JPH01275560A - 耐熱性電荷移動錯体 - Google Patents
耐熱性電荷移動錯体Info
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- JPH01275560A JPH01275560A JP10418488A JP10418488A JPH01275560A JP H01275560 A JPH01275560 A JP H01275560A JP 10418488 A JP10418488 A JP 10418488A JP 10418488 A JP10418488 A JP 10418488A JP H01275560 A JPH01275560 A JP H01275560A
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01G—CAPACITORS; CAPACITORS, RECTIFIERS, DETECTORS, SWITCHING DEVICES, LIGHT-SENSITIVE OR TEMPERATURE-SENSITIVE DEVICES OF THE ELECTROLYTIC TYPE
- H01G9/00—Electrolytic capacitors, rectifiers, detectors, switching devices, light-sensitive or temperature-sensitive devices; Processes of their manufacture
- H01G9/004—Details
- H01G9/022—Electrolytes; Absorbents
- H01G9/025—Solid electrolytes
- H01G9/028—Organic semiconducting electrolytes, e.g. TCNQ
-
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- Organic Low-Molecular-Weight Compounds And Preparation Thereof (AREA)
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- Pyridine Compounds (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は、導電性及び耐熱性の優れた電荷移動錯体に関
する。また本発明は上記電荷移動錯体を使用した固体電
解コンデンサに関するものである。
する。また本発明は上記電荷移動錯体を使用した固体電
解コンデンサに関するものである。
(従来の技術)
近年、ディジタル機器の発展に伴なって高周波数領域に
おいてインピーダンスが低(かつ高周波数特性の優れた
大容量のコンデンサの要求が高まっている。
おいてインピーダンスが低(かつ高周波数特性の優れた
大容量のコンデンサの要求が高まっている。
従来、高周波数特性の優れたコンデンサとしては、フィ
ルム、マイカ、セラミックコンデンサが用いられている
が、大容量化にすると形状が大きくなり価格も高くなる
。
ルム、マイカ、セラミックコンデンサが用いられている
が、大容量化にすると形状が大きくなり価格も高くなる
。
また大容量のコンデンサとしての電解コンデンサには電
解液式と二酸化マンガンを用いる固体電解質式がある。
解液式と二酸化マンガンを用いる固体電解質式がある。
前者は経時的コンデンサ特性が悪く、電解質がイオン伝
導性であるために高周波数特性も悪い。後者は硝酸マン
ガンの熱分解時に酸化皮膜が損傷しやすいなどの理由に
より高周波数領域でのインピーダンスあるいは損失が高
い。
導性であるために高周波数特性も悪い。後者は硝酸マン
ガンの熱分解時に酸化皮膜が損傷しやすいなどの理由に
より高周波数領域でのインピーダンスあるいは損失が高
い。
上記の従来のコンデンサの欠点を解決する目的で、?、
7,8.8−テトラシア/キノジメタン(以下TCNQ
と略す)をアクセプターとし、各種ドナーとの組み合わ
せからなる電荷移動錯体を固体電解質とする電解コンデ
ンサが提案されている。
7,8.8−テトラシア/キノジメタン(以下TCNQ
と略す)をアクセプターとし、各種ドナーとの組み合わ
せからなる電荷移動錯体を固体電解質とする電解コンデ
ンサが提案されている。
提案されたTCNQ電荷移動錯体のドナーはN−n−へ
キシルキノリン、N−エチルインキ/リン、またはN−
n−プチルイソキ/リン(特開昭58−19144)、
N−n−7ミルイソキノリン、またはN−インアミルイ
ソキノリン(特開昭62−116552>などがある。
キシルキノリン、N−エチルインキ/リン、またはN−
n−プチルイソキ/リン(特開昭58−19144)、
N−n−7ミルイソキノリン、またはN−インアミルイ
ソキノリン(特開昭62−116552>などがある。
他方、電子機器の小型化、形薄化、さらには省資源化な
どから電子部品のチップ化が必然的となってきている。
どから電子部品のチップ化が必然的となってきている。
このチップ部品は回路パターンであるランドとチップ部
品の端子とをリフローソルダ法またはディップソルダ法
等によりはんだ付けされる。このためTCNQ電荷移動
錯体ら230°C以上の耐熱性が要求されている。
品の端子とをリフローソルダ法またはディップソルダ法
等によりはんだ付けされる。このためTCNQ電荷移動
錯体ら230°C以上の耐熱性が要求されている。
(発明が解決しようとする問題点)
しかし、現在まで提案されているTCNQ電荷移動錯体
は230°Cよりも低い温度で熱溶融し、この状態であ
る時間以上放置すると酸化分解を起こす。このため、特
にはんだ付けの時にコンデンサ特性の損失が大きくなり
、導電性も低下し、高周波数特性が悪くなる。
は230°Cよりも低い温度で熱溶融し、この状態であ
る時間以上放置すると酸化分解を起こす。このため、特
にはんだ付けの時にコンデンサ特性の損失が大きくなり
、導電性も低下し、高周波数特性が悪くなる。
本発明の目的は上記問題点を解決するもので、第一に耐
熱性及び導電性の優れた電荷移動錯体を提供することに
あり、第二に該電荷移動錯体をコンデンサの電解質にす
ることにより、はんだ付けにも耐え得る特性の優れた電
解コンデンサを提供することにある。
熱性及び導電性の優れた電荷移動錯体を提供することに
あり、第二に該電荷移動錯体をコンデンサの電解質にす
ることにより、はんだ付けにも耐え得る特性の優れた電
解コンデンサを提供することにある。
(問題点を解決するための手段)
本発明者等は上記目的のために鋭意研究した結果、下記
−形式Iで表わされる 2個の3,5−ルチジンのアルキル基架橋体(但し、R
は炭素数1〜12のアルキル基を表わす)をドナーとし
、?、7,8.8−テトラシアノキメジメタンをアクセ
プターとする耐熱性電荷移動錯体が上記問題を解決し、
またこれらの錯体を電解質としたコンデンサが特に耐熱
性の優れた固体電解コンデンサである事を見出し、本発
明を完成するに至った。
−形式Iで表わされる 2個の3,5−ルチジンのアルキル基架橋体(但し、R
は炭素数1〜12のアルキル基を表わす)をドナーとし
、?、7,8.8−テトラシアノキメジメタンをアクセ
プターとする耐熱性電荷移動錯体が上記問題を解決し、
またこれらの錯体を電解質としたコンデンサが特に耐熱
性の優れた固体電解コンデンサである事を見出し、本発
明を完成するに至った。
次に本発明の錯体の合成法について説明する。
3.5−ルチジンとフルキルジアイオグイドをアルコー
ル性溶媒あるいはアセトニトリル溶媒中にて反応させ、
N位同士をアルキル基で架橋したドナーが得られ、前記
ドナーとTCNQとをアセトニトリル中にて反応させる
と、本発明の耐熱性電荷移動錯体が得られる。
ル性溶媒あるいはアセトニトリル溶媒中にて反応させ、
N位同士をアルキル基で架橋したドナーが得られ、前記
ドナーとTCNQとをアセトニトリル中にて反応させる
と、本発明の耐熱性電荷移動錯体が得られる。
対応するアルキル基は炭素原子1〜12個の直鎖状もし
くは分枝鎖状フルキル基であるが、好ましくは炭素原子
5〜8個のアルキル基である。また 一般に電荷移動錯
体はアクセプターとドナーのモル比が1または2のもの
が知られているが、本発明の錯体のモル比は3ないし5
、好ましくは3.5ないし4.5とする。
くは分枝鎖状フルキル基であるが、好ましくは炭素原子
5〜8個のアルキル基である。また 一般に電荷移動錯
体はアクセプターとドナーのモル比が1または2のもの
が知られているが、本発明の錯体のモル比は3ないし5
、好ましくは3.5ないし4.5とする。
このようにして得られた該電荷移動錯体を熱溶融させ、
陽極体及び陰極体からなる素子の両極間に含浸させ、そ
の後冷却して錯体を付着させてコンデンサ素子とし、こ
れを組み込んで固体電解コンデンサとする。
陽極体及び陰極体からなる素子の両極間に含浸させ、そ
の後冷却して錯体を付着させてコンデンサ素子とし、こ
れを組み込んで固体電解コンデンサとする。
以下、実施例により本発明をさらに詳しく説明する。
実施例1
1.5−ノヨウドブタン3.24g、315−ルチジン
2.148およびアセトニトリル5Ualを還流冷却器
および撹拌器のついたフラスコに入れ還流下″c1時間
反応させた。反応終了後減圧下でアセトニトリルを蒸発
留去し、固形分残渣をエチルエーテル30I111!で
2回洗浄し、黄白色結晶のN、N’−1,5−ジヨウビ
ーn−ベンチルージー3,5−ルチジン5.29gを得
た。次いでアセトニトリル120mgとTCNQ4,2
5gを還流冷却器および攪拌器のついた四日7ラスフに
入れ加熱し、これにN、N’−1,5−ジヨウビーn−
ペンチル−ジー3゜5−ルチジン4.2gを溶解させた
アセトニトリル:8液40m2を滴下し、20分間還流
反応させた。
2.148およびアセトニトリル5Ualを還流冷却器
および撹拌器のついたフラスコに入れ還流下″c1時間
反応させた。反応終了後減圧下でアセトニトリルを蒸発
留去し、固形分残渣をエチルエーテル30I111!で
2回洗浄し、黄白色結晶のN、N’−1,5−ジヨウビ
ーn−ベンチルージー3,5−ルチジン5.29gを得
た。次いでアセトニトリル120mgとTCNQ4,2
5gを還流冷却器および攪拌器のついた四日7ラスフに
入れ加熱し、これにN、N’−1,5−ジヨウビーn−
ペンチル−ジー3゜5−ルチジン4.2gを溶解させた
アセトニトリル:8液40m2を滴下し、20分間還流
反応させた。
反応液を冷却後、析出した結晶をろ別し、メチルアルコ
ール50mNで2回洗浄し、N、N’−1,5−〇−ベ
ンチルー:)−3,5−ルチジニウム・TCNQ錯体5
.33gを得た6 該錯体の元素分析の結果を次に示す。
ール50mNで2回洗浄し、N、N’−1,5−〇−ベ
ンチルー:)−3,5−ルチジニウム・TCNQ錯体5
.33gを得た6 該錯体の元素分析の結果を次に示す。
元素分析値Cs ? H4< N + s計算値二C%
ニア3.08 、 H%:4.03 、 N%:2
2.89実測値:0%ニア3.14 、 H%:4.
01 、 N%:22.85また熱分析装置を用いた
示差熱分析の結果(第1図)、該錯体の融点は247℃
、発熱分解点は2実施例2〜4 1モルの3,5−ルチジンと1/2モルの2.4−ショ
ウr−n−ペンタン、1.6−シミウド−n−ヘキサン
、1,8−クヨフドーn−オクタンとをそれぞれ実施例
1に準じてアセトニトリル中にて反応させ、それぞれ相
当するジアイオグイドを得る。以下実施例1に準じてT
CNQ電荷移動錯体を合成し、熱分析装置を用いた示差
熱分析の結果から融点と発熱分解点を測定し第1表に示
した。
ニア3.08 、 H%:4.03 、 N%:2
2.89実測値:0%ニア3.14 、 H%:4.
01 、 N%:22.85また熱分析装置を用いた
示差熱分析の結果(第1図)、該錯体の融点は247℃
、発熱分解点は2実施例2〜4 1モルの3,5−ルチジンと1/2モルの2.4−ショ
ウr−n−ペンタン、1.6−シミウド−n−ヘキサン
、1,8−クヨフドーn−オクタンとをそれぞれ実施例
1に準じてアセトニトリル中にて反応させ、それぞれ相
当するジアイオグイドを得る。以下実施例1に準じてT
CNQ電荷移動錯体を合成し、熱分析装置を用いた示差
熱分析の結果から融点と発熱分解点を測定し第1表に示
した。
対応する錯体の示差熱分析データおよび赤外吸収スペク
トルを、2.4−n−ペンタンは第2図及び第7図、1
.6−n−ヘキサンは第3図及び第8図、1.8−n〜
オクタンは第4図及び第9図にそれぞれ示した。
トルを、2.4−n−ペンタンは第2図及び第7図、1
.6−n−ヘキサンは第3図及び第8図、1.8−n〜
オクタンは第4図及び第9図にそれぞれ示した。
比較例1
n−プチルアイオグイド1.84gとキノリン1゜29
8とを実施例1に準じてアセトニトリル中にて反応させ
、以下実施例1に準じてN−n−ブチルキノリニウムT
CNQ錯体を合成し、熱分析装置を用いた示差熱分析デ
ータ(第5図)から融点と発熱分解点を測定し結果を第
1表に示した。またこの赤外吸収スペクトルを第10図
に示した。
8とを実施例1に準じてアセトニトリル中にて反応させ
、以下実施例1に準じてN−n−ブチルキノリニウムT
CNQ錯体を合成し、熱分析装置を用いた示差熱分析デ
ータ(第5図)から融点と発熱分解点を測定し結果を第
1表に示した。またこの赤外吸収スペクトルを第10図
に示した。
第1表から、2個の3,5−ルチジンのN位同士をアル
キル基で架橋したものをドナーとする錯体は一様に融点
が230℃以上と高く、がっ、比較例に挙げたN−n−
ブチルキノリニウム錯体あるいは従来知られている錯体
よりも発熱分解点が高いので、熱安定性がきわめて優れ
ていることがわかった。
キル基で架橋したものをドナーとする錯体は一様に融点
が230℃以上と高く、がっ、比較例に挙げたN−n−
ブチルキノリニウム錯体あるいは従来知られている錯体
よりも発熱分解点が高いので、熱安定性がきわめて優れ
ていることがわかった。
実施例5〜8
実施例1〜4において得られたそれぞれの錯体60w+
gを直径6.3mmのアルミケースに充填し、加熱溶解
させ巻回型アルミ電解コンデンサユニットを浸漬させ、
直ちに冷却しコンデンサを得た。
gを直径6.3mmのアルミケースに充填し、加熱溶解
させ巻回型アルミ電解コンデンサユニットを浸漬させ、
直ちに冷却しコンデンサを得た。
コンデンサユニットはアルミニウム表面を化成処理して
酸化皮膜を形成させたものを用い、浸漬前に予め加熱し
ておいた。得られたコンデンサの特性を第2表の耐熱試
験前の欄に示した1次にこのコンデンサを230°Cの
半田浴中にケースごと30秒間入れ室温に放置後、再び
コンデンサ特性を測定した。この値を第2表の耐熱試験
後の欄に示した。
酸化皮膜を形成させたものを用い、浸漬前に予め加熱し
ておいた。得られたコンデンサの特性を第2表の耐熱試
験前の欄に示した1次にこのコンデンサを230°Cの
半田浴中にケースごと30秒間入れ室温に放置後、再び
コンデンサ特性を測定した。この値を第2表の耐熱試験
後の欄に示した。
比較例2
比較例1にて得られた錯体を実施例5〜8に従ってコン
デンサを作成し、耐熱性試験前後のコンデンサ特性を測
定した。得られた結果を第2表に示した。
デンサを作成し、耐熱性試験前後のコンデンサ特性を測
定した。得られた結果を第2表に示した。
第2表中のCapは20゛C1120Hzにおけるにお
ける等価直列抵抗(mΩ)である。△C/Cは20°C
に対する85°Cの静電容量の変化率(%)である。
ける等価直列抵抗(mΩ)である。△C/Cは20°C
に対する85°Cの静電容量の変化率(%)である。
第2表から、実施例に示す錯体で作ったコンデンサをは
んだ浴に入れた後の特性は初期特性と比べ変化が少なく
、優れたコンデンサ特性を示すことが判明した。
んだ浴に入れた後の特性は初期特性と比べ変化が少なく
、優れたコンデンサ特性を示すことが判明した。
(発明の効果)
本発明の2個の3,5−ルチシ゛ンのN位同士をアルキ
ル基で架橋したドナーとTCNQを7クセプターとする
電荷移動錯体は230°C以上の融点τ1寸り為バズ疋
′l!(1,η1百しく■艮2几2.まり小児はんだ付
けにも耐え得る耐熱性を示すため、損失が少なく、導電
率も低下せず、高周波特性の優れたコンデンサである。
ル基で架橋したドナーとTCNQを7クセプターとする
電荷移動錯体は230°C以上の融点τ1寸り為バズ疋
′l!(1,η1百しく■艮2几2.まり小児はんだ付
けにも耐え得る耐熱性を示すため、損失が少なく、導電
率も低下せず、高周波特性の優れたコンデンサである。
第1図〜第4図及び第6図〜第9図は本発明の実施例1
〜4の錯体の示差熱分析データ及び赤外吸収スペクトル
であり、第5図及び第10図は比特許出願人 日本カー
リット株式会社
〜4の錯体の示差熱分析データ及び赤外吸収スペクトル
であり、第5図及び第10図は比特許出願人 日本カー
リット株式会社
Claims (2)
- 1.一般式I ▲数式、化学式、表等があります▼I (但し、Rは炭素数1〜12のアルキル基を表わす)で
表わされる2個の3,5−ルチジンのアルキル基架橋体
をドナーとし、7,7,8,8−テトラシアノキノジメ
タンをアクセプターとする耐熱性電荷移動錯体。 - 2.請求項1記載の耐熱性電荷移動錯体を電解質とする
耐熱性固体電解コンデンサ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP10418488A JPH0625110B2 (ja) | 1988-04-28 | 1988-04-28 | 耐熱性電荷移動錯体 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP10418488A JPH0625110B2 (ja) | 1988-04-28 | 1988-04-28 | 耐熱性電荷移動錯体 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01275560A true JPH01275560A (ja) | 1989-11-06 |
JPH0625110B2 JPH0625110B2 (ja) | 1994-04-06 |
Family
ID=14373911
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP10418488A Expired - Lifetime JPH0625110B2 (ja) | 1988-04-28 | 1988-04-28 | 耐熱性電荷移動錯体 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0625110B2 (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0367147A2 (en) * | 1988-10-31 | 1990-05-09 | The Japan Carlit Co., Ltd. | Charge transfer complex and solid electrolytic capacitor employing the same |
EP0464605A2 (en) * | 1990-06-29 | 1992-01-08 | Sanyo Electric Co., Ltd. | Solid electrolytic capacitor with organic semiconductor and method of manufacturing the same |
-
1988
- 1988-04-28 JP JP10418488A patent/JPH0625110B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0367147A2 (en) * | 1988-10-31 | 1990-05-09 | The Japan Carlit Co., Ltd. | Charge transfer complex and solid electrolytic capacitor employing the same |
EP0464605A2 (en) * | 1990-06-29 | 1992-01-08 | Sanyo Electric Co., Ltd. | Solid electrolytic capacitor with organic semiconductor and method of manufacturing the same |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0625110B2 (ja) | 1994-04-06 |
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