JPH01312826A - レジスト硬化装置 - Google Patents

レジスト硬化装置

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JPH01312826A
JPH01312826A JP14153888A JP14153888A JPH01312826A JP H01312826 A JPH01312826 A JP H01312826A JP 14153888 A JP14153888 A JP 14153888A JP 14153888 A JP14153888 A JP 14153888A JP H01312826 A JPH01312826 A JP H01312826A
Authority
JP
Japan
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mercury lamp
ultra
resist
circuit
illumination
Prior art date
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Pending
Application number
JP14153888A
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English (en)
Inventor
Hidehiro Funaki
船木 秀博
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
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Publication date
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Pending legal-status Critical Current

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Landscapes

  • Photosensitive Polymer And Photoresist Processing (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [発明の目的] (産業上の利用分野) 本発明はレジスト硬化装置に係り、特に半導体ウェハに
塗布されたレジストの硬化装置に関する。
(従来の技術) 水銀灯などが出す紫外線の照射量は、照射強度と照射時
間の積で決まる。しかし、水銀灯の効率低下で徐々に照
射強度が下がり、レジストの硬化度も落もてくる。
すなわち、従来の半導体ウェハの硬化装置では、第5図
に示すように予め決められた照度パターンを照度基準回
路12で設定し、その設定値に従って照度制御回路11
で選択した照度切換信号でランプ電源10を制御して、
半導体ウェハ3上に照射する照度を制御していたが、水
銀灯の点灯時間の軽過とともに照度が落ちる。第6図に
水銀灯の点灯時間に対する照度の変化を示す。
このため、従来は水銀灯の照射時間を長くしたり水銀灯
の交換を〒くしていた。
(発明が解決しようとする課題) すると、レジスト硬化膜がばらつくだけでなく、水銀灯
もむだとなる。
そこで本発明の目的は、レジスト硬化膜の品質管理が容
易で、水銀灯もむだにしないレジスト硬化装置を得るこ
とである。
[発明の構成] (課題を解決するための手段と作用) 本発明は、レジスト硬化装置の照射箱内に置かれた半導
体ウェハの近傍に紫外線の照射強度を検出する紫外線測
定器を設け、更にこの値と照度基準回路で予め設定され
た基準値とを比較して所定の範囲にあるか否かをチエツ
クし、範囲外であれば補正してその値を照度制御回路へ
送る照度制御条件発生回路を設けて、水銀灯が出す紫外
線の照射強度を常に所要の強度に制御することで、レジ
スト硬化膜の品質を安定させ、水銀灯もむだにしないレ
ジスト硬化装置でおる。
(実施例) 以下、本発明のレジスト硬化装置の一実施例を第1〜4
図で説明する。但し、第5図と重複する部分は省く。
第1図は本発明の一実施例を示すレジスト硬化装置の照
射箱の部品配置を示す斜視図、第2図(31第1図の平
面図、第3図は正面図、第4図は制御装置の制御ブロッ
ク図である。
第1図において、箱体2の内部上側には、水銀灯1が取
付けられ、底部中央にはレジストが塗イ5された半導体
ウェハ3が横に首かれ、底部6隅【こは水銀灯が出す紫
外線の照射強度を検出して後述する照度制御条件発生回
路13へ伝送する紫外線測定器4が受光面を傾けて設け
られている。
そして、図示しない制御装置には、第・1図に示すよう
に照射強度を予め設定した照度l豊V回2812からの
データと、上記紫外線測定器で検出(〕た照度を比較し
て所定の範囲にあるか否かをチエツクし、範囲外であれ
ば補正してその値を照度制御回路11へ送る前述の照度
制御条件発生回路13がStUられ−Cいる。
このような構成のレジスト硬化装置においては、。
水銀灯の初期のばらつきや、点灯時間による照度低下に
も、水銀灯の照度を検出した値に基づいて。
常にランプ電源の出力を照度基準値に制御できるので、
常に所定の紫外線をウェハ上に照射できる。
[発明の効果] 以上、本発明のレジスト硬化装置によれば、半導体ウェ
ハ上に紫外線を照射する水銀ランプの照射強度を検出す
る紫外線検出器を組体内に設け、この値と予め照度が設
定された照度基準回路からの値とを照度制御条件発生回
路で比較して補正し、水銀灯の電源を制御する照度制御
回路へ伝送して紫外線の照度を制御したので、半導体ウ
ェハのレジスト硬化膜の品質が安定し、水銀灯をむだに
することのないレジスト硬化装置を得ることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明のレジスト硬化装置の一実施例を示すレ
ジスト硬化装置の照射箱の斜視図、第2図は第1図の平
面図、第3図は第1図の正面図、第4図は本発明のレジ
スト硬化装置の一実施例を示すレジスト硬化装置の制a
装置のブロック図、第5図は従来のレジスト硬化装置の
制御装置のブロック図、第6図はこの種のレジスト硬化
装置等に使われる水銀灯の特性図である。 1・・・水銀灯、   2・・・照射箱3・・・半導体
ウェハ ト・・紫外線測定器 13・・・照度制御条件発生回路 (8733)代理人 弁理士 猪 股 社 晃(ほか 
1名) 第1図 第3図 底4図 ¥44トウー・  第  5  図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】  予め照射強度を設定した照度基準回路のデータを伝送
    された照度制御回路で電源を制御し、この電源に接続さ
    れた水銀灯でレジストが塗布された半導体ウェハ上に紫
    外線を照射するレジスト硬化装置において、 前記半導体ウェハを収納した紫外線照射箱内に前記紫外
    線測定器を設け、この測定データと前記照度基準回路の
    データを比較し補正して、前記照度制御回路へ伝送する
    照度制御条件発生回路を設けたことを特徴とするレジス
    ト硬化装置。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004237724A (ja) * 2003-01-17 2004-08-26 Konica Minolta Holdings Inc 液体吐出装置

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004237724A (ja) * 2003-01-17 2004-08-26 Konica Minolta Holdings Inc 液体吐出装置
JP4586365B2 (ja) * 2003-01-17 2010-11-24 コニカミノルタホールディングス株式会社 液体吐出装置

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