JPH01238049A - 半導体装置 - Google Patents

半導体装置

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JPH01238049A
JPH01238049A JP63063571A JP6357188A JPH01238049A JP H01238049 A JPH01238049 A JP H01238049A JP 63063571 A JP63063571 A JP 63063571A JP 6357188 A JP6357188 A JP 6357188A JP H01238049 A JPH01238049 A JP H01238049A
Authority
JP
Japan
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integrated circuit
circuit element
substrate
pad
cured
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP63063571A
Other languages
English (en)
Inventor
Masayuki Ouchi
正之 大内
Hiroshi Yamada
浩 山田
Shigeru Yatabe
谷田部 茂
Isamu Yanase
勇 柳瀬
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Corp filed Critical Toshiba Corp
Priority to JP63063571A priority Critical patent/JPH01238049A/ja
Publication of JPH01238049A publication Critical patent/JPH01238049A/ja
Pending legal-status Critical Current

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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/93Batch processes
    • H01L24/95Batch processes at chip-level, i.e. with connecting carried out on a plurality of singulated devices, i.e. on diced chips
    • H01L24/96Batch processes at chip-level, i.e. with connecting carried out on a plurality of singulated devices, i.e. on diced chips the devices being encapsulated in a common layer, e.g. neo-wafer or pseudo-wafer, said common layer being separable into individual assemblies after connecting
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/18High density interconnect [HDI] connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/23Structure, shape, material or disposition of the high density interconnect connectors after the connecting process
    • H01L2224/24Structure, shape, material or disposition of the high density interconnect connectors after the connecting process of an individual high density interconnect connector
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/10Details of semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/11Device type
    • H01L2924/14Integrated circuits

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Structures Or Materials For Encapsulating Or Coating Semiconductor Devices Or Solid State Devices (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の目的〕 (産業上の利用分野) 本発明は、半導体メモリモジー−ルなどに応用する半導
体装置に関するものである。
(従来の技術) 電子機器の小形化・薄形化に伴い、これに使用さ几る半
導体装置をより高密度に実装する必要性が高まってきて
いる。従来の半導体装置において。
例えば複数個のメモリICを搭載したメモリモジュール
では、ミニフラットパッケージに納められたメモリエC
を基板の配線パターンの所定の位置に半田付けして接続
しているのが通常である。しかしながら、この場合パッ
ケージの厚さが2u程度あるため薄形化が容易でない。
また、パッケージの大きさも例えば12X17tl程闇
あるため。
−例としてメモリ4個を搭載したモジーーでは外形寸法
が17 X 10(111と大きくなってしまう。−方
、半導体装#を薄形に構成した例として、複数の集積回
路素子が1例えば樹脂基体中にその接続用パッドが露出
するように埋設されて並べられており、その上に形成さ
れた配線パターンにより直接集積回路素子間が接続され
ている例がある(特願昭59−196206 ’)。し
かしながら、上記構成において使用する集積回路素子の
接続用パッドは1通常該素子の周縁部に配置されている
ため。
これらを複数個並列に接続結線する場合には、集積回路
素子の外側に配線を引出して、さらに配線同士が交差す
る部分を多層化して相互に結線しなければならなかった
したがりで、接続パッド数が増加するにつれて。
接続配線の占める面積が大きくなり、小形化・高密度化
にはやはり限界があった。
(発明が解決しようとする課題) このように、従来この種の集積回路素子を複数個接続し
て半導体装置を形成する場合には、集積回路素子の接続
用パッドの配置により、接続配線パターンの引回しが著
しく制限され、これが半導体装置の小形化および高密便
化を阻害する要因となっていた。
本発明は以上の点に鑑みなされたもので、接続配線の占
める面積が縮小化でき、小形化・高密度化が可能な半導
体装置を提供することを目的とする。
〔発明の構成〕
(課題を解決するための手段) 本発明は上記目的を達成するため、集積回路素子の各接
続用パッドを縦方向と横方向に延長した二本の仮想の帯
のうちの少なくとも一本が、他の接続用パッドと交差し
ないように前記集積回路素子の接続用パッドを配置した
ものである。
(作用) 本発明のような接続用パッド配置にすることにより、内
蔵する複数個の集積回路素子の相互に接続すべき接続用
パッド間を接続する複数本の配線は、集積回路素子面上
だけを通る平行な直線状の配線パターンで形成でき、素
子の外側で配線パターンを引回す必要はないので接続配
線が占める面積を縮小できる。
(実施例) 第1図は1本発明の一実施例を示す平面図である。再2
図は#第1図A−Aの断面図である。図において、集積
回路素子1の表面に絶縁層2が設けられ、その上には集
積回路素子10周縁部にある従来の接続用パッド3を一
端とする薄膜配線パターン4が形成されており、その終
端部が新たな接続用パッド5として集積回路素子1の能
動領域上に配置されている。ここで絶縁層2の材料とし
ては1例えば感光性ポリイミド(東しg : U R−
3140)が用いられる。スピンコーテイング後露光・
現像さらにキー7することにより従来の接続用パッド3
を露出させることができる。薄膜配線パターン4は、真
空蒸着法やスパッタリング法によりOrとAui堆積さ
せた後、フォトエツチング法でパターンニングすること
ができる。
次に、第1図に示したように接続用パッドが配置された
集積回路素子を4個実装した半導体装置の製造工程の一
例を7M3図から第6図に示す。
まず、第3図に示すようにステンレス等よりなる量体6
に予め設けられた4個の開ロア中に集積回路素子11例
えばICチップをその接続用パッド5の形成面が基体6
の表面とほぼ同一面となるように搭載する。ここで基体
6の底側には粘着シート8が予め貼付されており、これ
により集積回路素子1は支持される。
次に、第4図に示すように基体6及び集積回路素子1上
に1例えばアクリル系の感光性ドライフィルム9を80
℃程度の温度で加熱しながらラミネートする。そして、
粘着シート8を剥離した後。
集積回路素子工と基体6の隙間に樹脂10を充填し、か
つ硬化させる。充填する樹脂10は、感光性ドライフィ
ルムが硬化反応を起こさない温度で硬化するタイプが望
ましく1例えば二液型のポリウレタン樹脂(サンニレジ
ン製: 5U−1500)やエポキシ樹脂が良い。
次に、第5図に示すように感光性ドライフィルム9を露
光・現像して集積回路素子1の接続用バ・ラド5上にバ
イアホール11を形成する。  1次に、第6図に示す
ようにバイアホール11の中にOu、Ag等の金属粉末
をエポキシ、フェノール、ポリエステル等の樹脂中に含
有させてなる導電性樹脂ペーストを充填し、120℃程
度で硬化させてバイアフィル導体12とした後、導電性
樹脂ペーストをスクリーン印刷し、120℃程度で加熱
硬化させることにより、集積回路素子lどうしを相互に
接続する接続配線パターン13を形成する。
この場合、集積回路素子lの接続用パッド5と接続配線
パターン13とはバイアフィル導体12に工り電気的に
接続されることになる。こうして。
4個の集積回路素子を実装した半導体装置が得られる。
第7図は、上記の製造工程で作製した4個の256KS
RAM(TO55257)チップ1(外形を破線で図示
)を実装したメモ11モジユル14の平面図(一部の接
続用パッドのみ図示)である。相互に接続すべきチップ
の接続用バッド5間を結ぶ接続配線パターン13は、各
々のチップの接続用パッド配置が第1図に示fようにな
っているので。
チップの外側でパターンを引回す必要がなく、チップの
面上だけを通る平行な直線状パターンで形成可能となる
。その結果、接続配線パターンの占める面積が縮小化で
き、メモリモジー−ルの大きさも15 x 31.5 
mmと小形化できた。なお、このメモリモジー−ルの動
作試験を行ったところ、舊込みφ読みだしが正常に行な
えることが確認された。
なお、不発明は、上記実施例に限定されるものではなく
9例えは第8図のように集積回路素子1の接続用パッド
5を対向する二辺のみに配置し。
しかも対向するハツトがないようにしても構わない。そ
の他1本発明は要旨を逸脱しない範囲で種々変形して実
施することができる。
〔発明の効果〕
本発明によれば、接続配線の占める面積が縮小化でき、
小形化・高密度化が可能な半導体装置が得られる。
【図面の簡単な説明】
第1図と第2図は、それぞれ本発明の実施例に係る平面
図と断面図、第3図〜第6図は不発明の一実施例に係る
製造工程を示す断面図、第7図は前記製造工程で作製し
たメモリモジ、−ルの平面図、第8図は2本発明の他の
実施例に係る平面図である。 1・・・集積回路素子、2・・・絶縁層、3・・・従来
の接続用パッド、4・・・薄膜配線パターン、5・・・
接続用パッド、6・・・基体、7−・開口、8・・・粘
着シート。 9−・感光性ドライフィルム、10・・・樹脂、11・
・・バイアホール、12・・・バイアフィル4体、13
・・・接続配線パターン、14・・・メモ11モジュル
、15・・・外部接続用端子、16・・・接続用パッド

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1、複数個の集積回路素子を配置し、さらに該集積回路
    素子の接続用パッドを相互に接続してなる半導体装置に
    おいて、常期集積回路素子の各接続用パッドを縦方向と
    横方向に延長した二本の仮想の帯のうちの少なくとも一
    本が、他の接続用パッドと交差しないように前記集積回
    路素子の接続用パッドを配置したことを特徴とする半導
    体装置。
JP63063571A 1988-03-18 1988-03-18 半導体装置 Pending JPH01238049A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP63063571A JPH01238049A (ja) 1988-03-18 1988-03-18 半導体装置

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JP63063571A JPH01238049A (ja) 1988-03-18 1988-03-18 半導体装置

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JPH01238049A true JPH01238049A (ja) 1989-09-22

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ID=13233069

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JP63063571A Pending JPH01238049A (ja) 1988-03-18 1988-03-18 半導体装置

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JP (1) JPH01238049A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH03219664A (ja) * 1990-01-24 1991-09-27 Nec Corp 薄膜配線基板
CN103515401A (zh) * 2012-06-15 2014-01-15 台湾积体电路制造股份有限公司 用于背照式图像传感器的装置和方法

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH03219664A (ja) * 1990-01-24 1991-09-27 Nec Corp 薄膜配線基板
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