JPH01305338A - 粒子解析装置 - Google Patents
粒子解析装置Info
- Publication number
- JPH01305338A JPH01305338A JP63136813A JP13681388A JPH01305338A JP H01305338 A JPH01305338 A JP H01305338A JP 63136813 A JP63136813 A JP 63136813A JP 13681388 A JP13681388 A JP 13681388A JP H01305338 A JPH01305338 A JP H01305338A
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- JP
- Japan
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- flow cell
- photodetector
- specimen
- light source
- lens
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- Pending
Links
- 239000002245 particle Substances 0.000 title claims abstract description 31
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims abstract description 13
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims description 2
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 abstract description 7
- 230000000717 retained effect Effects 0.000 abstract 1
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 6
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 239000012530 fluid Substances 0.000 description 2
- 125000006850 spacer group Chemical group 0.000 description 1
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［産業上の利用分野］
本発明は１例えばフローサイトメータ等のように、検体
粒子からの散乱光及び蛍光を検出することにより、検体
粒子の性質を解析する粒子解析装置に関するものである
。
粒子からの散乱光及び蛍光を検出することにより、検体
粒子の性質を解析する粒子解析装置に関するものである
。
［従来の技術］
フローサイトメータ等に用いられる従来の粒子解析装置
では、フローセルの中央部の例えば２００ＩＬｍＸ２０
０ｇｍの微小な断面を有する流通部内を、シース液に包
まれて通過する検体粒子に照射光を照射し、その結果生
ずる前方及び側方散乱光により、検体の形状、大きさ、
屈折率等の粒子的性質を得ることが可能である。
では、フローセルの中央部の例えば２００ＩＬｍＸ２０
０ｇｍの微小な断面を有する流通部内を、シース液に包
まれて通過する検体粒子に照射光を照射し、その結果生
ずる前方及び側方散乱光により、検体の形状、大きさ、
屈折率等の粒子的性質を得ることが可能である。
第２図は一般的な光学系の構成図であり、フローセルｌ
の流通部内をシース液貯蔵部２からのシース液に包まれ
て、サンプル液貯蔵部３からのサンプル液が通過し、こ
の流れと直交する方向にレーザー光源４が配置されてい
る。このレーザー光源４から照射されたレーザービーム
をフローセルｌの流通部に導くために、光軸Ｏ１上にレ
ーザー光源４側からシリンドリカルレンズ５．６が順次
に配列されており、更にサンプル液に含まれた検体粒子
からの前方散乱光を測定するために、フローセルｌを挟
んでシリンドリカルレンズ６と反対側の光軸Ｏ１上に集
光レンズ７、光検出器８が配列されている。また、検体
粒子からの９０°散乱光及び蛍光を測定するために、検
体粒子の流れの方向と光軸Ｏ１にそれぞれ直交する方向
である光軸０２上に、フローセルｌ側から集光レンズ９
、波長選択特性を有するダイクロイックミラー１Ｏ１１
１及びハーフミラ−１２が順次に配列され、それぞれの
反射方向にはフォトマル（光電子増倍管）１３．１４．
１５が設置されている。
の流通部内をシース液貯蔵部２からのシース液に包まれ
て、サンプル液貯蔵部３からのサンプル液が通過し、こ
の流れと直交する方向にレーザー光源４が配置されてい
る。このレーザー光源４から照射されたレーザービーム
をフローセルｌの流通部に導くために、光軸Ｏ１上にレ
ーザー光源４側からシリンドリカルレンズ５．６が順次
に配列されており、更にサンプル液に含まれた検体粒子
からの前方散乱光を測定するために、フローセルｌを挟
んでシリンドリカルレンズ６と反対側の光軸Ｏ１上に集
光レンズ７、光検出器８が配列されている。また、検体
粒子からの９０°散乱光及び蛍光を測定するために、検
体粒子の流れの方向と光軸Ｏ１にそれぞれ直交する方向
である光軸０２上に、フローセルｌ側から集光レンズ９
、波長選択特性を有するダイクロイックミラー１Ｏ１１
１及びハーフミラ−１２が順次に配列され、それぞれの
反射方向にはフォトマル（光電子増倍管）１３．１４．
１５が設置されている。
レーザー光源４からのレーザービームはシリンドリカル
レンズ５．６により任意の楕円形状に結像され、フロー
セル１の流通部を流れる検体粒子に照射されて解析が行
われる。ここで、レーザービームを楕円形状に結像する
のは、フローセル１の流通部を流れる検体粒子に光を効
率的に照射するためだけでなく、その流れの位置やアラ
イメントが多少ずれても光の強度分布等が変化しないよ
うに工夫されているためである。
レンズ５．６により任意の楕円形状に結像され、フロー
セル１の流通部を流れる検体粒子に照射されて解析が行
われる。ここで、レーザービームを楕円形状に結像する
のは、フローセル１の流通部を流れる検体粒子に光を効
率的に照射するためだけでなく、その流れの位置やアラ
イメントが多少ずれても光の強度分布等が変化しないよ
うに工夫されているためである。
一方、前方の光検出器８及び側方のフォトマル１３．１
４．１５への集光は、正確なアライメントがなされない
と効率が低下する。しかしながら、従来の装置では流体
系の一部であるフローセル１とレンズ等の光学部材とは
それぞれ独立しており、個々の部材を移動しなからアラ
イメントをしなければならない、このため、アライメン
トに熟練を要し、時間が掛かるといった操作上の問題が
ある。
４．１５への集光は、正確なアライメントがなされない
と効率が低下する。しかしながら、従来の装置では流体
系の一部であるフローセル１とレンズ等の光学部材とは
それぞれ独立しており、個々の部材を移動しなからアラ
イメントをしなければならない、このため、アライメン
トに熟練を要し、時間が掛かるといった操作上の問題が
ある。
［発明の目的］
本発明の目的は、従来例の問題点を改善し、アライメン
ト操作が容易な粒子解析装置を提供することにある。
ト操作が容易な粒子解析装置を提供することにある。
［発明の概要］
上述の目的を達成するための本発明の要旨は、フローセ
ル内を流れる検体粒子に対して光ビームを照射し、その
散乱光又は蛍光等の測定をすることにより検体粒子の解
析を行う粒子解析装置において、レンズを含む光学部材
の少なくとも一部とフローセルとを保持部材により一体
化したことを特徴とする粒子解析装置である。
ル内を流れる検体粒子に対して光ビームを照射し、その
散乱光又は蛍光等の測定をすることにより検体粒子の解
析を行う粒子解析装置において、レンズを含む光学部材
の少なくとも一部とフローセルとを保持部材により一体
化したことを特徴とする粒子解析装置である。
［発明の実施例］
本発明を第１図に図示の実施例に基づいて詳細に説明す
る。なお、第２図と同一の符号は同一の部材を示すもの
とする。
る。なお、第２図と同一の符号は同一の部材を示すもの
とする。
第１図は流体系の一部であるフローセルと光学系の一部
である集光レンズ及び結像レンズを示す断面図である。
である集光レンズ及び結像レンズを示す断面図である。
この第１図において、フローセルｌは流通部ｌａ内のサ
ンプル液が流れる方向と直交し、かつ光軸０１．０２を
中心軸とする互いに直交する２つの空洞孔を有する保持
部材１６の中央部に保持され、一方の空洞孔内には結像
レンズ１７が、同一空洞孔内のフローセル１の反対側に
集光レンズ７が、直交する空洞孔内に集光レンズ９がそ
れぞれスペーサ１８、押さえリング１９に挟まれて固定
されている。更に、各空洞孔の出口付近には、結像レン
ズ１７側にレーザー光源４を取り付けたレーザー光源保
持部材２０、集光レンズ７側に光検出器８を取り付けた
光検出器保持部材２１、集光レンズ９側に例えば光検出
器１３を取り付けた光検出器保持部材２２が移動調整可
能に取り付けられている。
ンプル液が流れる方向と直交し、かつ光軸０１．０２を
中心軸とする互いに直交する２つの空洞孔を有する保持
部材１６の中央部に保持され、一方の空洞孔内には結像
レンズ１７が、同一空洞孔内のフローセル１の反対側に
集光レンズ７が、直交する空洞孔内に集光レンズ９がそ
れぞれスペーサ１８、押さえリング１９に挟まれて固定
されている。更に、各空洞孔の出口付近には、結像レン
ズ１７側にレーザー光源４を取り付けたレーザー光源保
持部材２０、集光レンズ７側に光検出器８を取り付けた
光検出器保持部材２１、集光レンズ９側に例えば光検出
器１３を取り付けた光検出器保持部材２２が移動調整可
能に取り付けられている。
上述の構成において、レーザー光源４からのレーザービ
ームは、結像レンズ１７により結像されてフローセルｌ
の流通部ｌａ内を流れる検体粒子を照射し、その前方散
乱光は集光レンズ７を介して光検出器８に入射し、主に
検体粒子の大きさに関する情報が得られる。また、検体
粒子からの９０’散乱光及び蛍光は集光レンズ９を経て
光検出器１３に入射し、主に検体粒子の形状に関する情
報が得られる。ここで、フローセルｌ、結像レンズ１７
及び集光レンズ７．９は同一の保持部材１６に保持され
ているため、予め流通部ｌａ内の検体粒子の流れる位置
に対して、レーザー光源４及び２つの光検出器８，１３
の検出器保持部材２１．２２の調整をするだけでアライ
メントが完了する。これらの調整はレーザー光源保持部
材２０及び光検出器保持部材２１．２２に対しレーザー
光源４及び光検出器８．１３をそれぞれ動かしてもよい
し、全体を一体化して保持部材１６に対して動かしても
よい。
ームは、結像レンズ１７により結像されてフローセルｌ
の流通部ｌａ内を流れる検体粒子を照射し、その前方散
乱光は集光レンズ７を介して光検出器８に入射し、主に
検体粒子の大きさに関する情報が得られる。また、検体
粒子からの９０’散乱光及び蛍光は集光レンズ９を経て
光検出器１３に入射し、主に検体粒子の形状に関する情
報が得られる。ここで、フローセルｌ、結像レンズ１７
及び集光レンズ７．９は同一の保持部材１６に保持され
ているため、予め流通部ｌａ内の検体粒子の流れる位置
に対して、レーザー光源４及び２つの光検出器８，１３
の検出器保持部材２１．２２の調整をするだけでアライ
メントが完了する。これらの調整はレーザー光源保持部
材２０及び光検出器保持部材２１．２２に対しレーザー
光源４及び光検出器８．１３をそれぞれ動かしてもよい
し、全体を一体化して保持部材１６に対して動かしても
よい。
なお、実施例においては説明の便宜上、集光レンズ９側
の光検出器を１個として説明したが、第２図に示すよう
に９０°散乱光、蛍光を測定するために複数個の検出器
を使用する場合には、ダイクロイックミラー等と共に一
体化して検出器保持部材２２に取り付ければよい。
の光検出器を１個として説明したが、第２図に示すよう
に９０°散乱光、蛍光を測定するために複数個の検出器
を使用する場合には、ダイクロイックミラー等と共に一
体化して検出器保持部材２２に取り付ければよい。
また１本実施例の応用として、複数のフローセルを有し
複数の検体処理を行う装置では、アライメントの簡略化
の効果が一層発揮されると共に。
複数の検体処理を行う装置では、アライメントの簡略化
の効果が一層発揮されると共に。
互換性及び保守性の上で非常に有利となる。
［発明の効果］
以上説明したように本発明に係る粒子解析装置は、フロ
ーセルに対し光学部材の一部を一体化することにより、
アライメント操作及び部材の交換が容易になり、アライ
メントの自動化の可能性も生ずる。
ーセルに対し光学部材の一部を一体化することにより、
アライメント操作及び部材の交換が容易になり、アライ
メントの自動化の可能性も生ずる。
図面第１図は本発明に係る粒子解析装置の実施例の断面
図、第２図は従来例の構成図である。 符号１はフローセル、７，９は集光レンズ。 １６は保持部材、１７は結像レンズ、２０はレーザー光
源保持部材、２１．２ｚは光検出器保持部材である。 へ寸 ＼
図、第２図は従来例の構成図である。 符号１はフローセル、７，９は集光レンズ。 １６は保持部材、１７は結像レンズ、２０はレーザー光
源保持部材、２１．２ｚは光検出器保持部材である。 へ寸 ＼
Claims (1)
- １、フローセル内を流れる検体粒子に対して光ビームを
照射し、その散乱光又は蛍光等の測定をすることにより
検体粒子の解析を行う粒子解析装置において、レンズを
含む光学部材の少なくとも一部とフローセルとを保持部
材により一体化したことを特徴とする粒子解析装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63136813A JPH01305338A (ja) | 1988-06-02 | 1988-06-02 | 粒子解析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63136813A JPH01305338A (ja) | 1988-06-02 | 1988-06-02 | 粒子解析装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01305338A true JPH01305338A (ja) | 1989-12-08 |
Family
ID=15184106
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63136813A Pending JPH01305338A (ja) | 1988-06-02 | 1988-06-02 | 粒子解析装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01305338A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2003532113A (ja) * | 2000-05-01 | 2003-10-28 | オンデオ ナルコ カンパニー | モジュール式蛍光光度計 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61288138A (ja) * | 1985-06-15 | 1986-12-18 | Nikko Seiki Kk | パ−テイクルカウンタ |
| JPS62134544A (ja) * | 1985-12-07 | 1987-06-17 | Hitachi Electronics Eng Co Ltd | ダスト検出装置及びその組立方法 |
-
1988
- 1988-06-02 JP JP63136813A patent/JPH01305338A/ja active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61288138A (ja) * | 1985-06-15 | 1986-12-18 | Nikko Seiki Kk | パ−テイクルカウンタ |
| JPS62134544A (ja) * | 1985-12-07 | 1987-06-17 | Hitachi Electronics Eng Co Ltd | ダスト検出装置及びその組立方法 |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2003532113A (ja) * | 2000-05-01 | 2003-10-28 | オンデオ ナルコ カンパニー | モジュール式蛍光光度計 |
| JP2011185954A (ja) * | 2000-05-01 | 2011-09-22 | Ondeo Nalco Co | モジュール式蛍光光度計、検知方法、管理方法 |
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