≧２）を選択したと
きには、結果にずれ量Θ＝３６０°×ｉ−１／ｎを加
え、３６０°以上となってしまったら、さらに３６０°
を減算するという処理を行えば，オフセットが補償でき
る。
【００５０】上述した第１実施例と上記先行技術との関
連について述べる。第１実施例においては，先行技術に
おける磁気ディスク装置の基本構成，および，第１実施
例で改良の対象としない部分の記述は割愛している。し
たがって，磁気ディスク装置およびヘッド位置検出方法
に関連した基本的事項は，先行技術した記述したものを
本実施例に適用するものとする。
連について述べる。第１実施例においては，先行技術に
おける磁気ディスク装置の基本構成，および，第１実施
例で改良の対象としない部分の記述は割愛している。し
たがって，磁気ディスク装置およびヘッド位置検出方法
に関連した基本的事項は，先行技術した記述したものを
本実施例に適用するものとする。
【００５１】その関連を明確にすると，たとえば，本実
施例におけるマスタクロックＭＣＫは先行技術における
固定ヘッド２２０からの出力パルスに相当し、データパ
ルス列ＤＰＴ再生ヘッド２３０からのトラッキング信号
に相当する。この場合、マスタクロックＭＣＫ（固定ヘ
ッド２２０からの出力パルス）としては、 ケース（ｉ）データパルス列ＤＰＴ（トラッキング信
号）と同一周波数のパルス信号とするほか、 ケース（ｉｉ）データパルス列ＤＰＴの整数倍の周波数
の高いパルス信号とすることが可能である。 ケース（ｉ）の場合は、図１に示した基準クロック発生
回路１およびパルス識別窓発生回路２の回路構成として
遅延を行う回路構成とし，ケース（ｉｉ）の場合は分周
を行う回路構成とする。ただし、ケース（ｉｉ）の場合
は基準クロック１の位相を０°に合わせるために、マス
タクロックＭＣＫ中にヘッダを付加すること（特定パタ
ーンを記録しておく）などの処理が必要である。
施例におけるマスタクロックＭＣＫは先行技術における
固定ヘッド２２０からの出力パルスに相当し、データパ
ルス列ＤＰＴ再生ヘッド２３０からのトラッキング信号
に相当する。この場合、マスタクロックＭＣＫ（固定ヘ
ッド２２０からの出力パルス）としては、 ケース（ｉ）データパルス列ＤＰＴ（トラッキング信
号）と同一周波数のパルス信号とするほか、 ケース（ｉｉ）データパルス列ＤＰＴの整数倍の周波数
の高いパルス信号とすることが可能である。 ケース（ｉ）の場合は、図１に示した基準クロック発生
回路１およびパルス識別窓発生回路２の回路構成として
遅延を行う回路構成とし，ケース（ｉｉ）の場合は分周
を行う回路構成とする。ただし、ケース（ｉｉ）の場合
は基準クロック１の位相を０°に合わせるために、マス
タクロックＭＣＫ中にヘッダを付加すること（特定パタ
ーンを記録しておく）などの処理が必要である。
【００５２】また、マスタクロックＭＣＫの生成を固定
ヘッドからの出力とは別個に行う構成も考えられ，その
例としては，たとえば、発振器によりマスタクロックＭ
ＣＫを生成してもよい。この場合、基準となる側の信号
（固定ヘッドからの出力パルス）をリファレンスパル
ス、トラッキング信号（再生ヘッドからの出力パルス）
をサーボパルスと呼ぶと、リファレンスパルスはサーボ
パルスと同一周波数である必要があり、マスタクロック
を基準として（同一の基準クロックの組を用い）リファ
レンスパルス、サーボパルスのそれぞれの平均位相を算
出し、その差をとることにより、リファレンスパスルと
サーボパルスの間の位相差を算出することができる。こ
のような構成とした場合には、先行技術における固定ヘ
ッドを使わない位相差信号の算出も可能である。その場
合は、図１３に図解した放射状のパターンを記録したサ
ーボゾーンＳとともに、磁化反転パターンが再生ヘッド
の軌跡（円弧となる）と一致するように記録されたリフ
ァレンスゾーンＲ（本ゾーンからの再生信号はヘッド位
置によらず位相一定となる）を設け、再生ヘッドから順
次再生される、リファレンスゾーンのパルス（リファレ
ンスパルス）、サーボゾーンのパルス（サーボパルス）
に対して平均位相を算出し、その差をとればよい。
ヘッドからの出力とは別個に行う構成も考えられ，その
例としては，たとえば、発振器によりマスタクロックＭ
ＣＫを生成してもよい。この場合、基準となる側の信号
（固定ヘッドからの出力パルス）をリファレンスパル
ス、トラッキング信号（再生ヘッドからの出力パルス）
をサーボパルスと呼ぶと、リファレンスパルスはサーボ
パルスと同一周波数である必要があり、マスタクロック
を基準として（同一の基準クロックの組を用い）リファ
レンスパルス、サーボパルスのそれぞれの平均位相を算
出し、その差をとることにより、リファレンスパスルと
サーボパルスの間の位相差を算出することができる。こ
のような構成とした場合には、先行技術における固定ヘ
ッドを使わない位相差信号の算出も可能である。その場
合は、図１３に図解した放射状のパターンを記録したサ
ーボゾーンＳとともに、磁化反転パターンが再生ヘッド
の軌跡（円弧となる）と一致するように記録されたリフ
ァレンスゾーンＲ（本ゾーンからの再生信号はヘッド位
置によらず位相一定となる）を設け、再生ヘッドから順
次再生される、リファレンスゾーンのパルス（リファレ
ンスパルス）、サーボゾーンのパルス（サーボパルス）
に対して平均位相を算出し、その差をとればよい。
【００５３】以上述べたように，第１実施例によれば、
データパルスのジッタがピークツゥーピーク（ｐ−ｐ）
で、１８０°×（１−１／ｎ）未満である場合、マスタ
クロックＭＣＫからｎ個の基準クロックＲＣＫ１〜ＲＣ
Ｋｎを生成することにより０°〜３６０°の全範囲にわ
たり、正しい平均位相を得ることができる。特に、デー
タパルスのジッタがピークツゥーピークで、９０°未満
に収まる場合、基準クロックは１８０°位相をずらした
２つを用意すればよく、比較的小規模な回路構成で本実
施例の位相算出回路が実現可能である。
データパルスのジッタがピークツゥーピーク（ｐ−ｐ）
で、１８０°×（１−１／ｎ）未満である場合、マスタ
クロックＭＣＫからｎ個の基準クロックＲＣＫ１〜ＲＣ
Ｋｎを生成することにより０°〜３６０°の全範囲にわ
たり、正しい平均位相を得ることができる。特に、デー
タパルスのジッタがピークツゥーピークで、９０°未満
に収まる場合、基準クロックは１８０°位相をずらした
２つを用意すればよく、比較的小規模な回路構成で本実
施例の位相算出回路が実現可能である。
【００５４】本発明の磁気ディスク装置のヘッド位置検
出装置の第２実施例について述べる。上述した先行技術
においては，位相比較基準となるクロックが単一である
場合、データパルス列にジッタがあると正しい平均位相
出力が得られない可能性がある。第１実施例では，上述
の問題を回避するため、ジッタが大きくピークツゥーピ
ークで９０°以上で１８０°未満となるような場合に
は、その大きさに応じて基準クロックを多数，３つ以上
用意する必要がある。第２実施例は第１実施例をさらに
簡単にすることを目的とし，第２実施例においては後述
するように，基準クロックを２つのみ容易するだけでよ
い。
出装置の第２実施例について述べる。上述した先行技術
においては，位相比較基準となるクロックが単一である
場合、データパルス列にジッタがあると正しい平均位相
出力が得られない可能性がある。第１実施例では，上述
の問題を回避するため、ジッタが大きくピークツゥーピ
ークで９０°以上で１８０°未満となるような場合に
は、その大きさに応じて基準クロックを多数，３つ以上
用意する必要がある。第２実施例は第１実施例をさらに
簡単にすることを目的とし，第２実施例においては後述
するように，基準クロックを２つのみ容易するだけでよ
い。
【００５５】図１４は第２実施例の位相算出回路であ
る。図１５は図１４に示した位相算出回路における信号
は波形図である。図１４に示した位相算出回路は，図１
に示した位相算出回路に対応しており，基準クロック発
生回路３１，第１および第２の位相比較回路３３Ａ，３
３Ｂ，第１および第２の平均化回路３５Ａ，３５Ｂ，ス
イッチ回路３７，パルス識別窓発生回路３２，データパ
ルス有無検出回路３４，出力選択アルゴリズム処理回路
３６を有する。基準クロック発生回路３１はマスタクロ
ックＭＣＫを入力して，図１５に示すように，１８０°
位相がずれた第１および第２の基準クロックＲＣＫ１，
ＲＣＫ２を出力する。第１および第２の位相比較回路３
３Ａ，３３Ｂはそれぞれ基準クロックＲＣＫ１，ＲＣＫ
２とデータパルス列ＤＰＴと比較して比較出力信号ＣＭ
Ｐ１，ＣＭＰ２を出力する。第１および第２の位相比較
回路３３Ａ，３３Ｂからの比較出力信号ＣＭＰ１，ＣＭ
Ｐ２は、データパルス列ＤＰＴと直前の基準クロックＲ
ＣＫ１，ＲＣＫ２との位相ずれ量とする。これらの比較
出力信号ＣＭＰ１およびＣＭＰ２がそれぞれ，平均化回
路３５Ａ，３５Ｂにおいて平均化される。パルス識別窓
発生回路３２はマスタクロックＭＣＫを入力して等間隔
でｎ分割したパルス識別窓Ｗ１〜Ｗｎを出力する。デー
タパルス有無検出回路３４はこれらパルス識別窓Ｗ１〜
Ｗｎに対応する窓にデータパルス列ＤＰＴが存在するか
否かを検出して検出出力信号ＤＥＴ１〜ＤＥＴｎを出力
する。出力選択アルゴリズム処理回路３６がこれらの検
出出力信号ＤＥＴ１〜ＤＥＴｎを所定のアルゴリズムに
基づいて選択し，切換駆動信号Ｓ３６を出力してスイッ
チ回路３７に印加されている平均化回路３５Ａ，３５Ｂ
のいずれかの平均化信号Ｓ３５Ａ〜Ｓ３５Ｂをスイッチ
回路３７から出力させる。
る。図１５は図１４に示した位相算出回路における信号
は波形図である。図１４に示した位相算出回路は，図１
に示した位相算出回路に対応しており，基準クロック発
生回路３１，第１および第２の位相比較回路３３Ａ，３
３Ｂ，第１および第２の平均化回路３５Ａ，３５Ｂ，ス
イッチ回路３７，パルス識別窓発生回路３２，データパ
ルス有無検出回路３４，出力選択アルゴリズム処理回路
３６を有する。基準クロック発生回路３１はマスタクロ
ックＭＣＫを入力して，図１５に示すように，１８０°
位相がずれた第１および第２の基準クロックＲＣＫ１，
ＲＣＫ２を出力する。第１および第２の位相比較回路３
３Ａ，３３Ｂはそれぞれ基準クロックＲＣＫ１，ＲＣＫ
２とデータパルス列ＤＰＴと比較して比較出力信号ＣＭ
Ｐ１，ＣＭＰ２を出力する。第１および第２の位相比較
回路３３Ａ，３３Ｂからの比較出力信号ＣＭＰ１，ＣＭ
Ｐ２は、データパルス列ＤＰＴと直前の基準クロックＲ
ＣＫ１，ＲＣＫ２との位相ずれ量とする。これらの比較
出力信号ＣＭＰ１およびＣＭＰ２がそれぞれ，平均化回
路３５Ａ，３５Ｂにおいて平均化される。パルス識別窓
発生回路３２はマスタクロックＭＣＫを入力して等間隔
でｎ分割したパルス識別窓Ｗ１〜Ｗｎを出力する。デー
タパルス有無検出回路３４はこれらパルス識別窓Ｗ１〜
Ｗｎに対応する窓にデータパルス列ＤＰＴが存在するか
否かを検出して検出出力信号ＤＥＴ１〜ＤＥＴｎを出力
する。出力選択アルゴリズム処理回路３６がこれらの検
出出力信号ＤＥＴ１〜ＤＥＴｎを所定のアルゴリズムに
基づいて選択し，切換駆動信号Ｓ３６を出力してスイッ
チ回路３７に印加されている平均化回路３５Ａ，３５Ｂ
のいずれかの平均化信号Ｓ３５Ａ〜Ｓ３５Ｂをスイッチ
回路３７から出力させる。
【００５６】データパルス列の位相変動が１８０°以上
となると平均化が困難となるので、以下の記述において
はデータパルス列ＤＰＴのジッタはピーク・ツゥー・ピ
ーク（ｐ−ｐ）で１８０°未満である場合に限定する。
先行技術においては，上述したように，基準クロックが
単一なため，データパルス列ＤＰＴのエッジがジッタの
影響で１つの基準クロックのエッジの前後に分かれて存
在することになった場合、正しい位相平均値が得られな
いと言う問題がある。第２実施例は，図１５に示したよ
うに，基準クロック発生回路３１においてマスタクロッ
クＭＣＫから１８０°位相をずらしたもう第１およひ第
２の基準クロックＲＣＫ１，ＲＣＫ２を発生させ，デー
タパルス列ＤＰＴの位相分布に応じて位相比較基準とな
る第１および第２の基準クロックＲＣＫ１，ＲＣＫ２の
うちから適切なものを切り換えて用いることにより上述
の問題を回避する。第２の基準クロックＲＣＫ２を用い
た場合には、平均結果に１８０°加算あるいは減算して
オフセット補正を行うことにより、正しい平均位相を得
ることができる。
となると平均化が困難となるので、以下の記述において
はデータパルス列ＤＰＴのジッタはピーク・ツゥー・ピ
ーク（ｐ−ｐ）で１８０°未満である場合に限定する。
先行技術においては，上述したように，基準クロックが
単一なため，データパルス列ＤＰＴのエッジがジッタの
影響で１つの基準クロックのエッジの前後に分かれて存
在することになった場合、正しい位相平均値が得られな
いと言う問題がある。第２実施例は，図１５に示したよ
うに，基準クロック発生回路３１においてマスタクロッ
クＭＣＫから１８０°位相をずらしたもう第１およひ第
２の基準クロックＲＣＫ１，ＲＣＫ２を発生させ，デー
タパルス列ＤＰＴの位相分布に応じて位相比較基準とな
る第１および第２の基準クロックＲＣＫ１，ＲＣＫ２の
うちから適切なものを切り換えて用いることにより上述
の問題を回避する。第２の基準クロックＲＣＫ２を用い
た場合には、平均結果に１８０°加算あるいは減算して
オフセット補正を行うことにより、正しい平均位相を得
ることができる。
【００５７】この実施例においては，位相比較基準クロ
ックとして第１の基準クロックＲＣＫ１または第２の基
準クロックＲＣＫ２のいずれかを使用するかを判定する
ため， 前提：「基準クロック１と各データパルスとの位相比較
結果（比較出力信号ＣＭＰ１）をθ1iとしたとき、 判定基準（１）：∀ｊ，ｋ（ｊ≠ｋ） ｜θ1j−θ1k｜
＜１８０°のとき第１の基準クロックＲＣＫ１を用いて
問題なし 判定基準（２）：∃ｊ，ｋ（ｊ≠ｋ） ｜θ1j−θ1k｜
＞１８０°のとき第１の基準クロックＲＣＫ１を用いる
と問題あり 第２の基準クロックＲＣＫ２をを用いれば問題なしとい
う判定基準（アルゴリズム）を適用する。具体的に述べ
ると、ジッタの大きさに応じて複数個（個数ｎ≧３）の
パルス識別窓Ｗ１〜Ｗｎ，窓の大きさ（３６０°／ｎ）
を用意し、データパルス列ＤＰＴがどの識別窓Ｗの中に
存在するかを調べ、上記の性質を利用して、使用する基
準クロックを選択する。
ックとして第１の基準クロックＲＣＫ１または第２の基
準クロックＲＣＫ２のいずれかを使用するかを判定する
ため， 前提：「基準クロック１と各データパルスとの位相比較
結果（比較出力信号ＣＭＰ１）をθ1iとしたとき、 判定基準（１）：∀ｊ，ｋ（ｊ≠ｋ） ｜θ1j−θ1k｜
＜１８０°のとき第１の基準クロックＲＣＫ１を用いて
問題なし 判定基準（２）：∃ｊ，ｋ（ｊ≠ｋ） ｜θ1j−θ1k｜
＞１８０°のとき第１の基準クロックＲＣＫ１を用いる
と問題あり 第２の基準クロックＲＣＫ２をを用いれば問題なしとい
う判定基準（アルゴリズム）を適用する。具体的に述べ
ると、ジッタの大きさに応じて複数個（個数ｎ≧３）の
パルス識別窓Ｗ１〜Ｗｎ，窓の大きさ（３６０°／ｎ）
を用意し、データパルス列ＤＰＴがどの識別窓Ｗの中に
存在するかを調べ、上記の性質を利用して、使用する基
準クロックを選択する。
【００５８】パルス識別窓の配置については数種類の方
法が考えられるので、場合分けして述べる。大きく分け
ると，パルス識別窓Ｗの数を奇数にする場合と，パルス
識別窓Ｗの数を偶数にする場合とがある。パルス識別窓
Ｗの数を偶数にする場合は，さらに１８０°を基準にす
るか３６０°を基準にするかに分類できる。
法が考えられるので、場合分けして述べる。大きく分け
ると，パルス識別窓Ｗの数を奇数にする場合と，パルス
識別窓Ｗの数を偶数にする場合とがある。パルス識別窓
Ｗの数を偶数にする場合は，さらに１８０°を基準にす
るか３６０°を基準にするかに分類できる。
【００５９】まず，窓の数を奇数個〔ｎ＝２ｍ＋１（ｍ
≧１）〕とする方法について述べる。データパルス列Ｄ
ＰＴのジッタの最大値をピーク・ツゥー・ピークでδθ
maxとし、 δθmax ＜１８０°×（１−１／ｕ） を満足する最小の奇数ｕをｋodd （≧３）とする。この
方法では窓の大きさが３６０°／ｎのｎ＝（２ｍ＋１）
個（ｎ≧ｋodd のパルス識別窓を用意し、データパルス
列ＤＰＴがどのパルス識別窓Ｗ中に分布しているかを調
べて，第１または第２の基準クロックのいずれを用いる
かの判定を行う。図１６および図１７はそれぞれの位相
に対応する識別窓Ｗを示す。かっこで囲んだパルス識別
窓Ｗは省略可能であることを示す。それぞれのパルス識
別窓Ｗｑ（１≦ｑ≦ｎ＝２ｍ＋１）の中心位相は、３６
０°×（ｑ−１）／ｎとする。ただし、このうちかっこ
で囲んだパルス識別窓Ｗm+1 ，Ｗm+2 の２つは後述のよ
うに省略可能である（図１５，図１６（Ａ））。パルス
識別窓Ｗの中心位相を上記のものから１８０°／ｎずつ
ずらすことも可能であるが、その場合は、添字ｑを図１
６（Ｂ）に示すようにつけ，以下に述べる方法で得られ
る結果において第１の基準クロックＲＣＫ１と第２の基
準クロックＲＣＫ２とを入れ換えて考えればよい。
≧１）〕とする方法について述べる。データパルス列Ｄ
ＰＴのジッタの最大値をピーク・ツゥー・ピークでδθ
maxとし、 δθmax ＜１８０°×（１−１／ｕ） を満足する最小の奇数ｕをｋodd （≧３）とする。この
方法では窓の大きさが３６０°／ｎのｎ＝（２ｍ＋１）
個（ｎ≧ｋodd のパルス識別窓を用意し、データパルス
列ＤＰＴがどのパルス識別窓Ｗ中に分布しているかを調
べて，第１または第２の基準クロックのいずれを用いる
かの判定を行う。図１６および図１７はそれぞれの位相
に対応する識別窓Ｗを示す。かっこで囲んだパルス識別
窓Ｗは省略可能であることを示す。それぞれのパルス識
別窓Ｗｑ（１≦ｑ≦ｎ＝２ｍ＋１）の中心位相は、３６
０°×（ｑ−１）／ｎとする。ただし、このうちかっこ
で囲んだパルス識別窓Ｗm+1 ，Ｗm+2 の２つは後述のよ
うに省略可能である（図１５，図１６（Ａ））。パルス
識別窓Ｗの中心位相を上記のものから１８０°／ｎずつ
ずらすことも可能であるが、その場合は、添字ｑを図１
６（Ｂ）に示すようにつけ，以下に述べる方法で得られ
る結果において第１の基準クロックＲＣＫ１と第２の基
準クロックＲＣＫ２とを入れ換えて考えればよい。
【００６０】第１および第２の基準クロックＲＣＫ１，
ＲＣＫ２の選択の条件について考察する。パルス識別窓
Ｗ中に、データパルス列ＤＰＴのエッジが存在するパル
ス識別窓Ｗｑに対応する添字の列を｛ｑ1 ，ｑ2 ，・・
・ｑr ｝とする。たとえば，データパルス列ＤＰＴがパ
ルス識別窓Ｗ1 ，Ｗ4 , Ｗ5 の３つの窓中に分布したと
し、ｑ1 ＝１，ｑ2 ＝４，ｑ3 ＝５とする。第１または
第２の基準クロックＲＣＫ１，ＲＣＫ２を選択する条件
は、 ケース：Ｃ１ 判定基準（Ｉ） 「∃ｉ，ｑｉ＝１（Ｗ1 中にデータパルスが存在する）
または∃j,k ，｜ｑj −ｑk ｜≧ｍ＋１」ならば第２の
基準クロックＲＣＫ２を使用する。 判定基準（ＩＩ） 「∀j ，ｑj ≠１（Ｗ1 中にデータパルスが存在しな
い）かつ∀j,k ，｜ｑj −ｑk ｜≦ｍ」ならば，つま
り，判定基準（Ｉ）以外ならば，第１の基準クロックＲ
ＣＫ１を使用する。
ＲＣＫ２の選択の条件について考察する。パルス識別窓
Ｗ中に、データパルス列ＤＰＴのエッジが存在するパル
ス識別窓Ｗｑに対応する添字の列を｛ｑ1 ，ｑ2 ，・・
・ｑr ｝とする。たとえば，データパルス列ＤＰＴがパ
ルス識別窓Ｗ1 ，Ｗ4 , Ｗ5 の３つの窓中に分布したと
し、ｑ1 ＝１，ｑ2 ＝４，ｑ3 ＝５とする。第１または
第２の基準クロックＲＣＫ１，ＲＣＫ２を選択する条件
は、 ケース：Ｃ１ 判定基準（Ｉ） 「∃ｉ，ｑｉ＝１（Ｗ1 中にデータパルスが存在する）
または∃j,k ，｜ｑj −ｑk ｜≧ｍ＋１」ならば第２の
基準クロックＲＣＫ２を使用する。 判定基準（ＩＩ） 「∀j ，ｑj ≠１（Ｗ1 中にデータパルスが存在しな
い）かつ∀j,k ，｜ｑj −ｑk ｜≦ｍ」ならば，つま
り，判定基準（Ｉ）以外ならば，第１の基準クロックＲ
ＣＫ１を使用する。
【００６１】判定方法としてケースＣ１でよいことを証
明する。パルス識別窓Ｗ1 中にデータパルスが存在する
が否かで分けて考える。なお、データパルス列ＤＰＴの
平均位相をθ- （θ°≦θ- ≦３６０°）、ジッタを含
めた各パルスの位相分布を下記に定める。 θ- −δθm ≦θj ≦θ- ＋δθp （０°≦δθm ，δ
θp ） この前提より下記式が成立する。 δθm ＋δθp ＜１８０°（１−１／ｋodd ） ≦１８０°ｘ（１−１／ｎ） ・・・（17）
明する。パルス識別窓Ｗ1 中にデータパルスが存在する
が否かで分けて考える。なお、データパルス列ＤＰＴの
平均位相をθ- （θ°≦θ- ≦３６０°）、ジッタを含
めた各パルスの位相分布を下記に定める。 θ- −δθm ≦θj ≦θ- ＋δθp （０°≦δθm ，δ
θp ） この前提より下記式が成立する。 δθm ＋δθp ＜１８０°（１−１／ｋodd ） ≦１８０°ｘ（１−１／ｎ） ・・・（17）
【００６２】判定基準１：「パルス識別窓Ｗ1 中にデー
タパルスが存在する場合，第２の基準クロックＲＣＫ２
を用いて問題がない」ということを証明する。パルス識
別窓Ｗ1 中にデータパルスが存在するときは， ∃j ，−１８０°／ｎ≦θi ≦１８０°／ｎ ・・・（18） または ∃j ，−３６０°−１８０°／ｎ≦θi ≦３６０°＋１８０°／ｎ ・・・（19） であり、ジッタについての条件式１７か式１８または式
１９のうち一方が成立する。式１８が成立するときは、
判定基準１から、 ∀j ，θj ≧−１８０°／ｎ−（δθm ＋δθp ）＜−１８０° かつ ∀j ，θj ≦１８０°／ｎ＋（δθm ＋δθp ）＜１８０° ＝−１８０°＋３６０° ・・・（20） 式１９が成立するときも、同様に下記式が成立する。 ∀j ，θj ≧３６０°−１８０°／ｎ−（δθm ＋δθp ）＜−１８０° かつ ∀j ，θj ≦３６０°＋１８０°／ｎ＋（δθm ＋δθp ）＜５４０° ＝１８０°＋３６０° ・・・（21） したがって，パルス識別窓Ｗ1 中にデータパルスが存在
すれば、式２０および式２１からデータパルスのエッジ
が第２の基準クロックＲＣＫ２のエッジの前後に分かれ
ることはない。つまり，条件１が証明できた。
タパルスが存在する場合，第２の基準クロックＲＣＫ２
を用いて問題がない」ということを証明する。パルス識
別窓Ｗ1 中にデータパルスが存在するときは， ∃j ，−１８０°／ｎ≦θi ≦１８０°／ｎ ・・・（18） または ∃j ，−３６０°−１８０°／ｎ≦θi ≦３６０°＋１８０°／ｎ ・・・（19） であり、ジッタについての条件式１７か式１８または式
１９のうち一方が成立する。式１８が成立するときは、
判定基準１から、 ∀j ，θj ≧−１８０°／ｎ−（δθm ＋δθp ）＜−１８０° かつ ∀j ，θj ≦１８０°／ｎ＋（δθm ＋δθp ）＜１８０° ＝−１８０°＋３６０° ・・・（20） 式１９が成立するときも、同様に下記式が成立する。 ∀j ，θj ≧３６０°−１８０°／ｎ−（δθm ＋δθp ）＜−１８０° かつ ∀j ，θj ≦３６０°＋１８０°／ｎ＋（δθm ＋δθp ）＜５４０° ＝１８０°＋３６０° ・・・（21） したがって，パルス識別窓Ｗ1 中にデータパルスが存在
すれば、式２０および式２１からデータパルスのエッジ
が第２の基準クロックＲＣＫ２のエッジの前後に分かれ
ることはない。つまり，条件１が証明できた。
【００６３】次に、パルス識別窓Ｗ1 中にデータパルス
が存在しない場合について考える。 判定基準１：「∃j,k ，｜ｑj −ｑk ｜≧ｍ＋１のとき
第２の基準クロックＲＣＫ２を用いて問題なし 判定基準２：「∀j,k ，｜ｑj −ｑk ｜≦ｍのとき第１
の基準クロックＲＣＫ１を用いて問題なし これら判定基準１および判定基準２の証明には、後述す
る第３実施例における式５９〜式６９から導かれる 前提：「第１の基準クロックＲＣＫ１をデータパルス列
ＤＰＴとの位相比較結果ＣＭＰ１をθ1jとしたとき、 判定基準３ ∀j,k （ｊ≠ｋ）｜θ1j−θ1k｜＜１８０°は相互に ０°≦θ- −δθm ≦θi ≦θ- ＋δθp ＜３６０°で
あり，第１の基準クロックＲＣＫ１を用いても問題なし 判定基準４ ∃J,K （ｊ≠ｋ）｜θ1j−θ1k｜＜１８０°は相互に （０°≦θ＜１８０°，かつ，θ−δθm ＜０°）であ
り，または（１８０°＜θ＜３６０°，かつ，θ＋δθ
m ＜０°）であり，第１の基準クロックＲＣＫ１を用い
ると問題ありという判定基準（アルゴリズム）を適用す
る。
が存在しない場合について考える。 判定基準１：「∃j,k ，｜ｑj −ｑk ｜≧ｍ＋１のとき
第２の基準クロックＲＣＫ２を用いて問題なし 判定基準２：「∀j,k ，｜ｑj −ｑk ｜≦ｍのとき第１
の基準クロックＲＣＫ１を用いて問題なし これら判定基準１および判定基準２の証明には、後述す
る第３実施例における式５９〜式６９から導かれる 前提：「第１の基準クロックＲＣＫ１をデータパルス列
ＤＰＴとの位相比較結果ＣＭＰ１をθ1jとしたとき、 判定基準３ ∀j,k （ｊ≠ｋ）｜θ1j−θ1k｜＜１８０°は相互に ０°≦θ- −δθm ≦θi ≦θ- ＋δθp ＜３６０°で
あり，第１の基準クロックＲＣＫ１を用いても問題なし 判定基準４ ∃J,K （ｊ≠ｋ）｜θ1j−θ1k｜＜１８０°は相互に （０°≦θ＜１８０°，かつ，θ−δθm ＜０°）であ
り，または（１８０°＜θ＜３６０°，かつ，θ＋δθ
m ＜０°）であり，第１の基準クロックＲＣＫ１を用い
ると問題ありという判定基準（アルゴリズム）を適用す
る。
【００６４】さらに、ジッタの条件
δθm ＋δθp ＜１８０°×（１−１／ｎ）＜１８０°・・・（22）
より、
（０°≦θ- ＜１８０°かつθ- −δθm ＜０°）また
は （１８０°＜θ- ＜３６０°かつθ- ＋δθm ≧３６０
°）の場合は （∀j ，１８０°＜θi ＜１８０°＝−１８０°＋３６
０°）または （∀j ，１８０°＜θi ＜５４０°＝１８０°＋３６０
°）となるから、判定基準４は 判定基準５ ∃j,k （ｊ≠ｋ）｜θ1j−θ1k｜＞１８０°のときは第
１の基準クロックＲＣＫ２を用いて問題なしと書き換え
られる。
は （１８０°＜θ- ＜３６０°かつθ- ＋δθm ≧３６０
°）の場合は （∀j ，１８０°＜θi ＜１８０°＝−１８０°＋３６
０°）または （∀j ，１８０°＜θi ＜５４０°＝１８０°＋３６０
°）となるから、判定基準４は 判定基準５ ∃j,k （ｊ≠ｋ）｜θ1j−θ1k｜＞１８０°のときは第
１の基準クロックＲＣＫ２を用いて問題なしと書き換え
られる。
【００６５】判定基準３および５からケースＣ１におけ
る判定基準１および判定基準２をを得るには，∃j,k ｜
ｑj −ｑk ｜≧ｍ＋１のときは ヨj,k （ｊ≠ｋ）｜θ1j−θ1k｜＞１８０° ・・・（23） ∀j,k ｜ｑj −ｑk ｜≦ｍのときは ∀j,k （ｊ≠ｋ）｜θ1j−θ1k｜＜１８０° ・・・（24） を示せばよい。ｑi 中で最小のものをｑmin ，最大のも
のをｑmax 、また、θ1j中で最小のものをθ1min、最大
のものをθ1maxとする。パルス識別窓Ｗ1 中にデータパ
ルスが存在しない場合を考えているので、 θ1min∈Ｗｑmin 、θ1max∈Ｗｑmax （２≦ｑmin 、ｑ
max ≦ｎ） すなわち、 ３６０°ｘ（ｑmin −１）／ｎ−１８０°／ｎ≦θ1min ≦３６０°×（ｑmin −１）／ｎ＋１８０°／ｎ （２≦ｑmin ≦ｎ） ３６０°×（ｑmax −１）／ｎ−（１８０°／ｎ）≦θ1max ≦３６０°×（ｑmax −１）ｎ＋１８０°／ｎ （２≦ｑmax ≦ｎ） である。
る判定基準１および判定基準２をを得るには，∃j,k ｜
ｑj −ｑk ｜≧ｍ＋１のときは ヨj,k （ｊ≠ｋ）｜θ1j−θ1k｜＞１８０° ・・・（23） ∀j,k ｜ｑj −ｑk ｜≦ｍのときは ∀j,k （ｊ≠ｋ）｜θ1j−θ1k｜＜１８０° ・・・（24） を示せばよい。ｑi 中で最小のものをｑmin ，最大のも
のをｑmax 、また、θ1j中で最小のものをθ1min、最大
のものをθ1maxとする。パルス識別窓Ｗ1 中にデータパ
ルスが存在しない場合を考えているので、 θ1min∈Ｗｑmin 、θ1max∈Ｗｑmax （２≦ｑmin 、ｑ
max ≦ｎ） すなわち、 ３６０°ｘ（ｑmin −１）／ｎ−１８０°／ｎ≦θ1min ≦３６０°×（ｑmin −１）／ｎ＋１８０°／ｎ （２≦ｑmin ≦ｎ） ３６０°×（ｑmax −１）／ｎ−（１８０°／ｎ）≦θ1max ≦３６０°×（ｑmax −１）ｎ＋１８０°／ｎ （２≦ｑmax ≦ｎ） である。
【００６６】このとき、
θ1max−θ1min≧〔３６０°×（ｑmax −１）／ｎ−１８０°／ｎ〕
−〔３６０°×（ｑmin −１）／ｎ＋１８０°／ｎ〕
≧３６０°×〔（ｑmax −ｑmin ）−１〕／ｎ
＝３６０°×〔（ｑmax −ｑmin ）−１〕／（２ｍ＋１）
・・・（25）
θ1max−θ1min≦〔３６０°×（ｑmax −１）／ｎ−１８０°／ｎ
−〔３６０°×（ｑmin −１）／ｎ−１８０°／ｎ〕
≦〔３６０°×（（ｑmax −ｑmin ）−１）／ｎ
＝３６０°×（（ｑmax −ｑmin ）−１）／ｎ／（２ｍ＋１）
・・・（26）
よって、式２５および式２６から
ヨj,k ｜ｑj −ｑk ｜≧ｍ＋１
はまた
ｑmax −ｑmin ≧ｍ＋１
であり，
θ1max−θ1min≧３６０°×ｍ／（２ｍ＋１） ・・・（27）
となる。
Ｖj,k ｜ｑj −ｑk ｜≦ｍ
はまた
ｑmax −ｑmin ≦ｍ
であり，
θ1max−θ1min≧３６０°×（ｍ＋１）／（２ｍ＋１） ・・・（28)
となる。
【００６７】さらに，第１の基準クロックＲＣＫ１を用
いて問題がないとき， ０°≦θ- −δθm ≦θ- ＋δθp ＜３６０° ・・（29) 第 1の基準クロックＲＣＫ１を用いて問題のあるとき −１８０°＜θ- −δθm ＜０°＜θ- ＋δθp ＜１８０°・・（30） または、 １８０°＜θ- −δθm ＜３６０°≦θ- ＋δθp ＜５４０° ・・（31） であり（θの右肩の- は平均を示す）、式２９〜式３１
のいずれか１つの式が成り立つが，式２９が成立すると
きは， θ1min＝θ- −δθm θ1max＝θ- ＋δθp であるから θ1max−θ1min＝δθm ＋δθp ＜１８０°×（１−１／ｎ） ＝３６０°×ｍ／（２ｍ＋１） となる。式３１が成立するときは， θ1min≦θ- ＋δθp 、θ1max≧θ- −δθm ＋３６０
° から θ1max−θ1min≧３６０°−（δθm ＋δθp ） ＞１８０°×（１＋１／ｎ） ＝３６０°×（ｍ＋１）／（２ｍ＋１） となる。式３０が成立するときは， θ1min≦θ＋δθp −３６０°、θ1max≧θ−δθm から θ1max−θ1min≧３６０°−（δθm ＋δθp ） ＞１８０°×（１＋１／ｎ） ＝３６０°×（ｍ＋１）／（２ｍ＋１） となる。したがって， θ1max−θ1min＜３６０°×ｍ／（２ｍ＋１） ・・・（32） または θ1max−θ1min＞３６０°×（ｍ＋１）／（２ｍ＋１） ・・・（33） の一方が成立する。
いて問題がないとき， ０°≦θ- −δθm ≦θ- ＋δθp ＜３６０° ・・（29) 第 1の基準クロックＲＣＫ１を用いて問題のあるとき −１８０°＜θ- −δθm ＜０°＜θ- ＋δθp ＜１８０°・・（30） または、 １８０°＜θ- −δθm ＜３６０°≦θ- ＋δθp ＜５４０° ・・（31） であり（θの右肩の- は平均を示す）、式２９〜式３１
のいずれか１つの式が成り立つが，式２９が成立すると
きは， θ1min＝θ- −δθm θ1max＝θ- ＋δθp であるから θ1max−θ1min＝δθm ＋δθp ＜１８０°×（１−１／ｎ） ＝３６０°×ｍ／（２ｍ＋１） となる。式３１が成立するときは， θ1min≦θ- ＋δθp 、θ1max≧θ- −δθm ＋３６０
° から θ1max−θ1min≧３６０°−（δθm ＋δθp ） ＞１８０°×（１＋１／ｎ） ＝３６０°×（ｍ＋１）／（２ｍ＋１） となる。式３０が成立するときは， θ1min≦θ＋δθp −３６０°、θ1max≧θ−δθm から θ1max−θ1min≧３６０°−（δθm ＋δθp ） ＞１８０°×（１＋１／ｎ） ＝３６０°×（ｍ＋１）／（２ｍ＋１） となる。したがって， θ1max−θ1min＜３６０°×ｍ／（２ｍ＋１） ・・・（32） または θ1max−θ1min＞３６０°×（ｍ＋１）／（２ｍ＋１） ・・・（33） の一方が成立する。
【００６８】式２７，式２８，式３２および式３３から
∃j,k ｜ｑj −ｑk ｜≧ｍ＋１の場合
θ1max−θ1min＞３６０°×（ｍ＋１）／（２ｍ＋１）
＞１８０° ・・・（34）
∀j,k ｜ｑj −ｑk ｜≦ｍの場合
θ1max−θ1min＜３６０°×ｍ／（２ｍ＋１）
＜１８０° ・・・（35）
となる。しかしながら，
θ1max−θ1min＞１８０°の場合は
∃j,k （ｊ≠ｋ）｜θ1j−θ1k｜＞１８０°
θ1max−θ1min＜１８０°の場合は
∀j,k （ｊ≠ｋ）｜θ1j−θ1k｜＜１８０°
の関係があるので, 上述したケースＣ１における判定基
準１および判定基準２が得られる。つまり，パルス識別
窓Ｗ1 にデータパルス列ＤＰＴが存在するとき，第２の
基準クロックＲＣＫ２を用いても問題がないという判定
基準２，および，パルス識別窓Ｗ1 にデータパルス列Ｄ
ＰＴが存在しないときの判定基準Ｉおよび判定基準ＩＩ
から，条件Ｃ１が十分条件であることか証明できた。
準１および判定基準２が得られる。つまり，パルス識別
窓Ｗ1 にデータパルス列ＤＰＴが存在するとき，第２の
基準クロックＲＣＫ２を用いても問題がないという判定
基準２，および，パルス識別窓Ｗ1 にデータパルス列Ｄ
ＰＴが存在しないときの判定基準Ｉおよび判定基準ＩＩ
から，条件Ｃ１が十分条件であることか証明できた。
【００６９】なお、上記証明の過程で用いたように、
∃j,k ｜ｑj −ｑk ｜≧ｍ＋１ならばｑmax −ｑmin ≧ｍ＋１
∀j,k ｜ｑj −ｑk ｜≦ｍならばｑmax −ｑmin ≦ｍ
であるので（それらの逆も成り立つ）、判定条件として
は下線をつけた条件式を用いることができる。また、ケ
ースＣ１の判定基準（Ｉ）、判定基準（ＩＩ）の前提部
は互いに排反であるので、判定基準（Ｉ）の前提部の正
否のみ判定すれば十分である。
は下線をつけた条件式を用いることができる。また、ケ
ースＣ１の判定基準（Ｉ）、判定基準（ＩＩ）の前提部
は互いに排反であるので、判定基準（Ｉ）の前提部の正
否のみ判定すれば十分である。
【００７０】さらに、ケースＣ１の判定基準（Ｉ）の２
つの前提部 前提（ｉ）∃j 、ｑi ＝１（パルス識別窓Ｗ1 中にデー
タパルスが存在する） 前提（ｉｉ）∃j,k ｜ｑj −ｑk ｜≧ｍ＋１（ｑmax −
ｑmin ≧ｍ＋１） のうち、前提（ｉ）の条件と重複することになる ｑmin ＝１かつｑmax −ｑmin ≧ｍ＋１ の場合を除いて、前提（ｉｉ）が満足されるための条件
を考えると ｑmin ≧２より、ｑmax ≧ｍ＋３ ｑmax ≦２ｍ＋１より、ｑmin ≦ｍ であることが必要である。したがって，パルス識別窓Ｗ
m+1 ，Ｗm+2 の中のデータパルスの有無は前提（ｉｉ）
の条件判定上必要ないので、図１６および図１７にかっ
こして示したパルス識別窓Ｗm+1 ，Ｗm+2 の２つの窓は
省略することができる。ただし、その場合、それ以外の
Ｗ1 m およびＷm+3 n のいずれの窓中にもデータが存在
しないケースがでてくるが、ｍ＋１≦ｑmin 、ｑmax ≦
ｍ＋２のケースに当たるわけであるから、前提（Ｉ）が
不成立として第１の基準クロックＲＣＫ１を使用すれば
よい。
つの前提部 前提（ｉ）∃j 、ｑi ＝１（パルス識別窓Ｗ1 中にデー
タパルスが存在する） 前提（ｉｉ）∃j,k ｜ｑj −ｑk ｜≧ｍ＋１（ｑmax −
ｑmin ≧ｍ＋１） のうち、前提（ｉ）の条件と重複することになる ｑmin ＝１かつｑmax −ｑmin ≧ｍ＋１ の場合を除いて、前提（ｉｉ）が満足されるための条件
を考えると ｑmin ≧２より、ｑmax ≧ｍ＋３ ｑmax ≦２ｍ＋１より、ｑmin ≦ｍ であることが必要である。したがって，パルス識別窓Ｗ
m+1 ，Ｗm+2 の中のデータパルスの有無は前提（ｉｉ）
の条件判定上必要ないので、図１６および図１７にかっ
こして示したパルス識別窓Ｗm+1 ，Ｗm+2 の２つの窓は
省略することができる。ただし、その場合、それ以外の
Ｗ1 m およびＷm+3 n のいずれの窓中にもデータが存在
しないケースがでてくるが、ｍ＋１≦ｑmin 、ｑmax ≦
ｍ＋２のケースに当たるわけであるから、前提（Ｉ）が
不成立として第１の基準クロックＲＣＫ１を使用すれば
よい。
【００７１】具体例を挙げる。
例１：ジッタの最大値がピーク・ツゥー・ピークで１２
０°未満のとき、 δθmax ＜１２０°＝１８０°（１−１／３） より、 ｎ≧３（ｍ≧１） であることが必要である。ここでは，ｎ＝３（ｍ＝１）
とする。パルス識別窓Ｗm+1 ，Ｗm+2 は上述のように省
略できるので、図１６（Ａ）に示したように，パルス識
別窓Ｗ1 のみ用意すればよい。この場合、（Ｉ）のうち
（ｉ）パルス識別窓Ｗ1 中にデータパルスが存在する
（ヨi ，ｑi ＝１）という条件のみ調べればよく、 ケースＣ１−１ 判定基準（Ｉ） 「パルス識別窓Ｗ1 中にデータパルスが存在する」とき
は，第２の基準クロックＲＣＫ２を使用する 判定基準（ＩＩ） 「パルス識別窓Ｗ1 中にデータパルスが存在しない」と
きは，第１の基準クロックＲＣＫ１を使用するという判
定基準を適用すればよい。
０°未満のとき、 δθmax ＜１２０°＝１８０°（１−１／３） より、 ｎ≧３（ｍ≧１） であることが必要である。ここでは，ｎ＝３（ｍ＝１）
とする。パルス識別窓Ｗm+1 ，Ｗm+2 は上述のように省
略できるので、図１６（Ａ）に示したように，パルス識
別窓Ｗ1 のみ用意すればよい。この場合、（Ｉ）のうち
（ｉ）パルス識別窓Ｗ1 中にデータパルスが存在する
（ヨi ，ｑi ＝１）という条件のみ調べればよく、 ケースＣ１−１ 判定基準（Ｉ） 「パルス識別窓Ｗ1 中にデータパルスが存在する」とき
は，第２の基準クロックＲＣＫ２を使用する 判定基準（ＩＩ） 「パルス識別窓Ｗ1 中にデータパルスが存在しない」と
きは，第１の基準クロックＲＣＫ１を使用するという判
定基準を適用すればよい。
【００７２】例２：ジッタの最大値がピーク・ツゥー・
ピークで１５０°未満のとき、 １８０°×（１−１／５）＝１４４° ＜１５０°＜１８０°×（１−１／７）＝１５４．３° より、ｎ≧７（ｍ≧３）であることが必要である。ここ
ではｎ＝７（ｍ＝３）とすると、図１７（Ｂ）に示した
ように，パルス識別窓Ｗ4 、Ｗ5 を省略した場合，必要
なパルス識別窓は５個である。この場合の具体的な判定
基準は以下のようにする。 ケースＣ１−２ 判定基準（Ｉ） 「（ｉ）パルス識別窓Ｗ1 中にデータパルスが存在する
（∃i ，ｑi ＝１）または （ｉｉ）（∃j 、ｑj ＝２かつ∃k 、ｑk ＝６）または （∃j 、ｑj ＝２かつ∃k 、ｑk ＝７）または （∃j 、ｑj ＝３かつ∃k 、ｑk ＝７）」のときは， 第２の基準クロックＲＣＫ２を使用する。 判定基準（ＩＩ）上記以外（（Ｉ）の前提部不成立） 第１の基準クロックＲＣＫ１を使用する。
ピークで１５０°未満のとき、 １８０°×（１−１／５）＝１４４° ＜１５０°＜１８０°×（１−１／７）＝１５４．３° より、ｎ≧７（ｍ≧３）であることが必要である。ここ
ではｎ＝７（ｍ＝３）とすると、図１７（Ｂ）に示した
ように，パルス識別窓Ｗ4 、Ｗ5 を省略した場合，必要
なパルス識別窓は５個である。この場合の具体的な判定
基準は以下のようにする。 ケースＣ１−２ 判定基準（Ｉ） 「（ｉ）パルス識別窓Ｗ1 中にデータパルスが存在する
（∃i ，ｑi ＝１）または （ｉｉ）（∃j 、ｑj ＝２かつ∃k 、ｑk ＝６）または （∃j 、ｑj ＝２かつ∃k 、ｑk ＝７）または （∃j 、ｑj ＝３かつ∃k 、ｑk ＝７）」のときは， 第２の基準クロックＲＣＫ２を使用する。 判定基準（ＩＩ）上記以外（（Ｉ）の前提部不成立） 第１の基準クロックＲＣＫ１を使用する。
【００７３】次にパルス識別窓Ｗの数を偶数個〔ｎ＝２
ｍ（ｍ≧２）〕とする方法について述べる。データパル
ス列のジッタの最大値をピーク・ツゥー・ピークでδθ
max とし、 δθmax ＜１８０°×（１−１／ｕ） を満足する最小の整数ｕをｋint （≧２）とする。この
とき、このパルス識別窓を偶数個とするこの方法ではパ
ルス識別窓の大きさが３６０°／ｎのｎ＝２ｍ個（ｍ≧
ｋint ）のパルス識別窓を用意し、２つの基準クロック
のいずれを用いるかの判定を行う。本方法を用いる場合
においては、各パルス識別窓Ｗｑ（１＜ｑ＜ｎ＝２ｍ）
の中心位相を３６０°×（ｑ−１）／ｎとするか、これ
から１８０°／ｎずつずらした１８０°×（２ｑ−１）
／ｎとするかによって判定条件が異なるので、２つの前
提条件に分けて述べる。なお、窓の配置を前者，つま
り，中心位相３６０°×（ｑ−１）／ｎとした場合は、
パルス識別窓Ｗm ，Ｗm+1 ，Ｗm+2 の３つのパルス識別
窓が、後者，つまり，中心位相１８０°×（２ｑ−１）
／ｎとした場合はパルス識別窓Ｗm-1 、Ｗm 、Ｗm+1 、
Ｗm+2 の４つのパルス識別窓（ただし、ｎ＝４〔ｍ＝
２〕のときは、Ｗ2 、Ｗ3 〔Ｗm ，Ｗm+1 〕の２つのパ
ルス識別窓）が省略可能である。前者の場合の信号タイ
ミング図を図１８（Ａ）およびそのパルス識別窓の関係
を図１９（Ａ）に示し，後者の場合の信号タイミング図
を図１８（Ｂ）およびそのパルス識別窓の関係を図１９
（Ｂ）に示した。
ｍ（ｍ≧２）〕とする方法について述べる。データパル
ス列のジッタの最大値をピーク・ツゥー・ピークでδθ
max とし、 δθmax ＜１８０°×（１−１／ｕ） を満足する最小の整数ｕをｋint （≧２）とする。この
とき、このパルス識別窓を偶数個とするこの方法ではパ
ルス識別窓の大きさが３６０°／ｎのｎ＝２ｍ個（ｍ≧
ｋint ）のパルス識別窓を用意し、２つの基準クロック
のいずれを用いるかの判定を行う。本方法を用いる場合
においては、各パルス識別窓Ｗｑ（１＜ｑ＜ｎ＝２ｍ）
の中心位相を３６０°×（ｑ−１）／ｎとするか、これ
から１８０°／ｎずつずらした１８０°×（２ｑ−１）
／ｎとするかによって判定条件が異なるので、２つの前
提条件に分けて述べる。なお、窓の配置を前者，つま
り，中心位相３６０°×（ｑ−１）／ｎとした場合は、
パルス識別窓Ｗm ，Ｗm+1 ，Ｗm+2 の３つのパルス識別
窓が、後者，つまり，中心位相１８０°×（２ｑ−１）
／ｎとした場合はパルス識別窓Ｗm-1 、Ｗm 、Ｗm+1 、
Ｗm+2 の４つのパルス識別窓（ただし、ｎ＝４〔ｍ＝
２〕のときは、Ｗ2 、Ｗ3 〔Ｗm ，Ｗm+1 〕の２つのパ
ルス識別窓）が省略可能である。前者の場合の信号タイ
ミング図を図１８（Ａ）およびそのパルス識別窓の関係
を図１９（Ａ）に示し，後者の場合の信号タイミング図
を図１８（Ｂ）およびそのパルス識別窓の関係を図１９
（Ｂ）に示した。
【００７４】まず，パルス識別窓Ｗｑの中心位相を３６
０°ｘ（ｑ−１）／ｎとする方法について，図１８
（Ａ）および図１９（Ａ）を参照して述べる。パルス識
別窓Ｗ中に、データパルスのエッジが存在するパルス識
別窓Ｗｑに対応する添字の列を｛ｑ1 ，ｑ2 ，・・・ｑ
r ｝とする。基準クロック選択のための条件は、以下の
ようにする。 ケースＣ２ 判定基準Ｉ 「∃i ，ｑi ＝１（Ｗ1 中にデータパルスが存在する）
または ∃j,k ｜ｑj −ｑk ｜≧ｍ＋１ならば，第２の基準クロ
ックＲＣＫ２を使用する。 判定基準ＩＩ 「∀i ，ｑi ≠１（Ｗ1 中にデータパルスが存在しな
い）かつ∀j,k ｜ｑj −ｑk ｜≦ｍ」（上記判定基準Ｉ
以外）ならば第１の基準クロックＲＣＫ１を使用する。
パルス識別窓Ｗの数を奇数とする上述した例示と同様
に，以下，パルス識別窓Ｗ1 中にデータパルスが存在す
るが否かで分け、ケースＣ２でよいことを示す。上記同
様に、データパルス列の平均位相をθ- （０°≦θ- ＜
３６０°）とし，ジッタを含めた各パルスの位相分布を
下記のようにおく。 θ- −δθm ≦θi ≦θ- ＋δθp （０°≦δθm 、δθp ） この前提より、 δθm ＋δθp ＜１８０°×（１−１／ｋint ） ≦１８０°×（１−１／ｍ） ＝１８０°×（１−２／ｎ） ・・・（36） となる。
０°ｘ（ｑ−１）／ｎとする方法について，図１８
（Ａ）および図１９（Ａ）を参照して述べる。パルス識
別窓Ｗ中に、データパルスのエッジが存在するパルス識
別窓Ｗｑに対応する添字の列を｛ｑ1 ，ｑ2 ，・・・ｑ
r ｝とする。基準クロック選択のための条件は、以下の
ようにする。 ケースＣ２ 判定基準Ｉ 「∃i ，ｑi ＝１（Ｗ1 中にデータパルスが存在する）
または ∃j,k ｜ｑj −ｑk ｜≧ｍ＋１ならば，第２の基準クロ
ックＲＣＫ２を使用する。 判定基準ＩＩ 「∀i ，ｑi ≠１（Ｗ1 中にデータパルスが存在しな
い）かつ∀j,k ｜ｑj −ｑk ｜≦ｍ」（上記判定基準Ｉ
以外）ならば第１の基準クロックＲＣＫ１を使用する。
パルス識別窓Ｗの数を奇数とする上述した例示と同様
に，以下，パルス識別窓Ｗ1 中にデータパルスが存在す
るが否かで分け、ケースＣ２でよいことを示す。上記同
様に、データパルス列の平均位相をθ- （０°≦θ- ＜
３６０°）とし，ジッタを含めた各パルスの位相分布を
下記のようにおく。 θ- −δθm ≦θi ≦θ- ＋δθp （０°≦δθm 、δθp ） この前提より、 δθm ＋δθp ＜１８０°×（１−１／ｋint ） ≦１８０°×（１−１／ｍ） ＝１８０°×（１−２／ｎ） ・・・（36） となる。
【００７５】判定基準７：上述したパルス識別窓Ｗ1 中
にデータパルスが存在するときは，第２のクロック２を
用いて問題なしを証明する。パルス識別窓Ｗ1 中にデー
タパルスが存在するときは， ∃i 、−１８０°／ｎ≦θi ≦１８０°／ｎ ・・・（37） または， ∃i 、３６０°−１８０°／ｎ≦θi ≦３６０°＋１８０°／ｎ ・・・（38） であり，上記式のいずれか一方が成立する。式３７が成
立するとき、式３６の条件から下記式が得られる。 ∀i 、θi ≦−１８０°／ｎ−（δθm ＋δθp ） ＞−１８０°＋１８０°／ｎ＞−１８０°，かつ， ∀i 、θi ≦１８０°／ｎ＋（δθm ＋δθp ） ＜１８０°−１８０°／ｎ＜１８０° ＝−１８０°＋３６０° ・・・（39） 式３８が成立するときも同様に、 ∀i 、θi ≧３６０°−１８０°／ｎ−（δθm ＋δθp ） ＞１８０°＋１８０°／ｎ＞１８０°，かつ， ∀i 、θi ≦３６０°＋１８０°／ｎ＋（δθm ＋δθp ） ＜５４０°−１８ ０°／ｎ＜５４０° ＝１８０°＋３６０° ・・・（40） よって、式３９および式４０よりパルス識別窓Ｗ1 中に
データパルスが存在すれば、データパルスのエッジが第
２の基準クロックＲＣＫ２のエッジの前後に分かれるこ
とはなく、判定基準７が証明された。
にデータパルスが存在するときは，第２のクロック２を
用いて問題なしを証明する。パルス識別窓Ｗ1 中にデー
タパルスが存在するときは， ∃i 、−１８０°／ｎ≦θi ≦１８０°／ｎ ・・・（37） または， ∃i 、３６０°−１８０°／ｎ≦θi ≦３６０°＋１８０°／ｎ ・・・（38） であり，上記式のいずれか一方が成立する。式３７が成
立するとき、式３６の条件から下記式が得られる。 ∀i 、θi ≦−１８０°／ｎ−（δθm ＋δθp ） ＞−１８０°＋１８０°／ｎ＞−１８０°，かつ， ∀i 、θi ≦１８０°／ｎ＋（δθm ＋δθp ） ＜１８０°−１８０°／ｎ＜１８０° ＝−１８０°＋３６０° ・・・（39） 式３８が成立するときも同様に、 ∀i 、θi ≧３６０°−１８０°／ｎ−（δθm ＋δθp ） ＞１８０°＋１８０°／ｎ＞１８０°，かつ， ∀i 、θi ≦３６０°＋１８０°／ｎ＋（δθm ＋δθp ） ＜５４０°−１８ ０°／ｎ＜５４０° ＝１８０°＋３６０° ・・・（40） よって、式３９および式４０よりパルス識別窓Ｗ1 中に
データパルスが存在すれば、データパルスのエッジが第
２の基準クロックＲＣＫ２のエッジの前後に分かれるこ
とはなく、判定基準７が証明された。
【００７６】ついで，パルス識別窓Ｗ1 中にデータパル
スが存在しない場合を考える。このとき、下記判定基準
を示す。 判定基準１ 「∃j,k ，｜ｑi −ｑk ｜≧ｍ＋１のときは第２の基準
クロックＲＣＫ２を用いて問題なし」 判定基準ＩＩ 「∀j,k ，｜ｑi −ｑk ｜≦ｍのときは第１の基準クロ
ックＲＣＫ１を用いて問題なし」この場合， （１）∀j,k （ｊ≠ｋ）｜θ1j−θ1k｜＜１８０°のと
きは第１の基準クロックＲＣＫ１を用いて問題なし （２）∃j,k （ｊ≠ｋ）｜θ1j−θ1k｜＜１８０°のと
きは第２の基準クロックＲＣＫ２を用いて問題なしとい
う条件がパルス識別窓Ｗの数が奇数の場合で述べたよう
に成立するから ∃j,k ｜ｑi −ｑk ｜≧ｍ＋１のときは， ∃j,k （ｊ≠ｋ）｜θ1j−θ1k｜＞１８０° ・・・（41） であり， ∀j,k ，｜ｑi −ｑk ｜≦ｍのときは ∀j,k （ｊ≠ｋ）｜θ1j−θ1k｜＜１８０° ・・・（42） ということを示せばよい。
スが存在しない場合を考える。このとき、下記判定基準
を示す。 判定基準１ 「∃j,k ，｜ｑi −ｑk ｜≧ｍ＋１のときは第２の基準
クロックＲＣＫ２を用いて問題なし」 判定基準ＩＩ 「∀j,k ，｜ｑi −ｑk ｜≦ｍのときは第１の基準クロ
ックＲＣＫ１を用いて問題なし」この場合， （１）∀j,k （ｊ≠ｋ）｜θ1j−θ1k｜＜１８０°のと
きは第１の基準クロックＲＣＫ１を用いて問題なし （２）∃j,k （ｊ≠ｋ）｜θ1j−θ1k｜＜１８０°のと
きは第２の基準クロックＲＣＫ２を用いて問題なしとい
う条件がパルス識別窓Ｗの数が奇数の場合で述べたよう
に成立するから ∃j,k ｜ｑi −ｑk ｜≧ｍ＋１のときは， ∃j,k （ｊ≠ｋ）｜θ1j−θ1k｜＞１８０° ・・・（41） であり， ∀j,k ，｜ｑi −ｑk ｜≦ｍのときは ∀j,k （ｊ≠ｋ）｜θ1j−θ1k｜＜１８０° ・・・（42） ということを示せばよい。
【００７７】式４１および式４２はそれぞれ下記式と等
価である。 ｑmax −ｑmin ≧ｍ＋１のとき θ1max−θ1min＞１８０° ・・・（43） ｑmax −ｑmin ≦ｍのとき θ1max−θ1min＜１８０° ・・・（44） 式４２および式４４を証明する。パルス識別窓1 中にデ
ータパルスが存在しない場合を考えているので、 θ1min∈Ｗｑmin 、θ1max∈Ｗｑmax （２≦ｑmin 、ｑmax ≦ｎ） すなわち、 ３６０°×（ｑmin −１）／ｎ−１８０°／ｎ ≦θ1min≦３６０°×（ｑmin −１）／ｎ＋１８０°／ｎ （２≦ｑmin ≦ｎ） ３６０°×（ｑmax −１）／ｎ−１８０°／ｎ ≦θ1max≦３６０°×（ｑmax −１）／ｎ＋１８０°／ｎ （２≦ｑmax ≦ｎ） である。
価である。 ｑmax −ｑmin ≧ｍ＋１のとき θ1max−θ1min＞１８０° ・・・（43） ｑmax −ｑmin ≦ｍのとき θ1max−θ1min＜１８０° ・・・（44） 式４２および式４４を証明する。パルス識別窓1 中にデ
ータパルスが存在しない場合を考えているので、 θ1min∈Ｗｑmin 、θ1max∈Ｗｑmax （２≦ｑmin 、ｑmax ≦ｎ） すなわち、 ３６０°×（ｑmin −１）／ｎ−１８０°／ｎ ≦θ1min≦３６０°×（ｑmin −１）／ｎ＋１８０°／ｎ （２≦ｑmin ≦ｎ） ３６０°×（ｑmax −１）／ｎ−１８０°／ｎ ≦θ1max≦３６０°×（ｑmax −１）／ｎ＋１８０°／ｎ （２≦ｑmax ≦ｎ） である。
【００７８】このとき、
θ1max−θ1min≧３６０°×〔（ｑmax −ｑmin ）−１〕／ｎ
＝１８０°×〔（ｑmax −ｑmin ）−１〕／ｍ ・・・（45）
θ1max−θ1min≦３６０°×〔（ｑmax −ｑmin ）＋１〕／ｎ
＝１８０°×〔（ｑmax −ｑmin ）＋１〕／ｍ ・・（46）
となる。式４５から
ｑmax −ｑmin ≧ｍ＋１のとき
θ1max−θ1min≧１８０° ・・（47）
が得られる。また式４６から
ｑmax −ｑmin ≦ｍのとき
θ1max−θ1min≦１８０°×（１＋１／ｎ） ・・・（48）
が得られる。さらに、上述したように，式２９，式３０
または式３１のいずれか１つの式が成り立つ。式２９が
成立するから， θ1max−θ1min＝δθm ＋δθp ≦１８０°×（１−１／ｍ）・・（49） となる。式１６および式１７が成立するから θ1max−θ1min≧３６０°−（δθm ＋δθp ） ＞１８０°×（１＋１／ｍ） ・・・（50） となる。
または式３１のいずれか１つの式が成り立つ。式２９が
成立するから， θ1max−θ1min＝δθm ＋δθp ≦１８０°×（１−１／ｍ）・・（49） となる。式１６および式１７が成立するから θ1max−θ1min≧３６０°−（δθm ＋δθp ） ＞１８０°×（１＋１／ｍ） ・・・（50） となる。
【００７９】したがって，
ｑmax −ｑmin ≧ｍ＋１から
θ1max−θ1min＞１８０°×（１＋１／ｍ）＞１８０°
ｑmax −ｑmin ≦ｍから
θ1max−θ1min＜１８０°×（１＋１／ｍ）＜１８０°
が得られる。すなわち、式４３および式４４が得られ，
これらの式から式４１および式４２，さらにケースＣ２
における判定基準Ｉおよび判定基準ＩＩが証明された。
つまり，上記「パルス識別窓Ｗ1 にデータパルス列ＤＰ
Ｔが存在しないとき第２基準クロックＲＣＫ２を用いて
もよい」とする判定基準１，および，パルス識別窓Ｗ1
にデータパルス列ＤＰＴが存在しない場合第２の基準ク
ロックＲＣＫ２を用いてもよい」とする判定基準１から
ケースＣ２が十分条件であることが証明された。ケース
Ｃ２においても，判定基準Ｉ’および判定基準ＩＩ’の
前提部は互いに排反であるので判定基準（Ｉ）’の前提
部の正否のみ判定すれば十分である。
これらの式から式４１および式４２，さらにケースＣ２
における判定基準Ｉおよび判定基準ＩＩが証明された。
つまり，上記「パルス識別窓Ｗ1 にデータパルス列ＤＰ
Ｔが存在しないとき第２基準クロックＲＣＫ２を用いて
もよい」とする判定基準１，および，パルス識別窓Ｗ1
にデータパルス列ＤＰＴが存在しない場合第２の基準ク
ロックＲＣＫ２を用いてもよい」とする判定基準１から
ケースＣ２が十分条件であることが証明された。ケース
Ｃ２においても，判定基準Ｉ’および判定基準ＩＩ’の
前提部は互いに排反であるので判定基準（Ｉ）’の前提
部の正否のみ判定すれば十分である。
【００８０】パルス識別窓Ｗの数が奇数である場合の実
施例として述べたように，判定基準Ｉ’の前提部である 前提（ｉ）’：∃i 、ｑi ＝１（Ｗ1 中にデータパルス
が存在する） 前提（ｉｉ）’：∃j,k ，｜ｑj −ｑk ｜≧ ｍ＋１（ｑmax −ｑmin ≧ｍ＋１） について「 前提（ｉ）’が不成立，かつ，前提（ｉ
ｉ）’が成立」となる条件を考えたとき、パルス識別窓
Ｗm 、Ｗm+1 、Ｗm+2 の中にデータパルスがあってもこ
の条件の成立要件にはなりえない。したがって、図２０
（Ｂ）に示すように，パルス識別窓Ｗm 、Ｗm+1 、Ｗ
m+2の３つの窓は省略することができる。
施例として述べたように，判定基準Ｉ’の前提部である 前提（ｉ）’：∃i 、ｑi ＝１（Ｗ1 中にデータパルス
が存在する） 前提（ｉｉ）’：∃j,k ，｜ｑj −ｑk ｜≧ ｍ＋１（ｑmax −ｑmin ≧ｍ＋１） について「 前提（ｉ）’が不成立，かつ，前提（ｉ
ｉ）’が成立」となる条件を考えたとき、パルス識別窓
Ｗm 、Ｗm+1 、Ｗm+2 の中にデータパルスがあってもこ
の条件の成立要件にはなりえない。したがって、図２０
（Ｂ）に示すように，パルス識別窓Ｗm 、Ｗm+1 、Ｗ
m+2の３つの窓は省略することができる。
【００８１】パルス識別窓Ｗの数が偶数であるこの方法
を使った例を挙げる。 例３：ジッタの最大値がピークツゥーピークで９０°未
満のとき δθmax ＜９０°＝１８０°×（１−１／２） より ｍ≧２（ｎ≧４） であることが必要である。ここでは，ｎ＝４（ｍ＝２）
とする。パルス識別窓Ｗm 、Ｗm+1 、Ｗm+2 は省略でき
るので、図２１（Ａ）に示すように，パルス識別窓Ｗ1
のみ用意すればよい。したがって，条件としては上記条
件（ｉ）’のみ調べればよい。
を使った例を挙げる。 例３：ジッタの最大値がピークツゥーピークで９０°未
満のとき δθmax ＜９０°＝１８０°×（１−１／２） より ｍ≧２（ｎ≧４） であることが必要である。ここでは，ｎ＝４（ｍ＝２）
とする。パルス識別窓Ｗm 、Ｗm+1 、Ｗm+2 は省略でき
るので、図２１（Ａ）に示すように，パルス識別窓Ｗ1
のみ用意すればよい。したがって，条件としては上記条
件（ｉ）’のみ調べればよい。
【００８２】ケースＣ２−１
判定基準Ｉ’
「パルス識別窓Ｗ1 中にデータパルスが存在する」とき
は第２の基準クロックＲＣＫ２を使用すればよく 判定基準ＩＩ’ 「パルス識別窓Ｗ1 中にデータパルスが存在しない」と
きは第１基準クロックＲＣＫ１を使用すればよい。
は第２の基準クロックＲＣＫ２を使用すればよく 判定基準ＩＩ’ 「パルス識別窓Ｗ1 中にデータパルスが存在しない」と
きは第１基準クロックＲＣＫ１を使用すればよい。
【００８３】例４：ジッタの最大値がピーク・ツゥー・
ピークで１３０°未満のとき １８０°×（１−１／３）＝１２０° ＜１３０°＜１８０°×（１−１／４）＝１３５° からｍ≧４であることが必要となる。ここで，ｎ＝８
（ｍ＝４）とすると、必要なパルス識別窓は，図２０
（Ｂ）に示したようにパルス識別窓Ｗ4 ，Ｗ5 ，Ｗ 6 を
省略した場合，５個となる。この場合の具体的な判定条
件は以下のようにすればよい。 ケースＣ２−２ 判定基準Ｉ’ 「前提（ｉ）’のパルス識別窓Ｗ1 中にデータパルスが
存在する（∃i ，ｑi ＝１）または前提（ｉｉ）’の
（∃j ，ｑj ＝２かつ∃k ，ｑk ＝７）または（∃j ，
ｑj ＝２かつ∃k ，ｑk ＝８）または（∃j ，ｑj ＝３
かつ∃k ，ｑk ＝８）」のときは，第２の基準クロック
ＲＣＫ２を使用する。 判定基準ＩＩ’ 上記以外のとき（前提（Ｉ）’の前提部不成立のとき
は）第１の基準クロックＲＣＫ１を使用する。
ピークで１３０°未満のとき １８０°×（１−１／３）＝１２０° ＜１３０°＜１８０°×（１−１／４）＝１３５° からｍ≧４であることが必要となる。ここで，ｎ＝８
（ｍ＝４）とすると、必要なパルス識別窓は，図２０
（Ｂ）に示したようにパルス識別窓Ｗ4 ，Ｗ5 ，Ｗ 6 を
省略した場合，５個となる。この場合の具体的な判定条
件は以下のようにすればよい。 ケースＣ２−２ 判定基準Ｉ’ 「前提（ｉ）’のパルス識別窓Ｗ1 中にデータパルスが
存在する（∃i ，ｑi ＝１）または前提（ｉｉ）’の
（∃j ，ｑj ＝２かつ∃k ，ｑk ＝７）または（∃j ，
ｑj ＝２かつ∃k ，ｑk ＝８）または（∃j ，ｑj ＝３
かつ∃k ，ｑk ＝８）」のときは，第２の基準クロック
ＲＣＫ２を使用する。 判定基準ＩＩ’ 上記以外のとき（前提（Ｉ）’の前提部不成立のとき
は）第１の基準クロックＲＣＫ１を使用する。
【００８４】さらに，パルス識別窓Ｗの数が偶数の場合
において，図１９（Ａ），図２３（Ｂ）に示した，パル
ス識別窓Ｗｑの中心位相を１８０°×（２ｑ−１）／ｎ
とする方法について述べる。この場合、基準クロック選
択のための条件は、以下のようにする。 ケースＣ３ 判定基準Ｉ’’ 「∃i ，ｑi ＝１または∃i ，ｑi ＝ｎ（パルス識別窓
ＷＷ1 またはＷn中にデータパルスが存在する）または
∃j,k ，｜ｑj −ｑk ｜≧ｍ＋１」ならば第２の基準ク
ロックＲＣＫ２を使用する。 判定基準ＩＩ’’ 「∀i 、ｑi ≠１かつ∀i 、ｑi ≠ｎ （パルス識別窓Ｗ1 またはＷn 中のいずれにもデータパ
ルスが存在しない）かつ ∀j,k ，｜ｑj −ｑk ｜≦ｍ」 （上記前提Ｉ’’以外）ならば第１の基準クロックＲＣ
Ｋ１を使用する。
において，図１９（Ａ），図２３（Ｂ）に示した，パル
ス識別窓Ｗｑの中心位相を１８０°×（２ｑ−１）／ｎ
とする方法について述べる。この場合、基準クロック選
択のための条件は、以下のようにする。 ケースＣ３ 判定基準Ｉ’’ 「∃i ，ｑi ＝１または∃i ，ｑi ＝ｎ（パルス識別窓
ＷＷ1 またはＷn中にデータパルスが存在する）または
∃j,k ，｜ｑj −ｑk ｜≧ｍ＋１」ならば第２の基準ク
ロックＲＣＫ２を使用する。 判定基準ＩＩ’’ 「∀i 、ｑi ≠１かつ∀i 、ｑi ≠ｎ （パルス識別窓Ｗ1 またはＷn 中のいずれにもデータパ
ルスが存在しない）かつ ∀j,k ，｜ｑj −ｑk ｜≦ｍ」 （上記前提Ｉ’’以外）ならば第１の基準クロックＲＣ
Ｋ１を使用する。
【００８５】ただし、ｍ＝ｎ／２が奇数となる場合は、
（Ｗn ，Ｗ1 ）に相当し，Ｗ1 ’，（Ｗ2 ，Ｗ3 ）とな
り，Ｗ2 ’，・・・（Ｗm-1 ，Ｗm ）となり，
Ｗ’m'+1，（Ｗm+1 ，Ｗm+2 ）となり，Ｗ’m'+2・・
・，（Ｗn-1 ，Ｗn ）となり，Ｗ’n'となる。ここで，
ｎ’＝ｍ＝ｎ／２であり，ｎ’＝２ｍ’＋１（ｍ’＝
（ｍ−１）／２と考えれば，パルス識別窓Ｗの数が気相
の場合と等価とみなすことができる。したがって，パル
ス識別窓Ｗｑ’中のデータパルスの有無に応じて、 ケースＣ１’ 判定基準Ｉ：「∃i ，ｑi ＝１（Ｗ1 ’中にデータパル
スが存在する）または∃j,k ，｜ｑj −ｑk ｜≧ｍ’＋
１」ならば第２の基準クロックＲＣＫ２を使用する 判定基準ＩＩ：「∀i 、ｑi ≠１かつ∀i 、ｑi ≠ｎＷ
1 またはパルス識別窓Ｗn 中にデータパルスが存在しな
い）かつ∀j,k ，｜ｑj −ｑk ｜≦ｍ」ならば（上記判
定方法１以外ならば第１の基準クロックＲＣＫ１を使用
するという判定基準を用いて基準クロックの選択を行う
こともできる。もちろん、そのままケース（条件）Ｃ３
を用いてもよい。
（Ｗn ，Ｗ1 ）に相当し，Ｗ1 ’，（Ｗ2 ，Ｗ3 ）とな
り，Ｗ2 ’，・・・（Ｗm-1 ，Ｗm ）となり，
Ｗ’m'+1，（Ｗm+1 ，Ｗm+2 ）となり，Ｗ’m'+2・・
・，（Ｗn-1 ，Ｗn ）となり，Ｗ’n'となる。ここで，
ｎ’＝ｍ＝ｎ／２であり，ｎ’＝２ｍ’＋１（ｍ’＝
（ｍ−１）／２と考えれば，パルス識別窓Ｗの数が気相
の場合と等価とみなすことができる。したがって，パル
ス識別窓Ｗｑ’中のデータパルスの有無に応じて、 ケースＣ１’ 判定基準Ｉ：「∃i ，ｑi ＝１（Ｗ1 ’中にデータパル
スが存在する）または∃j,k ，｜ｑj −ｑk ｜≧ｍ’＋
１」ならば第２の基準クロックＲＣＫ２を使用する 判定基準ＩＩ：「∀i 、ｑi ≠１かつ∀i 、ｑi ≠ｎＷ
1 またはパルス識別窓Ｗn 中にデータパルスが存在しな
い）かつ∀j,k ，｜ｑj −ｑk ｜≦ｍ」ならば（上記判
定方法１以外ならば第１の基準クロックＲＣＫ１を使用
するという判定基準を用いて基準クロックの選択を行う
こともできる。もちろん、そのままケース（条件）Ｃ３
を用いてもよい。
【００８６】パルス識別窓Ｗ1 またはＷn 中にデータパ
ルスが存在するか否かで分け、上記パルス識別窓Ｗｇの
中央の位相が３６０°ｘ（ｑ−１）／ｎである場合とと
同様にしてケース（条件）Ｃ３でよいことを証明する。 判定基準１：「パルス識別窓Ｗ1 またはＷn 中にデータ
パルスが存在するときは第２の基準クロックＲＣＫ２を
用いて問題なし」を証明する。パルス識別窓Ｗ1 または
Ｗn 中にデータパルスが存在するときは， ∃i ，−３６０°／ｎ≦θi ≦３６０°／ｎ ・・・（51） または ∃i ，３６０°−３６０°／ｎ≦θi ≦３６０°＋３６０°／ｎ ・・・（52） であり，式５１または式５２のいずれか一方が成立す
る。また、上述した「パルス識別窓Ｗｑの中心位相を１
８０°×（２ｑ−１）／ｎとする」前提はここでも成立
しているから、式５１が成立するとき ∀i ，θi ≧−３６０°／ｎ−（δθm ＋δθp ）＞−１８０° かつ ∀i ，θi ≦３６０°／ｎ＋（δθm ＋δθp ）＜１８０° ＝−１８０°＋３６０° ・・・（53） ∀i ，θi ≧３６０°−３６０°／ｎ−（δθm ＋δθp ）＞１８０° かつ ∀i ，θi ≦３６０°＋３６０°／ｎ＋（δθm ＋δθp ）＜５４０° ＝ １８０°＋３６０° ・・・（54） となる。したがって，式５３および式５４よりパルス識
別窓Ｗ1 またはパルス識別窓Ｗn 中にデータパスルが存
在すれば、データパルスのエッジが第２基準クロックＲ
ＣＫ２のエッジの前後に分かれることはないから，式５
０が証明されたことになる。
ルスが存在するか否かで分け、上記パルス識別窓Ｗｇの
中央の位相が３６０°ｘ（ｑ−１）／ｎである場合とと
同様にしてケース（条件）Ｃ３でよいことを証明する。 判定基準１：「パルス識別窓Ｗ1 またはＷn 中にデータ
パルスが存在するときは第２の基準クロックＲＣＫ２を
用いて問題なし」を証明する。パルス識別窓Ｗ1 または
Ｗn 中にデータパルスが存在するときは， ∃i ，−３６０°／ｎ≦θi ≦３６０°／ｎ ・・・（51） または ∃i ，３６０°−３６０°／ｎ≦θi ≦３６０°＋３６０°／ｎ ・・・（52） であり，式５１または式５２のいずれか一方が成立す
る。また、上述した「パルス識別窓Ｗｑの中心位相を１
８０°×（２ｑ−１）／ｎとする」前提はここでも成立
しているから、式５１が成立するとき ∀i ，θi ≧−３６０°／ｎ−（δθm ＋δθp ）＞−１８０° かつ ∀i ，θi ≦３６０°／ｎ＋（δθm ＋δθp ）＜１８０° ＝−１８０°＋３６０° ・・・（53） ∀i ，θi ≧３６０°−３６０°／ｎ−（δθm ＋δθp ）＞１８０° かつ ∀i ，θi ≦３６０°＋３６０°／ｎ＋（δθm ＋δθp ）＜５４０° ＝ １８０°＋３６０° ・・・（54） となる。したがって，式５３および式５４よりパルス識
別窓Ｗ1 またはパルス識別窓Ｗn 中にデータパスルが存
在すれば、データパルスのエッジが第２基準クロックＲ
ＣＫ２のエッジの前後に分かれることはないから，式５
０が証明されたことになる。
【００８７】パルス識別窓の数が偶数であって，パルス
識別窓Ｗ1 またはパルス識別窓Ｗn中にデータパルスが
存在しない場合を考える。このとき、 判定基準１：「∃j,k ，｜ｑj −ｑk ｜≧ｍ＋１ならば
第２の基準クロックＲＣＫ２を用いて問題なし」 判定基準２：「∀j,k ，｜ｑj −ｑk ｜≦ｍならば第１
の基準クロックＲＣＫ１を用いて問題なし」を証明す
る。
識別窓Ｗ1 またはパルス識別窓Ｗn中にデータパルスが
存在しない場合を考える。このとき、 判定基準１：「∃j,k ，｜ｑj −ｑk ｜≧ｍ＋１ならば
第２の基準クロックＲＣＫ２を用いて問題なし」 判定基準２：「∀j,k ，｜ｑj −ｑk ｜≦ｍならば第１
の基準クロックＲＣＫ１を用いて問題なし」を証明す
る。
【００８８】上述した，「パルス識別窓Ｗｑの中心位相
を１８０°×（２ｑ−１）／ｎとする」前提と同様に， ｑmax −ｑmin ≧ｍ＋１のときθ1max−θ1min＞１８０° ・・・（55） ｑmax −ｑmin ≦ｍのときθ1max−θ1min＜１８０° ・・・（56） を示せば、上記判定基準１および判定基準２が成立する
ことが証明できたことになる。ここではパルス識別窓Ｗ
1 Ｗn 中にデータパルスが存在しない場合を考えている
ので、 θ1min∈Ｗｑmin 、θ1max∈Ｗｑmax （２≦ｑmin 、ｑmax ≦ｎ−１） すなわち、 １８０°×（２ｑmin −１）／ｎ−１８０°／ｎ≦θ1min ≦１８０°×（２ｑmin −１）／ｎ＋１８０°／ｎ （２≦ｑmin ≦ｎ−１） １８０°×（２ｑmax −１）／ｎ−１８０°≦θ1max≦ ３６０°×（２ｑmax −１）／ｎ＋１８０°／ｎ （２≦ｑmax ≦ｎ−１） である。このとき， θ1max−θ1min≧１８０°×〔（ｑmax −ｑmin ）−１〕／ｍ ・・・（57） θ1max−θ1min≧１８０°×〔（ｑmax −ｑmin ）＋１〕／ｍ ・・・（58） となり、さらに式４７および式４８を得るが、やはり式
４９および式５０のいずれが一方が成り立つことから、
上記式５５および式５６が証明できる。４８を示すこと
ができる。よって、「パルス識別窓の数が偶数であっ
て，パルス識別窓Ｗ1 またはパルス識別窓Ｗn 中にデー
タパルスが存在しない場合」における判定基準１および
判定基準２が成立することが言える。以上の結果から，
つまり，「パルス識別窓Ｗ1 にデータパルス列ＤＰＴが
存在するときの判定基準１，および，「パルス識別窓の
数が偶数であって，パルス識別窓Ｗ1 またはパルス識別
窓Ｗn 中にデータパルスが存在しない場合」における判
定基準１および判定基準２から，ケース（条件）Ｃ３が
十分条件であることが示された。
を１８０°×（２ｑ−１）／ｎとする」前提と同様に， ｑmax −ｑmin ≧ｍ＋１のときθ1max−θ1min＞１８０° ・・・（55） ｑmax −ｑmin ≦ｍのときθ1max−θ1min＜１８０° ・・・（56） を示せば、上記判定基準１および判定基準２が成立する
ことが証明できたことになる。ここではパルス識別窓Ｗ
1 Ｗn 中にデータパルスが存在しない場合を考えている
ので、 θ1min∈Ｗｑmin 、θ1max∈Ｗｑmax （２≦ｑmin 、ｑmax ≦ｎ−１） すなわち、 １８０°×（２ｑmin −１）／ｎ−１８０°／ｎ≦θ1min ≦１８０°×（２ｑmin −１）／ｎ＋１８０°／ｎ （２≦ｑmin ≦ｎ−１） １８０°×（２ｑmax −１）／ｎ−１８０°≦θ1max≦ ３６０°×（２ｑmax −１）／ｎ＋１８０°／ｎ （２≦ｑmax ≦ｎ−１） である。このとき， θ1max−θ1min≧１８０°×〔（ｑmax −ｑmin ）−１〕／ｍ ・・・（57） θ1max−θ1min≧１８０°×〔（ｑmax −ｑmin ）＋１〕／ｍ ・・・（58） となり、さらに式４７および式４８を得るが、やはり式
４９および式５０のいずれが一方が成り立つことから、
上記式５５および式５６が証明できる。４８を示すこと
ができる。よって、「パルス識別窓の数が偶数であっ
て，パルス識別窓Ｗ1 またはパルス識別窓Ｗn 中にデー
タパルスが存在しない場合」における判定基準１および
判定基準２が成立することが言える。以上の結果から，
つまり，「パルス識別窓Ｗ1 にデータパルス列ＤＰＴが
存在するときの判定基準１，および，「パルス識別窓の
数が偶数であって，パルス識別窓Ｗ1 またはパルス識別
窓Ｗn 中にデータパルスが存在しない場合」における判
定基準１および判定基準２から，ケース（条件）Ｃ３が
十分条件であることが示された。
【００８９】ケース（条件）Ｃ３においても、同様に判
定基準（Ｉ）”の前提部に正否のみ判定すれば充分であ
る。 判定基準（Ｉ）”の前提部 前提（ｉ）”：∃i ，ｑi ＝１または∃i ，ｑi ＝ｎ
（パルス識別窓Ｗ1 またはＷn 中にデータパルスが存在
する） 前提（ｉｉ）”：∃j,k ，｜ｑj −ｑk ｜≧ｍ＋１（ｑ
max −ｑmin ≧ｍ＋１）についても、同様に「前提
（ｉ）”が不成立，かつ，前提（ｉｉ）”が成立」とな
る条件を考えると、パルス識別窓Ｗm-1 ，Ｗm ，
Ｗm+1 ，Ｗm+2 の中にデータパルスがあってもこの条件
の成立用件にはなりえない。したがって，パルス識別窓
Ｗm-1 ，Ｗm ，Ｗm+1 ，Ｗm+2 の４つの窓は省略するこ
とができる。ただし、ｎ＝４（ｍ＝２）の場合について
は、Ｗm-1 ＝Ｗ1 ，Ｗm+2 ＝Ｗn ＝Ｗn （＝Ｗ4 ）とな
るため、パルス識別窓Ｗm-1 ，Ｗm+2 は省略できず、Ｗ
m （Ｗ2 ），Ｗm+1 （Ｗ3 ）の２つのみ省略できる。
定基準（Ｉ）”の前提部に正否のみ判定すれば充分であ
る。 判定基準（Ｉ）”の前提部 前提（ｉ）”：∃i ，ｑi ＝１または∃i ，ｑi ＝ｎ
（パルス識別窓Ｗ1 またはＷn 中にデータパルスが存在
する） 前提（ｉｉ）”：∃j,k ，｜ｑj −ｑk ｜≧ｍ＋１（ｑ
max −ｑmin ≧ｍ＋１）についても、同様に「前提
（ｉ）”が不成立，かつ，前提（ｉｉ）”が成立」とな
る条件を考えると、パルス識別窓Ｗm-1 ，Ｗm ，
Ｗm+1 ，Ｗm+2 の中にデータパルスがあってもこの条件
の成立用件にはなりえない。したがって，パルス識別窓
Ｗm-1 ，Ｗm ，Ｗm+1 ，Ｗm+2 の４つの窓は省略するこ
とができる。ただし、ｎ＝４（ｍ＝２）の場合について
は、Ｗm-1 ＝Ｗ1 ，Ｗm+2 ＝Ｗn ＝Ｗn （＝Ｗ4 ）とな
るため、パルス識別窓Ｗm-1 ，Ｗm+2 は省略できず、Ｗ
m （Ｗ2 ），Ｗm+1 （Ｗ3 ）の２つのみ省略できる。
【００９０】以下に具体例を示す。
例５：ジッタの最大値がピーク・ツゥー・ピークで９０
°未満のときｍ≧２であることがが必要である。ここで
はｎ＝４（ｍ＝２）とする。図２１（Ａ）に示すよう
に，パルス識別窓Ｗ2 ，Ｗ3 の２つのみ省略が可能とな
る。 ケース（条件）Ｃ３−１ 判定基準（Ｉ）”「パルス識別窓Ｗ1 またはＷ4 中にデ
ータパルスが存在する」ときは第２の基準クロックＲＣ
Ｋ２を使用する。 判定基準（ＩＩ）”「パルス識別窓Ｗ1 またはＷ4 のい
ずれにもデータパスルが存在しない」ときは，第１の基
準クロックＲＣＫ１を使用するとすればよい。
°未満のときｍ≧２であることがが必要である。ここで
はｎ＝４（ｍ＝２）とする。図２１（Ａ）に示すよう
に，パルス識別窓Ｗ2 ，Ｗ3 の２つのみ省略が可能とな
る。 ケース（条件）Ｃ３−１ 判定基準（Ｉ）”「パルス識別窓Ｗ1 またはＷ4 中にデ
ータパルスが存在する」ときは第２の基準クロックＲＣ
Ｋ２を使用する。 判定基準（ＩＩ）”「パルス識別窓Ｗ1 またはＷ4 のい
ずれにもデータパスルが存在しない」ときは，第１の基
準クロックＲＣＫ１を使用するとすればよい。
【００９１】例６：ジッタの最大値がピークツゥーピー
クで１３０°未満のとき，ｍ≧４であることか必要であ
る。ここでは，ｎ＝８（ｍ＝４）とすると、図２１
（Ｂ）に示したように，パルス識別窓Ｗ3 ，Ｗ4 ，
Ｗ5 ，Ｗ6 を省略した場合，必要なパルス識別窓は４個
となる。この場合の具体的条件としては、以下のように
すればよい。 ケース（条件）Ｃ３−２ 判定基準（Ｉ）”：「（ｉ）”パルス識別窓Ｗ1 または
Ｗ8 中にデータパルスが存在する（∃i ，ｑi ＝１また
は∃i ，ｑi ＝８） または 「（ｉｉ）”（∃j ，ｑj ＝２かつ∃k ，ｑk ＝７）」
のときは，第２の基準クロックＲＣＫ２を使用する。 判定基準（ＩＩ）”：上記以外（（Ｉ）”の前提部不成
立）のときは，第１の基準クロックＲＣＫ１を使用す
る。
クで１３０°未満のとき，ｍ≧４であることか必要であ
る。ここでは，ｎ＝８（ｍ＝４）とすると、図２１
（Ｂ）に示したように，パルス識別窓Ｗ3 ，Ｗ4 ，
Ｗ5 ，Ｗ6 を省略した場合，必要なパルス識別窓は４個
となる。この場合の具体的条件としては、以下のように
すればよい。 ケース（条件）Ｃ３−２ 判定基準（Ｉ）”：「（ｉ）”パルス識別窓Ｗ1 または
Ｗ8 中にデータパルスが存在する（∃i ，ｑi ＝１また
は∃i ，ｑi ＝８） または 「（ｉｉ）”（∃j ，ｑj ＝２かつ∃k ，ｑk ＝７）」
のときは，第２の基準クロックＲＣＫ２を使用する。 判定基準（ＩＩ）”：上記以外（（Ｉ）”の前提部不成
立）のときは，第１の基準クロックＲＣＫ１を使用す
る。
【００９２】以上、本発明の第２実施例における基準ク
ロックＲＣＫの判定方法を説明してきたが、以下では本
発明を実現するための具体的構成について、図１４に示
した構成図を参照して述べる。マスタクロックＭＣＫお
よび基準クロック発生回路３１およびパルス識別窓発生
回路３２の構成については、上記実施例においても述べ
たように，マスタクロックＭＣＫを基準クロックＲＣＫ
の整数倍の周波数とし、分周等により第１および第２の
基準クロックＲＣＫ１，ＲＣＫ２を得ることができる。
上記同様に，マスタクロックＭＣＫを第１および第２の
基準クロックＲＣＫ１，ＲＣＫ２と同じ周波数とし、遅
延等により第１および第２の基準クロックＲＣＫ１，Ｒ
ＣＫ２を発生させることもできる。例１の場合について
図２３〜図３１参照して，具体例を示す。なお、図２３
が分周する前者の場合の構成例、図２４がそのタイムチ
ャート、図２５が遅延する後者の場合の構成例、図２６
がそのタイムチャートである。
ロックＲＣＫの判定方法を説明してきたが、以下では本
発明を実現するための具体的構成について、図１４に示
した構成図を参照して述べる。マスタクロックＭＣＫお
よび基準クロック発生回路３１およびパルス識別窓発生
回路３２の構成については、上記実施例においても述べ
たように，マスタクロックＭＣＫを基準クロックＲＣＫ
の整数倍の周波数とし、分周等により第１および第２の
基準クロックＲＣＫ１，ＲＣＫ２を得ることができる。
上記同様に，マスタクロックＭＣＫを第１および第２の
基準クロックＲＣＫ１，ＲＣＫ２と同じ周波数とし、遅
延等により第１および第２の基準クロックＲＣＫ１，Ｒ
ＣＫ２を発生させることもできる。例１の場合について
図２３〜図３１参照して，具体例を示す。なお、図２３
が分周する前者の場合の構成例、図２４がそのタイムチ
ャート、図２５が遅延する後者の場合の構成例、図２６
がそのタイムチャートである。
【００９３】位相比較回路３３については、例えば、図
２５（または図７）に示すように，ＲＳ形フリップフロ
ップを用いた構成が考えられ、その場合、例えば各基準
クロックの立ち上がりからデータパスルの立ち上がりま
での間、比較出力が“Ｈ”レベルとなる。データパルス
有無検出回路３４については、図９に示すように，Ｄ形
フリップフロップ回路を用いた構成が考えられ、その場
合、例えば識別窓中で立ち上がっているデータパルスが
１つでもあると出力が“Ｈ”レベルとなる。平均化回路
４５については、例えば、図１１に示すように，積分器
を用いればよい。出力選択処理回路６６における基準ク
ロック選択方法（アルゴリズム）については、上述のよ
うに、パルス識別窓の配置に応じて、ケース（条件）Ｃ
１，ケース（条件）Ｃ２，または，ケース（条件）Ｃ３
のいずれかを用いて、第１の基準クロックＲＣＫ１また
は第２の基準クロックＲＣＫ２のどちらを用いた比較結
果を選択するかを決定することになる。
２５（または図７）に示すように，ＲＳ形フリップフロ
ップを用いた構成が考えられ、その場合、例えば各基準
クロックの立ち上がりからデータパスルの立ち上がりま
での間、比較出力が“Ｈ”レベルとなる。データパルス
有無検出回路３４については、図９に示すように，Ｄ形
フリップフロップ回路を用いた構成が考えられ、その場
合、例えば識別窓中で立ち上がっているデータパルスが
１つでもあると出力が“Ｈ”レベルとなる。平均化回路
４５については、例えば、図１１に示すように，積分器
を用いればよい。出力選択処理回路６６における基準ク
ロック選択方法（アルゴリズム）については、上述のよ
うに、パルス識別窓の配置に応じて、ケース（条件）Ｃ
１，ケース（条件）Ｃ２，または，ケース（条件）Ｃ３
のいずれかを用いて、第１の基準クロックＲＣＫ１また
は第２の基準クロックＲＣＫ２のどちらを用いた比較結
果を選択するかを決定することになる。
【００９４】基本的には、本実施例は先行技術における
位相比較主手段および、ヘッド位置検出手段に相当する
部分であるが、第１実施例でも述べたように、先行技術
におけるの固定ヘッドを設けないで、リファレンスゾー
ン、サーポゾーンを並置した構成にも対応している。本
発明と先行技術との対応について補足する。 ａ．固定ヘッドを設けその出力パルスをマスタクロック
として用いる構成。マスタクロックＭＣＫ（固定ヘッド
からの出力パルス）としては、 （ｉ）データパルスと同一周波数のパルス信号（ｉｉ）
データパルスの整数倍の周波数の高いパスル信号、のい
ずれかとする。（ｉ）の場合は、図１４の基準クロック
発生回路３１およびパルス識別窓発生回路３２の回路構
成として遅延を行う回路を用い、（ｉｉ）の場合は分周
する回路を用いることになる。ただし、（ｉｉ）の場合
は第１の基準クロックＲＣＫ１の位相を０°に合わせる
ためのタイミング信号，例えば、マスタクロックＭＣＫ
中にヘッダ信号を記録しておく等によることが必要とな
る。 ｂ．固定ヘッドは設けるが、マスタクロックには別信
号，例えば、発振器により生成した信号）を用いる構成
固定ヘッドからの出力パルス（リファレンスパスル）
は、再生ヘッドからの出力パルス（サーボパルス）と同
一周波数とする。この場合に構成としては，マスタクロ
ックＭＣＫから生成した同一の基準クロックからのリフ
ァレンスパスル、サーボパルスのそれぞれの平均位相を
算出し、その差をとって必要な位相差信号を得る。 ｃ．固定ヘッドは設けず、リファレンスゾーン、サーボ
ゾーンを並置する構成マスタクロックとしては発振器等
により生成した別信号を用いる。この場合ｂと同様に、
再生ヘッドから順次再生される。リファレンスパルス、
サーボパルスに対し、各々平均位相を算出し、その差を
とることにより必要な位相差信号を得る。なお、２系列
とは、同じ回路を別個に２つ設けることに限らず、同一
回路を時系列的に分割して用いることも含んでいる。
位相比較主手段および、ヘッド位置検出手段に相当する
部分であるが、第１実施例でも述べたように、先行技術
におけるの固定ヘッドを設けないで、リファレンスゾー
ン、サーポゾーンを並置した構成にも対応している。本
発明と先行技術との対応について補足する。 ａ．固定ヘッドを設けその出力パルスをマスタクロック
として用いる構成。マスタクロックＭＣＫ（固定ヘッド
からの出力パルス）としては、 （ｉ）データパルスと同一周波数のパルス信号（ｉｉ）
データパルスの整数倍の周波数の高いパスル信号、のい
ずれかとする。（ｉ）の場合は、図１４の基準クロック
発生回路３１およびパルス識別窓発生回路３２の回路構
成として遅延を行う回路を用い、（ｉｉ）の場合は分周
する回路を用いることになる。ただし、（ｉｉ）の場合
は第１の基準クロックＲＣＫ１の位相を０°に合わせる
ためのタイミング信号，例えば、マスタクロックＭＣＫ
中にヘッダ信号を記録しておく等によることが必要とな
る。 ｂ．固定ヘッドは設けるが、マスタクロックには別信
号，例えば、発振器により生成した信号）を用いる構成
固定ヘッドからの出力パルス（リファレンスパスル）
は、再生ヘッドからの出力パルス（サーボパルス）と同
一周波数とする。この場合に構成としては，マスタクロ
ックＭＣＫから生成した同一の基準クロックからのリフ
ァレンスパスル、サーボパルスのそれぞれの平均位相を
算出し、その差をとって必要な位相差信号を得る。 ｃ．固定ヘッドは設けず、リファレンスゾーン、サーボ
ゾーンを並置する構成マスタクロックとしては発振器等
により生成した別信号を用いる。この場合ｂと同様に、
再生ヘッドから順次再生される。リファレンスパルス、
サーボパルスに対し、各々平均位相を算出し、その差を
とることにより必要な位相差信号を得る。なお、２系列
とは、同じ回路を別個に２つ設けることに限らず、同一
回路を時系列的に分割して用いることも含んでいる。
【００９５】以上実施例によれば、データパルス列ＤＰ
Ｔにジッタがあっても０°〜３６０°の全範囲にわたり
正しい平均位相を得るとができる。第２実施例では、ジ
ッタが大きい場合（ピーク・ツゥー・ピークで９０°以
上となるような場合）でも基準クロックは２つのみ用意
すればよい。したがって，位相算出回路の回路構成が簡
単になる。
Ｔにジッタがあっても０°〜３６０°の全範囲にわたり
正しい平均位相を得るとができる。第２実施例では、ジ
ッタが大きい場合（ピーク・ツゥー・ピークで９０°以
上となるような場合）でも基準クロックは２つのみ用意
すればよい。したがって，位相算出回路の回路構成が簡
単になる。
【００９６】本発明の磁気ディスク装置のヘッド位置検
出回路の第３実施例について述べる。先行技術において
は，データパルス列にジッタがあると、位相比較データ
をそのまま加算平均したのでは、正しい平均位相出力が
得られない可能性がある。第１実施例はこの問題を回避
するが，複数の基準クロックが必要になる。第３実施例
は先行技術および第１実施例を改善することを目的とす
る。
出回路の第３実施例について述べる。先行技術において
は，データパルス列にジッタがあると、位相比較データ
をそのまま加算平均したのでは、正しい平均位相出力が
得られない可能性がある。第１実施例はこの問題を回避
するが，複数の基準クロックが必要になる。第３実施例
は先行技術および第１実施例を改善することを目的とす
る。
【００９７】図２９は第３実施例の位相算出回路の回路
構成を示す図である。図２９に示した位相算出回路は位
相比較手段６１，変換手段６２，サンプリングホールド
手段６３，アナログ／ディジタル変換手段６４，位相補
正演算および位相平均演算手段６５を有する。ここで、
位相比較手段６１は基準クロックＲＣＫとデータパルス
列ＤＰＴを入力してデータパルス列ＤＰＴと直前の基準
クロックＲＣＫとの位相ずれ量としての比較出力信号Ｃ
ＭＰを出力する。データパルス列ＤＰＴの位相変動が１
８０°以上となると平均化が困難となるので、ここで
は，データパルス列ＤＰＴのジッタはピークツゥーピー
クで１８０°未満である場合に限定して考える。第３実
施例は、位相変動が上記の限定範囲内であれば、いかな
るジッタがあっても入力されたデータパルス列ＤＰＴの
正しい平均位相を算出できる。
構成を示す図である。図２９に示した位相算出回路は位
相比較手段６１，変換手段６２，サンプリングホールド
手段６３，アナログ／ディジタル変換手段６４，位相補
正演算および位相平均演算手段６５を有する。ここで、
位相比較手段６１は基準クロックＲＣＫとデータパルス
列ＤＰＴを入力してデータパルス列ＤＰＴと直前の基準
クロックＲＣＫとの位相ずれ量としての比較出力信号Ｃ
ＭＰを出力する。データパルス列ＤＰＴの位相変動が１
８０°以上となると平均化が困難となるので、ここで
は，データパルス列ＤＰＴのジッタはピークツゥーピー
クで１８０°未満である場合に限定して考える。第３実
施例は、位相変動が上記の限定範囲内であれば、いかな
るジッタがあっても入力されたデータパルス列ＤＰＴの
正しい平均位相を算出できる。
【００９８】第１実施例の記述において述べたように、
先行技術では、データパルスのエッジがジッタの影響で
基準クロックのエッジの前後に分かれて存在することに
なった場合、ケタ当たりケタ下がりが起こり問題とな
る。データパルス列ＤＰＴの平均位相θ- を ０°≦θ- ＜３６０° の範囲とし，ジッタを含めた各パルスの位相分布を θ- −δθn ≦θi ≦θ- ＋δθp ただし，０°≦δθn 、δθp としたとき、問題となるケースは、上述の限定 δθm ＋δθp ＜１８０°のもとでは、 ケース（ｉ）：０°≦θ- ＜３６０°，かつ，θ- −δ
θm ＜０° ケース（ｉｉ）：１８０°＜θ- ＜３６０°，かつ，θ
- ＋δθp ≧３６０° の２通りである。第１実施例においては，ケース（ｉ）
では、例えば−５°とするべきデータが３５５°、ケー
ス（ｉｉ）では、例えば３７０°とするべきデータが１
０°として位相比較回路から出力されてしまうため、平
均をとったときの答えがずれる。第３実施例において
は，上記のケースには対象となる位相データに対し，３
６０°加算あるいは３６０°減算を行う補正演算を行っ
た後に、平均演算を行う判定方法（アルゴリズム）を適
用することにより、上述の問題を解決する。なお、後述
するように，補正演算と平均演算とを逆にして，平均演
算を行った後に、補正演算を行う判定方法をとることも
できる。
先行技術では、データパルスのエッジがジッタの影響で
基準クロックのエッジの前後に分かれて存在することに
なった場合、ケタ当たりケタ下がりが起こり問題とな
る。データパルス列ＤＰＴの平均位相θ- を ０°≦θ- ＜３６０° の範囲とし，ジッタを含めた各パルスの位相分布を θ- −δθn ≦θi ≦θ- ＋δθp ただし，０°≦δθn 、δθp としたとき、問題となるケースは、上述の限定 δθm ＋δθp ＜１８０°のもとでは、 ケース（ｉ）：０°≦θ- ＜３６０°，かつ，θ- −δ
θm ＜０° ケース（ｉｉ）：１８０°＜θ- ＜３６０°，かつ，θ
- ＋δθp ≧３６０° の２通りである。第１実施例においては，ケース（ｉ）
では、例えば−５°とするべきデータが３５５°、ケー
ス（ｉｉ）では、例えば３７０°とするべきデータが１
０°として位相比較回路から出力されてしまうため、平
均をとったときの答えがずれる。第３実施例において
は，上記のケースには対象となる位相データに対し，３
６０°加算あるいは３６０°減算を行う補正演算を行っ
た後に、平均演算を行う判定方法（アルゴリズム）を適
用することにより、上述の問題を解決する。なお、後述
するように，補正演算と平均演算とを逆にして，平均演
算を行った後に、補正演算を行う判定方法をとることも
できる。
【００９９】第３実施例について詳述する。各データパ
ルスの位相θi に対し、図２９に示した手段６１〜６５
を有するプロセッサに取り込まれる位相比較データをθ
1iとする。このとき、補正演算は、ケース（ｉ）では、 （ａ）０°≦θi ≦θ＋δθp ＜１８０°のとき θ1i＝θ- ０°≦θ1i＜１８０° （ｂ）−１８０°＜θ- −δθm ＜θi ＜０°のとき θ1i＝θ- ＋３６０° １８０°＜θ1i＜３６０°となるので、 処理方法１：１８０°＜θ1i＜３６０°の位相データθ
1iに対し，３６０°減算処理を行うか， 処理方法２：０°≦θ1i＜１８０°の位相データθ1iに
対し、３６０°加算処理を行う。 ただし，処理方法２の場合は、平均演算を行うと得られ
る結果は（θ- ＋３６０°）≧３６０°となるので平均
結果に対し、さらに位相データθ1iに対して３６０°減
算を行う必要がある。同様に，ケース（ｉｉ）では、 （ａ）１８０°＜θ- −δθm ≦θi ＜３６０°のとき θ1i＝θ- １８０°＜θ1i＜３６０° （ｂ）３６０°≦θ- ≦θ- ＋δθp ＜５４０°のとき θ1i＝θ- −３６０° ０°≦ θ1i＜１８０°となるので、 処理方法１’：１８０°＜θ1i＜３６０°の位相データ
θ1iに対し，３６０°減算処理を行うか， 処理方法２’：０°≦θ1i＜１８０°の位相データθ1i
に対し、３６０°加算処理を行う。 ただし，処理方法１’の場合は、平均演算を行うと結果
が（θ- −３６０°）＜０°となるので、平均結果に対
し、さらに位相データθ1iに対して３６０°加算を行う
必要がある。
ルスの位相θi に対し、図２９に示した手段６１〜６５
を有するプロセッサに取り込まれる位相比較データをθ
1iとする。このとき、補正演算は、ケース（ｉ）では、 （ａ）０°≦θi ≦θ＋δθp ＜１８０°のとき θ1i＝θ- ０°≦θ1i＜１８０° （ｂ）−１８０°＜θ- −δθm ＜θi ＜０°のとき θ1i＝θ- ＋３６０° １８０°＜θ1i＜３６０°となるので、 処理方法１：１８０°＜θ1i＜３６０°の位相データθ
1iに対し，３６０°減算処理を行うか， 処理方法２：０°≦θ1i＜１８０°の位相データθ1iに
対し、３６０°加算処理を行う。 ただし，処理方法２の場合は、平均演算を行うと得られ
る結果は（θ- ＋３６０°）≧３６０°となるので平均
結果に対し、さらに位相データθ1iに対して３６０°減
算を行う必要がある。同様に，ケース（ｉｉ）では、 （ａ）１８０°＜θ- −δθm ≦θi ＜３６０°のとき θ1i＝θ- １８０°＜θ1i＜３６０° （ｂ）３６０°≦θ- ≦θ- ＋δθp ＜５４０°のとき θ1i＝θ- −３６０° ０°≦ θ1i＜１８０°となるので、 処理方法１’：１８０°＜θ1i＜３６０°の位相データ
θ1iに対し，３６０°減算処理を行うか， 処理方法２’：０°≦θ1i＜１８０°の位相データθ1i
に対し、３６０°加算処理を行う。 ただし，処理方法１’の場合は、平均演算を行うと結果
が（θ- −３６０°）＜０°となるので、平均結果に対
し、さらに位相データθ1iに対して３６０°加算を行う
必要がある。
【０１００】得られた位相比較データθ1iから、上記の
位相補正演算が、必要なケース（前述のケース（ｉ）、
（ｉｉ））なのか、位相補正演算が必要ないケース（０
°≦θ- −δθm ≦θi ≦θ- ＋δθp ≦３６０°とな
るケース）なのかを判定するための方法（アルゴリズ
ム）について述べる。異なる２つの位相比較データの間
の差をとったとき、差の絶対値が１８０°を超えるもの
が１個でも存在した場合、補正演算が必要となるが、そ
の必然性について述べる。まず、位相補正演算は必要の
ないケースでは、任意の位相比較データ間の差の絶対値
が１８０°未満となることを示す。位相補正演算の必要
ないケース（０°≦θ- −δθm ≦θi ≦θ- ＋δθp
＜３６０°）では、全てのデータについてθ1i＝θi と
なるので、θ1i中の最小値θ1minおよび最大値θ1maxは
それぞれ， θ1min＝θ- −δθm θ1max＝θ＋δθp ・・・（59) となる。ここで、データパルス列のジッタがピークツゥ
ーピークで１８０°未満という条件から、 θ1max−θ1min＝δθm ＋δθp ＜１８０° ・・・（60） であり、任意の２データ間の差の絶対値は（θ1max−θ
1min）を超えないから、 Ｖj,k （ｊ≠ｋ） ｜θ1j−θ1k｜＜１８０° ・・・（61） が成り立つ。
位相補正演算が、必要なケース（前述のケース（ｉ）、
（ｉｉ））なのか、位相補正演算が必要ないケース（０
°≦θ- −δθm ≦θi ≦θ- ＋δθp ≦３６０°とな
るケース）なのかを判定するための方法（アルゴリズ
ム）について述べる。異なる２つの位相比較データの間
の差をとったとき、差の絶対値が１８０°を超えるもの
が１個でも存在した場合、補正演算が必要となるが、そ
の必然性について述べる。まず、位相補正演算は必要の
ないケースでは、任意の位相比較データ間の差の絶対値
が１８０°未満となることを示す。位相補正演算の必要
ないケース（０°≦θ- −δθm ≦θi ≦θ- ＋δθp
＜３６０°）では、全てのデータについてθ1i＝θi と
なるので、θ1i中の最小値θ1minおよび最大値θ1maxは
それぞれ， θ1min＝θ- −δθm θ1max＝θ＋δθp ・・・（59) となる。ここで、データパルス列のジッタがピークツゥ
ーピークで１８０°未満という条件から、 θ1max−θ1min＝δθm ＋δθp ＜１８０° ・・・（60） であり、任意の２データ間の差の絶対値は（θ1max−θ
1min）を超えないから、 Ｖj,k （ｊ≠ｋ） ｜θ1j−θ1k｜＜１８０° ・・・（61） が成り立つ。
【０１０１】次に、位相補正演算が必要となるケースに
ついて考察する。ケース（ｉ）では、位相比較データθ
1iのうち、０°≦θ1i＜１８０°となるグループをＬ １８０°≦θ1i＜３６０°となるグループをＵとする。
このとき、 θ1l∈Ｌについては、０°≦θ1l≦θ- ＋δθp ＜１８０° ・・（62） θ1u∈Ｕについては、１８０°＜θ- −δθm ＋３６０°≦θ1u ・・・（63） となるので、 Ｖl,u （ｌ∈Ｌ，ｕ∈Ｕ） θ1u−θ1l≧（θ- −δθm ＋３６０°）−（θ- ＋δθp ） ＝３６０°−（δθm ＋δθp ）＞１８０° （∵δθm ＋δθp ＜１８０°） ・・・（64） となる。よって、 ヨj,k （ｊ≠ｋ） ｜θ1j−θ1k｜＞１８０° ・・・（65） が成立する。
ついて考察する。ケース（ｉ）では、位相比較データθ
1iのうち、０°≦θ1i＜１８０°となるグループをＬ １８０°≦θ1i＜３６０°となるグループをＵとする。
このとき、 θ1l∈Ｌについては、０°≦θ1l≦θ- ＋δθp ＜１８０° ・・（62） θ1u∈Ｕについては、１８０°＜θ- −δθm ＋３６０°≦θ1u ・・・（63） となるので、 Ｖl,u （ｌ∈Ｌ，ｕ∈Ｕ） θ1u−θ1l≧（θ- −δθm ＋３６０°）−（θ- ＋δθp ） ＝３６０°−（δθm ＋δθp ）＞１８０° （∵δθm ＋δθp ＜１８０°） ・・・（64） となる。よって、 ヨj,k （ｊ≠ｋ） ｜θ1j−θ1k｜＞１８０° ・・・（65） が成立する。
【０１０２】同様に、ケース（ｉｉ）についても、０°
≦θ1i＜１８０°となるグループをＬ １８０°≦θ1i＜３６０°となるグループをＵとする
と、 θ1l∈Ｌについては、０°≦θ1l≦θ- ＋δθp ＜１８０° ・・（66） θ1u∈Ｕについては、１８０°＜θ- −δθm ＋３６０°≦θ1u ・・（67） であるから、 Ｖl,u （ｌ∈Ｌ，ｕ∈Ｕ） θ1u−θ1l≧（θ- −δθm −（θ- ＋δθp −３６０°） ＝３６０°−（δθm ＋δθp ）＞１８０° （∵δθm ＋δθp ＜１８０°） ・・・（68） ∴ ヨj,k （ｊ≠ｋ） ｜θ1j−θ1k｜＞１８０° ・・・（69） となる。以上から、異なる任意の２つの位相比較データ
の間の差の絶対値が１８０°を超えるものがあったと
き、そのときのみ位相補正演算が必要なことが判る。
≦θ1i＜１８０°となるグループをＬ １８０°≦θ1i＜３６０°となるグループをＵとする
と、 θ1l∈Ｌについては、０°≦θ1l≦θ- ＋δθp ＜１８０° ・・（66） θ1u∈Ｕについては、１８０°＜θ- −δθm ＋３６０°≦θ1u ・・（67） であるから、 Ｖl,u （ｌ∈Ｌ，ｕ∈Ｕ） θ1u−θ1l≧（θ- −δθm −（θ- ＋δθp −３６０°） ＝３６０°−（δθm ＋δθp ）＞１８０° （∵δθm ＋δθp ＜１８０°） ・・・（68） ∴ ヨj,k （ｊ≠ｋ） ｜θ1j−θ1k｜＞１８０° ・・・（69） となる。以上から、異なる任意の２つの位相比較データ
の間の差の絶対値が１８０°を超えるものがあったと
き、そのときのみ位相補正演算が必要なことが判る。
【０１０３】上記の判定方を用いて位相補正演算を行う
ための、判定方法（アルゴリズム）の例を挙げる。な
お、いずれも位相補正結果に対して平均をとったとき
に、その平均結果が３６０°以上となった場合はさらに
位相データを３６０°減算する処理を、平均結果が０°
未満（負）となった場合は位相データに３６０°加算す
る処理を行って、最終結果とする。また、データ数をｎ
とする。 例７：最初のデータを基準として逐次判定・補正を行
う。 手順１．データθ11を取り込む。 手順２．データθ1i（２≦ｉ）を取り込む。 手順３．データθ1iとθ11との差 Δθ1i＝θ1i−θ11
を計算する。 手順４．Δθ1i＞１８０°のときθ1iから３６０°減算
してθi とする。 （θi ←θ1i−３６０°） Δθ1i＜１８０°のときθ1iから３６０°加算してθi
とする。 （θi ←θ1i＋３６０°） あるいは、｜θ1i｜＞１８０°かつθ11＜１８０°のと
きθ1iから３６０°減算してθi とする。｜θ1i｜＞１
８０°かつθ11＞１８０°のときθ1iに３６０°加算し
てθi とする。 手順５．ｉ＜ｎのときｉ←ｉ＋１として手順２に戻る。 ｉ＝ｎのときθ- ←ｓｕｍ（θi ）／ｎを平均結果とす
る。なお、個々のデータに足して補正を行うのではな
く、｜Δθ1i｜＞１８０°となった数をカウントしてお
き、あとで一括して３６０°加減算処理を行うこともで
きる。例えば、Δθ1i＜−１８０°となるケースがｋ個
（ｋ＜ｎ）カウントされたとすると、ｓｕｍ（θi ）←
ｓｕｍ（θ1i）＋ｋ×３６０°とし、θ- ←ｓｕｍ（θ
i ）／ｎを平均結果とする。
ための、判定方法（アルゴリズム）の例を挙げる。な
お、いずれも位相補正結果に対して平均をとったとき
に、その平均結果が３６０°以上となった場合はさらに
位相データを３６０°減算する処理を、平均結果が０°
未満（負）となった場合は位相データに３６０°加算す
る処理を行って、最終結果とする。また、データ数をｎ
とする。 例７：最初のデータを基準として逐次判定・補正を行
う。 手順１．データθ11を取り込む。 手順２．データθ1i（２≦ｉ）を取り込む。 手順３．データθ1iとθ11との差 Δθ1i＝θ1i−θ11
を計算する。 手順４．Δθ1i＞１８０°のときθ1iから３６０°減算
してθi とする。 （θi ←θ1i−３６０°） Δθ1i＜１８０°のときθ1iから３６０°加算してθi
とする。 （θi ←θ1i＋３６０°） あるいは、｜θ1i｜＞１８０°かつθ11＜１８０°のと
きθ1iから３６０°減算してθi とする。｜θ1i｜＞１
８０°かつθ11＞１８０°のときθ1iに３６０°加算し
てθi とする。 手順５．ｉ＜ｎのときｉ←ｉ＋１として手順２に戻る。 ｉ＝ｎのときθ- ←ｓｕｍ（θi ）／ｎを平均結果とす
る。なお、個々のデータに足して補正を行うのではな
く、｜Δθ1i｜＞１８０°となった数をカウントしてお
き、あとで一括して３６０°加減算処理を行うこともで
きる。例えば、Δθ1i＜−１８０°となるケースがｋ個
（ｋ＜ｎ）カウントされたとすると、ｓｕｍ（θi ）←
ｓｕｍ（θ1i）＋ｋ×３６０°とし、θ- ←ｓｕｍ（θ
i ）／ｎを平均結果とする。
【０１０４】例８：逐次判定を行い、一括して補正処理
を行う。 手順１．補正を行うかどうかのフラグを０をする（ｆｌ
ａｇ←０）。 手順２．データθ11を取り込む。 手順３．データθ12（２≦ｉ）を取り込む。 手順４．データθ1iと最初のデータθ11との差Δθ1i＝
θ1i−θ11 あるいは直前のデータθ1i-1との差Δθ1i’＝θ1i−θ
1i-1を計算する。 手順５．｜Δθ1i｜＞１８０°あるいは｜Δθ1i’｜＞
１８０°となったらｆｌａｇ←１とする。（すでにｆｌ
ａｇ←１となっている場合は、手順４および手順５は行
なわくてよい。） 手順６．ｉ＜ｎのときｉ←ｉ＋１として手順３に戻る。 ｉ＝ｎのとき ｆｌａｇ＝０ならば θ←ｓｕｍ（θ1i）／ｎを平均結
果とする。 ｆｌａｇ＝１ならば θ1i＜１８０°となっているデー
タ個数ｋをカウントし、θ- ←〔ｓｕｍ（θ1i）＋ｋ×
３６０°〕／ｎ を平均結果とする。またはθ1i＞１８
０°となっているデータ個数ｋ’をカウントし、θ←
〔ｓｕｍ（θ1i）＋ｋ’×３６０°〕／ｎ を平均結果
とする。
を行う。 手順１．補正を行うかどうかのフラグを０をする（ｆｌ
ａｇ←０）。 手順２．データθ11を取り込む。 手順３．データθ12（２≦ｉ）を取り込む。 手順４．データθ1iと最初のデータθ11との差Δθ1i＝
θ1i−θ11 あるいは直前のデータθ1i-1との差Δθ1i’＝θ1i−θ
1i-1を計算する。 手順５．｜Δθ1i｜＞１８０°あるいは｜Δθ1i’｜＞
１８０°となったらｆｌａｇ←１とする。（すでにｆｌ
ａｇ←１となっている場合は、手順４および手順５は行
なわくてよい。） 手順６．ｉ＜ｎのときｉ←ｉ＋１として手順３に戻る。 ｉ＝ｎのとき ｆｌａｇ＝０ならば θ←ｓｕｍ（θ1i）／ｎを平均結
果とする。 ｆｌａｇ＝１ならば θ1i＜１８０°となっているデー
タ個数ｋをカウントし、θ- ←〔ｓｕｍ（θ1i）＋ｋ×
３６０°〕／ｎ を平均結果とする。またはθ1i＞１８
０°となっているデータ個数ｋ’をカウントし、θ←
〔ｓｕｍ（θ1i）＋ｋ’×３６０°〕／ｎ を平均結果
とする。
【０１０５】例９：全てのデータを取り込んだ後、一括
して判定・補正処理を行う。 手順１．データθ11〜θ1nを取り込む。 手順２．データθ1i中で最小のものθ1min、最大のもの
θ1maxを求める。 手順３．θ1max−θ1min＜１８０°のとき θ- ←ｓｕ
ｍ（θ1i）／ｎを平均位相結果とする。 θ1max−θ1min＞１８０°のとき θ1i＜１８０°となっているデータ個数ｋをカウント
し、θ- ←〔ｓｕｍ（θ1i）＋ｋ×３６０°〕／ｎ を
平均結果とする。またはθ1i＞１８０°となっているデ
ータ個数ｋ’をカウントし、θ- ←〔ｓｕｍ（θ1i）＋
ｋ’×３６０°〕／ｎ を平均結果とする。
して判定・補正処理を行う。 手順１．データθ11〜θ1nを取り込む。 手順２．データθ1i中で最小のものθ1min、最大のもの
θ1maxを求める。 手順３．θ1max−θ1min＜１８０°のとき θ- ←ｓｕ
ｍ（θ1i）／ｎを平均位相結果とする。 θ1max−θ1min＞１８０°のとき θ1i＜１８０°となっているデータ個数ｋをカウント
し、θ- ←〔ｓｕｍ（θ1i）＋ｋ×３６０°〕／ｎ を
平均結果とする。またはθ1i＞１８０°となっているデ
ータ個数ｋ’をカウントし、θ- ←〔ｓｕｍ（θ1i）＋
ｋ’×３６０°〕／ｎ を平均結果とする。
【０１０５】例１０：（例９の別法）
（ここではθ1minを用いたが、θ1maxを用いても同様）
手順１’：上記手順１と同じ。
手順２’．データθ1i中で最小のものθ1minを求める。
手順３’．θ1i−θ1min＞１８０°となるデータ個数ｋ
を求める。 手順４’．ｓｕｍ（θ1i）←ｓｕｍ（θ1i）＋ｋ×３６
０°とし、θ- ←ｓｕｍ（θ1i）／ｎを平均結果とす
る。
を求める。 手順４’．ｓｕｍ（θ1i）←ｓｕｍ（θ1i）＋ｋ×３６
０°とし、θ- ←ｓｕｍ（θ1i）／ｎを平均結果とす
る。
【０１０６】なお、例７，例８では、データの取り込み
と並行して判定処理を行うものとしたが、全てのデータ
を取り込んだ後に、同様なアルゴリズムを用いて順次判
定処理を行うこともできる。また、一括して位相補正処
理を行うとした場合は、位相補正演算を位相平均演算の
後に行うこともできる。その場合、θ1 - ＝ｓｕｍ（θ
1i）／ｎをまず求め、その後に、θ- ←θ1 - ＋ｋ×３
６０°／ｎ（あるいはθ- ←θ1 - −ｋ’×３６０°／
ｎ）として平均結果とすれば同じ結果が得られる。
と並行して判定処理を行うものとしたが、全てのデータ
を取り込んだ後に、同様なアルゴリズムを用いて順次判
定処理を行うこともできる。また、一括して位相補正処
理を行うとした場合は、位相補正演算を位相平均演算の
後に行うこともできる。その場合、θ1 - ＝ｓｕｍ（θ
1i）／ｎをまず求め、その後に、θ- ←θ1 - ＋ｋ×３
６０°／ｎ（あるいはθ- ←θ1 - −ｋ’×３６０°／
ｎ）として平均結果とすれば同じ結果が得られる。
【０１０７】図２９に示した回路の各部について説明す
る。位相比較手段６１、例えば，図７に示したようなＲ
Ｓフリップフロップを用いた構成、アナログ量への変換
手段６２としては，たとえば，図１１に示したような積
分器を用いた構成をとることができる。その場合のサン
プリングホールド手段６３におけるサンプリングホール
ドタイミング確保のための方法として、位相比較器およ
び積分器を複数設置した構成をとることができる。積分
方式では、サンプリングホールド後、毎回０リセットす
る方法のほか、リセットは行わず前データまでの累積値
に新データ分を加算していく形とし、サンプリングホー
ルドのみデータ毎に行い、プロセッサで前積分値との差
分をとることにより個々のデータを得ることができる。
Ａ／Ｄ変換手段６４については、１個のみ用意しておき
入力を切り換えて複数入力信号を入力する構成，また
は，入力信号ごとにアナログ／ディジタル変換手段６４
を複数設置する構成をとることができる。Ａ／Ｄ変換に
時間を要する場合には、処理時間を短縮するため，後者
の複数併設する構成とするか、Ｓ／Ｈ回路を多数用意し
ておいて積分値を保存しておき順次Ａ／Ｄ変換を行って
いくかする構成にする。
る。位相比較手段６１、例えば，図７に示したようなＲ
Ｓフリップフロップを用いた構成、アナログ量への変換
手段６２としては，たとえば，図１１に示したような積
分器を用いた構成をとることができる。その場合のサン
プリングホールド手段６３におけるサンプリングホール
ドタイミング確保のための方法として、位相比較器およ
び積分器を複数設置した構成をとることができる。積分
方式では、サンプリングホールド後、毎回０リセットす
る方法のほか、リセットは行わず前データまでの累積値
に新データ分を加算していく形とし、サンプリングホー
ルドのみデータ毎に行い、プロセッサで前積分値との差
分をとることにより個々のデータを得ることができる。
Ａ／Ｄ変換手段６４については、１個のみ用意しておき
入力を切り換えて複数入力信号を入力する構成，また
は，入力信号ごとにアナログ／ディジタル変換手段６４
を複数設置する構成をとることができる。Ａ／Ｄ変換に
時間を要する場合には、処理時間を短縮するため，後者
の複数併設する構成とするか、Ｓ／Ｈ回路を多数用意し
ておいて積分値を保存しておき順次Ａ／Ｄ変換を行って
いくかする構成にする。
【０１０８】図３０はフリップフロップおよび積分器を
３組（図示せず）用意し、毎回積分器の０リセットを行
うとした場合のタイミングチャートである。サンプリン
グホールドタイミング確保のための他の方法として、予
めデータを間引いてもよい。例えば、図３０において，
Ｐ１，Ｐ３，Ｐ５，・・・のデータパルス列ＤＰＴだ
け，図２９に示した位相算出回路に入力されるようにす
ることもできる。こうした場合、時間当たりの情報量は
減ることになるが、位相比較器、積分器等は１組のみで
よい。
３組（図示せず）用意し、毎回積分器の０リセットを行
うとした場合のタイミングチャートである。サンプリン
グホールドタイミング確保のための他の方法として、予
めデータを間引いてもよい。例えば、図３０において，
Ｐ１，Ｐ３，Ｐ５，・・・のデータパルス列ＤＰＴだ
け，図２９に示した位相算出回路に入力されるようにす
ることもできる。こうした場合、時間当たりの情報量は
減ることになるが、位相比較器、積分器等は１組のみで
よい。
【０１０９】第３実施例と先行技術との関係を述べる。
基本的には、第３実施例は先行技術の位相比較出段およ
びヘッド位置検出手段に相当する部分であり、対応関係
は，固定ヘッドからの再生クロック信号が基準クロック
ＲＣＫに対応し，再生ヘッドからのトラッキング信号が
データパルス列ＤＰＴに相当する。さらに、第１実施例
で述べたように、固定ヘッドを設けず、リファレンスゾ
ーン、サーボゾーンを並置し、両ゾーンからの信号を再
生ヘッドから順次再生し、各ゾーン内のパルスの平均位
相をそれぞれ算出し、その差をとる形で位相差信号を得
ることもできる。ただし、２系列とは、必ずしも同じ回
路を別個に２つ設けることに限らず、同一回路を時系列
的に分割して用いることも含んでいる。
基本的には、第３実施例は先行技術の位相比較出段およ
びヘッド位置検出手段に相当する部分であり、対応関係
は，固定ヘッドからの再生クロック信号が基準クロック
ＲＣＫに対応し，再生ヘッドからのトラッキング信号が
データパルス列ＤＰＴに相当する。さらに、第１実施例
で述べたように、固定ヘッドを設けず、リファレンスゾ
ーン、サーボゾーンを並置し、両ゾーンからの信号を再
生ヘッドから順次再生し、各ゾーン内のパルスの平均位
相をそれぞれ算出し、その差をとる形で位相差信号を得
ることもできる。ただし、２系列とは、必ずしも同じ回
路を別個に２つ設けることに限らず、同一回路を時系列
的に分割して用いることも含んでいる。
【０１１０】第３実施例によれば，データパルス列にジ
ッタがあっても０°〜３６０°の全範囲にわたり、簡単
な回路構成で正しい平均位相を得ることができる。パル
スの１波ごと個々にＡ／Ｄ変換してプロセッサに取り込
む構成としたことによりピークツゥーピークで１８０°
未満のジッタに対して、基準クロック１つのみで対応が
可能となった。
ッタがあっても０°〜３６０°の全範囲にわたり、簡単
な回路構成で正しい平均位相を得ることができる。パル
スの１波ごと個々にＡ／Ｄ変換してプロセッサに取り込
む構成としたことによりピークツゥーピークで１８０°
未満のジッタに対して、基準クロック１つのみで対応が
可能となった。
【０１１１】本発明の第４実施例について述べる。第４
実施例は磁気ディスク装置に用いるヘッドファイン（精
密）位置検出としての，新たな位相差検出方法とその装
置である。図３２は従来の一般的な振幅検出方法を図解
する図であり，磁気ディスクなどのメディアに千鳥配置
されたパターンの再生レベルを検出している。この振幅
検出方法は，検出感度，リニアリティがトラック幅，フ
リンジングなどに左右されたり，サーボライト時に精密
位置決めを各トラックごとに行う必要があるため高トラ
ック密度（ＴＰＩ）になるにつれてサーボライトに時間
がかかるという問題を内在している。第４実施例はこの
問題を解決する。
実施例は磁気ディスク装置に用いるヘッドファイン（精
密）位置検出としての，新たな位相差検出方法とその装
置である。図３２は従来の一般的な振幅検出方法を図解
する図であり，磁気ディスクなどのメディアに千鳥配置
されたパターンの再生レベルを検出している。この振幅
検出方法は，検出感度，リニアリティがトラック幅，フ
リンジングなどに左右されたり，サーボライト時に精密
位置決めを各トラックごとに行う必要があるため高トラ
ック密度（ＴＰＩ）になるにつれてサーボライトに時間
がかかるという問題を内在している。第４実施例はこの
問題を解決する。
【０１１２】図３３は本発明の第４実施例における磁気
ディスクなどのメディアに記録されるパターンとその位
相を検出する原理を示す図である。この記録パターンの
詳細を図３４に示す。サーボゾーンは磁化反転がアーム
回動方向に連なっているＲパターンと，ラジアル方向に
連なっているＳパターンとで形成される。それぞれの再
生パルス列を同一周波数の基準クロックと位相比較した
結果からＲパターンおよびＳパターンの位相差を算出し
て，位置信号に変換する。つまり，本発明の位相差検出
方式は，２つの再生パルス列の位相差を検出して，良好
なリニアリティを得るようにする。また磁気ディスクに
記憶するパターンを工夫してサーボライト時の精密位置
決めを必要とせず，正確なトラックピッチの生成を可能
にする。
ディスクなどのメディアに記録されるパターンとその位
相を検出する原理を示す図である。この記録パターンの
詳細を図３４に示す。サーボゾーンは磁化反転がアーム
回動方向に連なっているＲパターンと，ラジアル方向に
連なっているＳパターンとで形成される。それぞれの再
生パルス列を同一周波数の基準クロックと位相比較した
結果からＲパターンおよびＳパターンの位相差を算出し
て，位置信号に変換する。つまり，本発明の位相差検出
方式は，２つの再生パルス列の位相差を検出して，良好
なリニアリティを得るようにする。また磁気ディスクに
記憶するパターンを工夫してサーボライト時の精密位置
決めを必要とせず，正確なトラックピッチの生成を可能
にする。
【０１１３】本実施例においては，スピンドル軸・アー
ム回動距離ａとアームの有効長ｂは等しくなるように配
置され，アームの回動角度と検出位相差との関係を内周
と外周とで一定に維持させる。実際には，図３５に図解
したように，固定アーム，直動アーム，回動ストレート
アームの３つのアームを用いて，下記の手順でサーボラ
イトする。 手順１：固定アームで１周分のクロックパターンを書き
込む。 手順２：固定アームで再生されるクロックを用いて直動
アームによりラジアルパターンを全面にべた書きする。 手順３：回動ストレートアームにより部分的に消去，リ
ード／ライト制御をしつつ，べた書きを行い，図３４に
図解したパターンを記録する。
ム回動距離ａとアームの有効長ｂは等しくなるように配
置され，アームの回動角度と検出位相差との関係を内周
と外周とで一定に維持させる。実際には，図３５に図解
したように，固定アーム，直動アーム，回動ストレート
アームの３つのアームを用いて，下記の手順でサーボラ
イトする。 手順１：固定アームで１周分のクロックパターンを書き
込む。 手順２：固定アームで再生されるクロックを用いて直動
アームによりラジアルパターンを全面にべた書きする。 手順３：回動ストレートアームにより部分的に消去，リ
ード／ライト制御をしつつ，べた書きを行い，図３４に
図解したパターンを記録する。
【０１１４】位相差検出と振幅検出とでは，得られるノ
イズが線密度，トラック密度によって異なる。その理由
は，振幅検出の感度かトラック幅によって変化するのに
対して，位相差では変化しないからである。図３６に振
幅検出方法と位相差検出方法とのノイズレベルを，計算
した結果をグラフとして示す。図３６の横軸は記録波長
を示し，縦軸は振幅と位相差ノイズレベルの比の値Ｐを
示す。つまり，図３６は記録波長（λ）およびトラック
幅Ｔw に対してどうなるかを示している。図３６は，ト
ラック密度に対して線密度が高い位相差検出方法の特性
が良好であることを示している。
イズが線密度，トラック密度によって異なる。その理由
は，振幅検出の感度かトラック幅によって変化するのに
対して，位相差では変化しないからである。図３６に振
幅検出方法と位相差検出方法とのノイズレベルを，計算
した結果をグラフとして示す。図３６の横軸は記録波長
を示し，縦軸は振幅と位相差ノイズレベルの比の値Ｐを
示す。つまり，図３６は記録波長（λ）およびトラック
幅Ｔw に対してどうなるかを示している。図３６は，ト
ラック密度に対して線密度が高い位相差検出方法の特性
が良好であることを示している。
【０１１５】図３７は第４実施例としての磁気ディスク
装置の構成図である。この磁気ディスク装置は，図３６
に示したサーボライトシステム，リード／ライト増幅回
路，ピーク検出回路（手段），ヘッダ検出回路（手
段），タイミング生成回路（手段），このタイミング生
成回路からのタイミングを基準クロックに基づいて位相
差を検出する第１および第２の位相差検出回路（手
段），これら位相差検出回路に後段に配設され平均値を
算出する第１および第２の積分回路（手段），これら積
分結果についてその差を算出して位相差を算出する比較
演算回路（手段），ディジタル／アナログ変換回路，お
よび，ＶＣＭを有する。
装置の構成図である。この磁気ディスク装置は，図３６
に示したサーボライトシステム，リード／ライト増幅回
路，ピーク検出回路（手段），ヘッダ検出回路（手
段），タイミング生成回路（手段），このタイミング生
成回路からのタイミングを基準クロックに基づいて位相
差を検出する第１および第２の位相差検出回路（手
段），これら位相差検出回路に後段に配設され平均値を
算出する第１および第２の積分回路（手段），これら積
分結果についてその差を算出して位相差を算出する比較
演算回路（手段），ディジタル／アナログ変換回路，お
よび，ＶＣＭを有する。
【０１１６】このように，第４実施例として述べた位相
差検出方法およびその装置は，トラック密度に対して線
密度が高い磁気ディスクに適している。
差検出方法およびその装置は，トラック密度に対して線
密度が高い磁気ディスクに適している。
【０１１７】
【発明の効果】以上述べたように，本発明の磁気ディス
ク装置におけるヘッド位置検出装置およびその方法によ
れば，先行技術における問題，すなわち，データパルス
列ジッタがあると正しい平均位相出力が得られないとい
う問題を解決する。
ク装置におけるヘッド位置検出装置およびその方法によ
れば，先行技術における問題，すなわち，データパルス
列ジッタがあると正しい平均位相出力が得られないとい
う問題を解決する。
【図１】本発明の磁気ディスク装置における第１実施例
としての位相算出回路の構成図である。
としての位相算出回路の構成図である。
【図２】図１の回路における信号波形図である。
【図３】図１に示した基準クロック発生回路の第１の具
体回路構成図である。
体回路構成図である。
【図４】図３に示した基準クロック発生回路における信
号波形図である。
号波形図である。
【図５】図１に示した基準クロック発生回路の第２の具
体回路構成図である。
体回路構成図である。
【図６】図５に示した基準クロック発生回路における信
号波形図である。
号波形図である。
【図７】図１に示した位相比較回路の具体的回路構成図
である。
である。
【図８】図７に示した位相比較回路における信号波形図
である。
である。
【図９】図１に示したデータパルス有無検出回路の具体
的回路構成図である。
的回路構成図である。
【図１０】図９に示したデータパルス有無検出回路にお
ける信号波形図である。
ける信号波形図である。
【図１１】図１に示した平均化回路５の具体的回路構成
図である。
図である。
【図１２】図１１に示した積分回路における信号波形図
である。
である。
【図１３】第１実施例において適用される磁気ディスク
に記憶されるパターンを示す図である。
に記憶されるパターンを示す図である。
【図１４】本発明の第２実施例のヘッド位置検出回路
（位相算出回路）の構成図である。
（位相算出回路）の構成図である。
【図１５】図１４に示したヘッド位置検出回路における
信号波形図である。
信号波形図である。
【図１６】第２実施例における第１のパルス識別窓の関
係を示す図である。
係を示す図である。
【図１７】第２実施例における第２のパルス識別窓の関
係を示す図である。
係を示す図である。
【図１８】図１４に示した位相算出回路における第１の
特定的な信号波形図である。
特定的な信号波形図である。
【図１９】図１４に示した位相算出回路における第２の
特定的な信号波形図である。
特定的な信号波形図である。
【図２０】第２実施例における特定的な第１のパルス識
別窓の関係を示す図である。
別窓の関係を示す図である。
【図２１】第２実施例における特定的な第２のパルス識
別窓の関係を示す図である。
別窓の関係を示す図である。
【図２２】第２実施例における特定的な第３のパルス識
別窓の関係を示す図である。
別窓の関係を示す図である。
【図２３】図２４に示した基準クロック発生回路および
パルス識別窓発生回路の第１の具体的な回路構成図であ
る。
パルス識別窓発生回路の第１の具体的な回路構成図であ
る。
【図２４】図２３に示した基準クロック発生回路におけ
る信号波形図である。
る信号波形図である。
【図２５】図１４に示した基準クロック発生回路および
パルス識別窓発生回路の第２の具体的な回路構成図であ
る。
パルス識別窓発生回路の第２の具体的な回路構成図であ
る。
【図２６】図１５に示した基準クロック発生回路におけ
る信号波形図である。
る信号波形図である。
【図２７】図１４に示した位相比較回路の具体的な回路
構成図である。
構成図である。
【図２８】図２７に示した位相比較回路における信号波
形図である。
形図である。
【図２９】本発明の第３実施例としての磁気ディスク装
置における位相算出回路の構成図である。
置における位相算出回路の構成図である。
【図３０】図２９に示した位相算出回路における位相補
正演算が必要ない場合の信号波形図である。
正演算が必要ない場合の信号波形図である。
【図３１】図２９に示した位相算出回路における位相補
正演算が必要な場合の信号波形図である。
正演算が必要な場合の信号波形図である。
【図３２】本発明の第４実施例に関連する従来の振幅検
出方法を示す図である。
出方法を示す図である。
【図３３】本発明の第４実施例の位相検出差方法を示す
図である。
図である。
【図３４】本発明の第４実施例における磁気ディスクの
記録データを示す図である。
記録データを示す図である。
【図３５】本発明の第４実施例の磁気ディスク装置のヘ
ッド駆動部分を示す図である。
ッド駆動部分を示す図である。
【図３６】本発明の第４実施例および従来の振幅検出方
法との特性比較を示すグラフである。
法との特性比較を示すグラフである。
【図３７】本発明の第５実施例を説明する磁気ディスク
装置の信号処理構成図である。
装置の信号処理構成図である。
【図３８】本発明の先行技術としての磁気ディスク装置
の概略構成を示す図である。
の概略構成を示す図である。
【図３９】本発明の先行技術としてのトラッキング信号
記録方法のフローチャートである。
記録方法のフローチャートである。
【図４０】本発明の先行技術としてのトラッキング信号
記録方法によってトラッキング信号が記録されたディス
クの正面図である。
記録方法によってトラッキング信号が記録されたディス
クの正面図である。
【図４１】本発明の先行技術としての磁気ディスク装置
におけるディスクとロータリーアクチュエータとの関係
を示す図である。
におけるディスクとロータリーアクチュエータとの関係
を示す図である。
【図４２】本発明の先行技術としての磁気ディスク内周
部での１トラックピッチ分のギャップ移動量を模式的に
示す模式図である。
部での１トラックピッチ分のギャップ移動量を模式的に
示す模式図である。
【図４３】本発明の先行技術としての磁気ディスク外周
部での１トラックピッチ分のギャップ移動量を模式的に
示す模式図である。
部での１トラックピッチ分のギャップ移動量を模式的に
示す模式図である。
【図４４】図４２および図４３に図解したギャップ移動
量を拡大してより一般化した拡大図である。
量を拡大してより一般化した拡大図である。
【図４５】本発明の先行技術としての磁気ディスクをさ
らに模式化して１トラックピッチ内のギャップの移動状
況を記述した模式図である。
らに模式化して１トラックピッチ内のギャップの移動状
況を記述した模式図である。
【図４６】本発明の先行技術としての図４５に示した各
位置のギャップによる磁化反転パターンの再生パルス列
を示すタイミングチャートである。
位置のギャップによる磁化反転パターンの再生パルス列
を示すタイミングチャートである。
【図４７】本発明の先行技術としての磁気ディスク装置
における位相比較回路と位置検出回路の具体的な回路構
成を示す回路図である。
における位相比較回路と位置検出回路の具体的な回路構
成を示す回路図である。
【図４８】図４７に示した回路によって発生される信号
タイミングチャートである。
タイミングチャートである。
【図４９】本発明の先行技術としての磁気ディスクにお
けるサーボゾーンおよびデータゾーンを示す図である。
けるサーボゾーンおよびデータゾーンを示す図である。
【図５０】本発明の先行技術の磁気ディスク装置のヘッ
ド位置検出回路構成図である。
ド位置検出回路構成図である。
【図５１】図５９に示したヘッド位置検出回路における
信号波形図である。
信号波形図である。
１・・基準クロック発生回路
２・・パルス識別窓発生回路
３・・位相比較回路
４・・データパルス有無検出回路
５・・平均化回路
６・・出力選択判別処理回路
７・・スイッチ回路
３１・・基準クロック発生回路
３２・・パルス識別窓発生回路
３３・・位相比較回路
３４・・データパルス有無検出回路
３５・・平均化回路
３６・・出力選択アルゴリズム処理回路
３７・・スイッチ回路
６１・・位相比較手段
６２・・変換手段
６３・・サンプリングホールド手段
６４・・アナログ／ディジタル変換手段
６５・・補正演算および平均演算手段
２０２・・ディスク
２１０・・トラッキング信号記録用ヘッド
２１６・・直動ステージ付アクチュエータ
２１８・・トラッキング信号発生回路
２２０・・固定ヘッド
２３０・・記録再生ヘッド
２３６・・ロータリーアクチュエータ
２３７・・位相比較回路
２３８・・ヘッド位置検出回路
２３９・・駆動制御回路
ＭＣＫ・・マスタクロック
ＤＰＴ・・データパルス列
ＲＣＫ・・基準クロック
Ｗ・・・・パルス識別窓
ＣＭＰ・・比較出力信号
ＤＥＴ・・検出出力信号
ＴＣ・・・クロックトラック
Ｓc ・・・クロック信号，
Ｓr ・・・トラッキング信号
特許出願人 ソニー株式会社代理人 弁理士 佐藤隆
久
久
─────────────────────────────────────────────────────
フロントページの続き
(56)参考文献 特開 昭60−10472（ＪＰ，Ａ)
特開 昭54−80104（ＪＰ，Ａ)
特開 昭58−171770（ＪＰ，Ａ)
特開 昭62−200581（ＪＰ，Ａ)
特公 昭45−27662（ＪＰ，Ｂ２)
特許3021593（ＪＰ，Ｂ２)
(58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名)
G11B 21/10
G11B 21/08
Claims (18)
- 【請求項１】全てのトラックの少なくとも一部に記録さ
れかつ半径方向に放射線状に揃った磁気反転を有するト
ラッキング信号と，クロックトラックに記録されたクロ
ック信号とを有するディスクと， 上記クロックトラックから上記クロック信号を再生する
固定ヘッドと， 上記ディスクから上記トラッキング信号を再生する再生
ヘッドと， 上記再生ヘッドを上記半径方向とは一致しない軌跡に沿
って移動させるアクチュエータとを有する磁気ディスク
装置における、ヘッド位置検出装置であって、 上記固定ヘッドにより再生された上記クロック信号と上
記トラッキング信号との位相を比較する第１の位相比較
手段と， 該位相比較手段の出力により上記ディスクに対する上記
再生ヘッドの位置を検出するヘッド位置検出手段と， 該ヘッド位置検出手段の出力により上記アクチュエータ
を制御する制御手段と、 ３６０°／ｎずづ位相をずらしたｎ個（ｎ≧２）の基準
クロックを発生する手段と、 中心位相が各基準クロックとから±１８０°ずれ、窓の
大きさが３６０°／ｎのｎ個あるいはｎ−１個のパルス
識別窓を発生する手段と、 上記各基準クロックと、磁気ヘッドにより再生されたデ
ータパルス列との位相を比較する第２の位相比較手段
と、 上記第１および第２の位相比較手段のそれぞれの出力を
平均化する平均化手段と、 上記各パルス識別窓中にデータパルスが入ったことを検
出する手段とを備えたことを特徴とする磁気ディスク装
置のヘッド位置検出装置。 - 【請求項２】上記第１および第２の位相比較手段、平均
化手段および識別窓中のデータ検出手段を各々２系列備
え、２系列のデータパルス列に対し平均位相を算出し、
各々の算出結果の差分をとる請求項１記載の磁気ディス
ク装置のヘッド位置検出装置。 - 【請求項３】全てのトラックの少なくとも一部に記録さ
れかつ半径方向に放射線状に揃った磁気反転を有するト
ラッキング信号と，クロックトラックに記録されたクロ
ック信号とを有するディスクと， 上記クロックトラックから上記クロック信号を再生する
固定ヘッドと， 上記ディスクから上記トラッキング信号を再生する再生
ヘッドと， 上記再生ヘッドを上記半径方向とは一致しない軌跡に沿
って移動させるアクチュエータと を有する磁気ディスク
装置におけるヘッド位置検出装置であって、 上記固定ヘッドにより再生された上記クロック信号と上
記トラッキング信号との位相を比較する第１の位相比較
手段と， 該位相比較手段の出力により上記ディスクに対する上記
再生ヘッドの位置を検出するヘッド位置検出手段と， 該ヘッド位置検出手段の出力により上記アクチュエータ
を制御する制御手段と、 １８０°位相をずらした２つの基準クロックを発生する
手段と、 窓の大きさが３６０°／ｎのｎ個（ｎ≧３）のパルス識
別窓を発生する手段と、 上記２つの各基準クロックと磁気ヘッドにより再生され
たデータパルス列との位相を比較する２個の第２の位相
比較手段と、 上記第１および第２の各位相比較手段のそれぞれの出力
を平均化する２個の平均化手段と、 上記各パルス識別窓中にデータパルスが入ったこと検出
する手段とを備えたことを特徴とする磁気ディスク装置
のヘッド位置検出装置。 - 【請求項４】上記位相比較手段、平均化手段および識別
窓中のデータ検出手段を各々２系列備え、２系列のデー
タパルス列に対し平均位相を算出し、各々の算出結果の
差分をとる請求項３記載の磁気ディスク装置のヘッド位
置検出装置。 - 【請求項５】全てのトラックの少なくとも一部に記録さ
れかつ半径方向に放射線状に揃った磁気反転を有するト
ラッキング信号と，クロックトラックに記録されたクロ
ック信号とを有すディスクと， 上記クロックトラックから上記クロック信号を再生する
固定ヘッドと， 上記ディスクから上記トラッキング信号を再生する再生
ヘッドと， 上記再生ヘッドを上記半径方向とは一致しない軌跡に沿
って移動させるアクチュエータとを有する磁気ディスク
装置におけるヘッド位置検出装置であって、 上記固定ヘッドにより再生された上記クロック信号と上
記トラッキング信号との位相を比較する第１の位相比較
手段と， 該位相比較手段の出力により上記ディスクに対する上記
再生ヘッドの位置を検出するヘッド位置検出手段と， 該ヘッド位置検出手段の出力により上記アクチュエータ
を制御する制御手段と、 入力される基準クロックと、磁気ヘッドにより再生され
たデータパルス列との間の位相を比較する第２の位相比
較手段と、 上記第２の位相比較手段からの出力を、位相ずれ量に比
例したアナログ量に変換する変換手段と、 上記変換手段からの出力をプロセッサに取り込むためサ
ンプリングホールド手段と， 該サンプリングホールド手段からの信号をディジタル信
号に変換するアナログ／ディジタル変換手段と， 該アナログ／ディジタル変換手段からの出力に基づいて
演算処理を行うための演算処理手段とを備え， 該演算処理手段は，他の位相比較データとの差が１８０
°より大となるような位相比較データを得た場合は、ケ
タ上がりあるいはケタ下がりがあったものとして位相補
正演算を行うことを特徴とする磁気ディスク装置のヘッ
ド位置検出装置。 - 【請求項６】上記第１および第２の位相比較手段、変換
手段、サンプリングホールド手段およびアナログ／ディ
ジタル変換手段を各々２系列持ち、 ２系列のデータパルス列に対し、上記演算処理手段が各
々平均位相を算出し、各々の算出結果の差分をとること
を特徴とする、 請求項５記載の磁気ディスク装置のヘッド位置検出装
置。 - 【請求項７】サーボゾーンに，磁化反転が前記ヘッドの
移動軌跡に沿う曲線方向に連なる第１のパターンと前記
ディスクの中心から前記ディスクの外縁に向かって放射
状に延びる放射方向に連なる第２のパターンで構成され
たディスクと， これらのパターンの位相差を基準クロックにもとづいて
検出する手段とを有することを特徴とする磁気ディスク
装置のヘッド位置検出装置。 - 【請求項８】ディスク上に設けられたクロックトラック
に基準信号を再生するステップと，再生された上記基準
信号に位相ロックし所定の周波数を有するトラッキング
信号を発生するステップと，上記トラッキング信号を上
記ディスクの半径方向に一致するヘッドギャップを有す
る磁気ヘッドにより上記ディスク上に記録するステップ
と，上記磁気ヘッドを上記半径方向に直線移動させるス
テップとを有し，上記トラッキング信号を上記ディスク
上で上記半径方向に放射状に揃った磁化反転を有するよ
うに記録する磁気ディスクのトラッキング信号記録方法
であって， ３６０°／ｎずづ位相をずらしたｎ個（ｎ≧２）の基準
クロックを発生するステップと， 中心位相が各基準クロックとから±１８０°ずれ、窓の
大きさが３６０°／ｎのｎ個あるいはｎ−１個のパルス
識別窓を発生するステップと， 上記各基準クロックと、磁気ヘッドにより再生されたデ
ータパルス列との位相をそれぞれ比較するステップと，上記各位相比較ステップにおける比較結果についてのそ
れぞれの 出力を平均化するステップと， 上記各パルス識別窓中にデータパルスが入ったことを検
出するステップとを備えたことを特徴とする磁気ディス
クのトラッキング信号記録方法。 - 【請求項９】ディスク上に設けられたクロックトラック
に基準信号を再生するステップと，再生された上記基準
信号に位相ロックし所定の周波数を有するトラッキング
信号を発生するステップと，上記トラッキング信号を上
記ディスクの半径方向に一致するヘッドギャップを有す
る磁気ヘッドにより上記ディスク上に記録するステップ
と，上記磁気ヘッドを上記半径方向に直線移動させるス
テップとを有し，上記トラッキング信号を上記ディスク
上で上記半径方向に放射状に揃った磁化反転を有するよ
うに記録する磁気ディスクのトラッキング信号記録方法
であって， １８０°位相をずらした２つの基準クロックを発生する
ステップと， 窓の大きさが３６０°／ｎのｎ個（ｎ≧３）のパルス識
別窓を発生するステップと， 上記２つの各基準クロックと磁気ヘッドにより再生され
たデータパルス列との位相をそれぞれ比較するステップ
と， 上記各位相比較結果についてそれぞれの出力を平均化す
るステップと， 上記各パルス識別窓中にデータパルスが入ったこと検出
するステップとを備えたことを特徴とする磁気ディスク
のトラッキング信号記録方法。 - 【請求項１０】ディスク上に設けられたクロックトラッ
クに基準信号を再生するステップと，再生された上記基
準信号に位相ロックし所定の周波数を有するトラッキン
グ信号を発生するステップと，上記トラッキング信号を
上記ディスクの半径方向に一致するヘッドギャップを有
する磁気ヘッドにより上記ディスク上に記録するステッ
プと，上記磁気ヘッドを上記半径方向に直線移動させる
ステップとを有し，上記トラッキング信号を上記ディス
ク上で上記半径方向に放射状に揃った磁化反転を有する
ように記録する磁気ディスクのトラッキング信号記録方
法であって， 入力される基準クロックと、磁気ヘッドにより再生され
たデータパルス列との間の位相を比較するステップと， 上記位相結果出力を、位相ずれ量に比例したアナログ量
に変換するステップと， 上記変換ステップによる変換出力をプロセッサに取り込
むためサンプリングホールドするステップと， 該サンプリングホールドステップによる信号をディジタ
ル信号に変換するアナログ／ディジタル変換するステッ
プと， 該アナログ／ディジタル変換ステップからの出力に基づ
いて演算処理を行うステップとを備え， 該演算処理ステップは，他の位相比較データとの差が１
８０°より大となるような位相比較データを得た場合
は、ケタ上がりあるいはケタ下がりがあったものとして
位相補正演算を行うことを特徴とする磁気ディスクのト
ラッキング信号記録方法。 - 【請求項１１】サーボゾーンに，磁化反転が前記ヘッド
の移動軌跡に沿う曲線方向に連なる第１のパターンと前
記ディスクの中心から前記ディスクの外縁に向かって放
射状に延びる放射方向に連なる第２のパターンで構成さ
れたディスクから上記パターン信号を入力するステップ
と， これらのパターンの位相差を基準クロックにもとづいて
検出するステップとを有することを特徴とする磁気ディ
スクのトラッキング信号記録方法。 - 【請求項１２】磁気ディスク上の所定の半径位置に固定
ヘッドによりクロックパターンを書き込むステップと、 前記クロックパターンを固定ヘッドにより再生するステ
ップと、 該再生された前記クロックパターンに基づいて、直動ヘ
ッドによりラジアルパターンを前記磁気ディスクの全面
にべた書きするステップと、 回動ヘッドにより前記べた書きしてパターンを部分的に
消去しつつ、回動パターンをべた書きするステップとを
有する磁気ディスクのトラッキング信号記録方法。 - 【請求項１３】ヘッドにより再生されたクロック信号と
トラッキング信号との位相を比較する第１の位相比較手
段と， 該位相比較手段の出力により上記ディスクに対する上記
ヘッドの位置を検出するヘッド位置検出手段と， 該ヘッド位置検出手段の出力により上記アクチュエータ
を制御する制御手段と、 ３６０°／ｎずづ位相をずらしたｎ個（ｎ≧２）の基準
クロックを発生する手段と、 中心位相が基準クロックとから±１８０°ずれ、窓の大
きさが３６０°／ｎのｎ個あるいはｎ−１個のパルス識
別窓を発生する手段と、 上記基準クロックと、磁気ヘッドにより再生されたデー
タパルス列との位相を比較する第２の位相比較手段と、 上記第１および第２の位相比較手段のそれぞれの出力を
平均化する平均化手段と、 上記各パルス識別窓中にデータパルスが入ったことを検
出する手段とを備えたことを特徴とする、 請求項７記載の磁気ディスク装置のヘッド位置検出装
置。 - 【請求項１４】上記第１および第２の位相比較手段、平
均化手段および識別窓中のデータ検出手段を各々２系列
備え、２系列のデータパルス列に対し平均位相を算出
し、各々の算出結果の差分をとる請求項１３記載の磁気
ディスク装置のヘッド位置検出装置。 - 【請求項１５】ヘッドにより再生されたクロック信号と
トラッキング信号との位相を比較する第１の位相比較手
段と， 該位相比較手段の出力により上記ディスクに対する上記
ヘッドの位置を検出するヘッド位置検出手段と， 該ヘッド位置検出手段の出力によりアクチュエータを制
御する制御手段と、 １８０°位相をずらした２つの基準クロックを発生する
手段と、 窓の大きさが３６０°／ｎのｎ個（ｎ≧３）のパルス識
別窓を発生する手段と、 上記２つの各基準クロックと磁気ヘッドにより再生され
たデータパルス列との位相を比較する２個の第２の位相
比較手段と、 上記第１および第２の各位相比較手段のそれぞれの出力
を平均化する２個の平均化手段と、 上記各パルス識別窓中にデータパルスが入ったこと検出
する手段とを備えた、 請求項７記載の磁気ディスク装置のヘッド位置検出装
置。 - 【請求項１６】上記位相比較手段、平均化手段および識
別窓中のデータ検出手段を各々２系列備え、２系列のデ
ータパルス列に対し、各々第１項のアルゴリズムを適用
して平均位相を算出し、各々の算出結果の差分をとる請
求項１５記載の磁気ディスク装置のヘッド位置検出装
置。 - 【請求項１７】ヘッドにより再生されたクロック信号と
トラッキング信号との位相を比較する第１の位相比較手
段と， 該位相比較手段の出力により上記ディスクに対する上記
ヘッドの位置を検出するヘッド位置検出手段と， 該ヘッド位置検出手段の出力によりアクチュエータを制
御する制御手段と、 入力される基準クロックと、磁気ヘッドにより再生され
たデータパルス列との間の位相を比較する第２の位相比
較手段と、 上記第２の位相比較手段からの出力を、位相ずれ量に比
例したアナログ量に変換する変換手段と、 上記変換手段からの出力をプロセッサに取り込むためサ
ンプリングホールド手段と， 該サンプリングホールド手段からの信号をディジタル信
号に変換するアナログ／ディジタル変換手段と， 該アナログ／ディジタル変換手段からの出力に基づいて
演算処理を行うための演算処理手段とを備え， 該演算処理手段は，他の位相比較データとの差が１８０
°より大となるような位相比較データを得た場合は、ケ
タ上がりあるいはケタ下がりがあったものとして位相補
正演算を行うことを特徴とする、 請求項７記載の磁気ディスク装置ヘッド位置検出装置。 - 【請求項１８】上記第１および第２の位相比較手段、変
換手段、サンプリングホールド手段およびアナログ／デ
ィジタル変換手段を各々２系列持ち、 ２系列のデータパルス列に対し、上記演算処理手段が各
々平均位相を算出し、各々の算出結果の差分をとること
を特徴とする、 請求項１７記載の磁気ディスク装置のヘッド位置検出装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13429392A JP3465267B2 (ja) | 1992-04-27 | 1992-04-27 | 磁気ディスク装置ヘッド位置検出装置および磁気ディスクのトラッキング信号記録方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13429392A JP3465267B2 (ja) | 1992-04-27 | 1992-04-27 | 磁気ディスク装置ヘッド位置検出装置および磁気ディスクのトラッキング信号記録方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05307840A JPH05307840A (ja) | 1993-11-19 |
| JP3465267B2 true JP3465267B2 (ja) | 2003-11-10 |
Family
ID=15124903
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP13429392A Expired - Fee Related JP3465267B2 (ja) | 1992-04-27 | 1992-04-27 | 磁気ディスク装置ヘッド位置検出装置および磁気ディスクのトラッキング信号記録方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3465267B2 (ja) |
-
1992
- 1992-04-27 JP JP13429392A patent/JP3465267B2/ja not_active Expired - Fee Related
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| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH05307840A (ja) | 1993-11-19 |
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