JPH01306156A - 工具検出装置 - Google Patents
工具検出装置Info
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- JPH01306156A JPH01306156A JP63135534A JP13553488A JPH01306156A JP H01306156 A JPH01306156 A JP H01306156A JP 63135534 A JP63135534 A JP 63135534A JP 13553488 A JP13553488 A JP 13553488A JP H01306156 A JPH01306156 A JP H01306156A
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- 230000010355 oscillation Effects 0.000 description 2
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 2
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Classifications
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- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B23—MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- B23Q—DETAILS, COMPONENTS, OR ACCESSORIES FOR MACHINE TOOLS, e.g. ARRANGEMENTS FOR COPYING OR CONTROLLING; MACHINE TOOLS IN GENERAL CHARACTERISED BY THE CONSTRUCTION OF PARTICULAR DETAILS OR COMPONENTS; COMBINATIONS OR ASSOCIATIONS OF METAL-WORKING MACHINES, NOT DIRECTED TO A PARTICULAR RESULT
- B23Q15/00—Automatic control or regulation of feed movement, cutting velocity or position of tool or work
- B23Q15/007—Automatic control or regulation of feed movement, cutting velocity or position of tool or work while the tool acts upon the workpiece
- B23Q15/12—Adaptive control, i.e. adjusting itself to have a performance which is optimum according to a preassigned criterion
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- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
- G05B19/00—Programme-control systems
- G05B19/02—Programme-control systems electric
- G05B19/18—Numerical control [NC], i.e. automatically operating machines, in particular machine tools, e.g. in a manufacturing environment, so as to execute positioning, movement or co-ordinated operations by means of programme data in numerical form
- G05B19/404—Numerical control [NC], i.e. automatically operating machines, in particular machine tools, e.g. in a manufacturing environment, so as to execute positioning, movement or co-ordinated operations by means of programme data in numerical form characterised by control arrangements for compensation, e.g. for backlash, overshoot, tool offset, tool wear, temperature, machine construction errors, load, inertia
-
- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
- G05B2219/00—Program-control systems
- G05B2219/30—Nc systems
- G05B2219/37—Measurements
- G05B2219/37345—Dimension of workpiece, diameter
-
- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
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- G05B2219/30—Nc systems
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- G—PHYSICS
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- Machine Tool Sensing Apparatuses (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、たとえは、プリント基板加工機などで、主軸
に保持されたドリルやエンドミル等の工具を検出する工
具検出装置に関するものでろる。
に保持されたドリルやエンドミル等の工具を検出する工
具検出装置に関するものでろる。
工作機械に使用される工具の位置検出は、一般に、検出
器の接触子を工具の先端に当てることにより行なわれて
いる。
器の接触子を工具の先端に当てることにより行なわれて
いる。
ズ疋、ノＶ／ｒ丞散尺明機で使用するような小さな工具
の検出を行なう場合には、たとえば、特開昭６２−９４
２１０号に示されるように、光学式の検出器を用いるも
のが提案されている。
の検出を行なう場合には、たとえば、特開昭６２−９４
２１０号に示されるように、光学式の検出器を用いるも
のが提案されている。
しかし、従来の検出装置は、いずｎも、工具の先端位置
を検出するものであり、しかも、その検出精度も低かっ
た。
を検出するものであり、しかも、その検出精度も低かっ
た。
フリント基板の多様化に共ない、ブリ／）基板に要求さ
れる加工の種類も多くなジ、しかも、高精度の加工が要
求されるようになってきた。
れる加工の種類も多くなジ、しかも、高精度の加工が要
求されるようになってきた。
たとえは、止り穴や溝加工では、深さ方向の精度が±２
０／ｌｆｎ程度の高精度が要求されている。
０／ｌｆｎ程度の高精度が要求されている。
また、通し穴の加工径も、０．１ Ｍ〜６．３７Ｍまで
０、１ ＭＪＲ毎に多種類の径の加工が要求され、供給
するドリルの′ａ理も繁雑になっている。
０、１ ＭＪＲ毎に多種類の径の加工が要求され、供給
するドリルの′ａ理も繁雑になっている。
このため、主軸に供給され之工具の先端位置や径、ある
いは偏心量を、使用目的に合せて高ｎｔ友に検出するこ
とが望まれるようになってきた。
いは偏心量を、使用目的に合せて高ｎｔ友に検出するこ
とが望まれるようになってきた。
本発明の目的は、前記の課題に鑑み、工具の先端位置や
径、あるいは偏心量を高精度に検出できるようにした工
具検出装置を提供するに、ある。
径、あるいは偏心量を高精度に検出できるようにした工
具検出装置を提供するに、ある。
上記の目的を達成するため、本考案においては、光学的
に工具を検出し、電気信号に交換する第１の検出手段と
、この第１の検出手段の電気信号を処理して所要の検出
を行なう、第２．第３および第４の検出手段を設けた。
に工具を検出し、電気信号に交換する第１の検出手段と
、この第１の検出手段の電気信号を処理して所要の検出
を行なう、第２．第３および第４の検出手段を設けた。
そして、第２の検出手段は、第１の検出手段の検出結果
と、工具を保持した主軸の位置から、工具の先端位置を
求める。また、第３の検出手段は第１の検出手段の検出
結果と、受光素子の配列ピッチから、工具の径を求める
。また第４の検出手段は、第１の検出手段の検出結果と
工具の径から工具の偏心量を求める。
と、工具を保持した主軸の位置から、工具の先端位置を
求める。また、第３の検出手段は第１の検出手段の検出
結果と、受光素子の配列ピッチから、工具の径を求める
。また第４の検出手段は、第１の検出手段の検出結果と
工具の径から工具の偏心量を求める。
なお、第２．第３および第４の検出手段は、必要に応じ
て適宜選択して用いることができる。
て適宜選択して用いることができる。
以下、本発明の一実施例を、第１図に基づいて説明する
。
。
同図において、１は検出器で、ラング２と、ランプ２の
光を平行光にするためのレンズ３と、平行光を拡大する
ためのレンズ４と、このレンズ４を光通した光を受ける
受光素子（たとえば、電荷結合素子）５を備えている。
光を平行光にするためのレンズ３と、平行光を拡大する
ためのレンズ４と、このレンズ４を光通した光を受ける
受光素子（たとえば、電荷結合素子）５を備えている。
１０は第１の検出手段で、検出器１と、工具検出信号を
発掘する発振回路１１と、所定の間隔のパルス全発振す
るパルス発掘回路１２と、検出器。
発掘する発振回路１１と、所定の間隔のパルス全発振す
るパルス発掘回路１２と、検出器。
号が発振されている間だけ、パルスを通過させるアンド
ゲート回路１３と、パルスが印加されたとき、受光素子
５の出力を検出するスキャニング回路１４と、スキャニ
ング回路１４から印加される受光素子５の出力を増幅し
、予じめ設定された閾値と比較して２値化信号に変換す
る２値化回路１５と、２値化信号を記憶し、更新するシ
フトレジスタ１６とを備えている。
ゲート回路１３と、パルスが印加されたとき、受光素子
５の出力を検出するスキャニング回路１４と、スキャニ
ング回路１４から印加される受光素子５の出力を増幅し
、予じめ設定された閾値と比較して２値化信号に変換す
る２値化回路１５と、２値化信号を記憶し、更新するシ
フトレジスタ１６とを備えている。
２０は第２の検出手段で、シフトレジ、スタ１６の記憶
内容を読取り、記憶内容が全て１１１（あるいは１０１
、以下、受光素子５が受光している状態−ｔｉ、 −１
＠とじて説明する）の状態から、１０′の混る状態に変
った時。おるいは、記憶内容に。
内容を読取り、記憶内容が全て１１１（あるいは１０１
、以下、受光素子５が受光している状態−ｔｉ、 −１
＠とじて説明する）の状態から、１０′の混る状態に変
った時。おるいは、記憶内容に。
ｌｏｇが含まれた状態から、全て１１１に変った時を検
出する検出回路２１と、工具Ｔを保持した主軸の送りモ
ータに付設されたパルスエンコーダ２２の出力音カウン
トして、主軸の現在位置を検出するカウンタ２３と、主
軸に保持された工具Ｔの先端が、検出位置にあるときの
主軸の原点からの移動量全設定する設定回路２４と、検
出回路２１の検出信号に基づき、カウンタ２３のカウン
ト数と設定回路２４の設定値を比較し、その差を補。
出する検出回路２１と、工具Ｔを保持した主軸の送りモ
ータに付設されたパルスエンコーダ２２の出力音カウン
トして、主軸の現在位置を検出するカウンタ２３と、主
軸に保持された工具Ｔの先端が、検出位置にあるときの
主軸の原点からの移動量全設定する設定回路２４と、検
出回路２１の検出信号に基づき、カウンタ２３のカウン
ト数と設定回路２４の設定値を比較し、その差を補。
正値として出力する演算回路２５を備えている。
３０は第３の検出手段で、工具Ｔが１回転する間、シフ
トレジスタ１６の記憶内容を読取り、その中の１０１の
数を記憶、更新すると共に、最も多い１０ｍの数を保持
するシフトレジスタ３１と、シフトレジスタ３１に保持
さｎた数と受光索子５のピッチから、工具Ｔの直径を算
出する演算回路３２と、予じめ、工具Ｔの直径を設定す
る設定回路３３と、演算回路３２の出力と設定回路３３
の設定値を比較し、その結果を出力する比較回路３４を
備えている。
トレジスタ１６の記憶内容を読取り、その中の１０１の
数を記憶、更新すると共に、最も多い１０ｍの数を保持
するシフトレジスタ３１と、シフトレジスタ３１に保持
さｎた数と受光索子５のピッチから、工具Ｔの直径を算
出する演算回路３２と、予じめ、工具Ｔの直径を設定す
る設定回路３３と、演算回路３２の出力と設定回路３３
の設定値を比較し、その結果を出力する比較回路３４を
備えている。
４０は第４の検出手段で、工具Ｔが少くとも１回転する
間、シフトレジスタ１６の記憶内容を読取り、その中の
１１２から１０１に変る位置を検出して記憶すると共に
、その記憶を最上位の位置に更新するシフトレジスタ４
１と、シフトレジスタ１６の記憶内容を読取り、その中
の１０＠から。
間、シフトレジスタ１６の記憶内容を読取り、その中の
１１２から１０１に変る位置を検出して記憶すると共に
、その記憶を最上位の位置に更新するシフトレジスタ４
１と、シフトレジスタ１６の記憶内容を読取り、その中
の１０＠から。
１１″に変る位置を検出して記憶すると共に、その記憶
を最下位の位置に更新するシフトレジスタ４２と、シフ
トレジスタ４１とシフトレジスタ４２に記憶され九内容
から、工具Ｔの半径方向への移動閂を求める演算回路４
３と、予じめ、工具Ｔの直径を設定する設定回路４４と
、演算回路４３の出力を設定回路４４の設定Ｉｉｋを比
較し、その結果を出力する演算回路４５を備えている。
を最下位の位置に更新するシフトレジスタ４２と、シフ
トレジスタ４１とシフトレジスタ４２に記憶され九内容
から、工具Ｔの半径方向への移動閂を求める演算回路４
３と、予じめ、工具Ｔの直径を設定する設定回路４４と
、演算回路４３の出力を設定回路４４の設定Ｉｉｋを比
較し、その結果を出力する演算回路４５を備えている。
５０はＮＣ装置で、演算回路２５、比較回路３４および
比較回路４５に接続されている。
比較回路４５に接続されている。
３５は表示回路で、比較回路３４の比較結果を表示する
。
。
４６は表示回路で、比較回路４５の比較結果を表示する
。
。
このような構成で、主軸に保持された工具Ｔ’を検出器
１のレンズ３とレンズ４の間に挿入し回転させる。同時
に、発振回路１１から工具検査信号を発振させる。また
、ランプ２が点灯嘔れる。すると、工具Ｔの影が受光素
子５上に投影嘔れる。
１のレンズ３とレンズ４の間に挿入し回転させる。同時
に、発振回路１１から工具検査信号を発振させる。また
、ランプ２が点灯嘔れる。すると、工具Ｔの影が受光素
子５上に投影嘔れる。
一方、アンドゲート回路１３からスキャニング回路１４
に検出信号が印加されるので、スキャちング回路１４は
、受光素子５の一端から他端に向けて、１臥次出力を検
出する。この出力は、２値化回路に印加され、ランプ２
の光を受けている所に′Ｉ１１工具Ｔの影に対応する所
は１０１０２つのレベルに変換されて、シフトレジスタ
１６に頃加される。シフトレジスタ１６は、印加された
ｚ値化信号を、次の２値化信号が印加されるまで保持し
、次の２値化信号が印加されたとき、紀憶内容金更新す
る。
に検出信号が印加されるので、スキャちング回路１４は
、受光素子５の一端から他端に向けて、１臥次出力を検
出する。この出力は、２値化回路に印加され、ランプ２
の光を受けている所に′Ｉ１１工具Ｔの影に対応する所
は１０１０２つのレベルに変換されて、シフトレジスタ
１６に頃加される。シフトレジスタ１６は、印加された
ｚ値化信号を、次の２値化信号が印加されるまで保持し
、次の２値化信号が印加されたとき、紀憶内容金更新す
る。
シフトレジスタ３１は、シフトレジスタ１６の記憶内容
′ｔ−読取り、その中に含まれるＩ □ ｌの数を数え
て、その数を記憶する。そして、工具Ｔが１回転する間
、シフトレジスタ１６に記憶されｆ−２値化信号の中で
、′０“の数の最も多いときのＩＯＩの数まで、記憶内
容を更新し、その数を保持する。
′ｔ−読取り、その中に含まれるＩ □ ｌの数を数え
て、その数を記憶する。そして、工具Ｔが１回転する間
、シフトレジスタ１６に記憶されｆ−２値化信号の中で
、′０“の数の最も多いときのＩＯＩの数まで、記憶内
容を更新し、その数を保持する。
演算回路３２は、シフトレジスタ３１の出力に受光素子
５の配列ピッチを乗算して、工具Ｔの直径を求める。
５の配列ピッチを乗算して、工具Ｔの直径を求める。
一方、設定回路３３には、ＮＣ表置５０から予じめ工具
径の設定が行なわれている。
径の設定が行なわれている。
比較回路３４は、演算回路３２の出力と、設定回路３３
の設定値を比較して、その結未全ＮＣ装置５０と表示回
路３５に印加する。
の設定値を比較して、その結未全ＮＣ装置５０と表示回
路３５に印加する。
表示回路３５は、比較結果の良否を、色の具なるランプ
等で表示する。−万、ＮＣ装置５０は、比＠饋来が良の
場・目、機械の運訟金継続し、比較結果が否の場貧には
、工具”ｒの交換金やり直すか・機械の運転を止めてア
ラームをｍ１゜ ・一方、シフトレジスタ４１は、シフトレジスタ１６の
記憶内容を抗奴シ、、亡り甲で＠１１から１０″に変る
位置を検出し記憶する。そして、少くとも工具Ｔが１回
転する間、ｌ １１から１０１に変る位［を順次上位の
ものに更新し、最上位の位置を記憶、保持する。
等で表示する。−万、ＮＣ装置５０は、比＠饋来が良の
場・目、機械の運訟金継続し、比較結果が否の場貧には
、工具”ｒの交換金やり直すか・機械の運転を止めてア
ラームをｍ１゜ ・一方、シフトレジスタ４１は、シフトレジスタ１６の
記憶内容を抗奴シ、、亡り甲で＠１１から１０″に変る
位置を検出し記憶する。そして、少くとも工具Ｔが１回
転する間、ｌ １１から１０１に変る位［を順次上位の
ものに更新し、最上位の位置を記憶、保持する。
同様に、シフトレジスタ４２は、シフトレジスタ１６の
記憶内容を読取り、その中で、１０１からＩｌｌに変る
位置を検出し記憶する。そして、少くとも工具Ｔが１回
転する間、ＩＯＩから＠１１に変る位置を順次下位のも
のに更新し、最下位。
記憶内容を読取り、その中で、１０１からＩｌｌに変る
位置を検出し記憶する。そして、少くとも工具Ｔが１回
転する間、ＩＯＩから＠１１に変る位置を順次下位のも
のに更新し、最下位。
の位置を記憶、保持する。
そして、演算回路４３は、シフトレジスタ４１とシフト
レジスタ４２の差を求め、工具Ｔの半径方向への移動ｔ
を求める。
レジスタ４２の差を求め、工具Ｔの半径方向への移動ｔ
を求める。
一方、設定回路４４には、ＮＣ装置５０から予じめ工具
径の設定が行なわれている。
径の設定が行なわれている。
演算回路４５は、演算回路４３で求められた移動量から
設定回路４４に設定された工具径を減算し、工具Ｔの偏
心量を求め、ＮＣ装置５０と表示回路４６に印加する。
設定回路４４に設定された工具径を減算し、工具Ｔの偏
心量を求め、ＮＣ装置５０と表示回路４６に印加する。
表示回路３５は、工具Ｔの偏心量が許容値以下であるか
否かを、色の異なるランプ等で表示する。
否かを、色の異なるランプ等で表示する。
一方、ＮＣ装置５０は、工具Ｔの偏心量が許容値以下で
ある場合は、機械の運転を継続し、工具Ｔの偏心蓋が許
容値より大きい場合には、工具Ｔの交換をやり直すか、
機械の運転全土めてアラームを出す。
ある場合は、機械の運転を継続し、工具Ｔの偏心蓋が許
容値より大きい場合には、工具Ｔの交換をやり直すか、
機械の運転全土めてアラームを出す。
検出器ｌに挿入された工具Ｔが上昇し、その影が受光素
子５から外れると、シフトレジスタ１６の記憶内容は全
て１１＠になる。それを、検出回路２１が検出すると、
演算回路２５に作動信号が印加される。すると、演算回
路２５は、カウンタ２３の内容と設定回路２４の設定値
の差を求め、その差を、加工時の主軸の移１１ｇ１］麓
の補正値としてＮＣ装置に印加する。
子５から外れると、シフトレジスタ１６の記憶内容は全
て１１＠になる。それを、検出回路２１が検出すると、
演算回路２５に作動信号が印加される。すると、演算回
路２５は、カウンタ２３の内容と設定回路２４の設定値
の差を求め、その差を、加工時の主軸の移１１ｇ１］麓
の補正値としてＮＣ装置に印加する。
このようにして、主軸に保持された工具の先端位置、径
、偏心に’に求めることができる。
、偏心に’に求めることができる。
そして、受光素子５に、素子の配列間隔が７．ＺＡｙ７
Ｈの電荷結合素子を用い、工具Ｔの％ｉ３．５倍に拡大
して投影すると、２翔単位での測定が可ｎヒになり、高
精度の検出を行なりことができる。
Ｈの電荷結合素子を用い、工具Ｔの％ｉ３．５倍に拡大
して投影すると、２翔単位での測定が可ｎヒになり、高
精度の検出を行なりことができる。
なお、前記実施例ＶＣおいて、第２の検出手段２０と、
第３の検出手段３０および、第４の検出手段４０は、心
安に応じて選択して使用すればよい。
第３の検出手段３０および、第４の検出手段４０は、心
安に応じて選択して使用すればよい。
また、設定回路３３と設定回路４４は、どちらか一方を
共用するよつにしてもよい。また、設定回路４４に、演
算回路３２の算出結果を設定する。
共用するよつにしてもよい。また、設定回路４４に、演
算回路３２の算出結果を設定する。
ようにしてもよい。
以上述べた如く、本発明の工具検出装置によれば、工具
の先端位置や径あるいは偏心鉦全高精度に測定すること
ができる。
の先端位置や径あるいは偏心鉦全高精度に測定すること
ができる。
第１図は、本発明による工具検出装置を示すブロック線
図である。 １・・・検出器、 ５・・・受光索子、 １０・・・
第１の検出手段、 ２０・・・第２の検出手段、３０・
・第３の検出手段、 ４０・・・第４の検出手段。
図である。 １・・・検出器、 ５・・・受光索子、 １０・・・
第１の検出手段、 ２０・・・第２の検出手段、３０・
・第３の検出手段、 ４０・・・第４の検出手段。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １、光路中に置かれた工具の周囲を透過した光を受光す
る複数の受光素子と、所定の間隔で各受光素子の出力に
対応する２値化信号の記憶、更新を行なう記憶回路を備
えた第１の検出手段と、前記工具を保持する主軸の原点
からの移動量を検出する検出回路と、前記記憶回路の記
憶内容から検出タイミングを検知するタイミング回路を
備え、検出時の主軸の位置から、加工時の主軸の移動量
の補正値を求める第２の検出手段を請けたことを特徴と
する工具検出装置。 ２、光路中に置かれた工具の周囲を透過した光を受光す
る複数の受光素子と、所定の間隔で各受光素子の出力に
対応する２値化信号の記憶、更新を行なう記憶回路を備
えた第１の検出手段と、前記工具が１回転する間に、工
具の影で覆われた受光素子の数の最大値を保持する保持
回路と、保持された数から工具の径を算出する演算回路
を備えた第３の検出手段を設けたことを特徴とする工具
検出装置。 ３、光路中に置かれた工具の周囲を透過した光を受光す
る複数の受光素子と、所定の間隔で各受光素子の出力に
対応する２値化信号の記憶、更新を行なう記憶回路を備
えた第１の検出手段と、前記記憶回路に順次記憶された
２値化信号のレベルの切替る位置の最上位と最下位を検
出し、その差に基づいて、工具の偏心量を算出する演算
回路を備えた第４の検出手段を設けたことを特徴とする
工具検出装置。 ４、光路中に置かれた工具の周囲を透過した光を受光す
る複数の受光素子と、所定の間隔で各受光素子の出力に
対応する２値化信号の記憶、更新を行なう記憶回路を備
えた第１の検出手段と前記工具を保持する主軸の原点か
らの移動量を検出する検出回路と、前記記憶回路の記憶
内容から検出タイミングを検知するタイミング回路を備
え、検出時の主軸の位置から、加工時の主軸の移動量の
補正値を求める第２の検出手段と、前記工具が１回転す
る間に、工具の影で覆われた受光素子の数の最大値を保
持する保持回路と、保持された数から工具の径を算出す
る演算回路を備えた第３の検出手段を設けたことを特徴
とする工具検出装置。 ５、光路中に置かれた工具の周囲を透過した光を受光す
る複数の受光素子と、所定の間隔で各受光素子の出力に
対応する２値化信号の記憶、更新を行なう記憶回路を備
えた第１の検出手段と、前記工具を保持する主軸の原点
からの移動量を検出する検出回路と、前記記憶回路の記
憶内容から検出タイミングを検知するタイミング回路を
備え、検出時の主軸の位置から、加工時の主軸の移動量
の補正値を求める第２の検出手段と、前記記憶回路に順
次記憶された２値化信号のレベルの切替る位置の最上位
と最下位を検出し、その差に基づいて、工具の偏心量を
算出する演算回路を備えた第４の検出手段を設けたこと
を特徴とする工具検出装置。 ６、光路中に置かれた工具の周囲を透過した光を受光す
る複数の受光素子と、所定の間隔で各受光素子の出力に
対応する２値化信号の記憶、更新を行なう記憶回路を備
えた第１の検出手段と、前記工具が１回転する間に、工
具の影で覆われた受光素子の数の最大値を保持する保持
回路と、保持された数から工具の径を算出する演算回路
を備えた第３の検出手段と、前記記憶回路に順次記憶さ
れた２値化信号のレベルの切替る位置の最上位と最下位
を検出し、その差に基づいて、工具の偏心量を算出する
演算回路を備えた第４の検出手段を設けたことを特徴と
する工具検出装置。 ７、光路中に置かれた工具の周囲を透過した光を受光す
る複数の受光素子と、所定の間隔で各受光素子の出力に
対応する２値化信号の記憶、更新を行なう記憶回路を備
えた第１の検出手段と、前記工具を保持する主軸の原点
からの移動量を検出する検出回路と、前記記憶回路の記
憶内容から検出タイミングを検知するタイミング回路を
備え、検出時の主軸の位置から、加工時の主軸の移動量
の補正値を求める第２の検出手段と、前記工具が１回転
する間に、工具の影で覆われた受光素子の数の最大値を
保持する保持回路と、保持された数から工具の径を算出
する演算回路を備えた第３の検出手段と、前記記憶回路
に順次記憶された２値化信号のレベルの切替る位置の最
上位と最下位を検出し、その差に基づいて工具の偏心量
を算出する演算回路を備えた第４の検出手段を設けたこ
とを特徴とする工具検出装置。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63135534A JP2505534B2 (ja) | 1988-06-03 | 1988-06-03 | 工具検出装置 |
| KR1019890007253A KR0144862B1 (ko) | 1988-06-03 | 1989-05-30 | 공구 검출장치 |
| US07/360,094 US5029097A (en) | 1988-06-03 | 1989-06-01 | Tool detecting apparatus |
| DE3917933A DE3917933A1 (de) | 1988-06-03 | 1989-06-01 | Werkzeugdetektor |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63135534A JP2505534B2 (ja) | 1988-06-03 | 1988-06-03 | 工具検出装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01306156A true JPH01306156A (ja) | 1989-12-11 |
| JP2505534B2 JP2505534B2 (ja) | 1996-06-12 |
Family
ID=15154024
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63135534A Expired - Lifetime JP2505534B2 (ja) | 1988-06-03 | 1988-06-03 | 工具検出装置 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
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| JP (1) | JP2505534B2 (ja) |
| KR (1) | KR0144862B1 (ja) |
| DE (1) | DE3917933A1 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0516115U (ja) * | 1991-08-05 | 1993-03-02 | 安藤電気株式会社 | 工具の外径測定器つきｎｃ加工機 |
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|---|---|---|---|---|
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| DE102004024953A1 (de) * | 2004-05-21 | 2005-12-08 | Sick Ag | Sicherungsverfahren und Sicherheitseinrichtung für eine Maschine, insbesondere eine Biegepresse |
Family Cites Families (5)
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| JPS5959397A (ja) * | 1982-09-29 | 1984-04-05 | オムロン株式会社 | 特徴点のラベリング装置 |
| DE3501533A1 (de) * | 1985-01-18 | 1986-07-24 | K.A. Schmersal Gmbh & Co, 5600 Wuppertal | Verfahren und vorrichtung zur werkzeugbruchueberwachung |
| US4658494A (en) * | 1985-05-28 | 1987-04-21 | Hitachi Seiko Ltd. | Apparatus for drilling printed circuit boards |
-
1988
- 1988-06-03 JP JP63135534A patent/JP2505534B2/ja not_active Expired - Lifetime
-
1989
- 1989-05-30 KR KR1019890007253A patent/KR0144862B1/ko not_active IP Right Cessation
- 1989-06-01 DE DE3917933A patent/DE3917933A1/de active Granted
- 1989-06-01 US US07/360,094 patent/US5029097A/en not_active Expired - Lifetime
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0516115U (ja) * | 1991-08-05 | 1993-03-02 | 安藤電気株式会社 | 工具の外径測定器つきｎｃ加工機 |
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| Publication number | Publication date |
|---|---|
| DE3917933C2 (ja) | 1993-07-22 |
| US5029097A (en) | 1991-07-02 |
| KR0144862B1 (ko) | 1998-07-01 |
| JP2505534B2 (ja) | 1996-06-12 |
| DE3917933A1 (de) | 1989-12-07 |
| KR900017728A (ko) | 1990-12-19 |
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Legal Events
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|---|---|---|---|
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