JP2000070889A - 表面処理装置 - Google Patents
表面処理装置Info
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- Cleaning And De-Greasing Of Metallic Materials By Chemical Methods (AREA)
Abstract
放射照度を常に一定範囲に制御することによって、周囲
の湿度に影響を受けることなく、安定した表面処理効果
を得ることができる表面処理装置を提供することを課題
とする。 【解決手段】 処理装置本体11の内部に紫外放射光源
14を装着し、また同紫外放射光源の照射部に処理室1
2を配置し、さらに処理室内のオゾン濃度を測定するオ
ゾン濃度計20と、オゾン濃度により回転数が変化する
排気ファン24とを有し、処理室内のオゾン濃度により
排気ファンの回転数を制御し、絶えずオゾン濃度が一定
になるように構成してある。またオゾン濃度の替わりに
処理室12内の紫外放射照度を測定し、紫外放射照度に
応じて排気ファン24の回転数を制御し、絶えず紫外放
射照度が一定になるように構成してもよい。
Description
に関する。
属、セラミック等の材料表面に付着している有機物の汚
れを紫外放射とオゾンにより分解除去し、またプラスチ
ック等の有機系材料の表面改質においても紫外放射とオ
ゾンが使用されている。従来の表面処理装置は、例えば
図5に示すように、箱体状の装置本体1の内部に反射体
2を配置し、さらに同反射体2の内部に所定の間隔で紫
外放射光源3を装着して構成してある。紫外放射光源3
としては、例えば低圧水銀ランプを用いて構成してあ
る。さらに紫外放射光源3の下方に位置して、被処理物
4をコンベアー5等で搬送するように構成してある。
によると、紫外放射光源から放射される紫外放射と同紫
外放射光源から生成されるオゾンにより、プラスチッ
ク、ガラス、金属、セラミック等の材料表面に付着して
いる有機物の汚れを分解除去することができる。しかし
オゾン濃度は周囲の環境条件、特に湿度により大きく変
化して、被処理物の表面処理効果も影響を受け、表面処
理効果が変動する欠点がある。さらにオゾン濃度が変化
することによって、オゾンが吸収波長域である約200
nmから300nmの紫外放射照度も変化し、表面処理
効果が変動する欠点がある。
って、処理室内のオゾン濃度または処理室内の特定波長
の紫外放射を常に一定範囲に制御することによって、周
囲の湿度に影響を受けることなく、安定した表面処理を
行うことができる表面処理装置を提供することを目的と
する。
するために次の構成とする。つまり請求項1に記載の発
明は、内部に紫外放射光源を装着してなる処理装置本体
と、同紫外放射光源の照射部に配置してなる処理室と、
処理室内のオゾン濃度を測定するオゾン濃度計と、オゾ
ン濃度により回転数が変化する排気ファンとを有して構
成してある。またオゾン濃度により排気ファンの回転数
を制御し、絶えず処理室内のオゾン濃度を一定とするよ
うに構成してある。
のオゾン濃度を常に一定範囲に制御することができ、周
囲の湿度の影響を受けることなく、安定した表面処理効
果を得ることができる。
決するために次の構成としてある。つまり内部に紫外放
射光源を装着してなる処理装置本体と、同紫外放射光源
の照射部に配置してなる処理室と、処理室内の紫外放射
照度を測定する測定器と、紫外放射照度により回転数が
変化する排気ファンとを有して構成してある。また測定
器の信号を受けて排気ファンの回転数を制御し、絶えず
紫外放射照度を一定とするように構成してある。
の特定波長の紫外放射を常に一定範囲に制御することが
でき、周囲の湿度の影響を受けることなく、安定した表
面処理効果を得ることができる。
て説明する。図1及び図2において、11は処理装置本
体であって、処理室12を有して箱形に構成してある。
13は処理装置本体11の内部に配置してなる反射体で
あって、例えば鏡面のアルミニュウム板を用いて構成し
てある。14は反射体13の内部に装着してなる紫外放
射光源であって、例えば40ワットの低圧水銀ランプを
用いて構成してある。また同紫外放射光源14は、例え
ば6灯を被処理物の搬送方向に沿って、5cmの間隔を
有して構成してある。また同紫外放射光源14は、20
0nm以下の紫外放射によって、オゾンを生成し、さら
に300nm以下の紫外放射を被処理物の表面に照射す
るように構成してある。
被処理物であって、例えばプラスチック、ガラス、金
属、セラミック等の素材で構成されたものである。同被
処理物15は例えばコンベアー16で搬送する。
なるオゾン濃度計であって、処理室12内のオゾン濃度
を絶えず測定する。21はオゾン濃度計20に一端を接
続してなるオゾン濃度測定用サンプリング部であって、
例えば中空状に構成し、処理室12内のオゾンを採取す
るように構成してある。22はインバータ、23は入出
力インターフェースであって、オゾン濃度計20からの
信号を受けてインバータ22に信号を送るように構成し
てある。24は排気ファン、同排気ファン24はインバ
ータ22に入力された排気ファン回転数設定に基づい
て、インバータ22に送られた出力信号(電圧)に応じ
て回転数を制御するように構成してある。オゾン濃度が
インバータ22に入力された排気ファン設定値よりも高
い場合は、排気ファン24の回転数を増やし、排気ファ
ン設定値よりも低い場合は、排気ファン24の回転数を
減らし、処理室12内のオゾン濃度を絶えず排気ファン
設定値に制御することができる。また処理室12内のオ
ゾンが外部に流出するのを防止するために、処理室12
内は負圧に構成してある。
について説明する。請求項2に記載の発明は請求項1に
記載の発明と、処理装置本体11、処理室12、反射体
13紫外放射光源14、被処理物15、コンベアー16
は同一である。図3において、30は300nm以下の
波長に感度域を有する照度計、31は照度計受光部であ
って、先端部を被処理物15の近傍に配置し、照度計3
0に信号を送るように構成してある。32はインバー
タ、33は入出力インターフェースであって、照度計3
0からの信号を受けてインバータ32に信号を送るよう
に構成してある。34は排気ファン、同排気ファン34
はインバータ32に入力された排気ファン設定値に基づ
いて、インバータ32に送られた出力信号(電圧)に応
じて、回転数を制御するように構成してある。照度がイ
ンバータ32に入力された排気ファン設定値よりも高い
場合は、排気ファン34の回転数を減らし、設定値より
も低い場合は、排気ファン34の回転数を増やし、処理
室12内の紫外放射照度を絶えず設定値に制御すること
ができる。また請求項2に記載の表面処理装置において
も請求項1の記載に表面処理装置と同じく処理室12内
のオゾンが外部に流出するのを防止するために、処理室
12内は負圧に構成してある。
オゾン排風量と、オゾン濃度の関係を説明する。図5に
示した従来の表面処理装置によると、図6に示すよう
に、湿度が上昇すると、オゾン濃度は低下し、紫外放射
照度は上昇する。これは、オゾン分子が空気中の水分子
に衝突し分解するためである。さらにオゾン濃度が低下
すると、オゾンによる紫外放射(200nmから300
nm)吸収量が減るため紫外放射照度は逆に上昇する。
これに対し請求項1に記載の本発明によると、図4に示
すように、湿度が上昇するに従いオゾン排風量を減らす
ことにより、オゾン濃度は絶えず一定範囲内に維持する
ことができ、安定した表面処理を行うことができる。請
求項2に記載の発明によると、湿度が上昇するに従いオ
ゾン排風量を減らすことにより、紫外放射照度は絶えず
一定範囲内に維持することができ、安定した表面処理を
行うことができる。
と、処理室内のオゾン濃度を常に一定範囲に制御するこ
とができ、周囲の湿度に影響を受けることなく、安定し
た表面処理を行うことができる特別な効果を有する。
と、処理室内の紫外放射照度を常に一定範囲に制御する
ことができ、周囲の湿度に影響を受けることなく、安定
した表面処理を行うことができる特別な効果を有する。
濃度の関係を示す説明図。
濃度の関係を示す説明図。
Claims (2)
- 【請求項1】内部に紫外放射光源を装着してなる処理装
置本体と、同紫外放射光源の照射部に配置してなる処理
室と、処理室内のオゾン濃度を測定するオゾン濃度計
と、オゾン濃度により回転数が変化する排気ファンとを
有し、オゾン濃度により排気ファンの回転数を制御し、
絶えずオゾン濃度を一定としたことを特徴とする表面処
理装置。 - 【請求項2】内部に紫外放射光源を装着してなる処理装
置本体と、同紫外放射光源の照射部に配置してなる処理
室と、処理室内の紫外放射照度を測定する測定器と、紫
外放射照度により回転数が変化する排気ファンとを有
し、測定器の信号を受けて排気ファンの回転数を制御
し、絶えず紫外放射照度を一定としたことを特徴とする
表面処理装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP24465998A JP4161142B2 (ja) | 1998-08-31 | 1998-08-31 | 表面処理装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP24465998A JP4161142B2 (ja) | 1998-08-31 | 1998-08-31 | 表面処理装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2000070889A true JP2000070889A (ja) | 2000-03-07 |
JP4161142B2 JP4161142B2 (ja) | 2008-10-08 |
Family
ID=17122050
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP24465998A Expired - Fee Related JP4161142B2 (ja) | 1998-08-31 | 1998-08-31 | 表面処理装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4161142B2 (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN113313929A (zh) * | 2020-12-30 | 2021-08-27 | 贵州电网有限责任公司 | 一种用于存储LoRa技术的电能表通信模组的存储装置 |
CN114273339A (zh) * | 2021-12-30 | 2022-04-05 | 博能传动(苏州)有限公司 | 变频驱动器 |
-
1998
- 1998-08-31 JP JP24465998A patent/JP4161142B2/ja not_active Expired - Fee Related
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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CN113313929A (zh) * | 2020-12-30 | 2021-08-27 | 贵州电网有限责任公司 | 一种用于存储LoRa技术的电能表通信模组的存储装置 |
CN114273339A (zh) * | 2021-12-30 | 2022-04-05 | 博能传动(苏州)有限公司 | 变频驱动器 |
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JP4161142B2 (ja) | 2008-10-08 |
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