JPH01308944A - 蛍光性微粒子分析装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、免疫学、細胞工学、臨床診断等の分野に使用
される７０−サイトメーダ（Ｆｌｏｗ　ｃｙｔｏ−ｍｅ
ｔｅｒ）やセルソータ（Ｃｅｌｌ　５ｏｒｔｅｒ）　ノ
ような、ｇ！。

体中の血球や細胞等の本来蛍光発光性を有するかまたは
蛍光発光性を有するように処理が施された微粒子（以後
この微粒子を蛍光性微粒子ということがある）の種類や
性状等を分析する装ｆ、％に小形なため取り扱いが容易
でかつ保守作業の頻度が少ない蛍光性微粒子分析装置に
関する。

〔従来の技術〕

第６図は従来の蛍光性微粒子分析装置の構成図である。

図において，１は蛍光性微粒子２を含んで流動する被測
定液３をレーザビーム１ａで連続的に照射するようにし
た投光部、４はレーザビーム１ａで被測定液３が照射さ
れることによつ″ＣＣ液液３中蛍光性微粒子２から出射
されるビーム１ａの散乱光５を受光し℃この結果に応じ
た受光信号４ａを出力する散乱光受光部で、６は被測定
液３がビーム１ａで照射されることによって該被測定液
３中の微粒子２から出射されろ蛍光７を受光し℃この結
果に応じた受光信号６ａな出力する蛍光受光部である。

勿論、この場合、散乱光５はビーム１ａと同じ波長の光
であり蛍光７はビーム１ａとは異なる波長の光であるの
で、受光！ｌ（６には蛍光７を選択する光学フィルタが
設けられ１いろ。

８は信号４ａと６ａとが入力されこれらの両人力信号に
つい工所定の信号処理を行つ℃微粒子２に対する所望の
分析を行うようにした分析ｇ１１．９は被測定液３を除
（図示の各部からなる蛍光性微粒子分析装置である。

さ″Ｃ１分析装Ｒ９は上述のように構成され℃いるが、
一般に、このような蛍光性微粒子から出射される蛍光を
利用する装置では微粒子を照射する光が短波長である程
強い蛍光が得られて受光信号６ａのＳＮ比が向上するの
で、第５図の場合レーザビーム１ａの波長を短くすると
各種の分析に好都合である。このため１分析装置９にお
い工は。

投光部１とし′Ｃ，通常、４８８（ｎｍ）または５１５
（ｎｍ）のレーザ光を出射するアルゴンイオンレーｆ−
？　５９０　［ｎｍ）のレーザ光を出射するアルゴンイ
オンレーザ励起の色素レーザなどが用いられている。ま
た、上述した蛍光性微粒子２は、測定対象の顕微粒子が
本来蛍光発光性を持っていない場合、Ｆ　Ｔ　Ｉ　Ｃ（
ｆｌｕｏｒｅｓｃｅｉｎ　１ｓｏｔｈｉｏｃｙａｎａｔ
ｅ）　。

Ｅ　Ｂ　（ｅｔｈｉｄｉｕｍ　ｂｒｏｍｉｄｅ）　、　
Ｐ　Ｉ　（ｐｒｏｐｉｄｉｕｍ　１ｏｄｉｄｅ）　、Ｍ
　Ｉ　（ｍｉｔｈｒａｍｙｃｉｎｅ）　、Ａ　Ｏ（ａｃ
ｒｉｄｉｎｅ　ｏｒａｎｇｅ）等の蛍光発光性物質で上
記の顕微粒子を染色したり、あるいは上記の蛍光発光性
物質と顕微粒子とを特異的に結合させたりＬ毛蛍光発光
性が形成さｔ１″Ｃおり、このような処理が施された蛍
光性微粒子は上述のレーザ光源で照射されろと波長４０
０〜７００Ｃｎｍ）の間にピーク波長があり１士１００
　（：ｎｍ）程度の半値幅を有する蛍光を出射するのが
一般的となり１いる。

〔発明が解・決しようとする課題〕

上述したように、従来の蛍光性微粒子分析装置９におい
℃は投光部ｌに連続発振のアルゴンイオンレーザ装置や
アルゴンイオンレーザ励起の色素レーザ装置が用いられ
ている。ところが、この場合に採用され℃いるアルゴン
イオンレーザ装置では、ＳＮ比の高い蛍光や散乱光を得
るために非常に強い強度のレーザビームを連続的に出射
しなければならないので１通常１発振器が１〔ｍ３以上
の長さを有し℃おりまた総重量も６０〜１００　Ｃｋｇ
）に違し℃い℃、レーザ装置が非常に大形となっている
。したかつ−Ｃ，分析装置９には装置全体の形状が大形
になつ工取り扱いに不便であるという問題点がある。ま
た１分析装置９の場合、アルゴンイオンレーザ発損器の
プラズマチ＾−ブの寿命が連続発振のため４０００〜５
０００時間と短くなつ℃い′ｃ、このためプラズマチ＾
−ブの交換頻度が高いので保守作業が煩雑であるという
問題点もある。

本発明の目的は、上述した投光部の光源を小形かつ長寿
命にすることができろようにし℃、取り扱いが容易でか
つ保守作業頻度の少ない蛍光性微粒子分析装置を得ろこ
とにある。

〔課題を解決するための手段〕 上記目的達成のため、本発明によれば、流動する被測定
液な第１照射点におい″Ｃ第１光ビームで連続し℃照射
する第１投光部と、前記被測定液が前記第１光ビームで
照射さ４ろことによつ″Ｃ該被測定液中の蛍光性微粒子
から出射さｉる該第１光ビームの散乱光を受光し℃この
結果に応じた第１受光信号を出力する第１受光部と、前
記被測定液におけろ前記ａｌ照射点よりも下流の第２照
射点において前記被測定液を第２光ビームでパルス状に
照射する第２投光部と、前記被測定液が前記第２ｙｔ、
ビームで照射されることによつ″Ｃ該被測定液中の前記
蛍光性微粒子から出射さ１１．ｂ該第２光ビームの散乱
光を受光し℃この結果に応じた第２受光ｆＳ号を出力す
る第２受光部と、前記被測定液が前記第２光ビームで照
射されろことによつ″Ｃ前記被副側液中の前記蛍光性微
粒子から出射される蛍光を受光し℃この結果に応じた第
３受光信号を出力する第３受光部とを備え、前記第２及
び第３受光信号を用いてＡｔＩ紀蛍光性微粒子の分析を
行う蛍光性微粒子分析装置であつて、前記第２投光ｆｆ
ｌは前記第１受光偏号が出力された後所定の時間経過毒 後前記第２ビームを出射するように蛍光性微粒子分析装
置を構成するものとする。

〔作用〕

上記のように構成すると、第１照射点に蛍光性微粒子が
到来したことを第１受光部で検出するとこの微粒子に第
２照射点で強い第２光ビームが照射されて、その結果、
第２及び第３受光信号を用いて従来の分析装置における
と同様な分析が行われることになり、この場合、第１光
ビームは連続的に出射されろものの蛍光性微粒子の存在
が検出できる程度であればそれ以上に強い強度である必
要はなく、また第２光ビームは強い瞬時強度を有しτい
ればパルス状でもよいので、結局、この場合、第１及び
第２投光部には小形でかつ寿命の長い半導体レーザやＨ
ｅ−Ｎｅレーザが使用できることになる。したかつ１：
１上記のように構成すると、小形に構成できるため覗り
扱いが容易で、かつ保守作業頻度の少ない蛍光性微粒子
分析装置が得られろことになる。

〔実施例〕

第１図は本発明の一実施例の構成図である。図において
、１０は蛍光性微粒子２を含んだ被測定液３が収容され
た密閉試料容器、　　１１はシース液と呼ばれる電解質
溶液１２が収容された密閉シース液容器で、シース液１
２は微粒子を含まないように精製さｈ”ｃいろ。容器Ｉ
Ｏ及び１１はそれぞれ圧力調整器１３．１４を介し℃窒
素ガス１５が導入されろことによって被測定液３及びシ
ース液１２をそれぞれ試料管１６及びセル１７に圧送す
るように構成され℃おり、この圧送は圧力調整器１３．
１４の各作用で定流量で行われるようになっている。１
８は試料管１６とセル１７とからなり、これらに導入さ
れた被測定液３とシース１２とを１図示の構成によつｃ
、１０〜４０〔μｍ〕程度の直径を有する被測定液３か
らなる円柱状試料流１９と、この試料流１９を同軸状に
取り巻く外径５０〜１００〔μｍ１８ｆのＭ状に形成さ
れたシース液１２からなろシース流２ｏと、で構成さね
だ液流２１とし″Ｃ流出させるようにした液流形成装置
で、この場合、液流２１の流速は１０（：ｍ／３）程度
となりτいる。また、この場合、シース流２゜は試料流
１９に層流状態を保たせるために設けられ℃いる。

２２は、連続見損ヲ行っ℃レーザ光２３ａを出射するレ
ーザ見損器２３と、レーザ光２３ａを集束して第１光ビ
ームとし℃のレーザビーム２５を出射するようにした集
束レンズ系２４とからなり。

レーザビーム２５で、試料流１９の第１照射点２６にお
い℃、該試料流１９を該試料流１９に垂直にかつ連続的
に照射するようにした第１投光部、２７は試料流１９が
レーザビーム２５で照射されることによ２″にの試料流
１９中の蛍光性微粒子２から出射されるビーム２５の散
乱光２８を受光し℃この受光結果に応じた第１受光信号
２７ａを出方する第１受光部で、この受光部２７は、散
乱光２８を集光する集光レンズ２９と、レンズ２９で集
光された散乱光？受光し１：電気伽号とし工の第１受光
信号２７ａを出力する光電変換器３ｏと、変換器３０の
受光視野を制限し℃迷光の入射を防止するアパーチャ３
１と、液流２１を透過したレーザビーム２５の透過光を
吸収し℃受光１号２７ａに迷光の影響が出ないようにす
るビームストッパ３２とで構成され℃いる。３３は第１
投光！１１２２と第１受光部２７とからなる第１光学系
である。

第１図におい工は第１光学系３３が上述のように構成さ
れ工いろが、光学系３３には、受光部２７の光軸がレー
ザビーム２５０光軸に一致し℃いる前方散乱光受光方式
と、受光部２７の光軸がビーム２５の光軸と交差し℃い
ろ側方散乱光受光方式とがあり１通常、側方散乱光受光
方式の場合、光学系３３ではビーム２５の光軸と受光部
２７０光軸と液流２１の軸線とが互いに直交するように
構成され疋いろ。そうし″Ｃ１第１図においてを工、前
方散乱光受光方式の場合、散乱光２８の強度が強いので
、１光電変換器３０にはホトダイオードな採用しており
、また、レーザ発振器２３には、７８０（ｎｍ）または
７５０〔ｎｍ〕の波長を有するレーザ光２３ａを出射す
る出力１５〜２０Ｃｍｗ）程度の連続発振半導体レーザ
な採用するか、または６３３（：ｎｍ）の波長のレーザ
光２３ａを出射する出力５Ｃｍ　ｗ　）程度の連続見損
Ｈｅ−Ｎｅレーザを採用し℃いる。したかつＣ，この場
合、レーザ発振器２３が小形に形成されかつ長寿命とな
ることが明らかである。第１図において、光学系３３を
側方散乱光受光方式とした場合、散乱光２８の強度が弱
くなるので、レーザ発振器２３に上述のＨｅ−Ｎｅレー
ザを用い工光電変換器３０には光電子増倍管な用いるが
、この場合も矢張りレーザ発振器２３が小形かつ長寿命
になることは前方散乱光受光方式の場合と同様である。

Ｈｅ−Ｎｅレーザの場合、半導体レーザに比べ１出力が
小さくなるのは１発振波長が短いため散乱光強度が強（
なるからである。

第１図におい℃、３４は、試料流１９における前述の第
１照射点２６よりも下流の第２照射点３５において：、
該試料流１９を第２光ビーム３６で試料流１９に垂直に
所定時間幅τのパルス状に照射するようにした第２投光
部、３７は試料流１９が第２光ビーム３６で照射される
ことによつ″Ｃ＃試料流１９中の蛍光性微粒子２から出
射されろ該光ビーム３６の側方散乱光３８を受光してこ
の結果に応じた第２受光信号３７ａを出力するようにし
た第２受光部で％　３９は試料流１９が光ビーム３６で
照射されろことによつ″Ｃ該試料流１９中の蛍光性微粒
子２から出射されろ蛍光４０を受光してこの結果に応じ
た第３受光偏号３９ａを出力するようにした第３受光部
である。第３受光部３９は。

蛍光４０を含む光ビーム３６の散乱光を集光する集光レ
ンズ４１と、レンズ４１で集光された散乱光のうち蛍光
４０のみを透過させろ光学フィルタ４２と、フィルタ４
２を透過した蛍光４０を受光し″Ｃ電気信号とじ℃の第
３受光信号３９ａに変換する光電子増倍管４３と、増倍
管４３の受光視野を限定して迷光の入射を防止するアパ
ーチャ４４と、液流２１を透過した光ビーム３６の透過
光を吸収するビームストッパ４５とで構成され℃いＣ１
この場合、第２受光部３７と第３受光部３９とは各光軸
ｈ１一致するように対向配置され、かつ両受光ＶＡ３７
．３９の光軸が光ビーム３６の光軸及び液流２１の軸線
の双方に直交するように構成され工いろ。なお１図示し
工いないが、第２受光部３７には、散乱光３８に含まれ
る上述の蛍光４０を除去し１：、光ビーム３６と同一の
波長の散乱光による第２受光偏号３７ａが得られるよう
にする光学フィルタが設けもれ工いる。４６は受光信号
２７ａと３７ａと３９ａとが入力され、信号３７ａと３
９８とを用い℃所定の信号処理を行つ℃蛍光性微粒子２
に対する所望の分析を行うと共に、第１受光信号２７ａ
を構成する電気パルスが入力されるごとに所定の信＠態
様の発光指命信号４６ａを出力するようにした信号処理
部で％第２投光部３４は指令信号４６ａが入力されると
後述する所定時間経過後前述した時間幅τのパルスＡ、
−ム３６を出射するようになっている。

次に、第１図における差部の動作を第２図を参照して説
明する。すなわち、第１図においＣは。

各部が上述のように構成され毛いるので、試料管１６に
注入された蛍光性微粒子２が試料流１９と共に流下し″
ｃ第１光ビーム２５を横切ると散乱光２８がパルス状に
出射されｔ、その留果元電変換器３０が出力する第１受
光信＠２７　ａ　Ｉ：は第２図に示したような電気パル
ス４７が現れろ。そうし１１元ビーム２５を横切った微
粒子２がさらに流下した時、既に、この微粒子２により
″Ｃ横切られるように第２光ビーム３６が出射さｔ１工
いたとすると、この場合も矢張り、微粒子２が光ビーム
３６を横切ろことによつ℃散乱光３８及び蛍光４０がパ
ルス状に出射されるので、光電子増倍管４３が出力する
第３受光信号３９ａには第２図に示したような電気パル
ス４８が現れる。また、第２受光部３７が出力する第２
受光信号３７ａにも電気パルス４８と同じ時間幅を有す
る電気パルスが現れろ。そうし″Ｃ１信号処理部４６は
このような信号２７ａ及び３９ａに現れろ電気パルスを
用い℃上述の分析動作を行うように構成され１いるので
、信号処理部４６のこの分析動作によつ℃微粒子２の種
類や性状等が判明することになる。

第１図においＣは信号処理部４６が上述のように動作す
るので、第１照射点２６と８ｇ２照射点３５との間の距
離なり、第２照射点３５における光ビーム３６の幅をＷ
２．微粒子２の速度をその変動も考えτＶ±ΔＶとした
場合、微粒子２が照射点２６に到達した時刻ｔＱから（
１）式で表さ名る時間ＴＩを経過した時刻ｔ１で第２投
光部３４から光ビーム３６を出射させ′Ｃ１時刻ｔｏか
ら（２）式で表される時間Ｔ、を経過した時刻ｔ２で光
ビーム３６を消滅させるようにし工も微粒子２の分析を
行うことができることは明らかである。

Ｔｔ　−（Ｌ−Ｗｔ／２）／（Ｖ＋Δｖ）　　、、、、
、、（１１Ｔ！　＝（Ｌ＋Ｗｔ／ｚ）／（Ｖ−ΔＶ　）
　　−・・−・（Ｚこのため、第１図においＣは、第１
受光部２７の出刃信号２７ａに電気パルス４７が現れる
と信号処理部４６から起動信号４６ａが出力されて。

この結果、第２投光部３４が時刻ｔｔ＝（ｔｏ＋’ｒ。

−ΔＴ）で元ビーム３６を出射し工時側ｔ２＝＝（ｔＱ
十Ｔ、＋ΔＴ）で光ビーム３６を消滅させるように構成
されている。つまり、この場合、前述した光ビーム３６
のパルス幅τは１３式で表される時間幅となつ℃いろ。

ここに、ΔＴは余裕時間である。

τ＝ｔ　２−ｔ　１＝Ｔ、−Ｔ、＋２ΔＴ　　・・・・
・・Ｃ３すなわち、第１図においＣは、第２投光部３４
が第５図における投光Ｓ　ｔのように常時光ビーム３６
を出射するのではなく′Ｃ１微粒子２が第１受光部２７
で検出されるごとに上述のタイミングで時間幅でのパル
ス状光ビーム３６を出射するように構成されていればよ
いので、この場合第２投光部３４を小形に形成しうろこ
とが明らかである。

因に、今、仮に、　Ｌ　＝　ｌ　ｆｌａｗ）、Ｗｌ　＝
１０　Ｃμｍ）　。

Ｖ＝１０Ｃｍ／ｓ）、ＡＶ／Ｖ＝０．５Ｃ％）　とする
と、Ｔ。

＝９９〔μｇ）、Ｔ、＝１０１Ｃμｓ〕となるので、τ
＝２〔μＳ〕＋２ΔＴとなる。

第３図は第１図に示した第２投光部３４の第１構成例５
６の構成図である。図におい工、４９は波長８９０〔ｎ
ｍ〕のレーザ光４９ａを出力１０　［Ｗ）で出カイろこ
とのできる半導体レーザ、５０はレーザ光４９ａを集光
しｃＬ　Ｉ　Ｎ　ｂ　Ｏｓを用いた導波路型の非線形光
学素子５１に導入するようにしたレンズで、光学素子５
１は１図示したように、レンズ５０により１入射される
レーザ光５０ａの進光方向に対し１角度θの方向に８９
０／２＝４４５Ｃμｍ〕の波長のレーザビーム５２を出
射するように構成されている。ここに、θは１５〜２０
度程度の角度である。５３はレーザビーム５２の開口角
の整合用レンズ、５４はレンズ５３を透過したレーザビ
ームを集束し℃前述の第２光ビーム３６として出射する
ようにした集束レンズで、５５蚤工発光指令信号４６ａ
が入力されると半導体レーザ４９かも上述した時刻ｔｌ
に時間幅τのレーザ光４９ａを５００ＣｍＷ）程度のパ
ワーで出射させろようにしたレーザ駆動部である。この
場合、半導体レーザ４９から上記のパワーを有するレー
ザ光４９ａが出射されるとレーザビーム５２のパワーが
３０［ｍＷ’３程度に程度ように要部が構成されτいＣ
１かつレーザビーム５２は上述したように、４４５Ｃｎ
ｍ）の波長を有しているので、第２光ビーム３６は微粒
子２の分析を行うのに充分な光強度を有し℃いることに
なる。ところで、第１図におい℃は、被測定液３中の微
粒子２の濃度を適宜加減することによつ″Ｃ１第２投光
部３４として第３図に示した第２投光部５６？採用した
場合に、レーザ光４９ａがデエーテイ比０．０１以下で
出射されればよいようになつ１いろ。したがう工、第３
図の投光部５６を第１図の投光部３４に採用すると、ｔ
ＯｃＷ）出力の半導体レーザ４９を５００［ｍＷ）の出
力でかつデ島−テイ比０．０１以下で使用することにな
るので、第２投光部３４の寿命を非常に長くすることが
できかつ投光部３４を小形に形成１ろことができること
になる。

第４図は第１図に示した第２投光部３４の第２構成例５
９の構成図で１本図の第３図と大きく異なる所は、β−
ＢａＢ、０４を用いた。導波路形ではないバルク形の非
線形光学素子５７が採用され℃いることである。そうし
て、第４図においては、レンズ５０から出射されたレー
ザ光５０ａが光学素子５７に入射されて短波長化さｔｌ
、このようにしτ光学素子５７で短波長化さｊたレーザ
光５７ａが集束レンズ５８で集束され１第２元ビーム３
６として出射されるようになつ工いろ。第４図においＣ
は、各部が上述のように構成され℃いるので。

このような構成の第２投光部５９を第１図の投光部３４
とし−用い工も微粒子２の分析を行いうろことは明らか
で、さらに、この場合、投光部５９が投光部５６よりも
簡単な構成になるので該投光部５９を一層小形にできる
利点がある。しかしながら、この場合、第２光ビーム３
６０強度がバルク形非線形光学累子５７のために投光部
５６におけるよりも弱くなるので、微粒子２の分析精度
が低下する恐れがある。

第５図は第１図に示した第２投光部３４の第３構戊例６
０の構成図である。第５図におい工、６１＋Ｓ＋セノン
ランプ、６２はランプ６１の出射光を集束し工この集束
した光６２ａを光学フィルタ６３を介してピンホール６
４に入射させるようにしたコンデンサレンズで、ピンホ
ール６４はランプ６Ｉのような大面積の光源から出射さ
れた光６２ａを点光源から出射される光６４ａに変換す
るために設けられており、また、フィルタ６３は光６４
ａが第１図に示した蛍光４０の波長と同じ波長の成分を
含まないようにするために設けられ℃いる。

６５は光６４ａを集束して第２光ビーム３６として出射
するようにした集束レンズ、６６は１発光指令信号４６
ａが入力されることによって、キセノンランプ６１に、
上述した半導体レーザ４９と同様な発光動作を行わせる
ようにしたキセノンランプ駆動製雪である。第１図の第
２投光部３４を第５図のように構成することによっても
小形かつ長寿命の第２投光部３４が得られることは説明
するまでもなく明らかである。

上述した所から明らかなように、第１図におい−Ｃは第
１及び第２投光部２２．３４を共に小形かつ長寿命に形
成することができる。したがって。

蛍光性微粒子分析装置を第１図のように構成することに
よつ工、取り扱いが容易でかつ保守作業頻度の少ない分
析装置が得られることになる。

第１図の実施例では第３受光部３−４が蛍光４０を検出
すると一個の受光信号３９ａを出力するものとしたが１
本発明で（工、蛍光４０を２分割するハーフミラ−と、
これらの２分割された蛍光の各々から波長の異なった光
を取り出す都合２個の光学フィルタと、これらの光学フ
ィルタの各出射光な光電変換する都合２個の光電変換器
とを設け。

これらの光電変換器の各出力信号を一括し１：前述の第
３受光信号３９ａとし″Ｃ信号処理部４６に入力するこ
とによつ１．該処理ｓ４６に第１図の場合とは異なった
分析動作を行わせるようにし工も差し支えないものであ
る。また、第１図におい工は信号４６Ｂが入力されろと
投光部３４が上述の発光動作を伴うものとしたが１本発
明においては。

投光部３４が受光信号２７ａを構成する電気パルス４７
の入力によつ℃上述の発光動作を行うようにＬ℃も差し
支えない。

〔発明の効果〕

上述したように１本発明においては、流動する被測定液
を第１照射点において第１光ビームで連続し工照射する
第１投光部と、被測定液がＭ１光ビームで照射されるこ
とによつ１被測定液中の蛍光性微粒子から出射される第
１光ビームの散乱光を受光し℃この結果に応じた第１受
光信号を出力する第１受光部と、被測定液における第１
照射点よりも下流の第２照射点において被測定液を第２
光ビームでパルス状に照射する第２投光部と、被測定液
が第２光ビームで照射されることによつ℃被測定液中の
蛍光性微粒子から出射される第２光ビームの散乱光な受
光してこの結果に応じた第２受光信号を出力する第２受
光部と、被測定液が第２光ビームで照射されることによ
って被測定液中の蛍光性微粒子から出射される蛍光を受
光し工この結果に応じた第３受光信号を出力する第３受
光部とを備え、第２及び第３受光信号を用いて蛍光性微
粒子の分析を行う蛍光性微粒子分析装置であつて、第２
投光部は第１受光信号が出力された後所定の時間経過後
第２光ビームを出射するように蛍光性微粒子分析装置を
構成した。

このため、上記のように構成すると、第１照射点に蛍光
性微粒子が到来したことを第１受光部で検出するとこの
微粒子に第２照射点で強い第２光ビームが照射され℃、
その結果、第２及び第３受光偏号を用い℃従来の分析装
置におげろと同様な分析が行われることになり、この場
合、第１光ビームは連続的に出射されるものの蛍光性微
粒子の存在が検出できる程度であればそれ以上に強い強
度である必要になく、また第２光ビームは強い瞬時強度
を有し工いればパルス状でもよいので、結局、この場合
、第１及び第２投光部には小形でかつ寿命の長い半導体
レーザや）（ｅ−ｐＪｅレーザが使用できることになる
。したがって、上記のように構成すると１本発明には、
小形に構成できるため取り扱いが容易で、かつ保守作業
頻度の少ない蛍光性微粒子分析装置が得られる効果ｂ１
ある。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の一実施例の構成図、第２図は第１図に
おける要部の動作説明図、第３図、第４図、第５図はそ
れぞれ第１図に示した第２投光部の異なる詳細構成例の
説明図％第６図は従来の蛍光性微粒子分析装置の構成図
である。 ２・・・・・・蛍光性微粒子、３・・・・・・被測定液
、５．２８゜３８・・・・・・散乱光、７．４０・・・
・・・蛍光、　　１９・・・・・・試料流。 ２２・・・・・・第１投光部、２５・・・・・・第１光
ビーム、２６・・・第１照射点、２７・・・・・・第１
受光部、２７ａ・・・・・・第１受　・光偏号、３４・
・・・・・第２投光部、３５・・・・・・第２照射点２
３６・・・・・・第２光ビーム、３７・・・・・・第２
受光部、３７ａ・・・・・・第２受光信号、３９・・・
・・・第３受光部、３９ａ・・・・・・ｌ７ 嘱　　　２　　凹 箋　　　４　　ｚ ′ｖ１５［ｉ８

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. １）流動する被測定液を第１照射点において第１光ビー
   ムで連続して照射する第１投光部と、前記被測定液が前
   記第１光ビームで照射されることによつて該被測定液中
   の蛍光性微粒子から出射される該第１光ビームの散乱光
   を受光してこの結果に応じた第１受光信号を出力する第
   １受光部と、前記被測定液における前記第１照射点より
   も下流の第２照射点において前記被測定液を第２光ビー
   ムでパルス状に照射する第２投光部と、前記被測定液が
   前記第２光ビームで照射されることによつて該被測定液
   中の前記蛍光性微粒子から出射される該第２光ビームの
   散乱光を受光してこの結果に応じた第２受光信号を出力
   する第２受光部と、前記被測定液が前記第２光ビームで
   照射されることによって前記被測定液中の前記蛍光性微
   粒子から出射される蛍光を受光してこの結果に応じた第
   ３受光信号を出力する第３受光部とを備え、前記第２及
   び第３受光信号を用いて前記蛍光性微粒子の分析を行う
   蛍光性微粒子分析装置であつて、前記第２投光部は前記
   第１受光信号が出力された後所定時間経過後前記第２光
   ビームを出射することを特徴とする蛍光性微粒子分析装
   置。