JPH01217397A - 液晶表示パネルの性能検査方法 - Google Patents
液晶表示パネルの性能検査方法Info
- Publication number
- JPH01217397A JPH01217397A JP63042672A JP4267288A JPH01217397A JP H01217397 A JPH01217397 A JP H01217397A JP 63042672 A JP63042672 A JP 63042672A JP 4267288 A JP4267288 A JP 4267288A JP H01217397 A JPH01217397 A JP H01217397A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- liquid crystal
- timing signal
- resistance
- display panel
- auxiliary capacitor
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 title claims abstract description 35
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 4
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 claims abstract description 15
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 8
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 4
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims description 4
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 claims description 3
- 238000007689 inspection Methods 0.000 abstract description 5
- 238000011056 performance test Methods 0.000 abstract 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 2
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 229920000642 polymer Polymers 0.000 description 1
- 230000003068 static effect Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Liquid Crystal (AREA)
- Liquid Crystal Display Device Control (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は、半導体スイッチと、データ信号を保持させる
コンデンサを用いた液晶表示パネルの性能検査方法に関
するものである。
コンデンサを用いた液晶表示パネルの性能検査方法に関
するものである。
従来の技術
アクティブマトリクス駆動方式の液晶表示バネ2 バー
/ ルは一般に、上側ガラス基板と下側半導体集積ガラス基
板より構成されており、半導体集積ガラス基板上に、7
トリクス状に配置された液晶駆動用素子を、外部選択回
路からのタイミング信号により選択し、液晶にビデオ信
号の電圧を印加する事により、画像表示を行う。この液
晶駆動用素子は透明電極、絵素電極、これら両電極間に
形成される補助コンデンサおよび半導体スイッチング素
子より構成される。
/ ルは一般に、上側ガラス基板と下側半導体集積ガラス基
板より構成されており、半導体集積ガラス基板上に、7
トリクス状に配置された液晶駆動用素子を、外部選択回
路からのタイミング信号により選択し、液晶にビデオ信
号の電圧を印加する事により、画像表示を行う。この液
晶駆動用素子は透明電極、絵素電極、これら両電極間に
形成される補助コンデンサおよび半導体スイッチング素
子より構成される。
その−静的な回路図を第3図に示す。第3図はアクティ
ブマ) IJクス駆動方式の液晶表示パネルの液晶駆動
素子の配置図である。図中の1で囲まれた領域が表示部
であり、2は液晶駆動素子へのビデオ信号ラインであり
、3は液晶駆動素子へのタイミング信号ラインであシ、
4は半導体スイッチング素子であり、通常はMOS)ラ
ンジスタが用いられる。5は液晶駆動部であり、6は補
助コンデンサであシ、ビデオ信号の保持用である。7は
補助コンデンサ6とGND間の抵抗である。
ブマ) IJクス駆動方式の液晶表示パネルの液晶駆動
素子の配置図である。図中の1で囲まれた領域が表示部
であり、2は液晶駆動素子へのビデオ信号ラインであり
、3は液晶駆動素子へのタイミング信号ラインであシ、
4は半導体スイッチング素子であり、通常はMOS)ラ
ンジスタが用いられる。5は液晶駆動部であり、6は補
助コンデンサであシ、ビデオ信号の保持用である。7は
補助コンデンサ6とGND間の抵抗である。
次に液晶駆動のタイミング図を第4図に示す。
3、−2
第4図人は簡単に表わしたビデオ信号であシ、同図Bは
タイミング信号であり、走査順次の早い方(画面上部)
から1,2.・・・・・・nとなっている。
タイミング信号であり、走査順次の早い方(画面上部)
から1,2.・・・・・・nとなっている。
同図Cは液晶に与えられる実効的なビデオ信号であり、
走査順次の早い方(画面上部)から1,2゜・・・・・
・nとなっている。
走査順次の早い方(画面上部)から1,2゜・・・・・
・nとなっている。
前記説明した液晶駆動は、一定のパターンや動画を表示
するためには必要であるが、線状欠陥や点状欠陥などの
性能検査には特に必要ではない。
するためには必要であるが、線状欠陥や点状欠陥などの
性能検査には特に必要ではない。
すなわち、第1図の様に複数のタイミング信号ライン3
を結び同一タイミング信号を入力しても液晶は駆動され
る。
を結び同一タイミング信号を入力しても液晶は駆動され
る。
同図、8は半導体スイッチング素子、液晶駆動部、補助
コンデンサを含む単位絵素である。しかしながら、同図
のタイミング信号ライン3に、第4図Bの一つを入力し
た場合は、全半導体スイッチング素子がオン状態となっ
た時、通常無視できる第3図の補助コンデンサ6と接地
間の抵抗7に多量の電流が流れ込み、第2図Eの様に液
晶に与えられる実効的なビデオ信号の電圧降下を起こす
。
コンデンサを含む単位絵素である。しかしながら、同図
のタイミング信号ライン3に、第4図Bの一つを入力し
た場合は、全半導体スイッチング素子がオン状態となっ
た時、通常無視できる第3図の補助コンデンサ6と接地
間の抵抗7に多量の電流が流れ込み、第2図Eの様に液
晶に与えられる実効的なビデオ信号の電圧降下を起こす
。
発明が解決しようとする課題
以上の様に、単純に第4図Bのタイミング信号の一つを
同時に入力すると、実際の液晶駆動と大きく異々った画
像になるという問題点があった。
同時に入力すると、実際の液晶駆動と大きく異々った画
像になるという問題点があった。
本発明は、上記問題点に鑑み、複数のタイミング信号ラ
インを結んだ状態においても、液晶に与えられる実効的
なビデオ信号の電圧降下の差を小さくし、実際の画像に
近い状態で、液晶表示パネルの性能検査を行うことを目
的とする。
インを結んだ状態においても、液晶に与えられる実効的
なビデオ信号の電圧降下の差を小さくし、実際の画像に
近い状態で、液晶表示パネルの性能検査を行うことを目
的とする。
課題を解決するための手段
本発明は、複数のタイミング信号ラインを結んだ上で、
タイミング信号の波形を変化させるようにしたことを特
徴とする。
タイミング信号の波形を変化させるようにしたことを特
徴とする。
作用
本発明によれば、タイミング信号の波形を変化させるこ
とにより、複数のタイミング信号を結んだ上に、同一タ
イミング信号を入力しても、液晶に与えられる実効的な
ビデオ信号の電圧降下の差を小さくすることができ、実
際の画像に近い状態で、液晶表示パネルの性能検査を行
うことができ5、、。
とにより、複数のタイミング信号を結んだ上に、同一タ
イミング信号を入力しても、液晶に与えられる実効的な
ビデオ信号の電圧降下の差を小さくすることができ、実
際の画像に近い状態で、液晶表示パネルの性能検査を行
うことができ5、、。
る。
実施例
以下、本発明の一実施例を第1図、第2図を用いて説明
する。
する。
第1図において、第3図と同一物には同一番号を付して
詳細な説明は省略する。ここでタイミング信号ラインに
沿って区分している1、II、・旧・・Hのブロックは
、補助コンデンサとGND間の抵抗とそこを流れる電流
の影響を大きく分離した上で、検査するためのものであ
る。同図1.II、・・・・・・Nには、検査のタイミ
ングに合わせ、異なった波形を入力する。
詳細な説明は省略する。ここでタイミング信号ラインに
沿って区分している1、II、・旧・・Hのブロックは
、補助コンデンサとGND間の抵抗とそこを流れる電流
の影響を大きく分離した上で、検査するためのものであ
る。同図1.II、・・・・・・Nには、検査のタイミ
ングに合わせ、異なった波形を入力する。
第2図Fに、補助コンデンサと接地間の抵抗による液晶
に与えられる実効的なビデオ信号の電圧降下の差を小さ
くする、タイミング信号の波形を示す。同図駆動期間T
。nを、補助コンデンサと接地間の抵抗とそこを流れる
電流の影響に合わせて変化させる。同図Gは補正された
液晶に与えられる実効的なビデオ信号である。
に与えられる実効的なビデオ信号の電圧降下の差を小さ
くする、タイミング信号の波形を示す。同図駆動期間T
。nを、補助コンデンサと接地間の抵抗とそこを流れる
電流の影響に合わせて変化させる。同図Gは補正された
液晶に与えられる実効的なビデオ信号である。
以上の様に、補助コンデンサと接地間の抵抗と61、−
7 そこを流れる電流の影響に合わせて、同時に入力するタ
イミング信号のT。n期間を変化させることにより、液
晶に与えられる実効的なビデオ信号の電圧降下の差を小
さくすることができる。
7 そこを流れる電流の影響に合わせて、同時に入力するタ
イミング信号のT。n期間を変化させることにより、液
晶に与えられる実効的なビデオ信号の電圧降下の差を小
さくすることができる。
発明の効果
以上の様に、本発明によれば、複数のタイミング信号ラ
インを結んだ上で、同一タイミング信号のT。n期間を
変化させることにより、液晶に与えられる実効的なビデ
オ信号の電圧降下の差を小さくすることができ、実際の
画像に近い状態で、簡易的に液晶表示パネルの性能検査
を行うことができる。
インを結んだ上で、同一タイミング信号のT。n期間を
変化させることにより、液晶に与えられる実効的なビデ
オ信号の電圧降下の差を小さくすることができ、実際の
画像に近い状態で、簡易的に液晶表示パネルの性能検査
を行うことができる。
第1図は本発明の一実施例における液晶表示パネルの性
能検査方法の回路図、第2図は本発明の詳細な説明のた
めの波形図、第3図はその液晶パネルの回路図、第4図
はその動作説明のだめの波形図である。 1・・・表示部、2・・・・・・ビデオ信号ライン、3
・・・・・・タイミング信号ライン、4・・・・半導体
スイッチ/グ素子、6・・ 液晶駆動部、6 ・補助コ
ンデンサ、7 ・補助コンデンサとGND間の抵抗、8
・ 単位絵素。
能検査方法の回路図、第2図は本発明の詳細な説明のた
めの波形図、第3図はその液晶パネルの回路図、第4図
はその動作説明のだめの波形図である。 1・・・表示部、2・・・・・・ビデオ信号ライン、3
・・・・・・タイミング信号ライン、4・・・・半導体
スイッチ/グ素子、6・・ 液晶駆動部、6 ・補助コ
ンデンサ、7 ・補助コンデンサとGND間の抵抗、8
・ 単位絵素。
Claims (1)
- 透明な上下基板間に液晶が封入されており、一方の基板
に複数の透明電極と絵素電極と半導体スイッチよりなる
単位絵素がマトリクス状に形成され、前記絵素電極に補
助コンデンサが付加されている液晶表示パネルの性能検
査において、複数のタイミング信号電極より、実際の駆
動用タイミング信号とは異なった波形のタイミング信号
を同時に入力するようにしたことを特徴とする液晶表示
パネルの性能検査方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63042672A JPH01217397A (ja) | 1988-02-25 | 1988-02-25 | 液晶表示パネルの性能検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63042672A JPH01217397A (ja) | 1988-02-25 | 1988-02-25 | 液晶表示パネルの性能検査方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01217397A true JPH01217397A (ja) | 1989-08-30 |
Family
ID=12642519
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63042672A Pending JPH01217397A (ja) | 1988-02-25 | 1988-02-25 | 液晶表示パネルの性能検査方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH01217397A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR980003676A (ko) * | 1996-06-22 | 1998-03-30 | 김광호 | 액정 패널 테스트 장치 |
KR100795780B1 (ko) * | 2006-04-10 | 2008-01-21 | 네오뷰코오롱 주식회사 | 평판 디스플레이 기판의 패널점등 검사장치 |
-
1988
- 1988-02-25 JP JP63042672A patent/JPH01217397A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR980003676A (ko) * | 1996-06-22 | 1998-03-30 | 김광호 | 액정 패널 테스트 장치 |
KR100795780B1 (ko) * | 2006-04-10 | 2008-01-21 | 네오뷰코오롱 주식회사 | 평판 디스플레이 기판의 패널점등 검사장치 |
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