JPH01242773A - 化合物薄膜の製造方法とその製造装置 - Google Patents
化合物薄膜の製造方法とその製造装置Info
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- JPH01242773A JPH01242773A JP7045988A JP7045988A JPH01242773A JP H01242773 A JPH01242773 A JP H01242773A JP 7045988 A JP7045988 A JP 7045988A JP 7045988 A JP7045988 A JP 7045988A JP H01242773 A JPH01242773 A JP H01242773A
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Landscapes
- Physical Vapour Deposition (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は、A’lN、T i N、BN、S’i C
。
。
S’I O! 、 S is Na等の化合物薄膜の製
造方法とその製造装置に関するものである。
造方法とその製造装置に関するものである。
従来より、酸化物、窒化物、炭化物等の化合物薄膜を作
成するために、熱反応によって薄膜を作成するCVD法
またはプラズマを利用した反応によって薄Flを作成す
るプラズマCVD法が用いられている。
成するために、熱反応によって薄膜を作成するCVD法
またはプラズマを利用した反応によって薄Flを作成す
るプラズマCVD法が用いられている。
また、イオンブレーティング法等のPVD法も薄膜の作
成のために広く用いられている。
成のために広く用いられている。
熱反応を利用したCVD法は、基材を高温度(500〜
1000°C)に加熱するため、耐熱性の低い基材には
適用できず、基材の種類に制限を受けるという問題があ
る。
1000°C)に加熱するため、耐熱性の低い基材には
適用できず、基材の種類に制限を受けるという問題があ
る。
また、CVD法は原料ガスの気相反応を利用して基材表
面に固体を析出させ薄膜を形成するものであるため、膜
中に取りこまれる不純物ガスが多く、このため膜質を悪
化させるという欠点がある。
面に固体を析出させ薄膜を形成するものであるため、膜
中に取りこまれる不純物ガスが多く、このため膜質を悪
化させるという欠点がある。
さらに、プラズマCVD法では、粒子のエネル。
ギーが高いため(数百ev以上)、膜内に欠陥部が形成
されやすい。
されやすい。
PV’D法の場合も、プラズマCVD法と同様に膜内に
欠陥を生じやすいという欠点がある。
欠陥を生じやすいという欠点がある。
したがって、この発明の目的は、照射されるイオンのエ
ネルギーが小さく膜内の損傷を低減することができ、し
かも低温成膜が可能で高い膜質の化合物′pi膜を得る
ことができる化合物Flltliの製造方法とその製造
装置を提供することである。
ネルギーが小さく膜内の損傷を低減することができ、し
かも低温成膜が可能で高い膜質の化合物′pi膜を得る
ことができる化合物Flltliの製造方法とその製造
装置を提供することである。
この発明の化谷物薄膜の製造方法は、金属の真空蒸着と
イオン照射との併用により基材の表面に化合物薄膜を作
成するものであって、前記イオンとして、電子サイクロ
トロン共鳴を利用して生成した低エネルギーイオンを用
いるものである。
イオン照射との併用により基材の表面に化合物薄膜を作
成するものであって、前記イオンとして、電子サイクロ
トロン共鳴を利用して生成した低エネルギーイオンを用
いるものである。
また、この発明の化合物薄膜の製造方法に使用する製造
装置は、真空チャンバと、この真空チャンバに付設され
電子サイクロトロン共鳴を利用して生成した低エネルギ
ーイオンを前記真空チャンバ内に引き出すイオン源と、
前記真空チャンバ内に設けられ金属を蒸発させる蒸発源
と、前記真空チャンバ内に設けられ前記低エネルギーイ
オンが照射されかつ前記蒸発源から蒸発した金属が蒸着
される基板を取付けた基板ホルダとを備えたものである
。
装置は、真空チャンバと、この真空チャンバに付設され
電子サイクロトロン共鳴を利用して生成した低エネルギ
ーイオンを前記真空チャンバ内に引き出すイオン源と、
前記真空チャンバ内に設けられ金属を蒸発させる蒸発源
と、前記真空チャンバ内に設けられ前記低エネルギーイ
オンが照射されかつ前記蒸発源から蒸発した金属が蒸着
される基板を取付けた基板ホルダとを備えたものである
。
この発明によれば、電子サイクロトロン共鳴を利用して
生成した低エネルギーイオンを金属の7着と同時または
交互に基材に照射して、所定の化合物薄膜を形成するた
め、照射されるイオンのエネルギーがきわめて小さく、
したがって膜内の損傷を少なくすることができる。また
、低温成膜が可能であるため、基材の材質に一1約を受
けることがなく、種々の基材が使用可能となる。
生成した低エネルギーイオンを金属の7着と同時または
交互に基材に照射して、所定の化合物薄膜を形成するた
め、照射されるイオンのエネルギーがきわめて小さく、
したがって膜内の損傷を少なくすることができる。また
、低温成膜が可能であるため、基材の材質に一1約を受
けることがなく、種々の基材が使用可能となる。
また、従来のCVD法におけるように、膜内に不純物が
混入するおそれがなく、膜質を低下させることがない。
混入するおそれがなく、膜質を低下させることがない。
加えて、イオン照射量および金属蒸着量の制御が可能で
あるため、化合物薄膜の組成制御が容品である。すなわ
ち、金属蒸着量は、金属の加熱層電源の電力または金属
材料の蒸発源への供給速度を調整することにより節単に
制御することができる。また、イオン源から引き出され
た照射イオン量はイオン源へ供給するガスの圧力や流量
、マイクロ波の投入パワー、磁場のパワーおよびイオン
源の引き出し口に設けた引き出し電極により制御するこ
とができる。これらの制御により金属N/イオン量が適
切な割合になり、目的とする組成、厚さの薄膜を簡単に
得ることができる。
あるため、化合物薄膜の組成制御が容品である。すなわ
ち、金属蒸着量は、金属の加熱層電源の電力または金属
材料の蒸発源への供給速度を調整することにより節単に
制御することができる。また、イオン源から引き出され
た照射イオン量はイオン源へ供給するガスの圧力や流量
、マイクロ波の投入パワー、磁場のパワーおよびイオン
源の引き出し口に設けた引き出し電極により制御するこ
とができる。これらの制御により金属N/イオン量が適
切な割合になり、目的とする組成、厚さの薄膜を簡単に
得ることができる。
第1図はこの発明の一実施例における化合物薄膜の製造
装置を示す概略断面図である。同図において、1は真空
チャンバであり、この真空チャンバ1内は排気口2から
排気されて高真空雰囲気に保たれている。3はこの真空
チャンバ1に付設したイオン源であり、プラズマ生成室
4のイオン引き出し口5が真空チャンバ1に臨んでいる
。プラズマ生成室4にはマイクロ波を導入する導波管6
およびガス導入管7が接続され、さらに周囲には磁気コ
イル8が配置される。
装置を示す概略断面図である。同図において、1は真空
チャンバであり、この真空チャンバ1内は排気口2から
排気されて高真空雰囲気に保たれている。3はこの真空
チャンバ1に付設したイオン源であり、プラズマ生成室
4のイオン引き出し口5が真空チャンバ1に臨んでいる
。プラズマ生成室4にはマイクロ波を導入する導波管6
およびガス導入管7が接続され、さらに周囲には磁気コ
イル8が配置される。
一方、真空チャンバ1内には、その下部に蒸発源9が設
けられる。この蒸発源9の熱源には、蒸発物の輸送が真
空チャンバ1内のプラズマの影ISを受けることが少な
い抵抗加熱方式のヒータを使用する。また、真空チャン
バ1の上部には下向きに傾斜した基材ホルダ10が設け
られ、この基材ホルダIOの前面には基材11が取付け
られる。
けられる。この蒸発源9の熱源には、蒸発物の輸送が真
空チャンバ1内のプラズマの影ISを受けることが少な
い抵抗加熱方式のヒータを使用する。また、真空チャン
バ1の上部には下向きに傾斜した基材ホルダ10が設け
られ、この基材ホルダIOの前面には基材11が取付け
られる。
また、12は膜厚モニタである。
蒸発源9の近傍には、長い線材で構成されコイル状に巻
回した特定の金属からなる1発材料13が配置され、こ
の蒸発材料13を蒸発tA9に繰り出して先端部から順
に蒸発させていく。
回した特定の金属からなる1発材料13が配置され、こ
の蒸発材料13を蒸発tA9に繰り出して先端部から順
に蒸発させていく。
基材11の表面への成膜にあたっては、真空チャンバl
内を高真空状態に排気したのち、イオンtA3にガス導
入管7より必要圧力程度の原料ガスを導入し、イオンを
イオン源3から引き出す(第1図にイオンを矢印で示す
)。すなわち、イオン源3のプラズマ生成室4内には、
導波管6よりマイクロ波が、またガス導入管7より窒素
ガス等が導入され、プラズマ生成室4の周囲に配置した
磁気コイル8によってプラズマ生成室4内に電子サイク
ロトロン共鳴条件を満たす磁界を形成するとともに、真
空チャンバ1内においてイオン引き出し用の発散磁界を
形成させる。
内を高真空状態に排気したのち、イオンtA3にガス導
入管7より必要圧力程度の原料ガスを導入し、イオンを
イオン源3から引き出す(第1図にイオンを矢印で示す
)。すなわち、イオン源3のプラズマ生成室4内には、
導波管6よりマイクロ波が、またガス導入管7より窒素
ガス等が導入され、プラズマ生成室4の周囲に配置した
磁気コイル8によってプラズマ生成室4内に電子サイク
ロトロン共鳴条件を満たす磁界を形成するとともに、真
空チャンバ1内においてイオン引き出し用の発散磁界を
形成させる。
イオンの照射量およびエネルギーはガス圧、ガス流量、
マイクロ波の投入パワー、磁場のパワーおよびイオン源
3のイオン引き出し口に設けた引き出し電極(図示せず
)により制御する。一方、蒸発a9にはコイル状の蒸発
材料13を繰り出してヒータにより蒸発させる。このと
き、金属の蒸発速度はヒータの熱量または蒸発材料I3
の送り速度で決定する。両者の制御により基材11の表
面に適切な金属/イオンを適切な割合に調整された薄膜
を生成させることができる。このとき、薄膜の厚さは基
材11の近くに設けた膜厚モニタ12によりモニタする
。
マイクロ波の投入パワー、磁場のパワーおよびイオン源
3のイオン引き出し口に設けた引き出し電極(図示せず
)により制御する。一方、蒸発a9にはコイル状の蒸発
材料13を繰り出してヒータにより蒸発させる。このと
き、金属の蒸発速度はヒータの熱量または蒸発材料I3
の送り速度で決定する。両者の制御により基材11の表
面に適切な金属/イオンを適切な割合に調整された薄膜
を生成させることができる。このとき、薄膜の厚さは基
材11の近くに設けた膜厚モニタ12によりモニタする
。
なお、基材11は必要に応して加熱または冷却するよう
にしてもよい。
にしてもよい。
前記蒸発源9は、第2図に示すように、蒸発物取り出し
穴14を有する冷却板15で被覆するのが蒸発源9から
の不必要な熱輻射を抑制し、基材11を低温に保持する
うえで好ましい。冷却板15は冷却水を通す水冷管16
をカバー材の外面に密着して付設したものである。
穴14を有する冷却板15で被覆するのが蒸発源9から
の不必要な熱輻射を抑制し、基材11を低温に保持する
うえで好ましい。冷却板15は冷却水を通す水冷管16
をカバー材の外面に密着して付設したものである。
また、第1図に示すように、基材ホルダ10が蒸発源9
に対して傾斜して配置されている場合、この基材ホルダ
10を回転させても、膜厚が均一に形成されないおそれ
があるため、第3図に示すように、複数の蒸発源9a、
9b、9cを並設し、各蒸発源のヒータへの供給電力ま
たは蒸発材料13の送り速度を制御することにより蒸発
分布の均一性を改善することができる。このとき、蒸発
分布の均一性は膜厚モニタ12にてモニタする。
に対して傾斜して配置されている場合、この基材ホルダ
10を回転させても、膜厚が均一に形成されないおそれ
があるため、第3図に示すように、複数の蒸発源9a、
9b、9cを並設し、各蒸発源のヒータへの供給電力ま
たは蒸発材料13の送り速度を制御することにより蒸発
分布の均一性を改善することができる。このとき、蒸発
分布の均一性は膜厚モニタ12にてモニタする。
この発明によれば、電子サイクロトロン共鳴を利用して
生成した低エネルギーイオンを基材に照射して金属の蒸
着とともに所定の化合物薄膜を形成するため、照射され
るイオンのエネルギーが小さく、したがって膜内の損傷
を少なくすることができる。また、低温成膜が可能であ
るため、基材の材質に制約を受けることがなく、種々の
基材が使用可能となる。
生成した低エネルギーイオンを基材に照射して金属の蒸
着とともに所定の化合物薄膜を形成するため、照射され
るイオンのエネルギーが小さく、したがって膜内の損傷
を少なくすることができる。また、低温成膜が可能であ
るため、基材の材質に制約を受けることがなく、種々の
基材が使用可能となる。
また、膜内に不純物が混入するおそれがなく、膜質を低
下させることがない。
下させることがない。
第1図はこの発明の一実施例における化合物薄膜の製造
装置を示す概略断面図、第2図は蒸発源の他の例を示す
断面図、第3図はさらに他の例を示す断面図である。 1−真空チャンバ、3・−イオン源、4−プラズマ生成
室、9.9a〜9c−蒸発源、l〇−基材ホルダ、11
・−・基材、12−膜厚モニタ、13−蒸発材料、15
−冷却板 第 1 図 第2図
装置を示す概略断面図、第2図は蒸発源の他の例を示す
断面図、第3図はさらに他の例を示す断面図である。 1−真空チャンバ、3・−イオン源、4−プラズマ生成
室、9.9a〜9c−蒸発源、l〇−基材ホルダ、11
・−・基材、12−膜厚モニタ、13−蒸発材料、15
−冷却板 第 1 図 第2図
Claims (2)
- (1)高真空雰囲気下で、金属の真空蒸着とイオン照射
とを併用して基材の表面に化合物薄膜を作成する化合物
薄膜の製造方法であって、 前記イオンが電子サイクロトロン共鳴を利用して生成し
た低エネルギーイオンであることを特徴とする化合物薄
膜の製造方法。 - (2)真空チャンバと、この真空チャンバに付設され電
子サイクロトロン共鳴を利用して生成した低エネルギー
イオンを前記真空チャンバ内に引き出すイオン源と、前
記真空チャンバ内に設けられ金属を蒸発させる蒸発源と
、前記真空チャンバ内に設けられ前記低エネルギーイオ
ンが照射されかつ前記蒸発源から蒸発した金属が蒸着さ
れる基板を取付けた基板ホルダとを備えた化合物薄膜の
製造装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP7045988A JPH01242773A (ja) | 1988-03-23 | 1988-03-23 | 化合物薄膜の製造方法とその製造装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP7045988A JPH01242773A (ja) | 1988-03-23 | 1988-03-23 | 化合物薄膜の製造方法とその製造装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01242773A true JPH01242773A (ja) | 1989-09-27 |
Family
ID=13432121
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP7045988A Pending JPH01242773A (ja) | 1988-03-23 | 1988-03-23 | 化合物薄膜の製造方法とその製造装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH01242773A (ja) |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS63100174A (ja) * | 1986-10-15 | 1988-05-02 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | 蒸着装置 |
JPH01104763A (ja) * | 1987-10-16 | 1989-04-21 | Canon Inc | 金属化合物薄膜の製造方法 |
-
1988
- 1988-03-23 JP JP7045988A patent/JPH01242773A/ja active Pending
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS63100174A (ja) * | 1986-10-15 | 1988-05-02 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | 蒸着装置 |
JPH01104763A (ja) * | 1987-10-16 | 1989-04-21 | Canon Inc | 金属化合物薄膜の製造方法 |
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