JPH01242412A - 低トリウム高純度シリカの製造方法 - Google Patents
低トリウム高純度シリカの製造方法Info
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- JPH01242412A JPH01242412A JP7037488A JP7037488A JPH01242412A JP H01242412 A JPH01242412 A JP H01242412A JP 7037488 A JP7037488 A JP 7037488A JP 7037488 A JP7037488 A JP 7037488A JP H01242412 A JPH01242412 A JP H01242412A
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- Inorganic Chemistry (AREA)
- Silicon Compounds (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
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Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は珪酸アルカリから造られる高純度シリカの製造
方法に関する。更に詳しくは、IC封止剤用樹脂の充填
材、基板、電子材料や半導体製造装置用高純度シリカガ
ラス及び石英ガラス、光学ガラスの原料用途などに適す
るトリウム含有量が極めて低位にある高純度シリカを製
造する方法に関する。
方法に関する。更に詳しくは、IC封止剤用樹脂の充填
材、基板、電子材料や半導体製造装置用高純度シリカガ
ラス及び石英ガラス、光学ガラスの原料用途などに適す
るトリウム含有量が極めて低位にある高純度シリカを製
造する方法に関する。
近年、電子産業の急速な発展につれて電子材料用や半導
体製造用などに高純度のシリカが使用されるようになっ
たが、製品の高度化につれてシリカに対する高純度化へ
の要望は一層強まっている。
体製造用などに高純度のシリカが使用されるようになっ
たが、製品の高度化につれてシリカに対する高純度化へ
の要望は一層強まっている。
例えば、IC封止剤用樹脂の充填剤としてのシリカ粉末
は、ICの集積度の増大に伴って2ソフトエラーのトラ
ブル回避のためにますます高純度化が要求されており、
現在ではICの主流になりつつある。1メガビット以上
の高集積度を有するICの場合、その封止剤用充填剤シ
リカについてはウラン(U)、トリウム(Th)の含有
量がO,Ippb以下の純度のものが求められている。
は、ICの集積度の増大に伴って2ソフトエラーのトラ
ブル回避のためにますます高純度化が要求されており、
現在ではICの主流になりつつある。1メガビット以上
の高集積度を有するICの場合、その封止剤用充填剤シ
リカについてはウラン(U)、トリウム(Th)の含有
量がO,Ippb以下の純度のものが求められている。
このような高純度のシリカの製法としては、白珪石や水
晶の中でウラン、トリウムの少ないものを選別、精製し
た高純度原石を溶融粉砕する方法、四塩化珪素やテトラ
エチルシリケートなどのシリカ源を気相分解する方法あ
るいはこれらを加水分解して焼成する方法等が知られて
いる。ところが、前者の白珪石や水晶等の天然原料を使
用する方法では良質な純度の原料を入手することが年々
困難になりつつあり、一方、後者の方法で用いる四塩化
珪素やテトラエチルシリケート等の原料は腐食性や可燃
性があるために、取り扱いには特別な配慮を必要とし、
設備および操業の面で極めて高価になる欠点がある。
晶の中でウラン、トリウムの少ないものを選別、精製し
た高純度原石を溶融粉砕する方法、四塩化珪素やテトラ
エチルシリケートなどのシリカ源を気相分解する方法あ
るいはこれらを加水分解して焼成する方法等が知られて
いる。ところが、前者の白珪石や水晶等の天然原料を使
用する方法では良質な純度の原料を入手することが年々
困難になりつつあり、一方、後者の方法で用いる四塩化
珪素やテトラエチルシリケート等の原料は腐食性や可燃
性があるために、取り扱いには特別な配慮を必要とし、
設備および操業の面で極めて高価になる欠点がある。
これまでのところ、このような高純度シリカは珪酸アル
カリと酸との反応による湿式法では得られていない。ま
た、珪酸アルカリを出発原料とするシリカの製造方法に
関してシリカ中のトリウムについて言及した文献あるい
は特許も極く少ない。
カリと酸との反応による湿式法では得られていない。ま
た、珪酸アルカリを出発原料とするシリカの製造方法に
関してシリカ中のトリウムについて言及した文献あるい
は特許も極く少ない。
これはトリウムから放射されるα線に起因するICの誤
動作(ソフトエラー)か問題視されたのが比較的最近で
あることと、シリカ中のトリウムの極微量分析の困難な
ことが主な理由と考えられる。例えば放射化分析ではシ
リカ中のトリウムの定量下限は1 ppb程度と言われ
ており、0.1pI)b以下のトリウムの挙動について
は全く未知の分野であった。最近になり、ICP−MS
等を使用した分析技術の進歩につれて、O,1ppb以
下のトリウムの定量が可能になったが、珪酸アルカリを
出発原料にしたシリカ中のトリウムの除去方法について
は従来全く開示されてはいなかった。
動作(ソフトエラー)か問題視されたのが比較的最近で
あることと、シリカ中のトリウムの極微量分析の困難な
ことが主な理由と考えられる。例えば放射化分析ではシ
リカ中のトリウムの定量下限は1 ppb程度と言われ
ており、0.1pI)b以下のトリウムの挙動について
は全く未知の分野であった。最近になり、ICP−MS
等を使用した分析技術の進歩につれて、O,1ppb以
下のトリウムの定量が可能になったが、珪酸アルカリを
出発原料にしたシリカ中のトリウムの除去方法について
は従来全く開示されてはいなかった。
本発明は、珪酸アルカリと酸との湿式法により生成する
シリカであって、α線放射元素として有害なトリウム不
純物の含有量をo、o5ppb以下にまで精製すること
ができる高純度シリカの製造方法を提供するものである
。なお、本発明は出願人の先願に係る特開昭62−12
608号発明の改良発明に相当するものである。
シリカであって、α線放射元素として有害なトリウム不
純物の含有量をo、o5ppb以下にまで精製すること
ができる高純度シリカの製造方法を提供するものである
。なお、本発明は出願人の先願に係る特開昭62−12
608号発明の改良発明に相当するものである。
すなわち、本発明による低トリウム高純度シリカの製造
方法は、珪酸ナトリウムと鉱酸との反応により含水シリ
カ沈殿を生成させる方法において、キレート剤及び過酸
化水素が存在する酸濃度1規定以上の酸性領域中でシリ
カの沈殿を生成させ、次いで分離回収した含水シリカ沈
殿を硫酸水溶液中で熟成してシリカの比表面積を熟成前
よりも低くすることを構成的特徴とする。
方法は、珪酸ナトリウムと鉱酸との反応により含水シリ
カ沈殿を生成させる方法において、キレート剤及び過酸
化水素が存在する酸濃度1規定以上の酸性領域中でシリ
カの沈殿を生成させ、次いで分離回収した含水シリカ沈
殿を硫酸水溶液中で熟成してシリカの比表面積を熟成前
よりも低くすることを構成的特徴とする。
本発明の方法で使用する珪酸ナトリウムとしては、モル
比S iO2/ N a 20が1〜4の市販の珪酸ナ
トリウム溶液(水ガラス)を使用することができるが、
モル比の値が比較的大きいものが反応に必要とする鉱酸
の量が少なくてすむので経済的である。珪酸ナトリウム
溶液は水または鉱酸のナトリウム塩水溶液で適宜希釈し
て使用してもよい。使用濃度は、S io 2として2
0重2%以上、好ましくは25重量%以上が好適である
。
比S iO2/ N a 20が1〜4の市販の珪酸ナ
トリウム溶液(水ガラス)を使用することができるが、
モル比の値が比較的大きいものが反応に必要とする鉱酸
の量が少なくてすむので経済的である。珪酸ナトリウム
溶液は水または鉱酸のナトリウム塩水溶液で適宜希釈し
て使用してもよい。使用濃度は、S io 2として2
0重2%以上、好ましくは25重量%以上が好適である
。
一方、本発明の方法で使用する鉱酸としては、塩酸、硝
酸、硫酸などがあげられる。鉱酸は単独または二種以上
の混酸として使用できる。更に、鉱酸は適宜希釈して使
用することができる。
酸、硫酸などがあげられる。鉱酸は単独または二種以上
の混酸として使用できる。更に、鉱酸は適宜希釈して使
用することができる。
本発明の方法では、前記の原料を用いて高純度゛シリカ
を製造するに当たり、キレート剤及び過酸化水素を含有
する酸濃度1規定以上の酸性領域中で珪酸ナトリウム水
溶液と鉱酸を反応させてシリカの沈殿を生成させること
が特徴の1つである。
を製造するに当たり、キレート剤及び過酸化水素を含有
する酸濃度1規定以上の酸性領域中で珪酸ナトリウム水
溶液と鉱酸を反応させてシリカの沈殿を生成させること
が特徴の1つである。
キレート剤としてはシュウ酸、マロン酸、コハク酸、グ
ルタル酸、マレイン酸、フマル酸等のジカルボン酸;ト
リカルバリル酸、プロパン−1,2,3,−テトラカル
ボン酸、ブタン−1,2,3,4−テトラカルボン酸等
のポリカルボン酸;グリコール酸、β−ヒドロキシプロ
ピオン酸、クエン酸、リンゴ酸、酒石酸、ピルビン酸、
ジグリコール酸等のオキシカルボン酸;ニトリルトリ酢
酸(NTA) 、ニトリロリブロピオン酸、エチレンジ
アミンテトラ酢酸等のアミノポリカルボン酸またはそれ
らの塩などがあげられる。キレート剤としては特にシュ
ウ酸、クエン酸、酒石酸またはそれらの可溶性塩等が好
適である。キレート剤及び過酸化水素の添加量はそれぞ
れ反応系内のシリカ(S i02 )に対して0,1〜
5重量%、好ましくは061〜2重量%である。キレー
ト剤の添加量が0.1重量%未満では添加効果が充分で
なく、また逆に2重量%を超えると添加効果が飽和する
傾向になる。このキレート剤及び過酸化水素の存在によ
り、特にジルコニウムやチタニウムなど除去の困難な不
純成分を選択的にシリカから除去することができる。
ルタル酸、マレイン酸、フマル酸等のジカルボン酸;ト
リカルバリル酸、プロパン−1,2,3,−テトラカル
ボン酸、ブタン−1,2,3,4−テトラカルボン酸等
のポリカルボン酸;グリコール酸、β−ヒドロキシプロ
ピオン酸、クエン酸、リンゴ酸、酒石酸、ピルビン酸、
ジグリコール酸等のオキシカルボン酸;ニトリルトリ酢
酸(NTA) 、ニトリロリブロピオン酸、エチレンジ
アミンテトラ酢酸等のアミノポリカルボン酸またはそれ
らの塩などがあげられる。キレート剤としては特にシュ
ウ酸、クエン酸、酒石酸またはそれらの可溶性塩等が好
適である。キレート剤及び過酸化水素の添加量はそれぞ
れ反応系内のシリカ(S i02 )に対して0,1〜
5重量%、好ましくは061〜2重量%である。キレー
ト剤の添加量が0.1重量%未満では添加効果が充分で
なく、また逆に2重量%を超えると添加効果が飽和する
傾向になる。このキレート剤及び過酸化水素の存在によ
り、特にジルコニウムやチタニウムなど除去の困難な不
純成分を選択的にシリカから除去することができる。
かかる反応では珪酸ナトリウム水溶液を鉱酸中に添加す
る方法、あるいは珪酸ナトリウム水溶液及び鉱酸を同時
に添加する方法が考えられるが、いずれの場合でも、反
応系内の酸濃度を常に1規定以上に維持することが重要
である。酸濃度1規定未満の領域では不純物を多量に且
つ強固に包含し、固液分離性の不良なシリカの沈殿が生
成し、ひきつづく酸による洗浄操作を行なっても不純物
を充分に除去することか困難である。
る方法、あるいは珪酸ナトリウム水溶液及び鉱酸を同時
に添加する方法が考えられるが、いずれの場合でも、反
応系内の酸濃度を常に1規定以上に維持することが重要
である。酸濃度1規定未満の領域では不純物を多量に且
つ強固に包含し、固液分離性の不良なシリカの沈殿が生
成し、ひきつづく酸による洗浄操作を行なっても不純物
を充分に除去することか困難である。
反応時の温度については常温〜50℃の範囲か良く、5
0℃を越える場合は得られるシリカ沈殿の表面の硬化が
速いために不純物の液相への拡散が十分行なわれない。
0℃を越える場合は得られるシリカ沈殿の表面の硬化が
速いために不純物の液相への拡散が十分行なわれない。
反応終了後は、そのままの温度あるいは昇温しで暫時熟
成撹拌を続けることか望ましい。こうして得られたシリ
カの沈殿は常法により分離する。
成撹拌を続けることか望ましい。こうして得られたシリ
カの沈殿は常法により分離する。
反応により分離回収したシリカ中には、珪酸ナトリウム
の履歴や処理条件によって様々であるけれども、通常ウ
ランは0.5ppb以下の含有量であるのに対してトリ
ウムは1 ppb前後と多く含まれている。このような
ウランとトリウムの不純物量の差については酸に対する
溶解性の差がその主な原因と考えられる。
の履歴や処理条件によって様々であるけれども、通常ウ
ランは0.5ppb以下の含有量であるのに対してトリ
ウムは1 ppb前後と多く含まれている。このような
ウランとトリウムの不純物量の差については酸に対する
溶解性の差がその主な原因と考えられる。
次に、本発明では、分離回収した含水シリカ沈殿を硫酸
水溶液中で熟成して、シリカの比表面積を熟成前よりも
低くすることが不可欠の工程となる。該工程ではシリカ
の比表面積が熟成前よりも10%以上低くすることが好
ましく、この操作によりシリカ中のトリウムを0.05
ppb以下にまで低減させることが可能となる。
水溶液中で熟成して、シリカの比表面積を熟成前よりも
低くすることが不可欠の工程となる。該工程ではシリカ
の比表面積が熟成前よりも10%以上低くすることが好
ましく、この操作によりシリカ中のトリウムを0.05
ppb以下にまで低減させることが可能となる。
熟成に使用する硫酸水溶液の濃度は、3規定以上とする
ことが適当である。3規定以下の場合は熟成による効果
が不十分となり、トリウムを0.05ppb以下に低下
することが困難となる。熟成時の温度については特に限
定はないが、70〜100℃が好ましく、反応時の温度
と同じかそれ以上とするのが良い。
ことが適当である。3規定以下の場合は熟成による効果
が不十分となり、トリウムを0.05ppb以下に低下
することが困難となる。熟成時の温度については特に限
定はないが、70〜100℃が好ましく、反応時の温度
と同じかそれ以上とするのが良い。
次に本発明では、分離回収した含水シリカ沈殿を硫酸水
溶液中で熟成してシリカの比表面積を熟成前よりも低く
することが不可欠の工程となる。
溶液中で熟成してシリカの比表面積を熟成前よりも低く
することが不可欠の工程となる。
該工程ではシリカ比表面積の低下率を10%以上とする
ことが好ましく、この操作によりトリウム含有量を0.
059pb以下まで低減させることが可能となる。
ことが好ましく、この操作によりトリウム含有量を0.
059pb以下まで低減させることが可能となる。
熟成に用いる硫酸水溶液の濃度は、3規定以上とするこ
とが最適である。3規定を下廻る場合には熟成による効
果が不十分となり、トリウム含有量を0.05ppb以
下に低下させることが困難となる。
とが最適である。3規定を下廻る場合には熟成による効
果が不十分となり、トリウム含有量を0.05ppb以
下に低下させることが困難となる。
熟成時の温度については特に限定はないが70〜100
℃の範囲とすることが好ましく、反応時の温度と同等あ
るいはそれ以上とするのが良い。熟成の前後ではシリカ
沈殿の含水率、沈降体積などが比表面積と共に変化し、
その程度は反応終了時の酸濃度と熟成時の硫酸濃度の差
が大きいほど大きい傾向となる。
℃の範囲とすることが好ましく、反応時の温度と同等あ
るいはそれ以上とするのが良い。熟成の前後ではシリカ
沈殿の含水率、沈降体積などが比表面積と共に変化し、
その程度は反応終了時の酸濃度と熟成時の硫酸濃度の差
が大きいほど大きい傾向となる。
かかる熟成によりシリカの比表面積が熟成前より10%
以上低下した場合は、シリカ中のトリウムが0.05p
pb以下になると同時に、他の金属イオンも実質的に除
去され、殆んど不純物金属を含まない高純度シリカとな
る。なお、硫酸による熟成に際してはキレート剤及び過
酸化水素を含有しても良く、この場合の種類や濃度は反
応のときと同様である。このような作用機構については
詳細には明らかではないが、反応段階で除去しきれなか
ったトリウムはシリカ表面に付着又は吸着しているので
はなく、沈殿内部に吸蔵されているものと思われ、これ
ら沈殿内部のトリウムを除去するためには、3規定以上
の濃度の硫酸による加熱熟成により沈殿内部の結合の再
配列による不純物の除去が唯一の方法であり、熟成によ
りシリカ沈殿の含水率の減少、沈降体積の減少、比表面
積の減少などの変化が現われる。硫酸以外の酸による熟
成の場合はトリウムの除去効果が少なく、トリウムを0
.05ppb以下に低減できない。
以上低下した場合は、シリカ中のトリウムが0.05p
pb以下になると同時に、他の金属イオンも実質的に除
去され、殆んど不純物金属を含まない高純度シリカとな
る。なお、硫酸による熟成に際してはキレート剤及び過
酸化水素を含有しても良く、この場合の種類や濃度は反
応のときと同様である。このような作用機構については
詳細には明らかではないが、反応段階で除去しきれなか
ったトリウムはシリカ表面に付着又は吸着しているので
はなく、沈殿内部に吸蔵されているものと思われ、これ
ら沈殿内部のトリウムを除去するためには、3規定以上
の濃度の硫酸による加熱熟成により沈殿内部の結合の再
配列による不純物の除去が唯一の方法であり、熟成によ
りシリカ沈殿の含水率の減少、沈降体積の減少、比表面
積の減少などの変化が現われる。硫酸以外の酸による熟
成の場合はトリウムの除去効果が少なく、トリウムを0
.05ppb以下に低減できない。
また、言うまでもないが、この硫酸による熟成は1回に
限らず必要に応じてその性質上2回以上行なっても差し
支えない。
限らず必要に応じてその性質上2回以上行なっても差し
支えない。
このようにして熟成を終了したシリカは固液分離され、
含水シリカケーキを水洗浄後、乾燥して回収するか、更
に必要に応じて次いで焼成又は/及び溶融して高純度シ
リカとして回収する。なお、熟成処理後、固液分離によ
って回収された硫酸は次の反応に循環使用して硫酸の有
効利用を図ることができる。
含水シリカケーキを水洗浄後、乾燥して回収するか、更
に必要に応じて次いで焼成又は/及び溶融して高純度シ
リカとして回収する。なお、熟成処理後、固液分離によ
って回収された硫酸は次の反応に循環使用して硫酸の有
効利用を図ることができる。
本発明の方法によれば、まずキレート剤及び過酸化水素
を含有する酸濃度1規定以上の酸性領域中で珪酸ナトリ
ウム水溶液と鉱酸を反応させる工程によって、洗浄処理
により不純物の除去が容品な固液分離性の良い沈殿シリ
カを生成することができる。しかし、この反応を介して
分離回収したシリカ中には、原料となる珪酸ナトリウム
の履歴や処理条件により相違はあるものの、通常、ウラ
ンが0.5pI)b以下の含有量に低減しているのに対
しトリウムの含有量は1 ppb前後と多く残留してい
る。このウランとトリウムの含有量差が生じる理由は、
両物質の酸に対する溶解度の差に起因するものと考えら
れる。
を含有する酸濃度1規定以上の酸性領域中で珪酸ナトリ
ウム水溶液と鉱酸を反応させる工程によって、洗浄処理
により不純物の除去が容品な固液分離性の良い沈殿シリ
カを生成することができる。しかし、この反応を介して
分離回収したシリカ中には、原料となる珪酸ナトリウム
の履歴や処理条件により相違はあるものの、通常、ウラ
ンが0.5pI)b以下の含有量に低減しているのに対
しトリウムの含有量は1 ppb前後と多く残留してい
る。このウランとトリウムの含有量差が生じる理由は、
両物質の酸に対する溶解度の差に起因するものと考えら
れる。
上記の反応工程で残留したトリウムは、次の硫酸水溶液
による熟成処理を通じてシリカの比表面積を熟成前より
低下させることで効果的に除去され、シリカ比表面積の
低下率を10%以上にすることによりトリウム含有量を
0.05ppb以下にまで除去できる。
による熟成処理を通じてシリカの比表面積を熟成前より
低下させることで効果的に除去され、シリカ比表面積の
低下率を10%以上にすることによりトリウム含有量を
0.05ppb以下にまで除去できる。
この作用機構については詳しく解明するに至っていない
が、反応段階で除去しきれなかったトリウムはシリカの
表面に付着もしくは吸着しているのではなく沈殿内部に
吸蔵されており、この状態にあるトリウムの除去は、一
定濃度の硫酸水溶液による加熱熟成を介して沈殿内部の
結合を再配列し、シリカ沈殿の含水率、沈降体積、比表
面積などの減少化を通して極めて効果的におこなわれる
ものと考えられる。したがって、硫酸以外の酸による熟
成処理では、トリウムを0.05ppb以下まで選択的
、効果的に除去することは不可能である。
が、反応段階で除去しきれなかったトリウムはシリカの
表面に付着もしくは吸着しているのではなく沈殿内部に
吸蔵されており、この状態にあるトリウムの除去は、一
定濃度の硫酸水溶液による加熱熟成を介して沈殿内部の
結合を再配列し、シリカ沈殿の含水率、沈降体積、比表
面積などの減少化を通して極めて効果的におこなわれる
ものと考えられる。したがって、硫酸以外の酸による熟
成処理では、トリウムを0.05ppb以下まで選択的
、効果的に除去することは不可能である。
以下、本発明を実施例に基づいて説明する。
実施例 1
撹拌機付き反応槽(5g)に水2125gと98%硫酸
875gをとり、更に蓚酸(三水塩:市販品)5gと3
5%過酸化水素水(市販品) 15m1を加えて溶解し
、液温を25℃に保った。この硫酸水溶液を撹拌しなが
ら、ここへJIS 3号珪酸ナトリウム(Na O
9,2wt%、S t O22B、5pI%) 175
fbrを約45分間を要して添加しシリカの沈殿を生成
させた。添加終了時の液温は33℃まで上昇した。添加
終了後、そのままの温度で30分間撹拌を継続したのち
80℃まで昇温し、更に80℃で2時間撹拌して反応を
終了した。反応終了時のスラリーの硫酸濃度は、約3.
2Nであった。この反応終了スラリーからのシリカ沈殿
を?濾過洗浄をくり返した後、分離回収した。分離回収
したシリカを撹拌機付き熟成槽に入れ、更に水と98%
硫酸600m1を加えて全量4800m1とし、更に蓚
酸5gと35%過酸化水素水15m1を加えて撹拌下8
5℃で2時間熟成した。熟成終了後スラリーを静置して
サイホンにより硫酸を回収した。含水シリカケーキに水
を加えてリパルプ洗浄したのち固液分離し、更に乾燥し
て高純度シリカを回収した。得られたシリカの分析値を
表1に示す。
875gをとり、更に蓚酸(三水塩:市販品)5gと3
5%過酸化水素水(市販品) 15m1を加えて溶解し
、液温を25℃に保った。この硫酸水溶液を撹拌しなが
ら、ここへJIS 3号珪酸ナトリウム(Na O
9,2wt%、S t O22B、5pI%) 175
fbrを約45分間を要して添加しシリカの沈殿を生成
させた。添加終了時の液温は33℃まで上昇した。添加
終了後、そのままの温度で30分間撹拌を継続したのち
80℃まで昇温し、更に80℃で2時間撹拌して反応を
終了した。反応終了時のスラリーの硫酸濃度は、約3.
2Nであった。この反応終了スラリーからのシリカ沈殿
を?濾過洗浄をくり返した後、分離回収した。分離回収
したシリカを撹拌機付き熟成槽に入れ、更に水と98%
硫酸600m1を加えて全量4800m1とし、更に蓚
酸5gと35%過酸化水素水15m1を加えて撹拌下8
5℃で2時間熟成した。熟成終了後スラリーを静置して
サイホンにより硫酸を回収した。含水シリカケーキに水
を加えてリパルプ洗浄したのち固液分離し、更に乾燥し
て高純度シリカを回収した。得られたシリカの分析値を
表1に示す。
表 1
硫酸による熟成によりシリカの比表面積か13%減少し
、トリウムが0.05ppb以下に低下していることが
判る。
、トリウムが0.05ppb以下に低下していることが
判る。
実施例2,3、比較例
実施例1と同様の配合及び条件で反応を終了させ、シリ
カを分離回収した。このシリカを硫酸水溶液濃度を変え
て熟成することとし、硫酸濃度1規定(比較例)、3規
定(実施例2)、5規定(実施例3)でそれぞれ85℃
で2時間熟成を行なった。なお熟成スラリー中には実施
例1と同様に蓚酸、過酸化水素水をそれぞれS 102
に対してlvt%添加した。熟成終了後、実施例1と同
様にして高純度シリカを回収した。得られたシリカの分
析値を表2に示す。
カを分離回収した。このシリカを硫酸水溶液濃度を変え
て熟成することとし、硫酸濃度1規定(比較例)、3規
定(実施例2)、5規定(実施例3)でそれぞれ85℃
で2時間熟成を行なった。なお熟成スラリー中には実施
例1と同様に蓚酸、過酸化水素水をそれぞれS 102
に対してlvt%添加した。熟成終了後、実施例1と同
様にして高純度シリカを回収した。得られたシリカの分
析値を表2に示す。
表 2
熟成時の硫酸濃度3規定以上の場合は熟成前に比べて比
表面積が10%以上低くなっており、トリウム含有量が
0.05ppb以下に低減するが、硫酸濃度1規定の場
合は比表面積の低下が少なくトリウム含有量も0.05
ppbを上廻った。
表面積が10%以上低くなっており、トリウム含有量が
0.05ppb以下に低減するが、硫酸濃度1規定の場
合は比表面積の低下が少なくトリウム含有量も0.05
ppbを上廻った。
実施例 4
実施例1で硫酸熟成終了スラリーから回収した硫酸水溶
液(H2S 0422.9wt%) 3000gに98
vt%硫酸231gを加え、更に過酸化水素水10m1
を加えて液温を25℃に保った。これに実施例1と同様
にJIS 3号珪酸ナトリウム(N a 209.2
wt%、S iO228,5vt%) 1750+rを
約45分間を要して添加し、以下実施例1と同様の操作
により反応及び硫酸による熟成を経て高純度シリカを回
収した。得られたシリカの分析値を表3に示す。
液(H2S 0422.9wt%) 3000gに98
vt%硫酸231gを加え、更に過酸化水素水10m1
を加えて液温を25℃に保った。これに実施例1と同様
にJIS 3号珪酸ナトリウム(N a 209.2
wt%、S iO228,5vt%) 1750+rを
約45分間を要して添加し、以下実施例1と同様の操作
により反応及び硫酸による熟成を経て高純度シリカを回
収した。得られたシリカの分析値を表3に示す。
表 3
熟成終了スラリーより回収した硫酸を使って反応を行な
った場合も問題はなく、硫酸の有効利用ができることが
明らかである。
った場合も問題はなく、硫酸の有効利用ができることが
明らかである。
なお、各実施例および比較例において、ウランは蛍光光
度法、トリウムは濃縮−ICP分析法で分析し、比表面
積はBET法により求めた。
度法、トリウムは濃縮−ICP分析法で分析し、比表面
積はBET法により求めた。
本発明に係る高純度シリカの製造方法によれば、安価な
珪酸ナトリウムを原料として、α線放射元素であるウラ
ンおよびトリウムの含有量を0.05ppb以下に低減
した高純度シリカを再現性よく工業的に有利に製造する
ことができる。
珪酸ナトリウムを原料として、α線放射元素であるウラ
ンおよびトリウムの含有量を0.05ppb以下に低減
した高純度シリカを再現性よく工業的に有利に製造する
ことができる。
そして得られる高純度シリカは、従来電子材料用や高純
度シリカガラス用の原料として使用されていた良質の天
然珪砂や水晶の純度を上廻るものであるため、それらに
代わって使用可能であるばかりでなく、より高純度を必
要とする高集積度IC用の封止剤、充填剤などの高性能
電子材料用に、あるいは石英ガラス、光学ガラス用とし
ても安定供給が可能となる点で良質のシリカ資源に恵ま
れぬ我国にとって画期的な意義を有するものである。
度シリカガラス用の原料として使用されていた良質の天
然珪砂や水晶の純度を上廻るものであるため、それらに
代わって使用可能であるばかりでなく、より高純度を必
要とする高集積度IC用の封止剤、充填剤などの高性能
電子材料用に、あるいは石英ガラス、光学ガラス用とし
ても安定供給が可能となる点で良質のシリカ資源に恵ま
れぬ我国にとって画期的な意義を有するものである。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、珪酸ナトリウム水溶液と鉱酸との反応により含水シ
リカ沈殿を生成させる方法において、キレート剤及び過
酸化水素が存在する酸濃度1規定以上の酸性領域中でシ
リカの沈殿を生成させ、次いで分離回収した含水シリカ
沈殿を硫酸水溶液中で熟成してシリカの比表面積を熟成
前よりも低くすることを特徴とする低トリウム高純度シ
リカの製造方法。 2、熟成時の硫酸水溶液濃度を3規定以上とする請求項
1記載の低トリウム高純度シリカの製造方法。 3、硫酸水溶液による熟成の際にキレート剤及び過酸化
水素を存在させる請求項1記載の低トリウム高純度シリ
カの製造方法。 4、熟成を終了したスラリーから分離回収した硫酸を反
応に再使用する請求項1記載の低トリウム高純度シリカ
の製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63070374A JPH075289B2 (ja) | 1988-03-24 | 1988-03-24 | 低トリウム高純度シリカの製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63070374A JPH075289B2 (ja) | 1988-03-24 | 1988-03-24 | 低トリウム高純度シリカの製造方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01242412A true JPH01242412A (ja) | 1989-09-27 |
JPH075289B2 JPH075289B2 (ja) | 1995-01-25 |
Family
ID=13429603
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63070374A Expired - Fee Related JPH075289B2 (ja) | 1988-03-24 | 1988-03-24 | 低トリウム高純度シリカの製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH075289B2 (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2013028479A (ja) * | 2011-07-27 | 2013-02-07 | Taiheiyo Cement Corp | 高純度シリカの製造方法 |
JP2013091574A (ja) * | 2011-10-24 | 2013-05-16 | Taiheiyo Cement Corp | 非液体物質の製造方法、及び非液体物質の製造装置 |
US20190338094A1 (en) * | 2018-05-01 | 2019-11-07 | Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. | Quartz glass fiber-containing prepreg and quartz glass fiber-containing substrate |
CN114455596A (zh) * | 2022-01-22 | 2022-05-10 | 江西双龙硅材料科技有限公司 | 一种硅橡胶领域用白炭黑及其生产工艺 |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6212608A (ja) * | 1985-07-11 | 1987-01-21 | Nippon Chem Ind Co Ltd:The | 高純度シリカ及びその製造方法 |
-
1988
- 1988-03-24 JP JP63070374A patent/JPH075289B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JPS6212608A (ja) * | 1985-07-11 | 1987-01-21 | Nippon Chem Ind Co Ltd:The | 高純度シリカ及びその製造方法 |
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