JPH01320276A - セラミックスと金属との電気接合方法及び接合用インサート材 - Google Patents
セラミックスと金属との電気接合方法及び接合用インサート材Info
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- JPH01320276A JPH01320276A JP15556888A JP15556888A JPH01320276A JP H01320276 A JPH01320276 A JP H01320276A JP 15556888 A JP15556888 A JP 15556888A JP 15556888 A JP15556888 A JP 15556888A JP H01320276 A JPH01320276 A JP H01320276A
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- 239000000919 ceramic Substances 0.000 title claims abstract description 193
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 title claims abstract description 52
- 239000002184 metal Substances 0.000 title claims abstract description 52
- 238000005304 joining Methods 0.000 title claims abstract description 21
- 239000000463 material Substances 0.000 title claims description 15
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 12
- 239000002131 composite material Substances 0.000 claims abstract description 42
- 239000007767 bonding agent Substances 0.000 claims description 40
- 230000005611 electricity Effects 0.000 claims description 4
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 abstract description 7
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 abstract description 4
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 abstract description 3
- 229910052750 molybdenum Inorganic materials 0.000 abstract description 2
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 abstract description 2
- 230000005764 inhibitory process Effects 0.000 abstract 1
- 229910052581 Si3N4 Inorganic materials 0.000 description 6
- ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N Tin Chemical compound [Sn] ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 6
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 5
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 5
- 239000000843 powder Substances 0.000 description 5
- 229910000881 Cu alloy Inorganic materials 0.000 description 4
- PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N aluminium oxide Inorganic materials [O-2].[O-2].[O-2].[Al+3].[Al+3] PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 4
- 229910052593 corundum Inorganic materials 0.000 description 4
- 238000007751 thermal spraying Methods 0.000 description 4
- 229910001845 yogo sapphire Inorganic materials 0.000 description 4
- 229910001316 Ag alloy Inorganic materials 0.000 description 3
- -1 SiC and WC Chemical class 0.000 description 3
- 238000005219 brazing Methods 0.000 description 3
- WUKWITHWXAAZEY-UHFFFAOYSA-L calcium difluoride Chemical compound [F-].[F-].[Ca+2] WUKWITHWXAAZEY-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 3
- 229910001634 calcium fluoride Inorganic materials 0.000 description 3
- 238000009413 insulation Methods 0.000 description 3
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 3
- 238000007738 vacuum evaporation Methods 0.000 description 3
- MCMNRKCIXSYSNV-UHFFFAOYSA-N Zirconium dioxide Chemical compound O=[Zr]=O MCMNRKCIXSYSNV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000011230 binding agent Substances 0.000 description 2
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 2
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 2
- 239000011888 foil Substances 0.000 description 2
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000009499 grossing Methods 0.000 description 2
- 239000011810 insulating material Substances 0.000 description 2
- 150000004767 nitrides Chemical class 0.000 description 2
- 238000003825 pressing Methods 0.000 description 2
- 238000007650 screen-printing Methods 0.000 description 2
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 2
- QYEXBYZXHDUPRC-UHFFFAOYSA-N B#[Ti]#B Chemical compound B#[Ti]#B QYEXBYZXHDUPRC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910016006 MoSi Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910020968 MoSi2 Inorganic materials 0.000 description 1
- ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N Molybdenum Chemical compound [Mo] ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910005091 Si3N Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910000831 Steel Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910001069 Ti alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910033181 TiB2 Inorganic materials 0.000 description 1
- QCWXUUIWCKQGHC-UHFFFAOYSA-N Zirconium Chemical compound [Zr] QCWXUUIWCKQGHC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000006258 conductive agent Substances 0.000 description 1
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 1
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000005336 cracking Methods 0.000 description 1
- 238000000354 decomposition reaction Methods 0.000 description 1
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 1
- 229910052735 hafnium Inorganic materials 0.000 description 1
- VBJZVLUMGGDVMO-UHFFFAOYSA-N hafnium atom Chemical compound [Hf] VBJZVLUMGGDVMO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000002844 melting Methods 0.000 description 1
- 230000008018 melting Effects 0.000 description 1
- 150000001247 metal acetylides Chemical class 0.000 description 1
- 239000011733 molybdenum Substances 0.000 description 1
- 229910052697 platinum Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000035939 shock Effects 0.000 description 1
- 229910021332 silicide Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000005245 sintering Methods 0.000 description 1
- 229910000679 solder Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010959 steel Substances 0.000 description 1
- 230000008646 thermal stress Effects 0.000 description 1
- WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N tungsten Chemical compound [W] WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000010937 tungsten Substances 0.000 description 1
- 229910052726 zirconium Inorganic materials 0.000 description 1
Landscapes
- Pressure Welding/Diffusion-Bonding (AREA)
- Ceramic Products (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、セラミックスと金属との電気接合方法及びそ
の接合用インサート材に関するものである。
の接合用インサート材に関するものである。
〔従来技術と発明が解決しようとする問題点〕導電性の
被接合セラミックスと金属とを接合する場合、従来は第
5図に示すように、導電性の被接合セラミックス1と金
属6とをろう材11を介して突合せ、これらを2つの電
極7a、7bが挾むように接合面に対して対向配置され
る。接合時は接合面に垂直方向の電流を流して、接合部
での接触抵抗で発生するジュール熱によって、ろう材1
1を溶融させてセラミックスと金属とを接合している(
特開昭62−202875号)。
被接合セラミックスと金属とを接合する場合、従来は第
5図に示すように、導電性の被接合セラミックス1と金
属6とをろう材11を介して突合せ、これらを2つの電
極7a、7bが挾むように接合面に対して対向配置され
る。接合時は接合面に垂直方向の電流を流して、接合部
での接触抵抗で発生するジュール熱によって、ろう材1
1を溶融させてセラミックスと金属とを接合している(
特開昭62−202875号)。
しかし、セラミックス全体が加熱されるために、高温接
合や大気中の接合では、セラミックスの劣化が全体に及
ぶ虞れがある。また接合面では、主に接触抵抗によるジ
ュール熱であるために、接触抵抗のバラツキによる電流
集中により、接合部が均一に加熱されないので、均一な
接合が得られない虞れがある。また、このような状態が
持続すると、接合部に隙間が生じ、この隙間で放電が生
じ、溶融しないセラミックス例えばSiCや熱衝撃に弱
いセラミックス例えばAl2O3では、接合部に分解や
ワレなどの致命的な損傷が発生する虞れがある。
合や大気中の接合では、セラミックスの劣化が全体に及
ぶ虞れがある。また接合面では、主に接触抵抗によるジ
ュール熱であるために、接触抵抗のバラツキによる電流
集中により、接合部が均一に加熱されないので、均一な
接合が得られない虞れがある。また、このような状態が
持続すると、接合部に隙間が生じ、この隙間で放電が生
じ、溶融しないセラミックス例えばSiCや熱衝撃に弱
いセラミックス例えばAl2O3では、接合部に分解や
ワレなどの致命的な損傷が発生する虞れがある。
したがって、第6図に示すように、電極7a、7bを、
被接合セラミックス1の接合部の両側を挾むように対向
させて、接合面と平行の電流を流すことが考えられるが
、この場合、通電によるジュール熱を大にするために、
抵抗値が一般的に金属6よりも大なるセラミックス1側
に電極を配設し、接合部近傍に電流を流している。
被接合セラミックス1の接合部の両側を挾むように対向
させて、接合面と平行の電流を流すことが考えられるが
、この場合、通電によるジュール熱を大にするために、
抵抗値が一般的に金属6よりも大なるセラミックス1側
に電極を配設し、接合部近傍に電流を流している。
一方、被接合セラミックス1が絶縁性であれば、第6図
に示す点線部分に薄板の導電性セラミックスを介装して
、その両端部に電極を配設し、その部分jこ電流を流す
ことも考えられる。
に示す点線部分に薄板の導電性セラミックスを介装して
、その両端部に電極を配設し、その部分jこ電流を流す
ことも考えられる。
ところが、接合長が大になると、セラミックス中を流れ
る電流は、接合中央部に行くにしたがって、金属6中へ
広がって分流するために、電極が接触する接合部の両端
は加熱されて、ろう材11が溶融するが、接合中央部で
は十分に加熱されないために、接合できないという重大
な問題が生じる。
る電流は、接合中央部に行くにしたがって、金属6中へ
広がって分流するために、電極が接触する接合部の両端
は加熱されて、ろう材11が溶融するが、接合中央部で
は十分に加熱されないために、接合できないという重大
な問題が生じる。
本発明は、上記の問題点を解決するために、請求項1に
おいては、被接合セラミックスと金属との間に、導電性
セラミックスの片面に絶縁性セラミックスを設けた層状
複合セラミックスを介在させ、第1の接合剤を被接合セ
ラミックスと複合セラミックス内の導電性セラミックス
とに挾着させるとともに、第2の接合剤を複合セラミッ
クス内の絶縁性セラミックスと金属とに挾着させて、複
合セラミックス内の導電性セラミックスの両端部に少な
くとも一対の電極を当接させて通電し、導電性セラミッ
クス中に生じるジュール熱によって、第1の接合剤、被
接合セラミックスを順次に、また絶縁性セラミックス、
第2の接合剤、金属を順次に加熱して接合することを特
徴としている。
おいては、被接合セラミックスと金属との間に、導電性
セラミックスの片面に絶縁性セラミックスを設けた層状
複合セラミックスを介在させ、第1の接合剤を被接合セ
ラミックスと複合セラミックス内の導電性セラミックス
とに挾着させるとともに、第2の接合剤を複合セラミッ
クス内の絶縁性セラミックスと金属とに挾着させて、複
合セラミックス内の導電性セラミックスの両端部に少な
くとも一対の電極を当接させて通電し、導電性セラミッ
クス中に生じるジュール熱によって、第1の接合剤、被
接合セラミックスを順次に、また絶縁性セラミックス、
第2の接合剤、金属を順次に加熱して接合することを特
徴としている。
また請求項2においては、被接合セラミックスと金属と
の間に、導電性セラミックスの両面に絶縁性セラミック
スを設けた層状複合セラミックスを介在させ、第1の接
合剤を被接合セラミックスと複合セラミックス内の第1
の絶縁性セラミックスとに挾着させるとともに、第2の
接合剤を複合セラミックス内の第2の絶縁性セラミック
スと金属とに挾着させて、複合セラミックス内の導電性
セラミックスの両端部に少なくとも一対の電極を当接さ
せて通電し、導電性セラミックス中に生じるジュール熱
lこよって、第1の絶縁性セラミックス、第1の接合剤
、被接合セラミックスを順次に、また第2の絶縁性セラ
ミックス、第2の接合剤、金属を順次に加熱して接合す
ることを特徴としている。
の間に、導電性セラミックスの両面に絶縁性セラミック
スを設けた層状複合セラミックスを介在させ、第1の接
合剤を被接合セラミックスと複合セラミックス内の第1
の絶縁性セラミックスとに挾着させるとともに、第2の
接合剤を複合セラミックス内の第2の絶縁性セラミック
スと金属とに挾着させて、複合セラミックス内の導電性
セラミックスの両端部に少なくとも一対の電極を当接さ
せて通電し、導電性セラミックス中に生じるジュール熱
lこよって、第1の絶縁性セラミックス、第1の接合剤
、被接合セラミックスを順次に、また第2の絶縁性セラ
ミックス、第2の接合剤、金属を順次に加熱して接合す
ることを特徴としている。
さらに請求項3に詔いては、被接合セラミックスと金属
との接合用インサート材を、導電性セラミックスの片面
または両面に絶縁性セラミックスを設けた層状複合セラ
ミックスであって、前記複合セラミックスの両接合面に
接合剤を取着させた構成にしたことを特徴としている。
との接合用インサート材を、導電性セラミックスの片面
または両面に絶縁性セラミックスを設けた層状複合セラ
ミックスであって、前記複合セラミックスの両接合面に
接合剤を取着させた構成にしたことを特徴としている。
以上のような方法及びインサート材とすることにより、
接合長の大小に拘らず、請求項1及び3の作用としては
、絶縁性の被接合セラミックスと金属とを接合する場合
、層状複合セラミックス内の導電性セラミックス中に流
れる加熱用電流が被接合金属へ分流することが防止され
る。
接合長の大小に拘らず、請求項1及び3の作用としては
、絶縁性の被接合セラミックスと金属とを接合する場合
、層状複合セラミックス内の導電性セラミックス中に流
れる加熱用電流が被接合金属へ分流することが防止され
る。
また、請求項2及び3の作用としては、被接合セラミッ
クス、第1の接合剤、11状複合セラミックスの導電性
セラミックス、第2の接合剤及び金属の抵抗値を各々A
、B、C,D 及びEとし、A≦B<<C及びC>>I
I):Eなる関係にある導電性の被接合セラミックスと
金属とを接合する場合、層状複合セラミックスの導電性
セラミックス中に流れる加熱用電流が、被接合金属と被
接合セラミックスとの両方に分流することが防止される
ので、特に接合長が大きい場合、接合中央部も十分に加
熱させることができる。
クス、第1の接合剤、11状複合セラミックスの導電性
セラミックス、第2の接合剤及び金属の抵抗値を各々A
、B、C,D 及びEとし、A≦B<<C及びC>>I
I):Eなる関係にある導電性の被接合セラミックスと
金属とを接合する場合、層状複合セラミックスの導電性
セラミックス中に流れる加熱用電流が、被接合金属と被
接合セラミックスとの両方に分流することが防止される
ので、特に接合長が大きい場合、接合中央部も十分に加
熱させることができる。
以−ド1本発明について説明する。
第1の実施例は、本発明の請求項1に対応する。
第1図は本発明の方法を適用した第1の実施例を示す要
部断面図であって、例えば角柱状の絶縁性の被接合セラ
ミックスと金属とを上下に配置して接合する場合を示し
ている。まず、被接合セラミックス1の接合面側に、第
1の接合剤2を介して導電性セラミックス3と絶縁性セ
ラミックス4bとからなる薄板の層状複合セラミックス
の導電性セラミックス3の方を取着させ、さらにこの絶
縁性セラミックス4bの方に第2の接合剤5を介して金
属6を取着させた後、被接合セラミックス1を接合方向
に圧力を加えて固定する。つぎに、図示しない電源装置
に接続された一対の電極7a、7bを、導電性セラミッ
クス3の両端部に配設し、かつこの電極の先端は両端部
に緊密に当接した状態になっている。電極としては、耐
熱性が要求されるので、タングステン、カーボン、モリ
ブデン。
部断面図であって、例えば角柱状の絶縁性の被接合セラ
ミックスと金属とを上下に配置して接合する場合を示し
ている。まず、被接合セラミックス1の接合面側に、第
1の接合剤2を介して導電性セラミックス3と絶縁性セ
ラミックス4bとからなる薄板の層状複合セラミックス
の導電性セラミックス3の方を取着させ、さらにこの絶
縁性セラミックス4bの方に第2の接合剤5を介して金
属6を取着させた後、被接合セラミックス1を接合方向
に圧力を加えて固定する。つぎに、図示しない電源装置
に接続された一対の電極7a、7bを、導電性セラミッ
クス3の両端部に配設し、かつこの電極の先端は両端部
に緊密に当接した状態になっている。電極としては、耐
熱性が要求されるので、タングステン、カーボン、モリ
ブデン。
ハフニウム、ジルコニム等が適用できる。つづいて、接
合部の加熱効率をよくするために、被接合セラミックス
1と金属6との接合部近傍の外周を反射板8及び断熱材
9で覆う。
合部の加熱効率をよくするために、被接合セラミックス
1と金属6との接合部近傍の外周を反射板8及び断熱材
9で覆う。
このような構成において、各部材の厚み及び接合温度な
どを考慮した組合せの典型例の一つを例示すると、被接
合セラミックス1をSi3N4とし、第1の接合剤2を
CaF2/Al2O3/5i02/Si3N4の混合物
とし、導電性セラミックス3と絶縁性セラミックス4b
とからなる複合セラミックスは、絶縁性5t3N4の一
部に導電性を付与するTiNを添加して一体焼結させ、
接合面を平滑に研削したもので、厚さを各25ff、2
ffとする。また、第2の接合剤5を活性金属ろうのT
i/Cu/Ag合金の150μm箔とし、金属6を鋼と
し、前述した第1の接合剤2をペースト状にして、被接
合セラミックス1または複合セラミックスの導電性セラ
ミックス3に約100μm塗布する。
どを考慮した組合せの典型例の一つを例示すると、被接
合セラミックス1をSi3N4とし、第1の接合剤2を
CaF2/Al2O3/5i02/Si3N4の混合物
とし、導電性セラミックス3と絶縁性セラミックス4b
とからなる複合セラミックスは、絶縁性5t3N4の一
部に導電性を付与するTiNを添加して一体焼結させ、
接合面を平滑に研削したもので、厚さを各25ff、2
ffとする。また、第2の接合剤5を活性金属ろうのT
i/Cu/Ag合金の150μm箔とし、金属6を鋼と
し、前述した第1の接合剤2をペースト状にして、被接
合セラミックス1または複合セラミックスの導電性セラ
ミックス3に約100μm塗布する。
今、被接合セラミックス1を接合方向に約0.1Ml’
aの圧力を加えて、電極7a、7b間に電圧を印加する
と、暫くして高温時に第1の接合剤2に若干の分流する
電流があるものの、抵抗率が1013Ω・1以上である
絶縁性セラミックス4bにより金属6に分流することな
(、抵抗率が約10−2Ω・1である導電性セラミック
ス3中に大部分の電流が流れて、その部分に集中して接
合面方向に略均−にジュール熱が発生する。その熱が第
1の接合剤2、被接合セラミックス1及び絶縁性セラミ
ックス4b、第2の接合剤5、金属6へと順次に伝導し
、その結果、第1の接合剤2が約1450’Cで、被接
合セラミックス1ど導電性セラミックス3とに反応する
ことにより、両者が強固に結合する。
aの圧力を加えて、電極7a、7b間に電圧を印加する
と、暫くして高温時に第1の接合剤2に若干の分流する
電流があるものの、抵抗率が1013Ω・1以上である
絶縁性セラミックス4bにより金属6に分流することな
(、抵抗率が約10−2Ω・1である導電性セラミック
ス3中に大部分の電流が流れて、その部分に集中して接
合面方向に略均−にジュール熱が発生する。その熱が第
1の接合剤2、被接合セラミックス1及び絶縁性セラミ
ックス4b、第2の接合剤5、金属6へと順次に伝導し
、その結果、第1の接合剤2が約1450’Cで、被接
合セラミックス1ど導電性セラミックス3とに反応する
ことにより、両者が強固に結合する。
また、第2の接合剤5が温度勾配差により生じた温度、
すなわち約1050’Cで、絶縁性セラミックス4bと
金@6とに反応することにより、両者が強固に結合して
、被接合セラミックス1と金11i6との接合が完了す
る。この場合の雰囲気は、約10−5Torrの真空と
した。
すなわち約1050’Cで、絶縁性セラミックス4bと
金@6とに反応することにより、両者が強固に結合して
、被接合セラミックス1と金11i6との接合が完了す
る。この場合の雰囲気は、約10−5Torrの真空と
した。
第2の実施例は、本発明の請求項2に対応する。
第2図は本発明の方法を適用した第2の実施例を示す要
部断面図である。まず、導電性の被接合セラミックス1
の接合面側に、第1の接合剤2を介して第1及び第2の
絶縁性セラミックス4a 、4bに導電性セラミックス
3を介装した薄板の層状複合セラミックスを取着させ、
さらにこの複合セラミックスに第2の接合剤5を介して
金属6を取着させた後、被接合セラミックス1を接合方
向に圧力を加えて固定する。つぎに、電極7a、7b反
射板8及び断熱材9を実施例1と同様に配設する。
部断面図である。まず、導電性の被接合セラミックス1
の接合面側に、第1の接合剤2を介して第1及び第2の
絶縁性セラミックス4a 、4bに導電性セラミックス
3を介装した薄板の層状複合セラミックスを取着させ、
さらにこの複合セラミックスに第2の接合剤5を介して
金属6を取着させた後、被接合セラミックス1を接合方
向に圧力を加えて固定する。つぎに、電極7a、7b反
射板8及び断熱材9を実施例1と同様に配設する。
このような構成において、各部材の厚み及び接合温度な
どを考慮した組合せの典型例の一つを例示すると、被接
合セラミックス1を導電性SiCとし、第1及び第2の
接合剤2.5を活性金属ろうのTi/Cu合金の150
μm箔とし、導電性セラミックス3と絶縁性セラミック
ス4a、4bとからなる複合セラミックスは、導電性S
iCの厚さ5jlllの薄板の両側に溶射によりA/1
I203の絶縁層を形成し、その面を平滑に研削したも
ので、Al2O3層の厚さは約0.56とし、金属6を
銅とする。
どを考慮した組合せの典型例の一つを例示すると、被接
合セラミックス1を導電性SiCとし、第1及び第2の
接合剤2.5を活性金属ろうのTi/Cu合金の150
μm箔とし、導電性セラミックス3と絶縁性セラミック
ス4a、4bとからなる複合セラミックスは、導電性S
iCの厚さ5jlllの薄板の両側に溶射によりA/1
I203の絶縁層を形成し、その面を平滑に研削したも
ので、Al2O3層の厚さは約0.56とし、金属6を
銅とする。
今、被接合セラミックス1を接合方向に約0.1MPa
の圧力を加えて、電極7a、7b間に電圧を印加すると
、導電性セラミックス3中に流れる電流は、第1の絶縁
性セラミックス4aにより被接合セラミックス1に分流
しなくなり、また第2の絶縁性セラミックス4bにより
金属6に分流しなくなる。したがって、導電性セラミッ
クス3中にのみ電流が流れてジュール熱が発生し、その
熱が被接合セラミックス1及び金属に伝導する。その結
果、第1及び第2の接合剤2,5が約950℃で、被接
合セラミックス1と第1の絶縁性セラミックス4a及び
第2の絶縁性セラミックス4bと金属6とに各々反応す
ることにより、両者が各々強固に接合して、被接合セラ
ミックス1と金属6との接合が完了する。この場合の雰
囲気は、10−5Torrの真空とした。
の圧力を加えて、電極7a、7b間に電圧を印加すると
、導電性セラミックス3中に流れる電流は、第1の絶縁
性セラミックス4aにより被接合セラミックス1に分流
しなくなり、また第2の絶縁性セラミックス4bにより
金属6に分流しなくなる。したがって、導電性セラミッ
クス3中にのみ電流が流れてジュール熱が発生し、その
熱が被接合セラミックス1及び金属に伝導する。その結
果、第1及び第2の接合剤2,5が約950℃で、被接
合セラミックス1と第1の絶縁性セラミックス4a及び
第2の絶縁性セラミックス4bと金属6とに各々反応す
ることにより、両者が各々強固に接合して、被接合セラ
ミックス1と金属6との接合が完了する。この場合の雰
囲気は、10−5Torrの真空とした。
なお、第1の実施例のように、2種の接合剤を用いる場
合、最適接合温度に調整するのに、絶縁性セラミックス
の厚みを選ぶことによる温度勾配差を利用しているが、
温度勾配差を利用できない各部材の組合せについては、
1回目の接合工程として、例えば接合温度のより高い第
1の接合剤により被接合セラミックスと複合セラミック
スとを通電加熱して接合する。その後、2回目の接合工
程として、再通電しより低温の所望の接合温度で第2の
接合剤を反応させることにより、金属との接合を行って
もよい。
合、最適接合温度に調整するのに、絶縁性セラミックス
の厚みを選ぶことによる温度勾配差を利用しているが、
温度勾配差を利用できない各部材の組合せについては、
1回目の接合工程として、例えば接合温度のより高い第
1の接合剤により被接合セラミックスと複合セラミック
スとを通電加熱して接合する。その後、2回目の接合工
程として、再通電しより低温の所望の接合温度で第2の
接合剤を反応させることにより、金属との接合を行って
もよい。
また、複合セラミックスの絶縁性セラミックスを一層と
したが、この絶縁性セラミックスと被接合体との熱膨張
差が大きい場合は、その間に複数の熱応力緩和層を段階
的に形成してもよい。
したが、この絶縁性セラミックスと被接合体との熱膨張
差が大きい場合は、その間に複数の熱応力緩和層を段階
的に形成してもよい。
さらに、接合面積が大きい場合には、電極を適当に移動
できる移動手段を設けるか、複数対の電極を設けるか、
帯状の電極を設ければよい。
できる移動手段を設けるか、複数対の電極を設けるか、
帯状の電極を設ければよい。
第3の実施例は、本発明の請求項3に対応する。
第3図(al 、 (b)は、各々本発明のインサート
材の第1の実施例を示す断面図及び上面図であって、例
えば角柱状の絶縁性の被接合セラミックスと金属との間
に、本発明のインサート材を挟装して接合する好適例を
示している。まず、高絶縁性を有するSi3N4 、サ
イアロン、 AA203などの粉体と、この粉体に導電
性付与剤例えばTiN 、 TaN 、 Pt 、 S
iCなどを添加した粉体とを、各々バインダーと共に順
次型に入れ、加圧成形して一体焼結を行い、導電性セラ
ミックス3と絶縁性セラミックス4bとからなる薄板の
層状複合セラミックスを製作する。
材の第1の実施例を示す断面図及び上面図であって、例
えば角柱状の絶縁性の被接合セラミックスと金属との間
に、本発明のインサート材を挟装して接合する好適例を
示している。まず、高絶縁性を有するSi3N4 、サ
イアロン、 AA203などの粉体と、この粉体に導電
性付与剤例えばTiN 、 TaN 、 Pt 、 S
iCなどを添加した粉体とを、各々バインダーと共に順
次型に入れ、加圧成形して一体焼結を行い、導電性セラ
ミックス3と絶縁性セラミックス4bとからなる薄板の
層状複合セラミックスを製作する。
その後、寸法調整、接合面を平滑する目的で研削する。
つぎに、この複合セラミックスの導電性セラミックス3
の接合面に、第1の接合剤2として、例えばCaF2/
An203/5i02の混合物をペースト状にしたもの
を、スクリーン印刷により塗布する。
の接合面に、第1の接合剤2として、例えばCaF2/
An203/5i02の混合物をペースト状にしたもの
を、スクリーン印刷により塗布する。
また、絶縁性セラミックス4bの接合面を、第2の接合
剤として、例えばTi/Cu/Ag合金を、 CVD。
剤として、例えばTi/Cu/Ag合金を、 CVD。
真空蒸着、溶射などによりコーティングする。ここで、
Si3N4とTtNとの組み合せで、導電性セラミック
ス3及び絶縁性セラミックス4bの抵抗率は前者で約1
0−2Ω・1、後者で1o13Ω・1以上のインサート
材が製作される。
Si3N4とTtNとの組み合せで、導電性セラミック
ス3及び絶縁性セラミックス4bの抵抗率は前者で約1
0−2Ω・1、後者で1o13Ω・1以上のインサート
材が製作される。
第4の実施例は、本発明の請求項3に対応する。
第4図fa) 、 fb)は、各々本発明のインサート
材の第2の実施例を示す断面図及び上面図であって、例
えばパイプ状の導電性の被接合セラミックスと金属との
間に、本発明のインサート材を挟装して接合する好適例
を示している。、まず、高絶縁性を有するSi3N4
、サイアロン、 Ag2O3などの粉体と、この粉体に
導電性付与剤例えばTiN 、 TaN 、 Pt 、
SiCなどを添加した粉体と、Si3N4 、サイアロ
ンなどの粉体とを、各々バインダーと共に順次型に入れ
、加圧成形して一体焼結を行い、絶縁性セラミックス4
a、4biこ導電性セラミックス3を介装した薄板の層
状複合セラミックスを製作する。その後、寸法調整、接
合面を平滑する目的で研削する。つキニ、この複合セラ
ミックスの絶縁性セラミ7’7ス4aの接合面に、第1
の接合剤2として、例えばCaF2/AA!203/5
i02の混合物をペースト状にしたものを、スクリーン
印刷により塗布する。、また。
材の第2の実施例を示す断面図及び上面図であって、例
えばパイプ状の導電性の被接合セラミックスと金属との
間に、本発明のインサート材を挟装して接合する好適例
を示している。、まず、高絶縁性を有するSi3N4
、サイアロン、 Ag2O3などの粉体と、この粉体に
導電性付与剤例えばTiN 、 TaN 、 Pt 、
SiCなどを添加した粉体と、Si3N4 、サイアロ
ンなどの粉体とを、各々バインダーと共に順次型に入れ
、加圧成形して一体焼結を行い、絶縁性セラミックス4
a、4biこ導電性セラミックス3を介装した薄板の層
状複合セラミックスを製作する。その後、寸法調整、接
合面を平滑する目的で研削する。つキニ、この複合セラ
ミックスの絶縁性セラミ7’7ス4aの接合面に、第1
の接合剤2として、例えばCaF2/AA!203/5
i02の混合物をペースト状にしたものを、スクリーン
印刷により塗布する。、また。
絶縁性セラミックス4bの接合面を、第2の接合剤とし
て、例えばTi/Cu/Ag合金を、CVD 、真空蒸
着、溶射などによりコーティングする。ここで、513
N4とTiNとの組み合せで、導電性セラミックス3及
び絶縁性セラミックス4a、4bの抵抗率は前音で約1
0 Ω・画、後者で1013Ω・1以上のインサート材
が製作される。
て、例えばTi/Cu/Ag合金を、CVD 、真空蒸
着、溶射などによりコーティングする。ここで、513
N4とTiNとの組み合せで、導電性セラミックス3及
び絶縁性セラミックス4a、4bの抵抗率は前音で約1
0 Ω・画、後者で1013Ω・1以上のインサート材
が製作される。
以上の第1乃至第4の実施例において、導電性セラミッ
クスと絶縁性セラミックスとからなる層状複合セラミッ
クスとして、一体焼結させる例を示したが、この他に薄
板の導電性及び絶縁性セラミックスを、後に使用する接
合温度で変化しない接合剤により予め接合させるか、ま
たは導電性セラミックスの薄板に絶縁性セラミックスを
、CVD。
クスと絶縁性セラミックスとからなる層状複合セラミッ
クスとして、一体焼結させる例を示したが、この他に薄
板の導電性及び絶縁性セラミックスを、後に使用する接
合温度で変化しない接合剤により予め接合させるか、ま
たは導電性セラミックスの薄板に絶縁性セラミックスを
、CVD。
真空蒸着、溶射などによりコーティングする。この場合
の導電性セラミックスとしては、SiC,WCなどの炭
化物、TiN 、 TaNなどの窒化物、ZrO2。
の導電性セラミックスとしては、SiC,WCなどの炭
化物、TiN 、 TaNなどの窒化物、ZrO2。
LaCrO2などの酸化物、MoSi2 、MoSiな
どのケイ化物、TiB2 などのホウ化物、TiN
、 SiCなどの導電性付与物質を含む5t2N4、サ
イアロンなどの複合セラミックス、セラミックスと金属
とからなるサーメットが例示できる。
どのケイ化物、TiB2 などのホウ化物、TiN
、 SiCなどの導電性付与物質を含む5t2N4、サ
イアロンなどの複合セラミックス、セラミックスと金属
とからなるサーメットが例示できる。
また、絶縁性セラミックスとしては、Al2O3。
5i02 f!どの酸化物、AA!N 、 Si3N
4. +イア C1:/などの窒化物が使用でき、その
形状・寸法は使用電圧に対して絶縁性を保持できること
、及び使用接合温度に調整できることなどを考慮して適
宜に選ぶ必要がある。
4. +イア C1:/などの窒化物が使用でき、その
形状・寸法は使用電圧に対して絶縁性を保持できること
、及び使用接合温度に調整できることなどを考慮して適
宜に選ぶ必要がある。
さらζこ、これら絶縁性及び導電性セラミックスの種類
の選択は、被接合体の仕様、例えば必要な耐熱性、必要
な強度、必要な耐薬品性などを考慮して行う。
の選択は、被接合体の仕様、例えば必要な耐熱性、必要
な強度、必要な耐薬品性などを考慮して行う。
〔発明の効果〕
本発明の請求項1及び2の効果は、被接合セラミックス
と金属との接合部近傍に電流を集中して流すことができ
るので、特に接合長が大きい場合、接合中央部も十分に
加熱させることができ、したがって接合強度を大にする
ことができる。また、接合部近傍のみを直接加熱するよ
うζこしたので、被接合セラミックス全体の劣化を最小
限にとどめることができ、かつ加熱効率が高く、短時間
接合、設備費の低減、ランニングコストの低減が可能で
あるという実用上や価値が大である。
と金属との接合部近傍に電流を集中して流すことができ
るので、特に接合長が大きい場合、接合中央部も十分に
加熱させることができ、したがって接合強度を大にする
ことができる。また、接合部近傍のみを直接加熱するよ
うζこしたので、被接合セラミックス全体の劣化を最小
限にとどめることができ、かつ加熱効率が高く、短時間
接合、設備費の低減、ランニングコストの低減が可能で
あるという実用上や価値が大である。
請求項3の効果は、接合剤と複合セラミックスとを一体
化することにより、取扱い及び接合時の位置合せが容易
になり、接合工程を簡略することができ、また現場作業
が容易となる。
化することにより、取扱い及び接合時の位置合せが容易
になり、接合工程を簡略することができ、また現場作業
が容易となる。
第1図及び第2図はそれぞれ本発明の方法を適用した第
1及び第2の実施例を示す要部断面図、第3図1a)
、 tb)は本発明のインサート材の第1の実施例を示
す断面図及び上面図、第4図(a) 、 (blは本発
明のインサート材の第2の実施例を示す断面図及び上面
図、第5図及び第6図はそれぞれ従来の接合状態を示す
概略断面図である。 1・・・被接合セラミックス、2・・・第1の接合剤、
3・・・層状複合セラミックスの導電性セラミックス、
4a、4b・・・層状複合セラミックスの第1及び第2
の絶縁性セラミックス、5・・・第2の接合剤、6・−
・金属、7a、7b・・・電極。 代理人 弁理士 中 井 宏
1及び第2の実施例を示す要部断面図、第3図1a)
、 tb)は本発明のインサート材の第1の実施例を示
す断面図及び上面図、第4図(a) 、 (blは本発
明のインサート材の第2の実施例を示す断面図及び上面
図、第5図及び第6図はそれぞれ従来の接合状態を示す
概略断面図である。 1・・・被接合セラミックス、2・・・第1の接合剤、
3・・・層状複合セラミックスの導電性セラミックス、
4a、4b・・・層状複合セラミックスの第1及び第2
の絶縁性セラミックス、5・・・第2の接合剤、6・−
・金属、7a、7b・・・電極。 代理人 弁理士 中 井 宏
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、被接合セラミックスと金属との接合方法において、
前記セラミックスと金属との間に、導電性セラミックス
の片面に絶縁性セラミックスを設けた層状複合セラミッ
クスを介在させ、第1の接合剤を前記被接合セラミック
スと複合セラミックス内の導電性セラミックスとに挾着
させるとともに、第2の接合剤を前記複合セラミックス
内の絶縁性セラミックスと金属とに挾着させて、前記複
合セラミックス内の導電性セラミックスの両端部に少な
くとも一対の電極を当接させて通電し、前記導電性セラ
ミックス中に生じるジュール熱によつて、前記第1の接
合剤、被接合セラミックスを順次に、また前記絶縁性セ
ラミックス、第2の接合剤、金属を順次に加熱して接合
するセラミックスと金属との電気接合方法。 2、被接合セラミックスと金属との接合方法において、
前記セラミックスと金属との間に、導電性セラミックス
の両面に絶縁性セラミックスを設けた層状複合セラミッ
クスを介在させ、第1の接合剤を前記被接合セラミック
スと複合セラミックス内の第1の絶縁性セラミックスと
に挾着させるとともに、第2の接合剤を前記複合セラミ
ックス内の第2の絶縁性セラミックスと金属とに挾着さ
せて、前記複合セラミックス内の導電性セラミックスの
両端部に少なくとも一対の電極を当接させて通電し、前
記導電性セラミックス中に生じるジュール熱によつて、
前記第1の絶縁性セラミックス、第1の接合剤、被接合
セラミックスを順次に、また前記第2の絶縁性セラミッ
クス、第2の接合剤、金属を順次に加熱して接合するセ
ラミックスと金属との電気接合方法。 3、被接合セラミックスと金属との接合用インサート材
において、導電性セラミックスの片面または両面に絶縁
性セラミックスを設けた層状複合セラミックスであつて
、前記複合セラミックスの両接合面に接合剤を取着させ
た接合用インサート材。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63155568A JP2745539B2 (ja) | 1988-06-23 | 1988-06-23 | セラミックスと金属との電気接合方法及び接合用インサート材 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63155568A JP2745539B2 (ja) | 1988-06-23 | 1988-06-23 | セラミックスと金属との電気接合方法及び接合用インサート材 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01320276A true JPH01320276A (ja) | 1989-12-26 |
JP2745539B2 JP2745539B2 (ja) | 1998-04-28 |
Family
ID=15608889
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63155568A Expired - Lifetime JP2745539B2 (ja) | 1988-06-23 | 1988-06-23 | セラミックスと金属との電気接合方法及び接合用インサート材 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2745539B2 (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO1992000257A1 (en) | 1990-06-28 | 1992-01-09 | Daihen Corporation | Method of electrically joining ceramics, device used therefor and adhesive agent therefor |
JP2014201447A (ja) * | 2013-04-01 | 2014-10-27 | 株式会社デンソー | 接合体の製造方法 |
-
1988
- 1988-06-23 JP JP63155568A patent/JP2745539B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO1992000257A1 (en) | 1990-06-28 | 1992-01-09 | Daihen Corporation | Method of electrically joining ceramics, device used therefor and adhesive agent therefor |
JP2014201447A (ja) * | 2013-04-01 | 2014-10-27 | 株式会社デンソー | 接合体の製造方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2745539B2 (ja) | 1998-04-28 |
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