JPH01215980A - Cvd薄膜形成装置 - Google Patents
Cvd薄膜形成装置Info
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- JPH01215980A JPH01215980A JP3980988A JP3980988A JPH01215980A JP H01215980 A JPH01215980 A JP H01215980A JP 3980988 A JP3980988 A JP 3980988A JP 3980988 A JP3980988 A JP 3980988A JP H01215980 A JPH01215980 A JP H01215980A
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Landscapes
- Chemical Vapour Deposition (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明はCVD薄膜形成装置に関する。更に詳細には、
本発明は炉内の温度を迅速に低下させることのできるバ
ッチ式のCVD薄膜形成装置に関する。
本発明は炉内の温度を迅速に低下させることのできるバ
ッチ式のCVD薄膜形成装置に関する。
[従来の技術]
薄膜の形成方法として半導体工業において−・般に広く
用いられているものの一つに化学、的気相成長法(CV
D:Chemical vapourDepos i
t 1on)がある。CVDとは、ガス状物質を化学
反応で固体物質にし、基板上に堆積することをいう。
用いられているものの一つに化学、的気相成長法(CV
D:Chemical vapourDepos i
t 1on)がある。CVDとは、ガス状物質を化学
反応で固体物質にし、基板上に堆積することをいう。
CVDの特徴は、成長しようとする薄膜の融点よりかな
り低い堆積温度で種々の薄膜が得られること、および、
成長した薄膜の純度が高く、Siや5i−hの熱酸化膜
−ヒに成長した場合も電気的特性が安定であることで、
広く半導体表面のパッシベーション膜として利用されて
いる。
り低い堆積温度で種々の薄膜が得られること、および、
成長した薄膜の純度が高く、Siや5i−hの熱酸化膜
−ヒに成長した場合も電気的特性が安定であることで、
広く半導体表面のパッシベーション膜として利用されて
いる。
CVDによる薄膜形成は、例えば500℃程度に加熱し
たウェハに反応ガス(例えば、S I H4+02.ま
たはS iHq+PH3+02 )を供給して行われる
。上記の反応ガスは反応炉内のウェハに吹きつけられ、
該ウェハの表面に5i02あるいはフォスフオシリケー
ドガラス(PSG)の薄膜を形成する。また、SiO2
とPSGとの2層成膜が行われることもある。更に、モ
リブデン。
たウェハに反応ガス(例えば、S I H4+02.ま
たはS iHq+PH3+02 )を供給して行われる
。上記の反応ガスは反応炉内のウェハに吹きつけられ、
該ウェハの表面に5i02あるいはフォスフオシリケー
ドガラス(PSG)の薄膜を形成する。また、SiO2
とPSGとの2層成膜が行われることもある。更に、モ
リブデン。
タングステンあるいはタングステンシリサイド等の金属
薄膜の形成にも使用できる。
薄膜の形成にも使用できる。
[発明が解決しようとする課題]
従来から使用されてきたCVD装置は、反応炉内のター
ンテーブルに8枚〜15枚程度のウェハを載置し、自公
転運動しているウェハを400〜500℃に加熱し、反
応ガスを流して化学反応を起こさせ、ウェハ表面に薄膜
を形成させる。その後、成膜済みのウェハを反応炉外に
取り出し、新たなウェハを炉内に装入する。このウェハ
交換方式は、いわゆる、バッチ式と呼ばれている。
ンテーブルに8枚〜15枚程度のウェハを載置し、自公
転運動しているウェハを400〜500℃に加熱し、反
応ガスを流して化学反応を起こさせ、ウェハ表面に薄膜
を形成させる。その後、成膜済みのウェハを反応炉外に
取り出し、新たなウェハを炉内に装入する。このウェハ
交換方式は、いわゆる、バッチ式と呼ばれている。
バッチ式の場合、ウェハの供給取出し時にベルジャを開
閉しなければならない。しかし、成膜処理終了直後の炉
内は500℃の高温のため、この状態のままで新たなウ
ェハを装入すると、ウェハに激しい熱応力が加わり、歪
みや格子欠陥が発生する。従って、ウェハに歪みや格子
欠陥が発生しないレベルにまで炉内温度を低下させなけ
れば新たなウェハの装入ができなかった。
閉しなければならない。しかし、成膜処理終了直後の炉
内は500℃の高温のため、この状態のままで新たなウ
ェハを装入すると、ウェハに激しい熱応力が加わり、歪
みや格子欠陥が発生する。従って、ウェハに歪みや格子
欠陥が発生しないレベルにまで炉内温度を低下させなけ
れば新たなウェハの装入ができなかった。
また、成膜処理を続けていくと、ベルジャ内壁面に反応
生成物のフレーク等が付着する。このフレークは僅かな
振動により壁面から剥がれてウェハ上に落下し、ウェハ
表面の薄膜にピンホールを発生させる。従って、ベルジ
ャ内壁面は定期的に清掃し、フレークを取り除かなけれ
ばならない。
生成物のフレーク等が付着する。このフレークは僅かな
振動により壁面から剥がれてウェハ上に落下し、ウェハ
表面の薄膜にピンホールを発生させる。従って、ベルジ
ャ内壁面は定期的に清掃し、フレークを取り除かなけれ
ばならない。
しかし、前記のように、反応炉内は高温のため、温度が
安全レベルまで低下しなければフレーク除去清掃作業は
開始できない。
安全レベルまで低下しなければフレーク除去清掃作業は
開始できない。
従来のCVD薄膜形成装置は反応炉の下部に排気ダクト
が配設されており、このダクトより強制排気し、炉内の
温度を低下させていた。しかし、このダクトで反応炉の
温度を下げるには長時間を要し、スループットを低下さ
せる原因となっていた。
が配設されており、このダクトより強制排気し、炉内の
温度を低下させていた。しかし、このダクトで反応炉の
温度を下げるには長時間を要し、スループットを低下さ
せる原因となっていた。
従って、本発明の目的は炉内の温度を迅速に低下させる
ことのできる機構を存するCVD薄膜形成装置を提供す
ることである。
ことのできる機構を存するCVD薄膜形成装置を提供す
ることである。
[課題を解決するための手段]
前記目的を達成するために、本発明のCVD薄膜形成装
置においては、排気ダクトに排熱部を設けたものである
。
置においては、排気ダクトに排熱部を設けたものである
。
排熱部はバルブを介して排気ダクトに接続されている。
排熱部はフィルタと送風機とから構成されている。この
排熱部は必要に応じて冷却機構を更に有することもでき
る。
排熱部は必要に応じて冷却機構を更に有することもでき
る。
排熱部による排熱効率を高めるために、排気ダクトの途
中にバルブを設け、排気ダクトを閉塞することもできる
。
中にバルブを設け、排気ダクトを閉塞することもできる
。
[作用]
前記のように、本発明のCVD薄膜形成装置は独立の排
熱部を有するので、従来のように工場排気系に接続され
たダクトから排気するのに比べて、極めて迅速な排熱が
可能となる。その結果、炉内温度を迅速に低下させるこ
とができ、ウェハの交換および反応炉内壁面の清掃も効
率よ〈実施されるのでスループットが向上される。
熱部を有するので、従来のように工場排気系に接続され
たダクトから排気するのに比べて、極めて迅速な排熱が
可能となる。その結果、炉内温度を迅速に低下させるこ
とができ、ウェハの交換および反応炉内壁面の清掃も効
率よ〈実施されるのでスループットが向上される。
[実施例コ
以下、図面を参照しながら本発明のCVD薄膜形成装置
の一例について更に詳細に説明する。
の一例について更に詳細に説明する。
第1図は本発明のCVD薄膜形成装置の一例の概要断面
図であり、第2図は排熱部の内部構成を示す概要図であ
る。
図であり、第2図は排熱部の内部構成を示す概要図であ
る。
第1図において、反応炉1は、バッファ2をベルジャ3
で覆い、上記バッファ2の周囲にウエハ載置台4を設置
する。このウェハ載置台は駆動機構5で回転駆動可能、
または自公転可能に構成されている。更に、ウェハ載置
台の下部には、僅かなギャップを介してウェハ加熱手段
7が配設されている。ベルジャ3の頂部には反応カス送
大手段9が配設されている。
で覆い、上記バッファ2の周囲にウエハ載置台4を設置
する。このウェハ載置台は駆動機構5で回転駆動可能、
または自公転可能に構成されている。更に、ウェハ載置
台の下部には、僅かなギャップを介してウェハ加熱手段
7が配設されている。ベルジャ3の頂部には反応カス送
大手段9が配設されている。
反応炉の下部に、成膜反応中の反応ガスのフローパター
ンを均一化するための排気ダクト12が配設されている
。
ンを均一化するための排気ダクト12が配設されている
。
この排気ダクトの途中からパイプ15が分岐されている
。分岐パイプ15の途中にはバルブ17が設けられてい
る。分岐パイプ15の先端は排熱部20に接続されてい
る。
。分岐パイプ15の途中にはバルブ17が設けられてい
る。分岐パイプ15の先端は排熱部20に接続されてい
る。
、排熱部20は第2図に示されるように、フィルタ22
と送風機24とから構成されている。
と送風機24とから構成されている。
フィルタ22の種類は限定されない。排熱とともに、炉
内の浮遊フレークも吸引されてくるので、フレークはフ
ィルタ22で除去し、クリーンな熱風だけを排出しなけ
ればならない。フィルタには例えば、デプスフィルタ、
スクリーンフィルタまたはメンブランフィルタ等を使用
できる。
内の浮遊フレークも吸引されてくるので、フレークはフ
ィルタ22で除去し、クリーンな熱風だけを排出しなけ
ればならない。フィルタには例えば、デプスフィルタ、
スクリーンフィルタまたはメンブランフィルタ等を使用
できる。
送風機24の機種および構造等は特に限定されない。炉
内のガスを排気する能力のあるものであれば全て使用で
きる。−例として、送風機にはシッロコファン(多翼送
風機)を使用することが好ましい。シッロコファンは遠
心送風機の一種で、前向きの多数の羽根を有し、小形で
低騒音なので本発明のCVD装置に適している。
内のガスを排気する能力のあるものであれば全て使用で
きる。−例として、送風機にはシッロコファン(多翼送
風機)を使用することが好ましい。シッロコファンは遠
心送風機の一種で、前向きの多数の羽根を有し、小形で
低騒音なので本発明のCVD装置に適している。
このようにして、フィルタと送風機との組合わせにより
、クリーンな熱風だけが送風機より排出される。
、クリーンな熱風だけが送風機より排出される。
しかし、熱風の放出が問題となる場合は、排熱部に冷却
手段2θを設けることもできる。冷却手段の具体的構成
あるいは種類等は当業者に周知であり、特に説明を要し
ないであろう。冷却手段は送風機の後部に配設すること
が好ましい。
手段2θを設けることもできる。冷却手段の具体的構成
あるいは種類等は当業者に周知であり、特に説明を要し
ないであろう。冷却手段は送風機の後部に配設すること
が好ましい。
別法として、送風機の出[1側にパイプ28をつなぎ、
このパイプを排気ダクト12に接続させることもできる
。かくして、分岐パイプ15と接続パイプ28とにより
排熱部20を経るバイパスが構成される。このバイパス
を使用すれば熱風を工場排気系に逃がすことができるの
で、特に冷却手段を設ける必要性はない。
このパイプを排気ダクト12に接続させることもできる
。かくして、分岐パイプ15と接続パイプ28とにより
排熱部20を経るバイパスが構成される。このバイパス
を使用すれば熱風を工場排気系に逃がすことができるの
で、特に冷却手段を設ける必要性はない。
排熱部20による降温効果を高めるために、排気ダクト
12の分岐パイプ接続点より後寄りの箇所に排気ダクト
閉塞用バルブ30を設けることが好ましい。
12の分岐パイプ接続点より後寄りの箇所に排気ダクト
閉塞用バルブ30を設けることが好ましい。
反応炉内の温度を下げる場合、排気ダクト12の閉塞用
バルブ30を閉じ、分岐パイプ15のバルブ17を開く
。送風機24を回転させ、排熱を行う。工場排気系に接
続された排気ダクトで反応炉の排熱を行うよりも遥に効
率よく排熱することができ、炉内温度は迅速に低下され
る。
バルブ30を閉じ、分岐パイプ15のバルブ17を開く
。送風機24を回転させ、排熱を行う。工場排気系に接
続された排気ダクトで反応炉の排熱を行うよりも遥に効
率よく排熱することができ、炉内温度は迅速に低下され
る。
反応炉の構造自体は本発明の必須要件ではない。
従って、前記の構造以外の構造を有する反応炉も使用で
きる。
きる。
本発明のCVD薄膜形成装置はバッチ式の、常圧、減圧
、プラズマ等何れのタイプのCVDについても適用でき
る。
、プラズマ等何れのタイプのCVDについても適用でき
る。
[発明の効果コ
以−ヒ説明したように、本発明のCVD薄膜形成装置は
独立の排熱部を有するので、従来のように工場排気系に
接続されたダクトから排気するのに比べて、極めて迅速
な排熱が可能となる。その結果、炉内温度を迅速に低下
させることができ、ウェハの交換および反応炉内壁面の
清掃も効率よ〈実施されるのでスループットが向上され
る。
独立の排熱部を有するので、従来のように工場排気系に
接続されたダクトから排気するのに比べて、極めて迅速
な排熱が可能となる。その結果、炉内温度を迅速に低下
させることができ、ウェハの交換および反応炉内壁面の
清掃も効率よ〈実施されるのでスループットが向上され
る。
第1図は本発明のCVD薄膜形成装置の一例の概要断面
図であり、第2図は排熱部の内部構成を示す概要図であ
る。 1・・・反応炉、12・・・排気ダクト、15・・・分
岐パイプ、17および30・・・バルブ、20・・・排
熱部。
図であり、第2図は排熱部の内部構成を示す概要図であ
る。 1・・・反応炉、12・・・排気ダクト、15・・・分
岐パイプ、17および30・・・バルブ、20・・・排
熱部。
Claims (6)
- (1)内部に少なくともウェハ載置台と、ウェハ加熱手
段とが配設され、下部に排気ダクトが配設されている反
応炉を有するCVD薄膜形成装置において、前記排気ダ
クトに排熱部が接続されていることを特徴とするCVD
薄膜形成装置。 - (2)排熱部はフィルタと送風機とから構成されている
請求項(1)記載のCVD薄膜形成装置。 - (3)排気ダクトに分岐パイプが設けられ、この分岐パ
イプを介して排熱部が排気ダクトに接続されており、分
岐パイプの途中にはバルブが配設されていて、更に、排
気ダクトの途中で、分岐パイプ接続点よりも反応炉後寄
りの箇所に排気ダクト閉塞用バルブが設けられているこ
とを特徴とする請求項(1)記載のCVD薄膜形成装置
。 - (4)排熱部は冷却手段を更に有する請求項(1)〜(
3)の何れかに記載のCVD薄膜形成装置。 - (5)排熱部の送風機出口側にパイプが接続されており
、このパイプの終端は、ダクト閉塞用バルブ取付点より
も反応炉後寄りの箇所で排気ダクトに接続されている請
求項(1)〜(3)の何れかに記載のCVD薄膜形成装
置。 - (6)反応炉は自公転方式の常圧型CVD反応炉である
ことを特徴とする請求項(1)〜(5)の何れかに記載
のCVD薄膜形成装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3980988A JPH01215980A (ja) | 1988-02-23 | 1988-02-23 | Cvd薄膜形成装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3980988A JPH01215980A (ja) | 1988-02-23 | 1988-02-23 | Cvd薄膜形成装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01215980A true JPH01215980A (ja) | 1989-08-29 |
Family
ID=12563292
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP3980988A Pending JPH01215980A (ja) | 1988-02-23 | 1988-02-23 | Cvd薄膜形成装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH01215980A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101364678B1 (ko) * | 2011-12-28 | 2014-02-20 | 엘아이지에이디피 주식회사 | 파티클 필터링 어셈블리 및 이를 갖는 화학기상 증착장치 |
-
1988
- 1988-02-23 JP JP3980988A patent/JPH01215980A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101364678B1 (ko) * | 2011-12-28 | 2014-02-20 | 엘아이지에이디피 주식회사 | 파티클 필터링 어셈블리 및 이를 갖는 화학기상 증착장치 |
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