JPH01259278A - プリント回路基板の自己診断装置 - Google Patents
プリント回路基板の自己診断装置Info
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- JPH01259278A JPH01259278A JP63085369A JP8536988A JPH01259278A JP H01259278 A JPH01259278 A JP H01259278A JP 63085369 A JP63085369 A JP 63085369A JP 8536988 A JP8536988 A JP 8536988A JP H01259278 A JPH01259278 A JP H01259278A
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- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
この発明は、プリント回路基板の自己診断回路に関する
もので、マイクロプロセッサを搭載するプリント回路基
板の自己診断装置に関する。
もので、マイクロプロセッサを搭載するプリント回路基
板の自己診断装置に関する。
第４図は例えば特開昭６１−４９４０６号公報に示され
た従来のプリント回路基板の自己診断装置を示すブロッ
ク接続図であり、図において、３５はマイクロプロセッ
サ３０が搭載されたプリント回路基板で、このプリント
回路基板３５には自己診断プログラムが格納されたり一
ドオンリメモリ（以下、ＲＯＭという）回路３０ａ、前
記マイクロプロセッサ３０に接続されて表示器３１を駆
動するドライバ３２．外部のスイッチ３３からの開閉信
号を人力する入力回路３４．前記プリント回路基板３５
を検査する検査装置３６を接続するための入力回路４０
および出力回路４１などが搭載されている。前記検査装
置３６はマイクロコンピュータの中央処理装置（以下、
ＣＰＵという）３７によって構成される。また、前記プ
リント回路基板３５に搭載された表示器３１にはセンサ
３８が対向して設けられ、このセンサ３８からの読取信
号は前記検査装置３６のＣＰＵ３７に供給される。 さらに、この検査装置３６にはデイスプレィ３９および
プリンタ４０が接続され、読取信号および検査信号を表
示、印刷するようになっている。 次に動作について説明する。まず、検査装置３６のＣＰ
Ｕ３７からマイクロプロセッサ３０にスタート信号が供
給される。このスタート信号供給により、マイクロプロ
セッサ３０は自己診断モードに設定され、ＲＯＭ３０
ａより自己診断プログラムが選択される。そして前記マ
イクロプロセッサ３０により、前記診断プログラムが順
次実行される。たとえば、スイッチ３３の開閉信号を入
力する入力回路３４２表示器３１およびドライバ３２の
診断を行う場合、マイクロプロセッサ３０は自己診断プ
ログラムにより、スイッチ３３の開閉信号を検査信号と
して、検査装置３６のＣＰＵ３７に出力すると共に、前
記ドライバ３２を介して表示器３１に供給し、所定のメ
ツセージパターンを駆動する。これにより上記表示器３
１には上記検査信号に応したメソセージが表示される。 この表示器３１に表示されたメソセージはセンサ３８に
よって読み取られ、上記ＣＰＵ３７に供給される。 ＣＰＵ３７では供給された読取信号と前記マイクロプロ
セッサ３０から供給された前記開閉信号である検査信号
とをデイスプレィ３９およびプリンタ４０に出力する。 上記検査装置３６では自己診断プログラムの検査項目が
あらかじめ記憶されていると共に、実行された検査項目
数が計数されるようになっている。そして、あらかじめ
記憶されている検査項目数と計数値とが一致した場合、
前記検査装置３６は、すべての検査が終了したものと判
断し、終了信号をマイクロプロセッサ３０に出力し、自
己診断プログラムの実行が終了される。
た従来のプリント回路基板の自己診断装置を示すブロッ
ク接続図であり、図において、３５はマイクロプロセッ
サ３０が搭載されたプリント回路基板で、このプリント
回路基板３５には自己診断プログラムが格納されたり一
ドオンリメモリ（以下、ＲＯＭという）回路３０ａ、前
記マイクロプロセッサ３０に接続されて表示器３１を駆
動するドライバ３２．外部のスイッチ３３からの開閉信
号を人力する入力回路３４．前記プリント回路基板３５
を検査する検査装置３６を接続するための入力回路４０
および出力回路４１などが搭載されている。前記検査装
置３６はマイクロコンピュータの中央処理装置（以下、
ＣＰＵという）３７によって構成される。また、前記プ
リント回路基板３５に搭載された表示器３１にはセンサ
３８が対向して設けられ、このセンサ３８からの読取信
号は前記検査装置３６のＣＰＵ３７に供給される。 さらに、この検査装置３６にはデイスプレィ３９および
プリンタ４０が接続され、読取信号および検査信号を表
示、印刷するようになっている。 次に動作について説明する。まず、検査装置３６のＣＰ
Ｕ３７からマイクロプロセッサ３０にスタート信号が供
給される。このスタート信号供給により、マイクロプロ
セッサ３０は自己診断モードに設定され、ＲＯＭ３０
ａより自己診断プログラムが選択される。そして前記マ
イクロプロセッサ３０により、前記診断プログラムが順
次実行される。たとえば、スイッチ３３の開閉信号を入
力する入力回路３４２表示器３１およびドライバ３２の
診断を行う場合、マイクロプロセッサ３０は自己診断プ
ログラムにより、スイッチ３３の開閉信号を検査信号と
して、検査装置３６のＣＰＵ３７に出力すると共に、前
記ドライバ３２を介して表示器３１に供給し、所定のメ
ツセージパターンを駆動する。これにより上記表示器３
１には上記検査信号に応したメソセージが表示される。 この表示器３１に表示されたメソセージはセンサ３８に
よって読み取られ、上記ＣＰＵ３７に供給される。 ＣＰＵ３７では供給された読取信号と前記マイクロプロ
セッサ３０から供給された前記開閉信号である検査信号
とをデイスプレィ３９およびプリンタ４０に出力する。 上記検査装置３６では自己診断プログラムの検査項目が
あらかじめ記憶されていると共に、実行された検査項目
数が計数されるようになっている。そして、あらかじめ
記憶されている検査項目数と計数値とが一致した場合、
前記検査装置３６は、すべての検査が終了したものと判
断し、終了信号をマイクロプロセッサ３０に出力し、自
己診断プログラムの実行が終了される。
従来のプリント回路基板の自己診断装置は以上のように
構成されているので、回路に障害が有った場合、概略の
異常メソセージが出るだけなので、真の障害箇所を発見
する為には、単発的に発生する異常信号を観測する高級
な測定器、たとえばロジックアナライザなどや、プログ
ラムを解析しながら原因を追跡するなどの高度な専門で
き知識が必要で、障害原因のしぼり込みに多大な時間が
かかるなどの問題点があった。 この発明は上記のような問題点を解消する為になされた
もので、プリント回路基板に搭載されるマイクロプロセ
ッサのＲＯＭ回路にあらかじめ周辺回路の診断プログラ
ムを格納しておき、この診断プログラムを実行すること
により、専用の診断装置や高度な専門知識を必要とせず
、かつ短時間に障害原因を発見できるプリント回路基板
の自己診断装置を得ることを目的とする。
構成されているので、回路に障害が有った場合、概略の
異常メソセージが出るだけなので、真の障害箇所を発見
する為には、単発的に発生する異常信号を観測する高級
な測定器、たとえばロジックアナライザなどや、プログ
ラムを解析しながら原因を追跡するなどの高度な専門で
き知識が必要で、障害原因のしぼり込みに多大な時間が
かかるなどの問題点があった。 この発明は上記のような問題点を解消する為になされた
もので、プリント回路基板に搭載されるマイクロプロセ
ッサのＲＯＭ回路にあらかじめ周辺回路の診断プログラ
ムを格納しておき、この診断プログラムを実行すること
により、専用の診断装置や高度な専門知識を必要とせず
、かつ短時間に障害原因を発見できるプリント回路基板
の自己診断装置を得ることを目的とする。
この発明に係るプリント回路基板の自己診断装置は、１
枚のプリント回路基板に搭載されたマイクロプロセッサ
と、データバス、制御ハスにより接続されたＲＯＭ回路
、ＲＡＭ回路などの周辺回路とを有し、前記ＲＯＭ回路
に前記周辺回路を診断する診断プログラムを格納し、こ
の診断結果に従って前記周辺回路の健全性を判断し、そ
の結果を表示すると共に、判定結果が異常の場合に障害
箇所を、スイッチ入力回路により診断プログラムの流れ
を変えていき、部品単位まで、詳細にしぼり込むように
したものである。
枚のプリント回路基板に搭載されたマイクロプロセッサ
と、データバス、制御ハスにより接続されたＲＯＭ回路
、ＲＡＭ回路などの周辺回路とを有し、前記ＲＯＭ回路
に前記周辺回路を診断する診断プログラムを格納し、こ
の診断結果に従って前記周辺回路の健全性を判断し、そ
の結果を表示すると共に、判定結果が異常の場合に障害
箇所を、スイッチ入力回路により診断プログラムの流れ
を変えていき、部品単位まで、詳細にしぼり込むように
したものである。
この発明におけるスイッチ入力回路は、診断プログラム
の起動を行うとともに、この診断プログラムの流れを変
えるもので、その診断結果を表示する表示回路は、診断
結果が異常であった場合に、障害箇所の表示を行うマン
・マシンインタフェースとして機能する。
の起動を行うとともに、この診断プログラムの流れを変
えるもので、その診断結果を表示する表示回路は、診断
結果が異常であった場合に、障害箇所の表示を行うマン
・マシンインタフェースとして機能する。
以下、この発明の一実施例を図面について説明する。第
１図において、１１はプリント回路基板で、このプリン
ト回路基板１１にはマイクロプロセッサ１１このマイク
ロプロセッサ１等に接続されたデータバス、制御バスな
どのバス２、ＲＯＭ回路３、ランダム アクセス メモ
リ（以下、ＲＡＭという）回路４、表示回路５、スイッ
チ入力回路６、回路Ａ７．回路Ｂ９など前記マイクロプ
ロセッサ１の周辺回路（以下、周辺回路という）が搭載
されている。なお、回路Ａ７．回路Ｂ９にはそれぞれ外
部入出力端子８．９が有る。前記ＲＯＭ回路３には本来
のシステムプログラムと前記周辺回路の健全性を診断す
る診断プログラムが格納されている。 次に動作について説明する。前記マイクロプロセッサ１
はハス２を含む前記周辺回路を、ＲＯＭ回路３に格納さ
れた診断プログラムにしたがって制御して診断し、その
診断結果を表示回路５に表示する。そして、その診断結
果が異常とでた場合、すなわち、どこかに障害がある場
合には、その内容を表示する。そして、スイッチ入力回
路６からの指示に従って、診断プログラムは次のステッ
プに進み、障害があった回路の細部診断を行い、障害箇
所に到達した時点で、表示回路５にその内容を表示し、
障害箇所の診断をくり返す。一実施例として、前記プリ
ント回路基板１１のＲＡＭ回路４に障害があった場合の
診断動作について、第２図、第３図を参照して説明する
。第２図は前記ＲＡＭ回路４の障害部を示す回路図で、
バス２からのアドレス信号２ａをデコードするデコーダ
４ａの出力信号により、メモリーＩＣである。ＲＡＭＩ
Ｃ０４ｂ、ＲＡＭＩＣ１４ｃをそれぞれ選択する。ＲＡ
ＭＩＣ０４ｂの端子３互 ４ｂ＋は低レベル信号で有意
となり、端子Ａ。４ｂｚ〜Ａ３４ｂ５はアドレス入力端
子で高レベル信号有意、ＷＥ端子４ｂ＋ｏ は書込信
号で低レベル有意でバス２からの制御信号２ｃが人力さ
れる。端子Ｄｏ ４ ｂｂ 〜Ｄ３４ ｂｑはデータの
入出力端子で、ここでの高レベル゛１”、低レベル゛０
″を前記マイクロプロセッサ１が認識し、バス２のデー
タバス２ｂにより接続される。これらの端子り。 ４ｂａ〜Ｄ３４ｂ９は端子Ｃ３４ｂ、が低レベル以外の
時は高インピーダンス状態となる。ＲＡＭＩＣ１４Ｇの
端子Ｃ３４Ｃ＋ 〜Ｄｘ ４ ｃｑについても同様であ
る。また、端子り。４ｂ６付近のＸ印は障害箇所４ Ｃ
１＋ で、ＲＡＭｌＣｌ ４ｃの端子り。４ｃｂが
接触不良状態になっているものと仮定する。 次に、診断動作を第３図のフローチャートに従って説明
する。 まず、マイクロプロセッサ１の起動はリセントスタート
で行い（ステップ５Ｔ１）、このとき診断プログラムを
実行するかどうかを判定する（ステップ５Ｔ２）。この
とき、スイッチ入力回路６を見に行き、スイッチ入力（
診断プログラムの起動）が無ければ、本来のシステムプ
ログラムを実行する（ステップ５Ｔ３）。一方、スイッ
チ入力が有ればＲＯＭ回路３の診断を行い、結果を表示
する（ステップ５Ｔ４）。次に、ＲＡＭ回路４について
も同様に診断と結果表示を行い（ステップ５Ｔ５） 、
続いて回路Ａ７および回路Ｂ９についても同様に診断と
結果表示を行う（ステップＳＴ６．７）。これらの診断
順序は、たとえばＲＯＭ回路３に障害があったとすれば
、診断プログラムそのものが信軌性を欠くことになるの
で、ＲＯＭ回路３の診断を一番目に実施していくように
、基本になる回路から順番に実施していく。これまでの
診断で、ＲＡＭ回路４のみに障害があることが表示回路
５の表示で確認できる。次に、ここまでの診断結果で１
回路以上の障害が有るか否か判定する（ステップ５Ｔ８
）。すなわち、次のステップに移るかどうかスイッチ入
力回路６の指示を見て、回路細部の診断を実行するか否
かを判定する（ステップ９）。指示がなければ、最初の
ＲＯＭ回路３の診断に戻り、指示が有れば、障害があっ
た回路についての細部診断を行う。この例では、ＲＯＭ
回路３が正常と診断された後（ステップＳＴＩ Ｏ）
、ＲＡＭ回路４に障害があると判定されたので（ステッ
プ５ＴＩＩ）、ＲＡＭＩＣ０４ｂから診断を行う（ステ
ップ５Ｔ１２）。この診断結果は正常なので、次にＲＡ
ＭｌＣｌ ４ｃの診断を行う（ステップ５Ｔ１３）。 このときは診断結果障害があるので、その内容を表示回
路５に出力して、上記ＲＡＭｌＣｌ ４ｃの診断をく
り返す。この状態はＲＡＭｌＣｌ ４ｃの端子■４ｃ
＋に連続した低レベルパルスが入力されて、ＲＡＭｌＣ
ｌ ４ｃへのデータ書込み、読出しを行っている。こ
こで汎用の測定器であるオシロスコープを用い、端子Ｃ
Ｓ ４ ｃ ＋の信号をトリガ信号としてＲＡＭｌＣ
ｌ ４ｃの各端子の信号およびアドレスバス２ａ、デ
ータバス２ｂ、制御信号２ｃを観測することにより容易
に障害箇所４ＣＩ＋を発見できる。なお、ＲＯＭ回路３
および回路Ａについては正常と診断されなかった場合に
は（ステップｓＴ１０，５Ｔ１４） 、スイッチ入力に
より診断プログラムの流れを変え、それぞれについて細
部診断が行われ（ステップＳＴＩ ６，５Ｔ１７）、こ
のとき回路Ｂについても細部診断が行われる（ステップ
５Ｔ１５）。 なお、上記実施例ではプログラムの流れを変える指示を
スイッチ入力回路６で示したが、外部からの信号、たと
えばキーボード等から指示してもよい。また、表示回路
５として外部に出力する信号によって表示するたとえば
ＣＲＴなどを用いてもよい。
１図において、１１はプリント回路基板で、このプリン
ト回路基板１１にはマイクロプロセッサ１１このマイク
ロプロセッサ１等に接続されたデータバス、制御バスな
どのバス２、ＲＯＭ回路３、ランダム アクセス メモ
リ（以下、ＲＡＭという）回路４、表示回路５、スイッ
チ入力回路６、回路Ａ７．回路Ｂ９など前記マイクロプ
ロセッサ１の周辺回路（以下、周辺回路という）が搭載
されている。なお、回路Ａ７．回路Ｂ９にはそれぞれ外
部入出力端子８．９が有る。前記ＲＯＭ回路３には本来
のシステムプログラムと前記周辺回路の健全性を診断す
る診断プログラムが格納されている。 次に動作について説明する。前記マイクロプロセッサ１
はハス２を含む前記周辺回路を、ＲＯＭ回路３に格納さ
れた診断プログラムにしたがって制御して診断し、その
診断結果を表示回路５に表示する。そして、その診断結
果が異常とでた場合、すなわち、どこかに障害がある場
合には、その内容を表示する。そして、スイッチ入力回
路６からの指示に従って、診断プログラムは次のステッ
プに進み、障害があった回路の細部診断を行い、障害箇
所に到達した時点で、表示回路５にその内容を表示し、
障害箇所の診断をくり返す。一実施例として、前記プリ
ント回路基板１１のＲＡＭ回路４に障害があった場合の
診断動作について、第２図、第３図を参照して説明する
。第２図は前記ＲＡＭ回路４の障害部を示す回路図で、
バス２からのアドレス信号２ａをデコードするデコーダ
４ａの出力信号により、メモリーＩＣである。ＲＡＭＩ
Ｃ０４ｂ、ＲＡＭＩＣ１４ｃをそれぞれ選択する。ＲＡ
ＭＩＣ０４ｂの端子３互 ４ｂ＋は低レベル信号で有意
となり、端子Ａ。４ｂｚ〜Ａ３４ｂ５はアドレス入力端
子で高レベル信号有意、ＷＥ端子４ｂ＋ｏ は書込信
号で低レベル有意でバス２からの制御信号２ｃが人力さ
れる。端子Ｄｏ ４ ｂｂ 〜Ｄ３４ ｂｑはデータの
入出力端子で、ここでの高レベル゛１”、低レベル゛０
″を前記マイクロプロセッサ１が認識し、バス２のデー
タバス２ｂにより接続される。これらの端子り。 ４ｂａ〜Ｄ３４ｂ９は端子Ｃ３４ｂ、が低レベル以外の
時は高インピーダンス状態となる。ＲＡＭＩＣ１４Ｇの
端子Ｃ３４Ｃ＋ 〜Ｄｘ ４ ｃｑについても同様であ
る。また、端子り。４ｂ６付近のＸ印は障害箇所４ Ｃ
１＋ で、ＲＡＭｌＣｌ ４ｃの端子り。４ｃｂが
接触不良状態になっているものと仮定する。 次に、診断動作を第３図のフローチャートに従って説明
する。 まず、マイクロプロセッサ１の起動はリセントスタート
で行い（ステップ５Ｔ１）、このとき診断プログラムを
実行するかどうかを判定する（ステップ５Ｔ２）。この
とき、スイッチ入力回路６を見に行き、スイッチ入力（
診断プログラムの起動）が無ければ、本来のシステムプ
ログラムを実行する（ステップ５Ｔ３）。一方、スイッ
チ入力が有ればＲＯＭ回路３の診断を行い、結果を表示
する（ステップ５Ｔ４）。次に、ＲＡＭ回路４について
も同様に診断と結果表示を行い（ステップ５Ｔ５） 、
続いて回路Ａ７および回路Ｂ９についても同様に診断と
結果表示を行う（ステップＳＴ６．７）。これらの診断
順序は、たとえばＲＯＭ回路３に障害があったとすれば
、診断プログラムそのものが信軌性を欠くことになるの
で、ＲＯＭ回路３の診断を一番目に実施していくように
、基本になる回路から順番に実施していく。これまでの
診断で、ＲＡＭ回路４のみに障害があることが表示回路
５の表示で確認できる。次に、ここまでの診断結果で１
回路以上の障害が有るか否か判定する（ステップ５Ｔ８
）。すなわち、次のステップに移るかどうかスイッチ入
力回路６の指示を見て、回路細部の診断を実行するか否
かを判定する（ステップ９）。指示がなければ、最初の
ＲＯＭ回路３の診断に戻り、指示が有れば、障害があっ
た回路についての細部診断を行う。この例では、ＲＯＭ
回路３が正常と診断された後（ステップＳＴＩ Ｏ）
、ＲＡＭ回路４に障害があると判定されたので（ステッ
プ５ＴＩＩ）、ＲＡＭＩＣ０４ｂから診断を行う（ステ
ップ５Ｔ１２）。この診断結果は正常なので、次にＲＡ
ＭｌＣｌ ４ｃの診断を行う（ステップ５Ｔ１３）。 このときは診断結果障害があるので、その内容を表示回
路５に出力して、上記ＲＡＭｌＣｌ ４ｃの診断をく
り返す。この状態はＲＡＭｌＣｌ ４ｃの端子■４ｃ
＋に連続した低レベルパルスが入力されて、ＲＡＭｌＣ
ｌ ４ｃへのデータ書込み、読出しを行っている。こ
こで汎用の測定器であるオシロスコープを用い、端子Ｃ
Ｓ ４ ｃ ＋の信号をトリガ信号としてＲＡＭｌＣ
ｌ ４ｃの各端子の信号およびアドレスバス２ａ、デ
ータバス２ｂ、制御信号２ｃを観測することにより容易
に障害箇所４ＣＩ＋を発見できる。なお、ＲＯＭ回路３
および回路Ａについては正常と診断されなかった場合に
は（ステップｓＴ１０，５Ｔ１４） 、スイッチ入力に
より診断プログラムの流れを変え、それぞれについて細
部診断が行われ（ステップＳＴＩ ６，５Ｔ１７）、こ
のとき回路Ｂについても細部診断が行われる（ステップ
５Ｔ１５）。 なお、上記実施例ではプログラムの流れを変える指示を
スイッチ入力回路６で示したが、外部からの信号、たと
えばキーボード等から指示してもよい。また、表示回路
５として外部に出力する信号によって表示するたとえば
ＣＲＴなどを用いてもよい。
以上のように、この発明によればＲＯＭ回路にあらかし
め周辺回路の具体的な診断プログラムを格納しておくよ
うに構成したので、診断結果の表示と診断方法を変える
スイッチ入力だけで、専用の診断装置や高度な専門知識
を必要とすることなく、短時間で障害箇所を発見でき、
この結果、プリント回路基板の調整および保守の各作業
効率を向上できるものが得られる効果がある。
め周辺回路の具体的な診断プログラムを格納しておくよ
うに構成したので、診断結果の表示と診断方法を変える
スイッチ入力だけで、専用の診断装置や高度な専門知識
を必要とすることなく、短時間で障害箇所を発見でき、
この結果、プリント回路基板の調整および保守の各作業
効率を向上できるものが得られる効果がある。
第１図はこの発明の一実施例によるプリント回路基板の
自己診断装置を示すブロック接続図、第２図は第１図に
示すＲＡＭ回路の一例を示す回路図、第３図は第１図お
よび第２図における診断回路の動作を説明するためのフ
ローチャート、第４図は従来のプリント回路基板の自己
診断装置を示すブロック接続図である。 ｌはマイクロプロセッサ、３はＲＯＭ回路、４はＲＡＭ
回路、５は表示回路、６はスイッチ入力回路、１１はプ
リント回路基板。 特 許 出 願 人 三菱電機株式会社代理人
弁理士 １）澤 博 昭（外２名）
自己診断装置を示すブロック接続図、第２図は第１図に
示すＲＡＭ回路の一例を示す回路図、第３図は第１図お
よび第２図における診断回路の動作を説明するためのフ
ローチャート、第４図は従来のプリント回路基板の自己
診断装置を示すブロック接続図である。 ｌはマイクロプロセッサ、３はＲＯＭ回路、４はＲＡＭ
回路、５は表示回路、６はスイッチ入力回路、１１はプ
リント回路基板。 特 許 出 願 人 三菱電機株式会社代理人
弁理士 １）澤 博 昭（外２名）
Claims (1)
- マイクロプロセッサとその周辺回路が実装されたプリン
ト回路基板の自己診断装置において、前記周辺回路を診
断する診断プログラムを予め格納したリードオンリメモ
リ回路と、前記プリント回路基板に障害があったとき、
その障害の診断結果を表示する表示回路と、前記診断プ
ログラムの流れを変えて障害の範囲をせばめていき、真
の障害原因をしぼり込む為のスイッチ入力回路とを前記
プリント回路基板に設けたことを特徴とするプリント回
路基板の自己診断装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63085369A JPH01259278A (ja) | 1988-04-08 | 1988-04-08 | プリント回路基板の自己診断装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63085369A JPH01259278A (ja) | 1988-04-08 | 1988-04-08 | プリント回路基板の自己診断装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01259278A true JPH01259278A (ja) | 1989-10-16 |
Family
ID=13856801
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63085369A Pending JPH01259278A (ja) | 1988-04-08 | 1988-04-08 | プリント回路基板の自己診断装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01259278A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH04182738A (ja) * | 1990-11-16 | 1992-06-30 | Mitsubishi Electric Corp | ファジィ演算装置 |
-
1988
- 1988-04-08 JP JP63085369A patent/JPH01259278A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH04182738A (ja) * | 1990-11-16 | 1992-06-30 | Mitsubishi Electric Corp | ファジィ演算装置 |
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