JPH046195A - シリコン単結晶の製造装置 - Google Patents

シリコン単結晶の製造装置

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JPH046195A
JPH046195A JP10486890A JP10486890A JPH046195A JP H046195 A JPH046195 A JP H046195A JP 10486890 A JP10486890 A JP 10486890A JP 10486890 A JP10486890 A JP 10486890A JP H046195 A JPH046195 A JP H046195A
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JP
Japan
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single crystal
silicon
silicon single
diameter
raw material
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Pending
Application number
JP10486890A
Other languages
English (en)
Inventor
Yasumitsu Nakahama
中濱 泰光
Yoshinobu Shima
島 芳延
Makoto Suzuki
真 鈴木
Teruo Fujibayashi
晃夫 藤林
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
JFE Engineering Corp
Original Assignee
NKK Corp
Nippon Kokan Ltd
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Publication date
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Publication of JPH046195A publication Critical patent/JPH046195A/ja
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  • Liquid Deposition Of Substances Of Which Semiconductor Devices Are Composed (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は、チョクラルスキー法による大直径でかつ、長
尺シリコン単結晶の製造装置に関するものである。
[従来の技術] LSI分野ではシリコン単結晶に要求される直径は年々
大きくなっている。今日、最新のデバイスでは直径6イ
ンチのシリコン単結晶が使われている。将来は直径10
インチあるいはそれ以上の直径のシリコン単結晶、例え
ば直径12インチのシリコン単結晶が必要になるといわ
れている。
チョクラルスキー法(以下CZ法という)のシリコン単
結晶の製造方法に関して2通りの考え方がある。即ち、
るつぼを回転させる方法とるつぼを回転させない方法で
ある。今日ではLSI用に用いられる全てのCZ法のシ
リコン単結晶は、るつぼをシリコン単結晶の回転とは逆
方向に回転させ、かつ、主にるつぼの側面を取り囲む電
気抵抗加熱体によりるつぼを加熱する方法により製造さ
れている。多くの試みにも関わらず、るつぼを回転させ
ない方法、あるいは上記以外(電気抵抗加熱体)の加熱
方法で直径5インチ以上のシリコン単結晶が今までに作
られてないし、今後とも作られることはないだろう、こ
の理由は、るつぼの回転なしでは、あるいは電磁誘導加
熱やるつぼの底面からの電気抵抗加熱等上記以外の加熱
方法で行なうと、成長するシリコン単結晶に対して同心
円状の温度分布が得られないからである。シリコン単結
晶の成長は温度に関してきわめて敏感である。
るつぼが回転するCZ法(以下通常のCZ法という)で
は、るつぼの回転と電気抵抗側面加熱によりシリコン溶
融液に強い対流が発生し、シリコン溶融液が強く攪拌さ
れる。この結果直径5イン千以上のシリコン単結晶の育
成にとっては望ましい、即ち均一なそしてシリコン単結
晶に対して完全に同心円状の溶融液表面温度分布が得ら
れるからである。従って本発明は通常のC2法をベース
とする。
上記のように、通常のCZ法と他のC2法ではシリコン
溶融液の流れに大きな違いがある。この違いは結果とし
てシリコン単結晶の成長条件の大きな違いとなる。従っ
て炉内部品(例えばホ・ノドゾーン、るつぼ、仕切り部
材等)の作用も両者では大きく異なる。シリコン単結晶
の育成に対する考え方が両者では全く異なるのである。
従来のCZ法ではシリコン単結晶の成長とともにるつぼ
内のシリコン溶融液が減少する。従ってシリコン単結晶
の成長とともにシリコン単結晶中のドーパント濃度が上
昇し、酸素濃度が低下する。即ちシリコン単結晶の性質
がその成長方向て変動する。LSIの高密度化とともに
シリコン単結晶に要求される品質が年々厳しくなるのて
この間匪は解決されねばならない。
この問題を解決する手段として、通常のCZ法の石英る
つぼ内のシリコン溶融液を小孔を有する円筒状の石英製
仕切り部材で仕切り、この仕切り部材の外側に原料シリ
コンを供給しながら、仕切り部材の内側で円柱状のシリ
コン単結晶を育成する方法が古くから知られている(例
えば、特許公報−昭40−10184号公報Pi L2
0−L35) 、この方法の大きな問題点は特開昭62
−241889号公報(PL12L1も)にも指摘され
ている通り、仕切り部材の内側で仕切り部材を起点とし
てシリコン溶融液の凝固が発生しやすい、この原因は次
の通りである。
石英製仕切り部材は光ファイバーに使われていることか
らも明らかなように、輻射により熱をよく伝達する。即
ちシリコン溶融液中の熱は光として仕切り部材中を上方
に伝達し、仕切り部材のシリコン溶融液面上に露出して
いる部分より放散される。従って仕切り部材近傍では溶
融液温度が大きく低下している。さらに通常のCZ法で
は、溶融液の強い攪拌により溶融液の表面温度は均一で
しかも溶融液の凝固温度の直上である。以上の二つのこ
とか重なり仕切り部材に接触しているシリコン溶融液表
面は非常に凝固しやすい状態になっている。特開昭62
−241889号公報はこの問題を避けるため、仕切り
部材を使用しない方法を提案したものである。しかしこ
の方法は原料溶解部が狭いため、原料シリコンの溶解能
力が極めて小さく、シリコン単結晶の引き上げ量に見合
う量の原料シリコンを供給することができない。
シリコン単結晶の引き上げ量に見合う量の原料シリコン
を供給可能にするため、仕切り部材を用いかつそれから
の凝固の発生を防止する方法を提案したものとして特開
平]−153589号公報がある。
この公開特許は仕切り部材を保温カバーで完全に覆うこ
とを提案している。この方法により仕切り部材からの熱
の放散は防止できる。従ってシリコン単結晶の引き上げ
量に見合う量の原料を供給し、なおかつ凝固の発生を防
止できる。
[発明が解決しようとするIL 特開平1−153589号公報の方法によれば、原理的
にはシリコン単結晶の製造装置の単結晶収納部の大きさ
の許容する長さのシリコン単結晶の育成が可能なはずで
ある。しかし6インチ以上の大直径のシリコン単結晶の
育成に関して、長さ1m以上の長尺単結晶は引き上げ例
が少なく、まして、シリコン結晶の引き上げ量に見合う
量の原料を供給する方法についてはほとんど報告されて
いない。
この問題について発明者らが検討したところ、特開平1
−153589号公報の方法ではシリコン結晶の長さが
1m以上になると、シリコン単結晶は有転位化しやすく
なることがわかった。この有転位化の確率の増大は、シ
リコン単結晶の長尺化とともに、炉内の雰囲気ガス(A
r)の流れが変化してしまうためであることが判明した
。これは、シリコン溶融液より蒸発しなSiO蒸気が低
温の雰囲気ガスにより固化、凝集し、シリコン溶融液の
結晶近傍に落下し、それがシリコン単結晶の凝固界面に
付着することにより転位が起こる転位発生メカニズムに
関係することがわがっな、シリコン単結晶の長さが短い
間、即ちシリコン単結晶の先端部が単結晶収納部にはい
る前の状態では、第4図(a)に示すように雰囲気ガス
流Aはシリコン単結晶5により拡散し、雰囲気ガスによ
り凝縮したSiOが成長中のシリコン単結晶5のごく近
傍に落下することは起こりにくい、これに対して、シリ
コン単結晶5の長さが長い場合、即ちシリコン単結晶5
のかなりの部分が単結晶収納部20に入っている状態で
は、第4図(b)に示すように雰囲気ガス流Bは単結晶
収納部20内においてシリコン単結晶5に沿った流れが
作られる。この低温の雰囲気ガス流Bはシリコン単結晶
5に沿って直接シリコン溶融液7直上まで到達するので
、シリコン溶融液7に比較的近い位置でSiO蒸気の固
化、凝集が起こりやすい、なおかっ、この雰囲気ガス流
Bはシリコン単結晶5が単結晶収納部20に入る前より
も流速が速くなっているので、雰囲気ガスにより固化し
たSiOが成長中のシリコン単結晶5のごく近傍に落下
する確率は飛躍的に増大する。これにともなって、シリ
コン単結晶5が有転位化する確率は増大する。
又、前記課題を解決する方法として、まず単結晶収納部
20の炉体に対する開口面積を大きく、即ち単結晶収納
部20の容積を大きくすることが考えられる。しかしこ
のようにした場合、シリコン溶融液などからの高温輻射
を充分に遮れないことにより、シリコン単結晶の冷却を
充分におこなうことができず、シリコン単結晶の品質に
悪影響を与えるため好ましくない。
この発明は係る事情に鑑みてなされたものであり、連続
的に原料シリコンを供給する方式のシリコン単結晶の製
造装置において、結晶長さ1m以上の長尺のシリコン単
結晶を安定して製造することを目的とする。
[課題を解決するための手段] 本発明に係るシリコン単結晶の製造装置は、シリコン溶
融液を内蔵する自転型石英るつぼと、前記石英るつぼを
側面がち加熱する電気抵抗加熱体と、前記石英るつぼ内
で溶融シリコンを単結晶育成部と原料溶解部とに分割し
がっ溶融液が流通できる小孔を有する石英製仕切り部材
と、前記仕切り部材と前記原料溶解部を覆う保温カバー
と、前記原料溶解部に原料シリコンを連続供給する原料
供給装置とを有するシリコン単結晶の製造装置において
、炉体上面部と単結晶収納部との接合部近傍に内径がシ
リコン単結晶の直径より大きく、かつ単結晶収納部の直
径より小さな円錐状の金属製リング管を具備したことを
特徴とする。
[作用コ 本発明はシリコン単結晶の製造装置において、炉体上面
部と単結晶収納部との接合部近傍に内径がシリコン単結
晶の直径より大きく、かつ単結晶収納部の直径より小さ
な円錐状の金属製リング管から構成されているので、第
3図に示すように単結晶収納部より流れてきた雰囲気ガ
ス流Cは円錐状の金属製リング管22で拡散される。こ
のためシリコン単結晶5に沿った流れはがなり解消され
、なおかつ雰囲気ガス流の速度も減速される。
そして雰囲気ガス流Cがシリコン単結晶5の崩れを起こ
し易くなるような流れに変化することを防止できる。そ
して、雰囲気ガスにより固化したSiOが成長中のシリ
コン単結晶のごく近傍に落下する確率は減少させること
ができる。
円錐状の金属製リング管の水平面に対する最小角度は円
錐状の金属製リング管と炉体上面部の間隔がせばまりそ
の部分で雰囲気ガス流が増速することがないように、5
°以上であることが必要である。また、円錐状の金属製
リング管の水平面に対する最大角度は雰囲気ガス流がシ
リコン単結晶を直接冷却させないために60’以下が1
町しい。
[実施例コ 本発明の実施例を図面を参照して説明する。
第1図は本発明の実施例を直径6インチのシリコン単結
晶を育成する場合のシリコン単結晶の製造装置を示す断
面図である。1は直径20インチの石英るつぼで、黒鉛
るつぼ2の中にセットされている。黒鉛るつぼ2はベデ
ィスタル4で支えられている。ベディスタル4は炉外で
電動モターに結合されており、黒鉛るっぽ2に回転運動
(10rpm)を与える働きをする。7はるっぽ1内に
入れられたシリコン溶融液である。これがら柱状のシリ
コン単結晶5が回転(2Orpm)Lながら1 、1 
am/ winの速度で引き上げられる83は黒鉛るつ
ぼを取り囲む電気抵抗加熱体である。雰囲気ガスは単結
晶収納部20の上部から炉内(16は炉体上面部、17
は炉体胴部及び20は単結晶収納部)に導入され最終的
に炉底の排出口19から減圧装置(図示せず)を経由し
てシリコン単結晶の製造装置から排出される。
炉内の圧力は0.01−0.03気圧である。
以上は通常のチョクラルスキー法によるシリコン単結晶
製造装置と基本的には同じである。
8はるつぼ1内にこれと同心円に配置された高純度気泡
入り石英ガラスからなる仕切り部材である。その直径は
350mmである。この仕切り部材8には小孔10が開
けられており、原料溶解部のシリコン溶融液7はこの小
孔10を通って単結晶育成部に流入する。この仕切り部
材8の下縁部はるつぼ1とあらかじめ融着されているか
、原料シリコンを溶融する際の熱により融着しており、
原料溶解部の高温のシリコン溶融液7はこの小孔10の
みを通り単結晶育成部に流入する。14は原料供給装置
で、原料溶解部の上部に開口を持っており、粒状の原料
シリコンはこの供給装置14を通って原料溶解部に供給
される。供給割合は、シリコン単結晶した量と等しい量
、即ち約48g/+s i nである。この原料供給装
置14は炉体上面部16の外部に設けた原料供給チャン
バー(図示せず)に連結されており、粒状の原料シリコ
ンをシリコン溶融液7に連続的に供給する。
15は保温カバーであり、板厚0.2mmのタンタル板
で構成されている。これは仕切り部材8および原料溶解
部からの熱の放散を抑制する。
第2図は本発明の実施例の円錐状の金属製リング管の斜
視図で、22は本発明の円錐状の金属製リング管、23
は取付治具で、金属製リング管22を炉体上面部16に
取り付けるため取付治具23である。
この円錐状の金属製リング管22の内径は、シリコン単
結晶5との接触を防ぐためシリコン単結晶5の引き上げ
直径よりも大きく、また雰囲気ガス流に影響を与えるた
めに単結晶収納部の直径より小さくなければならない。
この実施例では円錐状の金属製リング管22の内径が1
78+am、外径が3001のものを使用した。この金
属製リングの材料はステンレスで、その厚さは2■を使
用した。テーパー角度は30°で、単結晶収納部の直径
は220■であった。
円錐状の金属製リング管22を使用しないシリコン単結
晶の製造装置では、シリコン単結晶の長さ1m弱(0,
7〜0.9m)のところで結晶の有転位化が頻発したが
、これに対し、円錐状の金属製リング管22を使用した
シリコン単結晶の製造装置でシリコン単結晶の引き上げ
を行なったところ、シリコン単結晶の長さ1m(1,2
〜1.6m)を越える無転位シリコン単結晶を安定して
育成できるようになった。
[発明の効果] 本発明は以上のように構成されているので、シリコン単
結晶の長尺化にともない雰囲気ガス流がシリコン単結晶
の崩れを発生しないような雰囲気ガス流にし、シリコン
単結晶の直径6インチ以上で、かつ単結晶長さの1m以
上のシリコン単結晶を安定して育成できるようになった
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の実施例のシリコン単結晶の製造装置を
示す断面図、第2図は本発明の実施例の円錐状の金属製
リング管の斜視図、第3図は本発明実施例の雰囲気ガス
流の模式図、第4図は従来技術のシリコン単結晶の製造
装置内の雰囲気ガス流の模式図、(a)はシリコン単結
晶が単結晶収納部に入る前の段階の図、(b)はシリコ
ン単結晶が単結晶収納部に入った後の段階を示す図であ
る。 1・・・石英るつぼ、2・・・黒鉛るつぼ、3・・・電
気抵抗加熱体、4・・・ペディスタル、5・・・シリコ
ン単結晶、7・・・シリコン溶融液、8・・・仕切り部
材、10・・小孔、14・・・シリコン供給装置、15
・・・保温カバー、16・・・炉体上面部、17・・・
炉体胴部、19・・・排出口、20・・・単結晶収納部
、22・・・円錐状の金属製リング管、23・・・取付
治具。 A・・・従来技術で、シリコン単結晶が単結晶収納部に
入る前の段階の単結晶収納部、シリコン単結、晶近傍を
通る雰囲気ガスのガス流、 B・・・従来技術で、シリコン単結晶が単結晶収納部に
入った後の段階の単結晶収納部、シリコン単結晶近傍を
通る雰囲気ガスのガス流、 C・・・本発明で実施例で、シリコン単結晶が単結晶収
納部に入った後の段階の単結晶収納部、シリコン単結晶
近傍を通る雰囲気ガスのガス流。

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)シリコン溶融液を内蔵する自転型石英るつぼと、
    前記石英るつぼを側面から加熱する電気抵抗加熱体と、
    前記石英るつぼ内で溶融シリコンを単結晶育成部と原料
    溶解部とに分割しかつ溶融液が流通できる小孔を有する
    石英製仕切り部材と、前記仕切り部材と前記原料溶解部
    を覆う保温カバーと、前記原料溶解部に原料シリコンを
    連続供給する原料供給装置とを有するシリコン単結晶の
    製造装置において、炉体上面部と単結晶収納部との接合
    部近傍に内径がシリコン単結晶の直径より大きく、かつ
    単結晶収納部の直径より小さな円錐状の金属製リング管
    を具備したことを特徴とするシリコン単結晶の製造装置
  2. (2)前記円錐状の金属製リング管は炉体上面から釣り
    下げられ、かつその円錐状のテーパーが水平面に対する
    角度が5〜60°であることを特徴とした請求項第1記
    載のシリコン単結晶の製造装置。
JP10486890A 1990-04-20 1990-04-20 シリコン単結晶の製造装置 Pending JPH046195A (ja)

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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102140686A (zh) * 2010-02-03 2011-08-03 中国科学院福建物质结构研究所 一种新型的多晶硅熔炼炉
CN104593863A (zh) * 2015-01-05 2015-05-06 英利集团有限公司 单晶炉
CN104990409A (zh) * 2015-06-30 2015-10-21 重庆科技学院 一种坩埚及用其制备具有织构特征的铁酸铋靶材的方法
CN105525346A (zh) * 2014-10-21 2016-04-27 镇江大成新能源有限公司 一种新型单晶炉
CN105887207A (zh) * 2014-10-21 2016-08-24 镇江大成新能源有限公司 一种低功耗的单晶炉

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102140686A (zh) * 2010-02-03 2011-08-03 中国科学院福建物质结构研究所 一种新型的多晶硅熔炼炉
CN105525346A (zh) * 2014-10-21 2016-04-27 镇江大成新能源有限公司 一种新型单晶炉
CN105887207A (zh) * 2014-10-21 2016-08-24 镇江大成新能源有限公司 一种低功耗的单晶炉
CN104593863A (zh) * 2015-01-05 2015-05-06 英利集团有限公司 单晶炉
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