JPH01315985A - Elパネルの製造方法 - Google Patents
Elパネルの製造方法Info
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- JPH01315985A JPH01315985A JP63147350A JP14735088A JPH01315985A JP H01315985 A JPH01315985 A JP H01315985A JP 63147350 A JP63147350 A JP 63147350A JP 14735088 A JP14735088 A JP 14735088A JP H01315985 A JPH01315985 A JP H01315985A
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Landscapes
- Electroluminescent Light Sources (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、EL(エレク1〜ロルミネセンス)パネルの
製造方法に関し、特に、その絶縁層の製造方法に関する
。
製造方法に関し、特に、その絶縁層の製造方法に関する
。
第2図は従来より広く知られているELパネルの、断面
図である。同図において、21はカラス基板、22はカ
ラス基板21上に■n203.5n02スはITOを複
数本のストライプ状にパターニングして形成された透明
電極、23は第一絶縁層、24は発光層、25は第二絶
縁層、26は背面電極である。
図である。同図において、21はカラス基板、22はカ
ラス基板21上に■n203.5n02スはITOを複
数本のストライプ状にパターニングして形成された透明
電極、23は第一絶縁層、24は発光層、25は第二絶
縁層、26は背面電極である。
そして、このELパネルの製造に際しては、複数本のス
トライプ状透明電極22を備えたガラス基板21上に、
スパッタ法又は電子ビーム蒸着法により、第一絶縁層2
3、発光層24、及び第二絶縁層25を順に形成し、さ
らにこの上に、A層、Ta、Ni等の抵抗率の小さい金
属よりなるストライプ状の背面電極を透明電極22と直
交する方向延びるように形成している。
トライプ状透明電極22を備えたガラス基板21上に、
スパッタ法又は電子ビーム蒸着法により、第一絶縁層2
3、発光層24、及び第二絶縁層25を順に形成し、さ
らにこの上に、A層、Ta、Ni等の抵抗率の小さい金
属よりなるストライプ状の背面電極を透明電極22と直
交する方向延びるように形成している。
この種のELパネルにおいては、発光層24に約106
V/cmの高電界を印加して発光させているので、発光
層24に高電界を印加したときに、透明型i22と背面
電極26との間にリーク電流が流れないように、第一絶
縁層23及び第二絶縁層25を絶縁性に漬れた特性のも
のとし、且つ絶縁破壊の起きないように絶縁耐圧の1憂
れな特性のものとしている。
V/cmの高電界を印加して発光させているので、発光
層24に高電界を印加したときに、透明型i22と背面
電極26との間にリーク電流が流れないように、第一絶
縁層23及び第二絶縁層25を絶縁性に漬れた特性のも
のとし、且つ絶縁破壊の起きないように絶縁耐圧の1憂
れな特性のものとしている。
まな、空気中の水分を吸着して絶縁破壊を起こさないよ
うに、第一絶縁層23、発光層24、及び第二絶縁層2
5を封止板27で覆い、封止板27内に防湿油を封入し
ている。防湿届としてはシリコーン油、黒色染料、モレ
キュラシーブス等からなるものが使用される。
うに、第一絶縁層23、発光層24、及び第二絶縁層2
5を封止板27で覆い、封止板27内に防湿油を封入し
ている。防湿届としてはシリコーン油、黒色染料、モレ
キュラシーブス等からなるものが使用される。
しかしながら、上記従来例においては、絶縁層の製造に
スパッタ法又は電子ビーム蒸着法を使用しているので、
次に示すような問題があった。
スパッタ法又は電子ビーム蒸着法を使用しているので、
次に示すような問題があった。
即ち、スパッタ法又は電子ビーム蒸着法を使用して絶縁
層をM遺した場合には、絶縁層にピンポールや化学量論
的欠陥か発生しやすい。例えば、この方法でT” a
2 ’Os膜を形成ずれは、0原子の欠損した部分を有
するTa203−x膜となり、106v/c[l)程度
の高電界領域のもとでは、比抵抗が小さくなり、大きな
リヘク電流が流れてパネルを破損しゃずいという問題が
あった。
層をM遺した場合には、絶縁層にピンポールや化学量論
的欠陥か発生しやすい。例えば、この方法でT” a
2 ’Os膜を形成ずれは、0原子の欠損した部分を有
するTa203−x膜となり、106v/c[l)程度
の高電界領域のもとでは、比抵抗が小さくなり、大きな
リヘク電流が流れてパネルを破損しゃずいという問題が
あった。
また、絶縁体であるカラス基板21上に形成された透明
電極22上に第一絶縁層として酸化物を、例えば、RF
スパッタ法で形成すると、透明′電極22に電子かチャ
ージアップされて透明型#:!22が逆スパツタされる
ことかあった。このとき、透明電極22を構成するI
11203 、S n 02 、ITO等が黒化し、光
束を遮るという問題があった。
電極22上に第一絶縁層として酸化物を、例えば、RF
スパッタ法で形成すると、透明′電極22に電子かチャ
ージアップされて透明型#:!22が逆スパツタされる
ことかあった。このとき、透明電極22を構成するI
11203 、S n 02 、ITO等が黒化し、光
束を遮るという問題があった。
さらに、スパッタ法又は電子ビーム蒸着法で形成された
絶縁層にはピンポールが多く、このピンポールから水分
か浸透して発光層24を劣化させ、輝度を低下させる問
題があった。
絶縁層にはピンポールが多く、このピンポールから水分
か浸透して発光層24を劣化させ、輝度を低下させる問
題があった。
そこで、本発明は上記したような従来技術の課題を解決
するためになされたもので、その目的とするところは、
絶縁性に優れ、長寿命で、しかも高輝度発光の得られる
E’Lパネルの製造方法を提供することにある。
するためになされたもので、その目的とするところは、
絶縁性に優れ、長寿命で、しかも高輝度発光の得られる
E’Lパネルの製造方法を提供することにある。
本発明に係るELパネルの製造方法は、基板上に金属薄
膜よりなる第一電極層を形成する工程と、陽極酸化法に
より、上記第一電極層の表面を酸化して第一絶縁層を形
成する工程と、上記第一絶縁層上に発光層、第二絶縁層
、及び第二電極層を順に形成する工程とを有することを
特徴としている。
膜よりなる第一電極層を形成する工程と、陽極酸化法に
より、上記第一電極層の表面を酸化して第一絶縁層を形
成する工程と、上記第一絶縁層上に発光層、第二絶縁層
、及び第二電極層を順に形成する工程とを有することを
特徴としている。
また、ELパネルの他の製造方法は、基板上に第一電極
層、第一絶縁層、及び発光層を順に形成する工程と、上
記発光層上に金属薄膜を形成し、この金属薄膜を陽極酸
化法により酸化して第二絶縁層を形成する工程と、上記
第二絶縁層上に第二電極層を形成する工程とを有するこ
と゛を特徴としている。
層、第一絶縁層、及び発光層を順に形成する工程と、上
記発光層上に金属薄膜を形成し、この金属薄膜を陽極酸
化法により酸化して第二絶縁層を形成する工程と、上記
第二絶縁層上に第二電極層を形成する工程とを有するこ
と゛を特徴としている。
本発明においては、基板上に少なくとも第一電極層、第
一絶縁層、発光層、第二絶縁層、及び第二電極層を有す
るELパネル(第−絶縁層及び第二絶縁層以外の絶縁層
を有する場合もある)を製造するに際して、第−絶縁層
又は第二絶縁層の少なくとも一方を陽極酸化法により形
成している。
一絶縁層、発光層、第二絶縁層、及び第二電極層を有す
るELパネル(第−絶縁層及び第二絶縁層以外の絶縁層
を有する場合もある)を製造するに際して、第−絶縁層
又は第二絶縁層の少なくとも一方を陽極酸化法により形
成している。
□゛陽極酸化法で形成された絶縁層は、化学量論的欠陥
やピンポールが少ないので絶縁性に優れ、このためリー
グ電流を極めて小さくできる6また、ピンポールの少な
い絶縁層は、水分を吸着しにくいので、発光層の劣化を
起こしにくい。
やピンポールが少ないので絶縁性に優れ、このためリー
グ電流を極めて小さくできる6また、ピンポールの少な
い絶縁層は、水分を吸着しにくいので、発光層の劣化を
起こしにくい。
以下に本発明を図示の実施例に基づいて説明する。
第1図(a)乃至(C)は本発明に係るELパネルの!
!!遣方遣方−実施例を示す工程説明図である。同図に
おいて、1はガラス又はセラミックよりなる基板、2は
基板1上にI n203 、S n 04は発光層、5
は第二絶縁層、6は背面電極である。また、7は封止板
、8は接着剤である。
!!遣方遣方−実施例を示す工程説明図である。同図に
おいて、1はガラス又はセラミックよりなる基板、2は
基板1上にI n203 、S n 04は発光層、5
は第二絶縁層、6は背面電極である。また、7は封止板
、8は接着剤である。
本実施例の製造に際しては、最初の工程で、同図(a)
に示すように、基板1上にA、ll、Ta、Ti、Si
、Zr、Nb等の陽#!酸化しやすい金属薄膜を形成し
、この金属薄膜をホトリソエツチングにより複数本のス
トライプ状として電極2を形成する。ここで、金属薄膜
の形成にはスパッタ法又は電子ビーム蒸着法か使用され
、膜厚1000〜5000Aに形成される。一般に、ス
パッタ法による方が電子ビーム蒸着法による場合よりピ
ンホールの少ない良質の膜が得られる。また、カラス又
はセラミック等からなる基板1上に形成する場合には、
異常放電の発生が少なく、また基板1の温度を自由に選
ぶことができるので、スパッタ法により、より良質の、
膜内歪の少ない背面電極が得られる。
に示すように、基板1上にA、ll、Ta、Ti、Si
、Zr、Nb等の陽#!酸化しやすい金属薄膜を形成し
、この金属薄膜をホトリソエツチングにより複数本のス
トライプ状として電極2を形成する。ここで、金属薄膜
の形成にはスパッタ法又は電子ビーム蒸着法か使用され
、膜厚1000〜5000Aに形成される。一般に、ス
パッタ法による方が電子ビーム蒸着法による場合よりピ
ンホールの少ない良質の膜が得られる。また、カラス又
はセラミック等からなる基板1上に形成する場合には、
異常放電の発生が少なく、また基板1の温度を自由に選
ぶことができるので、スパッタ法により、より良質の、
膜内歪の少ない背面電極が得られる。
次の工程では、電極2の端子部(図示せず)に陽極電源
を接続し、電極2をリン酸又はしゅう酸等の希釈水溶液
中で陽極酸化して電極2表面に酸化膜を形成し、この酸
化膜を第一絶縁層3とする。
を接続し、電極2をリン酸又はしゅう酸等の希釈水溶液
中で陽極酸化して電極2表面に酸化膜を形成し、この酸
化膜を第一絶縁層3とする。
一般に、陽極酸化によると、酸化膜の厚さは、陽極酸化
される前の金属薄膜の厚さの3倍位の厚さになることが
知られている。ここでは、第一絶縁層3の厚さとしては
、1000〜300’OAが選ばれるので、電極2の表
面から300〜1000人を陽極酸化する。
される前の金属薄膜の厚さの3倍位の厚さになることが
知られている。ここでは、第一絶縁層3の厚さとしては
、1000〜300’OAが選ばれるので、電極2の表
面から300〜1000人を陽極酸化する。
次の工程では、同図(b)に示すように、第一絶縁層3
の上に、電子ビーム蒸着法、スパッタ法又はCVD法に
より、発光層4、第二絶縁層5を順に形成する。
の上に、電子ビーム蒸着法、スパッタ法又はCVD法に
より、発光層4、第二絶縁層5を順に形成する。
次に、第二絶縁層5上に電子ビーム蒸着法又はスパッタ
法により第二電極層6を形成する。この第二電極層6は
ITO,SnO2、ZnO,Al1203+Znoの薄
膜よりなる透明電極であり、上記したストライブ状の電
極2の延びる方向と直交する方向に延びるように、ホト
リソエツチングにより複数本のストライブ状に形成され
る。
法により第二電極層6を形成する。この第二電極層6は
ITO,SnO2、ZnO,Al1203+Znoの薄
膜よりなる透明電極であり、上記したストライブ状の電
極2の延びる方向と直交する方向に延びるように、ホト
リソエツチングにより複数本のストライブ状に形成され
る。
そして、透明なカラス板よりなる封止板7を電極6の上
面に密着させるか、又は封止板7と電極6の上面との間
に僅かな間隙を開けて、封止板7を基板1に接着剤8で
取りイ(1c′jる。このとき、電極2及び電極6の端
子部は封止板7の外に出るようにする。
面に密着させるか、又は封止板7と電極6の上面との間
に僅かな間隙を開けて、封止板7を基板1に接着剤8で
取りイ(1c′jる。このとき、電極2及び電極6の端
子部は封止板7の外に出るようにする。
封止板7を基板1に接着するに際しては、接着剤8とし
て熱硬化性のものを用い、電極6に封止板7を密着さぜ
、この状態で一定時間真空状態に保持し、加熱して接着
剤8を硬化させる。接着剤8は封止板7の外周付近にの
み塗布し、発光領域には塗布しない。また、真空硬化時
に接着剤8を封止板7に塗布するときに、一部塗布しな
い部分を形成して、封止板7と電′+fA6との間に気
泡か残らないようにする。また、接着剤8を塗布しない
部分を数箇所設けることにより、接着剤8の硬化後に、
防湿油としてのシリコーン油を間隙部に浸透させて、毛
細管現象により容易に注入できる。
て熱硬化性のものを用い、電極6に封止板7を密着さぜ
、この状態で一定時間真空状態に保持し、加熱して接着
剤8を硬化させる。接着剤8は封止板7の外周付近にの
み塗布し、発光領域には塗布しない。また、真空硬化時
に接着剤8を封止板7に塗布するときに、一部塗布しな
い部分を形成して、封止板7と電′+fA6との間に気
泡か残らないようにする。また、接着剤8を塗布しない
部分を数箇所設けることにより、接着剤8の硬化後に、
防湿油としてのシリコーン油を間隙部に浸透させて、毛
細管現象により容易に注入できる。
この間隙部は接着剤8の中に直径か5〜20μmのグラ
スファイバー粉末を混入することで形成できる。
スファイバー粉末を混入することで形成できる。
本実施例の製造方法においては、第一絶縁層3を陽極酸
化法で形成するので、第一絶縁層3に化学量論的欠陥や
ピンポールが少ない。このため、第一絶縁層3の絶縁性
は高くなるので、電極2と電極6との間に流れるリーク
電流は極めて小さくなり、リーク電流は少なく、絶縁破
壊によるパネル破損は生じにくい。また、第一絶縁層3
にピンホールが少ないので、水分を吸着しにくく、水分
による発光層4の劣化を起こしにくい。このため、輝度
の低下の起こりにくい、寿命の長いELパネルを製造す
ることができる。
化法で形成するので、第一絶縁層3に化学量論的欠陥や
ピンポールが少ない。このため、第一絶縁層3の絶縁性
は高くなるので、電極2と電極6との間に流れるリーク
電流は極めて小さくなり、リーク電流は少なく、絶縁破
壊によるパネル破損は生じにくい。また、第一絶縁層3
にピンホールが少ないので、水分を吸着しにくく、水分
による発光層4の劣化を起こしにくい。このため、輝度
の低下の起こりにくい、寿命の長いELパネルを製造す
ることができる。
さらに、陽極酸化法により第一絶縁層3を形成した場合
には、RFスパッタ法で形成した場合と異なり電極2に
電子がチャージアップされて電極2か逆スパツタされる
ことがないので、電極2を構成するIn O5n02
、ITO等に黒化2 3 ・ が生じることはなく、光束を遮るという問題が起こらな
い。
には、RFスパッタ法で形成した場合と異なり電極2に
電子がチャージアップされて電極2か逆スパツタされる
ことがないので、電極2を構成するIn O5n02
、ITO等に黒化2 3 ・ が生じることはなく、光束を遮るという問題が起こらな
い。
尚、上記実施例では、ポ1〜リンエッヂング法で電極2
をス1〜ライブ状に形成し、この後に陽極酸化法により
第一絶縁層を形成した場合について説明したが、例えば
、次に示すような方法によることもできる。第3図(a
)、(b)は第一絶縁層の他の形成方法を示す説明図で
ある。この形成方法では、同図(a)に示すように、基
板1上に第一電極としての金属薄膜10を形成し、金属
薄膜10上にレジストパターン11を形成し、この後、
エツチングを行わすに、金属薄膜10を陽極酸化法によ
り酸化処理する。すると、レジストパターン11の形成
されない金属薄膜10の露出部分のみが酸化されて絶縁
層12になる。レジストパターン11を除去後、同図(
b)に示すように、絶縁層12と金属薄膜10が又1〜
ライブ状に形成されるが、陽極酸化法により金属薄膜1
0の表面を酸化処理して第一絶縁層とすることもできる
。
をス1〜ライブ状に形成し、この後に陽極酸化法により
第一絶縁層を形成した場合について説明したが、例えば
、次に示すような方法によることもできる。第3図(a
)、(b)は第一絶縁層の他の形成方法を示す説明図で
ある。この形成方法では、同図(a)に示すように、基
板1上に第一電極としての金属薄膜10を形成し、金属
薄膜10上にレジストパターン11を形成し、この後、
エツチングを行わすに、金属薄膜10を陽極酸化法によ
り酸化処理する。すると、レジストパターン11の形成
されない金属薄膜10の露出部分のみが酸化されて絶縁
層12になる。レジストパターン11を除去後、同図(
b)に示すように、絶縁層12と金属薄膜10が又1〜
ライブ状に形成されるが、陽極酸化法により金属薄膜1
0の表面を酸化処理して第一絶縁層とすることもできる
。
第4図(a)乃至(d)は本発明の製造方法の他の実施
例を示す工程説明図である。同図において、第1図の!
!!遣方法と同一の構成部分には同一の符号を付して説
明する。
例を示す工程説明図である。同図において、第1図の!
!!遣方法と同一の構成部分には同一の符号を付して説
明する。
= 11−
この実施例の製造に際しては、最初の工程で、同図(a
)に示すように、金属薄膜をホ1〜リソエ ′
ッチンクにより複数本のス1〜ライブ状として電極2を
形成する。
)に示すように、金属薄膜をホ1〜リソエ ′
ッチンクにより複数本のス1〜ライブ状として電極2を
形成する。
次の工程では、金属薄膜の端子部(図示せず)に陽極電
源を接続し、金属薄膜をリン酸又はしゅう酸等の希釈水
溶液中で陽極酸化して電[i2表面に酸化膜を形成し、
同図(b)に示すように、この酸化膜を第一絶縁層3と
する。
源を接続し、金属薄膜をリン酸又はしゅう酸等の希釈水
溶液中で陽極酸化して電[i2表面に酸化膜を形成し、
同図(b)に示すように、この酸化膜を第一絶縁層3と
する。
次の工程では、同図(c)に示すように、第一絶縁層3
の上に、電子ヒーム蒸着法、スパッタ法又はCVD法に
より、発光層4を形成する。
の上に、電子ヒーム蒸着法、スパッタ法又はCVD法に
より、発光層4を形成する。
次に、発光層4上に金属薄膜を形成し、この金属薄膜に
陽極電源を接続し、電極2をリン酸又はしゆう酸等の希
釈水溶液中で陽極酸化して酸化膜を形成し、この酸化膜
を第二絶縁層5とする。
陽極電源を接続し、電極2をリン酸又はしゆう酸等の希
釈水溶液中で陽極酸化して酸化膜を形成し、この酸化膜
を第二絶縁層5とする。
次に、第二絶縁層5上に電子ビーム蒸着法又はスパッタ
法により第二電極層6を形成する。この第二電極層6は
ストライプ状の電極2の延びる方向と直交する方向に延
ひるように、ホトリソエラ〜 12− チングにより複数本のストライプ状に形成される。
法により第二電極層6を形成する。この第二電極層6は
ストライプ状の電極2の延びる方向と直交する方向に延
ひるように、ホトリソエラ〜 12− チングにより複数本のストライプ状に形成される。
さらに、同図(d)に示すように、透明なカラス板より
なる封止板7を電極6の上面との間に僅かな間隙があく
ように基板1に接着剤8で取り付ける。
なる封止板7を電極6の上面との間に僅かな間隙があく
ように基板1に接着剤8で取り付ける。
第4図の製造方法においては、第一絶縁層3を陽極酸化
法で形成すると共に、第二絶縁層5をも陽極酸化法で形
成するので、電極2と電極6との間に流れるリーク電流
は第1図の場合より一層小さく、リーク電流や絶縁破壊
によるパネル破損のおそれが小さい。また、第一絶縁層
3と第二絶縁層5にピンホールが少ないので、水分によ
る発光層4の劣化を起こしにくく、輝度の低下が起こり
にくい、寿命の長いELパネルを製造することかできる
。
法で形成すると共に、第二絶縁層5をも陽極酸化法で形
成するので、電極2と電極6との間に流れるリーク電流
は第1図の場合より一層小さく、リーク電流や絶縁破壊
によるパネル破損のおそれが小さい。また、第一絶縁層
3と第二絶縁層5にピンホールが少ないので、水分によ
る発光層4の劣化を起こしにくく、輝度の低下が起こり
にくい、寿命の長いELパネルを製造することかできる
。
さらに、RFスパッタ法で形成した場合と異なり電極か
逆スパツタされることがないので、電極に黒化が生じる
ことはない。
逆スパツタされることがないので、電極に黒化が生じる
ことはない。
尚、第4図の実施例においては、第一絶縁層3と第二絶
縁層5の双方を陽極酸化法で形成した場台について説明
したが、第二絶縁層5のみを陽極酸化法で形成しても本
発明の目的とする効果は得られる。
縁層5の双方を陽極酸化法で形成した場台について説明
したが、第二絶縁層5のみを陽極酸化法で形成しても本
発明の目的とする効果は得られる。
また、第4図の実施例においては、ホトリソエッチツク
法で電極6をストライプ状に形成した場合について説明
しなか、例えは、次に示すような方法によることもでき
る。第5図は電極6の他の形成方法を示す説明図である
。この形成方法では、第二絶縁層5上に金属薄J113
を形成し、金属薄膜13上にレジストパターン14を形
成し、この後、エツチングを行わずに、金属薄膜13を
陽極酸化法により酸化処理する。すると、レジストパタ
ーン14の形成されない金属薄膜13の露出部分のみが
酸化されて絶縁層になる。レジストパターン14を除去
後、絶縁層12と金属薄膜よりなる電極6かス)−ライ
ブ状に形成される。この場合には、電極6部分には段差
かできないので、この上に膜形成をすることが容易にな
る。
法で電極6をストライプ状に形成した場合について説明
しなか、例えは、次に示すような方法によることもでき
る。第5図は電極6の他の形成方法を示す説明図である
。この形成方法では、第二絶縁層5上に金属薄J113
を形成し、金属薄膜13上にレジストパターン14を形
成し、この後、エツチングを行わずに、金属薄膜13を
陽極酸化法により酸化処理する。すると、レジストパタ
ーン14の形成されない金属薄膜13の露出部分のみが
酸化されて絶縁層になる。レジストパターン14を除去
後、絶縁層12と金属薄膜よりなる電極6かス)−ライ
ブ状に形成される。この場合には、電極6部分には段差
かできないので、この上に膜形成をすることが容易にな
る。
また、本発明は上記以外の他のELパネルの製造にも適
用できる。例えは、第6図は特開昭62= 14− −55893号公報に開示されたELパネルを示す断面
図である。同図において、第1図と同一の構成には同一
の符号を付して説明すると、このELパネルは、発光層
4と第一絶縁層3との間と、発光層4と第二絶縁層5と
の間とに、電子供給層として機能する低抵抗率(107
〜109Ω■(105〜106■/cMIのとき))の
絶縁層9が価えられている。このような構成のELパネ
ルにおいても、第1図又は第4図と同様に第一絶縁層3
又は第二絶縁層5を陽極酸化法で形成することができ、
同様の効果を得ることができる。
用できる。例えは、第6図は特開昭62= 14− −55893号公報に開示されたELパネルを示す断面
図である。同図において、第1図と同一の構成には同一
の符号を付して説明すると、このELパネルは、発光層
4と第一絶縁層3との間と、発光層4と第二絶縁層5と
の間とに、電子供給層として機能する低抵抗率(107
〜109Ω■(105〜106■/cMIのとき))の
絶縁層9が価えられている。このような構成のELパネ
ルにおいても、第1図又は第4図と同様に第一絶縁層3
又は第二絶縁層5を陽極酸化法で形成することができ、
同様の効果を得ることができる。
以上説明したように、本発明によれは、第−絶縁層又は
第二絶縁層の少なくとも一方を陽極酸化法により形成し
ているので、絶縁層には化学量論的欠陥やピンポールが
少なく、このなめ、絶縁層の絶縁性は高くなる。よって
、リーク電流や絶縁破壊によるパネル破損は生じにくい
。
第二絶縁層の少なくとも一方を陽極酸化法により形成し
ているので、絶縁層には化学量論的欠陥やピンポールが
少なく、このなめ、絶縁層の絶縁性は高くなる。よって
、リーク電流や絶縁破壊によるパネル破損は生じにくい
。
また、陽極酸化法で形成された絶縁層には、ピンポール
か少なく水分を吸着しにくいので、り一り電流による発
光層の劣化を起こしにくい。よって、輝度の低下の起こ
りにくい、寿命の長いELパネルを製造することができ
る。
か少なく水分を吸着しにくいので、り一り電流による発
光層の劣化を起こしにくい。よって、輝度の低下の起こ
りにくい、寿命の長いELパネルを製造することができ
る。
さらに、RFスパッタ法で形成した場合と異なり電極に
電子かチャージアップされて電極が逆スパツタされるこ
とがないので、電極に黒化か生じることはなく、光束を
遮るという問題が起こらない。
電子かチャージアップされて電極が逆スパツタされるこ
とがないので、電極に黒化か生じることはなく、光束を
遮るという問題が起こらない。
第1図(a)乃至(c)は本発明に係るELパネルの製
造方法の一実施例を示す工程説明図、第2図は従来のE
Lパネルの断面図、 第3図(a)、(b)は第1図の場合の第一絶縁層のな
の例を示す説明図、 第4図(a>乃至(c)はELパネルの製造方法の他の
実施例を示す工程説明図、 第5図は第二電極の他の製造方法を示す説明図、第6図
は本発明を適用できる他のELパネルを示す断面図であ
る。 = 16 = l・・・基板、 2・・・電極(第一電極層)、
3・・・第一絶縁層、 4・・・発光層、5・・・第二
絶縁層、 6・・・電極(第二電極層)。 特許出願人 沖電気工業株式会社 代理人 弁理士 前 1) 実 、 閃 0 .0 醍 豊 昭和63年 9月29日
造方法の一実施例を示す工程説明図、第2図は従来のE
Lパネルの断面図、 第3図(a)、(b)は第1図の場合の第一絶縁層のな
の例を示す説明図、 第4図(a>乃至(c)はELパネルの製造方法の他の
実施例を示す工程説明図、 第5図は第二電極の他の製造方法を示す説明図、第6図
は本発明を適用できる他のELパネルを示す断面図であ
る。 = 16 = l・・・基板、 2・・・電極(第一電極層)、
3・・・第一絶縁層、 4・・・発光層、5・・・第二
絶縁層、 6・・・電極(第二電極層)。 特許出願人 沖電気工業株式会社 代理人 弁理士 前 1) 実 、 閃 0 .0 醍 豊 昭和63年 9月29日
Claims (2)
- 1. 基板上に金属薄膜よりなる第一電極層を形成する
工程と、 陽極酸化法により、上記第一電極層の表面を酸化して第
一絶縁層を形成する工程と、 上記第一絶縁層上に発光層、第二絶縁層、及び第二電極
層を順に形成する工程とを有することを特徴とするEL
パネルの製造方法。 - 2. 基板上に第一電極層、第一絶縁層、及び発光層を
順に形成する工程と、 上記発光層上に金属薄膜を形成し、この金属薄膜を陽極
酸化法により酸化して第二絶縁層を形成する工程と、 上記第二絶縁層上に第二電極層を形成する工程とを有す
ることを特徴とするELパネルの製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63147350A JPH01315985A (ja) | 1988-06-15 | 1988-06-15 | Elパネルの製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63147350A JPH01315985A (ja) | 1988-06-15 | 1988-06-15 | Elパネルの製造方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01315985A true JPH01315985A (ja) | 1989-12-20 |
Family
ID=15428198
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63147350A Pending JPH01315985A (ja) | 1988-06-15 | 1988-06-15 | Elパネルの製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH01315985A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH04184893A (ja) * | 1990-11-19 | 1992-07-01 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 薄膜el素子 |
KR100373320B1 (ko) * | 1999-12-23 | 2003-02-25 | 한국전자통신연구원 | 탄탈륨산화막을 이용한 교류 구동형 전계 발광소자 제조방법 |
-
1988
- 1988-06-15 JP JP63147350A patent/JPH01315985A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH04184893A (ja) * | 1990-11-19 | 1992-07-01 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 薄膜el素子 |
KR100373320B1 (ko) * | 1999-12-23 | 2003-02-25 | 한국전자통신연구원 | 탄탈륨산화막을 이용한 교류 구동형 전계 발광소자 제조방법 |
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