JPH01226115A - 電圧依存性非直線抵抗体磁器組成物 - Google Patents
電圧依存性非直線抵抗体磁器組成物Info
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- JPH01226115A JPH01226115A JP63052873A JP5287388A JPH01226115A JP H01226115 A JPH01226115 A JP H01226115A JP 63052873 A JP63052873 A JP 63052873A JP 5287388 A JP5287388 A JP 5287388A JP H01226115 A JPH01226115 A JP H01226115A
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- resistor ceramic
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Links
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Landscapes
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は電気機器、電子機器で発生する異常高電圧、ノ
イズ、静電気から半導体及び回路を保護するためのコン
デンサ特性とバリスタ特性を有する電圧依存性非直線抵
抗体磁器組成物に関するものである。
イズ、静電気から半導体及び回路を保護するためのコン
デンサ特性とバリスタ特性を有する電圧依存性非直線抵
抗体磁器組成物に関するものである。
従来の技術
従来、各種電気機器、電子機器における異常高電圧の吸
収、ノイズの除去、火花消去、静電気対策のために電圧
依存性非直線抵抗特性を有するSiCバリスタや、Zn
O系バリスタなどが使用されていた。このようなバリス
タの電圧−電流特性は近似的に次式のように表すことが
できる。
収、ノイズの除去、火花消去、静電気対策のために電圧
依存性非直線抵抗特性を有するSiCバリスタや、Zn
O系バリスタなどが使用されていた。このようなバリス
タの電圧−電流特性は近似的に次式のように表すことが
できる。
1=(V/C)’
ここで、Iは電流、■は電圧、Cはバリスタ固有の定数
、αは電圧非直線指数である。
、αは電圧非直線指数である。
SiCバリスタのαは2〜7程度、ZnO系バリスタで
はαが50にもおよぶものがある。このようなバリスタ
は比較的高い電圧の吸収には優れた性能を有しているが
、誘電率が低く、固有の静電容量が小さいため、バリス
タ電圧以下の比較的低い電圧の吸収に対してはほとんど
効果を示さず、また誘電損失tanδが5〜lO%と大
きい。
はαが50にもおよぶものがある。このようなバリスタ
は比較的高い電圧の吸収には優れた性能を有しているが
、誘電率が低く、固有の静電容量が小さいため、バリス
タ電圧以下の比較的低い電圧の吸収に対してはほとんど
効果を示さず、また誘電損失tanδが5〜lO%と大
きい。
一方、これらの低電圧のノイズなどの除去には見かけの
誘電率が5X10’程度で、tanδが1%前後の半導
体コンデンサが利用されている。
誘電率が5X10’程度で、tanδが1%前後の半導
体コンデンサが利用されている。
しかし、このような半導体コンデンサはサージなどによ
りある限度以上の電圧または電流が印加されると、破壊
したりしてコンデンサとしての機能を果たさなくなった
りする。
りある限度以上の電圧または電流が印加されると、破壊
したりしてコンデンサとしての機能を果たさなくなった
りする。
そこで、最近になって5rTi03を主成分とし、バリ
スタ特性とコンデンサ特性の両方の機能を有するものが
開発され、マイクロコンビエータなどの電子機器におけ
るIC,LSIなどの半導体素子の保護に使用されてい
る。
スタ特性とコンデンサ特性の両方の機能を有するものが
開発され、マイクロコンビエータなどの電子機器におけ
るIC,LSIなどの半導体素子の保護に使用されてい
る。
発明が解決しようとする課題
上記の5rTiO1を主成分とするバリスタはZnO系
バリスタに比べ誘電率が約10倍と大きいが、電圧非直
線指数(α)やサージ耐量が小さく、粒内抵抗が高いた
め、高周波のノイズなどを十分に吸収できないといった
欠点を有していた。
バリスタに比べ誘電率が約10倍と大きいが、電圧非直
線指数(α)やサージ耐量が小さく、粒内抵抗が高いた
め、高周波のノイズなどを十分に吸収できないといった
欠点を有していた。
そこで本発明では、誘電率が太き(、αが大きいと共に
、サージ耐量が大きく、粒内抵抗が低い電圧依存性非直
線抵抗体磁器組成物を提供することを目的とするもので
ある。
、サージ耐量が大きく、粒内抵抗が低い電圧依存性非直
線抵抗体磁器組成物を提供することを目的とするもので
ある。
課題を解決するための手段
上記の問題点を解決するために本発明では、5raTi
Os+ (CaXSrl−x)bTiOs(0.001
≦x≦0.5)。
Os+ (CaXSrl−x)bTiOs(0.001
≦x≦0.5)。
(BaySr+−y) cTlos(0.001≦y≦
0.5),(MgzSrJaTi03(0.001″5
z≦0.5) (0.950≦a、b、 c、d<
1.000) (以下第一成分と呼ぶ)のうち少なく
とも1種類以上を90.000〜99.998閣o1χ
、NbzOs、 TagOs+ Hos、D)lfOa
、 h03+ LazO3+ Ce0z+5IJO5t
Pr*O+++ NthOs (以下第二成分と呼ぶ
)のうち少なくとも1種類以上を0.001〜s、oo
。
0.5),(MgzSrJaTi03(0.001″5
z≦0.5) (0.950≦a、b、 c、d<
1.000) (以下第一成分と呼ぶ)のうち少なく
とも1種類以上を90.000〜99.998閣o1χ
、NbzOs、 TagOs+ Hos、D)lfOa
、 h03+ LazO3+ Ce0z+5IJO5t
Pr*O+++ NthOs (以下第二成分と呼ぶ
)のうち少なくとも1種類以上を0.001〜s、oo
。
11101X% Ni5Nz (以下第三成分と呼ぶ
)を0.001〜5.000*olX含有してなるか、
または上記第一成分を80.000〜99.997*o
lX、第二成分及び第三成分をそれぞれ0.001〜5
.000*olX、さらにAl1zOs+ 5bz03
+ BaO+ Bed、 pbo、 BtOs+ Ce
0t+CrzOs+ FezO5+ cdo、 K、o
、 Cab、 C0tOs+ CuO+ Cu2O,L
itO+ MgO,MnOx+ MoOs+ NazO
,NiO+ ph、o、、 5eOz+Ag、o、 5
iOz、stc、 SrO,ttto、 tho、、
too、、 v、θ、。
)を0.001〜5.000*olX含有してなるか、
または上記第一成分を80.000〜99.997*o
lX、第二成分及び第三成分をそれぞれ0.001〜5
.000*olX、さらにAl1zOs+ 5bz03
+ BaO+ Bed、 pbo、 BtOs+ Ce
0t+CrzOs+ FezO5+ cdo、 K、o
、 Cab、 C0tOs+ CuO+ Cu2O,L
itO+ MgO,MnOx+ MoOs+ NazO
,NiO+ ph、o、、 5eOz+Ag、o、 5
iOz、stc、 SrO,ttto、 tho、、
too、、 v、θ、。
Bi、Os+ 1tOs+ ZnO,ZrO,、SnO
,(以下第四成分と呼ぶ)のうち少なくとも1種類以上
を0.001〜10、000+olχ含有してなる電圧
依存性非直線抵抗体磁器組成物を得ることにより問題を
解決しようとするものである。
,(以下第四成分と呼ぶ)のうち少なくとも1種類以上
を0.001〜10、000+olχ含有してなる電圧
依存性非直線抵抗体磁器組成物を得ることにより問題を
解決しようとするものである。
作用
上記発明において、第一成分は主成分であり、第二成分
は主に半導体化を促進する金属酸化物である。また、第
三成分は誘電率及び粒内抵抗の改善に寄与するものであ
り、第四成分は誘電率、α、サージ耐量の改善に寄与す
るものである。特に、第三成分は素子全体に均一に分散
し、添加時点では窒化物であるが、還元焼成後に空気中
で熱処理することにより酸化物に変わり電子を放出する
。
は主に半導体化を促進する金属酸化物である。また、第
三成分は誘電率及び粒内抵抗の改善に寄与するものであ
り、第四成分は誘電率、α、サージ耐量の改善に寄与す
るものである。特に、第三成分は素子全体に均一に分散
し、添加時点では窒化物であるが、還元焼成後に空気中
で熱処理することにより酸化物に変わり電子を放出する
。
すなわち、粒界部分では拡散してきた多量の酸素により
酸化物が形成され、放出された電子は酸素イオンに捕獲
され粒界は絶縁化される。一方、粒子内部は酸素の拡散
が起こりにくいため大部分のNN15Nが窒化物のまま
で存在し、仮に粒子内部まで酸素が拡散してきても窒化
物の原子価が変わることによって電子を放出するため、
酸化による高抵抗化を抑制する作用をする。このため粒
子内部を低抵抗にすることができる。
酸化物が形成され、放出された電子は酸素イオンに捕獲
され粒界は絶縁化される。一方、粒子内部は酸素の拡散
が起こりにくいため大部分のNN15Nが窒化物のまま
で存在し、仮に粒子内部まで酸素が拡散してきても窒化
物の原子価が変わることによって電子を放出するため、
酸化による高抵抗化を抑制する作用をする。このため粒
子内部を低抵抗にすることができる。
実施例
以下に本発明を実施例を挙げて具体的に説明すまず、5
rCOs、 CaCO3,BaCO5,MgCO5+
TiO2を下記の第1表に示す組成比になるように秤量
し、ボールミルなどで40時間混合し、乾燥した後、1
000℃で15時間仮焼する。こうして得られた仮焼物
に6Nと添加物を下記の第1表に示す組成比になるよう
に秤量し、ボールミルなどで24時間混合し、乾燥した
後、ポリビニルアルコールなどの有機バインダーをlQ
wtχ添加して造粒した後、1 (t/c+4)のプ
レス圧力で10φ×lt軸+m)の円板状に成形する。
rCOs、 CaCO3,BaCO5,MgCO5+
TiO2を下記の第1表に示す組成比になるように秤量
し、ボールミルなどで40時間混合し、乾燥した後、1
000℃で15時間仮焼する。こうして得られた仮焼物
に6Nと添加物を下記の第1表に示す組成比になるよう
に秤量し、ボールミルなどで24時間混合し、乾燥した
後、ポリビニルアルコールなどの有機バインダーをlQ
wtχ添加して造粒した後、1 (t/c+4)のプ
レス圧力で10φ×lt軸+m)の円板状に成形する。
次いで、空気中で1050℃、1時間仮焼脱バインダー
を行った後、N2:H2=9 : lの混合ガス中で1
400℃、6時間焼成する。さらに、空気中で1080
℃、14時間焼成し、このようにして得られた第1図、
第2図に示す焼結体lの両手面に外周を残すようにして
Agなどの導電性ペーストをスクリーン印刷などにより
塗布し、600℃、5分間焼成し、電極2.3を形成す
る0次に、図示してはいないが半田などによりリード線
を取付け、エポキシなどの樹脂を塗装する。このように
して得られた素子の特性を下記の第2表に示す。なお、
第2表において、誘電率εはIK)Izでの静電容量か
ら計算したものであり、粒内抵抗ESRは共振周波数で
のインピーダンスにより評価し、αは α−1/Log(V、。−a/ V I−A)(ただし
、VlmA I V l。1.は1mA、10dの電
流を流した時に素子の両端にかかる電圧である。)で評
価した。また、サージ耐量はパルス性の電流を印加した
後のVlmAの変化が±10%以内である時の最大のパ
ルス性電流値により評価している。
を行った後、N2:H2=9 : lの混合ガス中で1
400℃、6時間焼成する。さらに、空気中で1080
℃、14時間焼成し、このようにして得られた第1図、
第2図に示す焼結体lの両手面に外周を残すようにして
Agなどの導電性ペーストをスクリーン印刷などにより
塗布し、600℃、5分間焼成し、電極2.3を形成す
る0次に、図示してはいないが半田などによりリード線
を取付け、エポキシなどの樹脂を塗装する。このように
して得られた素子の特性を下記の第2表に示す。なお、
第2表において、誘電率εはIK)Izでの静電容量か
ら計算したものであり、粒内抵抗ESRは共振周波数で
のインピーダンスにより評価し、αは α−1/Log(V、。−a/ V I−A)(ただし
、VlmA I V l。1.は1mA、10dの電
流を流した時に素子の両端にかかる電圧である。)で評
価した。また、サージ耐量はパルス性の電流を印加した
後のVlmAの変化が±10%以内である時の最大のパ
ルス性電流値により評価している。
(以 下 余 白)
また、第一成分のSr@TlOs+ (CaxSr+−
x)bTiOs(0.001≦x≦0.5)、 (B
a、Sr+−y)cTio3(0.001≦y≦0.5
)、 (MgsSr+−1)aTios(0.001
≦z≦0.5) (0.950≦a、 b、 c
、 d<1.000 )のx、y、zの範囲を規定し
たのは、0.001未満では効果を示さず、0.5を越
えると粒成長及び半導体化が抑制され特性が劣化するた
めである。また、a、b、c、dの範囲を規定したのは
、1.0では格子欠陥が発生しにくいため半導体化が促
進されず、0.95より小さ(なるとTiが過剰となり
すぎてTiO□の結晶が生成し、組織が不均一になり、
特性が劣化するためである。さらに、第二成分は0.0
01molχ未満では効果を示さず、5.000*ol
χを越えると粒界に偏析して粒界の高抵抗化を抑制し、
粒界に第二相を形成するため特性が劣化することになる
。
x)bTiOs(0.001≦x≦0.5)、 (B
a、Sr+−y)cTio3(0.001≦y≦0.5
)、 (MgsSr+−1)aTios(0.001
≦z≦0.5) (0.950≦a、 b、 c
、 d<1.000 )のx、y、zの範囲を規定し
たのは、0.001未満では効果を示さず、0.5を越
えると粒成長及び半導体化が抑制され特性が劣化するた
めである。また、a、b、c、dの範囲を規定したのは
、1.0では格子欠陥が発生しにくいため半導体化が促
進されず、0.95より小さ(なるとTiが過剰となり
すぎてTiO□の結晶が生成し、組織が不均一になり、
特性が劣化するためである。さらに、第二成分は0.0
01molχ未満では効果を示さず、5.000*ol
χを越えると粒界に偏析して粒界の高抵抗化を抑制し、
粒界に第二相を形成するため特性が劣化することになる
。
そして、第三成分は0.001*olχ未満では効果を
示さず、5.000*olχを越えると粒界に第二相を
形成するため特性が劣化することになる。また、第四成
分は0.001 s+olX未満では効果を示さず、5
、000*olχを越えると粒界に第二相を形成し粒成
長が抑制され、粒界の抵抗は高くなるが粒界の幅が厚く
なるため、静電容量が小さくなると共にバリスタ電圧が
高(なりサージに対して弱くなることになる。
示さず、5.000*olχを越えると粒界に第二相を
形成するため特性が劣化することになる。また、第四成
分は0.001 s+olX未満では効果を示さず、5
、000*olχを越えると粒界に第二相を形成し粒成
長が抑制され、粒界の抵抗は高くなるが粒界の幅が厚く
なるため、静電容量が小さくなると共にバリスタ電圧が
高(なりサージに対して弱くなることになる。
なお、本実施例では一部の添加物の組み合わせについて
のみ示したが、請求の範囲内であればその他の添加物の
組み合わせについても同様の効果があることを確認した
。
のみ示したが、請求の範囲内であればその他の添加物の
組み合わせについても同様の効果があることを確認した
。
発明の効果
以上に示したように本発明によれば、誘電率ε、電圧非
直線指数αが大きく、粒内抵抗が小さいため、高周波の
ノイズを吸収すると共に、サージ電流が印加された後の
発熱が少ないため、素子の劣化が小さく、サージ耐量が
大きくなるという効果が得られる。
直線指数αが大きく、粒内抵抗が小さいため、高周波の
ノイズを吸収すると共に、サージ電流が印加された後の
発熱が少ないため、素子の劣化が小さく、サージ耐量が
大きくなるという効果が得られる。
第1図は本発明による素子を示す平面図、第2図は本発
明による素子を示す断面図である。 1・・・・・・焼結体、3,Y2O3,La2O3,3
・・・・・・電極。 代理人の氏名 弁理士 中尾敏男 はか1名虐対体 ? 電極
明による素子を示す断面図である。 1・・・・・・焼結体、3,Y2O3,La2O3,3
・・・・・・電極。 代理人の氏名 弁理士 中尾敏男 はか1名虐対体 ? 電極
Claims (2)
- (1)Sr_aTiO_3,(Ca_xSr_1_−_
x)_bTiO_3(0.001≦x≦0.5),(B
a_ySr_1_−_y)_cTiO_3(0.001
≦y≦0.5),(Mg_zSr_1_−_z)_dT
iO_3(0.001≦z≦0.5)〔0.950≦a
,b,c,d<1.000〕のうち少なくとも1種類以
上を90.000〜99.998mol%、Nb_2O
_5,Ta_2O_5,WO_3,Dy_2O_3,Y
_2O_3,La_2O_3,CeO_2,Sm_2O
_3,Pr_6O_1_1▲数式、化学式、表等があり
ます▼,Nd_2O_3のうち少なくとも1種類以上を
0.001〜5.000mol%、Ni_3N_2を0
.001〜5.000mol%含有してなる電圧依存性
非直線抵抗体磁器組成物。 - (2)Sr_aTiO_3,(Ca_xSr_1_−_
x)_bTiO_3(0.001≦x≦0.5),(B
a_ySr_1_−_y)_cTiO_3(0.001
≦y≦0.5),(Mg_zSr_1_−_z)_dT
iO_3(0.001≦z≦0.5)〔0.950≦a
,b,c,d<1.000〕のうち少なくとも1種類以
上を80.000〜99.997mol%、Nb_2O
_5,Ta_2O_5,WO_3,Dy_2O_3,Y
_2O_3,La_2O_3,CeO_2、Sm_2O
_3,Pr_6O_1_1,Nd_2O_3のうち少な
くとも1種類以上を0.001〜5.000mol%、
Ni_3N_2を0.001〜5.000mol%、A
l_2O_3,Sb_2O_3,BaO,BeO,Pb
O,B_2O_3,CeO_2,Cr_2O_3,Fe
_2O_3,CdO,K_2O,CaO,Co_2O_
3,CuO,Cu_2O,Li_2O,MgO,MnO
_2,MoO_3,Ni_2O,NiO,Rh_2O_
3,SeO_2,Ag_2O,SiO_2,SiC、S
rO,Tl_2O,ThO_2,TiO_2,V_2O
_5,Bi_2O_3,WO_3,ZnO,ZrO_2
,SnO_2のうち少なくとも1種類以上を0.001
〜10.000mol%含有してなる電圧依存性非直線
抵抗体磁器組成物。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63052873A JPH01226115A (ja) | 1988-03-07 | 1988-03-07 | 電圧依存性非直線抵抗体磁器組成物 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63052873A JPH01226115A (ja) | 1988-03-07 | 1988-03-07 | 電圧依存性非直線抵抗体磁器組成物 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01226115A true JPH01226115A (ja) | 1989-09-08 |
Family
ID=12926996
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63052873A Pending JPH01226115A (ja) | 1988-03-07 | 1988-03-07 | 電圧依存性非直線抵抗体磁器組成物 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH01226115A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH03195004A (ja) * | 1989-12-25 | 1991-08-26 | Taiyo Yuden Co Ltd | バリスタ磁器 |
JP2006140136A (ja) * | 2004-09-30 | 2006-06-01 | Tdk Corp | 誘電体薄膜、薄膜誘電体素子およびその製造方法 |
-
1988
- 1988-03-07 JP JP63052873A patent/JPH01226115A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH03195004A (ja) * | 1989-12-25 | 1991-08-26 | Taiyo Yuden Co Ltd | バリスタ磁器 |
JP2006140136A (ja) * | 2004-09-30 | 2006-06-01 | Tdk Corp | 誘電体薄膜、薄膜誘電体素子およびその製造方法 |
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