JPH01259246A - 異常品除去方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、例えばクラッドピン等のように一括して製造
される多数の製品から異常品を検出して除去する異常品
除去方法に関するものである。

〔従来の技術〕

ＰＧＡ　　（Ｐ　ｉｎ　　Ｇｒｉｄ人ｒｒａｙ）用リー
ド等の用途として、銀等の接合材をリートビンの頭部に
溶着させたクラッドピンが利用されており、第２図はク
ラッドピンの拡大平面図である。クラッドピン１０は、
細円柱状の軸部１１ａと該軸部１１ａより径が大きい円
板状の頭部１１ｂとからなるリードピン１１の頭部１１
ｂの底面に銀からなる接合材１２が半球状に溶着された
構成をなす。そして、このようなクラッドピンを製造す
る工程は以下の如くである。

リードビンと略同形状をなす穴が格子状に多数形成され
たトレイを用意し、このトレイの各式に、頭部が穴の開
口側に位置する態様にて、１本ずつリードピンを嵌入し
、各リードピンの頭部に１粒ずつ根粒（接合材）をｉｔ
置する。次いで、リードビン及び根粒の多数組を格納し
たトレイを加熱炉に搬入して高温加熱する。そうすると
根粒は加熱され、表面張力により第２図に示すように半
球状にリードビンの頭部に溶着されて銀ろうとなり、ク
ラッドピンが製造される。

ところでトレイを加熱炉に搬入する際に、根粒が穴から
飛出して別の穴に入り込んだり消失したりして、２粒以
上の根粒が溶着したクラッドピンが製造されたり、全く
根粒が溶着しないクラッドピンが製造されたりすること
がある。従って、製造された多数の各クラッドピンにつ
いて、溶着した根粒の容量を検査して、異常なクラッド
ピンを除去する必要がある。

そして従来、根粒の容量を検査する方法としては、目視
にて検査する方法、または所定の間隔を通過させて過容
量のものを選別する方法等が知られている。

〔発明が解決しようとする課題〕

ところが上述したような検査方法では、根粒の容量（管
理項目）が少ない場合には、異常品の検査が困難である
という問題点があった。

またクラッドピン（製品）を各１個ずつ検査するので、
多数個の検査には長時間を要するという難点がある。

本発明はかかる事情に鑑みてなされたものであり、多数
の各製品について管理項目及び位置を計測し、管理項目
の計測値に基づいて求めた母集団から外れた製品を異常
品として検出、除去することにより、例えば根粒の容量
が少ないクラッドピンにおいても、非接触にてその管理
項目（根粒の容量）に対する異常品の検出、除去を行う
ことができる異常品除去方法を提供することを目的とす
る。

〔課題を解決するための手段〕

本発明に係る異常品除去方法は．一括して製造される多
数の製品から所定の管理項目に基づいて異常品を検出し
て除去する異常品除去方法において、製造される多数の
各製品について個々の管理項目及びその位置を計測し、
計測した全製品の管理項目の計測値に基づいて管理項目
に対する母集団を求め、該母集団から外れる製品を異常
品として検出し、計測した位置情報に基づきこの異常品
を除去することを特徴とする。

〔作用〕

本発明の異常品除去方法にあっては、製造された各製品
について管理項目及びその位置を計測する。次いでこの
管理項目の計測値に基づいて管理項目の母集団を求め、
この母集団から外れた製品を異常品として検出し、この
異常品の位置情報に基づいて除去する。

〔実施例〕

以下、本発明をその実施例を示す図面に基づいて具体的
に説明する。なお、本実施例ではクラッドピンにおける
異常品を検出、除去する場合について説明する。

第１図は本発明方法を実施するための装置の模式図であ
り、図中１３はクラッドピンが製造された後、加熱炉か
ら搬出されたトレイを示す。トレイ１３は格子状に多数
の穴を有しており、各人には製造されたクラッドピン１
０が各１本ずつ格納されている。トレイＩ３はまず、図
示しない駆動手段によりＸＹ方向（第１図左右方向及び
表裏方向）に移動可能な検査ステージ２０上に載置され
、次いで図示しない搬送手段により搬送されて検査ステ
ージ２０と同様にｘｙ方向に移動可能な除去ステージ３
０上に載置される。なおトレイ１３は、検査ステージ２
０、除去ステージ３０と一体的にＸＹ方向に移動可能で
ある。

検査ステージ２０の斜め上方には光ａ１が設けられてお
り、また検査ステージ２０の上方には、接合材（根粒）
１２の溶着面にその光軸が垂直になる態様にて、例えば
ＣＣＤ　（Ｃｈａｒｇｅ　Ｃｏｕｐｌｅｄ　　Ｄｅｖｉ
ｃｅ　）カメラからなるカメラ２が設けられている。光
源１からの照明により、複数個のクラッドピン１０の頭
部の表面画像がカメラ２にて撮像されるようになってい
る。

カメラ２には、カメラ２て得られた表面画像を処理する
画像処理装置３が接続されており、画像処理装置３はカ
メラ２からの表面画像に基づき、各クラッドピンの接合
材の撮像面積の情報とその各クランドピンの位置情報と
を異常品検出装置４へ出力する。異常品検出装置４は画
像処理装置３からの情報に基づいて異常品を検出して、
その異常品の位置情報を後述する真空電磁弁７へ出力す
る。

除去ステージ３０の上方には、吸引口をトレイ１３に略
接触させた態様にて、複数個の吸引用ノズル５ａ、　５
ａ、・・・からなる除去部５が設けられており、各吸引
用ノズル５ａ、　５ａ、　・・・は、トレイ１３面上を
滑走しながらトレイ１３を等分した各領域について異常
なクラッドビンの吸引を行う。また除去部５の各吸引用
ノズル５ａ、　５ａ、・・・は、吸引された異常品を蓄
積する捕集タンク６に接続している。捕集タンク６には
真空電磁弁７が接続されており、真空電磁弁７には真空
状態を形成する真空発生部８が接続されている。異常品
検出装置４からの異常品の位置情報に基づき、対応する
位置に位置決めされた吸引用ノズル５ａ内の圧力を減圧
させて、その位置にある異常なクラッドビンを吸入する
ようになっている。

次に動作について説明する。

まず、加熱炉内にて製造された多数本のクラッドビンを
収納したトレイ１３を検査ステージ２０上に載置する。

検査ステージ２０（トレイ１３）を移動し、カメラ２下
方に位置する複数のクラッドビン１０へ光源１から光を
照射してカメラ２にてこれらの複数のクラッドビン１０
の頭部を撮像する。

カメラ２にて得られた画像を、画像処理装置３は入力し
て以下に示すような画像処理を行う。まず入力画像を２
値化処理し、各クラッドビン毎の２値化画像に対し、各
クラッドビン毎に固有の番号をラベリングする。ラベリ
ングした各２値化画像に基づき、各クラッドビン毎の接
合材の撮像面積とその各クラッドビンの位１ｆ（ＸＹ座
標）とを計測する。そして計測した撮像面積及び位置情
報を異常品検出装置４へ出力する。

異常品検出装置４は以下に示す如く、入力したこれらの
情報から異常なクラッドビンを検出し、その異常品の位
置情報を真空電磁弁７へ出力する。

まず、入力した各クラッドビンの面積情報及びその総数
により、適当な板間隔にてヒストグラムを作成し、次い
でこの作成したヒストグラムに基づき、その母集団を演
算する。各クラッドビンの面積値がこの母集団の領域に
入るか否かを判別し、入っているタラノドピンは良品で
あると判定し、外れているクラッドビンは異常品である
と判定する。そして異常品と判定したクラッドビンの位
置情報を真空電磁弁７へ出力する。

表面画像が撮像されると、多数のクラッドビンを収納し
たトレイ１３は図示しない搬送手段にて搬送され、除去
ステージ３０上に載置される。

除去ステージ（トレイ１３）３０を移動し、吸引用ノズ
ル５ａ、　５ａ＋　・・・を対応する穴の上方に位置決
めする。真空電磁弁７に入力される異常品の位置情報に
基づき、異常品であると判定されたクラッドビンの位置
に対応する吸引用ノズル５ａ内の圧力を、順次真空発生
部８の作用により減圧して、異常なクラッドビンをトレ
イ１３の穴内から吸入する。吸入された異常なクラッド
ビンは、吸引用ノズル５ａ内を通って捕集タンク６に搬
入され、捕集タンク６内に蓄積される。

本実施例では、画像処理により接合材の撮像面積を計測
し、この撮像面積に基づいて接合材の容量を検査するの
で、接合材の容量が少ないクラ５２ドピンにあっても正
確にその容量を検査することができる。

また、非接触にてクラッドビンを検査するので、検査に
伴うクラッドビンの損傷の虞がない。

また、各クラッドビン毎の２値化画像をラベリングする
ので、同時に多数のクラッドビンに対する検査が可能で
あり、検査時間の短縮化を図ることができる。

また異常品を検出するステージと異常品を除去するステ
ージとを別々にしているので、検査処理及び除去処理を
並列的に行うことができ、検出。

除去処理の高速化が可能であると共に、オンライン化が
可能である。

また計測した面積値に基づいて母集団を形成することと
しているので、各生産単位毎に管理項目の許容範囲（母
集団）を設定することが不要である。

なお、本実施例では異常なクラッドビンを検出して除去
する場合について説明したが、これに限るものではない
ことは勿論である。

〔発明の効果〕

以上詳述した如く本発明方法では．一括して製造される
多数の製品について、非接触にて、しかも高速度にて異
常な製品を検出して除去することができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明方法の実施状態を示す模式図、第２図は
タラソドピンの拡大平面図である。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. １．一括して製造される多数の製品から所定の管理項目
   に基づいて異常品を検出して除去する異常品除去方法に
   おいて、 製造される多数の各製品について個々の管 理項目及びその位置を計測し、計測した全製品の管理項
   目の計測値に基づいて管理項目に対する母集団を求め、
   該母集団から外れる製品を異常品として検出し、計測し
   た位置情報に基づきこの異常品を除去することを特徴と
   する異常品除去方法。