JPH01319966A - スパッタ装置 - Google Patents

スパッタ装置

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Publication number
JPH01319966A
JPH01319966A JP63154415A JP15441588A JPH01319966A JP H01319966 A JPH01319966 A JP H01319966A JP 63154415 A JP63154415 A JP 63154415A JP 15441588 A JP15441588 A JP 15441588A JP H01319966 A JPH01319966 A JP H01319966A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
substrate
spacer
holder
semiconductor substrate
end section
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP63154415A
Other languages
English (en)
Inventor
Yoshitake Ishihara
石原 良剛
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
Priority to JP63154415A priority Critical patent/JPH01319966A/ja
Publication of JPH01319966A publication Critical patent/JPH01319966A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明はスパッタ装置に関し、特に半導体装置の製造に
用いられるスパッタ装置の基板支持治具の構造に関する
〔従来の技術〕
半導体装置の製造に用いられるスパッタ装置で、半導体
装置の配線材料として用いられるアルミターゲットを用
いスパッタする場合、ステップカバレッジ等を良くする
ため、半導体基板(以下単に基板という)を200℃か
ら400℃に加熱している。この状態では、アルミの粘
着性を増すので、基板支持治具は、基板の端部に形成さ
れた/l’膜によって°基板と接着しやすくなる。この
接着を防ぐため、第4図に示すように、基板支持治具を
構成する基板支持台1と基板5との間に、スペーサー6
を入れた構造のものが用いられている。
このスペーサー6は、基板裏面の端部より内側に位置さ
せ、スパッタ膜がこのスペーサー6に大量に付着しない
ようにすることが必要である。基板5の表面端部を保持
する基板ホルダー2にもスパッタ膜形成による基板5と
の接着が考えられるが、基板ホルダー2の基板5をおさ
える接点は、通常2点から4点あるだけであり、基板5
全体が基板支持台1と接着する力にくらべれば、微少な
ものである。
タングステンやモリブデンのターゲットを用いてスパッ
タする場合も基板を加熱するが、スパッタ膜が高融点金
属のため、アルミはど粘着性を示さない。このため高融
点金属をターゲットに用いる場合は、第5図に示すよう
にスペーサーは必要ではない。さらにスペーサーがある
と、基板5の裏面の端部の付近にもスパッタ膜がわずが
ながら形成される。半導体装置の製造工程として一般に
アルミ等は配線材として後工程で用いられるため、裏面
にまわり込んだスパッタ膜による金属汚染は限定できる
。しかしながら、モリブデンやタングステンは、ゲート
電極材として製造工程の前工程で用いられるため、裏面
のスパッタ膜による製造ライン汚染範囲は広がる。以上
の理由で、タングステン等の高融点金属の場合は、基板
5と基板支持台1との間にスペーサーをおかない構造の
基板支持治具が用いられる。
〔発明が解決しようとする課題〕
上述した従来のスパッタ装置における基板支持治具は、
ターゲツト材によって違った構造が要求されているので
共用できなかっな。このため、同一チャンバー内で2種
類以上のターゲットを使用できるスパッタ装置ではアル
ミ用、高融点金属用等、各ターゲット専用の基板支持治
具を用意し取り替えなければならず、作業が煩雑になる
という欠点がある。
〔課題を解決するための手段〕
本発明の第1のスパッタ装置は、半導体基板の裏面端部
を覆って支持する基板支持台と、M記半導体基板の裏面
の端部以外の少くとも一部を支持するスペーサーと、前
記半導体基板の表面端部を保持し該半導体基板を前記基
板支持体とスペーサーに圧着するための基板ホルダーと
、前記スペーサーを押し上げるためのカムとを含んで構
成される。
本発明の第2のスパッタ装置は、空洞部を有し半導体基
板の裏面を支持するスペーサーと、前記半導体基板の裏
面端部に接し該端部を覆いうる突出部を有し、かつスプ
リングを介して前記スペーサーを支持するスペーサー支
持台と、ホルダー支持台に固定され前記半導体基板の表
面端部を保持する基板ホルダーと、前記ホルダー支持台
を押し下げ前記半導体基板の裏面端部を前記スペーサー
支持台の突出部に接触させる押し下げ機構とを含んで構
成される。
〔実施例〕
次に本発明について図面を参照して説明する。
第1図は、本発明の第1の実施例の断面図である。
第1図において、基板5の裏面端部を覆って支持する基
板支持台]には、基板5の表面端部を保持する基板ホル
ダー2と基板5の裏面の端部以外を支持するスペーサー
6がそれぞれホルダー用スプリング3及びスペーサー用
スプリング7で可動できるように取付けられている。基
板5はスペーサー6上にのせ、基板ホルダー2で圧着固
定される。そして特にスペーサーの下にはスペーサー6
を押し上げるためのカム4が設けられている。
高融点金属のターゲットを用いる場合、カム4をパルス
モータ9で回転させ、スペーサー6が基板支持台1と同
一平面になるようにする。また5アルミ等のターゲット
を用いる場合は、カム4をパルスモータ−9で回転させ
てスペーサー6を押し上げ、第2図に示すように、スペ
ーサー6か基板支持台1よりつき出す位置に合わせる。
このように構成された本革1の実施例によれば、ターゲ
ットの種類に応じてカム4を同転さぜることにより、基
板裏面の端部を覆ったり露出させたりできるため、従来
のように基板支持治具を代える一e要はなくなる。
第3図は本発明の第2の実施例の断面図である。
第3図において、基板5はその裏面を、空洞部11を有
するスペーサー6Aにより支持されている。そして、こ
のスペーサー6Aは、基板5の裏面端部に接して端部を
覆うことのできる突出部8Aを有するスペーサー支持台
8によりスペーサー用スプリング7を介して支持されて
いる。
また、基板5の表面端部は、ホルダー支持台12に固定
された基板ホルダー2により保持されている。そして、
ホルダー支持台12はシリンダー10によりスペーサー
支持台8方向に押されるように構成されている。
このように構成された本第2の実施例によれば、シリン
ダー10によりホルダー支持台12を押し下げることに
より、基板5の裏面端部はスペーサー支持台8の突出部
8Aにより覆われることになる。従ってスパッターのタ
ーゲットの種類によりシリンダー10を操作し、基板5
の裏面端部を露出させたり覆ったりすることができる。
更に本第2の実施例においては、スペーサー6Aに空洞
部11が設けられているため、基板5を裏面からランプ
やホットアルゴンガス等で加熱できるという利点がある
〔発明の効果〕
以上説明したように本発明は、スパッタ装置のチャンバ
ーの高真空を保ちつつ遠隔操作で基板裏面の端部を露出
させたり覆ったりすることができるので、種類の異なる
ターゲットを用いた場合でも基板支持治具を交換する必
要がなくなり、作業が容易になるという効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の第1の実施例の断面図、第2図は第1
図に示した第1の実施例の動作を説明するための断面図
、第3図は本発明の第2の実施例の断面図、第4図及び
第5図は従来のスパッタ装置の基板支持治具の断面図で
ある。 1・・・基板支持台、2・・・基板ホルダー、3・・・
ホルダー用スプリング、4・・・カム、5・・・基板、
6゜6A・・・スペーサー、7・・・スペーサー用スプ
リング、8・・・スペーサー支持台、9・・・パルスモ
ータ−110・・・シリンダー、11・・・空洞部、1
2・・・ホルダー支持台。 榮1父 寮2回 峯4回 茅!;父

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)半導体基板の裏面端部を覆って支持する基板支持
    台と、前記半導体基板の裏面の端部以外の少くとも一部
    を支持するスペーサーと、前記半導体基板の表面端部を
    保持し該半導体基板を前記基板支持体とスペーサーに圧
    着するための基板ホルダーと、前記スペーサーを押し上
    げるためのカムとを含むことを特徴とするスパッタ装置
  2. (2)空洞部を有し半導体基板の裏面を支持するスペー
    サーと、前記半導体基板の裏面端部に接し該端部を覆い
    うる突出部を有し、かつスプリングを介して前記スペー
    サーを支持するスペーサー支持台と、ホルダー支持台に
    固定され前記半導体基板の表面端部を保持する基板ホル
    ダーと、前記ホルダー支持台を押し下げ前記半導体基板
    の裏面端部を前記スペーサー支持台の突出部に接触させ
    る押し下げ機構とを含むことを特徴とするスパッタ装置
JP63154415A 1988-06-21 1988-06-21 スパッタ装置 Pending JPH01319966A (ja)

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JP63154415A JPH01319966A (ja) 1988-06-21 1988-06-21 スパッタ装置

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0753882A1 (de) * 1995-07-08 1997-01-15 Balzers und Leybold Deutschland Holding Aktiengesellschaft Kathodenanordnung für eine Vorrichtung zum Zerstäuben eines Targets
CN110936039A (zh) * 2019-12-19 2020-03-31 北京航天控制仪器研究所 一种激光加工自动定位夹紧工装装置
CN111515877A (zh) * 2020-04-17 2020-08-11 苏州康巨富自动化设备有限公司 一种易于固定的自动化测试治具

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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CN110936039A (zh) * 2019-12-19 2020-03-31 北京航天控制仪器研究所 一种激光加工自动定位夹紧工装装置
CN110936039B (zh) * 2019-12-19 2021-09-03 北京航天控制仪器研究所 一种激光加工自动定位夹紧工装装置
CN111515877A (zh) * 2020-04-17 2020-08-11 苏州康巨富自动化设备有限公司 一种易于固定的自动化测试治具

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