JPH01314950A - 検体検査装置 - Google Patents

検体検査装置

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JPH01314950A
JPH01314950A JP14709588A JP14709588A JPH01314950A JP H01314950 A JPH01314950 A JP H01314950A JP 14709588 A JP14709588 A JP 14709588A JP 14709588 A JP14709588 A JP 14709588A JP H01314950 A JPH01314950 A JP H01314950A
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JP
Japan
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wavelength
beams
light
wavelengths
absorbance
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JP14709588A
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Moritoshi Miyamoto
守敏 宮本
Kazuo Yoshinaga
和夫 吉永
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Publication of JPH01314950A publication Critical patent/JPH01314950A/ja
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は免疫学的診断法として微量の抗原または抗体の
検出に用いられる検体検査装置、例えばラテックス凝集
反応を光学的に測定して抗原または抗体の検出を行なう
装置に関する。
〔従来の技術] 特定の抗体または抗原で感作した不溶性担体粒子(例え
ばラテックス粒子)が所定濃度で浮遊する懸濁液に抗原
または抗体を含む被検試料(例えば血清)を加えた懸濁
液を用意して照射光を照射する。その時、懸濁液中のラ
テックス粒子が分散状態にある場合は粒子径よりはるか
に長い波長の光は、第5図(a)のようにラテックス粒
子の存在にあまり影響されずに透過する。すなわち大き
な強度の透過光が得られる。ところが抗原・抗体反応に
よって前記感作されたラテックスが互いに結合し大きな
粒子径の粒子塊を形成し、凝集した粒子塊の粒子径が光
の波長に近づくと、第5図(b)のように粒子によって
光は散乱して透過光強度が減少する。この透過光強度の
時間的な変化を捕えた反応速度から懸濁液の濃度を測定
して分析する反応速度分析法や、反応が終了した後に懸
濁液の透過光強度や散乱光強度を測定して分析する反応
終端分析法等が従来から一般に知られている。これによ
って被検試料中の特定の抗原量または抗体量の測定が可
能となり、免疫学的診断が行なわれていた。
一例として、第3図のように透明な容器である光学セル
4の中に試料液である所定濃度のラテックス粒子懸濁液
を蓄え、それに対してレーザ光源1からレーザ光を照射
し、その透過光強度を光検出器6で検出して吸光度を求
め、試料液中の反応混合物の大きさや量を検出し、それ
によってラテックス粒子の凝集状態の判断ができ、目的
とする抗原または抗体の量を定量することができる。
[発明が解決しようとしている問題点]しかしながら、
上記従来例のようにラテックス粒子懸濁液の吸光度によ
ってラテックス粒子の凝集塊の大きさを検出する場合、
第4図に示すようにラテックス粒子塊の粒径が大きくな
るに従い吸光度は直線的に増加するが、照射光の波長が
400nmや600nmといった短い波長の場合は、ラ
テックス粒子がある一定の大きさを越えると、逆に吸光
度のグラフは低下してしまい、透過光強度より求まった
吸光度に対して2つの粒径が・対応してしまい、どちら
の粒径が正しい値か判断することができなかった。そこ
で吸光度のグラフが低下しないような長い波長の光、例
えば波長800nmの光を用いた場合には、ある粒径(
約1.0μm)以上になると粒径の変化に対して吸光度
の変化が小さく、測定感度が悪いという問題点かあフた
本発明は免疫反応生成物であるラテックス粒子塊がどの
ような粒径であっても測定可能で、免疫反応を精度良く
測定することのできる検体検査装置のI足イ片を目的と
する。
[問題点を解決するための手段] 上述した問題点を解決するため、試料液に照射光を照射
しそれによって発生する光を測定することにより試料液
中の粒子の凝集状態を測定する検体検査装置において、
前記照射光の光路中に光波長変換手段を備える。
[実施例] 以下、本発明の実施例を図面を用いて詳細に説明する。
第1図は本発明の実施例の構成図であり、波長800n
mの半導体レーザ光源1から出射されたレーザ光は集光
レンズ2の焦点位置に配され−る、波長変換手段である
非線形光学部材7に照射される。
ここで非線形光学部材7をエネルギ密度の高い焦点位置
に配置するのは、非線形光学部材の波長変換効率が照射
光のエネルギ密度が高いほど変換効率も高いためである
。変換効率に応じて非線形光学部材7のSHG効果によ
って半波長化すなわち400rvに変換された光は、変
換されなかプた元の800nmの光と同一光路をたどり
、非線形光学部材7の後方に配置された80Qnmの波
長の光のみを透過させるフィルタ8、及び400nmの
波長の光のみを透過させるフィルタ8°を順に切換えて
光路中に配置することによって800nm及び400n
mの波長の光が順に選択される0選択された波長の光は
集光レンズ3を通って、光学セル4の中に蓄えられた所
定濃度のラテックス懸濁液に照射される。この時光学セ
ル4中のラテックス懸濁液を透過した光は光検出@6に
より透過光強度が検出される。
この透過光強度は順に照射される800nm、400n
mの同波長の照射光に対応してそれぞれ検出され演算回
路11に入力される。
ラテックス懸濁液は第4図に示すように、照射光として
8QQnmと400nmの波長の光を用いた場合では吸
光度特性が異なり、両方の波長における透過光強度を測
定して吸光度を算出することにより2つの異なる測定デ
ータが得られる。この2つの吸光度のデータからラテッ
クス凝集塊の粒径を求める方法について以下説明する。
第4図を見ると800rvの波長の光の吸光度特性は吸
光度約1.8、ラテックス粒径約1.0μmまでは単調
増加であるが、それ以上になると吸光度の増加がほとん
どなくなる。すなわち800nmの波長の照射光で得ら
れた吸光度が1.8〜2.0程度であると正確なラテッ
クス粒径の算出が困難である。
また400nmの波長の光の吸光度特性は、吸光度約2
.8、ラテックス凝集塊0.5Atmで極大となりそれ
以降は傾きが反転している。これにより 400nmの
波長の照射光で得られた吸光度に対応するラテックス粒
径が2つあるため、正しいラテックス粒径を求めること
ができない。
このように単独で得られた吸光度からはラテックス粒径
を特定することは困難である。しかしながら、異なる波
長の照射光により得られる2つのデータを参照すること
によって正確なラテックス粒径を求めることができる。
まず波長800nmの吸光度を参照し、吸光度が1.8
より小さければ、すなわちラテックス粒径が1.0μm
より小さければ、その時の波長400nmあるいは80
0nmの吸光度に対するラテックス粒径が求めるラテッ
クス粒径である。この場合はどちらの波長に対する吸光
度を用いても良い、また波長800nmの吸光度が1.
8よりも大きければ、すなわちラテックス粒径が1.0
μmより大きければ、波長400μmの吸光度を参照し
て対応するラテックス粒径を求める。このように吸光度
グラフの測定感度の高い部分を使用することにより、精
度の高いラテックス粒径を算出することができ、それゆ
え高精度の免疫測定が可能となる。
[他の実施例] 第2図は本発明の他の実施例の構成図であり、第1図と
同一の符号は同一の部材を表わす。
本実施例は先の実施例に対して、2波長の光を同時に試
料液に照射し、透過光強度を各波長ごとに分離して独立
に検出する構成となっている。光学セル4後方の受光光
学系の光路中にはダイクロイックミラー9が設けられ、
波長800nmの透過光は゛ダイクロイックミラー9を
透過して光検出器6にて受光される。またダイクロイッ
クミラー9で反射された波長400nmの透過光は光検
出器10で受光される。これら光検出器6.10の出力
は演算回路11に入力される。
このようにして得られた2波長の光による吸光度から、
先の実施例と同様にして正確なラテックス粒径を求める
ことができる。
なお以上の実施例においては、2つの異なる波長を用い
たが、3つ以上の複数波長を用いることによって、更な
る精度向上をはかることが可能である。
[発明の効果] 以上本発明によれば、照射光の光路中に照射光を複数波
長化する手段を設け・各波長に応じた異なる測定データ
を得ることにより、従来法に比べ測定精度の高い検体検
査装置を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の実施例の構成図、 第2図は本発明の他の実施例の構成図、第3図は従来例
の構成図、 第4図はラテックス粒径と吸光度の関係の図、第5図は
測定原理の説明図 である。図中、

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、試料液に照射光を照射しそれによって発生する光を
    測定することにより試料液中の粒子の凝集状態を測定す
    る検体検査装置において、前記照射光の光路中に光波長
    変換手段を設けたことを特徴とする検体検査装置。 2、前記光波長変換手段は非線形光学部材である請求項
    1記載の検体検査装置。 3、前記照射光は半導体レーザ光源より発するレーザ光
    である請求項1又は2記載の検体検査装置。
JP14709588A 1988-02-01 1988-06-15 検体検査装置 Granted JPH01314950A (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP14709588A JPH01314950A (ja) 1988-06-15 1988-06-15 検体検査装置
US07/701,376 US5123731A (en) 1988-02-01 1991-05-13 Particle measuring device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP14709588A JPH01314950A (ja) 1988-06-15 1988-06-15 検体検査装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH01314950A true JPH01314950A (ja) 1989-12-20
JPH0574020B2 JPH0574020B2 (ja) 1993-10-15

Family

ID=15422369

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP14709588A Granted JPH01314950A (ja) 1988-02-01 1988-06-15 検体検査装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH01314950A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013064705A (ja) * 2011-09-20 2013-04-11 Hitachi High-Technologies Corp 自動分析装置及び分析方法

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013064705A (ja) * 2011-09-20 2013-04-11 Hitachi High-Technologies Corp 自動分析装置及び分析方法

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Publication number Publication date
JPH0574020B2 (ja) 1993-10-15

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