JPH01301581A - 酸化物単結晶の製造装置 - Google Patents
酸化物単結晶の製造装置Info
- Publication number
- JPH01301581A JPH01301581A JP13141488A JP13141488A JPH01301581A JP H01301581 A JPH01301581 A JP H01301581A JP 13141488 A JP13141488 A JP 13141488A JP 13141488 A JP13141488 A JP 13141488A JP H01301581 A JPH01301581 A JP H01301581A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- crucible
- noble metal
- crystal
- single crystal
- temperature gradient
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 239000013078 crystal Substances 0.000 title claims abstract description 43
- 239000007788 liquid Substances 0.000 claims abstract description 18
- 229910000510 noble metal Inorganic materials 0.000 claims abstract description 16
- 239000002994 raw material Substances 0.000 claims abstract description 9
- 239000000155 melt Substances 0.000 claims description 5
- PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N aluminium oxide Inorganic materials [O-2].[O-2].[O-2].[Al+3].[Al+3] PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract description 10
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 abstract description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 abstract description 3
- 238000009413 insulation Methods 0.000 abstract description 3
- 230000006698 induction Effects 0.000 abstract description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 7
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 4
- 239000010970 precious metal Substances 0.000 description 4
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 3
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 239000011819 refractory material Substances 0.000 description 3
- PSHMSSXLYVAENJ-UHFFFAOYSA-N dilithium;[oxido(oxoboranyloxy)boranyl]oxy-oxoboranyloxyborinate Chemical compound [Li+].[Li+].O=BOB([O-])OB([O-])OB=O PSHMSSXLYVAENJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000005484 gravity Effects 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 239000010453 quartz Substances 0.000 description 2
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N silicon dioxide Inorganic materials O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052582 BN Inorganic materials 0.000 description 1
- PZNSFCLAULLKQX-UHFFFAOYSA-N Boron nitride Chemical compound N#B PZNSFCLAULLKQX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052581 Si3N4 Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000005452 bending Methods 0.000 description 1
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 1
- 210000000078 claw Anatomy 0.000 description 1
- PMHQVHHXPFUNSP-UHFFFAOYSA-M copper(1+);methylsulfanylmethane;bromide Chemical compound Br[Cu].CSC PMHQVHHXPFUNSP-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 238000001035 drying Methods 0.000 description 1
- 230000020169 heat generation Effects 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 239000000843 powder Substances 0.000 description 1
- HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N silicon nitride Chemical compound N12[Si]34N5[Si]62N3[Si]51N64 HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
Landscapes
- Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の目的〕
(産業上の利用分野)
本発明は、回転引上げ法による酸化物単結晶の製造装置
に関する。
に関する。
(従来の技術)
一般に、第5図に示すような酸化物単結晶の製造装置が
知られている。貴金属るづぼ■はその周辺をアルミする
つぼ■、バブルアルミナ■、アルミナ保温I(2)、ア
フターヒーター(13)等により覆われた状態で高周波
ワークコイル0により誘導加熱され、原料融液■がつく
られる。特にアフターヒーター(13)は引上げ結晶■
の成長領域から冷却領域迄の熱環境を支配する重要な要
素になっている。 酸化物単結晶0を製造するには原料
融液■の温度制御をしながら、シードホルダー0に取付
けられた種子結晶(10)を融液■に接触させ、回転し
ながら引き上げ成長させる。
知られている。貴金属るづぼ■はその周辺をアルミする
つぼ■、バブルアルミナ■、アルミナ保温I(2)、ア
フターヒーター(13)等により覆われた状態で高周波
ワークコイル0により誘導加熱され、原料融液■がつく
られる。特にアフターヒーター(13)は引上げ結晶■
の成長領域から冷却領域迄の熱環境を支配する重要な要
素になっている。 酸化物単結晶0を製造するには原料
融液■の温度制御をしながら、シードホルダー0に取付
けられた種子結晶(10)を融液■に接触させ、回転し
ながら引き上げ成長させる。
酸化物単結晶引上げ用の高周波加熱炉に用いられるアフ
ターヒーターは通常第5図に示したように、貴金属るつ
ぼ上部を覆うように設置し、温度勾配をゆるやかにして
引上下げ結晶のクラックを防止する。炉の縦方向中心線
上の温度勾配の一例は第3図(b)のようになり液面近
傍の結晶成長領域の温度勾配(11)と、更に上方の冷
却領域の温度勾配(12)とが重要となる。結晶の曲り
(I旋状成長)は主に成長領域の温度勾配がゆるやかな
場合に生じ、クラックは主に冷却領域の温度勾配が急な
場合に生じる。クラックは成長領域の温度勾配(11)
が急激になる場合にも生じると考えられる。
ターヒーターは通常第5図に示したように、貴金属るつ
ぼ上部を覆うように設置し、温度勾配をゆるやかにして
引上下げ結晶のクラックを防止する。炉の縦方向中心線
上の温度勾配の一例は第3図(b)のようになり液面近
傍の結晶成長領域の温度勾配(11)と、更に上方の冷
却領域の温度勾配(12)とが重要となる。結晶の曲り
(I旋状成長)は主に成長領域の温度勾配がゆるやかな
場合に生じ、クラックは主に冷却領域の温度勾配が急な
場合に生じる。クラックは成長領域の温度勾配(11)
が急激になる場合にも生じると考えられる。
温度勾配は引上げる結晶の種類によって適当な値に設定
する必要がある。
する必要がある。
(発明が解決しようとする111題)
通常、液面上部に設置する貴金属製熱反射体はアフター
ヒーターとして作用し、液面上方の温度勾配(11)、
(12)をゆるくする目的で使用する。従ってその形
状は貴金属るつぼの上方全体を覆う第5図に示す(13
)のようなものとなる。このような形状で温度勾配をゆ
るくするには、口径を大きくしたり、肉厚を薄くするこ
とで容易に可能であるが、逆にきつくするためにはるつ
ぼ径や結品径で制限があり、肉厚も価格的な問題で限度
がある。
ヒーターとして作用し、液面上方の温度勾配(11)、
(12)をゆるくする目的で使用する。従ってその形
状は貴金属るつぼの上方全体を覆う第5図に示す(13
)のようなものとなる。このような形状で温度勾配をゆ
るくするには、口径を大きくしたり、肉厚を薄くするこ
とで容易に可能であるが、逆にきつくするためにはるつ
ぼ径や結品径で制限があり、肉厚も価格的な問題で限度
がある。
結晶製造時の具体例としては、引上げ結晶が成長するに
つれて液面が低下し、温度勾配がゆるやかになり過ぎて
結晶が曲り始め、やがて引上げ不可能となる問題がある
。しかも曲りをなくすために引上げ開始時の液面の温度
勾配(11)を急に設定すると、従来型の熱反射体では
液面上方の温度勾配(12)も同時に急になるため、引
上げ結晶が上方へ上がるにつれて冷却され過ぎてクラッ
クを生ずるという問題がある。
つれて液面が低下し、温度勾配がゆるやかになり過ぎて
結晶が曲り始め、やがて引上げ不可能となる問題がある
。しかも曲りをなくすために引上げ開始時の液面の温度
勾配(11)を急に設定すると、従来型の熱反射体では
液面上方の温度勾配(12)も同時に急になるため、引
上げ結晶が上方へ上がるにつれて冷却され過ぎてクラッ
クを生ずるという問題がある。
また、るつぼにチャージする原料は嵩比重の小さい粉末
を用いることが多く、大量に詰め込んで溶融するとるつ
ぼ外へこぼれたりその結果周囲の耐火物が変形したりし
て不安定原因となる問題がある。
を用いることが多く、大量に詰め込んで溶融するとるつ
ぼ外へこぼれたりその結果周囲の耐火物が変形したりし
て不安定原因となる問題がある。
一方、米国特許(US 4330361号)に開示され
ているものは、上方に開口したテーパを有する熱反射体
を設けた半心体の単結晶用」;げ装置である。従って、
使用されるるつぼは、石英、IIN (窒化ホウ素)等
であり、熱反射体の材質も石英、 nN、 AQN(窒
化アルミニウムL 5IJ4(窒化シリコン)等に限定
される。また、加熱方式も抵抗加熱であり、熱反射体自
体は発熱することなく、単なる熱遮蔽体として用いられ
るものである。
ているものは、上方に開口したテーパを有する熱反射体
を設けた半心体の単結晶用」;げ装置である。従って、
使用されるるつぼは、石英、IIN (窒化ホウ素)等
であり、熱反射体の材質も石英、 nN、 AQN(窒
化アルミニウムL 5IJ4(窒化シリコン)等に限定
される。また、加熱方式も抵抗加熱であり、熱反射体自
体は発熱することなく、単なる熱遮蔽体として用いられ
るものである。
従って、温度勾配は急激になると考えられ、単結晶にク
ラックが発生しやすく、特に大口径の酸化物単結晶には
適用できないものである。
ラックが発生しやすく、特に大口径の酸化物単結晶には
適用できないものである。
本発明の目的は、上記課題を解決し、融液面付近の温度
勾配をクラックの生じない程度に急に設定し、かつ融液
面上方の温度勾配はクラックの生じない程度にゆるやか
に設定することが可能な酸化物単結晶の製造装置を提供
することを目的とする。
勾配をクラックの生じない程度に急に設定し、かつ融液
面上方の温度勾配はクラックの生じない程度にゆるやか
に設定することが可能な酸化物単結晶の製造装置を提供
することを目的とする。
(課題を解決するための手段)
本発明は、貴金属るつぼの外周に配設した高周波ワーク
コイルにより、前記貴金属るつぼを加熱し、前記貴金属
るつぼ内の酸化物原料を溶融させ。
コイルにより、前記貴金属るつぼを加熱し、前記貴金属
るつぼ内の酸化物原料を溶融させ。
液面に種子結晶を接触させ回転させながら引上げて製造
する酸化物単結晶の製造装置において、前記貴金属るつ
ぼの上端部に向って上方へ開くテーパを有する貴金属の
熱反射体を設けることを特徴とするものである。
する酸化物単結晶の製造装置において、前記貴金属るつ
ぼの上端部に向って上方へ開くテーパを有する貴金属の
熱反射体を設けることを特徴とするものである。
(作 用)
本発明のような熱反射体を用いることにより、温度勾配
の設定範囲が広くなる。例えば、熱反射体の下部の口径
を小さくすることにより、液面近傍の温度勾配を急にす
ることができ、」一部の口径を大きくすることにより、
高周波による発熱が増し、上方の温度勾配はゆるやかに
なる。
の設定範囲が広くなる。例えば、熱反射体の下部の口径
を小さくすることにより、液面近傍の温度勾配を急にす
ることができ、」一部の口径を大きくすることにより、
高周波による発熱が増し、上方の温度勾配はゆるやかに
なる。
すなわち、熱反射体の上下の口径や高さを任意に設定す
ることにより、液面近傍(結晶領域)と液面上方(冷却
領域)の温度勾配を自由に設定することができる。
ることにより、液面近傍(結晶領域)と液面上方(冷却
領域)の温度勾配を自由に設定することができる。
(実 施 例)
以下に本発明の酸化物単結晶の製造装置の実施例を図面
を参照して説明する。
を参照して説明する。
実施例−1
本発明の熱反射体■をアルミするつぼ■とアルミナ保温
筒G)との間に設け、その他は従来の酸化物単結晶の引
上げ装置と同様にした。
筒G)との間に設け、その他は従来の酸化物単結晶の引
上げ装置と同様にした。
このような装置により、高周波炉の中心縦方向の温度分
布を測定した結果を第3図に示す。従来の炉における同
じ位置の温度分布(b)と比較して。
布を測定した結果を第3図に示す。従来の炉における同
じ位置の温度分布(b)と比較して。
液面近傍でやや温度差が大きく、さらに液面上方では温
度勾配がゆるやかになっている。
度勾配がゆるやかになっている。
これに対し1本実施例は、熱反射体0の上部径が大きい
ため、高周波で発熱しやすく、またテーパが上方へ向っ
て開口しているため、熱反射も上向きになり、従来の炉
の温度分布の上方におけろ曲がりを立上げる作用がある
。
ため、高周波で発熱しやすく、またテーパが上方へ向っ
て開口しているため、熱反射も上向きになり、従来の炉
の温度分布の上方におけろ曲がりを立上げる作用がある
。
さらに、温度勾配の設定の自由度が大幅に向上する。こ
の−例を第4図に示した。本発明の第1図や第2図に示
したような熱反射体を用いて、熱反体の下部[1径を変
化させた場合を黒丸印(O)で示した。この図によれば
融液面近傍の温度勾配は口径に対し相関関係をもち1口
径が小さくなるほど温度勾配は急になる。
の−例を第4図に示した。本発明の第1図や第2図に示
したような熱反射体を用いて、熱反体の下部[1径を変
化させた場合を黒丸印(O)で示した。この図によれば
融液面近傍の温度勾配は口径に対し相関関係をもち1口
径が小さくなるほど温度勾配は急になる。
尚、熱反射体の口径を同じにして、るつぼとワークコイ
ルの相対位置や融液量、熱反射板の位置等を変化させる
ことにより、第4図の白色印(○)で示したような範囲
で温度勾配が変化することは従来と同様である。
ルの相対位置や融液量、熱反射板の位置等を変化させる
ことにより、第4図の白色印(○)で示したような範囲
で温度勾配が変化することは従来と同様である。
実施例−2
本発明の熱反射体を上部(14)、中間部(15)、下
部(16)のように3分割し、下部(16)の口径を、
上部(14)と中間部(15)の口径より径小にして、
第2図に示したように、全体として上方へ向って開くテ
ーパ状を構成するようにし尭、四硼酸リチウム単結晶を
引上げ製造した。
部(16)のように3分割し、下部(16)の口径を、
上部(14)と中間部(15)の口径より径小にして、
第2図に示したように、全体として上方へ向って開くテ
ーパ状を構成するようにし尭、四硼酸リチウム単結晶を
引上げ製造した。
結果として、実施例−1で述べたような温度分布が得ら
れることが確認された。また、熱反射体を3分割したこ
とにより、液面」二方の湿度分布の設定の自由度が大幅
に向上した。従って、熱反射体以外は、従来の高周波炉
によって製造する単結晶の種類に応じて温度分布をより
適切に設定しやすくなる。
れることが確認された。また、熱反射体を3分割したこ
とにより、液面」二方の湿度分布の設定の自由度が大幅
に向上した。従って、熱反射体以外は、従来の高周波炉
によって製造する単結晶の種類に応じて温度分布をより
適切に設定しやすくなる。
この3分割の熱反射体を用いて、上記四硼酸リチウム単
結晶を引上げた場合、従来3′φX 40mmQ以上で
は曲りやクラックのための歩留低下があったものが再現
性良くπa造できるようになった。
結晶を引上げた場合、従来3′φX 40mmQ以上で
は曲りやクラックのための歩留低下があったものが再現
性良くπa造できるようになった。
さらに1本発明の熱反射体を用いれば、嵩比重の小さい
粉末原料をるつぼの高さを越えて充填してもこぼれるこ
となく、−度に大量にチャージできる。また、るつぼ周
囲のバブルアルミナ等の耐火物を混入したり、耐火物を
変形させて炉の熱条件を狂わせたりすることがなくなり
、結晶成長の再現性を向上させることができる。
粉末原料をるつぼの高さを越えて充填してもこぼれるこ
となく、−度に大量にチャージできる。また、るつぼ周
囲のバブルアルミナ等の耐火物を混入したり、耐火物を
変形させて炉の熱条件を狂わせたりすることがなくなり
、結晶成長の再現性を向上させることができる。
なお、バブルアルミナを有する貴金属るつぼの例につい
て述へたが、本発明は必要に応じ、バブルアルミナを使
用しない場合にも適用可能である。
て述へたが、本発明は必要に応じ、バブルアルミナを使
用しない場合にも適用可能である。
本発明の酸化物単結晶の製造装置によれば、温度分布の
設定の自由度が広くなり、再現性良く酸化物単結晶を製
造することができる。
設定の自由度が広くなり、再現性良く酸化物単結晶を製
造することができる。
第1図は本発明の酸化物単結晶の製造装置の一実施例を
示す縦断面図、第2図は本発明の他の実施例を示す縦断
面図、第3図は酸化物単結晶の製装置を示す縦断面図で
ある6 ■・・・貴金属るつぼ ■・・・アルするつぼ■・
・・バブルアルミナ (イ)・・・アルミナ保温筒0
・・・熱反射体 ■・・・高周波ワークコイル ■・・・原料融液 面・・・引上げ結晶υ)・
・・シードホルダー (10)・・・種子結晶(11
)・・・液面近傍の温度勾配 (12)・・・液面上方の温度勾配 代理人 弁理士 則 近 憲 佑 同 竹 花 票久男 第 1 囚 / 3 2 第2図 第 3 図 膿もUJff、にの丁Jp、口ね証 (爪
m);4;1 図
示す縦断面図、第2図は本発明の他の実施例を示す縦断
面図、第3図は酸化物単結晶の製装置を示す縦断面図で
ある6 ■・・・貴金属るつぼ ■・・・アルするつぼ■・
・・バブルアルミナ (イ)・・・アルミナ保温筒0
・・・熱反射体 ■・・・高周波ワークコイル ■・・・原料融液 面・・・引上げ結晶υ)・
・・シードホルダー (10)・・・種子結晶(11
)・・・液面近傍の温度勾配 (12)・・・液面上方の温度勾配 代理人 弁理士 則 近 憲 佑 同 竹 花 票久男 第 1 囚 / 3 2 第2図 第 3 図 膿もUJff、にの丁Jp、口ね証 (爪
m);4;1 図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 貴金属るつぼの外周に配設した高周波ワークコイルに
より、前記貴金属るつぼを加熱し、前記貴金属るつぼ内
の酸化物原料を溶融させ、液面に種子結晶を接触させ回
転させながら引上げて製造する酸化物単結晶の製造装置
において、 前記貴金属るつぼの上端部に向って上方へ開くテーパを
有する貴金属の熱反射体を設けることを特徴とする酸化
物単結晶の製造装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63131414A JP2713986B2 (ja) | 1988-05-31 | 1988-05-31 | 酸化物単結晶の製造装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63131414A JP2713986B2 (ja) | 1988-05-31 | 1988-05-31 | 酸化物単結晶の製造装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01301581A true JPH01301581A (ja) | 1989-12-05 |
JP2713986B2 JP2713986B2 (ja) | 1998-02-16 |
Family
ID=15057414
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63131414A Expired - Lifetime JP2713986B2 (ja) | 1988-05-31 | 1988-05-31 | 酸化物単結晶の製造装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2713986B2 (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE102004003596A1 (de) * | 2004-01-15 | 2005-08-11 | Forschungsverbund Berlin E.V. | Verfahren und Anordnung zur Herstellung von ZnO-Einkristallen |
JP2016504266A (ja) * | 2013-01-23 | 2016-02-12 | エルジー・シルトロン・インコーポレーテッド | 単結晶成長装置 |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS56134376U (ja) * | 1980-03-14 | 1981-10-12 | ||
JPS5740119A (en) * | 1980-07-18 | 1982-03-05 | Skf Kugellagerfabriken Gmbh | Thin bearing bush made by pressdrawing |
JPS58217492A (ja) * | 1982-06-08 | 1983-12-17 | Hitachi Metals Ltd | 結晶成長装置 |
JPS62138386A (ja) * | 1985-12-11 | 1987-06-22 | Shin Etsu Handotai Co Ltd | 単結晶の引上装置 |
-
1988
- 1988-05-31 JP JP63131414A patent/JP2713986B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS56134376U (ja) * | 1980-03-14 | 1981-10-12 | ||
JPS5740119A (en) * | 1980-07-18 | 1982-03-05 | Skf Kugellagerfabriken Gmbh | Thin bearing bush made by pressdrawing |
JPS58217492A (ja) * | 1982-06-08 | 1983-12-17 | Hitachi Metals Ltd | 結晶成長装置 |
JPS62138386A (ja) * | 1985-12-11 | 1987-06-22 | Shin Etsu Handotai Co Ltd | 単結晶の引上装置 |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE102004003596A1 (de) * | 2004-01-15 | 2005-08-11 | Forschungsverbund Berlin E.V. | Verfahren und Anordnung zur Herstellung von ZnO-Einkristallen |
DE102004003596B4 (de) * | 2004-01-15 | 2007-06-21 | Forschungsverbund Berlin E.V. | Verfahren zur Herstellung von ZnO-Einkristallen |
JP2016504266A (ja) * | 2013-01-23 | 2016-02-12 | エルジー・シルトロン・インコーポレーテッド | 単結晶成長装置 |
US9657411B2 (en) | 2013-01-23 | 2017-05-23 | Lg Siltron Incorporated | Single-crystal growth apparatus |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2713986B2 (ja) | 1998-02-16 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
TW482831B (en) | Single crystal production apparatus and production of single crystal | |
US6086671A (en) | Method for growing a silicon single crystal | |
JPS6259594A (ja) | 結晶の引上げ方法 | |
JP3086850B2 (ja) | 単結晶の成長方法及び装置 | |
JP6977619B2 (ja) | シリコン単結晶の酸素濃度推定方法、およびシリコン単結晶の製造方法 | |
JPH01301581A (ja) | 酸化物単結晶の製造装置 | |
JP2670548B2 (ja) | シリコン単結晶の製造装置 | |
JPH0761889A (ja) | 半導体単結晶引き上げ装置および引き上げ方法 | |
JP2005231958A (ja) | サファイア単結晶育成装置 | |
JP2878794B2 (ja) | 単結晶引上げ装置 | |
JP2957857B2 (ja) | 酸化物単結晶の製造方法 | |
JPS6389488A (ja) | 単結晶の製造方法 | |
JP2705832B2 (ja) | 単結晶引き上げ装置 | |
JPH046195A (ja) | シリコン単結晶の製造装置 | |
JPH01294592A (ja) | 単結晶の育成方法 | |
JP2717175B2 (ja) | 単結晶育成法及びその装置 | |
JPH03177389A (ja) | シリコン単結晶の引上げ装置 | |
EP0530397A1 (en) | Czochralski crystal pulling process and an apparatus for carrying out the same | |
TW573082B (en) | Thermal shield device equipped in crystal-pulling apparatus | |
JPH02172885A (ja) | シリコン単結晶の製造方法 | |
JPH09208363A (ja) | 単結晶引き上げ装置 | |
JPH03265593A (ja) | 結晶成長装置 | |
JPS6350390A (ja) | 単結晶の成長方法 | |
JPH02283693A (ja) | シリコン単結晶の製造方法および装置 | |
JPH0416587A (ja) | 単結晶引上装置 |