JPH0125417B2 - - Google Patents

Info

Publication number
JPH0125417B2
JPH0125417B2 JP55130823A JP13082380A JPH0125417B2 JP H0125417 B2 JPH0125417 B2 JP H0125417B2 JP 55130823 A JP55130823 A JP 55130823A JP 13082380 A JP13082380 A JP 13082380A JP H0125417 B2 JPH0125417 B2 JP H0125417B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
creep
damage
fatigue
consumption rate
width
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
JP55130823A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS5756742A (en
Inventor
Makoto Hayashi
Shinji Sakata
Tasuku Shimizu
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
Priority to JP55130823A priority Critical patent/JPS5756742A/ja
Publication of JPS5756742A publication Critical patent/JPS5756742A/ja
Publication of JPH0125417B2 publication Critical patent/JPH0125417B2/ja
Granted legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N23/00Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
    • G01N23/20Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by using diffraction of the radiation by the materials, e.g. for investigating crystal structure; by using scattering of the radiation by the materials, e.g. for investigating non-crystalline materials; by using reflection of the radiation by the materials

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Testing Resistance To Weather, Investigating Materials By Mechanical Methods (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は金属材料の寿命予知方法に関する。特
に、X線を用いて、高温環境下で繰返し荷重を受
ける金属材料の寿命を予知する方法に関する。
従来、X線回折法を用いて材料の寿命を予知す
る方法としては、室温における材料に関して、か
つ疲労寿命についてのみ予知するものが知られて
いる。しかし高温環境下で使用される機器、例え
ば蒸気タービンが原子力発電プラントの部材の如
き金属材料については、X線による寿命予知方法
がないのが現状である。特に、このように高温環
境下での金属材料は、疲労のみならずクリープを
も受けるものであり、従来このようにクリープ・
疲労相互作用を受ける場合の寿命予知について
は、その方法がなかつた。
上記事情に鑑み、本発明者らは金属材料の破壊
過程が結晶変形に基づくものであり、X線回折法
はそのような結晶変形に敏感であることに着目
し、クリープ・疲労相互作用を受けた金属材料の
結晶変形をX線回折法により評価することによる
高温環境下での金属材料の余寿命を予知する方法
を提供せんとして本発明に到達したものである。
本発明方法の大要は、高温環境下で荷重を受け
る金属材料にX線を照射し、これにより回折した
X線像を得、更に該回折X線像を解析してパラメ
ータを得、該パラメータを用いて寿命を予知する
ものである。
パラメータとしては、回折X線半価幅や全方位
差を用いることができる。この場合、回折X線半
価幅を用いて疲労被害を検出し、全方位差を用い
てクリープ被害を検出することにより、疲労とク
リープとが重畳した場合の寿命の予知を可能なら
しめることができる。
即ち、この場合、金属材料に照射するX線束を
十分太くすることによつて得られる回折X線強度
曲線から半価幅を得、この半価幅から既知の半価
幅と疲労寿命消費率との関係に基づいて疲労被害
を検出し、金属材料に照射するX線束を十分細く
することによつて得られる細束X線像から全方位
差を得、該全方位差から既知の全方位差とクリー
プ変形量との関係に基づいてクリープ変形量を推
定し、該推定クリープ変形量から既知の応力とク
リープとの関係を示すクリープ曲線を用いて加え
られていた応力を推定するとともに、クリープ損
傷率を推定し、前記半価幅から推定した疲労損傷
率と前記全方位差から推定したクリープ損傷率と
を既知の疲労とクリープとが重畳した場合の被害
曲線に適合させることによつて損傷を検出し、こ
れにより余寿命を推定するように構成することも
できる。
以下、本発明につき具体的に説明する。
初めに疲労被害の検出法について述べる。
第1図は通常の粉末法またはラウエ法で得られ
る回折像が写つたX線フイルム1を模式化して描
いたものである。フイルムの黒化度は回折強度に
対応するので、このX線フイルム上のいわゆるデ
バイ環2の半径方向の黒化度をミクロフオトメー
タで調べることにより、第2図のような回折強度
曲線が得られる。図の横軸のθは、X線の照射角
度である。こ回折強度曲線は現在では主にデイフ
ラクトメータ或いは応力測定装置で簡単に得られ
るようになつている。第2図に示すような、回折
強度曲線のピークの半分の高さにおける曲線の幅
が、半価幅bと言われるものである。この半価幅
bは、結晶内部の転位密度や微視的格子ひずみと
関係しており、焼なまし状態ではきわめて小さ
く、塑性変形を受けてそれらの格子欠陥が増大す
ると広がるという性質を持つ。疲労変形における
場合も同様で、疲労過程中の半価幅は、例えば焼
なまし材の場合には第3図のように増加する。図
には応力の大きさに応じて3段階で示したが、応
力振幅が高い順(σ1>σ2>σ3)で増加速度も早く
なつている。しかし半価幅を、破断繰返し数Nf
に対する応力繰返し数Nの比N/Nfとの相関で
見てみると、第4図の如くほぼ1本の線で表わす
ことができる。(図に斜線を施して示すのは、ば
らつきの範囲である)。
一方、予加工材つまり予め塑性変形を加えて半
価幅を増大させておいた材料を疲労させると、半
価幅bは第5図の如く上記N/Nfに対して単調
に減少する。
従つて、種々の熱処理条件が加工条件にて第4
図、第5図の如き半価幅変化のマスターカーブを
作成しておけば、応力繰返し数Nを記録しておい
て半価幅を測ることにより、余寿命Nrを推定で
きることになる。或いは、測定までの繰返し数が
不明でも、半価幅を2回計測すればその間の繰返
し数もわかるので、これによつても余寿命を推定
できる。
第6図に、このような手法に基づく余寿命推定
法を示す。図示の例は、焼なまし材でのマスター
カーブを用いたものである。運転開始後、繰返し
数N1がわかつている時点での半価幅がb1であれ
ば、半価幅変化のマスターカーブによりその時の
疲労寿命消費率φf1(=N1/Nf)がわかる。よつ
て、余寿命Nr=Nr−N1は、 Nr=N1・1−φf1/φf1 ……(1) で与えられる。繰返し数N1が不明な場合でも、
半価幅を2回計測して余寿命を知ることができ
る。つまり、半価幅b1の時点の後、更に繰返し数
N2=N1+Nまで疲労させて該時点の半価幅b2
測定すれば、その時のφf2が求まり、かつその間
の繰返し数はNであることがわかつているので、
余寿命Nr′は次式で与えられる。
Nr′=N・1−φf2/φf2−φf1 ……(2) 第4図、第5図の如きマスターカーブを腐食環
境、高温環境などの実機環境下で作成しておけ
ば、該環境下での構造部材の寿命も、上記と全く
同様にして予知することが可能である。
このような半価幅による疲労被害の検出は、照
射線束を十分太くして得られる回折線強度曲線を
用いて有効に達成できる。
次に、クリープに基づく損傷による寿命の、予
知方法について述べる。
第1図に示した粉末法のフイルムにおいて、試
料への入射X線束を十分に細く絞れば回折にあず
かる結晶粒の数が10個程度となり、第7図に示す
ような個々の結晶粒からの回折像3がデバイ環2
上に分離して現われるようになる。符号Iにて回
折X線を、にて入射X線を示す。完全焼なまし
を施した材料では、結晶内部に転位がほとんどな
いため、回折像はX線束及び結晶粒の大きさに応
じた極めて小さい斑点として現れるが、引張変形
やクリープ変形を受けて転位密度が増大すると、
回折像はデバイ環の円周方向に広がつてゆく。こ
の接線方向の広がりを図にSTで示す。またSRにて
法線方向の幅を示す。一方、転位が集合離散して
副結晶(転位により区画されて生じた結晶単位)
を形成すると、第8図に示すように回折像の回折
弧4の中に微細化斑点5(黒点で図示する)が生
じる。このような、回折像の接線方向の広がりST
が回折像中の微細化斑点の数Mに基づいて、結晶
粒の全方位差βや副結晶の粒径t等が、次の各式
により求められる。
β=8/πarcsio(|tanθ|/sinθ ST/4Rp)…
…(3) t=tpM-2/3 ……(4) ここでθはBragg角、Rpはフイルム試料間距離
で、第7図のC,C′間に相当するもの、tpは結晶
粒径である。このような全方位差βや副結晶粒径
tは材料の塑性変形挙動と対応するものなので、
かかるβやtを測定することにより、材料に加え
られたひずみ量や応力振幅等の推定が可能であ
る。
例えば、クリープ変形の場合について説明する
と、以下のとおりである。即ち、第9図に示すよ
うに、全方位差βと負荷時間Tとの関係は、クリ
ープひずみと負荷時間との関係と同じような関係
にあり、クリープひずみεに対して全方位差βを
プロツトすると第10図のような直線関係が得ら
れる。また副結晶粒径tと全ひずみεとの間に
も、第11図にグラフで示すような関係がある。
従つて、全方位差βが副結晶粒径tを測定するこ
とにより、クリープひずみが求められるわけであ
つて、これに基づき、クリープ曲線のマスターカ
ーブを予め作成しておいた上で、負荷時間Tを記
録して上記β、tを測定することにより、余寿命
Trを推定できる。負荷時間Tが不明な場合には、
上記β,tを2回測定し、両測定間の時間を知つ
ておけば、余寿命Trを推定できる。
この手法に従う余寿命推定法を第12図に示
す。運転開始後T1時間での全方位差がβ1であれ
ば、負荷時間はT1ということであるから、全方
位差βと全ひずみとの関係のマスターカーブグラ
フ(a)から全ひずみε1が求まる。この全ひずみε1
を、予め得ておいた実機と同じ温度下で得られた
種々の応力のクリープ曲線(グラフb)に適用
し、この全ひずみε1と負荷時間T1との交点から、
加わつた応力σを推定する。このようにして得ら
れた応力がσ2であれば、余寿命Trは、Tr=Tf
T1で与えられる。
使用時間T1が不明の場合には、上記のような
測定の後、T時間使用後に同様な測定を行う。T
時間後の全方位差がβ2で、全ひずみがε2と求まつ
た場合、第12図のグラフ(b)に破線で示した曲線
のように全ひずみの変化傾向が一致するクリープ
曲線を推定して、全ひずみがε2の時の使用時間
T1′と、応力σ2,σ3の内挿から応力σ′を推定し、
これによつて余寿命Tr′をTr′=Tf′−T1′にて求
めることができる。
以上、高温疲労とクリープとの場合を各々につ
いて説明したが、次に高温疲労とクリープとが重
畳した場合の余寿命診断について説明する。この
時の手順は、第13図に示す。クリープ被害は全
方位差βにより検出し、疲労被害は半価幅bによ
り検出するものとする。クリープ被害について
は、前述したとおりまず第13図の(a)のマスター
カーブにより全ひずみを求め、この全ひずみに基
づき同図のグラフ(b)から余寿命Trを求め、これ
によつてφe=T/Tfを求める。一方、半価幅b
により、同図(c)に示すマスターカーブを用いて疲
労被害に関する余寿命Nrを求める。これによつ
て、寿命消費率φf=N/Nfを求める。双方の寿
命消費率φe,φfを得た段階で、あらかじめ実験室
で求めておいた疲労とクリープとの重畳下におけ
る被害曲線に両方の値を適用させ、もつて全体の
被害を検出して余寿命を推定する。第13図の(d)
が、その被害曲線を示すとともに、両方の寿命消
費率φe,φfの適用を示すものである。
この最後の操作つまり被害曲線を用いて寿命を
推定する方法の詳細を、第14図を用いて説明す
る。運転開始後、運転時間T及び繰返し数Nを記
録しておく。定期点検時に、半価幅bと全方位差
βとを測定し、これらの値から各々疲労被害、ク
リープ被害に基づく被害度φf,φeを推定する。こ
こまでは上記説明したとおりである。次に、各被
害度φf,φeを被害曲線上にブロツトする。即ち、
φf=m′、φe=m″とすれば、第14図上の点mが
被害点となる。原点lと被害点mとを直線で結
び、更に被害曲線まで延長して、被害曲線との交
点をnとする。lからmに至るまでに要した時間
はT、繰返し数はNであるので、余寿命は Tr=T・mn/lmまたはNr=N・mn/lm と表わせる。(式中、mnは点mと点nとの距離、
lmは点lと点mとの距離である)。
運転開始からの時間Tや繰返し数Nが不明の場
合には、更に運転を継続して次の定期点検時に半
価幅bと全方位差βとを測定して各々2つのデー
タを得ておくとともに、両定期点検間の使用時間
T及び繰返し数Nを記録することにより、余寿命
を求めることができる。第14図上で、2回目の
点検時における被害点をoとし、1回目の被害点
mとを結ぶ直線と被害曲線との交点をnとする
と、この場合の余寿命は、 Tr=T・on/moまたはNr=N・on/mo となる。(第14図で、先きに説明した直線lmと
この場合の直線moとが一致しているが、これは
運転モードが変わらない限り同一の直線になるか
らである)。
m点から運転条件が変わり、疲労被害のみが加
わるようになつた場合には、m点からφf軸(横
軸)に平行に直線をひいて被害曲線との交点pを
求め、両点m,pからφf軸に降した点を各々m′,
p′とすれば、余寿命は Nr=N・m′p′/lm′ で表わされる。(式中、m′p′は点m′と点p′との距
離、lm′は点lと点m′との距離である。) m点からクリープ被害のみが加わるようになる
場合は、同様にしてφe軸(たて軸)に関してm″,
q′点を求め、この時余寿命Trを次式で得る。
Tr=T・m″q′/lm″ (式中、m″q′は点m″と点q′との距離、lm″は点
lと点m″との距離である。) 疲労とクリープとが継続して加わるが、m点か
ら運転モードが変わるなどして条件が変わつた場
合には次のようにして求める。使用時間Tと繰返
し数Nを記録して、半価幅bと全方位差βを測定
し、既に説明したのと同様な手順で被害度を求め
る。この時被害点が図のr点に来たとすれば、直
線mrの延長線と被害曲線との交点をsとして、
余寿命は Nr=N・rs/mrまたはTr=T・rs/mr と求まるのである。(式中、rsは点rと点sとの
距離、mrは点mと点rとの距離である。) 以上の寿命予知法の手順をフロー図で示したの
が第15図である。この図を用いて手順を略述す
る。運転を開始すると、運転条件である温度、時
間、繰返し数を記録する。定期定検時に、破損の
おそれのある部分の半価幅bを測定して、疲労寿
命消費率φfを求める。同時に全方位差βを測定し
て全ひずみsを推定し、クリープ寿命消費率φe
を求める。寿命消費率φf,φeを被害曲線に適用し
て余寿命を評価し、余寿命Tr,Nrがともに十分
大きい場合には運転を継続し、余寿命Trまたは
Nrが小さいと判断された場合には運転を停止し、
補修または部品の取替を行う。
上記詳述したように、本発明の方法は、高温環
境下で繰返し荷重を受ける金属材料にX線を照射
し、これによつて回折したX線像を得、該回折X
線像を解析して半価幅や全方位差などのパラメー
タを得、これに基づいて疲労被害とクリープ被害
との両者が重畳した場合の余寿命を推定すること
ができるものであり、破損等による事故を未然に
防ぐことができるなど、実際上まことに有利な効
果を奏する。特に、本発明の方法を適用すれば、
経歴の未知な機械構成部材についても概略の寿命
消費状態が推定され、しかも、この方法による測
定を2回繰り返して行えば残余寿命を高精度で予
測できるという優れた実用的効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
第1図は粉末法またはラウエ法によつて得られ
るフイルム上の回折X線像を示す模式図、第2図
は回折X線強度曲線を示すとともに半価幅を説明
する図、第3図は焼きなまし材の疲労過程中の半
価幅変化を示すグラフ、第4図は半価幅を応力繰
返し数比で整理したグラフ、第5図は予加工材の
半価幅を応力繰返し数比で整理したグラフ、第6
図は半価幅で疲労寿命を推定する方法の一例を示
す図、第7図及び第8図は各々細束X線回折像を
示す模式図、第9図はクリープ変形における全方
位差と負荷時間との関係を示すグラフ、第10図
及び第11図は各々全方位差及び副結晶粒径と全
ひずみとの関係を示すグラフ、第12図はクリー
プ被害を検出する方法の一例を示す図、第13図
乃至第15図は各々疲労とクリープとが重畳した
場合の被害を検出する手順の一例を示す図であ
る。 b…半価幅(パラメータ)、β…全方位差(パ
ラメータ)。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 高温環境下で繰り返し荷重を受ける金属材料
    にX線を照射し、これにより回折したX線像を
    得、該回折X線像を解析してパラメータを求め、
    該パラメータを用いて寿命を予知する方法であつ
    て、回折X線半価幅を用いて疲労被害を検出し、
    全方位差を用いてクリープ被害を検出することに
    より、疲労とクリープとが重畳した場合の寿命を
    予知する方法において、 (a) 金属材料に照射するX線束を十分太くするこ
    とによつて得られる回折X線強度曲線から半価
    幅を得ると共に、該半価幅から既知の半価幅と
    疲労寿命消費率との関係に基づいて疲労寿命消
    費率を推定し、 (b) 金属材料に照射するX線束を十分細くするこ
    とによつて得られる細束X線像から全方位差を
    得、 (c) 該全方位差から、既知の全方位差とクリープ
    変形量との関係に基づいてクリープ変形量を推
    定し、 (d) 該推定クリープ変形量から、既知の応力とク
    リープとの関係を示すクリープ曲線を用いて、
    加えられていた応力を推定するとともに、クリ
    ープ寿命消費率を推定し、 (e) 一方、上記と別途に、前記金属材料と同組
    成、同組織の試料についてテストを行つて、X
    軸及びY軸上にそれぞれ該試料に関する疲労寿
    命消費率とクリープ寿命消費率をとると共に、
    XY座標面に被害曲線を求めておき、 (f) 前記(a)項で求めた疲労寿命消費率、及び、前
    記(d)項で求めたクリープ寿命消費率を、前記e
    項で求めた座標面上にプロツトして被害曲線と
    対比し、これにより余寿命を推定することを特
    徴とする金属材料の寿命予知方法。
JP55130823A 1980-09-22 1980-09-22 Method for foreseeing life of metallic material Granted JPS5756742A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP55130823A JPS5756742A (en) 1980-09-22 1980-09-22 Method for foreseeing life of metallic material

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP55130823A JPS5756742A (en) 1980-09-22 1980-09-22 Method for foreseeing life of metallic material

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS5756742A JPS5756742A (en) 1982-04-05
JPH0125417B2 true JPH0125417B2 (ja) 1989-05-17

Family

ID=15043542

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP55130823A Granted JPS5756742A (en) 1980-09-22 1980-09-22 Method for foreseeing life of metallic material

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS5756742A (ja)

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5967491B2 (ja) * 2014-02-04 2016-08-10 パルステック工業株式会社 X線回折測定装置およびx線回折測定装置におけるx線入射角検出方法
JP6320892B2 (ja) * 2014-10-08 2018-05-09 Jfeエンジニアリング株式会社 バルブ応力検知方法、該方法を利用したバルブ寿命予測方法
JP6696412B2 (ja) * 2016-11-29 2020-05-20 日本製鉄株式会社 金属材料の余寿命評価方法

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5120894A (ja) * 1974-08-09 1976-02-19 Hitachi Ltd
JPS5388781A (en) * 1977-01-14 1978-08-04 Mitsubishi Heavy Ind Ltd Method of nondestructively measuring useful life of metal material

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5120894A (ja) * 1974-08-09 1976-02-19 Hitachi Ltd
JPS5388781A (en) * 1977-01-14 1978-08-04 Mitsubishi Heavy Ind Ltd Method of nondestructively measuring useful life of metal material

Also Published As

Publication number Publication date
JPS5756742A (en) 1982-04-05

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TWI515426B (zh) 表面加工狀態的評估系統及評估方法、非敏化材的應力腐蝕破裂感受性評估方法
US5272746A (en) Method of evaluating a degree of fatigue in a structural material
Nakashima Quantitative convergent-beam electron diffraction and quantum crystallography—the metallic bond in aluminium
US8036338B2 (en) Method and device for simultaneous measurement of magnetostriction and magnetization
US9002499B2 (en) Methods for determining a recovery state of a metal alloy
JPH0125417B2 (ja)
US5508801A (en) Method and apparatus for nondestructive testing of the mechanical behavior of objects under loading utilizing wave theory of plastic deformation
JP3252933B2 (ja) クリープ寿命予測方法
JPH06222053A (ja) フェライト系耐熱鋼の劣化診断方法
JP7093928B2 (ja) 多結晶金属材料の劣化診断方法、装置およびシステム
JP2008051513A (ja) 応力腐食割れ亀裂進展速度の評価方法
RU2072514C1 (ru) Способ определения остаточного ресурса долговечности деталей из сплавов
EP0287501B1 (en) Method for predicting life expectancy of materials
EP3633357B1 (en) Stress measurement method
JP2001056272A (ja) 応力拡大係数の計測方法
JP2003065978A (ja) 耐熱材料の余寿命診断方法
JPH0142381B2 (ja)
JPH1183842A (ja) Cr−Mo 鋼加熱炉管の余寿命判定方法
JP3307755B2 (ja) 金属製高温機器の寿命推定方法及び温度推定方法
JPH07128328A (ja) 金属材料の劣化および余寿命予知方法
JPS63228062A (ja) 金属材料の余寿命予測法
Shiozawa et al. Accuracy improvement of dissipated energy measurement and fatigue limit estimation by using phase information
EP3633358B1 (en) Stress measurement method
Rousou et al. SN curve and fatigue limit of CZ121 brass and BS 970 230M07 mild steel alloys using a thermographic method
Swain et al. Quantitative Non-destructive Evaluation (Q-NDE) of a Composite Overwrapped Pressure Vessel (COPV) Liner using Digital Image Correlation (DIC)