JPH01226107A - 電圧依存性非直線抵抗体磁器組成物 - Google Patents
電圧依存性非直線抵抗体磁器組成物Info
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- JPH01226107A JPH01226107A JP63052818A JP5281888A JPH01226107A JP H01226107 A JPH01226107 A JP H01226107A JP 63052818 A JP63052818 A JP 63052818A JP 5281888 A JP5281888 A JP 5281888A JP H01226107 A JPH01226107 A JP H01226107A
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Landscapes
- Compositions Of Oxide Ceramics (AREA)
- Thermistors And Varistors (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
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Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は電気機器、電子機器で発生する異常高電圧、ノ
イズ、静電気から半導体及び回路を保護するためのコン
デンサ特性とバリスタ特性を有する電圧依存性非直線抵
抗体磁器組成物に関するものである。
イズ、静電気から半導体及び回路を保護するためのコン
デンサ特性とバリスタ特性を有する電圧依存性非直線抵
抗体磁器組成物に関するものである。
従来の技術
従来、各種電気機器、電子機器における異常高電圧の吸
収、ノイズの除去、火花消去、静電気対策のために電圧
依存性非直線抵抗特性を有するSiCバリスタや、Zn
O系バリスタなどが使用されていた。このようなバリス
タの電圧−電流特性は近似的に次式のように表すことが
できる。
収、ノイズの除去、火花消去、静電気対策のために電圧
依存性非直線抵抗特性を有するSiCバリスタや、Zn
O系バリスタなどが使用されていた。このようなバリス
タの電圧−電流特性は近似的に次式のように表すことが
できる。
1=(V/C)’
ここで、■は電流、■は電圧、Cはバリスタ固有の定数
、αは電圧非直線指数である。
、αは電圧非直線指数である。
SiCバリスタのαは2〜7程度、ZnO系バリスタで
はαが50にもおよぶものがある。このようなバリスタ
は比較的高い電圧の吸収には優れた性能を有しているが
、誘電率が低く、固有の静電容量が小さいため、バリス
タ電圧以下の比較的低い電圧の吸収に対してはほとんど
効果を示さず、また誘電損失tanδが5〜10%と大
きい。
はαが50にもおよぶものがある。このようなバリスタ
は比較的高い電圧の吸収には優れた性能を有しているが
、誘電率が低く、固有の静電容量が小さいため、バリス
タ電圧以下の比較的低い電圧の吸収に対してはほとんど
効果を示さず、また誘電損失tanδが5〜10%と大
きい。
一方、これらの低電圧のノイズなどの除去には見かけの
誘電率が5X10’程度で、tanδが1%前後の半導
体コンデンサが利用されている。
誘電率が5X10’程度で、tanδが1%前後の半導
体コンデンサが利用されている。
しかし、このような半導体コンデンサはサージなどによ
りある限度以上の電圧または電流が印加されると、破壊
したりしてコンデンサとしての機能を果たさなくなった
りする。
りある限度以上の電圧または電流が印加されると、破壊
したりしてコンデンサとしての機能を果たさなくなった
りする。
そこで、最近になって5rTi03を主成分とし、バリ
スタ特性とコンデンサ特性の両方の機能を有するものが
開発され、マイクロコンピュータなどの電子8!器にお
けるIC,LSIなどの半導体素子の保護に使用されて
いる。
スタ特性とコンデンサ特性の両方の機能を有するものが
開発され、マイクロコンピュータなどの電子8!器にお
けるIC,LSIなどの半導体素子の保護に使用されて
いる。
発明が解決しようとする課題
上記の5rTi03を主成分とするバリスタはZnO系
バリスタに比べ誘電率が約10倍と大きいが、電圧非直
線指数(α)やサージ耐量が小さく、粒内抵抗が高いた
め、高周波のノイズなどを十分に吸収できないといった
欠点を有していた。
バリスタに比べ誘電率が約10倍と大きいが、電圧非直
線指数(α)やサージ耐量が小さく、粒内抵抗が高いた
め、高周波のノイズなどを十分に吸収できないといった
欠点を有していた。
そこで本発明では、誘電率が太き(、αが大きいと共に
、サージ耐量が太き(、粒内抵抗が低い電圧依存性非直
線抵抗体磁器組成物を提供することを目的とするもので
ある。
、サージ耐量が太き(、粒内抵抗が低い電圧依存性非直
線抵抗体磁器組成物を提供することを目的とするもので
ある。
課題を解決するための手段
上記の問題点を解決するために本発明では、5raTi
03.(CallSr+−x)bTi03(0,001
≦xSO,5)。
03.(CallSr+−x)bTi03(0,001
≦xSO,5)。
(BaySr+−y)cTiOs(0,001≦y≦0
.5)、(MgIlSr+−5)aTiOs(0,00
1≦2≦0.5) (0,950≦a、 b、
c、 d<1.000 ) (以下第一成分と呼ぶ)
のうち少なくとも1種類以上を90.000〜99.9
98曽O1χ、NbzOs+ Ta=05. WOs+
D)’20s+ Y!03+ LazO*+ Ce0
t+Sm!03. Pr*0+++ NdzOs (以
下第二成分と呼ぶ)のうち少なくとも1種類以上を0.
001〜s、oo。
.5)、(MgIlSr+−5)aTiOs(0,00
1≦2≦0.5) (0,950≦a、 b、
c、 d<1.000 ) (以下第一成分と呼ぶ)
のうち少なくとも1種類以上を90.000〜99.9
98曽O1χ、NbzOs+ Ta=05. WOs+
D)’20s+ Y!03+ LazO*+ Ce0
t+Sm!03. Pr*0+++ NdzOs (以
下第二成分と呼ぶ)のうち少なくとも1種類以上を0.
001〜s、oo。
翔o1χ、W、N (以下第三成分と呼ぶ)を0.0
01〜5、000 s+ol!含有してなるか、または
上記第一成分を80.000〜99.997molχ、
第二成分及び第三成分をそれぞれO,OO1〜5.00
0molχ、さらに^l*Os、 Sb*Os+ Ba
d、 Bed、 pbo、 B2O3+ Ce0i。
01〜5、000 s+ol!含有してなるか、または
上記第一成分を80.000〜99.997molχ、
第二成分及び第三成分をそれぞれO,OO1〜5.00
0molχ、さらに^l*Os、 Sb*Os+ Ba
d、 Bed、 pbo、 B2O3+ Ce0i。
Crz03+ Peg’s、 CdO,KxO,Cab
、 Co2O3,Cub、 Cu、0゜Li、o、 M
gCL門nJ、 MoO3,NazO+ Nip、 R
h*Os+ 5eOt+AgzO,5i(h、 stc
、 SrO,TlzO,TtlOz+ Tiot、 V
2O5+BigOs、l[ls+ Zn(L ZrO2
,5not、 (以下第四成分と呼ぶ)のうち少なく
とも1種類以上をo、oot〜10.000wolχ含
有してなる電圧依存性非直線抵抗体磁器組成物を得るこ
とにより問題を解決しようとするものである。
、 Co2O3,Cub、 Cu、0゜Li、o、 M
gCL門nJ、 MoO3,NazO+ Nip、 R
h*Os+ 5eOt+AgzO,5i(h、 stc
、 SrO,TlzO,TtlOz+ Tiot、 V
2O5+BigOs、l[ls+ Zn(L ZrO2
,5not、 (以下第四成分と呼ぶ)のうち少なく
とも1種類以上をo、oot〜10.000wolχ含
有してなる電圧依存性非直線抵抗体磁器組成物を得るこ
とにより問題を解決しようとするものである。
作用
上記発明において、第一成分は主成分であり、第二成分
は主に半導体化を促進する金属酸化物である。また、第
三成分は誘電率及び粒内抵抗の改善に寄与するものであ
り、第四成分は誘電率、α、サージ耐量の改善に寄与す
るものである。特に、第三成分は素子全体に均一に分散
し、添加時点では窒化物であるが、還元焼成後に空気中
で熱処理することにより酸化物に変わり電子を放出する
。
は主に半導体化を促進する金属酸化物である。また、第
三成分は誘電率及び粒内抵抗の改善に寄与するものであ
り、第四成分は誘電率、α、サージ耐量の改善に寄与す
るものである。特に、第三成分は素子全体に均一に分散
し、添加時点では窒化物であるが、還元焼成後に空気中
で熱処理することにより酸化物に変わり電子を放出する
。
すなわち、粒界部分では拡散してきた多量の酸素により
酸化物が形成され、放出された電子は酸素イオンに捕獲
され粒界は絶縁化される。一方、粒子内部は酸素の拡散
が起こりにくいため大部分の@2Nが窒化物のままで存
在し、仮に粒子内部まで酸素が拡散してきても窒化物の
原子価が変わることによって電子を放出するため、酸化
による高抵抗化を抑制する作用をする。このため粒子内
部を低抵抗にすることができる。
酸化物が形成され、放出された電子は酸素イオンに捕獲
され粒界は絶縁化される。一方、粒子内部は酸素の拡散
が起こりにくいため大部分の@2Nが窒化物のままで存
在し、仮に粒子内部まで酸素が拡散してきても窒化物の
原子価が変わることによって電子を放出するため、酸化
による高抵抗化を抑制する作用をする。このため粒子内
部を低抵抗にすることができる。
実施例
以下に本発明を実施例を挙げて具体的に説明する。
まず、SrCO3+ CaC0,、BaCO3,MgC
O5+ Tie、を下記の第1表に示す組成比になるよ
うに秤量し、ボールミルなどで40時間混合し、乾燥し
た後、1000℃で15時間仮焼する。こうして得られ
た仮焼物にNi、Nzと添加物を下記の第1表に示す組
成比になるように秤量し、ボールミルなどで20時間混
合し、乾燥した後、ポリビニルアルコールなどの有機バ
インダーを10wtχ添加して造粒した後、1 (t
/cd)のプレス圧力で10φx l L(+w@)の
円板状に成形する。次いで、空気中で1000℃、10
時間仮焼脱バインダーを行った後、N2 : H2−9
: 1の混合ガス中で1415℃、4時間焼成する。さ
らに、空気中で1045℃、12時間焼成し、このよう
にして得られた第1図、第2図に示す焼結体1の真平面
に外周を残すようにしてAgなどの導電性ペーストをス
クリーン印刷などにより塗布し、600℃、5分間焼成
し、電極2.3を形成する。次に、図示してはいないが
半田などによりリード線を取付け、エポキシなどの樹脂
を塗装する。このようにして得られた素子の特性を下記
の第2表に示す、なお、第2表において、誘電率εは1
KIIzでの静電容量から計算したものであり、粒内抵
抗ESRは共振周波数でのインピーダンスにより評価し
、αはα= 1 / L o g (V +s*a/
V +am)(ただし、VIIIA I Vl@+a
Aは1i+A、10mAの電流を流した時に素子の両端
にかかる電圧である。)で評価した。また、サージ耐量
はパルス性の電流を印加した後のVlmAの変化が±1
0%以内である時の最大のパルス性電流値により評価し
ている。
O5+ Tie、を下記の第1表に示す組成比になるよ
うに秤量し、ボールミルなどで40時間混合し、乾燥し
た後、1000℃で15時間仮焼する。こうして得られ
た仮焼物にNi、Nzと添加物を下記の第1表に示す組
成比になるように秤量し、ボールミルなどで20時間混
合し、乾燥した後、ポリビニルアルコールなどの有機バ
インダーを10wtχ添加して造粒した後、1 (t
/cd)のプレス圧力で10φx l L(+w@)の
円板状に成形する。次いで、空気中で1000℃、10
時間仮焼脱バインダーを行った後、N2 : H2−9
: 1の混合ガス中で1415℃、4時間焼成する。さ
らに、空気中で1045℃、12時間焼成し、このよう
にして得られた第1図、第2図に示す焼結体1の真平面
に外周を残すようにしてAgなどの導電性ペーストをス
クリーン印刷などにより塗布し、600℃、5分間焼成
し、電極2.3を形成する。次に、図示してはいないが
半田などによりリード線を取付け、エポキシなどの樹脂
を塗装する。このようにして得られた素子の特性を下記
の第2表に示す、なお、第2表において、誘電率εは1
KIIzでの静電容量から計算したものであり、粒内抵
抗ESRは共振周波数でのインピーダンスにより評価し
、αはα= 1 / L o g (V +s*a/
V +am)(ただし、VIIIA I Vl@+a
Aは1i+A、10mAの電流を流した時に素子の両端
にかかる電圧である。)で評価した。また、サージ耐量
はパルス性の電流を印加した後のVlmAの変化が±1
0%以内である時の最大のパルス性電流値により評価し
ている。
(以 下 余 白)
また、第一成分のSrmTi0st (CaxSr+−
x)bTios(0,001≦X≦0.5)、 (B
a、Sr+−、)cTiOa(0,001≦y≦0.5
)、(MgmSr+−m)diOs(0,001≦2≦
0.5) (0,950≦a、 b、 c、 d
<1.000 )の!、 7. 2(7)範囲を規定
したのは、0.001未満では効果を示さず、0.5を
越えると粒成長及び半導体化が抑制され特性が劣化する
ためである。また、a、b、c、dの範囲を規定したの
は、1.0では格子欠陥が発生しに(いため半導体化が
促進されず、0.95より小さ(なるとTiが過剰とな
りすぎて↑10□の結晶が生成し、組織が不均一になり
、特性が劣化するためである。さらに、第二成分は0.
001■olχ未満では効果を示さず、s、ooo−〇
1χを越えると粒界に偏析して粒界の高抵抗化を抑制し
、粒界に第二相を形成するため特性が劣化することにな
る。
x)bTios(0,001≦X≦0.5)、 (B
a、Sr+−、)cTiOa(0,001≦y≦0.5
)、(MgmSr+−m)diOs(0,001≦2≦
0.5) (0,950≦a、 b、 c、 d
<1.000 )の!、 7. 2(7)範囲を規定
したのは、0.001未満では効果を示さず、0.5を
越えると粒成長及び半導体化が抑制され特性が劣化する
ためである。また、a、b、c、dの範囲を規定したの
は、1.0では格子欠陥が発生しに(いため半導体化が
促進されず、0.95より小さ(なるとTiが過剰とな
りすぎて↑10□の結晶が生成し、組織が不均一になり
、特性が劣化するためである。さらに、第二成分は0.
001■olχ未満では効果を示さず、s、ooo−〇
1χを越えると粒界に偏析して粒界の高抵抗化を抑制し
、粒界に第二相を形成するため特性が劣化することにな
る。
そして、第三成分は0.001■o1χ未満では効果を
4示さず、5.000solχを越えると粒界に第
二相を形成するため特性が劣化することになる。また、
第四成分は0.001solχ未満では効果を示さず、
5、000solχを越えると粒界に第二相を形成し粒
成長が抑制され、粒界の抵抗は高くなるが粒界の幅が厚
くなるため、静電容量が小さくなると共にバリスタ電圧
が高(なりサージに対して弱くなることになる。
4示さず、5.000solχを越えると粒界に第
二相を形成するため特性が劣化することになる。また、
第四成分は0.001solχ未満では効果を示さず、
5、000solχを越えると粒界に第二相を形成し粒
成長が抑制され、粒界の抵抗は高くなるが粒界の幅が厚
くなるため、静電容量が小さくなると共にバリスタ電圧
が高(なりサージに対して弱くなることになる。
なお、本実施例では一部の添加物の組み合わせについて
のみ示したが、請求の範囲内であればその他の添加物の
組み合わせについても同様の効果があることを確認した
。
のみ示したが、請求の範囲内であればその他の添加物の
組み合わせについても同様の効果があることを確認した
。
発明の効果
以上に示したように本発明によれば、誘電率ε、電圧非
直線指数αが大きく、粒内抵抗が小さいため、高周波の
ノイズを吸収すると共に、サージ電流が印加された後の
発熱が少ないため、素子の劣化が小さく、サージ耐量が
太き(なるという効果が得られる。
直線指数αが大きく、粒内抵抗が小さいため、高周波の
ノイズを吸収すると共に、サージ電流が印加された後の
発熱が少ないため、素子の劣化が小さく、サージ耐量が
太き(なるという効果が得られる。
第1図は本発明による素子を示す平面図、第2図は本発
明による素子を示す断面図である。 1・・・・・・焼結体、2,3・・・・・・電極。
明による素子を示す断面図である。 1・・・・・・焼結体、2,3・・・・・・電極。
Claims (2)
- (1)Sr_aTiO_3(Ca_xSr_1_−_x
)_bTiO_3(0.001≦x≦0.5),(Ba
_ySr_1_−_y)_cTiO_3(0.001≦
y≦0.5),(Mg_zSr_1_−_z)_dTi
O_3(0.001≦z≦0.5)〔0.950≦a,
b,c,d<1.000〕のうち少なくとも1種類以上
を90.000〜99.998mol%,Nb_2O_
5,Ta_2O_5,WO_3,Dy_2O_3,Y_
2O_3,La_2O_3,CeO_2,Sm_2O_
3,Pr_6O_1_1,Nd_2O_3のうち少なく
とも1種類以上を0.001〜5.000mol%、W
_2Nを0.001〜5.000mol%含有してなる
電圧依存性非直線抵抗体磁器組成物。 - (2)Sr_aTiO_3,(Ca_xSr_1_−x
)_bTiO_3(0.001≦x≦0.5),(Ba
_ySr_1_−_y)_cTiO_3(0.001≦
y≦0.5),(Mg_zSr_1_−_z)_dTi
O_3(0.001≦z≦0.5)〔0.950≦a,
b,c,d<1.000〕のうち少なくとも1種類以上
を80.000〜99.997mol%、Nb_2O_
5,Ta_2O_5,WO_3,Dy_2O_3,Y_
2O_3La_2O_3,CeO_2,Sm_2O_3
,Pr_6O_1_1,Nd_2O_3のうち少なくと
も1種類以上を0.001〜5.000mol%、W_
2Nを0.001〜5.000mol%、Al_2O_
3,Sb_2O_3,BaO,BeO,PbO,B_2
O_3,CeO_2,Cr_2O_3,Fe_2O_3
,CdO,K_2O,CaO,Co_2O_3,CuO
,Cu_2O,Li_2O,MgO,MnO_2,Mo
O_3,Na_2O,NiO,Rh_2O_3,SeO
_2,Ag_2O,SiO_2,SiO_2,SiC,
SrO,Ti_2O,ThO_2,TiO_2,V_2
O_5,Bi_2O_3,WO_3,ZnO,ZrO_
2,SnO_2のうち少なくとも1種類以上を0.00
1〜10.000mol%含有してなる電圧依存性非直
線抵抗体磁器組成物。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63052818A JPH01226107A (ja) | 1988-03-07 | 1988-03-07 | 電圧依存性非直線抵抗体磁器組成物 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63052818A JPH01226107A (ja) | 1988-03-07 | 1988-03-07 | 電圧依存性非直線抵抗体磁器組成物 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01226107A true JPH01226107A (ja) | 1989-09-08 |
Family
ID=12925421
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63052818A Pending JPH01226107A (ja) | 1988-03-07 | 1988-03-07 | 電圧依存性非直線抵抗体磁器組成物 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH01226107A (ja) |
-
1988
- 1988-03-07 JP JP63052818A patent/JPH01226107A/ja active Pending
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