JPH01226114A - 電圧依存性非直線抵抗体磁器組成物 - Google Patents
電圧依存性非直線抵抗体磁器組成物Info
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- JPH01226114A JPH01226114A JP63052855A JP5285588A JPH01226114A JP H01226114 A JPH01226114 A JP H01226114A JP 63052855 A JP63052855 A JP 63052855A JP 5285588 A JP5285588 A JP 5285588A JP H01226114 A JPH01226114 A JP H01226114A
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- ceramic composition
- resistor ceramic
- mol
- linear resistor
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Links
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Landscapes
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
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Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は電気機器、電子機器で発生する異常高電圧、ノ
イズ、静電気から半導体及び回路を保護するためのコン
デンサ特性とバリスタ特性を有する電圧依存性非直線抵
抗体磁器組成物に関するものである。
イズ、静電気から半導体及び回路を保護するためのコン
デンサ特性とバリスタ特性を有する電圧依存性非直線抵
抗体磁器組成物に関するものである。
従来の技術
従来、各種電気機器、電子機器における異常高電圧の吸
収、ノイズの除去、火花消去、静電気対策のために電圧
依存性非直線抵抗特性を有するSiCバリスタや、Zn
O系バリスタなどが使用されていた。このようなバリス
タの電圧−電流特性は近似的に次式のように表すことが
できる。
収、ノイズの除去、火花消去、静電気対策のために電圧
依存性非直線抵抗特性を有するSiCバリスタや、Zn
O系バリスタなどが使用されていた。このようなバリス
タの電圧−電流特性は近似的に次式のように表すことが
できる。
I−(V/C)a
ここで、工は電流、■は電圧、Cはバリスタ固有の定数
、αは電圧非直線指数である。
、αは電圧非直線指数である。
SiCバリスタのαは2〜7程度、ZnO系バリスタで
はαが50VCもおよぶものがある。このようなバリス
タは比較的高い電圧の吸収には優れた性能を有している
が、誘電率が低く、固有の静電容量が小さいため、バリ
スタ室圧以下の比較的低い電圧の吸収に対してはほとん
ど効果を示さず、また誘電損失tanδが5〜10%と
太きい。
はαが50VCもおよぶものがある。このようなバリス
タは比較的高い電圧の吸収には優れた性能を有している
が、誘電率が低く、固有の静電容量が小さいため、バリ
スタ室圧以下の比較的低い電圧の吸収に対してはほとん
ど効果を示さず、また誘電損失tanδが5〜10%と
太きい。
一方、これらの低電圧のノイズなどの除去には見かけの
誘電率が6X10’程度で、tanδが1%前後の半導
体コンデンサが利用さ九ている。しかし、このような半
導体コンデンサはサージなどによりある限度以上の電圧
または電流が印加されると、破壊したりしてコンデンサ
としての機能を果たさなくなったりする。
誘電率が6X10’程度で、tanδが1%前後の半導
体コンデンサが利用さ九ている。しかし、このような半
導体コンデンサはサージなどによりある限度以上の電圧
または電流が印加されると、破壊したりしてコンデンサ
としての機能を果たさなくなったりする。
そこで最近になって5rTiO、を主成分とし、バリス
フ特性とコンデンサ特性の両方の機能を有するものが開
発され、マイクロコンピュータなどの電子機器における
IC,LSIなどの半導体素子の保護に使用されている
。
フ特性とコンデンサ特性の両方の機能を有するものが開
発され、マイクロコンピュータなどの電子機器における
IC,LSIなどの半導体素子の保護に使用されている
。
発明が解決しようとする課題
上記の5rTiO,f主成分とするバリスタはZnO系
バリスタに比べ誘電率が約10倍と太きいが、電圧非直
線指数αやサージ耐量が小さく、粒内抵抗が高いため、
高周波のノイズなどを十分に吸収できないといった欠点
全有していた。
バリスタに比べ誘電率が約10倍と太きいが、電圧非直
線指数αやサージ耐量が小さく、粒内抵抗が高いため、
高周波のノイズなどを十分に吸収できないといった欠点
全有していた。
そこで本発明では、誘電率が大きく、αが大きいと共に
、サージ耐量が大きく、粒内抵抗が低い電圧依存性非直
線抵抗体磁器組成物を提供すること全目的とする。
、サージ耐量が大きく、粒内抵抗が低い電圧依存性非直
線抵抗体磁器組成物を提供すること全目的とする。
課題を解決するための手段
上記の問題点を解決するために本発明では、5rTiO
,、CaxSr、 −x Tie、 (0.001≦X
≦o、s ) 。
,、CaxSr、 −x Tie、 (0.001≦X
≦o、s ) 。
B ay S r + −yT io 5(0.001
≦y≦0.5 ) 。
≦y≦0.5 ) 。
Mg23r=zTie、 (o、oo1≦z≦0.5)
(以下第一成分と呼ぶ)のうち少なくとも1種類以上を
8α000〜99.997moe%、Nb 205 、
’ra2o5.wo、 。
(以下第一成分と呼ぶ)のうち少なくとも1種類以上を
8α000〜99.997moe%、Nb 205 、
’ra2o5.wo、 。
ny205 、Y2O5、L2L20.、ClO2,5
m2o、 、Pr60.、 lNd203(以下第二成
分と呼ぶ)のうち少なくとも1種類以上@ o、oo1
〜5.000 so 0%、WN2(以下第三成分と呼
ぶ) ’f 0.001〜5.000 no 1%含有
してなるかまたは上記第一、第二及び第三成分の上ニ、
さC) K AN 203.Sb 203 、 BaO
、BeO、PbO、B20s 。
m2o、 、Pr60.、 lNd203(以下第二成
分と呼ぶ)のうち少なくとも1種類以上@ o、oo1
〜5.000 so 0%、WN2(以下第三成分と呼
ぶ) ’f 0.001〜5.000 no 1%含有
してなるかまたは上記第一、第二及び第三成分の上ニ、
さC) K AN 203.Sb 203 、 BaO
、BeO、PbO、B20s 。
CeO2,0r20. 、Fe2O3,CdO,に20
.CaO、Ga2O,、CuO。
.CaO、Ga2O,、CuO。
Cu2O,Li2O,MgO,MnO7,MoO,、N
a2O,NiO,Rh2O3゜5ea2.Ag2O,S
iO2,SiO,SrO,7g20 、The2.Ti
e2゜V2O5、Bi、、O,、WO,、ZnO、zr
o2,5n02(以下第四成分と呼ぶ)のうち少なくと
も1種類以上’io、001〜10.000 moで多
含有してなる電圧依存性非直線抵抗体磁器組成物を得る
ことにより問題を解決しようとするものである。
a2O,NiO,Rh2O3゜5ea2.Ag2O,S
iO2,SiO,SrO,7g20 、The2.Ti
e2゜V2O5、Bi、、O,、WO,、ZnO、zr
o2,5n02(以下第四成分と呼ぶ)のうち少なくと
も1種類以上’io、001〜10.000 moで多
含有してなる電圧依存性非直線抵抗体磁器組成物を得る
ことにより問題を解決しようとするものである。
作用
上記発明において、第一成分は主成分であり、第二成分
は主に半導体化を促進する金属酸化物である。また、第
三成分は誘電率及び粒内抵抗の改善に寄与するものであ
り、第四成分は誘電率、α、サージ耐量の改善に寄与す
るものである。特に、第三成分は素子全体に均一に分散
し、添加時点では窒化物であるが、還元焼成後に空気中
で熱処理することにより酸化物に変わり電子を放出する
。
は主に半導体化を促進する金属酸化物である。また、第
三成分は誘電率及び粒内抵抗の改善に寄与するものであ
り、第四成分は誘電率、α、サージ耐量の改善に寄与す
るものである。特に、第三成分は素子全体に均一に分散
し、添加時点では窒化物であるが、還元焼成後に空気中
で熱処理することにより酸化物に変わり電子を放出する
。
すなわ、ち、粒界部分では拡散してきた多量の酸素によ
り酸化物が形成され、放出された電子は酸素イオンに捕
獲され粒界は絶縁化される。一方、粒子内部は酸素の拡
散が起こ9にくいため大部分のWN2が窒化物のままで
存在し、仮に粒子内部まで酸素が拡散してきても窒化物
の原子価が変わることによって電子を放出するため、酸
化による高抵抗化を抑制する作用をする。このため粒子
内部を低抵抗にすることができる。
り酸化物が形成され、放出された電子は酸素イオンに捕
獲され粒界は絶縁化される。一方、粒子内部は酸素の拡
散が起こ9にくいため大部分のWN2が窒化物のままで
存在し、仮に粒子内部まで酸素が拡散してきても窒化物
の原子価が変わることによって電子を放出するため、酸
化による高抵抗化を抑制する作用をする。このため粒子
内部を低抵抗にすることができる。
実施例
以下に本発明を実施例を挙げて具体的に説明する。
まず、5rCO,、CaC0.、BaC0.、ngco
、 、TiO2’i下記の第1表に示す組成比になるよ
うに秤量し、ボールミルなどで40時間合成し、乾燥し
た後、1000’Cで15時間仮焼する。こうして得ら
れた仮焼物にThN 2 と添加物全下記の第1表に示
す組成比になるように秤量し、ボールミルなどで24時
間混合し、乾燥した後、ポリビニルアルコールなどの有
機バインダー’(510wt%添加して造粒した後、1
(t/ad)のプレス圧力で10φ×1t(m)の円板
状に成形する。次いで、空気中で1050’C,1時間
仮焼脱バインダーに行った後、N2 :H2=9 :1
の混合ガス中で1400’C,6時間焼成する。さらに
、空気中で1080°C114時間焼成し、このように
して得られた第1図。
、 、TiO2’i下記の第1表に示す組成比になるよ
うに秤量し、ボールミルなどで40時間合成し、乾燥し
た後、1000’Cで15時間仮焼する。こうして得ら
れた仮焼物にThN 2 と添加物全下記の第1表に示
す組成比になるように秤量し、ボールミルなどで24時
間混合し、乾燥した後、ポリビニルアルコールなどの有
機バインダー’(510wt%添加して造粒した後、1
(t/ad)のプレス圧力で10φ×1t(m)の円板
状に成形する。次いで、空気中で1050’C,1時間
仮焼脱バインダーに行った後、N2 :H2=9 :1
の混合ガス中で1400’C,6時間焼成する。さらに
、空気中で1080°C114時間焼成し、このように
して得られた第1図。
第2図に示す焼結体1の側平面に外周を残すようにして
Agなどの導電性ペーストをスクリーン印刷などにより
塗布し、600°C%6分間焼成し、電極2,3に形成
する。次に、図示してはいないが半田などによりリード
線を取付け、エポキシなどの樹脂全塗装する。このよう
にして得られた素子の特性を以下の第2表に示す。なお
、第2表において、誘電率は1KHzでの静電容量から
計算したものであり、粒内抵抗ESRは共振周波数での
インピーダンスにより評価し、αは α−1/Log(v、。mA/v4mA)(ただし、v
+mA 、v+omAは1mA、10mA+7)電流を
流した時に素子の両端にかかる電圧である。)で評価し
た。また、サージ耐量はノくルス性の電流を印加した後
のv+mAの変化が±10%以内である時の最大のパル
ス性電流値により評価している。
Agなどの導電性ペーストをスクリーン印刷などにより
塗布し、600°C%6分間焼成し、電極2,3に形成
する。次に、図示してはいないが半田などによりリード
線を取付け、エポキシなどの樹脂全塗装する。このよう
にして得られた素子の特性を以下の第2表に示す。なお
、第2表において、誘電率は1KHzでの静電容量から
計算したものであり、粒内抵抗ESRは共振周波数での
インピーダンスにより評価し、αは α−1/Log(v、。mA/v4mA)(ただし、v
+mA 、v+omAは1mA、10mA+7)電流を
流した時に素子の両端にかかる電圧である。)で評価し
た。また、サージ耐量はノくルス性の電流を印加した後
のv+mAの変化が±10%以内である時の最大のパル
ス性電流値により評価している。
(以下 余 白)
また、第一成分C) 5rTiO,、CaxSr、 −
xTie。
xTie。
(0.001≦X≦o、s ) 、BaySr + −
yTzOs (o−oo 1≦y≦0.5 ) 、 M
g2Sr 、−zTie5(0.001≦z≦0.5)
のx、y、zの範囲を規定したのは、0.001未満で
は効果を示さず、0.5を越えると粒成長及び半導体化
が抑制され特性が劣化するためである。さらに、第二成
分は0.001 mol%未満では効果を示さず、5.
000 mol%を越えると粒界に偏析して粒界の高抵
抗化を抑制し、粒界に第二相を形成するため特性が劣化
することになる。そして、第三成分は0.001 mo
l%未満では効果を示さず、s、ooo mob%を越
えると粒界に第二相を形成するため特性が劣化すること
になる。また第四成分ijo、001 No1%未満で
は効果を示さず、s、oo。
yTzOs (o−oo 1≦y≦0.5 ) 、 M
g2Sr 、−zTie5(0.001≦z≦0.5)
のx、y、zの範囲を規定したのは、0.001未満で
は効果を示さず、0.5を越えると粒成長及び半導体化
が抑制され特性が劣化するためである。さらに、第二成
分は0.001 mol%未満では効果を示さず、5.
000 mol%を越えると粒界に偏析して粒界の高抵
抗化を抑制し、粒界に第二相を形成するため特性が劣化
することになる。そして、第三成分は0.001 mo
l%未満では効果を示さず、s、ooo mob%を越
えると粒界に第二相を形成するため特性が劣化すること
になる。また第四成分ijo、001 No1%未満で
は効果を示さず、s、oo。
mob%を越えると粒界に第二相を形成し粒成長が抑制
され、粒界の抵抗は高くなるが粒界の幅が厚くなるため
、静電容量が小さくなると共にバリスタ電圧が高くなり
、サージに対して弱くなることになる。
され、粒界の抵抗は高くなるが粒界の幅が厚くなるため
、静電容量が小さくなると共にバリスタ電圧が高くなり
、サージに対して弱くなることになる。
なお、本実施例では一部の添加物の組み合わせについて
のみ示したが、請求の範囲内であればその他の添加物の
組み合わせについても同様の効果があることを確認した
。
のみ示したが、請求の範囲内であればその他の添加物の
組み合わせについても同様の効果があることを確認した
。
発明の効果
以上に示したように本発明によれば、誘電率ε、電圧非
直線指数αが大きく、粒内抵抗が小さいため、高周波の
ノイズ全吸収すると共に、サージ重流が印加された後の
発熱が少ないため、素子の劣化が小さく、サージ耐量が
大きくなるという効果が得られる。
直線指数αが大きく、粒内抵抗が小さいため、高周波の
ノイズ全吸収すると共に、サージ重流が印加された後の
発熱が少ないため、素子の劣化が小さく、サージ耐量が
大きくなるという効果が得られる。
第」図は本発明による素子を示す平面図、第2図は本発
明による素子を示す断面図である。 1・・・・・・焼結体、2,3・・・・・・電極。
明による素子を示す断面図である。 1・・・・・・焼結体、2,3・・・・・・電極。
Claims (2)
- (1)SrTiO_3,Ca_xSr_1_−_xTi
O_3(0.001≦x≦0.5),Ba_ySr_1
_−_yTiO_3(0.001≦y≦0.5),Mg
_zSr_1_−_zTiO_3(0.001≦z≦0
.5)のうち少なくとも1種類以上を90.000〜9
9.998mol%,Nb_2O_5,Ta_2O_5
,WO_3,Dy_2O_3,Y_2O_3,La_2
O_3,CeO_2,Sm_2O_3,Pr_6O_1
_1,Nd_2O_3のうち少なくとも1種類以上を0
.001〜5.000mol%、WN_2を0.001
〜5.000mol%含有してなる電圧依存性非直線抵
抗体磁器組成物。 - (2)SrTiO_3,Ca_xSr_1_−_xTi
O_3(0.001≦x≦0.5),Ba_ySr_1
_−_yTiO_3(0.001≦y≦0.5),Mg
_zSr_1_−_zTiO_3(0.001≦z≦0
.5)のうち少なくとも1種類以上を80.000〜9
9.997mol%、Nb_2O_5,Ta_2O_5
,WO_3,Dy_2O_3,Y_2O_3,La_2
O_3,CeO_2,Sm_2O_3,Pr_6O_1
_1,Nd_2O_3のうち少なくとも1種類以上を0
.001〜5.000mol%、WN_2を0.001
〜5.000mol%、Al_2O_3,Sb_2O_
3,BaO,BeO,PbO,B_2O_3,CeO_
2,Cr_2O_3,Fe_2O_3,CdO,K_2
O,CaO,Co_2O_3,CuO,Cu_2O,L
i_2O,MgO,MnO_2,MoO_3,Na_2
O,NiO,Rh_2O_3,SeO_2,Ag_2O
,SiO_2,SiC,SrO,Tl_2O,ThO_
2,TiO_2,V_2O_5,Bi_2O_3,WO
_3,ZnO,ZrO_2,SnO_2のうち少なくと
も1種類以上を0.001〜10.000mol%含有
してなる電圧依存性非直線抵抗体磁器組成物。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63052855A JPH01226114A (ja) | 1988-03-07 | 1988-03-07 | 電圧依存性非直線抵抗体磁器組成物 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63052855A JPH01226114A (ja) | 1988-03-07 | 1988-03-07 | 電圧依存性非直線抵抗体磁器組成物 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01226114A true JPH01226114A (ja) | 1989-09-08 |
Family
ID=12926474
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63052855A Pending JPH01226114A (ja) | 1988-03-07 | 1988-03-07 | 電圧依存性非直線抵抗体磁器組成物 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH01226114A (ja) |
-
1988
- 1988-03-07 JP JP63052855A patent/JPH01226114A/ja active Pending
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